JPS647317Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS647317Y2 JPS647317Y2 JP3361081U JP3361081U JPS647317Y2 JP S647317 Y2 JPS647317 Y2 JP S647317Y2 JP 3361081 U JP3361081 U JP 3361081U JP 3361081 U JP3361081 U JP 3361081U JP S647317 Y2 JPS647317 Y2 JP S647317Y2
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 19
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 12
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 description 1
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- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、びん胴部の、異物、傷等の有無を検
査するびん検査装置に関するものである。
査するびん検査装置に関するものである。
第１図は従来のものの構成図で、光源１からの
光を平形拡散板２を介し、拡散光として被検査び
ん３に照射し、光学的情報として傷、異物等を検
出し、カメラ等の光電変換器４で電気信号に変換
し、信号処理装置５によつてその情報を処理し、
判別、検査していた。
光を平形拡散板２を介し、拡散光として被検査び
ん３に照射し、光学的情報として傷、異物等を検
出し、カメラ等の光電変換器４で電気信号に変換
し、信号処理装置５によつてその情報を処理し、
判別、検査していた。
しかし、上記のものは、次のような欠点を有し
ていた。
ていた。
(1) ほぼ完全な透過光方式となるため、びんの輪
郭部の影響を受け、検査領域が著しく狭くな
り、回転機構６等を用いてびん３を回転させる
か、あるいは、多方向から検査する必要があつ
た。
郭部の影響を受け、検査領域が著しく狭くな
り、回転機構６等を用いてびん３を回転させる
か、あるいは、多方向から検査する必要があつ
た。
(2) びんを回転あるいは多方向から検査すること
は装置自体が大型化し、コスト高となると共に
処理速度の向上がむずかしく、しかも、検査タ
イミングの制御、処理が複雑となる問題があつ
た。
は装置自体が大型化し、コスト高となると共に
処理速度の向上がむずかしく、しかも、検査タ
イミングの制御、処理が複雑となる問題があつ
た。
すなわち、カメラ等の光電変換器４によつて、
びん３は第２図に示すような画像として検出され
る。７は異物又は傷である。これを映像信号とし
てとらえると、第３図に示すようになり、びんの
輪郭部近傍で著しく信号レベルが低下し、情報と
して扱えなくなる。画像におけるａ−a′の一走査
線信号を見ると、第３図に示すような信号になる
が、処理可能なレベルＡ以上のｂ−b′間の信号が
びんの検査情報として処理可能な信号となる。こ
のことは、必要検査領域の６割程度までしか検査
できないことを意味している。
びん３は第２図に示すような画像として検出され
る。７は異物又は傷である。これを映像信号とし
てとらえると、第３図に示すようになり、びんの
輪郭部近傍で著しく信号レベルが低下し、情報と
して扱えなくなる。画像におけるａ−a′の一走査
線信号を見ると、第３図に示すような信号になる
が、処理可能なレベルＡ以上のｂ−b′間の信号が
びんの検査情報として処理可能な信号となる。こ
のことは、必要検査領域の６割程度までしか検査
できないことを意味している。
従つて、従来のものは、第４図に示すような交
斜線部を検査領域とし、かつ、弁別不可能なラベ
ル部を除外して検査を実施していた。
斜線部を検査領域とし、かつ、弁別不可能なラベ
ル部を除外して検査を実施していた。
また、透過光方式であるため、びんノイズ（浮
彫文字、マーク、硝子厚さのむら、つぎ目などの
部分）は屈折現象などによつて、輪郭部と同じよ
うに影となり、異物、傷等と同じ信号となるため
正確な検査ができない大きな欠点があり、この点
からも検査領域を狭め、びん中央部に検査領域を
設定する必要があつた。
彫文字、マーク、硝子厚さのむら、つぎ目などの
部分）は屈折現象などによつて、輪郭部と同じよ
うに影となり、異物、傷等と同じ信号となるため
正確な検査ができない大きな欠点があり、この点
からも検査領域を狭め、びん中央部に検査領域を
設定する必要があつた。
本考案は、上記した点に鑑み提案されたもの
で、信号処理装置に接続するカメラ等の光電変換
器と、同光電変換器と被検査びんの通路を挟んで
凹面部を対峙させるように配設した半円筒形反射
板と、該被検査びん通路下部に配設された光源と
を有してなることを特徴とし、その目的とすると
ころは、簡単な構成により弁別性を向上させるこ
とができると共に検査領域をびんのほぼ全域に拡
大させることのできるびん検査装置を提供しよう
とするものである。
で、信号処理装置に接続するカメラ等の光電変換
器と、同光電変換器と被検査びんの通路を挟んで
凹面部を対峙させるように配設した半円筒形反射
板と、該被検査びん通路下部に配設された光源と
を有してなることを特徴とし、その目的とすると
ころは、簡単な構成により弁別性を向上させるこ
とができると共に検査領域をびんのほぼ全域に拡
大させることのできるびん検査装置を提供しよう
とするものである。
本考案は上記のように構成されているため、被
検査びんの下部から照射された拡散光は、びんの
側面に反射光として当ると共にびんの背後に設置
されている半円筒形反射板によつて、透過光を得
ることができ、しかも反射板が半円筒形であるこ
とから、同反射板で反射した光はびんの表面で反
射することなく、びんの輪郭部にも確実に入射す
ることができ、これらの作用により検出情報を安
定させ、弁別性の向上を計ることができると共に
検査領域をびんのほぼ全域に拡大させることがで
きる。
検査びんの下部から照射された拡散光は、びんの
側面に反射光として当ると共にびんの背後に設置
されている半円筒形反射板によつて、透過光を得
ることができ、しかも反射板が半円筒形であるこ
とから、同反射板で反射した光はびんの表面で反
射することなく、びんの輪郭部にも確実に入射す
ることができ、これらの作用により検出情報を安
定させ、弁別性の向上を計ることができると共に
検査領域をびんのほぼ全域に拡大させることがで
きる。
以下、本考案を一実施例に基づいて説明する。
第５図乃至第７図において、３は被検査びん、
４はITVカメラ、撮像管カメラ、CCDカメラ、
その他の映像センサー等よりなる光電変換装置、
５は信号処理装置、１０はびん３の下部に配置さ
れる光源で連続光又は間欠光を照射する。１１は
びん３の背後に設置された半円筒形反射板でびん
３の大きさに対応して適当な半径と高さを有して
いると共に、その凹面部はびん３を送るラインコ
ンベア１２を挟んで上記光電変換装置４と対峙す
るように構成されている。尚、同ラインコンベア
１２の光源１０の配置部分は秀明物質で構成され
ており、又、このラインコンベアはスターホイー
ル等に代替することができる。
４はITVカメラ、撮像管カメラ、CCDカメラ、
その他の映像センサー等よりなる光電変換装置、
５は信号処理装置、１０はびん３の下部に配置さ
れる光源で連続光又は間欠光を照射する。１１は
びん３の背後に設置された半円筒形反射板でびん
３の大きさに対応して適当な半径と高さを有して
いると共に、その凹面部はびん３を送るラインコ
ンベア１２を挟んで上記光電変換装置４と対峙す
るように構成されている。尚、同ラインコンベア
１２の光源１０の配置部分は秀明物質で構成され
ており、又、このラインコンベアはスターホイー
ル等に代替することができる。
上記構成において、下部の光源１０から照射さ
れた拡散光は、第７図に示すように、びん３の側
面に反射光として当たると共に背後の反射板１１
で反射した光はびん３に対し透過光として照射さ
れることになる。一方反射板１１は半円筒形とな
つているため、光をびん３の表面で反射させるこ
となく輪郭部にも確実に入射させることができ、
同部に他の部分と同様の検出感度を与える。従つ
て、これらの作用で検出情報を安定させることが
できる。
れた拡散光は、第７図に示すように、びん３の側
面に反射光として当たると共に背後の反射板１１
で反射した光はびん３に対し透過光として照射さ
れることになる。一方反射板１１は半円筒形とな
つているため、光をびん３の表面で反射させるこ
となく輪郭部にも確実に入射させることができ、
同部に他の部分と同様の検出感度を与える。従つ
て、これらの作用で検出情報を安定させることが
できる。
すなわち、半円筒形反射板１１は、びんの輪郭
部の影響を除去する効果を有する。第８図は光電
変換装置４で補えた画像で、７は異物を示す。こ
の時の映像信号は第９図に示すようになり輪郭部
での信号レベルの低下を含んでおらず、輪郭部に
集光させたことにより、他の部分の同様の検出感
度を与えることができ、一走査線ａ−a′の信号で
は、処理可能レベルＡ以上がびん全面に渡つてい
ることになり、ｂ−b′間を有効に処理、検査でき
る。つまり、検査領域が拡大されたことになる。
部の影響を除去する効果を有する。第８図は光電
変換装置４で補えた画像で、７は異物を示す。こ
の時の映像信号は第９図に示すようになり輪郭部
での信号レベルの低下を含んでおらず、輪郭部に
集光させたことにより、他の部分の同様の検出感
度を与えることができ、一走査線ａ−a′の信号で
は、処理可能レベルＡ以上がびん全面に渡つてい
ることになり、ｂ−b′間を有効に処理、検査でき
る。つまり、検査領域が拡大されたことになる。
また、光の照射を透過光＋反射光方式とするこ
とができるので、びんノイズ、異物、傷の判別性
を向上させることができる。びんノイズは、物理
的な位置、形状、材質、状態等により、その影響
が低減され、明らかな欠け、すり傷、あるいは異
物に関しては十分な弁別性が得られる。すなわ
ち、第１０図に示すように、信号の特性は、異
物、傷、びんノイズの順に信号落ち込みレベル
（暗色化）が異なり、処理、判別を容易に行なう
ことができる。
とができるので、びんノイズ、異物、傷の判別性
を向上させることができる。びんノイズは、物理
的な位置、形状、材質、状態等により、その影響
が低減され、明らかな欠け、すり傷、あるいは異
物に関しては十分な弁別性が得られる。すなわ
ち、第１０図に示すように、信号の特性は、異
物、傷、びんノイズの順に信号落ち込みレベル
（暗色化）が異なり、処理、判別を容易に行なう
ことができる。
以上により、第１１図に示すようにびんのほぼ
全域に検査領域をとることができると共に、びん
の回転や、多方向からの検査が不要となるので、
装置のコンパクト化、コストダウンが可能で、し
かも処理速度、弁別性の向上を計ることができる
ため著しい性能向上を期待できる。
全域に検査領域をとることができると共に、びん
の回転や、多方向からの検査が不要となるので、
装置のコンパクト化、コストダウンが可能で、し
かも処理速度、弁別性の向上を計ることができる
ため著しい性能向上を期待できる。
第１図乃至第４図は従来のものを示す図で、第
１図は構成を示す斜視図、第２図は画像を示す
図、第３図は映像信号を示す図、第４図は検査領
域を示す図、第５図乃至第１１図は本考案の一実
施例を示す図で、第５図は構成を示す斜視図、第
６図は、第５図の平面図、第７図は光の照射状態
を示す図、第８図は画像を示す図、第９図は映像
信号を示す図、第１０図は信号の落ち込みレベル
を示す図、第１１図は検査領域を示す図である。 ３：びん、４：光電変換装置、５：信号処理装
置、１０：光源、１１：半円筒形反射板。
１図は構成を示す斜視図、第２図は画像を示す
図、第３図は映像信号を示す図、第４図は検査領
域を示す図、第５図乃至第１１図は本考案の一実
施例を示す図で、第５図は構成を示す斜視図、第
６図は、第５図の平面図、第７図は光の照射状態
を示す図、第８図は画像を示す図、第９図は映像
信号を示す図、第１０図は信号の落ち込みレベル
を示す図、第１１図は検査領域を示す図である。 ３：びん、４：光電変換装置、５：信号処理装
置、１０：光源、１１：半円筒形反射板。
Claims (1)
- 信号処理装置に接続するカメラ等の光電変換器
と、同光電変換器と被検査びんの通路を挟んで凹
面部を対峙させるように配設した半円筒形反射板
と、該被検査びん通路下部に配設された光源とを
有してなることを特徴とするびん検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3361081U JPS647317Y2 (ja) | 1981-03-11 | 1981-03-11 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3361081U JPS647317Y2 (ja) | 1981-03-11 | 1981-03-11 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57146057U JPS57146057U (ja) | 1982-09-13 |
| JPS647317Y2 true JPS647317Y2 (ja) | 1989-02-27 |
Family
ID=29830951
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3361081U Expired JPS647317Y2 (ja) | 1981-03-11 | 1981-03-11 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS647317Y2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP7129456B2 (ja) * | 2019-11-15 | 2022-09-01 | エフ ホフマン－ラ ロッシュ アクチェン ゲゼルシャフト | 検査室サンプル容器の特性を判定するための装置、検査室自動化システム、および検査室サンプル容器の特性を判定するための方法 |
-
1981
- 1981-03-11 JP JP3361081U patent/JPS647317Y2/ja not_active Expired
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57146057U (ja) | 1982-09-13 |
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