JPWO2016002468A1 - ガス濃度測定装置 - Google Patents
ガス濃度測定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JPWO2016002468A1 JPWO2016002468A1 JP2016531227A JP2016531227A JPWO2016002468A1 JP WO2016002468 A1 JPWO2016002468 A1 JP WO2016002468A1 JP 2016531227 A JP2016531227 A JP 2016531227A JP 2016531227 A JP2016531227 A JP 2016531227A JP WO2016002468 A1 JPWO2016002468 A1 JP WO2016002468A1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- rotation
- gas concentration
- waveguide
- concentration measuring
- band
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 55
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 28
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 24
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 claims description 9
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 6
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 claims description 3
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 90
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 24
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 24
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 10
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 9
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 7
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 5
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 5
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 5
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000013461 design Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 4
- 229920005989 resin Polymers 0.000 description 4
- 239000011347 resin Substances 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 239000000463 material Substances 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 229920000122 acrylonitrile butadiene styrene Polymers 0.000 description 2
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 2
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 description 2
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 2
- UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N Carbon monoxide Chemical compound [O+]#[C-] UGFAIRIUMAVXCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XECAHXYUAAWDEL-UHFFFAOYSA-N acrylonitrile butadiene styrene Chemical compound C=CC=C.C=CC#N.C=CC1=CC=CC=C1 XECAHXYUAAWDEL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000004676 acrylonitrile butadiene styrene Substances 0.000 description 1
- 229910002091 carbon monoxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 1
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001746 injection moulding Methods 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000012788 optical film Substances 0.000 description 1
- 239000012466 permeate Substances 0.000 description 1
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 1
- 229920005668 polycarbonate resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004431 polycarbonate resin Substances 0.000 description 1
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3504—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/59—Transmissivity
- G01N21/61—Non-dispersive gas analysers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N33/00—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
- G01N33/0004—Gaseous mixtures, e.g. polluted air
- G01N33/0009—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment
- G01N33/0027—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment concerning the detector
- G01N33/0036—General constructional details of gas analysers, e.g. portable test equipment concerning the detector specially adapted to detect a particular component
- G01N33/004—CO or CO2
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2201/00—Features of devices classified in G01N21/00
- G01N2201/06—Illumination; Optics
- G01N2201/068—Optics, miscellaneous
- G01N2201/0686—Cold filter; IR filter
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Food Science & Technology (AREA)
- Medicinal Chemistry (AREA)
- Combustion & Propulsion (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
Description
図1は、実施の形態1に係るガス濃度測定装置の上面図である。図2および図3は、図1に示すII−II線に沿った断面図であり、回転保持部材の第1状態および第2状態を示す図である。図1から図3を参照して、本実施の形態に係るガス濃度測定装置について説明する。
図12は、第1変形例における導波路形成部材を進行する赤外線を示す図である。図12を参照して、第1変形例におけるガス濃度測定装置100Aについて説明する。
図13は、第2変形例における導波路形成部材を進行する赤外線を示す図である。図13を参照して、第2変形例におけるガス濃度測定装置100Bについて説明する。
図14は、第3変形例における導波路形成部材を進行する赤外線を示す図である。図14を参照して、第3変形例におけるガス濃度測定装置100Cについて説明する。
Claims (9)
- 赤外線を出射する光源と前記赤外線を受光する受光部を有する検出器との間の試料ガスの吸光度に応じてガス濃度を測定するガス濃度測定装置であって、
筒状の内周面形状を有する導波部、前記導波部の一方側に形成され前記光源からの前記赤外線を導入する入口部、および、前記導波部の他方側に形成され前記導波部を通過した前記赤外線を前記検出器側に向けて導出する出口部を含む導波路形成部材と、
前記導波路形成部材の軸線方向と交差する回転軸まわりに回転可能に設けられた回転部材と、
前記回転部材に設けられ、互いに交差する一対の面上に位置するように配置された第1バンドパスフィルタおよび第2バンドパスフィルタと、
前記回転部材を前記回転軸まわりに回転させる回転駆動部と、を備え、
前記回転部材は、前記回転駆動部によって回転されることにより、前記出口部から導出された前記赤外線を前記検出器に向けて透過させるための透過位置に前記第1バンドパスフィルタおよび前記第2バンドパスフィルタを選択的に配置し、
前記回転部材、前記第1バンドパスフィルタおよび前記第2バンドパスフィルタのうちの前記回転軸まわりの回転半径が最大となる部分を最大半径部とし、前記回転軸に沿って見た場合に、前記最大半径部を前記回転軸まわりに仮想的に回転させたときに描かれる回転軌跡を基準円とすると、前記出口部は、前記基準円内に位置する、ガス濃度測定装置。 - 前記透過位置に前記第1バンドパスフィルタが配置された状態を形成している前記回転部材のうちの前記検出器から最も離れて位置する端部を遠端部とした場合に、前記出口部は、前記遠端部よりも前記検出器側に位置する、請求項1に記載のガス濃度測定装置。
- 前記導波部の内周面の一部または全部には、前記入口部から前記出口部に向かうにつれて断面積が小さくなる先細領域が設けられており、
前記導波路形成部材は、前記入口部から前記導波部に進入した前記赤外線を前記先細領域に反射させることにより、前記透過位置に配置された前記第1バンドパスフィルタまたは前記第2バンドパスフィルタに対して斜め方向に入射する前記赤外線のエネルギーを減衰させる、請求項1または2に記載のガス濃度測定装置。 - 前記回転部材の周囲を囲むように配置された囲い部材をさらに備え、
前記囲い部材は、
前記回転部材の回転動作を許容する回転許容空間を内側に規定する周壁部と、
前記周壁部の一部を貫通するように設けられ、前記第1バンドパスフィルタまたは前記第2バンドパスフィルタを透過した前記赤外線を前記検出器に向けて導く貫通孔と、を含む、請求項1から3のいずれか1項に記載のガス濃度測定装置。 - 前記囲い部材は、前記回転軸を通すための穴部を有し、
前記回転部材は、前記穴部に対向する対向壁部を含む、請求項4に記載のガス濃度測定装置。 - 前記囲い部材は、互いに別部材として構成された第1囲い部材と第2囲い部材とを含み、
前記第1囲い部材は、前記検出器の側に位置する前記回転許容空間を規定し、
前記第2囲い部材は、前記光源の側に位置する前記回転許容空間を規定し、
前記貫通孔は、前記第1囲い部材に設けられており、
前記導波路形成部材は、前記第2囲い部材に設けられている、請求項4または5に記載のガス濃度測定装置。 - 前記回転部材は、前記第1囲い部材と前記第2囲い部材との接合界面に対向するように設けられている他の対向壁部を含む、請求項6に記載のガス濃度測定装置。
- 前記検出器は、前記囲い部材の前記貫通孔から導出された前記赤外線を前記受光部に導くための開口部を有し、
前記貫通孔の軸線方向に沿って前記貫通孔を前記検出器に向かって投影した場合に、前記貫通孔の投影像は前記開口部に重ならない位置関係を有する、請求項4から7のいずれか1項に記載のガス濃度測定装置。 - 筐体をさらに備え、
前記筐体は、前記回転部材が内部に配置された試料セルと、前記回転駆動部とを内部に有する、請求項1から8のいずれか1項に記載のガス濃度測定装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2014137788 | 2014-07-03 | ||
JP2014137788 | 2014-07-03 | ||
PCT/JP2015/066874 WO2016002468A1 (ja) | 2014-07-03 | 2015-06-11 | ガス濃度測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2016002468A1 true JPWO2016002468A1 (ja) | 2017-04-27 |
JP6187696B2 JP6187696B2 (ja) | 2017-08-30 |
Family
ID=55019017
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2016531227A Active JP6187696B2 (ja) | 2014-07-03 | 2015-06-11 | ガス濃度測定装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9915604B2 (ja) |
EP (1) | EP3165906B1 (ja) |
JP (1) | JP6187696B2 (ja) |
WO (1) | WO2016002468A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10161859B2 (en) | 2016-10-27 | 2018-12-25 | Honeywell International Inc. | Planar reflective ring |
US11662307B2 (en) | 2021-03-29 | 2023-05-30 | Asahi Kasei Microdevices Corporation | Optical concentration measuring device, module for optical concentration measuring device and optical concentration measuring method |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007501404A (ja) * | 2003-05-13 | 2007-01-25 | ハイマン・センサー・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング | 最適化された表面を活用する赤外線センサー |
US20120097852A1 (en) * | 2010-10-25 | 2012-04-26 | Kurt Peter Weckstrom | Gas analyzer for measuring at least two components of a gas |
JP2013515963A (ja) * | 2009-12-29 | 2013-05-09 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 治療上の設定に用いられる短縮された光経路のマイクロ分光計を持つガス測定モジュール |
WO2014033465A1 (en) * | 2012-08-30 | 2014-03-06 | Iti Scotland - Scottish Enterprise | Long wavelength infrared detection and imaging with long wavelength infrared source |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3735127A (en) * | 1971-09-15 | 1973-05-22 | Barnes Eng Co | Infrared two gas analyzer |
US3832548A (en) * | 1972-10-18 | 1974-08-27 | Oceanetics Inc | Gas detector unit |
US4084909A (en) * | 1976-07-19 | 1978-04-18 | International Business Machines Corporation | Drum monochromator |
JPH05203573A (ja) | 1992-01-28 | 1993-08-10 | Tsukasa Sotsuken:Kk | 赤外線ガス分析計 |
FI934871A0 (fi) * | 1993-11-03 | 1993-11-03 | Instrumentarium Oy | Foerfarande och anordning foer kompensering av vaermekrypningen hos en gasanalysator |
US5739535A (en) * | 1995-10-25 | 1998-04-14 | Dragerwerk Aktiengesellschaft | Optical gas analyzer |
SE519902C2 (sv) * | 1996-11-06 | 2003-04-22 | Servotek Ab | Sätt och apparat för att indirekt bestämma koncentrationen av ett förutbestämt ämne i blodet |
CA2732978C (en) * | 2008-07-30 | 2017-06-13 | Pason Systems Corp. | Methods and systems for chemical composition measurement and monitoring using a rotating filter spectrometer |
US8896839B2 (en) * | 2008-07-30 | 2014-11-25 | Pason Systems Corp. | Multiplex tunable filter spectrometer |
JP5048795B2 (ja) * | 2010-01-21 | 2012-10-17 | 浜松ホトニクス株式会社 | 分光装置 |
-
2015
- 2015-06-11 EP EP15815411.2A patent/EP3165906B1/en active Active
- 2015-06-11 JP JP2016531227A patent/JP6187696B2/ja active Active
- 2015-06-11 WO PCT/JP2015/066874 patent/WO2016002468A1/ja active Application Filing
-
2016
- 2016-12-19 US US15/382,772 patent/US9915604B2/en active Active
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007501404A (ja) * | 2003-05-13 | 2007-01-25 | ハイマン・センサー・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング | 最適化された表面を活用する赤外線センサー |
JP2013515963A (ja) * | 2009-12-29 | 2013-05-09 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 治療上の設定に用いられる短縮された光経路のマイクロ分光計を持つガス測定モジュール |
US20120097852A1 (en) * | 2010-10-25 | 2012-04-26 | Kurt Peter Weckstrom | Gas analyzer for measuring at least two components of a gas |
WO2014033465A1 (en) * | 2012-08-30 | 2014-03-06 | Iti Scotland - Scottish Enterprise | Long wavelength infrared detection and imaging with long wavelength infrared source |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP3165906A4 (en) | 2018-01-17 |
US9915604B2 (en) | 2018-03-13 |
EP3165906A1 (en) | 2017-05-10 |
EP3165906B1 (en) | 2019-10-09 |
US20170102324A1 (en) | 2017-04-13 |
JP6187696B2 (ja) | 2017-08-30 |
WO2016002468A1 (ja) | 2016-01-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
TWI513974B (zh) | 檢測器 | |
US7488942B2 (en) | Gas sensors | |
JP4879005B2 (ja) | 赤外線式ガス検知器 | |
KR101108495B1 (ko) | 적외선 가스 센서 | |
JP6187696B2 (ja) | ガス濃度測定装置 | |
US20060086903A1 (en) | Gas sensors | |
JP2020510223A (ja) | センサ及び装置 | |
US5428222A (en) | Spectral analyzer with new high efficiency collection optics and method of using same | |
US6410918B1 (en) | Diffusion-type NDIR gas analyzer with improved response time due to convection flow | |
EP0227062B1 (en) | Analyzer | |
JP2004294214A (ja) | ガス検出装置 | |
JP6245366B2 (ja) | ガス濃度測定装置 | |
JP2018084523A (ja) | ガス濃度測定装置 | |
TW201812278A (zh) | 液體濃度的檢測裝置 | |
USRE36489E (en) | Spectral analyzer with new high efficiency collection optics and method of using same | |
US10114154B2 (en) | Optical head for receiving light and optical system using the same | |
KR100871909B1 (ko) | 선택적 검출기 모듈을 구비한 적외선 가스 검출장치 | |
JP6278114B2 (ja) | ガス濃度測定装置 | |
KR102392870B1 (ko) | 광 경로 조절이 가능한 가스센서용 광 공동 및 이 광 공동을 갖는 가스센서 | |
WO2021131574A1 (ja) | 赤外線検出器及びガス分析計 | |
CN207882143U (zh) | 一种基于抛物面结构的气体光谱测试装置 | |
JP7571054B2 (ja) | 赤外線検出器及びガス分析計 | |
CN108226071B (zh) | 一种基于抛物面结构的气体光谱测试装置 | |
CN110361352A (zh) | 具有双通道的气体浓度检测装置、检测方法及报警装置 | |
JPH0736051U (ja) | ガス分析計 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20161220 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20161220 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20170704 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20170717 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 6187696 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |