JPWO2012096153A1 - 顕微鏡システム - Google Patents
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Abstract
Description
Metal Oxide Semiconductor)センサなどであり、マイクロレンズアレイ15を構成する各マイクロレンズMLを通過した光を受光するように、各マイクロレンズMLに対応して所定数の画素が割り当てられている。1つのマイクロレンズMLがカバーする画素の数は、例えば8×8個であり、個々のマイクロレンズMLを透過した光束をそれらの画素で受光する。
10A 透過照明光学系
10B 落射照明光学系
11 光源
12 開口絞り
13 コンデンサレンズ
14 対物レンズ
15 マイクロレンズアレイ
16 撮像素子
20 顕微鏡
30 カメラ
40 コンピュータ
41 制御部
42 駆動部
43 入力装置
44 画像処理部
45 記憶媒体
46 表示制御部
47 ディスプレイ
60 空間光変調素子
S 標本
Claims (11)
- 光源から射出された照明光の開口数を規定する開口数規定部材を含む照明光学系と、
前記照明光が照射された標本からの光を集光する対物レンズと、
前記対物レンズにより集光された前記標本からの光を受ける位置に配置された複数のマイクロ光学素子からなるマイクロ光学素子アレイと、
それぞれの前記マイクロ光学素子に対して複数の画素が割り当てられ、各マイクロ光学素子を介して前記複数の画素でそれぞれ受光した光に基づいて撮像データを生成する撮像素子と、
前記撮像素子で生成された撮像データに対して所定の処理を施す画像処理部とを有し、
前記画像処理部は、前記照明光の開口数に応じて、前記各マイクロ光学素子に割り当てられた前記複数の画素のうち、第1の画素領域で受光した光に基づいて得られた前記撮像データを処理することにより前記標本の第1の画像データを生成し、第2の画素領域で受光した光に基づいて得られた前記撮像データを処理することにより前記標本の第2の画像データを生成することを特徴とする顕微鏡システム。 - 前記画像処理部により所定の処理が施された前記撮像データを表示する表示部を有し、
前記表示部は、前記画像処理部からの出力を受けて、前記第1の画像データ及び前記第2の画像データを同時に表示することを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡システム。 - 前記画像処理部は、前記開口数規定部材で規定された前記照明光の開口数と前記対物レンズの開口数及び焦点距離とに応じて、各マイクロ光学素子に割り当てられた複数の画素を、第1の画素領域と第2の画素領域とに分割することを特徴とする請求項1又は2に記載の顕微鏡システム。
- 前記開口数規定部材は、可変開口絞りであり、
前記可変開口絞りの開口部の大きさを調整することにより、前記照明光の開口数を変化させることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の顕微鏡システム。 - 前記開口数規定部材は、前記照明光の強度分布を変調する空間光変調素子であり、
前記空間光変調素子の変調量を調整することにより、前記照明光の開口数を変化させることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一項に記載の顕微鏡システム。 - 前記第1の画像データは明視野画像データであり、前記第2の画像データは暗視野画像データであることを特徴とする請求項1〜5のいずれか一項に記載の顕微鏡システム。
- 光源から射出された照明光の幾何学的状態を変更可能な光学部材を含む照明光学系と、
照明光が照射された標本からの光を集光する対物レンズと、
前記対物レンズにより集光された前記標本からの光を受ける位置に配置された複数のマイクロレンズからなるマイクロ光学素子アレイと、
それぞれの前記マイクロ光学素子に対して複数の画素が割り当てられ、各マイクロ光学素子を介して前記複数の画素で受光した光に基づき撮像データを生成する撮像素子と、
前記撮像素子で生成された撮像データに対して所定の処理を施す画像処理部とを有し、
前記画像処理部は、変更された前記照明光の幾何学的状態に応じて、各マイクロ光学素子に割り当てられた前記複数の画素うち、所定の画素で受光した光に基づいて得られた前記撮像データを処理することにより前記標本の画像データを生成することを特徴とする顕微鏡システム。 - 前記光学部材は、前記照明光の強度分布を変調する空間光変調素子であり、
前記空間光変調素子の変調量を調整することにより、前記照明光の幾何学的状態を変化させることを特徴とする請求項7に記載の顕微鏡システム。 - 前記照明光の幾何学的状態の変更は、スリット形状と円形状との変更、スリット形状の位置変更、スリット形状の大きさ変更、円形状の大きさ変更の少なくとも一つであることを特徴とする請求項7又は8に記載の顕微鏡システム。
- 前記マイクロ光学素子アレイは、前記標本と略共役な位置に配置され、
前記撮像素子の撮像面は、前記対物レンズの瞳面と略共役な位置に配置されていることを特徴とする請求項1〜9のいずれか一項に記載の顕微鏡システム。 - 前記マイクロ光学素子アレイは、前記対物レンズの瞳面と略共役な位置に配置され、
前記撮像素子の撮像面は、前記標本と略共役な位置に配置されていることを特徴とする請求項1〜9のいずれか一項に記載の顕微鏡システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2012552670A JP5532459B2 (ja) | 2011-01-12 | 2012-01-10 | 顕微鏡システム |
Applications Claiming Priority (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011003652 | 2011-01-12 | ||
JP2011003652 | 2011-01-12 | ||
PCT/JP2012/000083 WO2012096153A1 (ja) | 2011-01-12 | 2012-01-10 | 顕微鏡システム |
JP2012552670A JP5532459B2 (ja) | 2011-01-12 | 2012-01-10 | 顕微鏡システム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2012096153A1 true JPWO2012096153A1 (ja) | 2014-06-09 |
JP5532459B2 JP5532459B2 (ja) | 2014-06-25 |
Family
ID=46507062
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012552670A Expired - Fee Related JP5532459B2 (ja) | 2011-01-12 | 2012-01-10 | 顕微鏡システム |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9678324B2 (ja) |
JP (1) | JP5532459B2 (ja) |
WO (1) | WO2012096153A1 (ja) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8928973B2 (en) | 2011-12-16 | 2015-01-06 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Microscope apparatus for phase image acquisition |
DK3004838T3 (da) * | 2013-05-28 | 2022-06-20 | Chemometec As | Billeddannende cytometer |
WO2017175303A1 (ja) | 2016-04-05 | 2017-10-12 | オリンパス株式会社 | 標本形状測定方法及び標本形状測定装置 |
RU2632694C1 (ru) * | 2016-11-18 | 2017-10-09 | Федеральное государственное бюджетное научное учреждение "Научный центр психического здоровья" | Устройство для определения функциональной активности комплемента |
WO2019032824A1 (en) | 2017-08-09 | 2019-02-14 | Arizona Board Of Regents On Behalf Of Arizona State University | BLACK BACKGROUND MICROSCOPE APPARATUS USING PORTABLE ELECTRONIC COMMUNICATION DEVICE <i /> |
US10634618B2 (en) * | 2018-01-23 | 2020-04-28 | Hong Kong Applied Science and Technology Research Institute Company Limited | Apparatus and a method for inspecting a light transmissible optical component |
DE102018128083A1 (de) * | 2018-11-09 | 2020-05-14 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Mikroskopisches Durchlichtkontrastierverfahren |
CN113260894B (zh) * | 2018-12-28 | 2023-04-04 | 仪景通株式会社 | 显微镜系统 |
CN111474699B (zh) * | 2020-04-09 | 2022-08-30 | 浙江未来技术研究院(嘉兴) | 一种可编程孔径的手术显微镜 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6078380A (en) * | 1991-10-08 | 2000-06-20 | Nikon Corporation | Projection exposure apparatus and method involving variation and correction of light intensity distributions, detection and control of imaging characteristics, and control of exposure |
US5717518A (en) * | 1996-07-22 | 1998-02-10 | Kla Instruments Corporation | Broad spectrum ultraviolet catadioptric imaging system |
TW357262B (en) * | 1996-12-19 | 1999-05-01 | Nikon Corp | Method for the measurement of aberration of optical projection system, a mask and a exposure device for optical project system |
JP2001125002A (ja) | 1999-10-27 | 2001-05-11 | Olympus Optical Co Ltd | 照明装置及び照明装置を備えた顕微鏡システム |
JP4020714B2 (ja) * | 2001-08-09 | 2007-12-12 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡 |
US7525659B2 (en) * | 2003-01-15 | 2009-04-28 | Negevtech Ltd. | System for detection of water defects |
JP4826152B2 (ja) * | 2005-06-23 | 2011-11-30 | 株式会社ニコン | 画像合成方法及び撮像装置 |
JP4968527B2 (ja) * | 2007-07-10 | 2012-07-04 | ソニー株式会社 | 撮像装置 |
JP4905326B2 (ja) | 2007-11-12 | 2012-03-28 | ソニー株式会社 | 撮像装置 |
JP4706882B2 (ja) * | 2009-02-05 | 2011-06-22 | ソニー株式会社 | 撮像装置 |
JP2010256623A (ja) * | 2009-04-24 | 2010-11-11 | Olympus Corp | 顕微鏡観察装置 |
US8724000B2 (en) * | 2010-08-27 | 2014-05-13 | Adobe Systems Incorporated | Methods and apparatus for super-resolution in integral photography |
-
2012
- 2012-01-10 JP JP2012552670A patent/JP5532459B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2012-01-10 WO PCT/JP2012/000083 patent/WO2012096153A1/ja active Application Filing
-
2013
- 2013-07-02 US US13/933,670 patent/US9678324B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20130293698A1 (en) | 2013-11-07 |
WO2012096153A1 (ja) | 2012-07-19 |
US9678324B2 (en) | 2017-06-13 |
JP5532459B2 (ja) | 2014-06-25 |
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JP2012098351A (ja) | 画像取得装置および画像取得システム |
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