KR0130417B1 - 개인용 컴퓨터를 이용한 전전자 교환기의 프로세서 시험방법 - Google Patents

개인용 컴퓨터를 이용한 전전자 교환기의 프로세서 시험방법

Info

Publication number
KR0130417B1
KR0130417B1 KR1019940032293A KR19940032293A KR0130417B1 KR 0130417 B1 KR0130417 B1 KR 0130417B1 KR 1019940032293 A KR1019940032293 A KR 1019940032293A KR 19940032293 A KR19940032293 A KR 19940032293A KR 0130417 B1 KR0130417 B1 KR 0130417B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
test
processor
loading
personal computer
disk
Prior art date
Application number
KR1019940032293A
Other languages
English (en)
Other versions
KR960018890A (ko
Inventor
변상구
Original Assignee
박성규
대우통신주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 박성규, 대우통신주식회사 filed Critical 박성규
Priority to KR1019940032293A priority Critical patent/KR0130417B1/ko
Publication of KR960018890A publication Critical patent/KR960018890A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR0130417B1 publication Critical patent/KR0130417B1/ko

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04QSELECTING
    • H04Q1/00Details of selecting apparatus or arrangements
    • H04Q1/18Electrical details
    • H04Q1/20Testing circuits or apparatus; Circuits or apparatus for detecting, indicating, or signalling faults or troubles

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Data Exchanges In Wide-Area Networks (AREA)

Abstract

본 전전자 교환기의 프로세서 시험방법은 개인용 컴퓨터를 이용한 전전자 교환기내의 프로세서 및 프로세서 산하의 디바이스들에 대한 시험을 수행하기 위한 것이다. 이를 위하여 본 방법은, 터미널을 통해 인가된 모드입력데이터가 시험프로세서로 인가되면 해당 기능에 대한 프로세스를 생성하는 프로세스생성과정; 프로세스 생성과정에서 로딩기능을 설정하기 위한 모드입력데이터에 의하여 로딩 프로세스가 생성되면, 시험프로세서는 개인용 컴퓨터로 로딩시작메시지를 전송하고 개인용 컴퓨터로 부터 해당 화일의 데이터를 로딩받는 과정; 로딩이 완료되면, 해당 화일에 대한 기능시험을 수행하는 시험수행과정; 모드입력데이타에 의하여 프로세스 생성과정에서 시험결과를 조회하는 프로세스가 생성되면, 개인용 컴퓨터내부의 디스크에 수록된 해당 화일에 대한 시험결과를 조회하는 과정; 시험 프로세서에 의해 시험된 결과를 개인용 컴퓨터의 디스크에 저장하는 과정 등을 포함하여 수행된다.

Description

개인용 컴퓨터를 이용한 전전자 교환기의 프로세서 시험방법
제1도는 본 발명에 따른 방법이 적용되는 하드웨어 구성도이고,
제2도는 제1도에 도시된 시험 프로세서에서 시험패키지 로딩 및 시험결과 검색을 위한 명령어 입력과정을 나타낸 흐름도이고,
제3도는 제1도에 도시된 시험 프로세서에서 시험패키지 로딩하고 시험결과를 백업하는 과정을 나타낸 흐름도이고,
제4도는 제1도에 도시된 PC(Personal Computer)에서 시험프로세서로 시험패키지 데이터를 전송하는 과정을 나타낸 흐름도이고,
제5도는 제1도의 시험 프로세서에서 PC내부 디스크에 수록된 시험결과를 조회하는 과정을 나타낸 흐름도이고,
제6도는 제1도의 PC에 저정된 시험결과를 시험프로세서로 전송하는 과정을 나타낸 흐름도이고,
제7도는 제1도의 PC에서 백업데이터를 PC내부 디스크에 저정하는 과정을 나타낸 흐름도이다.
* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명
101 : 터미널 102 : 시험프로세서
105 : SPIA(Small Personal communication network Interface Assembly)
107 : PC(Personal Computer) 108 : 입출력 제어 프로세서
본 발명은 전전자 교환기(Full Electronic Switching System)에 있어서 내부 프로세서 및 주변 디바이스(Device)들을 시험(Test)하는 방법에 관한 것으로, 특히 개인용 컴퓨터를 이용하여 시험하기 위한 방법에 관한 것이다.
분산처리를 수행하는 전전자 교환기내의 프로세서 자신 및 프로세스별로 해당된 특수 기능을 시험하기 위해서, 종래에는 해당 기능을 시험하기 위한 시험기능 패키지를 저장하고 있는 롬(ROM)을 보드에 실장하여 이용하였었다. 이로 인하여 각 프로세서에 대한 기능을 시험하기 위해서는 프로세서마다 시험용 롬을 준비하여야 하므로 실제 운용되는 현장에서 필요로할 경우 (시스템이 설치된 현장 * 프로세서 수)만큼의 시험패키지가 저장된 롬을 준비해야 하는 불편함이 있었다.
따라서 본 발명의 목적은 개인용 컴퓨터를 이용하여 전전자 교환기내의 프로세스 및 프로세스 산하의 디바이스들에 대한 시험을 수행하기 위한 개인용 컴퓨터를 이용한 전전자 교환기의 프로세스 시험방법을 제공하는데 있다.
상기 목적을 달성하기 위하여 본 발명에 따른 방법은, 시험프로세서, 운용자의 제어명령 등을 인가하는 터미널을 구비하고 디스크를 구비하고 있는 개인용 컴퓨터와 IPC(Inter Processor Communication)케이블을 이용하여 접속된 전전자 교환기의 프로세서 시험방법에 있어서; 터미널을 통해 인가된 모드입력데이터가 시험프로세서로 인가되면 해당 기능에 대한 프로세스를 생성하는 프로세스생성과정; 프로세스 생성과정에서 로딩기능을 설정하기 위한 모드입력데이터에 의하여 로딩 프로세스가 생성되면, 시험프로세서는 개인용 컴퓨터로 로딩시작메시지를 전송하고 개인용 컴퓨터로 부터 해당 화일의 데이터를 로딩받는 과정; 로딩이 완료되면, 해당 화일에 대한 기능시험을 수행하는 시험수행과정; 모드입력데이타에 의하여 프로세스 생성과정에서 시험결과를 조회하는 프로세스가 생성되면, 개인용 컴퓨터내부의 상기 디스크에 수록된 해당 화일에 대한 시험결과를 조회하는 과정; 시험 프로세서에 의해 시험된 결과를 개인용 컴퓨터의 디스크에 저장하는 과정 등을 포함함을 특징으로 한다.
이어서 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 일실시예를 상세하게 설명하기로 한다.
제1도는 본 발명에 따른 방법잉 적용되는 하드웨어 시스템의 구성도로서, 전전자 교환기내의 주프로세스(MP:Main Processor, 109), 주변프로세서(PP(Peripheral Processor) 1~PPN, 110, 111), 전전자 교환기의 통신데이터를 송수신하는 물리적인 경로(104), 운용자의 제어명령을 인가하기 위한 터미널(101), 전전자 교환기내에서 운용자가 원하는 시험을 수행하기 위한 시험프로세서(102), 시험프로세서(102)에 의해 시험대상이 되는 전전자 교환기내의 각종 디바이스(103), 프로세서중 사람과 전전자 교환기간에 통신(MMC:Man Machine
Communication)을 수행하기 위한 입출력제어 프로세서(108), 및 PC(Personal Computer, 107)로 구성된다. 특히 PC(107)는 전전자 교환기와의 데이터 송수신을 위한 SPIA(Small PCN(Personal Communication Network) Interface Assembly)보드(105)와 시험용 패키지를 저장하는 디스크(106)를 포함하도록 구성된다.
제2도는 본 발명에 따라 제1도에 도시된 시험프로세서(102)에서 시험패키지 로딩 및 시험결과를 조회하기 위한 명령어 입력과정에 대한 흐름도로서, 시험프로세서(102)에 연결된 터미널(101)에서 시험명령어(TEST COMMAND)가 입력되면 동작 수행을 스타트하면서 어떤 기능을 수행할 것인지 모드선택을 요구한다.
즉, 터미널(101)로 부터 인가된 시험명령어에 의하여 동작을 스타트하면서 제201단계로 진행되어 터미널(101)로 부터 선택될 모드(MODE) 데이타가 인가되면, 제202단계로 진행되어 현재 인가된 모드 데이터를 체킹하게 된다. 우선, 제202단계에서는 터미널(101)로 부터 인가된 모드데이터가 'STOP'기능을 선택하기 위한 데이터인지를 체크한다. 체크결과, 아닌 경우에는 제203단계로 진행되어 시험플래그(TEST FLAG)의 상태가 세트(SET)상태인지를 판단한다. 이 때 시험플래그가 세트상태가 아닌경우에는 제204단계로 진행되어 터미널(101)로 부터 인가된 모드선택데이터가 'LOADING'기능을 선택하기 위한 것인지를 체크한다. 체크결과, 로딩기능을 선택하기 위한 경우에는 제205단계로 진행되어 로딩받을 블럭을 터미널(101)로 요구하고, 터미널(101)로 하여금 로딩할 블럭에 대한 정보가 입력되면 제206단계로 진행되어 해당되는 시험플래그(TEST FLAG)를 세트시킨 뒤, 제207단계로 진행되어 로딩기능을 수행하는 프로세스를 생성시켜 시험준비단계를 마친 뒤 종료한다.
그러나 제202단계에서 인가된 모드선택 데이터가 'STOP'기능을 선택하기 위한 것일 때에는 제211단계로 진행되어 시험플래그(TEST FLAG)를 리세트(RESET)시킨 뒤 프로세서 동작을 멈추고 작업을 종료한다. 또한, 제203단계에서 시험플래그가 세트상태인 경우에는 제213단계로 진행되어 동작상 에러가 발생된 경우이므로 터미널(101)로 에러메시지를 출력한 뒤 종료한다.
한편, 제204단계에서 인가된 모드선택 데이터가 로딩기능을 설정하기 위한 것이 아닌 경우에는 제208단계로 진행되어 시험결과를 조회하기 위한 'view'기능인지를 체크한다. 체크결과, 조회기능을 설정하기 위한 데이터인 경우에는 제209단계로 진행되나 아닌 경우에는 제212단계로 진행되어 동작상에 에러가 발생되었음을 알리는 메시지를 터미널(101)로 출력한다.
제209단계에서는 현재 인가된 모드선책 데이터가 조회기능을 수행하기 위한 것이므로 필요한 시험플래그를 세트하고, 제210단계로 진행되어 시험결과 출력기능을 수행하는 프로세스를 생성시켜 주어 본 발명에 따른 기능을 시험하기 위한 준비를 한 뒤 종료한다.
제3도는 본 발명에 따라 시험프로세서(102)에서 프로세서 자신 및 산하 디바이스(103)를 시험하기 위해서 시험용 패키지를 PC(107)로 부터 로딩을 받는 과정과 시험결과를 백업하는 과정을 나타낸 흐름도이다.
즉, 제2도와 같은 흐름도를 통해 로딩기능이 선택되어 해당되는 프로세스가 생성되므로서 실제 수행이 이루어진다. 우선, 제301단계에서 PC(107)로 시험프로세서(102) 자신이 로딩을 받고자 함을 IPC(Inter Processor Communication, 프로세서간 통신) 메시지를 이용하여 통로(104) 및 SPIA(105)를 통해 전송한다. 이 때 로딩의 시작임을 알림과 동시에 시험패키지 이름을 터미널(101)로 부터 읽어들여 전송메시지 내부에 담아서 PC(107)로 보내게 되고, PC(107)로 부터 응답이 오기를 기다린다.
만일 PC(107)에서 오픈 에러(OPEN ERR) 메시지가 전송되면, 제302단계를 통해 제303단계로 진행되어 시험용 패키지가 PC(107)내에 장착된 디스크(여기서는 하드디스크를 에로 든다. 106)에 존재하지 않는다고 인식하여 프로세스 수행을 중지시키고, 오픈 에러메시지를 터미널(101)측으로 출력한 뒤 종료한다.
해당 시험용 패키지가 디스크(106)에 존재한다는 응답이 도달하면, 제304단계를 거쳐 제305단게로 진행되어 해당 화일(File)의 헤더(Header)영역을 검색하고 로딩어드레스를 설정한 뒤, 제301단계의 다음단계로 진행되어 다음 단계의 메시지가 도착되기를 기다린다. 여기서 화일은 헤더영역, 덱스트(Text)영역과 데이터(Data)영역을 구분할 수 있도록 구성되어 있다.
PC(107)로 부터 실제 텍스트의 내용이 도달하면, 제306단계를 통해 제307단게로 진행되어 200바이트(Byte)단위로 먼저 저장된 택스트의 어드레스에 저장되어 있는 데이터부터 시작하여 메모리에 탑재(또는 저장)한 뒤, 제308단계로 진행되어 데이터가 접속된 메시지 숫자를 하나씩 더한 다음(COUNT = COUNT + 1), 1메시지에 200바이트의 어드레스를 증가시켜 나가면서 메모리에 텍스트 로딩데이터를 탑재시킨다. 이 때 PC(107)로 부터 텍스트 로딩완료 메시지가 도착되면, 제309단계를 거쳐 제310단계로 진행되어 지금까지 누적된 메시지 카운트를 비교하여 정상여부를 파악한다. 이때 정상이 아니면 제301단계로 귀환되어 재로딩을 요구한다. 다음 제311단계로 진행되어 카운터값을 무효화(Null)하여 시험용 패키지의 데이타 영역을 탑재할 준비를 완료하며 로딩어드레스를 데이타 스타트지점으로 설정하여(LD_ADDR=D_START) 데이타 영역이 로딩되기를 기다린다. 시험패키지의 데이터 영역의 데이터가 로딩되면 택스터 영역의 데이터처럼 로딩을 완료한다.
데이터영역 로딩완료 메시지가 도착되면 제312단계에서 제313단계로 진행되어 메시지 카운트를 확인하여 정상여부를 판단하고 정상이면 제314단계로 진행되어 해당 기능시험 준비완료상태(해당 시험플래그, 로딩 어드레스, 텍스트 시작지점 및 데이터 시작지점을 0으로 설정)로 넘어가고 정상이 아니면 제301단계로 귀환되어 재로딩을 요구한다.
시험 준비완료상태에서 해당 기능시험을 시작하라는 명령이 들어오면 제315단계를 통해 제317당계로 진행되어 시험결과를 디스크(106)에 백업할 것인지 여부를 확인하게 되고, 시험을 시작하라는 명령이 인가되지 않으면 시험수행명령이 인가될 때까지 수행대기상태를 유지하기 위하여 제316단계로 진행된다.
제317단계에서 만일 백업을 선택하면 제324단게로 진행되어 백업과정을 수행한다. 즉, 제3241단계를 통해 터미널(101)에서 백업기능을 수행할 화일이름 및 크리에이트(Create)사이즈가 인가되면, 제3242단계로 진행되어 백업스타트 메시지에 담아 PC(107)로 전달한 뒤, 일정시간(예를 들어 1초)동안 PC(107)로 부터의 응답대기상태를 유지한다. 한편 PC(107)는 백업기능을 수행하기 위한 화일 및 사이즈를 받아서 정상적으로 크리에이트가 수행되었다면 크리에이트 정상 메시지를 시험 프로세서(102)로 전달하게 되는데 시험 프로세서(102)에서는 크리에이트 정상 메시지가 도착되었다고 판단될 경우, 제3244단게에서 제3245단계로 진행되어 백업 관련 플래그를 세팅(BK_FLAG = SET)시키고, 정상적으로 크리에이트가 되지 않았다면 제3246단계로 진행되어 터미널(101)로 에러메시지를 출력하고, 제 3247단계로 진행되어 플래그를 리세트시키고(BK_FLAG=RESET) 다음 단게로 넘어간다.
한편, 제317단계에서 백업을 원하지 않은 경우, 제318단계로 진행되어 바로 해당되는 기능을 시험하고, 백업 플래그(BK_FLAG)가 세트되어 있으면 제319단게에서 제320단계로 진행되어 시험결과를 PC(107)로 전송하여 PC(107)내부 디스크(106)에 저장하고 제321단계로 진행되어 터미널(101)로 시험결과를 출력시키는 과정을 기능시험완료시까지 계속수행한다. 기능시험이 완료되면, 제322단계를 거쳐 제323단계로 진행되어 백업완료 메시지를 터미널(101)로 전송한다. 그러나 기능시험이 완료되지 않았으면, 제318단계로 귀환되어 반복처리를 한다. 이 때 운용자의 부재시에도 백업기능을 수행하도록 선택만 하면 스스로 PC(107)내부의 디스크(106)에 시험결과가 수록된다.
제4도는 상술한 제2도에서 로딩기능이 선택되었을 경우, PC(107)에서 실제 시험패키지를 시험 프로세서(102)에게 전송하는 과정에 대한 흐름도이다.
즉, 제4도의 제401단계에서 시험프로세서(102)로 부터 로딩 스타트 메시지(MSG)가 도착되면, 제402단계로 진행되어 메시지 내부의 화일 이름을 참조하여 PC(107)내의 디스크(106)에 들어 있는지 오픈 기능을 이용하여 체크한다. 체크결과, 오픈이 정상적으로 수행되지 않으면 화일이 디스크(106) 내부에 존재하지 않는 것으로 판단하여 제413단계로 진행되어 오픈 에러 메시지를 시험 프로세서(102)에게 전송한다. 그러나 오픈이 정상적으로 수행되었을 경우, 제403단계로 진행되어 디스크(106) 내부에서 해당 화일의 헤더를 읽고, 제404단계로 진행되어 텍스트/데이터 사이즈(t_size d_size)를 파악한 뒤, 제405단계로 진행되어 화일의 헤더를 시험프로세서(102)로 전송한다.
그 다음 제406단계로 진행되어 디스크(106)에서 텍스트 내용을 읽어 시험프로세서(102)로 전송하며, 디스크(106)으로 부터 전송한 데이터의 사이즈가 텍스트 사이즈(t_size)만큼 전송을 하면 제407단계에서 제408단게로진행되어 텍스트 데이터 전송완료 메시지를 시험프로세서(102)로 전송한다. 그리고 제409단계로 진행되어 텍스트 테이터와 마찬가지 사이즈 만큼 디스크(106)에서 데이터를 읽어 전송하면, 제410단계에서 제411단계로 진행되어 해당 파일의 데이터 전송환료 메시지를 시험프로세서(102)로 전송한다. 이 때, 화일의 텍스트/데이터 영역의 데이타를 전송하고 완료 메시지를 전송하는 과정에서 지금까지 전송된 메시지의 숫자를 시험프로세서(102)에게 넘겨 줌으로서 정상적으로 로딩을 받았는지에 대한 확인이 가능하다. 상술한 바와 같은 과정을 통해 데이터 전송이 완료되면, 제412단계로 진행되어 해당 화일을 클로즈(CLOSE)시킨 뒤 종료한다.
제5도에서는 시험프로세서(102)에서 PC(107)내부에 수록된 시험결과를 조회하는 과정에 대한 흐름도로서, 제2도에서 디스크(106)에 저장된 시험결과를 조회하는 기능을 선택함으로서 해당 프로세스가 생성되어 실제로 수행되게 된다.
먼저 제501단계에서 디스크(106)에 저장된 시험결과를 조회하기 위해 조회를원하는 회일이름을 터미널(101)에 요구하여 시험결과 조회화일이 접수되면, 제502단게로 진행되어 운용자에 의해서 입력된 화일을 시험결과 조회시작메시지에 담아 PC(107)에 전달하고 PC(107)에서 응답이 오기를 기다린다.
PC(107)는 시작메시지와 함께 전송한 화일이 디스크(106)에 저장되어 있으면, 제503단계에서 오픈 정상메시지가 PC(107)로 부터 시험프로세서(102)로 전송되고, 제504단게에서 시험프로세서(102)는 관련 데이터를 초기화한 뒤 다음 메시지가 전송에 대한 대기상태를 유지한다.
PC(107)로 부터 조회 데이타 메시지(시험결과)가 도달하면, 제505단계에서 제506단계로 진행되어 터미널(101)에 조회결과를 출력시키고 다음메시지를 위해 대기상태로 들어간다. 또한 PC(107)에서 조회완료 또는 오픈 에러메시지가 도착되면, 제507단계를 통해 제508단계로 진행되어 해당 메시지를 터미널(101)로 출력시키고 시험프로세서(102)내의 해당 데이타를 초기화한 다음 조회기능을 종료한다.
제6도에서는 PC(107)에 저장된 시험결과를 시험프로세서(102)로 전송하는 과정에 대한 흐름도이다.
즉, 제601단계에서 시험조회메시지가 시험프로세서(102)로 부터 PC(107)에 도착되면, 제602단계로 진행되어 PC(107)내부 디스크(106)에서 시험조회 메시지에 포함되어 있는 해당 화일을 참조하여 디스크(106)에서 오픈을 수행하며 오픈이 정상적으로 수행되었다면 제603단계에서 제604단계로 진행되어 오픈 정상 메시지를 시험프로세서(102)에게 전달한다.
그 다음 제605단계로 진행되어 실제 조회 데이타를 시험프로세서(102)에게 전송한다. 이 때 조회 데이타는 200바이트단위로 읽어 해당 화일의 끝(EDD:End Of Data)까지 읽어서 메시지를 전송하며 화일의 끝까지 읽었을 경우 제606단계를 통해 제607단계로 진행되어 조회완료 메시지를 시험프로세서(102)에게 전달하고, 제608단계로 진행되어 화일을 크로우즈(CLOSE) 한 다음 프로세스 수행을 종료된다.
한편 오픈이 정상적으로 수행되지 않았을 경우, 제609단계로 진행되어 오픈 에러 메시지를 시험프로세서(102)로 전송하고 프로세스 수행을 종료시킨다.
제7도는 상술한 제2도에서 시험결과 백업기능을 요구했을 경우, PC(107)에서 수행하는 과정에 대한 흐름도이다.
즉, 제701단계에서 백업시작메시지와 함께 해당되는 화일이름 및 사이즈가 시험프로세서(102)로 부터 PC(107)에 도달하면, 디스크(106) 내부에 화일의 생성을 시도한다. 이 때 화일이 정상적으로생성되지 않으면 제702단계에서 제708단계로 진행되어 화일생성 에러메시지를 시험프로세서(102)에게 전달하고 프로세스 수행을 종료시킨다. 그러나 정상적으로 화일이 생성되었을 경우, 제702단계를 통해 제703단계로 진행되어 화일생성 메시지를 시험프로세서(102)로 전송하고 PC(107)는 백업 데이타 메시지 및 백업기능완료 메시지를 기다리게 된다. 만일 시험프로세서(102)로 부터 백업 데이타 메시지가 도달되면, 제704단계를 통해 제705단계로 진행되어 전송되어온 데이타를 PC(107)내부 디스크(106)에 저장하고 다음 메시지를 기다린다.
그리고 백업 완료 메시지가 도달되면 제706단계에서 제707단계로 진행되어 지금까지 사용하고 있던 화일을 클로우즈(CLOSE)하고 해당 기능 수행을 종료한다.
상술한 바와 같이 본 발명은 전전자 교환기 내부 프로세스들이나 프로세서가 관장하고 있는 디바이스에서 발생되는 이상현상을 PC를 이용하여 시스템 전체, 또는 서브 시스템별로 시험이 가능함으로써, 시험과정의 편리성, 효율성, 신속성 등의 이점있고 프로세서별로 시험결과를 PC내부 디스크에 저장하고 있으므로 차후에도 활용할 수가 있으며 운용자의 부재시에도 시험이 가능하다는 장점이 있다.

Claims (1)

  1. 시험프로세서, 운용자의 제어명령 등을 인가하는 터미널을 구비하고 디스크를 구비하고 있는 개인용 컴퓨터와 IPC(Inter Processor Communication)케이블을 이용하여 접속된 전전자 교환기의 프로세서 시험방법에 있어서; 상기 터미널을 통해 인가된 모드입력데이터가 상기 시험프로세서로 인가되면 해당 기능에 대한 프로세스를 생성하는 프로세스생성과정; 상기 프로세스 생성과정에서 로딩기능을 설정하기 위한 모드입력데이터에 의하여 로딩 프로세스가 생성되면, 상기 시험프로세서는 개인용 컴퓨터로 로딩시작메시지를 전송하고 상기 개인용 컴퓨터로 부터 해당 화일의 데이터를 로딩받는 과정; 상기 로딩이 완료되면, 해당 화일에 대한 기능시험을 수행하는 시험수행과정; 상기 모드입력데이타에 의하여 프로세스 생성과정에서 시험결과를 조회하는 프로세스가 생성되면, 상기 개인용 컴퓨터내부의 상기 디스크에 수록된 해당 화일에 대한 시험결과를 조회하는 과정; 상기 시험 프로세서에 의해 시험된 결과를 상기 개인용 컴퓨터의 디스크에 저장하는 과정 등을 포함함을 특징으로 하는 개인용 컴퓨터를 이용한 전전자 교환기의 프로세서 시험방법.
KR1019940032293A 1994-11-30 1994-11-30 개인용 컴퓨터를 이용한 전전자 교환기의 프로세서 시험방법 KR0130417B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019940032293A KR0130417B1 (ko) 1994-11-30 1994-11-30 개인용 컴퓨터를 이용한 전전자 교환기의 프로세서 시험방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1019940032293A KR0130417B1 (ko) 1994-11-30 1994-11-30 개인용 컴퓨터를 이용한 전전자 교환기의 프로세서 시험방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR960018890A KR960018890A (ko) 1996-06-17
KR0130417B1 true KR0130417B1 (ko) 1998-04-14

Family

ID=19399938

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1019940032293A KR0130417B1 (ko) 1994-11-30 1994-11-30 개인용 컴퓨터를 이용한 전전자 교환기의 프로세서 시험방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR0130417B1 (ko)

Also Published As

Publication number Publication date
KR960018890A (ko) 1996-06-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7287190B2 (en) Simultaneous execution of test suites on different platforms
US5349675A (en) System for directly displaying remote screen information and providing simulated keyboard input by exchanging high level commands
US4231087A (en) Microprocessor support system
US7296190B2 (en) Parallel text execution on low-end emulators and devices
US5371878A (en) System for analysis of embedded computer systems
US20040064764A1 (en) Using a network connectivity to remotely control an IEEE 1149.1 test access port of target hardware
WO1996010786A1 (en) Microprocessor programming using a state machine
EP0225603A2 (en) Distributed processing system and method
CN114257551A (zh) 一种分布式限流的方法及系统、存储介质
CN109558313B (zh) 构建异常测试场景的方法及装置
US20030235156A1 (en) Methods and structure for improved testing of embedded systems
CN110221845A (zh) 应用部署方法、装置、设备和介质
US20010018646A1 (en) USB simulation apparatus and storage medium
JP7383053B2 (ja) バス監視方法、記憶媒体及び電子装置
KR0130417B1 (ko) 개인용 컴퓨터를 이용한 전전자 교환기의 프로세서 시험방법
EP0877982B1 (en) Processor system
CN116204214A (zh) Bmc升级方法、装置、系统、电子设备及存储介质
CN113760701A (zh) 测试处理方法及装置
CN106161429A (zh) 微端的自动登录方法及装置
EP0378398B1 (en) Data processing system with means for detecting status of data processing device receiving commands
CN117376229B (zh) 基于嵌入式设备的ftp文件系统软件交叉调试方法及系统
CN115599408B (zh) 处理器的数据烧录方法、设备及存储介质
CN110069395A (zh) 一种模拟异步接口的方法、装置、存储介质及计算机设备
KR20000060737A (ko) 프로세서와 재설정가능 칩을 사용한 집적회로 에뮬레이터
CN114942891B (zh) 面向电力智能终端的数据中心微应用的测试方法及系统

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee