JPWO2021111545A5 - - Google Patents
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Description
本出願の実施の形態の一つとして提供される溶接異常診断装置は、被溶接材の裏面を撮影するカメラシステムと、前記被溶接材の溶接時において前記カメラシステムにより撮影された発光撮影画像を収集する溶接部撮影カメラ画像収集部と、溶接条件設定値を収集する溶接制御情報収集部と、前記被溶接材の溶接状況を診断するための溶接光特徴量を前記発光撮影画像に基づいて計算し、前記溶接光特徴量と溶接異常判定上下限値とに基づいて溶接の良不良を判定する溶接状況診断部と、を備える。
9 被溶接材、9a 先行材、9b 後行材、10 溶接システム、12 溶接ヘッド、13 溶接部表面撮影カメラ、14 溶接部裏面撮影カメラ、15 制御装置、16 出力装置、19 溶接部裏面撮影カメラ画像、20 溶接異常診断装置、21 溶接部撮影カメラ画像収集部、22 溶接制御情報収集部、23 溶接状況診断部、23A 撮影画像毎診断機能ブロック、23B 溶接完了後診断機能ブロック、23C 溶接傾向診断機能ブロック、24 溶接異常判定上下限テーブル、25 溶接異常アラーム部、26 溶接状況出力部、27 溶接制御情報データベース、28 溶接状況情報データベース、A、C、D 溶接光特徴量、Cd、Dd 統計量、Aerr1、Cd
err1 溶接異常判定上限値、Aerr2、Cd
err2 溶接異常判定下限値、Awrn1、Cd
wrn1 溶接異常警告上限値、Awrn2、Cd
wrn2 溶接異常警告下限値、Bd1 溶接池、Dm1、Dd
mx1、UCLi 上方管理限界、Dm2、Dd
mx2、LCLi 下方管理限界、Fdr 画像取得区間、FrmCnt 画像枚数識別子、LC
d 回帰直線、Lw1 溶接光、Qk、Qk-1 勾配、x 幅方向画素位置、y 高さ方向画素位置
Claims (10)
- 被溶接材の裏面を撮影するカメラシステムと、
前記被溶接材の溶接時において前記カメラシステムにより撮影された発光撮影画像を収集する溶接部撮影カメラ画像収集部と、
溶接条件設定値を収集する溶接制御情報収集部と、
前記被溶接材の溶接状況を診断するための溶接光特徴量を前記発光撮影画像に基づいて計算し、前記溶接光特徴量と前記溶接条件設定値とに基づいて溶接の良不良を判定する溶接状況診断部と、
を備える溶接異常診断装置。 - 前記溶接状況診断部は、撮影画像毎診断手段を含み、
前記撮影画像毎診断手段は、一本分の溶接工程のなかで前記溶接部撮影カメラ画像収集部から得られる時々刻々の前記発光撮影画像から時々刻々の前記溶接光特徴量を計算し、前記溶接光特徴量と前記溶接条件設定値に紐づけられた溶接異常判定上下限値とに基づいて溶接の良不良を判定する請求項1に記載の溶接異常診断装置。 - 前記撮影画像毎診断手段は、一本分の溶接工程のなかで前記溶接部撮影カメラ画像収集部から得られる時々刻々の前記発光撮影画像から時々刻々の前記溶接光特徴量を計算し、予め定めた期間内における前記溶接光特徴量の勾配を比較することで、溶接の良不良を判定する請求項2に記載の溶接異常診断装置。
- 前記撮影画像毎診断手段は、一本分の前記溶接部撮影カメラ画像収集部から得られる時々刻々の前記発光撮影画像により得られる時々刻々の前記溶接光特徴量に基づき前記溶接条件設定値を補正する請求項2に記載の溶接異常診断装置。
- 前記溶接状況診断部は、溶接完了後診断手段を含み、
前記溶接完了後診断手段は、複数の前記溶接光特徴量から統計量を計算し、前記統計量と溶接異常判定上下限値とに基づいて溶接の良不良を判定する請求項1に記載の溶接異常診断装置。 - 前記溶接完了後診断手段は、前記統計量に基づいて統計的手法を用いて前記溶接異常判定上下限値を決定する請求項5に記載の溶接異常診断装置。
- 前記溶接完了後診断手段は、前記統計量に基づいて機械学習を用いて前記溶接異常判定上下限値を決定する請求項5に記載の溶接異常診断装置。
- 前記溶接状況診断部は、溶接傾向診断手段を含み、
前記溶接傾向診断手段は、複数の前記溶接光特徴量から統計量を計算し、前記統計量が持つ傾向と溶接異常判定上下限値とに基づいて溶接の良不良を判定する請求項1に記載の溶接異常診断装置。 - 前記溶接傾向診断手段は、前記統計量に基づいて統計的手法を用いて前記溶接異常判定上下限値を決定する請求項8に記載の溶接異常診断装置。
- 前記溶接傾向診断手段は、前記統計量に基づいて機械学習を用いて前記溶接異常判定上下限値を決定する請求項8に記載の溶接異常診断装置。
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