JPWO2019008751A1 - 電力増幅器 - Google Patents
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Abstract
Description
半導体増幅素子として、例えば、高電子移動度トランジスタであるHEMT(High Electron Mobility Transistor)、あるいは、電界効果トランジスタであるFET(Field Effect Transistor)が使用される。
電力増幅器の高効率化を実現する手法の一つとして、半導体増幅素子のゲート端子において、高周波信号の搬送波周波数f0の2倍の周波数2f0を有する2次高調波のインピーダンスを制御することで、半導体増幅素子により増幅される高周波信号の波形を成形する方法が知られている。
具体的には、半導体増幅素子のゲート端子での2次高調波の負荷インピーダンスを短絡に近い負荷条件に設定する。また、半導体増幅素子のドレイン端子での2次高調波の負荷インピーダンスを短絡、もしくは、開放となる負荷条件に設定する。このように設定することで、電力増幅器が高効率で動作することが知られている。
第1及び第2の高調波処理回路は、半導体増幅素子が形成されている半導体チップ上に集積されている。
第2の高調波処理回路は、半導体増幅素子における高周波信号の増幅動作に伴って、半導体増幅素子のドレイン端子から出力された2次高調波を反射して、2次高調波を半導体増幅素子に戻すことで、半導体増幅素子の効率を高める回路である。
第2の高調波処理回路は、半導体増幅素子のドレイン端子とグランドとの間に、第2のインダクタと第2のキャパシタとが直列に接続されている第2の直列共振回路で実現されている。
図1は、この発明の実施の形態1による電力増幅器を示す等価回路図であり、図2は、この発明の実施の形態1による電力増幅器の構成を示す断面図である。
図1及び図2において、信号入力端子1は、増幅対象の高周波信号を入力する端子である。
入力整合回路2は、一端が信号入力端子1と接続され、他端が第1のボンディングワイヤ3の一端と接続されており、半導体増幅素子5の入力側の整合を図る回路である。
第1のボンディングワイヤ3は、一端が入力整合回路2の他端と接続され、他端が低温同時焼成セラミックス(Low Temperature Co−fired Ceramics:LTCC)基板のパッド9と接続されている。
半導体増幅素子5は、例えば、HEMT又はFETで実現されるが、GHz帯の所望周波数帯域で動作する増幅素子であればよく、HEMT又はFET以外のトランジスタで実現されるものであってもよい。
半導体増幅素子5のゲート端子は、半導体基板4のパッド6と接続され、半導体増幅素子5のドレイン端子は、半導体基板4のパッド7と接続され、半導体増幅素子5のソース端子は、グランドと接続されている。
半導体基板4のパッド6は、LTCC基板8のパッド10と電気的に接続されている。
半導体基板4のパッド7は、LTCC基板8のパッド11と電気的に接続されている。
LTCC基板8のパッド9とLTCC基板8のパッド10とは電気的に接続されている。
LTCC基板8のパッド11とLTCC基板8のパッド12とは電気的に接続されている。
第2のボンディングワイヤ13は、一端がLTCC基板8のパッド12と接続され、他端が出力整合回路14の一端と接続されている。
出力整合回路14は、一端が第2のボンディングワイヤ13の他端と接続され、他端が信号出力端子15と接続されており、半導体増幅素子5の出力側の整合を図る回路である。
信号出力端子15は、半導体増幅素子5により増幅された高周波信号を出力する端子である。
第1の高調波処理回路16は、半導体増幅素子5における高周波信号の増幅動作に伴って、ゲート端子から出力された2次高調波(高調波)を反射して、2次高調波を半導体増幅素子5に戻す回路である。
また、第1の高調波処理回路16は、半導体増幅素子5のゲート端子における2次高調波のインピーダンスを調整するための第1の調整部材を含んでおり、ゲート端子とグランドとの間に、第1のインダクタ17と第1のキャパシタ18とが並列に接続されている第1の並列共振回路である。
第1の並列共振回路は、第1の調整部材を含んでおり、第1の調整部材は、第1のインダクタ17におけるインダクタンス及び第1のキャパシタ18におけるキャパシタンスのそれぞれを調整するため部材である。
第2の高調波処理回路19は、半導体増幅素子5における高周波信号の増幅動作に伴って、ドレイン端子から出力された2次高調波を反射して、2次高調波を半導体増幅素子5に戻す回路である。
また、第2の高調波処理回路19は、半導体増幅素子5のドレイン端子における2次高調波のインピーダンスを調整するための第2の調整部材を含んでおり、ドレイン端子とグランドとの間に、第2のインダクタ20と第2のキャパシタ21とが並列に接続されている第2の並列共振回路である。
第2の並列共振回路は、第2の調整部材を含んでおり、第2の調整部材は、第2のインダクタ20におけるインダクタンス及び第2のキャパシタ21におけるキャパシタンスのそれぞれを調整するため部材である。
パッド接続部23は、パッド11とパッド12とを電気的に接続する部材である。
ヒートシンク部材24は、図2において、半導体基板4の下側に配置されており、半導体増幅素子5から発生した熱を放熱する導電性の部材である。
ヒートシンク部材24には、グランド25が設けられている。
第1の高調波処理回路16は、第1の地導体35、第2の地導体36、複数の表面電極38及び図7に示すボンディングワイヤ50などを備えている。
貫通電極31は、半導体基板4の電極パッド32とヒートシンク部材24とを電気的に接続するビアコンタクトである。
電極パッド32は、貫通電極31と電気的に接続された半導体基板4上のパッドである。
電極パッド33は、電極パッド32と電気的に接続されたLTCC基板8上のパッドである。
貫通電極34は、第1の地導体35と電極パッド33とを電気的に接続するビアコンタクトである。
第2の地導体36は、LTCC基板8内の第2の層8bに配置されている。
貫通電極37は、第1の地導体35と第2の地導体36とを電気的に接続するビアコンタクトである。
表面電極38は、LTCC基板8の表面8cに配置されている第1の調整部材である。
図5は、LTCC基板8内の第2の層8bを示す平面図である。
図6は、LTCC基板8内の第1の層8aを示す平面図である。
図7は、LTCC基板8の表面8cを示す平面図である。
図7Aと図7Bは、複数の表面電極38の間の接続パターンが相違しており、以下、図7Aに示す接続パターンを接続パターンAと称し、図7Bに示す接続パターンを接続パターンBと称する。
表面電極38bは、複数の表面電極38の中で、第2の地導体36と対向している表面電極以外の表面電極であり、第1のインダクタ17に対応する誘導性の伝送線路の一部となる。
図7では、表面電極38a及び表面電極38bのそれぞれが10個である例を示しているが、少なくとも2個以上であればよく、表面電極38a及び表面電極38bのそれぞれの個数が10個に限るものではない。
LTCC基板8のパッド39は、複数の表面電極38aの中の1つの表面電極38aと電気的に接続されている。
パッド接続部40は、パッド39とグランドとを電気的に接続する部材である。
LTCC基板8のパッド41は、複数の表面電極38bの中の1つの表面電極38bと電気的に接続されている。
パッド接続部42は、パッド41とグランドとを電気的に接続する部材である。
第2の高調波処理回路19は、第3の地導体65、第4の地導体66、複数の表面電極68及び図12に示すボンディングワイヤ80などを備えている。
貫通電極61は、半導体基板4の電極パッド62とヒートシンク部材24とを電気的に接続するビアコンタクトである。
電極パッド62は、貫通電極61と電気的に接続された半導体基板4上のパッドである。
電極パッド63は、電極パッド62と電気的に接続されたLTCC基板8上のパッドである。
貫通電極64は、第3の地導体65と電極パッド63とを電気的に接続するビアコンタクトである。
第4の地導体66は、LTCC基板8内の第2の層8bに配置されている。
貫通電極67は、第3の地導体65と第4の地導体66とを電気的に接続するビアコンタクトである。
表面電極68は、LTCC基板8の表面8cに配置されている第2の調整部材である。
図10は、LTCC基板8内の第2の層8bを示す平面図である。
図11は、LTCC基板8内の第1の層8aを示す平面図である。
図12は、LTCC基板8の表面8cを示す平面図である。
図12Aと図12Bは、複数の表面電極68の間の接続パターンが相違しており、以下、図12Aに示す接続パターンを接続パターンCと称し、図12Bに示す接続パターンを接続パターンDと称する。
表面電極68bは、複数の表面電極68の中で、第4の地導体66と対向している表面電極であり、第2のキャパシタ21に対応する容量性の伝送線路の一部となる。
図12では、表面電極68a及び表面電極68bのそれぞれが10個である例を示しているが、少なくとも2個以上であればよく、表面電極68a及び表面電極68bのそれぞれの個数が10個に限るものではない。
LTCC基板8のパッド69は、複数の表面電極68aの中の1つの表面電極68aと電気的に接続されている。
パッド接続部70は、パッド69とグランドとを電気的に接続する部材である。
LTCC基板8のパッド71は、複数の表面電極68bの中の1つの表面電極68bと電気的に接続されている。
パッド接続部72は、パッド71とグランドとを電気的に接続する部材である。
信号入力端子1から増幅対象の高周波信号が入力されると、高周波信号は、入力整合回路2及び第1のボンディングワイヤ3を通じて、半導体増幅素子5のゲート端子に到達する。
ここでは、説明の便宜上、高周波信号の搬送波周波数がf0であるとする。
半導体増幅素子5のドレイン端子から出力された増幅後の高周波信号は、第2のボンディングワイヤ13、出力整合回路14及び信号出力端子15を通じて、外部に出力される。
電力増幅器の高効率化を実現する手法の一つとして、半導体増幅素子5のゲート端子において、高周波信号の搬送波周波数f0の2倍の周波数2f0を有する2次高調波のインピーダンスを制御することで、半導体増幅素子5により増幅される高周波信号の波形を整形する方法が知られている。
具体的には、半導体増幅素子5のゲート端子での2次高調波の負荷インピーダンスを短絡に近い負荷条件に設定する。また、半導体増幅素子5のドレイン端子での2次高調波の負荷インピーダンスを短絡、もしくは、開放となる負荷条件に設定する。このように設定することで、電力増幅器が高効率で動作することが知られている。
第1の高調波処理回路16及び第2の高調波処理回路19のそれぞれは、半導体基板4と異なるLTCC基板8に形成されている。
なお、第1の高調波処理回路16と第2の高調波処理回路19とは、図2に示すように、LTCC基板8の内部において、互いに電気的に干渉しない程度に離れて配置されている。
第2の高調波処理回路19は、半導体増幅素子5における高周波信号の増幅動作に伴って、ドレイン端子から出力された2次高調波を反射して、2次高調波を半導体増幅素子5に戻すことで、半導体増幅素子5の効率を高める回路である。
第1の高調波処理回路16は、図3及び図7に示すように、第1の地導体35、第2の地導体36、複数の表面電極38及びボンディングワイヤ50などを備えている。
ここで、複数の表面電極38の中の表面電極38aは、例えば、マイクロストリップ線路で実現され、第2の地導体36と対向している位置に配置されている。
また、複数の表面電極38の中の表面電極38bは、例えば、マイクロストリップ線路で実現され、第1の地導体35と対向している位置に配置されている。
このため、表面電極38bは、間隔d1及びLTCC基板8の比誘電率Erで決定される特性インピーダンスZbを有する伝送線路の一部となる。
また、LTCC基板8の表面8cに配置されている表面電極38aと、LTCC基板8内の第2の層8bに配置されている第2の地導体36との間隔は、d2である。
このため、表面電極38aは、間隔d2及びLTCC基板8の比誘電率Erで決定される特性インピーダンスZaを有する伝送線路の一部となる。
間隔d1>間隔d2であるため、表面電極38bは、誘導性の伝送線路の一部となり、表面電極38aは、容量性の伝送線路の一部となる。
また、図7Aに示す接続パターンAでは、2つの表面電極38bが、1つのボンディングワイヤ50によって、LTCC基板8のパッド41と電気的に接続されているので、第1の地導体35、2つの表面電極38b及び1つのボンディングワイヤ50等が、第1のインダクタ17に対応する誘導性の伝送線路となる。
しかし、これは一例に過ぎず、表面電極38aに対するボンディングワイヤ50の接続形態を変更することで、第1のキャパシタ18に対応する容量性の伝送線路のキャパシタンスを調整することができる。
また、図7Aに示す接続パターンAでは、2つの表面電極38bが、1つのボンディングワイヤ50によって、LTCC基板8のパッド41と電気的に接続されている例を示している。
しかし、これは一例に過ぎず、表面電極38bに対するボンディングワイヤ50の接続形態を変更することで、第1のインダクタ17に対応する誘導性の伝送線路のインダクタンスを調整することができる。
また、図7Bに示す接続パターンBでは、4つの表面電極38bが、3つのボンディングワイヤ50によって、LTCC基板8のパッド41と電気的に接続されているので、第1の地導体35、4つの表面電極38b及び3つのボンディングワイヤ50等が、第1のインダクタ17に対応する誘導性の伝送線路となる。
これにより、表面電極38aに対するボンディングワイヤ50の接続形態と、表面電極38bに対するボンディングワイヤ50の接続形態とを変更することで、第1の高調波処理回路16である第1の並列共振回路の共振周波数を調整することができる。
第1の高調波処理回路16における2次高調波の反射が高まるように、共振周波数を調整することで、半導体増幅素子5の効率を高めることができる。
第2の高調波処理回路19は、図8及び図12に示すように、第3の地導体65、第4の地導体66、複数の表面電極68及びボンディングワイヤ80などを備えている。
ここで、複数の表面電極68の中の表面電極68aは、例えば、マイクロストリップ線路で実現され、第3の地導体65と対向している位置に配置されている。
また、複数の表面電極68の中の表面電極36bは、例えば、マイクロストリップ線路で実現され、第4の地導体66と対向している位置に配置されている。
このため、表面電極68aは、間隔d1及びLTCC基板8の比誘電率Erで決定される特性インピーダンスZa’を有する伝送線路の一部となる。
また、LTCC基板8の表面8cに配置されている表面電極68bと、LTCC基板8内の第2の層8bに配置されている第4の地導体66との間隔は、d2である。
このため、表面電極68bは、間隔d2及びLTCC基板8の比誘電率Erで決定される特性インピーダンスZb’を有する伝送線路の一部となる。
間隔d1>間隔d2であるため、表面電極68aは、誘導性の伝送線路の一部となり、表面電極68bは、容量性の伝送線路の一部となる。
また、図12Aに示す接続パターンCでは、4つの表面電極68bが、3つのボンディングワイヤ80によって、LTCC基板8のパッド71と電気的に接続されているので、第4の地導体66、4つの表面電極68b及び3つのボンディングワイヤ80等が、第2のキャパシタ21に対応する容量性の伝送線路となる。
しかし、これは一例に過ぎず、表面電極68aに対するボンディングワイヤ80の接続形態を変更することで、第2のインダクタ20に対応する誘導性の伝送線路のインダクタンスを調整することができる。
また、図12Aに示す接続パターンCでは、4つの表面電極68bが、3つのボンディングワイヤ80によって、LTCC基板8のパッド71と電気的に接続されている例を示している。
しかし、これは一例に過ぎず、表面電極68bに対するボンディングワイヤ80の接続形態を変更することで、第2のキャパシタ21に対応する容量性の伝送線路のキャパシタンスを調整することができる。
また、図12Bに示す接続パターンDでは、5つの表面電極68bが、4つのボンディングワイヤ80によって、LTCC基板8のパッド71と電気的に接続されているので、第4の地導体66、4つの表面電極68b及び4つのボンディングワイヤ80等が、第2のキャパシタ21に対応する容量性の伝送線路となる。
これにより、表面電極68aに対するボンディングワイヤ80の接続形態と、表面電極68bに対するボンディングワイヤ80の接続形態とを変更することで、第2の高調波処理回路19である第2の並列共振回路の共振周波数を調整することができる。
第2の高調波処理回路19における2次高調波の反射が高まるように、共振周波数を調整することで、半導体増幅素子5の効率を高めることができる。
図13の例では、2次高調波の反射位相が180度のときに、半導体増幅素子5の効率が最高になり、2次高調波の反射位相が150度のときに、半導体増幅素子5の効率が最低になることを示している。
2次高調波の反射位相が180度のときは、効率の変化量が0[pt]、2次高調波の反射位相が150度のときは、効率の変化量が−20[pt]である。
効率の変化量の単位であるptは、百分率の差分を示すポイントである。
図13では、最高効率に対応する2次高調波の反射位相が約30度変化することがある例を示している。
この実施の形態1では、2次高調波の反射位相に応じて、第1の高調波処理回路16に含まれている第1のインダクタ17におけるインダクタンス及び第1のキャパシタ18におけるキャパシタンスのそれぞれを調整することができる。このため、第1の高調波処理回路16における2次高調波の反射を高めて、半導体増幅素子5の効率を高めることができる。
これにより、第1の調整部材及び第2の調整部材によって、半導体増幅素子5の入力端子及び出力端子における高調波のインピーダンスが調整された上で、さらに、特性インピーダンスのばらつきの影響を軽減することができる。
具体的には、例えば、LTCC基板8の製造時に、LTCC基板8の基板厚にばらつきが生じることで、誘導性の伝送線路における特性インピーダンス及び容量性の伝送線路における特性インピーダンスのそれぞれにばらつきが生じても、第1のボンディングワイヤ3の長さ及び第2のボンディングワイヤ13の長さを調整することで、特性インピーダンスのばらつきの影響を軽減することができる。
上記実施の形態1では、電力増幅器が、1つの半導体増幅素子5を備えている例を示している。
この実施の形態2では、電力増幅器が、複数の半導体増幅素子5を備えている例を説明する。
図14の電力増幅器は、複数の半導体増幅素子5が並列に接続されており、複数の半導体増幅素子5がマルチセルトランジスタを構成している。例えば、複数の半導体増幅素子5は、等間隔に配置されている。
図14の例では、電力増幅器が、1つの第1の高調波処理回路16及び1つの第2の高調波処理回路19を備えているが、これに限るものではない。
例えば、各々の半導体増幅素子5のゲート端子に、第1の高調波処理回路16がそれぞれ接続され、各々の半導体増幅素子5のドレイン端子に、第2の高調波処理回路19がそれぞれ接続されていてもよい。
Claims (6)
- 高周波信号を増幅する半導体増幅素子と、
前記半導体増幅素子における高周波信号の入力端子と接続されており、前記半導体増幅素子における高周波信号の増幅動作に伴って、前記入力端子から出力された高調波を反射して、前記高調波を前記半導体増幅素子に戻す第1の高調波処理回路と、
前記半導体増幅素子における高周波信号の出力端子と接続されており、前記半導体増幅素子における高周波信号の増幅動作に伴って、前記出力端子から出力された高調波を反射して、前記出力端子から出力された高調波を前記半導体増幅素子に戻す第2の高調波処理回路とを備え、
前記第1の高調波処理回路は、前記入力端子における高調波のインピーダンスを調整するための第1の調整部材を含んでおり、
前記第2の高調波処理回路は、前記出力端子における高調波のインピーダンスを調整するための第2の調整部材を含んでいることを特徴とする電力増幅器。 - 前記第1の高調波処理回路は、
前記半導体増幅素子における高周波信号の入力端子とグランドとの間に、第1のインダクタと第1のキャパシタとが並列に接続されている第1の並列共振回路であり、
前記第1の並列共振回路は、前記第1の調整部材を含んでおり、
前記第1の調整部材は、前記第1のインダクタにおけるインダクタンス及び前記第1のキャパシタにおけるキャパシタンスのそれぞれを調整するため部材であり、
前記第2の高調波処理回路は、
前記半導体増幅素子における高周波信号の出力端子とグランドとの間に、第2のインダクタと第2のキャパシタとが並列に接続されている第2の並列共振回路であり、
前記第2の並列共振回路は、前記第2の調整部材を含んでおり、
前記第2の調整部材は、前記第2のインダクタにおけるインダクタンス及び前記第2のキャパシタにおけるキャパシタンスのそれぞれを調整するため部材であることを特徴とする請求項1記載の電力増幅器。 - 前記第1の高調波処理回路は、
基板内の第1の層に配置され、前記半導体増幅素子における高周波信号の入力端子と接続されている第1の地導体と、
前記基板内の第2の層に配置され、前記入力端子と接続されている第2の地導体と、
前記第1の調整部材として、前記基板の表面に配置されている複数の表面電極とを備え、
前記複数の表面電極の中で、前記第2の地導体と対向している表面電極が、前記第1のキャパシタに対応する容量性の伝送線路の一部となり、
前記複数の表面電極の中で、前記第2の地導体と対向している表面電極以外の表面電極が、前記第1のインダクタに対応する誘導性の伝送線路の一部となり、
ボンディングワイヤによって前記複数の表面電極の間の接続パターンを変えることで、前記第1のインダクタにおけるインダクタンス及び前記第1のキャパシタにおけるキャパシタンスのそれぞれが調整されることを特徴とする請求項2記載の電力増幅器。 - 前記第2の高調波処理回路は、
基板内の第1の層に配置され、前記半導体増幅素子における高周波信号の出力端子と接続されている第3の地導体と、
前記基板内の第2の層に配置され、前記出力端子と接続されている第4の地導体と、
前記第2の調整部材として、前記基板の表面に配置されている複数の表面電極とを備え、
前記複数の表面電極の中で、前記第4の地導体と対向している表面電極が、前記第2のキャパシタに対応する容量性の伝送線路の一部となり、
前記複数の表面電極の中で、前記第4の地導体と対向している表面電極以外の表面電極が、前記第2のインダクタに対応する誘導性の伝送線路の一部となり、
ボンディングワイヤによって前記複数の表面電極の間の接続パターンを変えることで、前記第2のインダクタにおけるインダクタンス及び前記第2のキャパシタにおけるキャパシタンスのそれぞれが調整されることを特徴とする請求項2記載の電力増幅器。 - 一端が入力整合回路と接続され、他端が前記半導体増幅素子における高周波信号の入力端子と接続されている第1のボンディングワイヤと、
一端が前記半導体増幅素子における高周波信号の出力端子と接続され、他端が出力整合回路と接続されている第2のボンディングワイヤと
を備えたことを特徴とする請求項1記載の電力増幅器。 - 前記半導体増幅素子が複数並列に接続されていることを特徴とする請求項1から請求項5のうちのいずれか1項記載の電力増幅器。
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