JPS6411298B2

JPS6411298B2 -

Info

Publication number: JPS6411298B2
Application number: JP55090821A
Authority: JP
Inventors: Uirufuriido Rukusu Peeteru
Original assignee: Koninklijke Philips Electronics NV
Current assignee: Koninklijke Philips NV
Priority date: 1979-07-06
Filing date: 1980-07-04
Publication date: 1989-02-23
Also published as: EP0022299B1; IL60520A0; CA1150858A; NL7905282A; IL60520A; US4374419A; JPS5611041A; EP0022299A1; DE3070773D1

Description

【発明の詳細な説明】本発明は、物体の断面内の放射線減衰分布を決
定するコンピユータ断層撮影装置であつて、断層
方向に向き、物体内に浸透し透過する平坦で扇形
の放射ビームを発生する放射線源と、物体を透過
した後の放射線を検出し測定信号群を供給する検
出装置と、前記放射線源及び検出装置を支持する
支持フレームと、多数の方向から物体に放射線を
照射するために、少なくとも放射線源を支持フレ
ーム内で移動させる駆動装置とを具え、前記検出
装置が、前記放射線源から扇状に広がる測定経路
群の各々に沿う放射線減衰をそれぞれ表す各方向
毎の測定信号群を供給し、さらに、測定信号群を
一連の数でたたみ込むと共に、たたみ込まれた測
定信号を反映する減衰値を得る処理装置と、これ
ら減衰値を記憶するメモリ装置と、マトリツクス
を構成する要素と関連する減衰値を表示して放射
線減衰分布像を表示する表示装置とを具えるコン
ピユータ断層撮影装置に関するものである。。

このような物体の一断層内での放射線の減衰分
布を求める方法及びコンピユータ断層撮影装置は
オランダ国公開特許第7614230号明細書に記載さ
れている。そして、このオランダ国公開特許明細
書には、Ｘ線源の各位置毎にこのＸ線源から出る
扇状のＸ線ビームと一群の測定信号を出力する検
出器を一列に並べたものとを用い、減衰分布像を
再生するのに必要な測定信号をいかにして得るか
について明瞭に記載されている。また、この明細
書ではこれらの測定信号群の各々をたたみ込みし
てたたみ込み値群を計算するのに必要な数値列も
導かれている。また、この明細書には所定の点の
減衰値を求めるにはこの点を通つて延在する経路
についてのたたみ込み値の各々に、この点とその
たたみ込み値に関連する放射線源の位置との間の
距離の二乗に逆比例する重みづけ因子を乗じた後
これらを互いに換算することも述べられている。
しかし、そこに記載されている方法は複雑で時間
がかかり魅力に乏しい。

本発明の目的は、比較的簡単な方法でたたみ込
まれた値を反映させることができるコンピユータ
断層撮影装置を提供するにある。

本発明による断層撮影装置を用いる撮影方法で
は、同一の重みづけ因子を用いて各たたみ込み群
を反映せることができるという利点を有してい
る。２個の測定信号群即ちたたみ込み値群の測定
の間で放射線源が回転して位置が変わることを除
いて幾何学的構造は再生要素マトリクスの幾何学
的構造に対して変わらないからである。重みづけ
因子が記憶され極座標によりアドレスされる第２
のマトリクス（メモリ）を用いているから、この
第２のマトリクスメモリ内の重みづけ因子をアド
レスの点で要素マトリクスに対してＸ線源の回転
角に等しい角度だけずらせた後、以前に減衰寄与
分を計算した時と同じアドレス操作で重みづけ因
子を取り出すことができる。たたみ込み値に重み
付け因子を乗算した後、この寄与を所定のアドレ
スに記憶されている値に加算する。第２マトリク
スにおける重み付け因子のアドレス回転は、計算
されるべき減衰寄与が登録されている位置アドレ
スにおける角度座標の固定された増分だけで構成
される。

本発明によるコンピユータ断層撮影装置は、前
記メモリ装置が、極座標を用いてアドレスされる
ように構成され、距離座標及び角度座標を用いて
アドレスすることにより前記減衰値が記憶される
第１のメモリと、同様な極座標アドレス形態を有
し、たたみ込まれた値を反映させる間に用いられ
るように重みづけ因子が記憶されている第２のメ
モリとを具えることを特徴とする。

このような本発明装置はデカルト座標を用いて
記憶位置をアドレスするメモリを具える装置と対
照的に重みづけ因子のための記憶空間が可成り小
さくて済み、従つて安価であるという利点を有し
ている。すなわち、デカルト座標によりアドレス
する型式のメモリを用いる場合放射線源の位置が
変わり、物体（厳密に云えば要素マトリクス）照
射方向が変わる度に別の一組の重みづけ因子を用
いる必要があり、この別々の組を成す多数の重み
づけ因子を予びめ計算しておく必要があるためで
ある。これではメモリが大きくなり、従つて高価
になつてしまう。

図面につき本発明装置を詳細に説明する。

第１図は本発明によるコンピユータ断層撮影装
置の全体を略式図示したものであつて、符号１は
放射線源を示す。この放射線源１はＸ線源とする
のが良いが、ラジオアイソトープ、例えば
Am241を用いることもできる。この放射線源１
から放射される放射線は、絞り２で制限され紙面
内で末広がりにひろがる放射線ビーム３を形成す
る。この放射線ビーム３の紙面に垂直な方向の厚
さは例えば３〜25mmである。また紙面内での広が
りの程度は角度αで表される。この放射線ビーム
３は検出器アレイ４に入射する。この検出器アレ
イ４は個別の複数の検出器５を有し、個々の検出
器５は放射線ビーム３の一部３ａの放射線量を測
定する。個々の検出器５の幅と隣接する検出器間
の間隔とにより、検査台６上の被検体を走査する
際の空間的精度が定まる。検出器アレイ４は中心
放射線８に対して左右対称になるように配置され
ると共に、例えば300個の検出器５を有し、２個
の検出器の中心から中心間での距離は数ミリメー
トルである。この代わりに検出器アレイ４全体を
一つの細長い気体を充填した電離箱とし、その中
に区域を区切つて電離現象が発生したことを検出
する電極を多数一列に並べるようにすることもで
きる。被検体７は放射線ビーム３の面と直交する
方向に移動でき、被検体７の内部に位置し、円形
支持枠（支持フレーム）１０の中心軸に相当する
軸９に沿つて移動させることができるようになつ
ており、これにより被検体７の種々の断層に向け
て放射線を照射できる。

放射線源１と検出器アレイ４とより成る系は上
記軸９を中心として回転させることができ、これ
により一つの断層に種々の方向から放射線ビーム
を照射できるようになつている。この目的で支持
枠１０（これは軸受１１により支承されている）
を回転させるが、それには例えば歯車１２とモー
タ１３のような駆動手段を用いる。支持枠１０は
連続的に回転させてもよいし、間欠的に回転させ
てもよい。後者の場合は１段毎に放射線源１を作
動させて被検体７に放射線を照射する。

検出器５から取り出された測定信号は増幅器１
４で増幅してから信号変換器１５に送り、ここで
既知の態様で「オフセツト」に対する補正を行
い、基準値と関係付け、デイジタル量に変え、対
数変換し、信号変換器１５に内蔵されている対数
変換兼較正表に基づき較正する。デイジタル量に
変えられた測定値は更に信号変換器１５の出力端
子から処理装置１６に送られ、ここで再生像を表
す減衰値に変えられ、これからメモリ１７に蓄え
られる。こうしてメモリ１７に蓄えられた減衰値
は表示装置、例えばモニタ１８に表示する。カウ
ンタ１９により処理装置１６に加えられた測定信
号の数を一群の測定信号毎に計数し、この測定信
号の数が検出器５の数に達したら直ちに制御回路
２０を作動させてモータ１３を回転させ、これに
より支持枠１０を回転させ、次の群の測定信号を
得る。これを以下繰り返す。光学センサ３０を用
いて歯車１２の歯の数を計数、これにより順次の
測定系列間の回転角θを求める。光学センサ３０
で発生したパルスは処理装置１６に送り、ここで
この処理装置内に記憶されている支持枠１０の幾
何学的構造及び放射線源１と検出器アレイ４との
相対位置に関するデータと対象して各測定信号群
に関連する全部の測定路の座標を求める。

放射線源１と被検体７との間の距離は被検体７
の直径に適合させる必要がある。これを行うた
め、放射線源１と検出器アレイ４とから成る系を
支持体２１に取り付け、モータ２４により歯車２
５を回転させてこの支持体２１を案内レール２２
に沿つてずらせるようにする（２３は軸受けであ
る）。この目的で例えば手動スイツチ２７により
モータ２４の制御回路２６を動作させることもで
きるが、制御回路２６を自動式にすることも可能
である。測定の開始に先立つて２個の検出器５′
及び５″から取り出された測定信号を信号変換器
１５を介して制御回路２６に送る。そして検出器
５″から送られてきた信号が最大値をとり、検出
器５′から送られてくる信号がこれより僅か低い
値になるように支持体２１をずらす。この場合検
出器５″は被検体７を通らず、被検体７の周囲の
空間だけを通つてきた放射線を受け取り、他方検
出器５′で測定される放射線は被検体７で減衰さ
せられている。その後制御回路２６をロツクして
放射線源１と回転中心軸９との間の距離を照射中
一定に保つ。

以下第２図につき本発明に係るコンピユータ断
層撮影装置を詳細に説明する。測定作業中放射線
源１は、中心を９とする円形通路３２上の位置
θ₁，θ₂，θ₃…を順次にとる。被検体７と、この被
検体７との間で永続的関係を保つ多数の要素εか
ら成るマトリクスとはこの間ずつと静止してい
る。マトリクスの各要素εの境界は同心円３１と
中心９を通つて半径方向に延在する直線３３との
該当する部分により画成される。図にはその一部
だけを示した。隣同志の一対の半径方向に延在す
る直線３３がはさむ角Δは放射線源の位置θ₁と
中心９とを結ぶ直線と、これと隣同志になる放射
線源の位置θ₂と中心９とを結ぶ直線とがはさむ角
Δに等しくとる。位置θ₁にある放射線源から一
群の測定通路（図には一部だけを示した）に沿つ
て出る放射線により得られる一群の測定信号から
既知の方法でたたみ込み値（convolued value）
を求める。各要素εのこの累積減衰値に対する寄
与分を求めるにはこれらのたたみ込み値を各測定
通路３７_o-1，３７_o，３７_o+1…と関連各要素εに
反映させる必要がある。この目的を達成するに
は、たたみ込み値に、例えば要素ε及び関連測定
通路３７に共通する面積に比例し、放射線源１と
関連要素εとの間の距離Ｒの二乗に反比例する重
みづけ因子を乗算することによつて重み付けを行
う。これらの重みづけ因子は、要素εを含むマト
リクスメモリと同一の構成を有するマトリクスメ
モリに記憶し、計算された放射線吸収分布を記憶
し再生する。このマトリクスメモリの各記憶位置
には、対応する要素εを通つて延在する１本又は
２本の測定通路に関連するたたみ込み値に乗ずべ
き１個又は２個の重みづけ因子を記憶する。各記
憶位置には、この重みづけ因子の他に、この重み
づけ因子を乗ずべき相手のたたみ込み値に関連す
る測定通路３７_o-1，３７_o，３７_o+1…を示す測定
通路番号（…ｎ−１，ｎ，ｎ＋１，ｎ＋２…）も
記憶する。重みづけ因子マトリクスの多くの記憶
位置には、２個の重みづけ因子及び２個の測定通
路番号が記憶される。しかしいくつかの要素ε₁に
ついては、（図から明らかなように）１個の重み
づけ因子と１個の測定通路番号だけが減衰分布の
計算に必要となる。

容易に判るように、放射線源位置θ₁に関連する
全てのたたみ込み値を処理し終わつたら、重みづ
け因子と測定通路番号とが記憶されているマトリ
クス（メモリ）をマトリクスに対して（放射線源
１の回転方向に）角度Δθ（＝Δ）だけ回転させ
た後放射線源位置θ₂と関連するたたみ込み値を処
理することができる。こうすれば、これらの２個
のマトリクスの形態は、マトリクスの角度座標を
除いて放射線源１に関して変化することはない。
しかも、重みづけ因子及び測定通路を記憶してい
るマトリクスメモリは同一のままである。従つて
各重みづけ因子及び関連測定通路番号は修正せず
にそのまま使える。このため予め重みづけ因子を
計算し、測定通路番号と一緒にメモリ（例えば
ROM）に記憶しておくことができる。また図を
見れば明らかな通り、要素のマトリクスは放射線
源１と中心９とを結ぶ直線に対して左右対称にな
つているから要素のマトリクスの半分だけにつき
重みづけ因子及び関連測定通路番号を記憶すれば
十分である。

第２図から明らかなように、要素εは全部が同
一サイズという訳ではない。従つて情報密度をほ
ぼ均一にするためには、隣接する要素ε毎に決定
された減衰値（例えば２個の同心円３１間の）を
加算し、一つの画像要素を形成する。この際この
画像要素を形成する個々の要素εの面積の和が
「標準単位面積」に近くなるようにする。。中心要
素４０の半径がｒであれば（中心要素４０はマト
リクスが回転してももとの位置にとどまるから、
小さく分ける必要はない）、面積はπr²であり、こ
れを標準単位面積とすることができる。半径nrと
（ｎ−１）ｒの２個の同心円３１間の一つの要素
εの面積は、Ｍをこれらの２個の同心円３１間の
隣同志の半径方向に延在する直線により画成され
る要素の数とした場合π／Ｍ｛（nr）²−（ｎ−１）²r²｝となる。従つてＰ＝Ｍ／2n（但しＰは整数）としたとき、この要素の面積をＰ倍すればπr²即ち標準
単位面積に最も近くなる。放射線源の位置θ₁の数
を360とすると、（即ち１度回転する毎に１個の測
定信号群を得る）半径方向の直線３３により画成
される要素を90個集めた後に第２のリング内に
各々が標準単位面積を占める対応する画像要素と
それぞれ関連する４個の減衰値が発生することに
なる。第３のリングでは毎回60個の要素を加算し
た後各々が標準単位面積を占める対応する画像要
素と関連する６個の減衰値が形成されることにな
る。第４のリングでは45個の要素を集めることに
より各々が同様な８個の画像要素の減衰値が得ら
れる。メモリ１７（第１図参照）に記憶されてい
る各測定信号群を処理装置１６で既知の一連の数
を用いてたたみ込みをし、その後再度メモリ１７
の適度なセクシヨン１７ａ（第３図）に記憶する。
クロツク４１でパルスを発生させ、これを1/4分
周回路４３に通した後Δカウンタ４５に送る。
このΔカウンタ４５の出力はメモリ１７のセク
シヨン１７ｂに記憶されている重みづけ因子と測
定通路番号を指定するアドレスの第１の部分を形
成する。クロツクパルスは1/M分周段４７を介し
てリング番号カウンタ（ring number counter）
４９にも送る。このリング番号カウンタ４９の出
力はセクシヨン１７ｂに記憶されている重みづけ
因子と測定通路番号をアドレスするアドレスのも
う一つの部分を形成する。こうしてアドレスされ
るメモリ１７のセクシヨン１７ｂの記憶位置には
高々２個の重みづけ因子と４個の測定通路番号と
が記憶されることになる。重みづけ因子は座標
（ｎ，）の場合と座標（ｎ，−）との場合で同
一であるが、各々別の測定通路についてのたたみ
込み値を乗ずる必要がある。４個の測定通路番号
はクロツクパルスが順次に送られてくるのに応じ
て順次に接続導線５０を介してメモリ１７のセク
シヨン１７ａに送る。この目的でメモリ１７のセ
クシヨン１７ｂは直接クロツク４１に接続する。
メモリ１７のセクシヨン１７ａには各測定通路に
つき測定されたたたみ込み値が記憶されており、
これらのたたみ込み値を一回に一個づつ乗算器５
１に送る。またこれと同時にセクシヨン１７ｂか
ら乗算器５１に重みづけ因子を供給する。こうし
てできる重みづけ因子とたたみ込み値の積を加算
装置５３に送る。加算装置５３は乗算器５１から
次々に送られてくる積を加算する。この加算動作
を重みづけ因子とたたみ込み値とが乗算器５１に
供給されるのに同期させるため、加算装置５３に
クロツク４１から直接クロツクパルスを与える。
また、クロツク４１から1/2分周回路５５にクロ
ツクパルスを供給し、この1/2分周回路からメモ
リ１７のセクシヨン１７ｃに２個のクロツクパル
ス毎に１個のパルスを供給する。こうしてメモリ
１７のセクシヨン１７ｃに１個のパルスが供給さ
れると加算装置５３の内容がメモリ１７のセクシ
ヨン１７ｃに移されてここに記憶される。加算装
置５３の内容を記憶する記憶位置を指定するアド
レスはΔカウンタ４５とリング番号カウンタ４
９の内容により与えられる。そして1/2分周回路
５５からの第１のパルスに応じて先ずアドレス
（ｎ，）の記憶位置に記憶し、次いで1/2分周回
路５５からの第２のパルスに応じてアドレス
（ｎ，−）の記憶位置に記憶する。アドレス
（ｎ，）の第１項ｎはリング番号カウンタ４９
の計数位置により決まり、第２項はΔカウン
タ４５の計数状態により決まる。種々の分周回路
４３，４７，５５の目的は明らかである。また明
らかに１計数サイクルにおいて第１の最外側のリ
ング４０（第２図参照）の全ての要素が走査さ
れ、その後このリング４０_oの内側にリング４０_o
に隣接して存在するリング４０_o-1に切り換えら
れる。このためリング番号カウンタ４９の計数出
力を正規の出力端子Ｑからではなく、相補出力端
子Ｑから取り出す。このＱ出力端子の出力が値１
になつた時はΔカウンタ４５を暫時（４×Ｍ／２パルス分）閉塞し、中心の画像要素領域４０₀の減
衰分を１回だけ計算する。またインクリメントカ
ウンタ５４を設けておき、計数位置Ｑ−１に達し
た時１段だけデクリメントさせ、メモリ１７のセ
クシヨン１７ｃに蓄えられている要素のマトリツ
クスをアドレス方向にセクシヨン１７ｂに蓄えら
れている重みづけ因子と測定通路番号とに対して
角度増分Δθ＝Δだけ回転させ、次の放射線源の
位置で決まる次のたたみ込み値の群を処理できる
ようにする。前述したように一様な情報密度でも
つて減衰分布像を表示するにはその前にメモリ１
７のセクシヨン１７ｃに記憶されている減衰寄与
分を各リング４０内の種々の要素群毎に加え合わ
せる必要がある。

第４図に（第１図の）処理装置１６の一部を示
すが、これは第３図に示すブロツク図と部分的に
同一である。この第４図から明らかな通り、一つ
の要素の減衰寄与分を直接メモリ１７のセクシヨ
ン１７ｃに与えるのではない。加算装置５３で形
成された和はゲート回路５７に送られ、このゲー
ト回路５７で複数個の要素についての減衰値を要
素（ｎ，）の分と要素（ｎ，−）の分とに分
解し、それらを夫々加算回路５９₊と５９_-とに送
る。加算回路５９₊及び５９_-は一つのリング（例
えば第２図の４０_o）内の複数個の隣接要素と関
連する計算した減衰分を加算する。この際これら
の加算回路５９₊，５９_-内での加算動作の回数を
当該リングの半径を表すリング番号ｎに依存せし
めることにより一様な情報密度を得る。それ故リ
ング番号カウンタ４９の出力端子を各リングにつ
き何個の要素εを加算すべきか（厳密に言えば要
素εにつき計算されている減衰分を加算する）を
示す表が記憶されている読み出し専用メモリ
（ROM）６１に接続する。またクロツク４１に
１／４分周パルスカウンタ６３を接続して１計数期
間がスタートしてから計算し終わつた減衰分の数
を計数する。1/4分周パルスカウンタ６３の計数
状態がリング番号カウンタ４９の計数状態により
決まる要素の数に等しくなると比較器６５から１
個のパルスが出力され、これが加算回路５９₊及
び５９_-の入力端子ｃに供給される。するとそれ
までに計算されその時点で存在する減衰分の２つ
の和が別個にメモリ１７のセクシヨン１７ｃに蓄
えられる。この和を記憶する記憶位置のアドレス
は、セクシヨン１７ｃの（と−とに対し）別
個に設けられている入力端子に入る入力と、比較
器６５から供給されるパルスの数を計数するアド
レスカウンタ６７の計数状態とにより決まる。

比較器６５の出力端子はまた1/4分周パルスカ
ウンタ５３のリセツト入力端子に接続し、複数個
の関連減衰分の和が求まつたらカウンタ６３を零
にリセツトする。

第３図の場合と同じくリング番号カウンタ４９
の相補出力端子Ｑを用いるが、このＱ出力端子が
値１を出力すると導線７０を伝わつてくる信号で
Δカウンタ４５が閉塞され、中心要素４０₀（第
２図参照）の減衰分が１回だけ計算される。そう
するとリング番号カウンタ４９はクロツク４１で
連続的に発生するパルスによりマトリクスの最外
側リングに対応するスタート位置にセツトされ
る。この状態を比較器７１で検出し、この比較器
７１からORゲート７３を介してΔカウンタ４５
に負荷的パルスを供給する。この結果、このΔ
カウンタ４５で活性化されたセクシヨン１７ｂの
アドレスが全部インクリメントされる。この目的
は重みづけ因子と測定通路番号とを記憶している
極座標のマトリクスメモリをセクシヨン１７ｃ内
のマトリクスに対してアドレスについて回転さ
せ、Ｘ線源の回転後次の測定時に求まる次の群の
たたみ込み値を反映できるようにする。

第４図につき説明した場合には重みづけ因子と
測定通路番号とを記憶しているマトリクスメモリ
をアドレスの点でＸ線源と同じ方向に回転させ
る。これに対し、第３図につき説明した場合、た
たみ込み値の群を反映する画像要素のマトリクス
がアドレスの点で放射線源と反対の方向に回転さ
せられている。そして重みづけ因子及び測定通路
番号を記憶するマトリクスメモリと測定通路自体
（厳密に言えば放射線源）とは計算の上では静止
している。

（全てのたたみ込み値の群を反映した後）メモ
リ１７のセクシヨン１７ｃに記憶されている減衰
値を、ビームを円形又はら旋状に変更させて走査
する型のモニタテレビを使つて表示する。但し極
座標で指示されるセクシヨン１７ｃのアドレスを
直交座標形式に変換した後（これは一回だけでよ
い）、普通のモニタテレビを使つて表示させるこ
とも可能なことは自明である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明コンピユータ断層撮影装置全体
の構成する線図、第２図は本発明に従つて減衰値
の寄与分を求める方法を説明するための説明図、
第３図は第１図のコンピユータ断層撮影装置の処
理装置とメモリの一実施例を示すブロツク図、第
４図は第１図のコンピユータ断層撮影装置の処理
装置とメモリの好適な一実施例のブロク図であ
る。１……放射線源、２……絞り、３……平坦な扇
状の放射線ビーム、４……検出装置（検出器アレ
イ）、５……検出器、６……検査台、７……被検
体（物体）、８……中心放射線、９……中心（中
心軸）、１０……支持枠、１１……軸受、１２…
…歯車、１３……モータ、４……増幅器、１５…
…信号変換器、１６……処理装置、１７……メモ
リ、１８……モニタ、１９……カウンタ、２０…
…制御回路、２１……支持体、２２……案内レー
ル、２３……軸受、２４……モータ、２５……歯
車、２６……制御回路、２７……手動スイツチ、
３０……光学センサ、３１……同心円、３２……
円形通路、３３……半径方向に延在する直線、３
７……測定通路、４０……リング、４１……クロ
ツク、４３……1/4分周回路、４５……Δカウン
タ、４７……1/M分周段、４９……リング番号カ
ウンタ、５０……導線、５１……乗算器、５３…
…加算装置、５５……1/2分周回路、５７……ゲ
ート回路、５９……加算回路、６１……ROM、
６３……1/4分周パルスカウンタ、６５……比較
器、６７……アドレスカウンタ、７０……導線、
７１……比較器、７３……ORゲート。

Claims

【特許請求の範囲】

１物体の断面内の放射線減衰分布を決定するコ
ンピユータ断層撮影装置であつて、断層方向に向
き、物体内に浸透し透過する平坦で扇形の放射ビ
ームを発生する放射線源と、物体を透過した後の
放射線を検出し測定信号群を供給する検出装置
と、前記放射線源及び検出装置を支持する支持フ
レームと、多数の方向から物体に放射線を照射す
るために、少なくとも放射線源を支持フレーム内
で移動させる駆動装置とを具え、前記検出装置
が、前記放射線源から扇状に広がる測定経路群の
各々に沿う放射線減衰をそれぞれ表す各方向毎の
測定信号群を供給し、さらに、測定信号群を一連
の数でたたみ込むと共に、たたみ込まれた測定信
号を反映する減衰値を得る処理装置と、これら減
衰値を記憶するメモリ装置と、マトリクスを構成
する要素と関連する減衰値を表示して放射線減衰
分布像を表示する表示装置とを具えるコンピユー
タ断層撮影装置において、前記メモリ装置が、極
座標を用いてアドレスされるように構成され、距
離座標及び角度座標を用いてアドレスすることに
より前記減衰値が記憶される第１のメモリと、同
様な極座標アドレス形態を有し、たたみ込まれた
値を反映させる間に用いられるように重みづけ因
子が記憶されている第２のメモリとを具えること
を特徴とするコンピユータ断層撮影装置。