JPWO2024009868A1 - - Google Patents

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Citations (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0737891B2 (ja) * 1987-04-30 1995-04-26 株式会社日立製作所 凹凸状態検出装置
JPH07174705A (ja) * 1993-12-21 1995-07-14 Kubota Corp 円筒形物体表面画像検査装置における照明方法
JPH10132537A (ja) * 1996-11-05 1998-05-22 Hitachi Metals Ltd U字溝形状を有する部品表面の検査方法
JP2002267608A (ja) * 2001-03-13 2002-09-18 Toray Ind Inc 基板検査装置
JP2008064715A (ja) * 2006-09-11 2008-03-21 Omron Corp 欠陥検査装置および欠陥検査方法
JP2015046698A (ja) * 2013-08-27 2015-03-12 ソニー株式会社 撮像装置およびその撮像方法、画像処理装置およびその画像処理方法、並びに、プログラム
JP2016080517A (ja) * 2014-10-17 2016-05-16 セイコーインスツル株式会社 表面検査装置
JP2016125859A (ja) * 2014-12-26 2016-07-11 ダイハツ工業株式会社 表面欠陥検査方法
WO2016208606A1 (ja) * 2015-06-25 2016-12-29 Jfeスチール株式会社 表面欠陥検出装置、表面欠陥検出方法、及び鋼材の製造方法
WO2017169242A1 (ja) * 2016-03-28 2017-10-05 セーレン株式会社 欠陥検査装置、及び欠陥検査方法
JP2019039798A (ja) * 2017-08-25 2019-03-14 Jfeスチール株式会社 金属帯表面の検査方法および検査装置
WO2019244946A1 (ja) * 2018-06-22 2019-12-26 コニカミノルタ株式会社 欠陥判別方法、欠陥判別装置、欠陥判別プログラム及び記録媒体
JP2020193890A (ja) * 2019-05-29 2020-12-03 ヴィスコ・テクノロジーズ株式会社 外観検査装置
JP2021039022A (ja) * 2019-09-04 2021-03-11 信越化学工業株式会社 欠陥分類方法及び欠陥分類システム並びにフォトマスクブランクの選別方法及び製造方法
JP2021140739A (ja) * 2020-02-28 2021-09-16 株式会社Pros Cons プログラム、学習済みモデルの生成方法、情報処理方法及び情報処理装置
JP2021162330A (ja) * 2020-03-30 2021-10-11 新東工業株式会社 表示制御装置及び制御プログラム
JP2022003495A (ja) * 2020-06-23 2022-01-11 オムロン株式会社 検査装置、ユニット選択装置、検査方法、及び検査プログラム

Patent Citations (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0737891B2 (ja) * 1987-04-30 1995-04-26 株式会社日立製作所 凹凸状態検出装置
JPH07174705A (ja) * 1993-12-21 1995-07-14 Kubota Corp 円筒形物体表面画像検査装置における照明方法
JPH10132537A (ja) * 1996-11-05 1998-05-22 Hitachi Metals Ltd U字溝形状を有する部品表面の検査方法
JP2002267608A (ja) * 2001-03-13 2002-09-18 Toray Ind Inc 基板検査装置
JP2008064715A (ja) * 2006-09-11 2008-03-21 Omron Corp 欠陥検査装置および欠陥検査方法
JP2015046698A (ja) * 2013-08-27 2015-03-12 ソニー株式会社 撮像装置およびその撮像方法、画像処理装置およびその画像処理方法、並びに、プログラム
JP2016080517A (ja) * 2014-10-17 2016-05-16 セイコーインスツル株式会社 表面検査装置
JP2016125859A (ja) * 2014-12-26 2016-07-11 ダイハツ工業株式会社 表面欠陥検査方法
WO2016208606A1 (ja) * 2015-06-25 2016-12-29 Jfeスチール株式会社 表面欠陥検出装置、表面欠陥検出方法、及び鋼材の製造方法
WO2017169242A1 (ja) * 2016-03-28 2017-10-05 セーレン株式会社 欠陥検査装置、及び欠陥検査方法
JP2019039798A (ja) * 2017-08-25 2019-03-14 Jfeスチール株式会社 金属帯表面の検査方法および検査装置
WO2019244946A1 (ja) * 2018-06-22 2019-12-26 コニカミノルタ株式会社 欠陥判別方法、欠陥判別装置、欠陥判別プログラム及び記録媒体
JP2020193890A (ja) * 2019-05-29 2020-12-03 ヴィスコ・テクノロジーズ株式会社 外観検査装置
JP2021039022A (ja) * 2019-09-04 2021-03-11 信越化学工業株式会社 欠陥分類方法及び欠陥分類システム並びにフォトマスクブランクの選別方法及び製造方法
JP2021140739A (ja) * 2020-02-28 2021-09-16 株式会社Pros Cons プログラム、学習済みモデルの生成方法、情報処理方法及び情報処理装置
JP2021162330A (ja) * 2020-03-30 2021-10-11 新東工業株式会社 表示制御装置及び制御プログラム
JP2022003495A (ja) * 2020-06-23 2022-01-11 オムロン株式会社 検査装置、ユニット選択装置、検査方法、及び検査プログラム

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