JPWO2014033896A1 - 電磁波可視化装置 - Google Patents
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Abstract
複数存在する電磁ノイズの発生源を遠方界、近傍界の双方においてリアルタイムに可視化することのできる電磁波可視化装置を提供する。電磁波を検知し、該検知した電磁波のエネルギーの大きさに応じた強さの検知信号を出力するセンサと、前記センサに接続された可変抵抗と、前記センサに接続された前記可変抵抗の抵抗値を調整する抵抗調整部と、を有し、前記調整部で前記可変抵抗の抵抗値を調整して電磁波可視化計測を行うことを特徴とする電磁波可視化装置。
Description
本発明は、電磁波可視化装置に関するものである。
社会インフラを支えるさまざまな電子装置は、高機能化に伴い高速化し、これらの機器から放射される電磁ノイズは、今後さらに増加する無線通信機器に対して電磁干渉を起こさないよう設計される必要がある。電磁干渉問題が発生した際には、現場での迅速なサーベイが必要であり、これらの電磁ノイズの発生源をリアルタイムに可視化する装置が求められている。
電磁波の可視化技術として、特許文献1(特開2011−53055号公報)及び特許文献2(特開2000−214198号公報)がある。特許文献1には、「直交するX軸及びY軸上に配置した2対の4つのアンテナ、或いは1つのアンテナを共用した3つのアンテナと、測定対象領域の風景を写す画像カメラと、アンテナ信号を検出する検出部と、信号処理及び解析部と、表示部とを有する。信号処理及び解析部は、X軸及びY軸上に配置したアンテナ対に到達する電磁波のそれぞれの時間差Δtx、Δtyを測定して、この各Δtx、Δtyの値により、測定対象領域の範囲を分割した分割領域を特定する。表示部は、特定された分割領域を、画像カメラが写した風景に重畳して表示する。」と記載されている。
また、特許文献2には、「磁界プローブ4を被測定対象の近傍で移動させるための移動部19と、磁界検出部6と、磁界プローブ4の指向性が最大の方向を検出すべき磁界の方向に向けるための校正をおこなう校正部とを有する。校正部は、磁界プローブの向きを変化させるプローブ変位部27と、校正用磁界発生部5と、プローブ変位部の動作を制御する制御部7とを備える。制御部7は、プローブ変位部27を動作させて校正用磁界内で磁界プローブ4の向きを変化させ、そのときの前記磁界検出部6の出力から磁界プローブ4の指向性の向きを検出する。」と記載されている。
電磁波の可視化技術として、特許文献1(特開2011−53055号公報)及び特許文献2(特開2000−214198号公報)がある。特許文献1には、「直交するX軸及びY軸上に配置した2対の4つのアンテナ、或いは1つのアンテナを共用した3つのアンテナと、測定対象領域の風景を写す画像カメラと、アンテナ信号を検出する検出部と、信号処理及び解析部と、表示部とを有する。信号処理及び解析部は、X軸及びY軸上に配置したアンテナ対に到達する電磁波のそれぞれの時間差Δtx、Δtyを測定して、この各Δtx、Δtyの値により、測定対象領域の範囲を分割した分割領域を特定する。表示部は、特定された分割領域を、画像カメラが写した風景に重畳して表示する。」と記載されている。
また、特許文献2には、「磁界プローブ4を被測定対象の近傍で移動させるための移動部19と、磁界検出部6と、磁界プローブ4の指向性が最大の方向を検出すべき磁界の方向に向けるための校正をおこなう校正部とを有する。校正部は、磁界プローブの向きを変化させるプローブ変位部27と、校正用磁界発生部5と、プローブ変位部の動作を制御する制御部7とを備える。制御部7は、プローブ変位部27を動作させて校正用磁界内で磁界プローブ4の向きを変化させ、そのときの前記磁界検出部6の出力から磁界プローブ4の指向性の向きを検出する。」と記載されている。
特許文献1に記載の技術では、アンテナ対の電磁波の到来時間差を用いて到来方向を算出するために、波源が複数あった場合には正しい時間差を検出できず到来方向を特定できない可能性がある。また、特許文献2に記載の技術では、測定対象の表面をセンサで走査するため、装置のどの部位から電磁ノイズが放射しているのかを捉えやすい。一方で、走査するために電磁ノイズのリアルタイム性は失われ、バースト的に放射される電磁ノイズは捉えにくいという問題がある。
上述したように、特許文献1〜2の技術では、複数ある電磁ノイズの発生源をリアルタイムに可視化することが困難である。
上述したように、特許文献1〜2の技術では、複数ある電磁ノイズの発生源をリアルタイムに可視化することが困難である。
また、実際の電磁ノイズ測定においては、ノイズを放射している物体を遠方電磁界測定装置により特定した後に、さらにその物体のどの部分に電磁放射の原因があるのかを特定するため近傍電磁界測定装置を用いて詳細に電磁界を測定することが多い。しかし、特に大型の装置は近傍電磁界測定装置に設置できず、また大型装置の一部のみ取り出して近傍電磁界装置で分析しても、装置の実際の動作環境とは異なるため動作環境におけるノイズ源を特定することができない。
そこで、本発明では、複数存在する電磁ノイズの発生源を遠方界、近傍界の双方において装置の動作環境においてリアルタイムに可視化することのできる電磁波可視化装置を提供する。
そこで、本発明では、複数存在する電磁ノイズの発生源を遠方界、近傍界の双方において装置の動作環境においてリアルタイムに可視化することのできる電磁波可視化装置を提供する。
本発明の代表的な第1の構成は、次のとおりである。すなわち、電磁波可視化装置であって、電磁波を検知し、該検知した電磁波のエネルギーの大きさに応じた強さの検知信号を出力するセンサと、前記センサに接続された可変抵抗と、前記センサに接続された前記可変抵抗の抵抗値を調整する抵抗調整部と、を有し、前記調整部で前記可変抵抗の抵抗値を調整して電磁波可視化計測を行うことを特徴とする。
本発明によれば、リアルタイムに遠方・近傍の双方の電磁波の発生源を可視化することが可能である。
本発明の実施形態における電磁波可視化装置の構成について、図1から図6を用いて説明する。図1は、本実施形態に係る電磁波可視化装置の構成図である。図2は、本実施形態に係る電磁波可視化装置による遠方界の測定例を示す図である。図3は、本実施形態に係る電磁波可視化装置による近傍界の測定例を示す図である。
図1に示すように、本実施形態では、電磁波可視化装置は、電磁波の到来方向(入射方向)に応じて電磁波の射出方向を分離する分離機能を有するレンズ1と、電磁波のエネルギーによって電圧を誘起する複数のセンサを配置したセンサ部2と、測定対象の画像を撮影し該撮影した画像の画像信号を出力する撮像部であるカメラ部4と、センサ部2やカメラ部4からの信号を処理する信号処理部とその処理結果等を表示する表示部を有する信号処理/結果表示部5と、電磁界の電界・磁界をそれぞれ測定するアンテナ部7と、アンテナで得られた電界及び磁界の値から波動インピーダンスを算出する波動インピーダンス計算部8と、得られた波動インピーダンスからセンサの抵抗値を調整する抵抗調整部3を備える。
センサ部2の各々のセンサは信号処理/結果表示部5と、それぞれ伝送線路201aにより信号接続されている。カメラ部4は、信号処理/結果表示部5と、伝送線路401aにより信号接続されている。またアンテナ部7と波動インピーダンス計算部8は伝送線路701a、波動インピーダンス計算部8と抵抗調整部3は伝送線路801a、抵抗調整部3とセンサ部2は伝送線路301aで信号接続されている。
レンズ1は、レンズに入射する電磁波を収束させるとともに、入射する電磁波の到来方向に応じて、レンズから射出する電磁波の射出方向や射出位置を変え、複数の電磁波の到来方向に対してはそれぞれ異なる位置に収束させる、つまり焦点を結ぶようにするものである。センサ部2は、レンズ1から射出された電磁波のエネルギーを感知して該感知したエネルギーの大きさに応じた強さの検知信号を出力するセンサを複数配置している。したがって、レンズに入射する電磁波の収束位置(焦点)に対応する位置にあるセンサが検知信号を出力するようになっている。すなわち、レンズに入射する電磁波の収束位置に応じて、検知信号を出力するセンサが異なるものである。
ここで、本発明のセンサ部2の各センサによる電磁波計測原理について説明する。図4は、波動インピーダンスを示す図である。波動インピーダンスは電磁波の電界Eと磁界Hの比であり、測定対象6からセンサ部2までの距離と、測定対象6の電磁波の波長の比が1/2π以上であればどのような波源であっても波動インピーダンスは約377Ωとなる。
測定対象6とセンサ部2の距離がこれよりも短い場合には、測定対象の波源の形状によって波動インピーダンスが異なる。センサ部2の抵抗値と波動インピーダンスが異なるとセンサ面で反射がおこり電磁波の測定が困難になる。このため、センサ部2の抵抗値は波動インピーダンスに合わせる必要がある。この抵抗が電磁波の波動インピーダンスと同値であれば、電磁波はセンサ部2で反射されずに吸収される。
上記の抵抗値と波動インピーダンスの値を合わせるための構成として、本発明では各センサ間に可変抵抗31を設けている。アンテナ部7で測定した値より波動インピーダンスを算出し、この算出した結果より得られた波動インピーダンスの値と同値となるように可変抵抗31を調整する。これにより、センサ部2の抵抗値と波動インピーダンスが異なることによるセンサ面で電磁波の反射を抑制し、高精度な電磁波計測をリアルタイムで行うことが可能となる。
次にセンサ部2、アンテナ部7の構成について、図5と図6を用いて詳細に説明する。図5は、センサ部2およびアンテナ部7を設けたシート状の低反射電磁界センサの俯瞰図である。図6は、図5の低反射電磁界シートの断面図である。
本実施例の低反射電磁界センサは、例えばマッシュルーム状の金属の周期構造で実現される。マッシュルーム状の金属の周期構造は、低反射を実現する電気的な容量、インダクタンスをマッシュルームの寸法により制御できるため広く用いられている。
図5に示すように、板状の誘電体20の表面である第1層に、金属パッチ21が周期状に配置されている。詳しくは、複数の金属パッチ21が行方向(横方向)と列方向(縦方向)に、碁盤の目状に配置されている。各金属パッチ21は、可変抵抗31により接続されている。そして、各金属パッチ21の中央には、それぞれ、後述するビア22が設けられている。
図5に示すように、板状の誘電体20の表面である第1層に、金属パッチ21が周期状に配置されている。詳しくは、複数の金属パッチ21が行方向(横方向)と列方向(縦方向)に、碁盤の目状に配置されている。各金属パッチ21は、可変抵抗31により接続されている。そして、各金属パッチ21の中央には、それぞれ、後述するビア22が設けられている。
各金属パッチ21は、測定する電磁波の波長λに対して十分小さい大きさであり、金属パッチ21の1辺の長さは、(1/10)λ以下である。例えば、測定する電磁波の周波数が2.4GHzの場合は、金属パッチ21の1辺の長さは12.5mm以下とする。金属パッチ21は、本実施例では正方形の金属板であるが、正方形に限られるものではない。
金属パッチ21と同じ面において、微小ループアンテナ71は磁界を、微小ダイポールアンテナ72は電界を測定するものである。この磁界と電界の比が、金属パッチ21の面における波動インピーダンスである。本実施例においては、アンテナ位置は微小ループアンテナ71と微小ダイポールアンテナを隣り合わせにおいているが、求める波動インピーダンスによって値を変更する可変抵抗の範囲内において、双方のアンテナ間隔はできるだけ近い位置で、かつ、干渉が少ない位置が望ましく、二つの条件が満たされるのであればアンテナの配置はいずれの場所であっても良い。
また、本実施例では、微小ループアンテナ71及び、微小ダイポールアンテナ72の2つのアンテナを用いているが、これに限らず、磁界及び電界の双方を測定可能なアンテナであれば1つであってもよい。
図6に示すように、誘電体20の裏面近くに、第1層と対向する第2層として導体であるグランド24が、誘電体20の面と略同じ大きさの面として設けられている。グランド24は、誘電体20を挟んで導体であるビア22により、各金属パッチ21と接続されている。誘電体20の裏面には、電圧センサ27が可変抵抗31と1対1で対応するように設けられている。可変抵抗31の両端部には、電圧センサ27と接続するための導体である電圧センサ用ビア26が設けられ、誘電体20とグランド24を貫通して、電圧センサ27に接続されている。グランド24には、電圧センサ用ビア26を通す穴が設けられており、グランド24と電圧センサ用ビア26は電気的に導通しないようになっている。
電圧センサ27は、電圧センサ用ビア26を介して、可変抵抗31の両端に誘起する電圧を検出する。電圧センサ27は、例えば、増幅器やAD変換器や電圧測定器等により構成される。電磁波が、低反射電磁界シートを構成する金属パッチ21のいずれかに照射されると、照射された金属パッチ21に接続された抵抗25にのみ電圧が誘起されるため、その抵抗25に接続された電圧センサ27の位置から電磁波の到来方向がわかる。
このとき、抵抗25を波動インピーダンスと同様の377Ωとすれば、空間とセンサ部2のインピーダンスが整合され、電磁波が反射せずセンサ部2に電磁波のエネルギーが吸収される。
このとき、抵抗25を波動インピーダンスと同様の377Ωとすれば、空間とセンサ部2のインピーダンスが整合され、電磁波が反射せずセンサ部2に電磁波のエネルギーが吸収される。
誘電体20にはセンサ部2の他に微小ループアンテナ71と微小ダイポールアンテナ71を設ける。微小ループアンテナの面積をsとするとループアンテナに誘起された電圧vから磁界Hが[数1]より求まる。
ここでμ0は真空中の誘電率、ωは測定対象の角周波数である。また有効長lの微小ダイポールアンテナに誘起する電圧vから電界Eが[数2]より求まる。
この得られた磁界Hと電界Eから[数3]で波動インピーダンスZ0を算出し、抵抗調整部3でこの波動インピーダンスZ0と可変抵抗31が同値となるように可変抵抗31を調整する。
微小ループアンテナの磁界検知部711と微小ダイポールアンテナの電界検知部721は、それぞれアンテナに誘起する電圧を検知し、この電圧値を基に波動インピーダンス計算部8で波動インピーダンスを計算する。
可変抵抗31には、例えば図7のようなデジタルポテンショメータを用いる。デジタルポテンショメータは図1で説明した抵抗調整部3からの信号により、半導体スイッチ33を切り替えて抵抗値を変えることが可能である。上記により可変抵抗31と波動インピーダンスの値を一致させることで空間とセンサ部2のインピーダンスが整合され、測定対象の近傍でも電磁波が反射せずにセンサ部2に電磁波のエネルギーが吸収される。
信号処理/結果表示部5は、センサ部2の複数のセンサのそれぞれから検知信号を受信可能であって、センサ部2のセンサのいずれかから検知信号を受信すると、該検知信号を送信したセンサの位置情報と該受信した検知信号の強さ情報とを含む表示信号を出力する。また、信号処理/結果表示部5では、カメラ部4で撮影した画像の画像信号を受信しており、この画像信号に、センサ位置情報と検知信号の強さ情報とを含む信号を重ね合わせた表示信号を作成して出力する。
信号処理/結果表示部5は、センサ部2の複数のセンサの位置をそれぞれ表示可能であって、表示信号を受信すると、該表示信号に含まれるセンサの位置情報と検知信号の強さ情報とに基づき、当該センサの位置と検知信号の強さとを、例えばLCD(Liquid Crystal Display)等に表示する。また、カメラ部4で撮影した画像も同時に表示する。
このように、信号処理/結果表示部5では、検知信号を出力したセンサの位置情報と該検知信号の強さ情報とを含む情報が、カメラ部4で撮影された測定対象の画像に重ねられて表示される。たとえば、カメラ画像に検知信号の強度に応じてカラー表示を変えた電磁界マップを表記しても良い。また、検知信号の強さが所定の値以上の場合に、所定の値以上のセンサに対応する位置情報を、カメラ部4で撮影された測定対象の画像に重ねて表示してもよい。
次に本発明において、電磁波の遠方界を測定する場合と、近傍界を測定する場合について説明する。
はじめに電磁波の遠方界を測定する場合について説明する。電磁波の遠方界を測定は図2の構成で測定を行う。例えば測定対象6のノイズ源7から発生した電磁波61を、射出方向分離部である電磁波レンズ1で分離、つまり、電磁波の到来方向に応じて電磁波レンズ1から射出する電磁波の射出方向を変え、センサ部2へ入射させる。センサ部2は可変抵抗を377Ωとし、電磁波レンズ1を透過した電磁波が入射してエネルギーが誘起されたセンサが、誘起されたエネルギーの大きさに応じた強さの検知信号を出力する。
はじめに電磁波の遠方界を測定する場合について説明する。電磁波の遠方界を測定は図2の構成で測定を行う。例えば測定対象6のノイズ源7から発生した電磁波61を、射出方向分離部である電磁波レンズ1で分離、つまり、電磁波の到来方向に応じて電磁波レンズ1から射出する電磁波の射出方向を変え、センサ部2へ入射させる。センサ部2は可変抵抗を377Ωとし、電磁波レンズ1を透過した電磁波が入射してエネルギーが誘起されたセンサが、誘起されたエネルギーの大きさに応じた強さの検知信号を出力する。
信号処理/結果表示部5では、検知信号を出力したセンサ位置(番号)と検知信号の強さとを認識する。信号処理/結果表示部5の内部には、センサ位置(番号)と電磁波の到来角度をひもづけしたテーブルを有しており、検知信号を出力したセンサの位置情報を元にテーブルを参照し電磁波の到来角度を得る。また、信号処理/結果表示部5では、カメラ部4で撮影した画像の画像信号を受信しており、この画像信号に、センサ位置情報と検知信号の強さ情報とを含む信号を重ね合わせた表示信号を作成して、カメラ部4で撮影した画像上に、測定対象6のノイズ源7の位置と、ノイズの大きさを表示し、電磁波の可視化を実現する。
次に電磁波の近傍界を測定する場合について説明する。近傍界を測定する場合には図3のようにレンズ1を取りはずした構成で測定を行う。例えば測定対象6のノイズ源7から発生した電磁波61を、微小ループアンテナ71、微小ダイポールアンテナ72で感知し、波動インピーダンス計算部8で波動インピーダンス値を計算する。得られた波動インピーダンスの値から抵抗調整部3で抵抗値を決定し、センサ部2に配置した可変抵抗31の値を変える。
そして、センサ部2では入射したエネルギーが誘起されたセンサが、誘起されたエネルギーの大きさに応じた強さの検知信号を出力する。信号処理/結果表示部5では、検知信号を出力したセンサ位置(番号)と検知信号の強さとを認識する。信号処理/結果表示部5の内部には、センサ位置(番号)と電磁波の到来角度をひもづけしたテーブルを有しており、検知信号を出力したセンサの位置情報を元にテーブルを参照し電磁波の到来角度を得る。
また、信号処理/結果表示部5では、カメラ部4で撮影した画像の画像信号を受信しており、この画像信号に、センサ位置情報と検知信号の強さ情報とを含む信号を重ね合わせた表示信号を作成して、カメラ部4で撮影した画像上に、測定対象6のノイズ源7の位置と、ノイズの大きさを表示し、電磁波の可視化を実現する。近傍界の測定においては、まずセンサ部2を取りはずしカメラ部4で測定対象を撮影し、センサ部2を取り付けた状態で電磁界を検知し、信号処理/画像表示部5で画像上に電磁界を表示してもよい。また、本実施例ではアンテナ部7をセンサ部2と同じ基板上に設けたが、それぞれ個別に設けてもよい。たとえば、カメラ画像に検知信号の強度に応じてカラー表示を変えた電磁界マップを表記しても良い。また、検知信号の強さが所定の値以上の場合に、所定の値以上のセンサに対応する位置情報を、カメラ部4で撮影された測定対象の画像に重ねて表示してもよい。
以上のことから、本発明によれば、電磁波の到来方向に応じて、電磁界を感知するセンサにより電磁波の到来及び強度を高精度に検知し、可視化することで、リアルタイム性を向上した電磁波計測を行うことができる。また、微小ダイポールアンテナおよび微小ループアンテナにより波動インピーダンスを得、センサの可変抵抗を波動インピーダンスと同値とすることにより、電磁波計測をリアルタイムに行うことができる。
本発明の第2の実施例を図8および図9を用いて説明する。近傍界を測定する際、図8に記載のように、波動インピーダンスを計算するためのアンテナ部7は低反射電界シート上に複数あってもよい。アンテナ部7で得られた数値により、それぞれの波動インピーダンスを算出し、アンテナ部7の近辺のセンサ部2の抵抗を調整する。
例えば、図9のように微小ループアンテナ71(a)、微小ダイポールアンテナ72(a)で得た電界と磁界の値から計算した波動インピーダンスと抵抗調整単位ブロック21(a)内の可変抵抗31の値を同値とし、微小ループアンテナ71(b)、微小ダイポールアンテナ72(b)で得た電界と磁界の値から計算した波動インピーダンスと抵抗調整単位ブロック21(b)内の可変抵抗31の値を同値とする。近傍界の測定においては、測定対象のノイズ源と各金属パッチ21までの距離差によって、得られる電磁界の値が大きく異なるため、低反射電界シート上で波動インピーダンスが異なる可能性がある。このため、低反射電界シートをブロックに分割し、各ブロックごとに波動インピーダンスを求め、可変抵抗31の調整を行う。
このことにより、低反射電界シート上での波動インピーダンスの変化に対応した可変抵抗31の調整が可能となり、低反射電界シートの電磁波無反射状態を保つことが可能となる。本実施例では低反射電界シート上にアンテナ部7を設けたが、アンテナ部7は低反射電界シートとは別にあっても良い。
以上のことから、本発明によれば、電磁波の到来方向に応じて、電磁界を感知するセンサにより電磁波の到来及び強度を高精度に検知し、可視化することで、リアルタイム性を向上した電磁波計測を行うことができる。また、微小ダイポールアンテナおよび微小ループアンテナから、各ブロックごとに波動インピーダンスを得、周囲の可変抵抗を波動インピーダンスと同値とすることにより、電磁波計測をリアルタイムに行うことができる。
1…射出方向分離部、2…センサ部、11…レンズ、3…抵抗調整部、4…カメラ部、5…信号処理/結果表示部、6…測定対象、7…アンテナ、8…波動インピーダンス計算部、9…ノイズ源、201a…伝送線路、301a…伝送線路、401a…伝送線路、701a…伝送線路、801a…伝送線路、20…誘電体、21…金属パッチ、22…ビア、24…グランド、26…電圧センサ用ビア、31…可変抵抗、32…抵抗、33…半導体スイッチ、61…電磁波、71…微小ループアンテナ、711…磁界検知部、72…微小ダイポールアンテナ、721…電界検知部、21a、21b…抵抗調整単位ブロック、71a、71b…微小ループアンテナ、72a、72b…微小ダイポールアンテナ
Claims (13)
- 電磁波を検知し、該検知した電磁波のエネルギーの大きさに応じた強さの検知信号を出力するセンサと、
前記センサに接続された可変抵抗と、
前記センサに接続された前記可変抵抗の抵抗値を調整する抵抗調整部と、を有し、
前記調整部で前記可変抵抗の抵抗値を調整して電磁波可視化計測を行うことを特徴とする電磁波可視化装置。 - 請求項1に記載の電磁波可視化装置であって、
前記調整部で、前記可変抵抗の抵抗値を電磁波の波動インピーダンスの値に調整することを特徴とする電磁波可視化装置。 - 請求項2に記載の電磁波可視化装置であって、
電界を測定する電界測定用アンテナと、
磁界を測定する磁界測定用アンテナと、
前記電界測定用アンテナ及び前記磁界測定用アンテナで得られた電界と磁界の値から、波動インピーダンスを求める波動インピーダンス計算部と、を有し、
前記抵抗調整部で、前記可変抵抗の値を前記インピーダンス計算部で得られた波動インピーダンスの値となるように調整することを特徴とする電磁波可視化装置。 - 請求項3に記載の電磁波可視化装置であって、
前記電界測定用アンテナと前記磁界測定用アンテナは、隣接して配置されていることを特徴とする電磁波可視化装置。 - 請求項2に記載の電磁波可視化装置であって、
電界及び磁界を測定可能な電磁界測定用アンテナと、
前記電磁界測定用アンテナで得られた電界と磁界の値から、波動インピーダンスを求める波動インピーダンス計算部と、を有し、
前記抵抗調整部で、前記可変抵抗の値を前記インピーダンス計算部で得られた波動インピーダンスの値となるように調整することを特徴とする電磁波可視化装置。 - 請求項1に記載の電磁波可視化装置であって、
前記可変抵抗に接続される電圧センサを有し、前記電圧センサに誘起される電圧によって、電磁波を検知することを特徴とする電磁波可視化計測装置。 - 請求項1に記載の電磁波可視化装置であって、
前記可変抵抗は、デジタルポテンショメータであることを特徴とする電磁波可視化計測装置。 - 電磁波を検知し、該検知した電磁波のエネルギーの大きさに応じた強さの検知信号を出力する複数のセンサと、
前記複数のセンサの各々に接続された可変抵抗と、
前記複数のセンサの各々に接続された前記可変抵抗の抵抗値を調整する抵抗調整部と、
前記複数のセンサの各々から前記検知信号を受信可能であって、前記センサから前記検知信号を受信すると、該検知信号を送信したセンサの位置情報を基に電磁波の到来方向の情報を含む表示信号を出力する処理部と、
前記複数の電磁波の到来方向をそれぞれ表示可能であって、前記表示信号を受信すると、該表示信号に含まれる前記センサの位置情報に基づき、当該センサの位置に基づいた電磁波の到来方向を表示する表示部とを、備えることを特徴とする電磁波可視化装置。 - 請求項8に記載の電磁波可視化装置であって、
前記処理部は、前記検知信号を送信したセンサの位置情報とともに前記検知信号の強さ情報を含む表示信号を出力し、
前記表示部は、前記センサの位置に基づいた電磁波の到来方向を表示する際に、前記検知信号の強さに応じた表示を行うことを特徴とする電磁波可視化装置。 - 請求項9に記載の電磁波可視化装置であって、
前記処理部は、前記センサから受信した検知信号の強さが所定値以上の場合に、
前記表示部は、前記電磁波の到来方向を表示する際に、前記検知信号の強さによらず、所定の表示を行うことを特徴とする電磁波可視化装置。 - 請求項8に記載の電磁波可視化装置であって、
測定対象の画像を撮影し、該撮影した画像の画像信号を出力するカメラ部を備え、
前記処理部は、前記カメラ部からの画像信号と前記センサからの検知信号とを受信すると、前記画像信号と前記検知信号を送信したセンサの位置情報からテーブルを参照して得た電磁波の到来方向とを含む表示信号を出力し、
前記表示部は、前記表示信号を受信すると、該表示信号に含まれる前記画像信号と前記センサの位置情報を元にえた電磁波の到来方向情報とに基づき、前記画像信号による画像上に重ねて、前記電磁波の到来方向の表示を行うことを特徴とする電磁波可視化装置。 - 請求項1乃至請求項11のいずれか1項に記載の電磁波可視化装置であって、
電磁波の入射方向に応じて電磁波の射出方向を変える射出方向分離部を有し、前記射出方向分離部から射出された電磁波を前記センサで検知することを特徴とする電磁波可視化装置。 - 請求項12に記載の電磁波可視化装置であって、
前記射出方向分離部は、電磁波レンズで構成されることを特徴とする電磁波可視化装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2012/072100 WO2014033896A1 (ja) | 2012-08-31 | 2012-08-31 | 電磁波可視化装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2014033896A1 true JPWO2014033896A1 (ja) | 2016-08-08 |
Family
ID=50182744
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2014532667A Pending JPWO2014033896A1 (ja) | 2012-08-31 | 2012-08-31 | 電磁波可視化装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20150219704A1 (ja) |
JP (1) | JPWO2014033896A1 (ja) |
WO (1) | WO2014033896A1 (ja) |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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2012
- 2012-08-31 WO PCT/JP2012/072100 patent/WO2014033896A1/ja active Application Filing
- 2012-08-31 US US14/420,951 patent/US20150219704A1/en not_active Abandoned
- 2012-08-31 JP JP2014532667A patent/JPWO2014033896A1/ja active Pending
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20150219704A1 (en) | 2015-08-06 |
WO2014033896A1 (ja) | 2014-03-06 |
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Legal Events
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---|---|---|---|
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