JPWO2012096153A1 - 顕微鏡システム - Google Patents

顕微鏡システム Download PDF

Info

Publication number
JPWO2012096153A1
JPWO2012096153A1 JP2012552670A JP2012552670A JPWO2012096153A1 JP WO2012096153 A1 JPWO2012096153 A1 JP WO2012096153A1 JP 2012552670 A JP2012552670 A JP 2012552670A JP 2012552670 A JP2012552670 A JP 2012552670A JP WO2012096153 A1 JPWO2012096153 A1 JP WO2012096153A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
image
light
specimen
illumination light
imaging
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2012552670A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5532459B2 (ja
Inventor
吉田 祐樹
祐樹 吉田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP2012552670A priority Critical patent/JP5532459B2/ja
Publication of JPWO2012096153A1 publication Critical patent/JPWO2012096153A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5532459B2 publication Critical patent/JP5532459B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/36Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/365Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/06Means for illuminating specimens
    • G02B21/08Condensers
    • G02B21/12Condensers affording bright-field illumination
    • G02B21/125Condensers affording bright-field illumination affording both dark- and bright-field illumination
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/36Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/365Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
    • G02B21/367Control or image processing arrangements for digital or video microscopes providing an output produced by processing a plurality of individual source images, e.g. image tiling, montage, composite images, depth sectioning, image comparison
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B27/00Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
    • G02B27/0075Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 with means for altering, e.g. increasing, the depth of field or depth of focus

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Studio Devices (AREA)

Abstract

光源(11)と、開口絞り(12)と、コンデンサレンズ(13)と、対物レンズ(14)とを有する顕微鏡(20)と、マイクロレンズアレイ(15)と撮像素子(16)とを有するカメラ(30)と、コンピュータ(40)を構成する画像処理部(44)とを有し、画像処理部(44)は、開口絞り(12)の開口部(12a)の大きさ(すなわち、照明光の開口数)に応じて、各マイクロレンズ(ML)に割り当てられた複数の画素(各ML領域)を、明視野像の検出に使用する明視野像検出領域(A1)と、暗視野像の検出に使用する暗視野像検出領域(A2)とに分割し、各ML領域内の明視野像検出領域(A1)で受光した光に基づいて得られた撮像データを合成することにより標本(S)の明視野画像データを生成し、各ML領域内の暗視野像検出領域(A2)で受光した光に基づいて得られた撮像データを合成することにより標本(S)の暗視野画像データを生成する。

Description

本発明は、顕微鏡システムに関する。
顕微鏡の代表的な観察方法に、明視野観察と暗視野観察とがある。例えば、半導体製造工程において、パターンの欠陥等を観察するのに明視野観察を用いたり、また、明視野観察では見えにくい鏡面、傷、塵等を観察するのに暗視野観察を用いたりする(例えば、特許文献1を参照)。
特開2001−125002号公報
しかしながら、これら観察方法を同時に行うことは難しかった。また、標本の種類や特性に応じて観察方法を切り替えようとすると、その都度照明光の明るさや絞りの状態を変更後の観察方法に合わせて調整しなければならず、これには煩雑な操作が必要であった。
また、従来の顕微鏡観察では、観察方法を切り替えると、同一の視野であってもその都度撮像せねばならず、手間がかかった。さらに、撮影毎にそれぞれ別の画像ファイルとして取得・保存されるため、これら複数の画像ファイル間の関係等が後から分かるようにファイル名を工夫したり、データの容量は膨大になるため保存場所を確保したりするなど、管理が大変であった。
本発明は、このような問題に鑑みてなされたものであり、例えば、明視野像と暗視野像とを同時取得することができる顕微鏡システムを提供することを目的とする。
このような目的を達成するため、本発明に係る顕微鏡システムは、光源から射出された照明光の開口数を規定する開口数規定部材を含む照明光学系と、前記照明光が照射された標本からの光を集光する対物レンズと、前記対物レンズにより集光された前記標本からの光を受ける位置に配置された複数のマイクロ光学素子からなるマイクロ光学素子アレイと、それぞれの前記マイクロ光学素子に対して複数の画素が割り当てられ、各マイクロ光学素子を介して前記複数の画素でそれぞれ受光した光に基づいて撮像データを生成する撮像素子と、前記撮像素子で生成された撮像データに対して所定の処理を施す画像処理部とを有し、前記画像処理部は、前記照明光の開口数に応じて、前記各マイクロ光学素子に割り当てられた前記複数の画素のうち、第1の画素領域で受光した光に基づいて得られた前記撮像データを処理することにより前記標本の第1の画像データを生成し、第2の画素領域で受光した光に基づいて得られた前記撮像データを処理することにより前記標本の第2の画像データを生成する。
上記の顕微鏡システムにおいて、前記画像処理部により所定の処理が施された前記撮像データを表示する表示部を有し、前記表示部は、前記画像処理部からの出力を受けて、前記第1の画像データ及び前記第2の画像データを同時に表示するのが好ましい。
上記の顕微鏡システムにおいて、さらに、前記画像処理部は、前記開口数規定部材で規定された前記照明光の開口数と前記対物レンズの開口数及び焦点距離とに応じて、各マイクロ光学素子に割り当てられた複数の画素を、第1の画素領域と第2の画素領域とに分割するのが好ましい。
上記の顕微鏡システムにおいて、さらに、前記開口数規定部材は、可変開口絞りであり、前記可変開口絞りの開口部の大きさを調整することにより、前記照明光の開口数を変化させるのが好ましい。
上記の顕微鏡システムにおいて、さらに、前記開口数規定部材は、前記照明光の強度分布を変調する空間光変調素子であり、前記空間光変調素子の変調量を調整することにより、前記照明光の開口数を変化させるのが好ましい。
上記の顕微鏡システムにおいて、さらに、前記第1の画像データは明視野画像データであり、前記第2の画像データは暗視野画像データであるのが好ましい。
もう一つの本発明に係る顕微鏡システムは、光源から射出された照明光の幾何学的状態を変更可能な光学部材を含む照明光学系と、照明光が照射された標本からの光を集光する対物レンズと、前記対物レンズにより集光された前記標本からの光を受ける位置に配置された複数のマイクロレンズからなるマイクロ光学素子アレイと、それぞれの前記マイクロ光学素子に対して複数の画素が割り当てられ、各マイクロ光学素子を介して前記複数の画素で受光した光に基づき撮像データを生成する撮像素子と、前記撮像素子で生成された撮像データに対して所定の処理を施す画像処理部とを有し、前記画像処理部は、変更された前記照明光の幾何学的状態に応じて、各マイクロ光学素子に割り当てられた前記複数の画素うち、所定の画素で受光した光に基づいて得られた前記撮像データを処理することにより前記標本の画像データを生成する。
上記の顕微鏡システムにおいて、さらに、前記光学部材は、前記照明光の強度分布を変調する空間光変調素子であり、前記空間光変調素子の変調量を調整することにより、前記照明光の幾何学的状態を変化させるのが好ましい。
上記の顕微鏡システムにおいて、さらに、前記照明光の幾何学的状態の変更は、スリット形状と円形状との変更、スリット形状の位置変更、スリット形状の大きさ変更、円形状の大きさ変更の少なくとも一つであるのが好ましい。
上記の顕微鏡システムにおいて、さらに、前記マイクロ光学素子アレイは、前記標本と略共役な位置に配置され、前記撮像素子の撮像面は、前記対物レンズの瞳面と略共役な位置に配置されているのが好ましい。
上記の顕微鏡システムにおいて、さらに、前記マイクロ光学素子アレイは、前記対物レンズの瞳面と略共役な位置に配置され、前記撮像素子の撮像面は、前記標本と略共役な位置に配置されているのが好ましい。
本発明によれば、1回の撮影で、明視野像と暗視野像とを同時取得することができる顕微鏡システムを提供することができる。
本実施形態の光学系の概要を説明した図である。 本実施形態の光学系に用いる開口絞りを説明した図である。 撮像素子の撮像面上のML領域の例を示す図である。 本実施形態の顕微鏡システム(透過照明時)の全体構成を説明した図である。 画像生成処理を説明するフローチャートである。 明視野及び暗視野観察時の動作制御用のGUI表示画面の一例である。 標本像を映し出す観察画像の一例であり、(a)は明視野画像のみ、(b)〜(d)は明視野及び暗視野を合成した画像、(e)は暗視野画像のみを画面表示した場合を示す。 本実施形態に係る顕微鏡システム(落射照明時)の全体構成を説明する図である。 本実施形態に係る光学系において空間光変調素子を採用したときの説明図である。 空間光変調素子のパターン例と、このパターンが各マイクロレンズを通して投影された際の各ML領域における受光状態を説明する図であり、(a)は明視野観察像を形成するため、(b)は暗視野観察像を形成するため、(c)はモジュレーションコントラスト観察像を形成するため、(d)は(c)のパターンのコントラストを変化させた場合において、(e)は(c)のパターンを回転させた場合において、空間光変調素子上に表示されるパターン例と、このときの各ML領域の受光状態を示す。 コントラスト観察時を用いて観察された卵細胞像を示す写真であり、(a)はある方向から照明光を照射した場合を、(b)は(a)とは異なる方向から照明光を照射した場合を示す。 コントラスト観察時の動作制御用のGUI表示画面の一例である。
以下、本実施形態について、図面を参照しながら説明する。なお、以下の説明において、互いに同一あるいは相当する構成要素には同一符号を付し、重複した説明は省略することがある。
まず、図1を参照して、本実施形態に係る光学系の概要について説明する。図1に示すように、本光学系は、光源11からと、開口絞り12と、コンデンサレンズ13とを有し、標本Sに照明光を照射する照明光学系10と、対物レンズ14と、複数のマイクロレンズMLが2次元状に配置されたマイクロレンズアレイ15と、撮像素子16とを有して構成される。
本実施形態では、標本Sの表面(以下、標本面Sとも言う)が対物レンズ14で結像する面にマイクロレンズアレイ15を置き、マイクロレンズMLの焦点距離だけ離れた位置に撮像素子16が置かれている。この場合、撮像素子16の撮像面は、(マイクロレンズMLを介して)対物レンズ14の射出瞳と略共役となっている。この構成によりマイクロレンズアレイ15に結像した標本像は、各マイクロレンズMLによって分割され、標本像(標本S)の各分割領域に対応する瞳像がそれぞれ撮像素子16の撮像面に形成される。つまり、各分割領域に対応する瞳像とは、撮像素子16の撮像面にそれぞれ形成された複数の瞳像を重畳させると、所謂通常のレンズによる対物レンズの瞳像となるものである。
上記のように本実施形態では、マイクロレンズアレイ15を標本Sと略共役な位置に配置し、撮像素子16の撮像面と対物レンズ14の射出瞳とを略共役にした構成について説明するが、マイクロレンズアレイ15を対物レンズ14の射出瞳と略共役な位置に配置し、撮像素子16の撮像面と標本面Sとを略共役にした構成を採用してもよい。いずれの場合も同様の効果を得ることができる。つまり、マイクロレンズアレイ15に形成された瞳像は、各マイクロレンズMLによって分割され、瞳像の各分割領域に対応する標本像がそれぞれ撮像素子16の撮像面に形成される。
開口絞り12は、光源11から射出された照明光の開口数を規定するものである。この開口絞り12は、図2に示すように、中央部に円形の開口部12aを有し、この開口部12aの大きさを調整することで、照明光の開口数を変化させることができる。
ここで、開口絞り12の開口部12aの最大径は、コンデンサレンズ13と対物レンズ14との組み合わせによって異なる。また、開口絞り12の開口部12aの大きさは、対物レンズ14の瞳径と、対物レンズ14の瞳から開口絞り12までの倍率で決定される。但し、対物レンズ14の瞳から撮像素子16までの倍率は、対物レンズを切り替えても変わらないため、対物レンズの情報(開口数および焦点距離)だけがあればよい。
なお、図1では、照明光の開口数(開口絞り12の開口部12aの大きさ)が対物レンズ14の開口数より小さい場合について示しており、対物レンズ14の瞳の周辺部には直接光が来ないことを示している。
マイクロレンズアレイ15は、複数のマイクロレンズMLを2次元状に並べてなる光学素子である。なお、図1の例では、説明の簡略化のため、3×3個のマイクロレンズアレイを想定し、そのうちの縦方向の3個のマイクロレンズが図示されている。実際のマイクロレンズMLの数は、撮像素子13により撮像される画像信号に必要な分解能に応じて適宜設定される。
撮像素子16は、マイクロレンズアレイ15からの光を受光して撮像データを取得するものである。撮像素子16は、例えば、2次元状配列された複数のCCD(Charge Coupled Device)センサやCMOS(Complementary
Metal Oxide Semiconductor)センサなどであり、マイクロレンズアレイ15を構成する各マイクロレンズMLを通過した光を受光するように、各マイクロレンズMLに対応して所定数の画素が割り当てられている。1つのマイクロレンズMLがカバーする画素の数は、例えば8×8個であり、個々のマイクロレンズMLを透過した光束をそれらの画素で受光する。
以上のような構成にすることで、撮像素子16の撮像面上には、マイクロレンズアレイ15によって分割された標本像(標本S)の各領域ごとの各マイクロレンズMLによる対物レンズ14の射出瞳の像が複数形成される。ここから、撮像素子16の撮像面において、各マイクロレンズMLで結像した像のできる領域をML領域と称する。
図3は、撮像素子16の撮像面上のML領域(図中の点線)の例を示す図である。図3においては、格子状に配列された24×24個の四角それぞれが、撮像素子16の撮像面上の各画素を表し、点線で描いた3×3個の円が各マイクロレンズMLによるML領域、つまりマイクロレンズアレイ15によって分割された標本像(標本S)の各領域ごとの各マイクロレンズMLによる対物レンズ14の瞳像を表す。すなわち、図3の例では、マイクロレンズアレイ15を構成する9個のマイクロレンズMLによって結像された像のそれぞれが、撮像素子16の撮像面上の8×8個からなる画素群上にML領域を形成している。
そして、これら9個のML領域により得られる画像信号を用いて、撮像素子16の撮像面に入射した光が、マイクロレンズアレイ15を構成する複数のマイクロレンズMLのうちのどのマイクロレンズMLに入射し、対物レンズ14の瞳のどの位置を通ってきたかを求めることが可能となる。すなわち、幾何学的に光線を考えると、光線が像面(マイクロレンズアレイ15の位置)に入射する位置と、対物レンズ14の射出瞳を出る位置とが分かるため、任意の像面に入射する光線を特定できる。これにより、光軸上の任意の像面での光の集光に関する演算(例えば、特開2007−4471号公報に記載のRefocus技術など)が可能となり、任意の像面での像の画像を取得することができる。
本実施形態においては、開口絞り12により規定された照明光の開口数、具体的には開口絞り12の開口部12aの大きさと、対物レンズ14の開口数及び焦点距離に応じて、各ML領域内を、(照明の直接光が入射する領域である)明視野像の検出に使用する明視野像検出領域A1(図3の白抜き部分)と、(照明の直接光が入射しない領域である)暗視野像の検出に使用する暗視野像検出領域A2(図3の斜線部分)とに分割し、各ML領域内の明視野像検出領域A1により得られる画像信号から標本Sの明視野画像を生成し、各ML領域内の暗視野像検出領域A2により得られる画像信号から標本Sの暗視野画像を生成し、上記のように任意の像面での明視野画像及び暗視野画像を同時に取得することができる。
また、開口絞り12により規定された照明光の開口数が調整できるものを用いれば、各ML領域内における明視野像検出領域A1と暗視野像検出領域A2との割合(光量比)を変更することができる。例えば、明視野観察は、図3の各ML領域内の明視野像検出領域A1のみで検出された光を使うので、明視野としての解像力を上げたければ、開口絞り12の開口部12aの大きさを広げればよい。また、暗視野観察は、図3の各ML領域内の暗視野像検出領域A2のみで検出された光を使うので、暗視野の光量を稼ぎたいときは、開口絞り12の開口部12aの大きさを狭めればよい。
このように、上述した光学系を用いれば、明視野観察と暗視野観察とを同時に行うことが可能である。さらには、測定対象や用途に応じて、その合成比率を適宜変更することが可能である。
次に、上述した図1に示す光学系の原理を、顕微鏡システムに適用した場合について説明する。
図4は、上述の光学系を適用した顕微鏡システムの全体構成を示す図である。
図4に示すように、顕微鏡システムは、標本Sを支持するステージ21aを保持する顕微鏡本体21と、標本Sに照明光を照射する透過照明光学系10Aと、標本Sからの光を集光する対物レンズ14とを有する顕微鏡20と、標本Sの像を撮像するカメラ30と、コンピュータ40とを有して構成される。なお、対物レンズ14は、説明の簡素化のために図4では単レンズで構成しているが、必要に応じて複数のレンズで構成することも可能である。
透過照明光学系10Aは、光路順に並んだ、光源11と、レンズL11と、偏向ミラーM1と、レンズL12と、開口絞り12と、コンデンサレンズ13とを有して構成される。
上記構成の照明光学系10Aによれば、光源11から射出された照明光は、レンズL11を透過し、偏向ミラーM1で反射して上方に折り曲げられ、レンズL12を透過して略平行光となった後、開口絞り12を経て、コンデンサレンズ13によりステージ21aに載置された標本Sに照射される。このとき、標本Sに照射される光は、開口絞り12の開口部12aの大きさに応じて(図2参照)、強度分布がリング状に偏ったものとなっている。
カメラ30は、顕微鏡20に装着されており、マイクロレンズアレイ15と、撮像素子16とを有して構成される。
図4に示す顕微鏡システムにおいては、図1の光学系と同様に、照明光学系10Aによる照明され標本Sから発せられた光が、対物レンズ14によりマイクロレンズアレイ15を構成する各マイクロレンズMLの頂点位置を含む平面内に結像し、各マイクロレンズMLの焦点位置を含む面と共役になる。すなわち、カメラ30内の撮像素子16の撮像面は、マイクロレンズアレイ15の各マイクロレンズMLを介して、対物レンズ14の射出瞳と略共役になっている。マイクロレンズアレイ15に結像した標本像は、各マイクロレンズMLによって分割され、標本像(標本S)の各分割領域に対応する瞳像がそれぞれ撮像素子16の撮像面に形成される。カメラ30の撮像素子16は、標本Sの像の各分割領域に対応する瞳像をそれぞれ撮像し、その画像信号を出力する。
コンピュータ40は、顕微鏡20及びカメラ30に接続されており、制御部41と、駆動部42と、入力装置43と、画像処理部44と、記憶媒体45と、表示制御部46と、ディスプレイ47とを有して構成される。
制御部41は、入力装置43を介してユーザから入力された指示にしたがって、駆動部42、画像処理部44及び表示制御部46の制御を行う。
駆動部42は、撮像素子16を駆動するとともに、撮像素子16からの画像信号を画像処理部44に出力する。
画像処理部44は、駆動部42から供給される画像信号に基づいて、所定の画像処理を施す。また、画像処理部44は、画像処理によって得られた画像データを、メモリカード等の記憶媒体45に記憶させるとともに、表示制御部46によりディスプレイ47に表示させる。なお、画像処理部44によって行われる画像処理の詳細については、後述する画像処理部44の動作の説明の際に合わせて説明する。
次に、図5のフローチャートを参照して、コンピュータ40の画像処理部44によって実行される画像生成処理について説明する。
ステップS11において、画像処理部44は、撮像素子16から出力される画像信号を取得する。
ステップS12において、画像処理部44は、撮像素子16から出力された画像信号に基づいて、任意の被写体距離における画像を生成(合成)する。
本実施形態において、画像処理部44は、開口絞り12により規定された照明光の開口数(例えば、開口部12aの大きさ)と、対物レンズ14の開口数と焦点距離とに応じて、各マイクロレンズに割り当てられた複数の画素、すなわち各ML領域を、標本Sの明視野像の検出に使用する明視野像検出領域A1(図3の各ML領域の中央部の白抜き部分)と、標本Sの暗視野像の検出に使用する暗視野像検出領域A2(図3の各ML領域の斜線部分)とに分割する。続いて、各ML領域の明視野像検出領域A1で受光した光に基づいて得られた撮像データを合成することにより標本Sの明視野画像データを生成し、各ML領域の暗視野像検出領域A2で受光した光に基づいて得られた撮像データを合成することにより標本Sの暗視野画像データを生成し、これらの画像データに基づいて像面(マイクロレンズアレイ15の位置)から光軸方向にずらしたときの任意の像面(デフォーカス面)での像の画像を合成する。
ステップS13において、画像処理部44は、生成された複数の画像(任意の像面における像の画像)から奥行き方向の距離情報を得ることにより、標本Sの立体画像を生成し、画像生成処理は終了する。
以上のように、画像処理部44によって、図1の光学系の構成を採用することで得られる画像信号から任意の像面における像の画像が複数合成され、それらの任意の像面における像の画像から奥行き方向の距離情報が求められ、明視野及び暗視野それぞれにおける標本Sの立体画像が同時に生成される。
なお、図5のステップS12に基づいて、任意の被写体距離における画像を得るようにしてもよい。さらに、異なる被写体距離における画像を合算し、深度の深い画像を得ることができる。また、全ての被写体距離における画像を合算すれば、全ての位置にピントの合った、いわゆる全焦点画像を得ることもできる。
上述した顕微鏡システムにおいて、ユーザ操作は、ディスプレイ47に表示されるGUI(Graphical User Interface)の表示画面に基づく、マウスやキーボード等の入力装置43の操作によって実現される。GUIの表示画面は、制御部41の指示に応じて表示制御部46で生成される。表示制御部46では、顕微鏡20に装着されたカメラ30により得られる標本Sの画像データに、所定のアイコンを重ね合わせて、GUIの表示画面を生成する。
図6は、ディスプレイ47に表示されるGUIの表示画面の例を示す図である。図6において、ディスプレイ47の画像表示領域47aには、標本Sの画像を表示する標本画像表示領域51と、各種アイコン52〜55とが配置されている。
標本画像表示領域51aの下側に配置されているアイコン52は、標本画像表示領域51aする画像(観察)方法の設定に係るユーザ操作を受け付けるためのアイコンである。アイコン52の操作により、標本画像表示領域51aに表示する画像として、図7(a)に示すような明視野画像、図7(b)〜(d)に示すような明視野及び暗視野を合成した画像、及び、図7(e)に示すような暗視野画像のいずれかを選択設定することができる。
なお、標本画像表示領域51aに表示される画像として、図6のように明視野画像、暗視野画像、明視野及び暗視野を合成した画像のうちのいずれかを表示するのではなく、これら3枚同時に並べて表示する構成としてもよい。
画像表示領域47aの右側の領域に配置されているアイコン53〜55は、画像の表示条件の設定に係るユーザ操作を受け付けるためのアイコンである。本実施形態では、アイコン53の操作により明視野像と暗視野像との合成比率の設定が行われ、アイコン54の操作により開口絞り12の開口部12aの大きさの設定が行われ、アイコン55の操作により使用する対物レンズ14(開口数及び倍率(焦点距離))の設定が行われる。なお、GUI表示画面に設けるアイコンについては、これらに限定されるものではなく、適宜増減可能である。
このような構成によれば、ユーザがアイコン52〜55を操作するだけで、標本Sの種類や観察用途に応じて、図7(a)〜(e)のような所望の観察像を画面表示させることができる。
具体例を挙げると、例えば標本Sがレチクルだった場合、レチクルのパターンを見ながら傷のスクリーニングをするのであれば、アイコン53を操作して、図7(b)のように表示される明視野像の比率を上げればよい。また、レチクルの小さな傷も見逃したくないときは、図7(c)のように表示される暗視野像の比率を上げればよい。もちろん、図7(d)のように明視野像と暗視野像との割合を等しい画像を用いて、上記検査を行ってもよい。
従来の顕微鏡システムでは、レチクルの検査をする場合、顕微鏡に装着されたカメラでレチクルを撮像し、ディスプレイにレチクルの像を映し出す。しかしながら、明視野観察と暗視野観察とは同時に行うことができないため、その都度切り替えなければならなかった。明視野観察(画像)からは、レチクルの外形を捉えたり、パターンを認識したりすることはできるものの、傷を確認することは難しい。かといって、暗視野観察(画像)からは、レチクルの傷はよく見えるものの、レチクルの外形が分からなくなり、傷の位置を特定が難しくなる。また、傷の位置を特定するために、明視野画像と暗視野画像とを見比べようと思ってもファイルが異なるため、上手く関連付けて保存しておかなければ、別々に取得されたどの明視野画像とどの暗視野画像とが対応するのか確認するのが難しかった。
これに対して、上述した図4の顕微鏡システムを用いれば、標本Sの明視野画像及び暗視野画像を同時に取得、保存及び画面表示することができる。さらに、測定対象や用途に応じて、その合成比率を適宜変更することも可能である。その結果、ディスプレイ47に表示される画像の最適化を図ることが可能になり、ディスプレイ47等の表示装置を介した標本Sの観察の精度を向上させることができる。また、ユーザの負担を減らし、作業効率の向上に繋げることもできる。
ここまで実施形態の構成要件を付して説明したが、本発明がこれに限定されるものではないことは言うまでもない。
例えば、上述の顕微鏡システムでは照明光学系として、透過照明光学系10A(図4参照)を用いた場合について説明したが、落射照明光学系としてもよい。この場合、図8に示すように、落射照明光学系10Bとして、光路順に並んだ、光源11と、レンズL21と、開口絞り12と、レンズL22と、ダイクロイックミラーM2と、コンデンサレンズを兼ねる対物レンズ14とを有し、光源11から射出された照明光は、レンズL21、開口絞り12、レンズL22を順に通過し、ダイクロイックミラーM2で反射して下方に折り曲げられた後、対物レンズ14によりステージ21aに載置された標本Sに照射される構成とする以外は、上述した顕微鏡システムをそのまま利用することができ、明視野及び暗視野の同時観察が可能である。
この場合、マイクロレンズアレイ15を標本Sと略共役な位置に配置し、撮像素子16の撮像面は、対物レンズ14の瞳面と共役となっている。但し、マイクロレンズアレイ15を対物レンズ14の射出瞳と略共役な位置に配置し、撮像素子16の撮像面は、標本Sと共役となる位置に配置しても構わない。いずれの場合においても、図4の顕微鏡システムと同様の効果を得ることができる。つまり、マイクロレンズアレイ15に形成された瞳像は、各マイクロレンズMLによって分割され、瞳像の各分割領域に対応する標本像がそれぞれ撮像素子16の撮像面に形成される。
また、上述した実施形態では、照明光の開口数を規定する手段として、開口部12aの大きさが可変である開口絞り12を用いたが、これに換えて、照明光の強度分布を変調することができる空間光変調素子60を用いて構成することも可能である。
空間光変調素子60は、図10(a)〜(e)に示すように照明光の強度分布を変調できるものであり、例えば、DMD(Digital Micromirror Device)、液晶ディスプレイ、LCOS(liquid crystal on silicon)等である。
このような空間光変調素子60を用いた照明光学系10´として、図9に示すように、光路順に並んだ、光源11と、該素子60と、コンデンサレンズ13とを有し、光源11から射出された照明光は、空間光変調素子60により所望の位置の強度が変調された後、コンデンサレンズ13によりステージ21aに載置された標本Sを照射するように構成する以外は、上述した顕微鏡システムをそのまま利用することができ、明視野及び暗視野の同時観察が可能である(図4及び図8を参照)。
但し、明視野観察をする場合は、図10(a)に示すような、中央の白抜き部分が透過率1で、その他の黒塗りの部分が透過率0であるリング状のパターンを空間光変調素子60に表示する。また、暗視野観察をする場合は、図10(b)に示すような、中央の黒塗り部分が透過率0で、その他の白抜き部分が透過率0であるリング状のパターンを空間光変調素子60に表示する。標本Sに照射される光は、このような空間光変調素子60に表示されたリング状のパターンに応じて、強度分布が偏ったものとなる。
なお、空間光変調素子60のパラメータは、表示するリング状のパターンのリング径、リング幅、リング内透過率、リング外透過率である。よって、測定対象及び用途に応じてこれらパラメータを調整すれば、所望の照明光の開口数を設定でき、上述のように開口絞り12を使用したときと同様に、明視野及び暗視野の同時観察が可能となる。
また、空間光変調素子60において、図10(c)に示すような、スリット状の透過率が互いに異なる低透過率領域61a、中透過率領域61b、高透過率領域61cからなるパターンを表示すれば、ホフマンモジューレコントラスト観察(以下、コントラスト観察とも呼ぶ)が可能となる。この観察方法によれば、図11(a),(b)に示すように、標本Sが透明なもの(ここでは卵細胞)であっても、コントラストが強調され且つ方向性のある立体像として観察することが可能である。
そして、上記の高透過率領域の透過率を100%とし、この高透過率領域に対応する各ML領域内の複数の画素から得られる画像信号から標本Sの画像を生成すれば、(任意の像面での)明視野画像を生成することも可能である。すなわちこの場合、1回の撮影で、コントラスト観察の画像と、明視野観察の画像とを同時に取得することが可能である。
従来の顕微鏡システムでは、コントラスト観察を実施するために、対物レンズの瞳の位置に遮光部材を入れたり、専用の対物レンズを用意する必要があったりするなど、非常に費用がかかった。しかしながら、上述のように空間光変調素子60を用いれば、遮光部材や専用の対物レンズを必要とせずに、コントラスト観察を実施できるため、製造コストを抑えることができる。さらに、対物レンズからカメラまでの光路上に減光する部材がないため、明るい良好な標本像を取得することも可能である。
コントラスト観察において、標本Sに対して照明光の照射方向を変える場合、従来ではコンデンサ側のスリットを回転させるとともに対物レンズも回転させたりしなければならない等、煩雑な作業が必要であり、非常に困難であった。しかしながら、本実施形態では、図10(c)から図10(e)へと、あたかも回転したように空間光変調素子60上に表示するパターンを変更し、画像取得時に使用する各ML領域における画素位置を変更するだけで、簡単に照明方向を変更することができる。ここで、図11(a)にある方向からの照明光を受けて撮像された標本(卵細胞)像を、図11(b)に照射方向を変えて撮像された標本(卵細胞)像を示す。
コントラスト観察時の空間光変調素子60のパラメータは、スリット幅、スリット部の透過率、スリットの位置である。これらパラメータの調整は、例えば図12に示すようなGUI表示画面上に設けられた、標本Sのコントラスト観察画像を表示する標本画像表示領域71を見ながら、コントラストの調整をするアイコン72や、照明光の照射方向を設定するアイコン73を適宜操作することによって行うことができる。なお、図12に示すGUI表示画面では、パラメータ調整用のアイコン71〜73に加えて、使用する対物レンズを選択設定するアイコン74も備えられており、より最適な状態でコントラスト観察できるようになっている。
以上のように、図4や図8に示す上述の顕微鏡システムに、空間光変調素子60を採用すれば、該素子60上に表示するパターンを調整することにより、明視野観察、暗視野観察、コントラスト観察を任意に選択することができる。また、1回の撮影で、明視野観察の画像と、暗視野観察の画像とを同時に取得することも可能である。
なお、ここまで正立型の顕微鏡について説明してきたが、倒立型の顕微鏡にも適用可能であることは言うまでもない。
10,10´ 照明光学系
10A 透過照明光学系
10B 落射照明光学系
11 光源
12 開口絞り
13 コンデンサレンズ
14 対物レンズ
15 マイクロレンズアレイ
16 撮像素子
20 顕微鏡
30 カメラ
40 コンピュータ
41 制御部
42 駆動部
43 入力装置
44 画像処理部
45 記憶媒体
46 表示制御部
47 ディスプレイ
60 空間光変調素子
S 標本
このような目的を達成するため、本発明に係る顕微鏡システムは、光源から射出された照明光の開口数を規定する開口数規定部材を含む照明光学系と、前記照明光が照射された標本からの光を受光する対物レンズと、前記対物レンズを介して前記標本からの光を受ける位置に配置された複数のマイクロ光学素子からなるマイクロ光学素子アレイと、それぞれの前記マイクロ光学素子に対して複数の画素が割り当てられ、各マイクロ光学素子を介して前記複数の画素でそれぞれ受光した光に基づいて撮像データを生成する撮像素子と、前記撮像素子で生成された撮像データに対して所定の処理を施す画像処理部とを有し、前記画像処理部は、前記照明光の開口数、前記対物レンズの開口数及び焦点距離に応じて、前記各マイクロ光学素子に割り当てられた前記複数の画素のうちから第1の画素領域と第2の画素領域を特定し、前記第1の画素領域で受光した光に基づいて得られた前記撮像データを処理することにより前記標本の第1の画像データを生成し、前記第2の画素領域で受光した光に基づいて得られた前記撮像データを処理することにより前記標本の第2の画像データを生成する。
もう一つの本発明に係る顕微鏡システムは、光源から射出された照明光に対する透過率が互いに異なるスリット状の領域が設定された光学部材を含む照明光学系と、照明光が照射された標本からの光を受光する対物レンズと、前記対物レンズを介して前記標本からの光を受ける位置に配置された複数のマイクロレンズからなるマイクロ光学素子アレイと、それぞれの前記マイクロ光学素子に対して複数の画素が割り当てられ、各マイクロ光学素子を介して前記複数の画素で受光した光に基づき撮像データを生成する撮像素子と、前記撮像素子で生成された撮像データに対して所定の処理を施す画像処理部とを有し、前記画像処理部は、前記スリット状の領域の大きさ、前記対物レンズの開口数及び焦点距離に応じて、各マイクロ光学素子に割り当てられた前記複数の画素うちから前記複数の画素で受光した光に基づいて得られた前記撮像データを処理することにより、前記標本のコントラスト観察画像データを生成し、所定の画素で受光した光に基づいて得られた前記撮像データを処理することにより前記標本の明視野画像データを生成する。
上記の顕微鏡システムにおいて、さらに、前記光学部材は、前記照明光の強度分布を変調する空間光変調素子であり、前記スリット状の領域を任意の位置に設定可能であることが好ましい。

Claims (11)

  1. 光源から射出された照明光の開口数を規定する開口数規定部材を含む照明光学系と、
    前記照明光が照射された標本からの光を集光する対物レンズと、
    前記対物レンズにより集光された前記標本からの光を受ける位置に配置された複数のマイクロ光学素子からなるマイクロ光学素子アレイと、
    それぞれの前記マイクロ光学素子に対して複数の画素が割り当てられ、各マイクロ光学素子を介して前記複数の画素でそれぞれ受光した光に基づいて撮像データを生成する撮像素子と、
    前記撮像素子で生成された撮像データに対して所定の処理を施す画像処理部とを有し、
    前記画像処理部は、前記照明光の開口数に応じて、前記各マイクロ光学素子に割り当てられた前記複数の画素のうち、第1の画素領域で受光した光に基づいて得られた前記撮像データを処理することにより前記標本の第1の画像データを生成し、第2の画素領域で受光した光に基づいて得られた前記撮像データを処理することにより前記標本の第2の画像データを生成することを特徴とする顕微鏡システム。
  2. 前記画像処理部により所定の処理が施された前記撮像データを表示する表示部を有し、
    前記表示部は、前記画像処理部からの出力を受けて、前記第1の画像データ及び前記第2の画像データを同時に表示することを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡システム。
  3. 前記画像処理部は、前記開口数規定部材で規定された前記照明光の開口数と前記対物レンズの開口数及び焦点距離とに応じて、各マイクロ光学素子に割り当てられた複数の画素を、第1の画素領域と第2の画素領域とに分割することを特徴とする請求項1又は2に記載の顕微鏡システム。
  4. 前記開口数規定部材は、可変開口絞りであり、
    前記可変開口絞りの開口部の大きさを調整することにより、前記照明光の開口数を変化させることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の顕微鏡システム。
  5. 前記開口数規定部材は、前記照明光の強度分布を変調する空間光変調素子であり、
    前記空間光変調素子の変調量を調整することにより、前記照明光の開口数を変化させることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の顕微鏡システム。
  6. 前記第1の画像データは明視野画像データであり、前記第2の画像データは暗視野画像データであることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の顕微鏡システム。
  7. 光源から射出された照明光の幾何学的状態を変更可能な光学部材を含む照明光学系と、
    照明光が照射された標本からの光を集光する対物レンズと、
    前記対物レンズにより集光された前記標本からの光を受ける位置に配置された複数のマイクロレンズからなるマイクロ光学素子アレイと、
    それぞれの前記マイクロ光学素子に対して複数の画素が割り当てられ、各マイクロ光学素子を介して前記複数の画素で受光した光に基づき撮像データを生成する撮像素子と、
    前記撮像素子で生成された撮像データに対して所定の処理を施す画像処理部とを有し、
    前記画像処理部は、変更された前記照明光の幾何学的状態に応じて、各マイクロ光学素子に割り当てられた前記複数の画素うち、所定の画素で受光した光に基づいて得られた前記撮像データを処理することにより前記標本の画像データを生成することを特徴とする顕微鏡システム。
  8. 前記光学部材は、前記照明光の強度分布を変調する空間光変調素子であり、
    前記空間光変調素子の変調量を調整することにより、前記照明光の幾何学的状態を変化させることを特徴とする請求項7に記載の顕微鏡システム。
  9. 前記照明光の幾何学的状態の変更は、スリット形状と円形状との変更、スリット形状の位置変更、スリット形状の大きさ変更、円形状の大きさ変更の少なくとも一つであることを特徴とする請求項7又は8に記載の顕微鏡システム。
  10. 前記マイクロ光学素子アレイは、前記標本と略共役な位置に配置され、
    前記撮像素子の撮像面は、前記対物レンズの瞳面と略共役な位置に配置されていることを特徴とする請求項1〜9のいずれか一項に記載の顕微鏡システム。
  11. 前記マイクロ光学素子アレイは、前記対物レンズの瞳面と略共役な位置に配置され、
    前記撮像素子の撮像面は、前記標本と略共役な位置に配置されていることを特徴とする請求項1〜9のいずれか一項に記載の顕微鏡システム。
JP2012552670A 2011-01-12 2012-01-10 顕微鏡システム Expired - Fee Related JP5532459B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2012552670A JP5532459B2 (ja) 2011-01-12 2012-01-10 顕微鏡システム

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011003652 2011-01-12
JP2011003652 2011-01-12
PCT/JP2012/000083 WO2012096153A1 (ja) 2011-01-12 2012-01-10 顕微鏡システム
JP2012552670A JP5532459B2 (ja) 2011-01-12 2012-01-10 顕微鏡システム

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2012096153A1 true JPWO2012096153A1 (ja) 2014-06-09
JP5532459B2 JP5532459B2 (ja) 2014-06-25

Family

ID=46507062

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2012552670A Expired - Fee Related JP5532459B2 (ja) 2011-01-12 2012-01-10 顕微鏡システム

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9678324B2 (ja)
JP (1) JP5532459B2 (ja)
WO (1) WO2012096153A1 (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US8928973B2 (en) 2011-12-16 2015-01-06 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Microscope apparatus for phase image acquisition
DK3004838T3 (da) * 2013-05-28 2022-06-20 Chemometec As Billeddannende cytometer
WO2017175303A1 (ja) 2016-04-05 2017-10-12 オリンパス株式会社 標本形状測定方法及び標本形状測定装置
RU2632694C1 (ru) * 2016-11-18 2017-10-09 Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Научный центр психического здоровья" Устройство для определения функциональной активности комплемента
WO2019032824A1 (en) 2017-08-09 2019-02-14 Arizona Board Of Regents On Behalf Of Arizona State University BLACK BACKGROUND MICROSCOPE APPARATUS USING PORTABLE ELECTRONIC COMMUNICATION DEVICE <i />
US10634618B2 (en) * 2018-01-23 2020-04-28 Hong Kong Applied Science and Technology Research Institute Company Limited Apparatus and a method for inspecting a light transmissible optical component
DE102018128083A1 (de) * 2018-11-09 2020-05-14 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskopisches Durchlichtkontrastierverfahren
CN113260894B (zh) * 2018-12-28 2023-04-04 仪景通株式会社 显微镜系统
CN111474699B (zh) * 2020-04-09 2022-08-30 浙江未来技术研究院(嘉兴) 一种可编程孔径的手术显微镜

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6078380A (en) * 1991-10-08 2000-06-20 Nikon Corporation Projection exposure apparatus and method involving variation and correction of light intensity distributions, detection and control of imaging characteristics, and control of exposure
US5717518A (en) * 1996-07-22 1998-02-10 Kla Instruments Corporation Broad spectrum ultraviolet catadioptric imaging system
TW357262B (en) * 1996-12-19 1999-05-01 Nikon Corp Method for the measurement of aberration of optical projection system, a mask and a exposure device for optical project system
JP2001125002A (ja) 1999-10-27 2001-05-11 Olympus Optical Co Ltd 照明装置及び照明装置を備えた顕微鏡システム
JP4020714B2 (ja) * 2001-08-09 2007-12-12 オリンパス株式会社 顕微鏡
US7525659B2 (en) * 2003-01-15 2009-04-28 Negevtech Ltd. System for detection of water defects
JP4826152B2 (ja) * 2005-06-23 2011-11-30 株式会社ニコン 画像合成方法及び撮像装置
JP4968527B2 (ja) * 2007-07-10 2012-07-04 ソニー株式会社 撮像装置
JP4905326B2 (ja) 2007-11-12 2012-03-28 ソニー株式会社 撮像装置
JP4706882B2 (ja) * 2009-02-05 2011-06-22 ソニー株式会社 撮像装置
JP2010256623A (ja) * 2009-04-24 2010-11-11 Olympus Corp 顕微鏡観察装置
US8724000B2 (en) * 2010-08-27 2014-05-13 Adobe Systems Incorporated Methods and apparatus for super-resolution in integral photography

Also Published As

Publication number Publication date
US20130293698A1 (en) 2013-11-07
WO2012096153A1 (ja) 2012-07-19
US9678324B2 (en) 2017-06-13
JP5532459B2 (ja) 2014-06-25

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5532459B2 (ja) 顕微鏡システム
TWI558997B (zh) 缺陷觀察方法及其裝置
US7723662B2 (en) Microscopy arrangements and approaches
CN107526156B (zh) 光片显微镜以及用于运行光片显微镜的方法
US9810896B2 (en) Microscope device and microscope system
JP4894161B2 (ja) 共焦点顕微鏡
JPH10206740A (ja) 共焦点装置
US9798129B2 (en) Microscope system and method for deciding stitched area
JP2012073285A (ja) 撮像方法および顕微鏡装置
JP2015152836A (ja) 共焦点光スキャナ
JP6147079B2 (ja) 顕微鏡システム、貼り合わせ領域の決定方法、及び、プログラム
JP2017151415A (ja) 走査型光学ユニットを用いた光照射野の画像化
JP2016212154A (ja) 走査型顕微鏡システム
JP6071177B2 (ja) 顕微鏡、画像取得装置及び画像取得システム
JP6867916B2 (ja) 観察装置
JP5019279B2 (ja) 共焦点顕微鏡及び合焦カラー画像の生成方法
JP2018194634A (ja) ライトフィールド顕微鏡
JP7197431B2 (ja) 光学機器の調整方法、光学システム
JP2008032951A (ja) 光学装置
JP2012181341A (ja) 顕微鏡装置
US20140071262A1 (en) Image acquisition apparatus and image acquisition system
JP2009250685A (ja) 距離測定装置および距離測定方法
JP2011085494A (ja) 表面検査装置
JP6255305B2 (ja) 光学顕微装置
JP2012098351A (ja) 画像取得装置および画像取得システム

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140328

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140410

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5532459

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees