JPS649566B2 - - Google Patents
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- JPS649566B2 JPS649566B2 JP12088375A JP12088375A JPS649566B2 JP S649566 B2 JPS649566 B2 JP S649566B2 JP 12088375 A JP12088375 A JP 12088375A JP 12088375 A JP12088375 A JP 12088375A JP S649566 B2 JPS649566 B2 JP S649566B2
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- JP
- Japan
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- sedimentation
- circuit
- value
- activated sludge
- interface
- Prior art date
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- Expired
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- 238000004062 sedimentation Methods 0.000 claims description 51
- 239000010802 sludge Substances 0.000 claims description 37
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 26
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 13
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 7
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims 2
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 4
- 238000005273 aeration Methods 0.000 description 3
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 2
- 230000002776 aggregation Effects 0.000 description 2
- 238000004220 aggregation Methods 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 238000004886 process control Methods 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 239000000725 suspension Substances 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 238000004140 cleaning Methods 0.000 description 1
- 230000001112 coagulating effect Effects 0.000 description 1
- 238000005056 compaction Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005189 flocculation Methods 0.000 description 1
- 230000016615 flocculation Effects 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 1
- 238000005086 pumping Methods 0.000 description 1
- 239000010865 sewage Substances 0.000 description 1
- 238000003756 stirring Methods 0.000 description 1
- 239000006228 supernatant Substances 0.000 description 1
- 230000001131 transforming effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N15/00—Investigating characteristics of particles; Investigating permeability, pore-volume or surface-area of porous materials
- G01N15/04—Investigating sedimentation of particle suspensions
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Dispersion Chemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Activated Sludge Processes (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は都市下水処理場などの活性汚泥プロセ
スコントロールに使用される活性汚泥沈降分離特
性自動測定装置に関するものである。
スコントロールに使用される活性汚泥沈降分離特
性自動測定装置に関するものである。
活性汚泥沈降分離特性の測定装置は、水質に直
接関係のあるパラメータ、例えば曝気槽の活性汚
泥液中の汚泥容量、圧密度、汚泥沈降速度につい
てのデータを自動的に得てプロセス制御装置へ送
り、最終汚泥沈殿池からの汚泥引抜操作、汚泥返
送率の決定および曝気槽の管理などを行なつてい
る。
接関係のあるパラメータ、例えば曝気槽の活性汚
泥液中の汚泥容量、圧密度、汚泥沈降速度につい
てのデータを自動的に得てプロセス制御装置へ送
り、最終汚泥沈殿池からの汚泥引抜操作、汚泥返
送率の決定および曝気槽の管理などを行なつてい
る。
この管理のために用いられる汚泥の指標とし
て、一般にSV30値［活性汚泥固形物沈降率
（％）］MLSS値［汚泥混液１中の浮遊物質量
（mg）］およびSVI値（汚泥容量指標）が用いられ
る。ところが、従来はこの種指標のうち、SV30
値についてはその測定時間が長かつたり、また
MLSSは測定精度が悪いものとなつていた。
て、一般にSV30値［活性汚泥固形物沈降率
（％）］MLSS値［汚泥混液１中の浮遊物質量
（mg）］およびSVI値（汚泥容量指標）が用いられ
る。ところが、従来はこの種指標のうち、SV30
値についてはその測定時間が長かつたり、また
MLSSは測定精度が悪いものとなつていた。
以下にこの理由を詳述する。まずSV30は、従
来の方法ではたとえば曝気槽の出口で１メスシ
リンダーの試料管に混合液を採取した後、静置
し、30分後に沈降した沈降汚泥の体積が全試料容
積に占める割合をメスシリンダーの目盛から作業
員が読みとつてSV30値％としていた。
来の方法ではたとえば曝気槽の出口で１メスシ
リンダーの試料管に混合液を採取した後、静置
し、30分後に沈降した沈降汚泥の体積が全試料容
積に占める割合をメスシリンダーの目盛から作業
員が読みとつてSV30値％としていた。
これを式で表わすとSV30（一般にし30分沈澱率
と称されている）は下記(1)式となる。
と称されている）は下記(1)式となる。
SV30＝｛１−∫30／0Vt（Ｄ・Ｈ・Ｃ・Ｔ）dt／Ｈ｝×1
00 ………(1)式 ここでVt（cm／min）：時刻ｔにおける汚泥界面
の沈降速度 Ｈ（cm）：測定沈降管にサンプリングされた試料の
水深 Ｄ（mm）：測定沈降管の口径 Ｃ（mg／）：汚泥混液の濃度 Ｔ（min）：時間 すなわち、SV30値をまともに測定すると、実
測定時間は最低30分必要となり、そのうえ水のサ
ンプリング時間、測定後の洗浄時間などを含める
と測定間隔は最低40分程度必要としている。
00 ………(1)式 ここでVt（cm／min）：時刻ｔにおける汚泥界面
の沈降速度 Ｈ（cm）：測定沈降管にサンプリングされた試料の
水深 Ｄ（mm）：測定沈降管の口径 Ｃ（mg／）：汚泥混液の濃度 Ｔ（min）：時間 すなわち、SV30値をまともに測定すると、実
測定時間は最低30分必要となり、そのうえ水のサ
ンプリング時間、測定後の洗浄時間などを含める
と測定間隔は最低40分程度必要としている。
次にMLSS値を測定する手段としては、メスシ
リンダ１中の浮遊物を乾燥して科学的に測定す
る方法と、試料に光を透過、あるいは光の反射を
物理的に求める方法もあるが、前者の場合には測
定が繁雑となり、また、後者のものは光の散乱
量、透過量とMLSSなる物質量との相関には各種
の優乱があつて精度の高い測定はできなかつた。
リンダ１中の浮遊物を乾燥して科学的に測定す
る方法と、試料に光を透過、あるいは光の反射を
物理的に求める方法もあるが、前者の場合には測
定が繁雑となり、また、後者のものは光の散乱
量、透過量とMLSSなる物質量との相関には各種
の優乱があつて精度の高い測定はできなかつた。
また、この他MLSSの測定としては、上記のよ
うにして求めた30分沈殿率SV30と、下水処理場
で一義的に決定される汚泥容量指標SVI（この
SVIは一般的には80〜100といわれている）と、
MLSSとの３諸量の相関関係は下記(2)式より示さ
れている。
うにして求めた30分沈殿率SV30と、下水処理場
で一義的に決定される汚泥容量指標SVI（この
SVIは一般的には80〜100といわれている）と、
MLSSとの３諸量の相関関係は下記(2)式より示さ
れている。
SVI＝SV30×104／MLSS ………(2)式
この(2)式を利用して人間がSV30の測定値をも
とにMLSSに換算する手法もある。
とにMLSSに換算する手法もある。
しかし、この場合にはSVI＝一定の条件をつか
む必要があるのが、MLSSを自動的に測定しよう
とする場合にはその手法が存在してなく、したが
つてMLSSを自動的に、しかも高精度に測定する
手法は従来存在してなかつた。
む必要があるのが、MLSSを自動的に測定しよう
とする場合にはその手法が存在してなく、したが
つてMLSSを自動的に、しかも高精度に測定する
手法は従来存在してなかつた。
そこで本発明の目的とするところは、SV30値
を短時間に測定する測定装置を得んとするもので
あり、更には精度の高いMLSS値を与える自動測
定装置を得んとするものである。以下第１図に示
す一実施例に基づき詳述する。同図で１は鉛直に
立てられた円筒状の測定沈降管で、注入口４より
汚泥混合液Ａが注入された沈降管１の下部に設け
られる排出弁６及び排出管７を通して汚泥混合液
Ａが排出される。２は沈降管１の一方の側壁とあ
る空間を有して配設される光源で、この光源は沈
降管１の軸方向に一定の輝度を持つものである。
３は沈降管１の他方の側壁とある間隔を有して光
源２に相対抗して配設されるフオトセルアレイ
で、この光検出素子としては例えばcds、太陽電
池、フオトトランジスタ、フオトダイオード等が
適用され、これ等光検出素子は連続的或いは任意
間隔で配設される。８はある所定長を有し内部に
汲上げポンプを有するサンプル管で、このサンプ
ル管を介して汚泥混合液Ａが揚水され沈降管１に
サンプリングされる。９は沈降管１の内部径と略
略同値の径を有する洗浄機で、この洗浄機は可逆
回動し且つ上下動を行うもので沈降管１の内壁に
凝集固着した浮遊物をかき落すものである。５は
溢流管、１０は界面位置検出回路でフオトセルア
レイ３よりの信号に基づき試料の界面位置を検出
する。１１はクロツク信号を発信するクロツク回
路、１２は演算回路、１３は演算係数、Ｆ(K)を設
定する設定回路、１４は出力回路、１５は各部に
指令を与えるシーケンスコントローラである。
を短時間に測定する測定装置を得んとするもので
あり、更には精度の高いMLSS値を与える自動測
定装置を得んとするものである。以下第１図に示
す一実施例に基づき詳述する。同図で１は鉛直に
立てられた円筒状の測定沈降管で、注入口４より
汚泥混合液Ａが注入された沈降管１の下部に設け
られる排出弁６及び排出管７を通して汚泥混合液
Ａが排出される。２は沈降管１の一方の側壁とあ
る空間を有して配設される光源で、この光源は沈
降管１の軸方向に一定の輝度を持つものである。
３は沈降管１の他方の側壁とある間隔を有して光
源２に相対抗して配設されるフオトセルアレイ
で、この光検出素子としては例えばcds、太陽電
池、フオトトランジスタ、フオトダイオード等が
適用され、これ等光検出素子は連続的或いは任意
間隔で配設される。８はある所定長を有し内部に
汲上げポンプを有するサンプル管で、このサンプ
ル管を介して汚泥混合液Ａが揚水され沈降管１に
サンプリングされる。９は沈降管１の内部径と略
略同値の径を有する洗浄機で、この洗浄機は可逆
回動し且つ上下動を行うもので沈降管１の内壁に
凝集固着した浮遊物をかき落すものである。５は
溢流管、１０は界面位置検出回路でフオトセルア
レイ３よりの信号に基づき試料の界面位置を検出
する。１１はクロツク信号を発信するクロツク回
路、１２は演算回路、１３は演算係数、Ｆ(K)を設
定する設定回路、１４は出力回路、１５は各部に
指令を与えるシーケンスコントローラである。
このように構成された本発明の動作を述べる。
ます、測定沈降管１は汚泥沈降速度測定に際して
影響が最小となるような曲率を持つている。この
沈降管１に対してシーケンスコントローラ１５よ
り所定の指令を与えて排出弁６を閉じ、サンプル
管より注入口４を介して汚泥混合液がサンプリン
グされる。このサンプリング時点で沈降管１内に
ある空気は溢流管５を介して排出されると共に、
余分の試料混合液も溢流管５より排出される。こ
の状態下で所定時間後に沈降管１の下部より図示
しない散気孔を介して空気を供給し、気泡を発生
させてこの気泡の乱流により沈降管内壁に汚泥混
合液に介在する浮遊物が凝集するのを防止すると
共に、汚泥混合液を所定時間撹拌し、コントロー
ラより測定開始指令を受けると撹拌を停止する。
ます、測定沈降管１は汚泥沈降速度測定に際して
影響が最小となるような曲率を持つている。この
沈降管１に対してシーケンスコントローラ１５よ
り所定の指令を与えて排出弁６を閉じ、サンプル
管より注入口４を介して汚泥混合液がサンプリン
グされる。このサンプリング時点で沈降管１内に
ある空気は溢流管５を介して排出されると共に、
余分の試料混合液も溢流管５より排出される。こ
の状態下で所定時間後に沈降管１の下部より図示
しない散気孔を介して空気を供給し、気泡を発生
させてこの気泡の乱流により沈降管内壁に汚泥混
合液に介在する浮遊物が凝集するのを防止すると
共に、汚泥混合液を所定時間撹拌し、コントロー
ラより測定開始指令を受けると撹拌を停止する。
沈降管１内の汚泥混合液は時間の経過と共にそ
の活性汚泥は凝集してフロツクを生じながら沈降
し始め、上澄液と沈降汚泥とに分離される。この
分離面、すなわち懸濁液中の沈降粒子の形成する
界面（一定濃度の層で、例えば300〜500mg／の
濃度層）を光源２とフオトセル３との光学系から
与えられる濃度の関数となつたフオトセル（個々
のフオトセルは図示せず）の出力信号を界面位置
検出回路１０にて検出し、その出力をクロツク回
路１１からの信号を受ける演算回路１２へ与え、
この演算回路１２でフオトセルを通過する界面の
経過時間Tiと、界面位置Hiとから一定フオトセ
ル間における個々の検出に要した時間DTiそのと
きにおける界面位置DHiより次に述べる式で沈降
速度SRiを算出する。即ち第４図を参照して活性
汚泥の界面の進行方向が図示極性方向で、沈降管
１の底部よりHiとＨ＋１との高さにｉ番目とｉ
＋１番目のフオトセルが夫々位置するものとした
場合 SRi＝DHi／DTi ………(3)式 ここに DHi＝−（Hi−Hi＋１） ………(4)式 DTi＝Ti−Ti＋１ ………(5)式 である。
の活性汚泥は凝集してフロツクを生じながら沈降
し始め、上澄液と沈降汚泥とに分離される。この
分離面、すなわち懸濁液中の沈降粒子の形成する
界面（一定濃度の層で、例えば300〜500mg／の
濃度層）を光源２とフオトセル３との光学系から
与えられる濃度の関数となつたフオトセル（個々
のフオトセルは図示せず）の出力信号を界面位置
検出回路１０にて検出し、その出力をクロツク回
路１１からの信号を受ける演算回路１２へ与え、
この演算回路１２でフオトセルを通過する界面の
経過時間Tiと、界面位置Hiとから一定フオトセ
ル間における個々の検出に要した時間DTiそのと
きにおける界面位置DHiより次に述べる式で沈降
速度SRiを算出する。即ち第４図を参照して活性
汚泥の界面の進行方向が図示極性方向で、沈降管
１の底部よりHiとＨ＋１との高さにｉ番目とｉ
＋１番目のフオトセルが夫々位置するものとした
場合 SRi＝DHi／DTi ………(3)式 ここに DHi＝−（Hi−Hi＋１） ………(4)式 DTi＝Ti−Ti＋１ ………(5)式 である。
一方、初期沈降速度Viは本実施例では次のご
とき式で表わされる。即ち初期界面高さをH0、
このH0より0.7×H0まで界面が沈降する経過時間
をDT1と夫々仮定して上記(3)式を参照すると Vi＝0.3H0／DT1 ………(6)式 この(6)式で与えられる初期沈降速度ViとSV30
との関係を示したものが第３図である。この第３
図はある処理場でのデータを収集し、それに基づ
き作成したもので、この特性図よりSV30は次の
ごとき式で現わされる。即ち SV30＝29.1ln Vi＋22 ………(7)式 ここでln：自然対数、Vi［mm／ｓ］、SV30：
［％］演算回路１２は上記(6)、(7)式を演算する機
能および第３図のデータを有しているが、今、実
際に数値を入れて初期沈降速度の測定所要時間を
求める。まず第３図よりSV30は、高くても60％
程度であり、そのときにおける初期沈降速度Vi
＝0.3mm／ｓである。そこで例えば汚泥混合液の
初期界面高さH0を1000mm、初期沈降速度Viを0.3
mm／ｓとそれぞれ仮定すると、(6)式を変形すれば
DT1＝0.3H0／Viとなり初期沈降速度の所要時間
は DT1＝0.3／0.3.1000＝1000（mm／ｓ）≒16分 すなわち初期沈降速度Viを求めるのに略16分
であり、この速度を基にしたSV30値の演算時間
は極めて短時間であるので最大でも略17分を見込
めばよく、30分静置後の値で求めていた従来方法
に比し略2/5の所要時間ですむ。なお、測定時間
を可変時間長とし、SV30値が例えば20％に低下
した場合には、このSV30値に対応する初期沈降
速度Viは、第３図より明らかなようにVi＝１
（mm／ｓ）であるので、DT1＝0.3／１・1000＝
300（mm／ｓ）＝５分となり、実測定時間はさらに
短縮される。すなわち本発明は光学系より与えら
れる情報に基づき演算回路１２でまず初期沈降速
度Viを求め、初期沈降速度を求めたら直ちに実
測定を打ち切り、求めた初期沈降速度を基に従来
の30分沈殿率SV30値に相当するSV30値を演算回
路で自動的に算出し、その結果は第１図に示す出
力回路１４の経路を介して直ちに図示しない外部
表示回路に表示させるものである。
とき式で表わされる。即ち初期界面高さをH0、
このH0より0.7×H0まで界面が沈降する経過時間
をDT1と夫々仮定して上記(3)式を参照すると Vi＝0.3H0／DT1 ………(6)式 この(6)式で与えられる初期沈降速度ViとSV30
との関係を示したものが第３図である。この第３
図はある処理場でのデータを収集し、それに基づ
き作成したもので、この特性図よりSV30は次の
ごとき式で現わされる。即ち SV30＝29.1ln Vi＋22 ………(7)式 ここでln：自然対数、Vi［mm／ｓ］、SV30：
［％］演算回路１２は上記(6)、(7)式を演算する機
能および第３図のデータを有しているが、今、実
際に数値を入れて初期沈降速度の測定所要時間を
求める。まず第３図よりSV30は、高くても60％
程度であり、そのときにおける初期沈降速度Vi
＝0.3mm／ｓである。そこで例えば汚泥混合液の
初期界面高さH0を1000mm、初期沈降速度Viを0.3
mm／ｓとそれぞれ仮定すると、(6)式を変形すれば
DT1＝0.3H0／Viとなり初期沈降速度の所要時間
は DT1＝0.3／0.3.1000＝1000（mm／ｓ）≒16分 すなわち初期沈降速度Viを求めるのに略16分
であり、この速度を基にしたSV30値の演算時間
は極めて短時間であるので最大でも略17分を見込
めばよく、30分静置後の値で求めていた従来方法
に比し略2/5の所要時間ですむ。なお、測定時間
を可変時間長とし、SV30値が例えば20％に低下
した場合には、このSV30値に対応する初期沈降
速度Viは、第３図より明らかなようにVi＝１
（mm／ｓ）であるので、DT1＝0.3／１・1000＝
300（mm／ｓ）＝５分となり、実測定時間はさらに
短縮される。すなわち本発明は光学系より与えら
れる情報に基づき演算回路１２でまず初期沈降速
度Viを求め、初期沈降速度を求めたら直ちに実
測定を打ち切り、求めた初期沈降速度を基に従来
の30分沈殿率SV30値に相当するSV30値を演算回
路で自動的に算出し、その結果は第１図に示す出
力回路１４の経路を介して直ちに図示しない外部
表示回路に表示させるものである。
次にMLSS値を自動的に測定する場合について
説明する。
説明する。
沈降管１における初期界面高さをH0とし、こ
の高さH0を100％としたとき、その位置より界面
がある位置例えば30％沈降するに要した時間を
DT1とし、かつこれ以後のある界面高さ位置Hx
より一定位置にまで界面が沈降するに要する時間
をDTxとすると、次式のように表わすことがで
きる。
の高さH0を100％としたとき、その位置より界面
がある位置例えば30％沈降するに要した時間を
DT1とし、かつこれ以後のある界面高さ位置Hx
より一定位置にまで界面が沈降するに要する時間
をDTxとすると、次式のように表わすことがで
きる。
DTx／DT1＝（Hx／H0）K ………(8)式
ここでｋは凝集性を表わす定数で第２図を用い
てこの定数ｋの意味を説明する。
てこの定数ｋの意味を説明する。
第２図は縦軸に沈降速度時間変化量Ｔ（Hx）／
Ｔ(H)をとり、横軸に界面高さ変化量Hx／Ｈをと
つたときにおける定数ｋの関係を示している。
Ｔ(H)をとり、横軸に界面高さ変化量Hx／Ｈをと
つたときにおける定数ｋの関係を示している。
線ｋ＝1.0は初期沈降速度を与える加速度ａが
時間DTにおいて０の場合であつて、このときに
は初期界面高さ変化量と沈降速度時間変化量とは
比例した関係にある。
時間DTにおいて０の場合であつて、このときに
は初期界面高さ変化量と沈降速度時間変化量とは
比例した関係にある。
以下ｋ＝0.8〜ｋ＝0.1の特性は徐々に加速度ａ
を増やしたもので、増加する程ｋ＝0.1に近づい
て沈降速度が急激となる。すなわち、界面は凝集
の度合に応じてその沈降速度が変化するが、定数
ｋは、この凝集と沈降特性の変化を表わす指標と
して用いるものである。
を増やしたもので、増加する程ｋ＝0.1に近づい
て沈降速度が急激となる。すなわち、界面は凝集
の度合に応じてその沈降速度が変化するが、定数
ｋは、この凝集と沈降特性の変化を表わす指標と
して用いるものである。
(8)式において、沈降管の高さH0と沈降管のあ
る指定された高さHxは既値であり、Hxよりの時
間DTxは前もつて実験データとして演算回路１
２に記憶されている。したがつて界面がある位置
にまで沈降する時間DT1が測定されると、演算回
路１２は定数ｋを次式で演算する。
る指定された高さHxは既値であり、Hxよりの時
間DTxは前もつて実験データとして演算回路１
２に記憶されている。したがつて界面がある位置
にまで沈降する時間DT1が測定されると、演算回
路１２は定数ｋを次式で演算する。
ｋ＝log（DTx／DT1）／log（Hx／H0）………(9)
式 定数ｋが求まる。この定数ｋを、前に数回測つ
た定数ｋ（これをk′とする）と比較し、｜ｋ−k′｜
＞△ｋ（△ｋはあらかじめ設定しておく）となつ
た時に汚泥性状が変化したことを作業員に知らせ
るために偏差警報表示する。この表示は出力回路
１４にて行う。この時新たに手分析値MLSSと本
装置の測定値SV30とにより、次のＦ(k)値 Ｆ(k)＝MLSS／SV30 ………(10)式 を作業員が、本装置の設定回路１３に設定する。
以後本装置はSV30kの測定毎に MLSS＝SV30・Ｆ(k) ……(11)式 の演算を演算回路１２により行うことでMLSSを
自動的に測定可能とし、汚泥の凝集沈降性状も同
時に監視しているのでその精度も高められる。
式 定数ｋが求まる。この定数ｋを、前に数回測つ
た定数ｋ（これをk′とする）と比較し、｜ｋ−k′｜
＞△ｋ（△ｋはあらかじめ設定しておく）となつ
た時に汚泥性状が変化したことを作業員に知らせ
るために偏差警報表示する。この表示は出力回路
１４にて行う。この時新たに手分析値MLSSと本
装置の測定値SV30とにより、次のＦ(k)値 Ｆ(k)＝MLSS／SV30 ………(10)式 を作業員が、本装置の設定回路１３に設定する。
以後本装置はSV30kの測定毎に MLSS＝SV30・Ｆ(k) ……(11)式 の演算を演算回路１２により行うことでMLSSを
自動的に測定可能とし、汚泥の凝集沈降性状も同
時に監視しているのでその精度も高められる。
以上のように構成された本発明によれば次のよ
うな効果が得られる。
うな効果が得られる。
(1) 測定過程に人間が介在する事なく試料採取−
測定−試料排出が全て自動的に行われるもので
あるから、非常に精度の高い測定結果が得られ
る。
測定−試料排出が全て自動的に行われるもので
あるから、非常に精度の高い測定結果が得られ
る。
(2) SV30及びMLSS測定する場合、測定に要す
る時間が従来方法に比し略1/2〜1/3に短縮でき
非常に効率がよく、時後の対策の立て方が容易
になる。
る時間が従来方法に比し略1/2〜1/3に短縮でき
非常に効率がよく、時後の対策の立て方が容易
になる。
(3) Ｆ(k)そのものの与え方が、試料の凝集性を常
時把握したものであるため、一段と測定精度の
向上が期待でき、且つ電子回路によるものであ
るため安定性のあるものが得られる。
時把握したものであるため、一段と測定精度の
向上が期待でき、且つ電子回路によるものであ
るため安定性のあるものが得られる。
(4) 測定沈降管の内壁の洗浄は自動的に行われる
ものであるから、保守上の煩わしさより解放さ
れ長期間無保守で行なわれ活性汚泥沈降分離特
性自動測定装置として最適なものである。
ものであるから、保守上の煩わしさより解放さ
れ長期間無保守で行なわれ活性汚泥沈降分離特
性自動測定装置として最適なものである。
第１図は本発明による一実施例を示す汚泥沈降
分離特性自動測定装置のブロツク構成図、第２図
は初期界面高さ変化量と初期沈降速度時間変化量
との関係を示す関係図、第３図は初期沈降速度と
30分沈殿率SV30との関係を示す関係図、第４図
はフオトセルと懸濁液の沈降方向との対応関係を
示す図。 １は測定沈降管、２は光源、３はフオトセル、
４は注入管、６は排出弁、８はサンプル管、１０
は界面位置検出回路、１１はクロツク、１２は演
算回路、１３は設定回路、１４は出力回路、１５
はシーケンスコントローラ。
分離特性自動測定装置のブロツク構成図、第２図
は初期界面高さ変化量と初期沈降速度時間変化量
との関係を示す関係図、第３図は初期沈降速度と
30分沈殿率SV30との関係を示す関係図、第４図
はフオトセルと懸濁液の沈降方向との対応関係を
示す図。 １は測定沈降管、２は光源、３はフオトセル、
４は注入管、６は排出弁、８はサンプル管、１０
は界面位置検出回路、１１はクロツク、１２は演
算回路、１３は設定回路、１４は出力回路、１５
はシーケンスコントローラ。
Claims (1)
- １ 上部に活性汚泥混合液が注入される注入口
と、下部に活性汚泥混合液が自動的に排出される
弁とを備えた測定沈降管と、この沈降管の両側面
に対向して配設される光源およびフオトセルの光
学系と、フオトセルより出力される信号に基づき
活性汚泥混合液の界面を検出する界面位置検出回
路と、この回路より出力される界面位置検出信号
を基に初期沈降速度Viを求めると同時に、この
Vi信号を基に30分沈殿率SV30値を演算し、且つ
初期界面高さ変化比と沈降速度の時間変化比とか
ら定数ｋを演算する演算回路と、この演算回路よ
り与えられる定数ｋを基に、30分沈殿率SV30値
とMLSS値との換算係数Ｆ(K)の設定回路とを備
え、この設定回路より出力される換算係数Ｆ(K)と
上記算出した30分沈殿率SV30値との２諸量をも
つて、所望の浮遊物含有料MLSS値を上記演算回
路で演算するようにしたことを特徴とする活性汚
泥沈降分離特性自動測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12088375A JPS5245394A (en) | 1975-10-07 | 1975-10-07 | Apparatus for automatic determination of precipitating and separating characteristics of activated sludge |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP12088375A JPS5245394A (en) | 1975-10-07 | 1975-10-07 | Apparatus for automatic determination of precipitating and separating characteristics of activated sludge |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5245394A JPS5245394A (en) | 1977-04-09 |
| JPS649566B2 true JPS649566B2 (ja) | 1989-02-17 |
Family
ID=14797320
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP12088375A Granted JPS5245394A (en) | 1975-10-07 | 1975-10-07 | Apparatus for automatic determination of precipitating and separating characteristics of activated sludge |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5245394A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6234286Y2 (ja) * | 1979-09-05 | 1987-09-01 | ||
| JPS6234287Y2 (ja) * | 1979-09-05 | 1987-09-01 | ||
| JP2546369Y2 (ja) * | 1988-02-22 | 1997-08-27 | カヤバ工業株式会社 | 船首用ランプ装置 |
-
1975
- 1975-10-07 JP JP12088375A patent/JPS5245394A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5245394A (en) | 1977-04-09 |
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