JPWO2008075445A1 - 原子吸光分光光度計 - Google Patents

原子吸光分光光度計 Download PDF

Info

Publication number
JPWO2008075445A1
JPWO2008075445A1 JP2008550033A JP2008550033A JPWO2008075445A1 JP WO2008075445 A1 JPWO2008075445 A1 JP WO2008075445A1 JP 2008550033 A JP2008550033 A JP 2008550033A JP 2008550033 A JP2008550033 A JP 2008550033A JP WO2008075445 A1 JPWO2008075445 A1 JP WO2008075445A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
transmittance
atomic absorption
absorption spectrophotometer
lamp
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2008550033A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4853522B2 (ja
Inventor
克己 原田
克己 原田
加寿雄 杉原
加寿雄 杉原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
Priority to JP2008550033A priority Critical patent/JP4853522B2/ja
Publication of JPWO2008075445A1 publication Critical patent/JPWO2008075445A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4853522B2 publication Critical patent/JP4853522B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/27Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands using photo-electric detection ; circuits for computing concentration
    • G01N21/274Calibration, base line adjustment, drift correction
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/3103Atomic absorption analysis
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/314Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
    • G01N21/3151Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths using two sources of radiation of different wavelengths

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Toxicology (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

測定部(7)を空とし、減光装置(3)と減光装置(4)の透過率を最大(100%近傍)に設定した状態における、プリアンプ(11)の出力電圧(光源1に対応する値Paと光源2に対応する値Pb)が、記憶部(16)に保存される。適正透過率計算部(17)はPaとPb比較し、小さい方をPsとし、減光装置(3)の適正透過率(Ps/Pa)×100と減光装置(4)の適正透過率(Ps/Pb)×100を計算する。制御部(15)は、減光装置(3)と減光装置(4)の透過率をそれぞれ前記適正透過率に設定する。その結果、プリアンプ(11)の出力電圧(光源(1)と光源(2)に対応する値)がともにPsとなる。このPsの値は、光電検知器(10)の感度が変更され最適化される。これにより、SN比の悪化が小さく、ランプの光量を不安定にしたり寿命を短くすることなく、同時に使用される複数のランプ(光源)の光量を均等化することができる。

Description

本発明は原子吸光分光光度計に関し、さらに詳しくは、複数の光源、例えばホロカソードランプ及び重水素ランプを同時に使用する原子吸光分光光度計に関する。
複数の光源を同時に使用する原子吸光分光光度計として、例えば、ホロカソードランプと重水素ランプを併設してバックグランド吸収の補正をする機能を備えた原子吸光分光光度計がある。この装置では、ホロカソードランプを出射した光束と重水素ランプを出射した光束とは例えばビームコンバイナにより一つにされ、分析試料溶液を霧化し原子化した空間を通過した後に、分光器に導入されて必要な波長域の光となる。そして、その光は光電検知器に入射し、光の強さに比例した電気信号に変換され、さらに対数変換される。ホロカソードランプからの光束はバックグランドと分析目的の原子とにより吸収され、重水素ランプからの光束はバックグランドにより吸収される(原子による吸収は波長域が狭いため無視できる)。対数変換された信号は吸収の強さに比例するので、両光束の強さ(光量)に比例した電気信号を対数変換した信号の差は、バックグランド吸収の影響が除去され、原子による吸収の強さに比例する。
ところで、上記のように信号を対数変換するための対数変換回路は適切に動作し得る信号範囲が限られており、信号が小さ過ぎると変換精度が低下する。そのため、対数変換回路に入力する、ホロカソードランプからの光を光電変換した電気信号の大きさと、重水素ランプからの光を光電変換した電気信号の大きさとを、できるだけ均等にする必要がある。そこで、従来の装置では、(1)それぞれのランプに対応する電気回路の増幅率を調整して両ランプに対応する電気信号の大きさを均等にするか、(2)それぞれのランプに供給する電力を調整して両ランプに対応する電気信号の大きさを均等にするか、或いは、(3)それぞれのランプとビームコンバイナとの間に透過率が段階的に変化する減光装置を配設し、両ランプの光量を調整することで電気信号の大きさを均等にしている。
ホロカソードランプからの光量と重水素ランプからの光量が大きく相違していると、光量の多い方に光電検知器(例えば光電子増倍管)の感度が合わされるので、光量の少ない方の信号のSN比は悪化することになる。そこで、光量損失を少なくして、ホロカソードランプと重水素ランプの光量を容易にバランスさせることができるようなビームコンバイナが提案されている(例えば特許文献1参照)。
特開昭60−37518号公報
上記(1)〜(3)の方法にはいずれにも欠点がある。即ち、それぞれのランプに対応する電気回路の増幅率を調整して両ランプに対応する電気信号の大きさを均等にする場合には、光量が少ないほうのランプの電気回路の増幅率が高くなってノイズも増大し、測定結果のSN比が悪化する。また、それぞれのランプに供給する電力を調整して両ランプに対応する電気信号の大きさを均等にする場合には、ランプの仕様範囲外で使用するおそれがあり、その場合には光量が不安定になったり寿命が短くなったりする。さらにまた、それぞれのランプとビームコンバイナとの間に透過率が段階的に変化する減光装置を配設し両ランプの光量を調整し電気信号の大きさを均等にする場合には、特定のランプで光量が均等化されても、光量が相違する別のランプでは均等化されないことがある。
本発明は上記課題を解決するためになされたものであって、その目的とするところは、SN比の悪化が小さく、ランプの光量を不安定にしたり寿命を短くしたりすることなく、同時に使用される複数のランプ(光源)の光量を均等化することができる原子吸光分光光度計を提供することにある。
上記課題を解決するためになされた第1発明は、複数の光源と、これらの光源から出射する複数の光束を一つにするビームコンバイナと、を有する原子吸光分光光度計において、
a)前記複数の光源と前記ビームコンバイナとの間のそれぞれの光束路に配設された、透過率が連続可変である複数の減光手段と、
b)前記複数の減光手段のそれぞれの透過率が最大のときの各光源の最大光量を記憶する記憶手段と、
c)前記各光源の最大光量より各減光手段の適正透過率を計算する計算手段と、
d)各減光手段の透過率を前記適正透過率になるように設定する設定手段と、
を備えることを特徴としている。
第1発明に係る原子吸光分光光度計において、前記複数の光源は、重水素ランプと、ホロカソードランプとであるものとすることができる。
また上記課題を解決するためになされた第2発明は、重水素ランプと、ホロカソードランプと、これらのランプから出射する2つの光束を一つにするビームコンバイナと、を有する原子吸光分光光度計において、
a)前記重水素ランプと前記ビームコンバイナとの間の光束路に配設された透過率可変の減光手段と、
b)前記減光手段の透過率が最大のときの各ランプの最大光量を記憶する記憶手段と、
c)前記各ランプの最大光量より前記減光手段の適正透過率を計算する計算手段と、
d)前記減光手段の透過率を前記適正透過率になるように設定する設定手段と、
を備えることを特徴としている。
第1発明及び第2発明に係る原子吸光分光光度計ではいずれも、上記各手段の作用により各光源(ホロカソードランプと重水素ランプ)の光量がほぼ均等になる。この複数のランプ(光源)の光量の均等化は、多種類のランプに適用でき、SN比が良好であって、ランプの光量を不安定にしたり寿命を短くしたりすることなく機能し、精度が良好で効率の良い原子吸光分光分析が行える。
本発明の一実施例(第1実施例)である原子吸光分光光度計の概略構成図。 本実施例の原子吸光分光光度計における減光装置に搭載される光学フィルタの概要を示す図。 本発明の変形例である原子吸光分光光度計における減光装置に搭載される光学フィルタの概要を示す図。 変形例の減光装置の概要を示す図。 変形例の減光装置に搭載される減光素子(直線配置型)の概要を示す図。 変形例の減光装置に搭載される減光素子(円形配置型)の概要を示す図。 本発明の別の実施例(第2実施例)である原子吸光分光光度計の概略構成図。 第2実施例の原子吸光分光光度計における減光アッテネータの概要を示す図。
符号の説明
1…第1光源
2…第2光源
3…第1減光装置
4…第2減光装置(減光装置)
5…ビームコンバイナ
6、8…ミラー
7…測定部
9…分光器
10…光電検知器
11…プリアンプ
12…対数変換回路
13…表示器
14…A/D変換器
15…制御部
16…記憶部
17…適正透過率計算部
18…減光装置駆動部
19…駆動機構
20…減光アッテネータ
31、32…光学フィルタ
33…石英ガラス
34…駆動モータ
35、36…減光素子
第1発明及び第2発明に係る原子吸光分光光度計の一実施形態において、減光手段は、対波長吸収特性がほぼフラットで透過率が連続的に変化する光学フィルタと、この適正箇所を光源からの光束が通過する位置に移動させる駆動手段と、により構成されるものとすることができる。
透過率が直線方向に変化する光学フィルタの場合には、上記駆動手段はステッピングモータと例えばラック及びピニオンを含む直線駆動機構とにより構成されるものとすることができる。一方、透過率が円周方向に変化する光学フィルタの場合には、上記駆動部はステッピングモータで構成されるものとすることができる。
[第1実施例]
本発明の一実施例(第1実施例)による原子吸光分光光度計を図1及び図2を参照して説明する。図1は、第1実施例の原子吸光分光光度計の概略構成図である。図2は、第1実施例の原子吸光分光光度計に含まれる減光装置に搭載される光学フィルタの概要を示す図である。
図1において、第1光源1はホロカソードランプで構成され、例えば60Hzで間欠的に点灯される。第2光源2は重水素ランプで構成され、第1光源1が点灯されていないときに点灯するように間欠的に点灯される。第1減光装置3は第1光源1とビームコンバイナ5との間に配設され、第2減光装置4は第2光源2とビームコンバイナ5との間に配設される。
第1光源1から出射した光束と第2光源2から出射した光束は、ハーフミラーで構成されるビームコンバイナ5で一つになり、ミラー6で方向を変えてファーネス原子化部である測定部7を通過する。その光は、さらに別のミラー8で方向を変え、分光器9に導入され必要な波長域の光だけが選択されて、例えば光電子増倍管で構成される光電検知器10に入射して電流信号に変換される。光電検知器10の電流信号は、プリアンプ11で大きさが光量に比例した電圧信号になる。プリアンプ11の出力信号は、第1光源1に対応した信号と第2光源2に対応した信号とが交互に出現しており、各光源1、2の点灯期間に同期してサンプリングされて両者が分離される。プリアンプ11の出力信号は対数変換回路12で対数変換され、測定部7において試料溶液が霧化し原子化した空間での光の吸収に比例した信号となる。この信号のうち第1光源1に対応した信号は前記空間のバックグランドと分析目的の原子とによる吸収に比例し、第2光源2に対応した信号はバックグランドによる吸収(原子による吸収は波長域が狭いため無視できる)に比例する。表示器13は、バッググランドによる吸収の補正を行い、分析目的の原子の濃度計算をして表示する。
第1減光装置3及び第2減光装置4はそれぞれ、ガラス等の基材に混入する金属等の濃度の横方向変化により、透過率が直線方向に連続的に変化する光学フィルタ31(図2参照)と、これをラック及びピニオンを介して直線方向に移動させるステッピングモータとを含んで構成される。第1減光装置3の透過率とステッピングモータの駆動ステップ数との関係は次の式(1)で表され、第2減光装置4の同じ関係については式(2)で表され、これらの式(1)及び式(2)は記憶部16に保存されている。
Ta=Ka×Na …(1)
Tb=Kb×Nb …(2)
ここで、Ta:第1減光装置3の透過率、Ka:定数、Na:第1減光装置3のステッピングモータへの駆動ステップ数、Tb:第2減光装置4の透過率、Kb:定数、Nb:第2減光装置4のステッピングモータへの駆動ステップ数、である。したがって、第1減光装置3又は第2減光装置4を目的の透過率に設定するとき、制御部15は減光装置駆動部18を介して第1減光装置3又は第2減光装置4のステッピングモータを式(1)又は式(2)で決まるステップ数だけ駆動する。
測定部7を空とし、第1減光装置3及び第2減光装置4の透過率を最大(100%近傍)に設定した状態で、プリアンプ11の出力電圧をA/D変換器14でA/D変換した値のうち第1光源1に対応する値Paと第2光源2に対応する値Pbとが、制御部15を介して記憶部16に保存される。適正透過率計算部17は制御部15を介してPaとPbを記憶部16から読み出し、小さいほうをPsとし、第1減光装置3の適正透過率T1=(Ps/Pa)×100と、第2減光装置4の適正透過率T2=(Ps/Pb)×100と、を計算する。
制御部15は、適正透過率計算部17が計算した適性透過率T1、T2を読み取り、減光装置駆動部18を介して第1減光装置3の透過率をT1=(Ps/Pa)×100に、第2減光装置4の透過率をT2=(Ps/Pb)×100に設定する。その結果、プリアンプ11の出力電圧(A/D変換値)の第1光源1に対応する値はPa×(Ps/Pa)=Psとなり、第2光源2に対応する値はPb×(Ps/Pb)=Psとなって、両光源1、2の光量は均等化される。ここで、第1減光装置3と第2減光装置4とに設定できる最大透過率は光学フィルタ31の表面反射の影響等により100%ではないが、誤差はたかだか数%程度であり、光量の均等化の性能には殆ど影響を及ぼさない。また、Psの値は、対数変換回路12が精度良く対数変換できる大きさになるように光電検知器10の感度が変更されることで最適化される。
第1実施例の原子吸光分光光度計は上記構成を有しているため、第1光源1と第2光源2の光量の均等化は、多種類のランプに適用することができ、SN比が良好で、ランプの光量を不安定にしたり寿命を短くしたりすることなく機能し、バッググランド吸収が的確に補正され、精度が良好で効率の良い原子吸光分光分析が行える装置を提供することができる。
第1発明に係る原子吸光分光光度計は上記第1実施例の記載に限定されない。例えば上記実施例においては、配設される光源の数Nは2個であるが、Nが3個以上の光源で構成される場合でも、N−1個のビームコンバイナ5を配設しN個の光源の光束を一つにすることにより、本発明を適用することが可能である。
また、第1減光装置3と第2減光装置4とはいずれも、光学フィルタ31と、これをラックとピニオンを介して直線方向に移動させるステッピングモータとで構成されるが、光学フィルタ31の代わりに、ガラス等の基材に混入する金属等の濃度の円周方向変化により、透過率が円周方向に連続的に変化する光学フィルタ32(図3参照)と、ラックとピニオンを削除し、光学フィルタ32を直接、円周方向に移動させるステッピングモータで構成される減光装置で置き換える構成としてもよい。
また上記実施例では、第1減光装置3と第2減光装置4は、光学フィルタ31と、これをラックとピニオンを介して直線方向に移動させるステッピングモータとで構成されるが、図4に示すように、入射角が大きくなると物質の反射率が大きくなり透過率が小さくなる性質を利用した減光装置、即ち、入射角θを以て光路中に配設される高い透過率を持つ光学素子、例えば石英ガラス33と、この入射角θを制御する駆動モータ34とで構成される減光装置で置き換える構成としてもよい。
また上記実施例では、第1減光装置3と第2減光装置4は、光学フィルタ31を含んで構成されているが、光学フィルタ31の代わりに、薄板に細かな開口を多数設け横方向にこの開口の径や単位面積あたりの孔数を変化させたことにより透過率が横方向に連続的に変化する減光素子35(図5参照)で構成される減光装置で置き換えてる構成としてもよい。
また上記実施例では、第1減光装置3と第2減光装置4とは、光学フィルタ31と、これをラックとピニオンを介して直線方向に移動させるステッピングモータとで構成されるが、光学フィルタ31の代わりに、薄板に細かな開口を多数設け円周方向にこの開口の径や単位面積あたりの孔数を変化させたことにより透過率が円周方向に連続的に変化する減光素子36(図6参照)と、ラックとピニオンを削除し、減光素子36を直接、円周方向に移動させるステッピングモータで構成される減光装置で置き換える構成としてもよい。
このように、第1発明に係る原子吸光分光光度計は種々の構成とすることができ、第1発明はこれら変形例を包含する。
[第2実施例]
次に、本発明の別の実施例(第2実施例)による原子吸光分光光度計を図7及び図8を参照して説明する。図7は第2実施例の原子吸光分光光度計の概略構成図である。図8は第2実施例の原子吸光分光光度計における減光アッテネータ20の概要を示す図である。上記第1実施例と同じ又は相当する構成要素には同じ符号を付して、詳しい説明を省略する。
この第2実施例の構成では、第1実施例における第2減光装置4に相当する減光装置4は、重水素ランプである第2光源2とビームコンバイナ5との間の光束路に配設された減光アッテネータ20と、これを横方向に移動するラック、ピニオン及びステッピングモータで構成された駆動機構19と、を含む。減光アッテネータ20は、第1実施例における光学フィルタに相当するものであり、透過率が段階的に相違する複数のフィルタが横方向に配設された構造である(図8参照)。減光アッテネータ20の透過率と駆動機構19のステッピングモータのステップ数との関係は次の式(3)で表わされ、この式が記憶部16に保存されている。
Ta=Ka×Na …(3)
ここで、Ta:減光アッテネータ20の透過率、Ka:定数、Na:駆動機構19のステッピングモータのステップ数、である。したがって、減光アッテネータ20を目的の透過率に設定するときには、制御部15は減光装置駆動部18を介して駆動機構19のステッピングモータを式(3)で決まるステップ数になるように駆動する。
測定部7を空とし、減光アッテネータ20の透過率を最大(100%近傍)に設定した状態で、プリアンプ11の出力電圧をA/D変換器14でA/D変換した値のうち第1光源(ホロカソードランプ)1に対応する値Phと第2光源(重水素ランプ)2に対応する値Pdが、制御部15を介して記憶部16に保存される。適正透過率計算部17は制御部15を介してPhとPdを記憶部16から読み出し、減光アッテネータ20の適正透過率T3=(Ph/Pd)×Kbを計算する。ここで、Kb:最適なPh/Pd倍率である。
制御部15は、適正透過率計算部17が計算した適正透過率T3を読み取り、減光装置駆動部18を介して駆動機構19のステッピングモータを駆動し、減光アッテネータ20の透過率をT3=(Ph/Pd)×Kbに設定する。その結果、プリアンプ11の出力電圧(A/D変換値)の第1光源1に対応する値はPhを維持し、一方、第2光源2に対応する値はPd×(Ph/Pd)×Kb=Ph×Kbとなって、両光源1、2の光量は最適化される。
ここで、減光アッテネータ20の透過率は段階的に変化するため、必ずしも適正透過率T3=(Ph/Pd)×Kbに一致しない場合があるが、その場合には適正透過率T3に最も近い透過率が選定されて設定される。また、減光アッテネータ20に設定できる最大透過率は表面反射の影響等で100%ではないが、その誤差はたかだか数%程度であり、光量の均等化の性能には殆ど影響を及ぼさない。また、Phの値は、対数変換回路12が精度良く対数変換できる大きさになるように光電検知器10の感度が変更されることで最適化される。
本実施例の原子吸光分光光度計では、第2光源2の光量に対し第1光源1の光量が極端に小さくなるような元素、例えば砒素、セレン、スズ等においてSN比の改善が認められる。例えば第1光源1として砒素のホロカソードランプを使用した場合、減光アッテネータ20の透過率はおおよそ11%に設定され、ベースライン測定の標準偏差は0.0011Abs程度である。
第2実施例の原子吸光分光光度計は上記構成を有しているため、第1光源1と第2光源2の光量の均等化は、多種類の元素のランプに適用することができ、SN比が良好で分析の定量下限や検出下限が向上し、ランプの光量を不安定にしたり寿命を短くしたりすることなく機能し、バッググランド吸収が的確に補正され、精度が良好で効率の良い原子吸光分光分析が行える装置を提供することができる。
なお、図7に示す構成ではシングルビームの光学系を採用しているが、ダブルビームの光学系を採用した原子吸光分光光度計に対しても本発明を適用することができることは明らかである。また、測定部7をファーネス原子化部とする代わりに、フレーム熱により試料溶液を霧化し原子化させる構成としてもよい。これは第1実施例についても同様である。
また、第2実施例においては、減光アッテネータ20が、ラック、ピニオン及びステッピングモータ等で構成される駆動機構19で直線方向に移動される構成としているが、減光アッテネータ20を透過率が円周方向に段階的に変化する光学素子で置き換え、ラックとピニオンを削除し、ステッピングモータで構成される駆動手段でこの光学素子を円周方向に移動させる構成としてもよい。
また、第2実施例では、減光アッテネータ20は、透過率が段階的に変化する複数の光学フィルタで構成されているが、減光アッテネータ20を、ガラス等の基材に混入する金属等の濃度の横方向変化により透過率が横方向に連続的に変化する光学素子、つまり第1実施例で採用した光学フィルタで置き換えてもよい。
このように、第2発明に係る原子吸光分光光度計も種々の構成とすることができ、第2発明はこれら変形例を包含する。

Claims (8)

  1. 複数の光源と、これらの光源から出射する複数の光束を一つにするビームコンバイナと、を有する原子吸光分光光度計において、
    a)前記複数の光源と前記ビームコンバイナとの間のそれぞれの光束路に配設された、透過率が連続可変である複数の減光手段と、
    b)前記複数の減光手段のそれぞれの透過率が最大のときの各光源の最大光量を記憶する記憶手段と、
    c)前記各光源の最大光量より各減光手段の適正透過率を計算する計算手段と、
    d)各減光手段の透過率を前記適正透過率になるように設定する設定手段と、
    を備えることを特徴とする原子吸光分光光度計。
  2. 請求項1に記載の原子吸光分光光度計であって、前記複数の光源は、重水素ランプと、ホロカソードランプとであることを特徴とする原子吸光分光光度計。
  3. 請求項1に記載の原子吸光分光光度計であって、前記計算手段は、前記各光源の最大光量の中で最小のものを基準光量とし、該基準光量と光源の最大光量とから該光源に対応する減光手段の適正透過率を計算することを特徴とする原子吸光分光光度計。
  4. 重水素ランプと、ホロカソードランプと、これらのランプから出射する2つの光束を一つにするビームコンバイナと、を有する原子吸光分光光度計において、
    a)前記重水素ランプと前記ビームコンバイナとの間の光束路に配設された透過率可変の減光手段と、
    b)前記減光手段の透過率が最大のときの各ランプの最大光量を記憶する記憶手段と、
    c)前記各ランプの最大光量より前記減光手段の適正透過率を計算する計算手段と、
    d)前記減光手段の透過率を前記適正透過率になるように設定する設定手段と、
    を備えることを特徴とする原子吸光分光光度計。
  5. 請求項1又は4に記載の原子吸光分光光度計であって、前記減光手段は、対波長吸収特性がほぼフラットで透過率が連続的に変化する光学フィルタと、該光学フィルタの適正箇所を光源又はランプからの光束が通過する位置に移動させる駆動手段と、を含むことを特徴とする原子吸光分光光度計。
  6. 請求項5に記載の原子吸光分光光度計であって、前記光学フィルタは透過率が直線方向に変化するものであり、前記駆動手段はステッピングモータと直線駆動機構とを含むことを特徴とする原子吸光分光光度計。
  7. 請求項6に記載の原子吸光分光光度計であって、前記直線駆動機構はラックとピニオンとを含むことを特徴とする原子吸光分光光度計。
  8. 請求項5に記載の原子吸光分光光度計であって、前記光学フィルタは透過率が円周方向に変化するものであり、前記駆動手段はステッピングモータを含むことを特徴とする原子吸光分光光度計。
JP2008550033A 2006-12-18 2007-10-31 原子吸光分光光度計 Active JP4853522B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008550033A JP4853522B2 (ja) 2006-12-18 2007-10-31 原子吸光分光光度計

Applications Claiming Priority (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006339560 2006-12-18
JP2006339560 2006-12-18
JP2007072410 2007-03-20
JP2007072410 2007-03-20
PCT/JP2007/001190 WO2008075445A1 (ja) 2006-12-18 2007-10-31 原子吸光分光光度計
JP2008550033A JP4853522B2 (ja) 2006-12-18 2007-10-31 原子吸光分光光度計

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2008075445A1 true JPWO2008075445A1 (ja) 2010-04-08
JP4853522B2 JP4853522B2 (ja) 2012-01-11

Family

ID=39536084

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008550033A Active JP4853522B2 (ja) 2006-12-18 2007-10-31 原子吸光分光光度計

Country Status (4)

Country Link
US (1) US8184286B2 (ja)
JP (1) JP4853522B2 (ja)
CN (1) CN101548173B (ja)
WO (1) WO2008075445A1 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102053064B (zh) * 2009-11-10 2012-10-03 北京博晖创新光电技术股份有限公司 多样本、多元素同时测量的钨舟原子吸收分析方法和装置
CN102184834B (zh) * 2011-04-21 2013-06-26 齐齐哈尔医学院 空心阴极灯及由该空心阴极灯制作的原子吸收光谱仪
EP2927667A4 (en) * 2012-11-05 2016-06-29 Shimadzu Corp ATOMIC ABSORPTION SPECTROPHOTOMETER AND METHOD OF OPTIMIZING SIGNAL VOLTAGE USED THEREIN
CN104849213B (zh) * 2014-02-19 2017-12-29 赛默飞世尔(上海)仪器有限公司 光源以及光学测量系统
EP3467480B1 (en) * 2016-05-30 2023-08-23 Nikon Corporation Observing device and observing method
CN109564152A (zh) * 2016-07-25 2019-04-02 株式会社岛津制作所 光度计
JP7211033B2 (ja) * 2018-11-27 2023-01-24 株式会社島津製作所 原子吸光分光光度計

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5558439A (en) * 1978-10-27 1980-05-01 Hitachi Ltd Optical system for atomic light absorption analyzer
JPS6210375B2 (ja) * 1981-03-24 1987-03-05 Shimadzu Corp
JP2001153791A (ja) * 1999-11-30 2001-06-08 Olympus Optical Co Ltd 光検出装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6037518A (ja) 1983-08-10 1985-02-26 Shimadzu Corp 原子吸光分析用ビ−ムコンバイナ−
US6720745B2 (en) * 1997-08-26 2004-04-13 Color Kinetics, Incorporated Data delivery track
AU2002245345A1 (en) * 2001-01-30 2002-08-12 Board Of Trustees Operating Michigan State University Control system and apparatus for use with laser excitation or ionization
CN100357719C (zh) * 2003-11-28 2007-12-26 上海天美科学仪器有限公司 宽范围氘灯背景校正系统

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5558439A (en) * 1978-10-27 1980-05-01 Hitachi Ltd Optical system for atomic light absorption analyzer
JPS6210375B2 (ja) * 1981-03-24 1987-03-05 Shimadzu Corp
JP2001153791A (ja) * 1999-11-30 2001-06-08 Olympus Optical Co Ltd 光検出装置

Also Published As

Publication number Publication date
CN101548173A (zh) 2009-09-30
US8184286B2 (en) 2012-05-22
US20100073675A1 (en) 2010-03-25
CN101548173B (zh) 2013-07-31
WO2008075445A1 (ja) 2008-06-26
JP4853522B2 (ja) 2012-01-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4853522B2 (ja) 原子吸光分光光度計
US4241998A (en) Spectrophotometer
AU751519B2 (en) UV-VIS spectrophotometry
US7787120B2 (en) Spectrophotometer and liquid chromatography system
CN102246015A (zh) 具有可变波长选择器以及可调干扰滤波器的单色光镜
WO2012075958A1 (zh) 实时在线吸收检测系统
KR20120012629A (ko) 적분구 광도계 및 그 측정 방법
Stephens et al. An application of the zeeman effect to analytical atomic spectroscopy—II: Background correction
US4519706A (en) Spectrophotometer having wavelength selecting structure
WO2024051037A1 (zh) 一种分光色度计照明系统的控制方法
JP2010251387A (ja) ソーラシミュレータ
CN205157055U (zh) 一种多功能光栅光谱仪实验装置
CN211263171U (zh) 一种双光束分光光度计检测光路结构
Uhl Arc lamps and monochromators for fluorescence microscopy
Wagner et al. A Rowland Circle, multielement graphite furnace atomic absorption spectrometer
US4523096A (en) Liquid chromatography apparatus
JPH05142041A (ja) 低照度校正装置
JPWO2006025104A1 (ja) 光学的検出方法および光学的検出器
WO2013046861A1 (ja) 分光光度計および分光光度計における信号積算方法
JP2003149135A (ja) 液体クロマトグラフィ用検出器
Lynch et al. New fluorescence photometer
Burton A compact astronomical echelle spectrograph
JP2021028614A (ja) 光学装置
JP2003185498A (ja) 分光光度計
RU1784881C (ru) Устройство дл измерени фотометрических величин

Legal Events

Date Code Title Description
RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422

Effective date: 20110613

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110705

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110902

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110927

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20111010

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141104

Year of fee payment: 3

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 4853522

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20141104

Year of fee payment: 3