JPWO2006120745A1 - フロアプラン評価装置及びフロアプラン作成装置 - Google Patents
フロアプラン評価装置及びフロアプラン作成装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JPWO2006120745A1 JPWO2006120745A1 JP2006539164A JP2006539164A JPWO2006120745A1 JP WO2006120745 A1 JPWO2006120745 A1 JP WO2006120745A1 JP 2006539164 A JP2006539164 A JP 2006539164A JP 2006539164 A JP2006539164 A JP 2006539164A JP WO2006120745 A1 JPWO2006120745 A1 JP WO2006120745A1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- floor plan
- gravity
- individual evaluation
- center
- logic modules
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/30—Circuit design
- G06F30/39—Circuit design at the physical level
- G06F30/392—Floor-planning or layout, e.g. partitioning or placement
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Architecture (AREA)
- Evolutionary Computation (AREA)
- Geometry (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
Abstract
本発明は、作成されたフロアプラン自身を定量的に評価し得るフロアプラン評価方法を得ることを目的とする。本発明に係るフロアプラン評価方法は、例えばフロアプランナによって自動で作成されたフロアプランのデータから、予め定められた複数の着目要素を抽出する第1ステップと、第1ステップで抽出された複数の着目要素に基づいて、複数の個別評価項目の各々に関する個別評価値を求める第2ステップと、第2ステップで求められた複数の個別評価値に基づいて、フロアプランに関する総合評価値を算出する第3ステップとを備える。そして、複数のフロアプランを対象として第1〜第3ステップを実行することによって得られた複数の総合評価値を比較することにより、複数のフロアプランが相対的に評価される。
Description
本発明は、フロアプラン評価方法及びこれを実行するプログラム、フロアプラン修正方法及びこれを実行するプログラム、フロアプラン評価装置、並びにフロアプラン作成装置に関する。
従来は、人手又は自動によりフロアプランを作成し、作成されたフロアプランに基づいて詳細な配置配線を行った後に、タイミングや混雑度等の問題の有無についての確認が行われていた。また、確認の結果、問題があれば、人手によってフロアプランが修正されていた。
なお、従来のフロアプラン作成装置及び作成方法に関する技術は、例えば下記特許文献1,2に開示されている。
現在、作成されたフロアプラン自身を定量的に評価する手法が存在しない。従って、フロアプランの良否を大まかに評価したい場合であっても、詳細な配置配線を行った後にタイミング解析等を実施する必要があり、評価のために多くの時間が必要になるという問題がある。
また、評価の結果、フロアプランを修正する必要がある場合にも、設計者が試行錯誤によって問題点を割り出し、フロアプランを修正していたため、効率が悪いという問題もある。
本発明は、上記のような問題を解決するために成されたものであり、作成されたフロアプラン自身を定量的に評価し得る、フロアプラン評価方法及びこれを実行するプログラム、並びにフロアプラン評価装置を得ることを目的とする。また、フロアプランを効率良く修正し得る、フロアプラン修正方法及びこれを実行するプログラム、並びにフロアプラン作成装置を得ることを目的とする。
本発明に係るフロアプラン評価方法は、(a)フロアプランから、予め定められた複数の着目要素を抽出するステップと、(b)前記ステップ(a)で抽出された前記複数の着目要素に基づいて、複数の個別評価項目の各々に関する個別評価値を求めるステップと、(c)前記ステップ(b)で求められた複数の個別評価値に基づいて、前記フロアプランに関する総合評価値を算出するステップとを備え、複数のフロアプランを対象として前記ステップ(a)乃至(c)を実行することによって得られた複数の総合評価値を比較することにより、前記複数のフロアプランが相対的に評価される。
本発明に係るフロアプラン評価方法によれば、フロアプランを定量的に評価することができる。
本発明に係るフロアプラン修正方法は、(a)フロアプランから、予め定められた複数の着目要素を抽出するステップと、(b)前記ステップ(a)で抽出された前記複数の着目要素に基づいて、複数の個別評価項目の各々に関する個別評価値を求めるステップと、(c)前記ステップ(b)で求められた複数の個別評価値に基づいて、前記フロアプランに関する総合評価値を算出するステップと、(d)複数のフロアプランを対象として前記ステップ(a)乃至(c)を実行することによって得られた、前記複数のフロアプランに関する複数の個別評価値及び複数の総合評価値を記憶するステップと、(e)前記ステップ(d)における記憶結果に基づき、各個別評価項目に関する個別評価値が、各個別評価項目に対応する複数の個別評価値の中の最適値に近づくように、前記複数の個別評価項目の中から修正対象となる個別評価項目を選択するステップと、(f)前記ステップ(e)で選択された前記個別評価項目に関してフロアプランを修正するステップとを備える。
本発明に係るフロアプラン修正方法によれば、フロアプランを効率良く修正することができる。
本発明に係るフロアプラン評価装置は、フロアプランから、予め定められた複数の着目要素を抽出する着目要素抽出部(2)と、前記着目要素抽出部(2)で抽出された前記複数の着目要素に基づいて、複数の個別評価項目の各々に関する個別評価値を求める個別評価値算出部(3)と、前記個別評価値算出部(3)で求められた複数の個別評価値に基づいて、前記フロアプランに関する総合評価値を算出する総合評価値算出部(4)とを備え、複数のフロアプランに関して得られた複数の総合評価値を比較することにより、前記複数のフロアプランが相対的に評価される。
本発明に係るフロアプラン評価装置によれば、フロアプランを定量的に評価することができる。
本発明に係るフロアプラン作成装置は、フロアプラン作成部(21)と、前記フロアプラン作成部(21)で作成されたフロアプランから、予め定められた複数の着目要素を抽出する着目要素抽出部(2)と、前記着目要素抽出部(2)で抽出された前記複数の着目要素に基づいて、複数の個別評価項目の各々に関する個別評価値を求める個別評価値算出部(3)と、前記個別評価値算出部(3)で求められた複数の個別評価値に基づいて、前記フロアプランに関する総合評価値を算出する総合評価値算出部(4)と、複数のフロアプランに関する複数の個別評価値及び複数の総合評価値を記憶する記憶部(11)と、前記記憶部(11)に記憶されているデータに基づき、各個別評価項目に関する個別評価値が、各個別評価項目に対応する複数の個別評価値の中の最適値に近づくように、前記複数の個別評価項目の中から修正対象となる個別評価項目を選択する修正項目選択部(12)と、前記修正項目選択部(12)で選択された前記個別評価項目に関してフロアプランを修正するフロアプラン修正部(22)とを備える。
本発明に係るフロアプラン作成装置によれば、フロアプランを効率良く修正することができる。
本発明の目的、特徴、局面、及び利点は、以下の詳細な説明と添付図面とによって、より明白となる。
実施の形態1.
本発明の実施の形態1に係るフロアプラン評価方法は、例えばフロアプランナによって自動で作成されたフロアプランのデータから、予め定められた複数の主要な構成要素(以下「着目要素」と称す)を抽出する第1ステップと、第1ステップで抽出された複数の着目要素に基づいて、複数の個別評価項目の各々に関する個別評価値を求める第2ステップと、第2ステップで求められた複数の個別評価値に基づいて、フロアプランに関する総合評価値を算出する第3ステップとを備える。個別評価項目、個別評価値、及び総合評価値の詳細については後述する。そして、本実施の形態1に係るフロアプラン評価方法では、複数のフロアプランを対象として第1〜第3ステップを実行することによって得られた複数の総合評価値を比較することにより、複数のフロアプランが相対的に評価される。
本発明の実施の形態1に係るフロアプラン評価方法は、例えばフロアプランナによって自動で作成されたフロアプランのデータから、予め定められた複数の主要な構成要素(以下「着目要素」と称す)を抽出する第1ステップと、第1ステップで抽出された複数の着目要素に基づいて、複数の個別評価項目の各々に関する個別評価値を求める第2ステップと、第2ステップで求められた複数の個別評価値に基づいて、フロアプランに関する総合評価値を算出する第3ステップとを備える。個別評価項目、個別評価値、及び総合評価値の詳細については後述する。そして、本実施の形態1に係るフロアプラン評価方法では、複数のフロアプランを対象として第1〜第3ステップを実行することによって得られた複数の総合評価値を比較することにより、複数のフロアプランが相対的に評価される。
図14は、本実施の形態1に係るフロアプラン評価装置1の構成を示す機能ブロック図である。フロアプラン評価装置1は、本実施の形態1に係るフロアプラン評価方法を実行するためにCPU(図示しない)が参照するプログラムの機能として実現される。
以下、本実施の形態1に係るフロアプラン評価方法について、図面を用いて詳細に説明する。
まず、フロアプランのデータから複数の着目要素を抽出するステップ(上記第1ステップ)について説明する。図14に示したフロアプラン評価装置1が有する着目要素抽出部2は、図示しないフロアプラン作成部から入力されたフロアプランのデータD1に基づいて、第1ステップを実行する。
図1は、第1ステップを説明するための模式図である。図1に示した例では、大別して、(X)配置情報と、(Y)接続情報と、(Z)グループ情報とが、着目要素として抽出されている。
(X)配置情報
配置情報としては、IOバッファセルの重心位置IS1〜IS8と、ハードマクロセルが配置されている領域HA1〜HA4と、ハードマクロセルの重心位置HS1〜HS4と、論理モジュールが配置されている領域MA1〜MA4と、論理モジュールの重心位置MS1〜MS4とが抽出されている。図1に示した例では、説明の簡単化のため、領域HA1〜HA4,MA1〜MA4がいずれも長方形として近似されている。従って、重心位置HS1〜HS4,MS1〜MS4はいずれも、各々の長方形が有する2本の対角線の交点として定義される。
配置情報としては、IOバッファセルの重心位置IS1〜IS8と、ハードマクロセルが配置されている領域HA1〜HA4と、ハードマクロセルの重心位置HS1〜HS4と、論理モジュールが配置されている領域MA1〜MA4と、論理モジュールの重心位置MS1〜MS4とが抽出されている。図1に示した例では、説明の簡単化のため、領域HA1〜HA4,MA1〜MA4がいずれも長方形として近似されている。従って、重心位置HS1〜HS4,MS1〜MS4はいずれも、各々の長方形が有する2本の対角線の交点として定義される。
なお、重心位置IS1〜IS8,HS1〜HS4,MS1〜MS4の代わりに、各IOバッファセル、各ハードマクロセル、及び各論理モジュールを代表する任意の代表点を抽出してもよい。但し本実施の形態1及び後述の実施の形態2では、代表点として重心位置IS1〜IS8,HS1〜HS4,MS1〜MS4を抽出する場合を例にとり説明する。また、図1には示されていないが、論理モジュール及びハードマクロセルと同様に、IOバッファセルが配置されている領域を、着目要素として抽出してもよい。
(Y)接続情報
接続情報としては、IOバッファセルの重心位置IS1〜IS8と論理モジュールの重心位置MS1〜MS4とを接続する仮想線(一般的に「フライライン」とも称されている)NI1〜NI10と、論理モジュールの重心位置MS1〜MS4同士を接続する仮想線NM1〜NM6と、ハードマクロセルの重心位置HS1〜HS4と論理モジュールの重心位置MS1〜MS4とを接続する仮想線NH1〜NH4とが抽出されている。例えば、仮想線NI1は重心位置IS1と重心位置MS1とを接続し、仮想線NM1は重心位置MS1と重心位置MS2とを接続し、仮想線NH1は重心位置HS1と重心位置MS2とを接続している。
接続情報としては、IOバッファセルの重心位置IS1〜IS8と論理モジュールの重心位置MS1〜MS4とを接続する仮想線(一般的に「フライライン」とも称されている)NI1〜NI10と、論理モジュールの重心位置MS1〜MS4同士を接続する仮想線NM1〜NM6と、ハードマクロセルの重心位置HS1〜HS4と論理モジュールの重心位置MS1〜MS4とを接続する仮想線NH1〜NH4とが抽出されている。例えば、仮想線NI1は重心位置IS1と重心位置MS1とを接続し、仮想線NM1は重心位置MS1と重心位置MS2とを接続し、仮想線NH1は重心位置HS1と重心位置MS2とを接続している。
(Z)グループ情報
グループ情報としては、フロアプランを作成する際に同一のグループに属する複数のハードマクロセルが指定されている場合に、その指定に関する情報に基づいて、同一のグループに属する複数のハードマクロセルがフロアプランから抽出される。図1に示した例では、領域HA1〜HA4に対応する4個のハードマクロセルが、同一のグループに属するハードマクロセルとして抽出される(後述の図6参照)。
グループ情報としては、フロアプランを作成する際に同一のグループに属する複数のハードマクロセルが指定されている場合に、その指定に関する情報に基づいて、同一のグループに属する複数のハードマクロセルがフロアプランから抽出される。図1に示した例では、領域HA1〜HA4に対応する4個のハードマクロセルが、同一のグループに属するハードマクロセルとして抽出される(後述の図6参照)。
グループ情報には、ハードマクロセルグループのほかに、論理モジュールのグループ、IOバッファセルと論理モジュールとのグループ、及び論理モジュールとハードマクロセルとのグループが含まれてもよい。論理モジュールのグループとしては、フロアプランを作成する際に同一のグループに属する複数の論理モジュールが指定されている場合に、その指定に関する情報に基づいて、同一のグループに属する複数の論理モジュールがフロアプランから抽出される。同様に、IOバッファセルと論理モジュールとのグループとしては、フロアプランを作成する際に同一のグループに属する一又は複数のIOバッファセル及び一又は複数の論理モジュールが指定されている場合に、その指定に関する情報に基づいて、同一のグループに属するIOバッファセル及び論理モジュールがフロアプランから抽出される。同様に、論理モジュールとハードマクロセルとのグループとしては、フロアプランを作成する際に同一のグループに属する一又は複数の論理モジュール及び一又は複数のハードマクロセルが指定されている場合に、その指定に関する情報に基づいて、同一のグループに属する論理モジュール及びハードマクロセルがフロアプランから抽出される。但し、説明の簡単化のため、本実施の形態1に係るフロアプラン評価方法では、論理モジュールのグループ、IOバッファセルと論理モジュールとのグループ、及び論理モジュールとハードマクロセルとのグループは、いずれも指定されていないものとする。
次に、上記第1ステップで抽出された複数の着目要素に基づいて、複数の個別評価項目の各々に関する個別評価値を求めるステップ(上記第2ステップ)について説明する。図14に示したフロアプラン評価装置1が有する個別評価値算出部3は、着目要素抽出部2から入力された着目要素に関するデータD2に基づいて、第2ステップを実行する。
図2〜6は、図1に対応させて、第2ステップを説明するための模式図である。本実施の形態1に係るフロアプラン評価方法において想定されている個別評価項目は、(A)仮想線の線長、(B)仮想線同士の交差数、(C)論理モジュール関係、(D)ハードマクロセル関係、及び(E)グループ領域の面積に大別される。以下、これらの個別評価項目について、順番に説明する。
(A)仮想線の線長
図2を参照して、IOバッファセルの重心位置IS1〜IS8と論理モジュールの重心位置MS1〜MS4とを接続する仮想線NI1〜NI10のトータルの線長が算出され、これにより、仮想線NI1〜NI10の線長についての個別評価項目Lioの値が得られる。なお、本明細書においては、個別評価項目の値を「個別評価値」と定義し、個別評価値の符号には、個別評価項目と同一の符号を用いる。つまり、個別評価項目Lioの値は個別評価値Lioである。後述する全ての個別評価項目及び個別評価値についても同様である。
図2を参照して、IOバッファセルの重心位置IS1〜IS8と論理モジュールの重心位置MS1〜MS4とを接続する仮想線NI1〜NI10のトータルの線長が算出され、これにより、仮想線NI1〜NI10の線長についての個別評価項目Lioの値が得られる。なお、本明細書においては、個別評価項目の値を「個別評価値」と定義し、個別評価値の符号には、個別評価項目と同一の符号を用いる。つまり、個別評価項目Lioの値は個別評価値Lioである。後述する全ての個別評価項目及び個別評価値についても同様である。
なお、本実施の形態1に係るフロアプラン評価方法では、仮想線NI1〜NI10がいずれも1ビットの単線である場合を想定しているが、仮想線NI1〜NI10が複数ビットの束線である場合には、ビット数を考慮して個別評価値Lioが算出される。例えば、仮想線NI1〜NI10がいずれも10ビットの束線である場合の個別評価値Lioは、いずれも単線である場合の個別評価値Lioの10倍となる。後述する個別評価値Lmod,Lhmについても同様である。
同様に、論理モジュールの重心位置MS1〜MS4同士を接続する仮想線NM1〜NM6のトータルの線長が算出され、これにより、仮想線NM1〜NM6の線長に関する個別評価値Lmodが得られる。
同様に、ハードマクロセルの重心位置HS1〜HS4と論理モジュールの重心位置MS2とを接続する仮想線NH1〜NH4のトータルの線長が算出され、これにより、仮想線NH1〜NH4の線長に関する個別評価値Lhmが得られる。
(B)仮想線同士の交差数
図3を参照して、IOバッファセルの重心位置IS1〜IS8と論理モジュールの重心位置MS1〜MS4とを接続する仮想線NI1〜NI10同士の交差数が求められ、これにより、個別評価値Cioが得られる。図3に示した例では、仮想線NI6と仮想線NI7との交差点CI1のみが存在するため、個別評価値Cioは「1」となる。なお、仮想線NI1〜NI10が複数ビットの束線である場合には、ビット数を考慮して個別評価値Cioが求められる。例えば、仮想線NI6,NI7がいずれも10ビットの束線である場合の個別評価値Cioは、「100」(=10×10)となる。後述する個別評価値Cmod,Ciomodについても同様である。
図3を参照して、IOバッファセルの重心位置IS1〜IS8と論理モジュールの重心位置MS1〜MS4とを接続する仮想線NI1〜NI10同士の交差数が求められ、これにより、個別評価値Cioが得られる。図3に示した例では、仮想線NI6と仮想線NI7との交差点CI1のみが存在するため、個別評価値Cioは「1」となる。なお、仮想線NI1〜NI10が複数ビットの束線である場合には、ビット数を考慮して個別評価値Cioが求められる。例えば、仮想線NI6,NI7がいずれも10ビットの束線である場合の個別評価値Cioは、「100」(=10×10)となる。後述する個別評価値Cmod,Ciomodについても同様である。
同様に、論理モジュールの重心位置MS1〜MS4同士を接続する仮想線NM1〜NM6同士の交差数が求められ、これにより、個別評価値Cmodが得られる。図3に示した例では、仮想線NM5と仮想線NM6との交差点CM1のみが存在するため、個別評価値Cmodは「1」となる。
同様に、IOバッファセルの重心位置IS1〜IS8と論理モジュールの重心位置MS1〜MS4とを接続する仮想線NI1〜NI10と、論理モジュールの重心位置MS1〜MS4同士を接続する仮想線NM1〜NM6との交差数が求められ、これにより、個別評価値Ciomodが得られる。図3に示した例では、仮想線NI6と仮想線NM5との交差点CIM1と、仮想線NI6と仮想線NM3との交差点CIM2とが存在するため、個別評価値Ciomodは「2」となる。
(C)論理モジュール関係
図4を参照して、論理モジュールが配置されている領域MA1〜MA4同士の重複面積が算出され、これにより、個別評価値Omodが得られる。図4に示した例では、領域MA1と領域MA4とが重複している領域OM1の面積が、個別評価値Omodとして算出される。
図4を参照して、論理モジュールが配置されている領域MA1〜MA4同士の重複面積が算出され、これにより、個別評価値Omodが得られる。図4に示した例では、領域MA1と領域MA4とが重複している領域OM1の面積が、個別評価値Omodとして算出される。
なお、IOバッファセルが配置される領域が着目要素として抽出される場合には、論理モジュール同士の重複面積と同様に、IOバッファセルと論理モジュールとの重複面積を個別評価項目として追加してもよい。この場合、IOバッファセルが配置される領域と論理モジュールが配置される領域MA1〜MA4との重複面積が算出され、追加の個別評価値が得られる。
また、一の論理モジュール上を通過する、IOバッファセルの重心位置IS1〜IS8と他の論理モジュールの重心位置MS1〜MS4とを接続する仮想線NI1〜NI10の本数と、一の論理モジュール上を通過する、他の論理モジュールの重心位置MS1〜MS4同士を接続する仮想線NM1〜NM6の本数との合計が求められ、これにより、個別評価値Tmodが得られる。図4に示した例では、仮想線NI6の部分TM1が領域MA3上を通過し、仮想線NM5の部分TM2が領域MA1上を通過しているため、個別評価値Tmodは「2」となる。なお、仮想線NI6,NM5が複数ビットの束線である場合には、ビット数を考慮して個別評価値Tmodが求められる。例えば、仮想線NI6,NM5がいずれも10ビットの束線である場合の個別評価値Tmodは、「20」(=2×10)となる。
(D)ハードマクロセル関係
図5を参照して、ハードマクロセルが配置されている領域HA1〜HA4同士の重複面積が算出され、これにより、個別評価値Ohmが得られる。図5に示した例では、領域HA1と領域HA2とが重複している領域OH1の面積が、個別評価値Ohmとして算出される。
図5を参照して、ハードマクロセルが配置されている領域HA1〜HA4同士の重複面積が算出され、これにより、個別評価値Ohmが得られる。図5に示した例では、領域HA1と領域HA2とが重複している領域OH1の面積が、個別評価値Ohmとして算出される。
なお、IOバッファセルが配置される領域が着目要素として抽出される場合には、ハードマクロセル同士の重複面積と同様に、IOバッファセルとハードマクロセルとの重複面積を個別評価項目として追加してもよい。この場合、IOバッファセルが配置される領域とハードマクロセルが配置される領域HA1〜HA4との重複面積が算出され、追加の個別評価値が得られる。
また、ハードマクロセル上を通過する、IOバッファセルの重心位置IS1〜IS8と論理モジュールの重心位置MS1〜MS4とを接続する仮想線NI1〜NI10の本数と、ハードマクロセル上を通過する、論理モジュールの重心位置MS1〜MS4同士を接続する仮想線NM1〜NM6の本数との合計が求められ、これにより、個別評価値Thmが得られる。図5に示した例では、仮想線NM1の部分TH1が領域HA3上を通過し、仮想線NM1の部分TH2が領域HA2上を通過し、仮想線NM5の部分TH3が領域HA4上を通過しているため、個別評価値Thmは「3」となる。なお、仮想線NM1,NM5が複数ビットの束線である場合には、ビット数を考慮して個別評価値Thmが求められる。例えば、仮想線NM1,NM5がいずれも10ビットの束線である場合の個別評価値Thmは、「30」(=3×10)となる。
(E)グループ領域の面積
上記の通り、本実施の形態1に係るフロアプラン評価方法では、フロアプランを作成する際に、領域HA1〜HA4に対応する4個のハードマクロセルが、同一のグループに属するハードマクロセルとして指定されている。そして、フロアプランから着目要素を抽出する上記第1ステップにおいては、領域HA1〜HA4に対応する4個のハードマクロセルが、同一のグループに属するハードマクロセルとして抽出される。
上記の通り、本実施の形態1に係るフロアプラン評価方法では、フロアプランを作成する際に、領域HA1〜HA4に対応する4個のハードマクロセルが、同一のグループに属するハードマクロセルとして指定されている。そして、フロアプランから着目要素を抽出する上記第1ステップにおいては、領域HA1〜HA4に対応する4個のハードマクロセルが、同一のグループに属するハードマクロセルとして抽出される。
図6を参照して、領域HA1〜HA4に基づいて矩形状の領域GH1が求められ、領域GH1の面積が算出される。これにより、ハードマクロセルグループの面積に関する個別評価値Ghmが得られる。領域GH1の上辺の一部は領域HA1の上辺に重なり、領域GH1の左辺の一部は領域HA3の左辺に重なり、領域GH1の下辺の一部は領域HA4の下辺に重なり、領域GH1の右辺の一部は領域HA2,HA4の右辺に重なっている。本明細書においては、領域HA1〜HA4と領域GH1との位置関係を、領域GH1に内包される領域HA1〜HA4の辺が領域GH1の辺に接するという意味で、領域GH1は領域HA1〜HA4に「内接している」と定義する。なお、領域HA1〜HA4に内接する領域GH1の代わりに、重心位置HS1〜HS4上を通る矩形状の領域GH2を求め、領域GH2の面積を算出してもよい。後述の個別評価値Gmod,Giomod,Gmodhmについても同様である。
ハードマクロセルグループと同様に、論理モジュールのグループが指定されている場合には、同一グループに属する論理モジュールが配置されている領域の面積が個別評価項目Gmodとして追加され、その面積の値が個別評価値Gmodとして算出される。
また、IOバッファセルと論理モジュールとのグループが指定されている場合には、同一グループに属するIOバッファセル及び論理モジュールが配置されている領域の面積が個別評価項目Giomodとして追加され、その面積の値が個別評価値Giomodとして算出される。
さらに、論理モジュールとハードマクロセルとのグループが指定されている場合には、同一グループに属する論理モジュール及びハードマクロセルが配置されている領域の面積が個別評価項目Gmodhmとして追加され、その面積の値が個別評価値Gmodhmとして算出される。
以上、上記第1ステップで抽出された複数の着目要素に基づいて求められた個別評価値Lio,Lmod,Lhm,Cio,Cmod,Ciomod,Omod,Tmod,Ohm,Thm,Ghm,Gmod,Giomod,Gmodhmについて説明したが、必ずしもこれらの個別評価値の全てを求める必要はなく、予め指定された一部の複数の個別評価値を求めてもよい。
次に、上記第2ステップで求められた複数の個別評価値に基づいて、フロアプランに関する総合評価値を算出するステップ(上記第3ステップ)について説明する。図14に示したフロアプラン評価装置1が有する総合評価値算出部4は、個別評価値算出部3から入力された個別評価値に関するデータD3に基づいて、第3ステップを実行する。
下記の式(1)に示すように、第3ステップでは、上記第2ステップで求められた個別評価値Lio,Lmod,Lhm,Cio,Cmod,Ciomod,Omod,Tmod,Ohm,Thm,Ghm,Gmod,Giomod,Gmodhmを加算することにより、評価対象となっているフロアプランに関する総合評価値(以下「全体スコア」と称す)Sが算出される。
S=Lio×W1+Lmod×W2+Lhm×W3+Cio×W4+Cmod×W5+Ciomod×W6+Omod×W7+Tmod×W8+Ohm×W9+Thm×W10+Ghm×W11+Gmod×W12+Giomod×W13+Gmodhm×W14・・・(1)
式(1)におけるW1〜W14は、各個別評価項目の重要度に応じた重み付けの値であり、重要度が高いほど値は大きく設定される。
式(1)におけるW1〜W14は、各個別評価項目の重要度に応じた重み付けの値であり、重要度が高いほど値は大きく設定される。
本実施の形態1に係るフロアプラン評価方法においては、複数のフロアプランを対象として上記第1〜第3ステップを実行することによって、複数のフロアプランの各々に関して全体スコアSを得る。図14に示したフロアプラン評価装置1が有する総合評価値算出部4は、全体スコアSに関するデータD4を出力する。そして、得られた複数の全体スコアSの値を比較することにより、全体スコアSの値が小さいフロアプランほど優れていると評価される。
以下、簡単なフロアプランを用いて、全体スコアSの算出の実例について説明する。
図7は、フロアプランFPaから着目要素が抽出された状況を示す模式図である。図7に示した例では、ハードマクロセルが配置されている領域HAa,HAbと、論理モジュールの重心位置MSa〜MSdと、論理モジュールの重心位置MSa〜MSd同士を接続する仮想線NMa〜NMdと、領域HAa,HAbに対応するハードマクロセルグループとが、着目要素として抽出されている。なお、仮想線NMa〜NMdは、いずれも1ビットの単線であるものとする。
図8は、フロアプランFPaに関して個別評価値を求める状況を示す模式図である。仮想線NMa〜NMdのトータルの線長である個別評価値Lmodは、「4.82」(=1.00+1.00+1.41+1.41)となる。仮想線NMbと仮想線NMcとの交差点CMaが存在するため、個別評価値Cmodは「1」となる。領域HAaと領域HAbとが重複している領域OHaの面積である個別評価値Ohmは、「0.08」(=0.2×0.4)となる。領域HAa,HAbに内接する領域GHaの面積である個別評価値Ghmは、「0.72」(=0.6×1.2)となる。従って、フロアプランFPaに関する全体スコアSは、「6.62」(=4.82+1+0.08+0.72)となる。なお、上記の式(1)に示した各個別評価値Lmod,Cmod,Ohm,Ghmの重み付けW2,W5,W9,W11,は、全て「1」に設定されている。
図9は、フロアプランFPaに類似するフロアプランFPbに関して、個別評価値を求める状況を示す模式図である。仮想線NMa〜NMdのトータルの線長である個別評価値Lmodは、「4.00」(=1.00+1.00+1.00+1.00)となる。仮想線NMa〜NMdは互いに交差していないため、個別評価値Cmodは「0」となる。領域HAaと領域HAbとは互いに重複していないため、個別評価値Ohmは、「0.00」となる。領域HAa,HAbに内接する領域GHaの面積である個別評価値Ghmは、「0.64」(=0.8×0.8)となる。従って、フロアプランFPbに関する全体スコアSは、「4.64」(=4.00+0+0.00+0.64)となる。
フロアプランFPaに関する全体スコアS(=6.62)よりも、フロアプランFPbに関する全体スコアS(=4.64)のほうが小さいため、フロアプランFPaよりもフロアプランFPbのほうが優れていると評価される。
このように本実施の形態1に係るフロアプラン評価方法によれば、第1ステップにおいてフロアプランから複数の着目要素が抽出され、第2ステップにおいて複数の個別評価値が求められ、第3ステップにおいて全体スコアSが算出される。そして、複数のフロアプランを対象として第1〜第3ステップを実行することによって得られた複数の全体スコアSの値を比較することにより、複数のフロアプランが相対的に評価される。従って、フロアプランの評価のために詳細な配置配線を行うまでもなく、作成されたフロアプラン自身を全体スコアSの値によって定量的に評価することが可能となり、ひいては、設計期間を大幅に短縮することができる。
また、個別評価項目の中に仮想線の線長が含まれているため、タイミング等の問題を考慮したフロアプランの定量的評価が可能となる。また、個別評価項目の中に、仮想線同士の交差数、論理モジュール関係、及びハードマクロセル関係が含まれているため、配線混雑等の問題を考慮したフロアプランの定量的評価が可能となる。また、個別評価項目の中にグループ領域の面積が含まれているため、消費電力等の製品性能の問題を考慮したフロアプランの定量的評価が可能となる。
実施の形態2.
本実施の形態2では、上記実施の形態1に係るフロアプラン評価方法を利用したフロアプラン修正方法について説明する。
本実施の形態2では、上記実施の形態1に係るフロアプラン評価方法を利用したフロアプラン修正方法について説明する。
図15は、本実施の形態2に係るフロアプラン作成装置30の構成を示す機能ブロック図である。フロアプラン作成装置30は、フロアプラン評価部20、フロアプラン作成部21、及びフロアプラン修正部22を有している。フロアプラン評価部20及びフロアプラン修正部22は、本実施の形態2に係るフロアプラン修正方法を実行するためにCPU(図示しない)が参照するプログラムの機能として実現される。
図10は、本実施の形態2に係るフロアプラン修正方法における処理の流れを示すフローチャートであり、図11,12は、フロアプランFP1,FP2に関して個別評価値を求める状況を示す模式図である。図10に示したフローチャートにおけるステップSP1からステップSP4までの処理は、上記実施の形態1と同様である。
まず、ステップSP1において、図15に示したフロアプラン作成装置30が有するフロアプラン作成部21によって複数のフロアプランを作成する。ここでは、説明の簡単化のため、図11,12に示した2個のフロアプランFP1,FP2が作成されたものとする。
次に、上記第1ステップに相当するステップSP2において、フロアプランFP1,FP2のそれぞれに関して、予め定められた複数の着目要素を抽出する。図15に示したフロアプラン作成装置30が有する着目要素抽出部2は、フロアプラン作成部21から入力されたフロアプランのデータD1に基づいて、ステップSP2を実行する。
図11,12に示した例では、ハードマクロセルが配置されている領域HAa,HAbと、論理モジュールの重心位置MSa〜MSdと、論理モジュールの重心位置MSa〜MSd同士を接続する仮想線NMa〜NMdと、領域HAa,HAbに対応するハードマクロセルグループとが、着目要素として抽出されている。なお、仮想線NMa〜NMdは、いずれも1ビットの単線であるものとする。
次に、上記第2ステップに相当するステップSP3において、フロアプランFP1,FP2のそれぞれに関して、ステップSP2で抽出された複数の着目要素に基づいて複数の個別評価値を求める。図15に示したフロアプラン作成装置30が有する個別評価値算出部3は、着目要素抽出部2から入力された着目要素に関するデータD2に基づいて、ステップSP3を実行する。
図11に示したフロアプランFP1に関して、仮想線NMa〜NMdのトータルの線長である個別評価値Lmodは、「4.00」となる。仮想線NMa〜NMdは互いに交差していないため、個別評価値Cmodは「0」となる。領域HAaと領域HAbとが重複している領域OHaの面積である個別評価値Ohmは、「0.08」となる。領域HAa,HAbに内接する領域GHaの面積である個別評価値Ghmは、「0.72」となる。
図12に示したフロアプランFP2に関して、仮想線NMa〜NMdのトータルの線長である個別評価値Lmodは、「4.82」となる。仮想線NMbと仮想線NMcとの交差点CMaが存在するため、個別評価値Cmodは「1」となる。領域HAaと領域HAbとは互いに重複していないため、個別評価値Ohmは、「0.00」となる。領域HAa,HAbに内接する領域GHaの面積である個別評価値Ghmは、「0.64」となる。
次に、上記第3ステップに相当するステップSP4において、フロアプランFP1,FP2のそれぞれに関して、ステップSP3で求められた複数の個別評価値に基づいて全体スコアSを算出する。図15に示したフロアプラン作成装置30が有する総合評価値算出部4は、個別評価値算出部3から入力された個別評価値に関するデータD3に基づいて、ステップSP4を実行する。
図11に示したフロアプランFP1に関する全体スコアSは、「4.80」(=4.00+0+0.08+0.72)となる。図12に示したフロアプランFP2に関する全体スコアSは、「6.46」(=4.82+1+0.00+0.64)となる。なお、上記の式(1)に示した各個別評価値Lmod,Cmod,Ohm,Ghmの重み付けW2,W5,W9,W11,は、全て「1」に設定されている。
次に、ステップSP5において、フロアプランFP1,FP2のそれぞれに関して、ステップSP2で求められた複数の個別評価値と、ステップSP3で求められた全体スコアSとを、データベースに登録する。図15を参照して、個別評価値算出部3から出力された個別評価値に関するデータD3と、総合評価値算出部4から出力された総合評価値に関するデータD4とは、上記データベースに相当する記憶部11に入力される。なお、図15では記憶部11がフロアプラン作成装置30の内部に配置されている例を示したが、記憶部11はフロアプラン作成装置30の外部に配置されていてもよい。
図13は、データD3,D4に基づいて作成され、データベースに登録されたデータD5を示す図である。データベースには、フロアプランFP1,FP2のそれぞれに関して、個別評価項目Lmod,Cmod,Ohm,Ghmと、個別評価値Lmod,Cmod,Ohm,Ghmと、全体スコアSとが記憶されている。
次に、ステップSP6において、データベースに記憶されている図13に示したデータD5の内容に基づき、個別評価項目Lmod,Cmod,Ohm,Ghmの中から、修正すべき一又は複数の個別評価項目を選択する。図15に示したフロアプラン作成装置30が有する修正項目選択部12は、記憶部11から入力されたデータD5に基づいて、ステップSP6を実行する。
図13を参照して、フロアプランFP2に関する全体スコアS(=6.46)よりも、フロアプランFP1に関する全体スコアS(=4.80)のほうが小さいため、全体的にはフロアプランFP2よりもフロアプランFP1のほうが優れていると評価される。しかし、フロアプランFP1の個別評価値Ohm,GhmはフロアプランFP2の個別評価値Ohm,Ghmよりも大きいため、フロアプランFP1の個別評価項目Ohm,Ghmは改善できる余地がある。そこで、フロアプランFP1の個別評価項目Ohm,Ghmが、修正すべき個別評価項目として選択される。
つまり、図13に示した例では、個別評価項目0hmの最適値(最小値)はフロアプランFP2の「0.00」であり、個別評価項目Ghmの最適値はフロアプランFP2の「0.64」である。そこで、フロアプランFP1の個別評価値Ohm(=0.08)及び個別評価値Ghm(=0.72)が、最適値であるフロアプランFP2の個別評価値Ohm(=0.00)及び個別評価値Ghm(=0.64)となるように、修正対象となる個別評価項目が選択される。
但し、図13では説明の簡単化のために2個のフロアプランFP1,FP2及び4個の個別評価項目Lmod,Cmod,Ohm,Ghmのみを想定したが、実際にはフロアプランの個数及び個別評価項目の個数はさらに多数である。従って、特定の個別評価値が最適値となるような修正をすると、他の個別評価値が増大し、結果として全体スコアSが増大してしまう場合もある。そこで、このような場合には、特定の個別評価値が最適値となるような修正は不適切である。
よって、図13に示した例を用いて、修正対象となる個別評価項目の選択手法を一般化すると、フロアプランFP1の個別評価値Ohm,Ghmが、最適値であるフロアプランFP2の個別評価値Ohm,Ghmに近づくように、修正対象となる個別評価項目が選択される、ということになる。
また、複数の個別評価項目を同時に修正できない場合や、複数の個別評価項目を修正すると全体スコアSが増大してしまうような場合には、個別評価項目Lmod,Cmod,Ohm,Ghmの各々に予め重要度を設定しておき、設定された重要度が高い個別評価項目ほど優先して、修正対象となる個別評価項目として選択してもよい。
図13に示した例では、修正対象となる個別評価項目として選択される候補は、フロアプランFP1の個別評価項目Ohm,Ghmである。ここで、ハードマクロセル同士の重複は許されないという制約がある場合には、個別評価項目Ohmの重要度は、個別評価項目Ghmの重要度よりも高く設定されている。従って、この場合は、フロアプランFP1の個別評価項目Ohmが、修正対象となる個別評価項目として最初に選択される。
このように、複数の個別評価項目の各々に重要度を設定しておき、設定された重要度が高い個別評価項目ほど優先して修正対象とすることにより、製品レイアウトの制約等のユーザの様々な事情を考慮して、修正項目を自動的に選択することが可能となり、ユーザの利便性の向上を図ることができる。
図10に示したフローチャートの説明に戻る。ステップSP6で修正対象となる個別評価項目が選択されると、続くステップSP7において、フロアプランの修正が必要か否かが判定される。例えば、修正の繰り返し回数の最大値や、修正作業に要する所要時間の最大値が予め設定されており、現在の繰り返し回数や所要時間が最大値に到達していなければ、フロアプランの修正が必要であると判定される。
フロアプランの修正が必要である場合(ステップSP7における判定の結果が「YES」である場合)は、ステップSP8に進み、ステップSP6で選択された修正項目に関して、フロアプランが修正される。図15に示したフロアプラン作成装置30が有するフロアプラン修正部22は、修正項目選択部12から入力された修正項目に関するデータD6に基づいて、ステップSP7を実行する。例えばフロアプランFP1の個別評価項目Ohm,Ghmが修正対象である場合には、図11に示したフロアプランFP1における領域HAa,HAbの代わりに、図12に示したフロアプランFP2における領域HAa,HAbが採用されるように、フロアプランFP1が修正される。
その後、フロアプランFP1を修正することによって作成された新たなフロアプランを対象として、ステップSP2以降の処理が実行される。図15を参照して、フロアプラン修正部22から出力された修正後のフロアプランのデータD7は、着目要素抽出部2に入力される。
フロアプランの修正が不要である場合(ステップSP7における判定の結果が「NO」である場合)は、処理が終了する。
なお、本実施の形態2に係るフロアプラン修正方法を実現するためのツールは、フロアプランナの機能の一部としてフロアプランナ内に装備しても良いし、フロアプランナとは別のフロアプラン修正ツールとして装備してもよい。フロアプラン修正ツールとして装備される場合には、図10に示したフローチャートにおけるステップSP1,SP8はフロアプランナによって行われ、ステップSP2〜SP7はフロアプラン修正ツールによって行われることになる。
このように本実施の形態2に係るフロアプラン修正方法によれば、複数のフロアプランに関する複数の個別評価値と複数の全体スコアSとが、データベースに記憶される。そして、データベースの記憶内容に基づいて、修正すべき一又は複数の個別評価項目が自動的に選択され、選択された個別評価項目を対象としてフロアプランが自動的に修正される。従って、設計者が試行錯誤によって問題点を割り出してフロアプランを修正する必要がないため、フロアプランを効率良く修正することができ、高品質のフロアプランを短期間で生成することが可能となる。
本発明は詳細に説明されたが、上記した説明は、全ての局面において、例示であって、本発明がそれに限定されるものではない。例示されていない無数の変形例が、本発明の範囲から外れることなく想定され得るものと解される。
Claims (16)
- (a)フロアプランから、予め定められた複数の着目要素を抽出するステップと、
(b)前記ステップ(a)で抽出された前記複数の着目要素に基づいて、複数の個別評価項目の各々に関する個別評価値を求めるステップと、
(c)前記ステップ(b)で求められた複数の個別評価値に基づいて、前記フロアプランに関する総合評価値を算出するステップと
を備え、
複数のフロアプランを対象として前記ステップ(a)乃至(c)を実行することによって得られた複数の総合評価値を比較することにより、前記複数のフロアプランが相対的に評価される、フロアプラン評価方法。 - 前記複数の着目要素には、
IOバッファセルの重心位置(IS1〜IS8)、
ハードマクロセルが配置されている領域(HA1〜HA4)、
ハードマクロセルの重心位置(HS1〜HS4)、
論理モジュールが配置されている領域(MA1〜MA4)、
論理モジュールの重心位置(MS1〜MS4)、
IOバッファセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線(NI1〜NI10)、
論理モジュールの重心位置同士を接続する仮想線(NM1〜NM6)、
ハードマクロセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線(NH1〜NH4)、
ハードマクロセルのグループ、
論理モジュールのグループ、
IOバッファセルと論理モジュールとのグループ、及び
論理モジュールとハードマクロセルとのグループ、
のうちの二つ以上が含まれる、請求項1に記載のフロアプラン評価方法。 - 前記複数の個別評価値には、
IOバッファセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線の線長(Lio)、
論理モジュールの重心位置同士を接続する仮想線の線長(Lmod)、
ハードマクロセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線の線長(Lhm)、
IOバッファセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線同士の交差数(Cio)、
論理モジュールの重心位置同士を接続する仮想線同士の交差数(Cmod)、
IOバッファセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線と、論理モジュールの重心位置同士を接続する仮想線との交差数(Ciomod)、
論理モジュールが配置されている領域同士の重複面積(Omod)、
一の論理モジュール上を通過する、IOバッファセルの重心位置と他の論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線、及び他の論理モジュールの重心位置同士を接続する仮想線の本数(Tmod)、
ハードマクロセルが配置されている領域同士の重複面積(Ohm)、
ハードマクロセル上を通過する、IOバッファセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線、及び論理モジュールの重心位置同士を接続する仮想線の本数(Thm)、
同一グループに属するハードマクロセルが配置されている領域の面積(Ghm)、
同一グループに属する論理モジュールが配置されている領域の面積(Gmod)、
同一グループに属するIOバッファセルと論理モジュールとが配置されている領域の面積(Giomod)、及び
同一グループに属する論理モジュールとハードマクロセルとが配置されている領域の面積(Gmodhm)、
のうちの二つ以上が含まれる、請求項1に記載のフロアプラン評価方法。 - 請求項1〜3のいずれか一つに記載のフロアプラン評価方法を実行するプログラム。
- (a)フロアプランから、予め定められた複数の着目要素を抽出するステップと、
(b)前記ステップ(a)で抽出された前記複数の着目要素に基づいて、複数の個別評価項目の各々に関する個別評価値を求めるステップと、
(c)前記ステップ(b)で求められた複数の個別評価値に基づいて、前記フロアプランに関する総合評価値を算出するステップと、
(d)複数のフロアプランを対象として前記ステップ(a)乃至(c)を実行することによって得られた、前記複数のフロアプランに関する複数の個別評価値及び複数の総合評価値を記憶するステップと、
(e)前記ステップ(d)における記憶結果に基づき、各個別評価項目に関する個別評価値が、各個別評価項目に対応する複数の個別評価値の中の最適値に近づくように、前記複数の個別評価項目の中から修正対象となる個別評価項目を選択するステップと、
(f)前記ステップ(e)で選択された前記個別評価項目に関してフロアプランを修正するステップと
を備える、フロアプラン修正方法。 - 前記複数の個別評価項目の各々には、重要度を設定可能であり、
前記ステップ(e)においては、設定された重要度が高い個別評価項目ほど優先して、前記修正対象となる個別評価項目として選択される、請求項5に記載のフロアプラン修正方法。 - 前記複数の着目要素には、
IOバッファセルの重心位置(IS1〜IS8)、
ハードマクロセルが配置されている領域(HA1〜HA4)、
ハードマクロセルの重心位置(HS1〜HS4)、
論理モジュールが配置されている領域(MA1〜MA4)、
論理モジュールの重心位置(MS1〜MS4)、
IOバッファセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線(NI1〜NI10)、
論理モジュールの重心位置同士を接続する仮想線(NM1〜NM6)、
ハードマクロセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線(NH1〜NH4)、
ハードマクロセルのグループ、
論理モジュールのグループ、
IOバッファセルと論理モジュールとのグループ、及び
論理モジュールとハードマクロセルとのグループ、
のうちの二つ以上が含まれる、請求項5に記載のフロアプラン修正方法。 - 前記複数の個別評価値には、
IOバッファセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線の線長(Lio)、
論理モジュールの重心位置同士を接続する仮想線の線長(Lmod)、
ハードマクロセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線の線長(Lhm)、
IOバッファセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線同士の交差数(Cio)、
論理モジュールの重心位置同士を接続する仮想線同士の交差数(Cmod)、
IOバッファセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線と、論理モジュールの重心位置同士を接続する仮想線との交差数(Ciomod)、
論理モジュールが配置されている領域同士の重複面積(Omod)、
一の論理モジュール上を通過する、IOバッファセルの重心位置と他の論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線、及び他の論理モジュールの重心位置同士を接続する仮想線の本数(Tmod)、
ハードマクロセルが配置されている領域同士の重複面積(Ohm)、
ハードマクロセル上を通過する、IOバッファセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線、及び論理モジュールの重心位置同士を接続する仮想線の本数(Thm)、
同一グループに属するハードマクロセルが配置されている領域の面積(Ghm)、
同一グループに属する論理モジュールが配置されている領域の面積(Gmod)、
同一グループに属するIOバッファセルと論理モジュールとが配置されている領域の面積(Giomod)、及び
同一グループに属する論理モジュールとハードマクロセルとが配置されている領域の面積(Gmodhm)、
のうちの二つ以上が含まれる、請求項5に記載のフロアプラン修正方法。 - 請求項5〜8のいずれか一つに記載のフロアプラン修正方法を実行するプログラム。
- フロアプランから、予め定められた複数の着目要素を抽出する着目要素抽出部(2)と、
前記着目要素抽出部(2)で抽出された前記複数の着目要素に基づいて、複数の個別評価項目の各々に関する個別評価値を求める個別評価値算出部(3)と、
前記個別評価値算出部(3)で求められた複数の個別評価値に基づいて、前記フロアプランに関する総合評価値を算出する総合評価値算出部(4)と
を備え、
複数のフロアプランに関して得られた複数の総合評価値を比較することにより、前記複数のフロアプランが相対的に評価される、フロアプラン評価装置。 - 前記複数の着目要素には、
IOバッファセルの重心位置(IS1〜IS8)、
ハードマクロセルが配置されている領域(HA1〜HA4)、
ハードマクロセルの重心位置(HS1〜HS4)、
論理モジュールが配置されている領域(MA1〜MA4)、
論理モジュールの重心位置(MS1〜MS4)、
IOバッファセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線(NI1〜NI10)、
論理モジュールの重心位置同士を接続する仮想線(NM1〜NM6)、
ハードマクロセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線(NH1〜NH4)、
ハードマクロセルのグループ、
論理モジュールのグループ、
IOバッファセルと論理モジュールとのグループ、及び
論理モジュールとハードマクロセルとのグループ、
のうちの二つ以上が含まれる、請求項10に記載のフロアプラン評価装置。 - 前記複数の個別評価値には、
IOバッファセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線の線長(Lio)、
論理モジュールの重心位置同士を接続する仮想線の線長(Lmod)、
ハードマクロセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線の線長(Lhm)、
IOバッファセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線同士の交差数(Cio)、
論理モジュールの重心位置同士を接続する仮想線同士の交差数(Cmod)、
IOバッファセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線と、論理モジュールの重心位置同士を接続する仮想線との交差数(Ciomod)、
論理モジュールが配置されている領域同士の重複面積(Omod)、
一の論理モジュール上を通過する、IOバッファセルの重心位置と他の論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線、及び他の論理モジュールの重心位置同士を接続する仮想線の本数(Tmod)、
ハードマクロセルが配置されている領域同士の重複面積(Ohm)、
ハードマクロセル上を通過する、IOバッファセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線、及び論理モジュールの重心位置同士を接続する仮想線の本数(Thm)、
同一グループに属するハードマクロセルが配置されている領域の面積(Ghm)、
同一グループに属する論理モジュールが配置されている領域の面積(Gmod)、
同一グループに属するIOバッファセルと論理モジュールとが配置されている領域の面積(Giomod)、及び
同一グループに属する論理モジュールとハードマクロセルとが配置されている領域の面積(Gmodhm)、
のうちの二つ以上が含まれる、請求項10に記載のフロアプラン評価装置。 - フロアプラン作成部(21)と、
前記フロアプラン作成部(21)で作成されたフロアプランから、予め定められた複数の着目要素を抽出する着目要素抽出部(2)と、
前記着目要素抽出部(2)で抽出された前記複数の着目要素に基づいて、複数の個別評価項目の各々に関する個別評価値を求める個別評価値算出部(3)と、
前記個別評価値算出部(3)で求められた複数の個別評価値に基づいて、前記フロアプランに関する総合評価値を算出する総合評価値算出部(4)と、
複数のフロアプランに関する複数の個別評価値及び複数の総合評価値を記憶する記憶部(11)と、
前記記憶部(11)に記憶されているデータに基づき、各個別評価項目に関する個別評価値が、各個別評価項目に対応する複数の個別評価値の中の最適値に近づくように、前記複数の個別評価項目の中から修正対象となる個別評価項目を選択する修正項目選択部(12)と、
前記修正項目選択部(12)で選択された前記個別評価項目に関してフロアプランを修正するフロアプラン修正部(22)と
を備える、フロアプラン作成装置。 - 前記複数の個別評価項目の各々には、重要度を設定可能であり、
前記修正項目選択部(12)は、設定された重要度が高い個別評価項目ほど優先して、前記修正対象となる個別評価項目として選択する、請求項13に記載のフロアプラン作成装置。 - 前記複数の着目要素には、
IOバッファセルの重心位置(IS1〜IS8)、
ハードマクロセルが配置されている領域(HA1〜HA4)、
ハードマクロセルの重心位置(HS1〜HS4)、
論理モジュールが配置されている領域(MA1〜MA4)、
論理モジュールの重心位置(MS1〜MS4)、
IOバッファセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線(NI1〜NI10)、
論理モジュールの重心位置同士を接続する仮想線(NM1〜NM6)、
ハードマクロセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線(NH1〜NH4)、
ハードマクロセルのグループ、
論理モジュールのグループ、
IOバッファセルと論理モジュールとのグループ、及び
論理モジュールとハードマクロセルとのグループ、
のうちの二つ以上が含まれる、請求項13に記載のフロアプラン作成装置。 - 前記複数の個別評価値には、
IOバッファセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線の線長(Lio)、
論理モジュールの重心位置同士を接続する仮想線の線長(Lmod)、
ハードマクロセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線の線長(Lhm)、
IOバッファセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線同士の交差数(Cio)、
論理モジュールの重心位置同士を接続する仮想線同士の交差数(Cmod)、
IOバッファセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線と、論理モジュールの重心位置同士を接続する仮想線との交差数(Ciomod)、
論理モジュールが配置されている領域同士の重複面積(Omod)、
一の論理モジュール上を通過する、IOバッファセルの重心位置と他の論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線、及び他の論理モジュールの重心位置同士を接続する仮想線の本数(Tmod)、
ハードマクロセルが配置されている領域同士の重複面積(Ohm)、
ハードマクロセル上を通過する、IOバッファセルの重心位置と論理モジュールの重心位置とを接続する仮想線、及び論理モジュールの重心位置同士を接続する仮想線の本数(Thm)、
同一グループに属するハードマクロセルが配置されている領域の面積(Ghm)、
同一グループに属する論理モジュールが配置されている領域の面積(Gmod)、
同一グループに属するIOバッファセルと論理モジュールとが配置されている領域の面積(Giomod)、及び
同一グループに属する論理モジュールとハードマクロセルとが配置されている領域の面積(Gmodhm)、
のうちの二つ以上が含まれる、請求項13に記載のフロアプラン作成装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
PCT/JP2005/008709 WO2006120745A1 (ja) | 2005-05-12 | 2005-05-12 | フロアプラン評価方法、フロアプラン修正方法、プログラム、フロアプラン評価装置、及びフロアプラン作成装置 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008212487A Division JP4255983B2 (ja) | 2008-08-21 | 2008-08-21 | フロアプラン作成装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2006120745A1 true JPWO2006120745A1 (ja) | 2008-12-18 |
Family
ID=37396267
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006539164A Withdrawn JPWO2006120745A1 (ja) | 2005-05-12 | 2005-05-12 | フロアプラン評価装置及びフロアプラン作成装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7730439B2 (ja) |
JP (1) | JPWO2006120745A1 (ja) |
WO (1) | WO2006120745A1 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006129319A2 (en) * | 2005-06-02 | 2006-12-07 | Daro Semiconductors Ltd. | Apparatus, method and computer-readable code for automated design of physical structures of integrated circuits |
WO2021044216A1 (en) | 2019-09-06 | 2021-03-11 | BeamUp, Ltd. | Systems and methods for structural design using modeling and simulation for architectural planning |
US11797733B2 (en) * | 2021-03-09 | 2023-10-24 | Togal.Ai Inc | Artificial intelligence determination of building metrics for code compliance |
US11481704B2 (en) * | 2021-03-09 | 2022-10-25 | Togal.Ai Inc. | Methods and apparatus for artificial intelligence conversion of change orders into an actionable interface |
US11475174B2 (en) | 2021-03-09 | 2022-10-18 | Togal.Ai Inc. | Methods and apparatus for artificial intelligence conversion of a two-dimensional reference into an actionable interface |
US20240119201A1 (en) * | 2021-11-01 | 2024-04-11 | CodeComply.Ai, Corp. | Artificial intelligence determination of building smoke and indoor air quality management |
Family Cites Families (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH09128414A (ja) * | 1995-10-27 | 1997-05-16 | Fujitsu Ltd | フロアプラン自動作成装置 |
JP3954253B2 (ja) * | 1999-11-01 | 2007-08-08 | 富士通株式会社 | Lsiフロアプラン決定装置及び方法並びにプログラム記録媒体 |
JP4078123B2 (ja) | 2002-06-05 | 2008-04-23 | 株式会社ルネサステクノロジ | フロアプラニング装置 |
JP4248925B2 (ja) | 2003-05-08 | 2009-04-02 | 株式会社ルネサステクノロジ | 自動フロアプラン決定方法 |
JP4410088B2 (ja) * | 2004-11-29 | 2010-02-03 | 富士通株式会社 | 半導体装置の設計支援方法、プログラム及び装置 |
-
2005
- 2005-05-12 JP JP2006539164A patent/JPWO2006120745A1/ja not_active Withdrawn
- 2005-05-12 US US11/659,110 patent/US7730439B2/en active Active
- 2005-05-12 WO PCT/JP2005/008709 patent/WO2006120745A1/ja active Application Filing
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20090024970A1 (en) | 2009-01-22 |
WO2006120745A1 (ja) | 2006-11-16 |
US7730439B2 (en) | 2010-06-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4464665B2 (ja) | 高速チップ管理システム | |
US6889370B1 (en) | Method and apparatus for selecting and aligning cells using a placement tool | |
Jin et al. | An automated exploration framework for FPGA-based soft multiprocessor systems | |
JPWO2006120745A1 (ja) | フロアプラン評価装置及びフロアプラン作成装置 | |
TWI310144B (en) | Constraints-directed compilation for heterogeneous reconfigurable architectures | |
US10048313B2 (en) | System and methods for analyzing and estimating susceptibility of circuits to radiation-induced single-event-effects | |
AU2014203218B2 (en) | Memory configuration for inter-processor communication in an MPSoC | |
US6546532B1 (en) | Method and apparatus for traversing and placing cells using a placement tool | |
US20070300192A1 (en) | Method for Optimizing of Pipeline Structure Placement | |
CN107038070A (zh) | 一种云环境下执行可靠性感知的并行任务调度方法 | |
CN112541836A (zh) | 一种多能源系统数字孪生应用流程建模与部署方法及系统 | |
JP4255983B2 (ja) | フロアプラン作成装置 | |
US8261215B2 (en) | Method and system for performing cell modeling and selection | |
Pereira et al. | More is more: The no free lunch theorem in architecture | |
US6633836B1 (en) | Design system, design method, and storage medium storing design program for structural analysis after amendment of model form | |
Mendes et al. | Deployment and testing of the sustained petascale blue waters system | |
Wang et al. | An estimation of distribution algorithm for the flexible job-shop scheduling problem | |
Bohács et al. | Production logistics simulation supported by process description languages | |
Oh et al. | Bayesian optimization for macro placement | |
Wang et al. | Evolutionary Optimization of Benchmarks: Parametric Typologies for Generating Typical Designs | |
Lai et al. | Placement for the reconfigurable datapath architecture | |
Contreras et al. | Applying genetic algorithms for production scheduling and resource allocation. special case: A small size manufacturing company | |
Joo et al. | Efficient hierarchical bus-matrix architecture exploration of processor pool-based MPSoC | |
Ariffin et al. | Transformation of DCG onto DAG for task assignment problem | |
Igawa et al. | A design support method for automation system configuration using model-based simulation |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20081028 |
|
A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20081110 |