JPWO2016132627A1

JPWO2016132627A1 - 情報処理装置および情報処理方法

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Publication number: JPWO2016132627A1
Application number: JP2017500293A
Authority: JP
Inventors: 一充白井; 博之金子; 勉友清
Original assignee: Sony Semiconductor Solutions Corp
Current assignee: Sony Semiconductor Solutions Corp
Priority date: 2015-02-18
Filing date: 2015-12-03
Publication date: 2017-11-24
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Also published as: WO2016132627A1; CN107250966B; JP6667496B2; US10416794B2; EP3260963A4; US20180032155A1; CN107250966A; EP3260963A1

Abstract

【課題】入力装置が大きくなってしまうことを抑制しつつ、簡易な演算によって入力装置の傾きを検出することが可能な技術を提供する。【解決手段】入力装置との接触または近接を検出可能な第１のセンサおよび第２のセンサそれぞれの出力値またはゲインを検出データとして取得するデータ取得部と、前記第１のセンサおよび前記第２のセンサそれぞれの前記検出データの差分値に基づいて、前記入力装置の傾きを検出する傾き検出部と、を備える、情報処理装置が提供される。【選択図】図１

Description

本開示は、情報処理装置および情報処理方法に関する。

近年、スタイラスペンなどの入力装置によってタブレットにおける位置を入力する技術が知られている。ここで、入力装置の傾きを検出する技術として様々な技術が知られている。例えば、入力装置に組み込まれたセンサによって入力装置の傾きを検出する技術が存在する。また、入力装置がタブレットに接触または近接したときにタブレットに生じる誘導電圧の分布から入力装置の傾きを検出する技術が知られている（例えば、特許文献１参照）。

特開平８−２２３５６号公報

しかし、入力装置が大きくなってしまうことを抑制しつつ、簡易な演算によって入力装置の傾きを検出することが可能な技術が提供されることが望まれる。

本開示によれば、入力装置との接触または近接を検出可能な第１のセンサおよび第２のセンサそれぞれの出力値またはゲインを検出データとして取得するデータ取得部と、前記第１のセンサおよび前記第２のセンサそれぞれの前記検出データの差分値に基づいて、前記入力装置の傾きを検出する傾き検出部と、を備える、情報処理装置が提供される。

本開示によれば、入力装置との接触または近接を検出可能な第１のセンサおよび第２のセンサそれぞれの出力値またはゲインを検出データとして取得することと、プロセッサにより、前記第１のセンサおよび前記第２のセンサそれぞれの前記検出データの差分値に基づいて、前記入力装置の傾きを検出することと、を含む、情報処理方法が提供される。

以上説明したように本開示によれば、入力装置が大きくなってしまうことを抑制しつつ、簡易な演算によって入力装置の傾きを検出することが可能な技術が提供される。なお、上記の効果は必ずしも限定的なものではなく、上記の効果とともに、または上記の効果に代えて、本明細書に示されたいずれかの効果、または本明細書から把握され得る他の効果が奏されてもよい。

本開示の実施形態に係る情報処理システム１の構成例を示す図である。タブレットにおける位置を指定するペンの構成例を示す図である。情報処理装置の機能構成例を示すブロック図である。ペンの傾きの例を説明するための図である。ペンの傾きの他の例を説明するための図である。Ｘ方向およびＹ方向それぞれのセンサのゲインとペンの傾きＸＹとの関係の例を示す図であるＸ方向およびＹ方向それぞれのセンサのゲインとペンの傾きＸＹとの関係の他の例を示す図である。Ｘ方向およびＹ方向それぞれのセンサのゲインとペン３０の傾きＸＹとの関係の他の例を示す図である。Ｘ方向のセンサおよびＹ方向のセンサそれぞれのゲインの差分値に基づいてペンの傾きＸＹを検出する動作の例を示すフローチャートである。Ｘ方向のセンサおよびＹ方向のセンサそれぞれの出力値の差分値に基づいてペンの傾きＸＹを検出する動作の例を示すフローチャートである。補正前後における表示位置の軌跡の例を示す図である。キャリブレーション時において表示される初期画面の例を示す図である。表示位置の軌跡を表示させるタイミングの例を説明するための図である。補正量決定用の軌跡をなぞり終わった時点における表示位置の軌跡を示す図である。表示位置の軌跡をユーザ操作によって調整させるための画面例を示す図である。移動が終わった時点における表示位置の軌跡を示す図である。表示位置の軌跡をユーザに確認させるための画面例を示す図である。再調整画面の例を示す図である。

以下に添付図面を参照しながら、本開示の好適な実施の形態について詳細に説明する。なお、本明細書及び図面において、実質的に同一の機能構成を有する構成要素については、同一の符号を付することにより重複説明を省略する。

また、本明細書および図面において、実質的に同一の機能構成を有する複数の構成要素を、同一の符号の後に異なるアルファベットまたは数字を付して区別する場合もある。ただし、実質的に同一の機能構成を有する複数の構成要素の各々を特に区別する必要がない場合、同一符号のみを付する。

なお、説明は以下の順序で行うものとする。
１．本開示の実施形態
１．１．システム構成例
１．２．機能詳細
２．むすび

＜１．本開示の実施形態＞
［１．１．システム構成例］
まず、図面を参照しながら本開示の実施形態に係る情報処理システムの構成例について説明する。図１は、本開示の実施形態に係る情報処理システムの構成例を示す図である。図１に示したように、本開示の実施形態に係る情報処理システム１は、情報処理装置１０を備える。また、情報処理システム１は、スタイラスペンなどの入力装置（以下、単に「ペン」とも言う。）を検出するタブレット２０を備えている。

タブレット２０は、ペンによって指示される指示面２１を有している。また、タブレット２０は、指示面２１内において行列状に配置された複数のセンサコイルを有している。本実施形態においては、タブレット２０は、行方向の座標Ｘ１〜Ｘ８に対応するセンサコイルＸ１〜Ｘ８と、列方向の座標Ｙ１〜Ｙ８に対応するセンサコイルＹ１〜Ｙ８とを有している。

また、情報処理システム１は、センサコイルＸ１〜Ｘ８，Ｙ１〜Ｙ８に接続された情報処理装置１０を備えている。情報処理装置１０は、例えば、ＬＳＩ（ＬａｒｇｅＳｃａｌｅＩｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ）および所定の回路が共通の回路基板上に実装されたモジュールとして構成することができる。

図２は、タブレット２０における位置を指定するペンの構成例を示す図である。本開示の実施形態において、タブレット２０とペン３０との間における通信方式としては、電磁誘導方式が採用される。したがって、図２に示すように、ペン３０は、コイルおよびコンデンサを含む共振回路３１を有している。

［１．２．機能詳細］
図３は、情報処理装置１０の機能構成例を示すブロック図である。図３に示すように、情報処理装置１０は、信号発生部１１０、増幅部１２０、切り替え部１３０、増幅部１４０、Ａ／Ｄ変換器（ＡｎａｌｏｇｔｏＤｉｇｉｔａｌＣｏｎｖｅｒｔｅｒ）１５０、ＬＳＩとしての制御部１６０および表示部１７０を有する。制御部１６０は、データ取得部１６１、位置検出部１６２、切り替え制御部１６３、傾き検出部１６４、処理部１６５および表示制御部１６６を有している。

以下、本実施の形態に係る情報処理システム１の動作について説明する。まず、信号発生部１１０は、ペン３０の共振回路３１の共振周波数に相当する周波数の信号をタブレット２０への供給信号として発生する。信号発生部１１０により発生された信号は、増幅部１２０に入力される。増幅部１２０が、信号発生部１１０により発生された供給信号を増幅すると、増幅後の供給信号が切り替え部１３０に入力される。

切り替え部１３０は、切り替え制御部１６３から入力される切り替え信号に基づいて、センサコイルＸ１〜Ｘ８，Ｙ１〜Ｙ８を順次に一つずつ選択する。切り替え部１３０によってセンサコイルＸｋが選択されたとする。これにより、供給信号がセンサコイルＸｋに供給され、センサコイルＸｋの周囲に交番磁界が発生する。つまり、センサコイルＸｋからペン３０に向けて、共振回路３１の共振周波数に相当する周波数の送信信号が出力される。

このとき、ペン３０がセンサコイルＸ１に接触または近接していれば、電磁誘導によってペン３０の共振回路３１に電流が流れることにより、共振回路３１のコンデンサにエネルギが蓄積される。その後、センサコイルＸ１の選択状態を維持したまま、供給信号の供給を停止すると、共振回路３１のコンデンサに蓄積されたエネルギによって共振回路３１のコイルに電流が流れ、これにより、ペン３０の周囲に交番磁界が発生する。つまり、ペン３０からセンサコイルＸｋに向けて、その共振回路３１の共振周波数に相当する周波数の送信信号が出力される。

すると、電磁誘導によってセンサコイルＸｋに電流が流れることによって、センサコイルＸｋの端子間に電圧が発生する。つまり、ペン３０から送信された送信信号がセンサコイルＸｋによって受信されることによって、共振回路３１の共振周波数に相当する周波数の電圧が、センサコイルＸｋの端子間に発生する。一方、ペン３０がセンサコイルＸ１に接触または近接していなければ、センサコイルＸｋの端子間に電圧は発生しない。

センサコイルＸｋの出力値またはゲインは、切り替え部１３０から増幅部１４０に入力され、増幅部１４０によって増幅され、Ａ／Ｄ変換部１５０によって、ディジタル形式に変換されてよい。増幅された出力値またはゲインは、データ取得部１６１に入力される。そして、データ取得部１６１は、センサコイルＸｋの出力値またはゲインを取得する。このようにして、センサコイルＸ１〜Ｘ８（第１のセンサ群），Ｙ１〜Ｙ８（第２のセンサ群）それぞれの出力値またはゲインが検出データとして順次に取得される。

位置検出部１６２は、センサコイルＸ１〜Ｘ８からペン３０が接触または近接したセンサを、ペン３０によって指定された第１のセンサ（以下、単に「Ｘ方向のセンサ」とも言う。）として決定し、センサコイルＹ１〜Ｙ８からペン３０が接触または近接したセンサを、ペン３０によって指定された第２のセンサ（以下、単に「Ｙ方向のセンサ」とも言う。）として決定する。

より詳細には、位置検出部１６２は、出力値の最大値またはゲインの最大値をセンサコイルＸ１〜Ｘ８それぞれについて算出し、最大値がピークとなるセンサコイルをペン３０によって入力されたＸ方向のセンサ（Ｘ座標）として検出する。同様に、位置検出部１６２は、出力値の最大値またはゲインの最大値をセンサコイルＹ１〜Ｙ８それぞれについて算出し、最大値がピークとなるセンサコイルをペン３０によって入力されたＹ方向のセンサ（Ｙ座標）として検出する。

傾き検出部１６４は、Ｘ方向のセンサおよびＹ方向のセンサそれぞれの出力値またはゲインに基づいて、ペン３０の傾きを検出する。ここで、ペン３０の傾きの例について説明する。図４は、ペン３０の傾きの例を説明するための図である。図４に示すように、表示部１７０（指示面２１）の垂線方向をＺ軸とした場合、ペン３０の傾きには、Ｚ軸とペン３０とのなす角度も含まれ得るが、本明細書におけるペン３０の傾きには、図５に示した角度が主に含まれる。

図５は、ペン３０の傾きの他の例を説明するための図である。図５を参照すると、センサＸ１〜センサＸ８の方向がＸ軸によって示されており、センサＹ１〜センサＹ８の方向がＹ軸によって示されている。このとき、図５に示すように、ペン３０の傾きＸＹは、Ｙ軸に直交する面とペン３０とのなす角度であってよい。したがって、以下の説明においては、ペン３０の傾きとして傾きＸＹを主に利用する。なお、ペン３０の傾きＸＹは、Ｘ軸に直行する面とペン３０とのなす角度であってもよい。

Ｘ方向およびＹ方向それぞれのセンサの出力値またはゲインとペン３０の傾きＸＹとの関係について説明する。図６は、Ｘ方向およびＹ方向それぞれのセンサのゲインとペン３０の傾きＸＹとの関係の例を示す図である。図６には、ペン３０の傾きＺが「４０°」であり、ペン３０の傾きＸＹが「９０°」である場合に、Ｘ方向およびＹ方向それぞれのセンサのゲインが、表示部１７０の一例としてのＥＰＤ（ＥｌｅｃｔｒｏｐｈｏｒｅｔｉｃＤｉｓｐｌａｙ）からの高さに伴ってどのように変化するかを測定した結果が示されている。

図７は、Ｘ方向およびＹ方向それぞれのセンサのゲインとペン３０の傾きＸＹとの関係の他の例を示す図である。図７には、ペン３０の傾きＺが「４０°」であり、ペン３０の傾きＸＹが「４５°」である場合に、Ｘ方向およびＹ方向それぞれのセンサのゲインが、表示部１７０の一例としてのＥＰＤからの高さに伴ってどのように変化するかを測定した結果が示されている。

図８は、Ｘ方向およびＹ方向それぞれのセンサのゲインとペン３０の傾きＸＹとの関係の他の例を示す図である。図８には、ペン３０の傾きＺが「４０°」であり、ペン３０の傾きＸＹが「０°」である場合に、Ｘ方向およびＹ方向それぞれのセンサのゲインが、表示部１７０の一例としてのＥＰＤからの高さに伴ってどのように変化するかを測定した結果が示されている。

図６〜図８に示した各種の例から、ペン３０の傾きＸＹは、Ｘ方向のセンサおよびＹ方向のセンサそれぞれのゲインの差分値に依存していることが把握される。より具体的には、図６〜図８を参照すると、ペン３０の傾きＺが同一であれば、ペン３０の傾きＸＹが大きいほど、Ｘ方向のセンサのゲインからＹ方向のセンサのゲインを減算した値が大きくなっている。そこで、傾き検出部１６４は、Ｘ方向のセンサおよびＹ方向のセンサそれぞれの検出データの差分値に基づいて、ペン３０の傾きを検出するとよい。

かかる構成によれば、ペン３０の傾きを検出するセンサをペン３０に組み込む必要がないため、ペン３０が大きくなってしまうことを抑制することが可能である。また、かかる構成によれば、ペン３０の傾きを検出するために複雑な演算が必要とされないため、簡易な演算によってペン３０の傾きを検出することが可能である。

続いて、Ｘ方向のセンサおよびＹ方向のセンサそれぞれのゲインの差分値に基づいてペン３０の傾きＸＹを検出する動作について説明する。図９は、Ｘ方向のセンサおよびＹ方向のセンサそれぞれのゲインの差分値に基づいてペン３０の傾きＸＹを検出する動作の例を示すフローチャートである。図９に示すように、データ取得部１６１は、Ｘ方向のセンサおよびＹ方向のセンサそれぞれのゲインを取得する（Ｓ２１）。

続いて、傾き検出部１６４は、Ｘ方向のセンサおよびＹ方向のセンサのゲインの差分値Ｖｇを算出する（Ｓ２２）。傾き検出部１６４は、差分値Ｖｇの大きさが「Ｇ０＜＝Ｖｇ＜＝Ｇ１」を満たす場合には、ペン３０の傾きＸＹとして「Ｂ１」を検出し（Ｓ２４−１）、動作を終了する。一方、傾き検出部１６４は、差分値Ｖｇの大きさが「Ｇ１＜Ｖｇ＜＝Ｇ２」を満たす場合には、ペン３０の傾きＸＹとして「Ｂ２」を検出し（Ｓ２４−２）、動作を終了する。

また、傾き検出部１６４は、差分値Ｖｇの大きさが「Ｇｎ−１＜Ｖｇ＜＝Ｇｎ」を満たす場合には、ペン３０の傾きＸＹとして「Ｂｎ」を検出し（Ｓ２４−ｎ）、動作を終了する。このように、傾き検出部１６４は、Ｘ方向のセンサおよびＹ方向のセンサのゲインの差分値Ｖｇが所定の範囲内である場合に、ペン３０の傾きとして所定の範囲にあらかじめ関連付けられた所定の傾きを検出することが可能である。

なお、Ｘ方向のセンサおよびＹ方向のセンサのゲインが大きくなり過ぎると、ある程度以上のゲインの差分値が得られなくなってしまうおそれがある。そこで、傾き検出部１６４は、Ｘ方向のセンサおよびＹ方向のセンサの少なくともいずれか一方のゲインが所定の閾値を超えた場合に、ペン３０の傾きＸＹを検出してもよい。これによって、所定の閾値が適切に設定されていれば、ある程度以上のゲインの差分値が得られることが期待される。

続いて、Ｘ方向のセンサおよびＹ方向のセンサそれぞれの出力値の差分値に基づいてペン３０の傾きＸＹを検出する動作について説明する。図１０は、Ｘ方向のセンサおよびＹ方向のセンサそれぞれの出力値の差分値に基づいてペン３０の傾きＸＹを検出する動作の例を示すフローチャートである。図１０に示すように、データ取得部１６１は、Ｘ方向のセンサおよびＹ方向のセンサそれぞれの出力値を取得する（Ｓ３１）。

続いて、傾き検出部１６４は、Ｘ方向のセンサおよびＹ方向のセンサの出力値の差分値Ｖｔを算出する（Ｓ３２）。傾き検出部１６４は、差分値Ｖｔの大きさが「Ｔ０＜＝Ｖｔ＜＝Ｔ１」を満たす場合には、ペン３０の傾きＸＹとして「Ａ１」を検出し（Ｓ３４−１）、動作を終了する。一方、傾き検出部１６４は、差分値Ｖｔの大きさが「Ｔ１＜Ｖｔ＜＝Ｔ２」を満たす場合には、ペン３０の傾きＸＹとして「Ａ２」を検出し（Ｓ３４−２）、動作を終了する。

また、傾き検出部１６４は、差分値Ｖｔの大きさが「Ｔｎ−１＜Ｖｔ＜＝Ｔｎ」を満たす場合には、ペン３０の傾きＸＹとして「Ａｎ」を検出し（Ｓ３４−ｎ）、動作を終了する。このように、傾き検出部１６４は、Ｘ方向のセンサおよびＹ方向のセンサの検出データ（図１０の例においては、出力値）の差分値Ｖｔが所定の範囲内である場合に、ペン３０の傾きとして所定の範囲にあらかじめ関連付けられた所定の傾きを検出することが可能である。

なお、Ｘ方向のセンサおよびＹ方向のセンサの出力値が大きくなり過ぎると、ある程度以上のゲインの差分値が得られなくなってしまうおそれがある。そこで、傾き検出部１６４は、Ｘ方向のセンサおよびＹ方向のセンサの少なくともいずれか一方の出力値が所定の閾値を超えた場合に、ペン３０の傾きＸＹを検出してもよい。これによって、所定の閾値が適切に設定されていれば、ある程度以上のゲインの差分値が得られることが期待される。

位置検出部１６２によってＸ方向のセンサおよびＹ方向のセンサが検出されると、表示制御部１６６は、Ｘ方向のセンサおよびＹ方向のセンサの交差位置に応じた表示位置に対して表示を行うように表示部１７０を制御する。これによって、ペン３０による指定に応じた位置に表示が行われる。ここで、上記した例によって検出されたペン３０の傾きＸＹは、処理部１６５によって利用されてもよい。かかる場合、処理部１６５は、ペン３０の傾きＸＹに応じた所定の処理を実行してよい。

処理部１６５によって実行される所定の処理は特に限定されない。例えば、ユーザがペン３０によって指定したい位置と実際に位置検出部１６２によって検出される位置とにずれが生じる可能性があるが、このずれ量はペン３０の傾きＸＹに依存していることが想定される。したがって、処理部１６５は、ペン３０の傾きＸＹに応じて表示部１７０による表示位置を所定の補正量だけ補正するとよい。

図１１は、補正前後における表示位置の軌跡の例を示す図である。補正前の軌跡Ｈａは、処理部１６５による補正前の表示位置の軌跡を示している。また、補正後の軌跡Ｈｃは、処理部１６５によって所定の補正量Ｃｍだけ補正された後の表示位置の軌跡を示している。この例のように、ペン３０の傾きＸＹを利用することによって、表示部１７０による表示位置が処理部１６５によって適切に補正され得る。

なお、補正量は常に一定であってもよいし、状況に応じて変化されてもよい。例えば、処理部１６５は、傾きＸＹが所定の範囲内である場合に、所定の範囲にあらかじめ関連付けられた所定の補正量だけ表示位置を補正してもよい。このとき、表示位置を補正するための条件をさらに限定してもよい。例えば、処理部１６５は、Ｘ方向のセンサの検出データおよびＹ方向のセンサの検出データのうち少なくともいずれか一方が所定の条件を満たす場合、かつ、ペン３０の傾きＸＹが所定の範囲内である場合に、所定の補正量だけ表示位置を補正してもよい。

より具体的には、図６を参照すると、Ｙ方向のセンサのゲインが「６」より小さくなっている。したがって、処理部１６５は、Ｙ方向のセンサのゲインが「６」より小さい場合、かつ、ペン３０の傾きＸＹが所定の範囲内である場合に、所定の補正量だけ表示位置を補正してもよい。この条件が満たされない場合には、表示位置の補正は行われなくてもよい。

あるいは、図７を参照すると、Ｘ方向およびＹ方向それぞれのセンサのゲインがともに「２」より大きくなっている。したがって、処理部１６５は、Ｘ方向およびＹ方向それぞれのセンサのゲインがともに「２」より大きい場合、かつ、ペン３０の傾きＸＹが所定の範囲内である場合に、所定の補正量だけ表示位置を補正してもよい。この条件が満たされない場合には、表示位置の補正は行われなくてもよい。

上記においては、補正量は所定の範囲にあらかじめ関連付けられている例を示したが、補正量は他の手法によって取得されてもよい。例えば、処理部１６５は、ペン３０の傾きＸＹに応じて表示位置の補正量を算出してもよい。補正量を算出するためのアルゴリズムも特に限定されない。一例として、処理部１６５は、補正量がペン３０の傾きＸＹに対して線形的に変化するという関係性を有するとして、かかる関係に基づいてペン３０の傾きＸＹから補正量を算出してもよい。

さらに、ユーザによる指示位置に基づいて補正量が調整されてもよい。例えば、ユーザがペン３０を用いて、事前に（または事後的に）指示した位置に基づいて補正量が調整されてもよい。以下では、事前に指示した位置に基づいて補正量を調整する処理（以下、「キャリブレーション」とも言う。）について説明する。図１２は、キャリブレーション時において表示される初期画面の例を示す図である。図１２に示すように、表示制御部１６６は、表示部１７０に初期画面Ｇ１１を表示させることができる。

また、初期画面Ｇ１１では、表示制御部１６６は、領域Ｒ１１に補正量決定用の軌跡（図１２に示した例では、点線で描かれた二つのオブジェクト）を表示させている。ユーザは、ペン３０でこの補正量決定用の軌跡をなぞるようにして位置を指示する。ここで、表示制御部１６６は、ペン３０によって指示されたＸ方向のセンサおよびＹ方向のセンサの交差位置に応じた表示位置の軌跡を表示させてよいが、表示位置の軌跡を表示させるタイミングは限定されない。

図１３は、表示位置の軌跡を表示させるタイミングの例を説明するための図である。図１３を参照すると、領域Ｒ１２には、補正量決定用の軌跡が表示されている。そして、ペン３０がＸ方向のセンサおよびＹ方向のセンサに接触または近接されたとしても、表示位置の軌跡を表示部１７０に表示させないのがよい。領域Ｒ１３には、表示制御部１６６が、表示位置の軌跡の代わりに、補正量を測定している旨を示すオブジェクトＪ１１を表示させている。

そして、領域Ｒ１４に示すように、表示制御部１６６は、ペン３０がＸ方向のセンサおよびＹ方向のセンサに接触または近接しなくなってから表示位置の軌跡を表示部１７０に表示させ始めるとよい。このようなタイミングで表示位置の軌跡が表示されれば、ユーザの指示した位置が補正量決定用の軌跡とどの程度ずれているのかをユーザに気にさせずに済むため、より高精度に補正量を取得することが可能となる。

図１２に戻って説明を続ける。消すボタンＢ１１が指示された場合には、表示位置の軌跡が消されてよい。また、キャンセルボタンＢ１２が指示された場合には、表示画面が図示しないメニュー選択画面に遷移されてよい。図１４は、補正量決定用の軌跡をなぞり終わった時点における表示位置の軌跡を示す図である。図１４を参照すると、補正量決定用の軌跡をなぞり終わった時点における表示位置の軌跡が、画面Ｇ２１の領域Ｒ１１に表示されている。

画面Ｇ２１において次へボタンＢ１３が指示されると、表示画面が次画面に遷移されてよい。図１５は、表示位置の軌跡をユーザ操作によって調整させるための画面例を示す図である。画面Ｇ２１において次へボタンＢ１３が指示されると、表示制御部１６６は、画面Ｇ３１を表示させてよい。画面Ｇ３１には、補正量決定用の軌跡と表示位置の軌跡とを含む領域Ｒ３１が表示されている。そして、画面Ｇ３１には、表示位置の軌跡を移動させるためのオブジェクトＢ３１〜Ｂ３４が表示されている。

例えば、表示制御部１６６は、オブジェクトＢ３１〜Ｂ３４が指示されると、オブジェクトＢ３１〜Ｂ３４が示す方向に所定の量だけ表示位置の軌跡を移動させることが可能である。したがって、ユーザが補正量決定用の軌跡と表示位置の軌跡とを合わせるように表示位置の軌跡を移動させれば、処理部１６５は、表示位置の軌跡の移動を補正量として取得することが可能である。図１６は、移動が終わった時点における表示位置の軌跡を示す図である。図１６を参照すると、移動が終わった時点における表示位置の軌跡と補正量決定用の軌跡とが重なった状態で、画面Ｇ４１の領域Ｒ４１に表示されている。

なお、ここではユーザ操作によって表示位置の軌跡を移動させることによって補正量を取得する例を説明したが、補正量を取得する手法はかかる例に限定されない。例えば、処理部１６５は、補正量決定用の軌跡と表示位置の軌跡とのずれ量を測定し、測定したずれ量に基づいて補正量を決定してもよい。ここで、戻るボタンＢ１４が指示された場合には、表示画面が図示しないメニュー選択画面に遷移されてよい。また、次へボタンＢ１３が指示されると、表示画面が次画面に遷移されてよい。

図１７は、表示位置の軌跡をユーザに確認させるための画面例を示す図である。図１７に示すように、表示制御部１６６は、表示位置の軌跡をユーザに確認させるための画面Ｇ５１を表示させることが可能である。画面Ｇ５１では、表示制御部１６６は、領域Ｒ５１に補正量決定用の軌跡を表示させている。ペン３０でこの補正量決定用の軌跡をなぞるようにして位置を指示する。ここで、ペン３０による指示が行われた場合、表示制御部１６６は、補正後の表示位置の軌跡を表示させてよい。

補正後の表示位置を閲覧したユーザが、補正量の再度の調整が必要と考えた場合には、再調整ボタンＢ１５を指示する。再調整ボタンＢ１５が指示された場合には、表示画面が初期画面Ｇ１１に遷移されてよい。図１８は、再調整画面の例を示す図である。図１８に示したように、再調整画面Ｇ６１には、画面Ｇ６１には、補正量決定用の軌跡と表示位置の軌跡とを含む領域Ｒ６１が表示されている。

一方、補正後の表示位置を閲覧したユーザが、補正量の再度の調整が不要と考えた場合には、保存ボタンＢ１６を指示する。保存ボタンＢ１６が指示された場合には、補正量は、図示しない記憶部に保存されてよい。保存された補正量は、表示位置の補正に利用されてよい。また、保存ボタンＢ１６が指示された場合には、表示画面は、図示しないメニュー選択画面に遷移されてよい。

＜２．むすび＞
以上説明したように、本開示の実施形態によれば、ペン３０との接触または近接を検出可能なＸ方向のセンサおよびＹ方向のセンサそれぞれの出力値またはゲインを検出データとして取得するデータ取得部１６１と、Ｘ方向のセンサおよびＹ方向のセンサそれぞれの検出データの差分値に基づいて、ペン３０の傾きを検出する傾き検出部１６４と、を備える、情報処理装置１０が提供される。かかる構成によれば、ペン３０が大きくなってしまうことを抑制しつつ、簡易な演算によってペン３０の傾きを検出することが可能となる。

以上、添付図面を参照しながら本開示の好適な実施形態について詳細に説明したが、本開示の技術的範囲はかかる例に限定されない。本開示の技術分野における通常の知識を有する者であれば、請求の範囲に記載された技術的思想の範疇内において、各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、これらについても、当然に本開示の技術的範囲に属するものと了解される。

例えば、上記では、タブレット２０からペン３０に電力が供給される例について説明したが、ペン３０は、タブレット２０からの電力供給を受けなくてもよい。例えば、ペン３０は、内蔵のバッテリなどから供給される電力を用いて動作してもよい。

また、本明細書に記載された効果は、あくまで説明的または例示的なものであって限定的ではない。つまり、本開示に係る技術は、上記の効果とともに、または上記の効果に代えて、本明細書の記載から当業者には明らかな他の効果を奏し得る。

なお、以下のような構成も本開示の技術的範囲に属する。
（１）
入力装置との接触または近接を検出可能な第１のセンサおよび第２のセンサそれぞれの出力値またはゲインを検出データとして取得するデータ取得部と、
前記第１のセンサおよび前記第２のセンサそれぞれの前記検出データの差分値に基づいて、前記入力装置の傾きを検出する傾き検出部と、
を備える、情報処理装置。
（２）
前記傾き検出部は、前記差分値が所定の範囲内である場合に、前記入力装置の傾きとして前記所定の範囲にあらかじめ関連付けられた所定の傾きを検出する、
前記（１）に記載の情報処理装置。
（３）
前記情報処理装置は、第１のセンサ群から前記入力装置が接触または近接したセンサを前記第１のセンサとして決定し、第２のセンサ群から前記入力装置が接触または近接したセンサを前記第２のセンサとして決定する位置検出部を備える、
前記（１）または（２）に記載の情報処理装置。
（４）
前記情報処理装置は、前記第１のセンサおよび前記第２のセンサの交差位置に応じた表示位置に対して表示を行うように表示部を制御する表示制御部を備える、
前記（１）〜（３）のいずれか一項に記載の情報処理装置。
（５）
前記情報処理装置は、前記傾きに応じた所定の処理を実行する処理部を備える、
前記（４）に記載の情報処理装置。
（６）
前記処理部は、前記傾きに応じて前記表示位置を所定の補正量だけ補正する、
前記（５）に記載の情報処理装置。
（７）
前記処理部は、前記傾きが所定の範囲内である場合に、前記所定の範囲にあらかじめ関連付けられた前記所定の補正量だけ前記表示位置を補正する、
前記（６）に記載の情報処理装置。
（８）
前記処理部は、前記第１のセンサの前記検出データおよび前記第２のセンサの前記検出データのうち少なくともいずれか一方が所定の条件を満たす場合、かつ、前記傾きが所定の範囲内である場合に、前記所定の補正量だけ前記表示位置を補正する、
前記（７）に記載の情報処理装置。
（９）
前記処理部は、前記傾きに応じて前記表示位置の補正量を算出する、
前記（６）に記載の情報処理装置。
（１０）
前記表示制御部は、前記表示部に補正量決定用の軌跡を表示させ、
前記処理部は、前記第１のセンサおよび前記第２のセンサの交差位置に応じた表示位置の軌跡と前記補正量決定用の軌跡とのずれ量をあらかじめ測定し、前記ずれ量に基づいて前記補正量を決定する、
前記（６）〜（８）のいずれか一項に記載の情報処理装置。
（１１）
前記表示制御部は、前記入力装置が前記第１のセンサおよび前記第２のセンサに接触または近接しなくなってから前記交差位置に応じた表示位置の軌跡を前記表示部に表示させ始める、
前記（４）〜（１０）のいずれか一項に記載の情報処理装置。
（１２）
前記傾き検出部は、前記第１のセンサおよび前記第２のセンサの少なくともいずれか一方の前記検出データが所定の閾値を超えた場合に、前記傾きを検出する、
前記（１）〜（１１）のいずれか一項に記載の情報処理装置。
（１３）
前記傾きは、前記第１のセンサの方向または前記第２のセンサの方向に直交する面と前記入力装置とのなす角度である、
前記（１）〜（１２）のいずれか一項に記載の情報処理装置。
（１４）
前記位置検出部は、前記入力装置が備える共振回路の共振周波数と同一周波数の供給信号が供給された結果として得られる出力値の最大値またはゲインの最大値を前記第１のセンサ群のセンサごとに算出し、前記最大値がピークとなるセンサを前記第１のセンサとして決定する、
前記（３）に記載の情報処理装置。
（１５）
前記位置検出部は、前記供給信号が供給された結果として得られる出力値の最大値またはゲインの最大値を前記第２のセンサ群ごとに算出し、前記最大値がピークとなるセンサを前記第２のセンサとして決定する、
前記（１４）に記載の情報処理装置。
（１６）
入力装置との接触または近接を検出可能な第１のセンサおよび第２のセンサそれぞれの出力値またはゲインを検出データとして取得することと、
プロセッサにより、前記第１のセンサおよび前記第２のセンサそれぞれの前記検出データの差分値に基づいて、前記入力装置の傾きを検出することと、
を含む、情報処理方法。

１情報処理システム
１０情報処理装置
２０タブレット
２１指示面
３０ペン
３１共振回路
１１０信号発生部
１２０増幅部
１３０切り替え部
１４０増幅部
１５０Ａ／Ｄ変換部
１６０制御部
１６１データ取得部
１６２位置検出部
１６３切り替え制御部
１６４検出部
１６５処理部
１６６表示制御部
１７０表示部

Claims

入力装置との接触または近接を検出可能な第１のセンサおよび第２のセンサそれぞれの出力値またはゲインを検出データとして取得するデータ取得部と、
前記第１のセンサおよび前記第２のセンサそれぞれの前記検出データの差分値に基づいて、前記入力装置の傾きを検出する傾き検出部と、
を備える、情報処理装置。
前記傾き検出部は、前記差分値が所定の範囲内である場合に、前記入力装置の傾きとして前記所定の範囲にあらかじめ関連付けられた所定の傾きを検出する、
請求項１に記載の情報処理装置。
前記情報処理装置は、第１のセンサ群から前記入力装置が接触または近接したセンサを前記第１のセンサとして決定し、第２のセンサ群から前記入力装置が接触または近接したセンサを前記第２のセンサとして決定する位置検出部を備える、
請求項１に記載の情報処理装置。
前記情報処理装置は、前記第１のセンサおよび前記第２のセンサの交差位置に応じた表示位置に対して表示を行うように表示部を制御する表示制御部を備える、
請求項１に記載の情報処理装置。
前記情報処理装置は、前記傾きに応じた所定の処理を実行する処理部を備える、
請求項４に記載の情報処理装置。
前記処理部は、前記傾きに応じて前記表示位置を所定の補正量だけ補正する、
請求項５に記載の情報処理装置。
前記処理部は、前記傾きが所定の範囲内である場合に、前記所定の範囲にあらかじめ関連付けられた前記所定の補正量だけ前記表示位置を補正する、
請求項６に記載の情報処理装置。
前記処理部は、前記第１のセンサの前記検出データおよび前記第２のセンサの前記検出データのうち少なくともいずれか一方が所定の条件を満たす場合、かつ、前記傾きが所定の範囲内である場合に、前記所定の補正量だけ前記表示位置を補正する、
請求項７に記載の情報処理装置。
前記処理部は、前記傾きに応じて前記表示位置の補正量を算出する、
請求項６に記載の情報処理装置。
前記表示制御部は、前記表示部に補正量決定用の軌跡を表示させ、
前記処理部は、前記第１のセンサおよび前記第２のセンサの交差位置に応じた表示位置の軌跡と前記補正量決定用の軌跡とのずれ量をあらかじめ測定し、前記ずれ量に基づいて前記補正量を決定する、
請求項６に記載の情報処理装置。
前記表示制御部は、前記入力装置が前記第１のセンサおよび前記第２のセンサに接触または近接しなくなってから前記交差位置に応じた表示位置の軌跡を前記表示部に表示させ始める、
請求項４に記載の情報処理装置。
前記傾き検出部は、前記第１のセンサおよび前記第２のセンサの少なくともいずれか一方の前記検出データが所定の閾値を超えた場合に、前記傾きを検出する、
請求項１に記載の情報処理装置。
前記傾きは、前記第１のセンサの方向または前記第２のセンサの方向に直交する面と前記入力装置とのなす角度である、
請求項１に記載の情報処理装置。
前記位置検出部は、前記入力装置が備える共振回路の共振周波数と同一周波数の供給信号が供給された結果として得られる出力値の最大値またはゲインの最大値を前記第１のセンサ群のセンサごとに算出し、前記最大値がピークとなるセンサを前記第１のセンサとして決定する、
請求項３に記載の情報処理装置。
前記位置検出部は、前記供給信号が供給された結果として得られる出力値の最大値またはゲインの最大値を前記第２のセンサ群ごとに算出し、前記最大値がピークとなるセンサを前記第２のセンサとして決定する、
請求項１４に記載の情報処理装置。
入力装置との接触または近接を検出可能な第１のセンサおよび第２のセンサそれぞれの出力値またはゲインを検出データとして取得することと、
プロセッサにより、前記第１のセンサおよび前記第２のセンサそれぞれの前記検出データの差分値に基づいて、前記入力装置の傾きを検出することと、
を含む、情報処理方法。