JPWO2016185818A1 - 半導体LSI(Large Scale Integration)のソフトエラー率計算装置および計算方法 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (6)
- 与えられた中性子エネルギー値に対応する、SEU断面積関数の外形値を出力するSEU断面積関数外形保持部と、
前記SEU断面積関数の外形値と低エネルギー中性子スペクトルデータから単位時間当たりに発生するエラー数基本値を計算するエラー数基本値計算部と、
低エネルギー中性子照射時のエラー数と低エネルギー中性子照射時間から単位時間当たりのエラー数実測値を計算するエラー数実測値計算部と、
前記単位時間当たりのエラー数基本値と前記単位時間当たりのエラー数実測値からSEU断面積関数の比例係数を計算するSEU断面積関数比例係数計算部と、
自然界中性子スペクトルを保持しエラー率計算部から送られる中性子エネルギー値に応じた中性子フラックスを出力する自然界中性子スペクトル保持部と、
前記SEU断面積外形と前記比例定数とから定まるSEU断面積関数と、前記自然界中性子スペクトルと、を掛け積分演算を実行し、自然界における前記半導体デバイスのソフトエラー率を計算するエラー率計算部を備え、
低エネルギー中性子照射結果から自然界における中性子起因ソフトエラー率を推定することを特徴とする半導体LSIのソフトエラー率計算装置。 - 請求項1において、
前記エラー数基本値計算部は、中性子照射施設名とエラー数基本値との対応を記録したルックアップテーブルを有し、
前記ルックアップテーブル内検索によりエラー数基本値を取得し出力することを特徴とする半導体LSIのソフトエラー率計算装置。 - 請求項1または2において、
前記低エネルギー中性子のエネルギーが50MeV以下であることを特徴とする半導体LSIのソフトエラー率計算装置。 - 低エネルギー中性子照射結果から自然界における中性子起因ソフトエラー率を計算装置で推定する半導体LSIのソフトエラー率計算方法であって、
与えられた中性子エネルギー値に対応する、SEU断面積関数の外形値を出力し、
前記SEU断面積関数の外形値と低エネルギー中性子スペクトルデータから単位時間当たりに発生するエラー数基本値を計算し、
低エネルギー中性子照射時のエラー数と低エネルギー中性子照射時間から単位時間当たりのエラー数実測値を計算し、
前記単位時間当たりのエラー数基本値と前記単位時間当たりのエラー数実測値からSEU断面積関数の比例係数を計算し、
自然界中性子スペクトルを保持しエラー率計算部から送られる中性子エネルギー値に応じた中性子フラックスを出力し、
前記SEU断面積外形と前記比例定数とから定まるSEU断面積関数と、前記自然界中性子スペクトルと、を掛け積分演算を実行し、自然界における前記半導体デバイスのソフトエラー率を計算することを特徴とする半導体LSIのソフトエラー率計算方法。 - 請求項4において、
中性子照射施設名とエラー数基本値との対応を記録したルックアップテーブルを用意しておき、
前記ルックアップテーブル内検索により前記エラー数基本値を取得し出力することを特徴とする半導体LSIのソフトエラー率計算方法。 - 請求項4または5において、
前記低エネルギー中性子のエネルギーが50MeV以下であることを特徴とする半導体LSIのソフトエラー率計算方法。
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