JPS6398501A - 直線位置検出器の被検出部の作成方法 - Google Patents
直線位置検出器の被検出部の作成方法Info
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- JPS6398501A JPS6398501A JP24289886A JP24289886A JPS6398501A JP S6398501 A JPS6398501 A JP S6398501A JP 24289886 A JP24289886 A JP 24289886A JP 24289886 A JP24289886 A JP 24289886A JP S6398501 A JPS6398501 A JP S6398501A
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Landscapes
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
- Transmission And Conversion Of Sensor Element Output (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、流体圧や電動によって直線的に移動する機器
の変位量ないしストロークの検出に利用される直線位置
検出器、特に、電磁誘導形又は磁気誘導形検出器の被検
出用パターンの作成方法に関する。
の変位量ないしストロークの検出に利用される直線位置
検出器、特に、電磁誘導形又は磁気誘導形検出器の被検
出用パターンの作成方法に関する。
従来、この種の直線位置検出器の一例として、特開昭6
0−168017号公報に示されたものがある。ここで
は、電磁誘導形の直線位置検出器において、磁気抵抗変
化のみならず渦電流損をもパラメータとして誘導係数変
化が相乗的に得られるようにするために、1次コイル及
び2次コイルからなるコイル部と、該コイル部に対し相
対的にと直線変位可能に配置されたロッド部とからなり
、該ロッド部が、前記コイル部を通る磁気回路の磁気抵
抗を減少せしめる磁性体部分と、磁気抵抗が相対的に増
大せしめられる個所において磁束に対し渦電流路を形成
するように設けられた相対的に弱磁性又は非磁性で、か
つ良導電性である導電体部分とから構成されている。そ
のため、磁気抵抗のみならず渦電流損をも変調すること
ができるので、2次コイルによる検出出力を高感度にで
きる特徴を有するとしている。
0−168017号公報に示されたものがある。ここで
は、電磁誘導形の直線位置検出器において、磁気抵抗変
化のみならず渦電流損をもパラメータとして誘導係数変
化が相乗的に得られるようにするために、1次コイル及
び2次コイルからなるコイル部と、該コイル部に対し相
対的にと直線変位可能に配置されたロッド部とからなり
、該ロッド部が、前記コイル部を通る磁気回路の磁気抵
抗を減少せしめる磁性体部分と、磁気抵抗が相対的に増
大せしめられる個所において磁束に対し渦電流路を形成
するように設けられた相対的に弱磁性又は非磁性で、か
つ良導電性である導電体部分とから構成されている。そ
のため、磁気抵抗のみならず渦電流損をも変調すること
ができるので、2次コイルによる検出出力を高感度にで
きる特徴を有するとしている。
しかして、前記ロッド部の製作方法は、磁性体のロッド
を予め機械加工し、リング状あるいは螺旋状等の凹部を
形成し、該凹部にメッキ、溶射、パターン焼付などの表
面加工処理によって所定の導電性物質を付着させ、その
後、表面を研にし、前記磁性体部分と導電体部分とが交
互になるように被検出部を形成するものであった。また
、上記機械加工の代わりにエツチングによって凹部を形
成することも可能であるとしている。
を予め機械加工し、リング状あるいは螺旋状等の凹部を
形成し、該凹部にメッキ、溶射、パターン焼付などの表
面加工処理によって所定の導電性物質を付着させ、その
後、表面を研にし、前記磁性体部分と導電体部分とが交
互になるように被検出部を形成するものであった。また
、上記機械加工の代わりにエツチングによって凹部を形
成することも可能であるとしている。
上記のように、従来法は、磁性体のロッドにリング状そ
の他の形状の凹部に銅又はアルミ等の導電体を付着させ
、それを検出する方法であるため、(1)ロッドの機械
加工による凹部の形成(2)該凹部への導電体の付着 (3)仕上げ研磨 という3ステツプの工程を必要とし、製造コストが高く
なる。また、直線位置検出器の変位検出分解能を上げる
ための微細パターンの加工は困難である。
の他の形状の凹部に銅又はアルミ等の導電体を付着させ
、それを検出する方法であるため、(1)ロッドの機械
加工による凹部の形成(2)該凹部への導電体の付着 (3)仕上げ研磨 という3ステツプの工程を必要とし、製造コストが高く
なる。また、直線位置検出器の変位検出分解能を上げる
ための微細パターンの加工は困難である。
本発明は、レーザビームの照射によるロッド表面の熱処
理によって前記パターンを安価に作成する方法を提供す
ることを目的とする。
理によって前記パターンを安価に作成する方法を提供す
ることを目的とする。
本発明は、電磁誘導又は磁気誘導によって金属材料の透
磁率及び/又は導電率の変化を検知するコイルと、該コ
イルに交流電流を与える励磁回路と、前記コイルのイン
ピーダンス又はHM K電圧を検出する検出回路と、前
記コイルに対して相対的に直線変位する金属材料のロッ
ドを備えた直線位置検出器において、前記ロッドの表面
にレーザビームを照射することによって部分的な熱処理
を施し、それによって透磁率及び/又は導電率を変調さ
せてパターンを形成するようにしたものである。
磁率及び/又は導電率の変化を検知するコイルと、該コ
イルに交流電流を与える励磁回路と、前記コイルのイン
ピーダンス又はHM K電圧を検出する検出回路と、前
記コイルに対して相対的に直線変位する金属材料のロッ
ドを備えた直線位置検出器において、前記ロッドの表面
にレーザビームを照射することによって部分的な熱処理
を施し、それによって透磁率及び/又は導電率を変調さ
せてパターンを形成するようにしたものである。
本発明においては、金属材料のロッド表面にレーザビー
ムを照射するとその照射域が焼入れ状態となり、その部
分の透磁率が減少する。従って、レーザビームをロッド
表面にリング状、スパイラル状あるいは散点状など一定
間隔で照射すれば、透磁率及び/又は導電率の変調した
パターンを精密かつ迅速に形成することができる。
ムを照射するとその照射域が焼入れ状態となり、その部
分の透磁率が減少する。従って、レーザビームをロッド
表面にリング状、スパイラル状あるいは散点状など一定
間隔で照射すれば、透磁率及び/又は導電率の変調した
パターンを精密かつ迅速に形成することができる。
以下、本発明による実施例を図により説明する。
第1図はレーザビーム照射によるロッド表面の焼入れ状
態を示す斜視図であって、第2図はレーザビームの照射
時間に対する材表面温度の関係を示す線図である。すな
わち、鋼製のロッド1の表面にビームパワーAワット、
ビームスポットφammのレーザビームを一定時間tO
秒照射すると散逸し急冷される結果、レーザビーム照射
域を中心とする巾W、長さβの領域2は焼入れされた状
態となる。
態を示す斜視図であって、第2図はレーザビームの照射
時間に対する材表面温度の関係を示す線図である。すな
わち、鋼製のロッド1の表面にビームパワーAワット、
ビームスポットφammのレーザビームを一定時間tO
秒照射すると散逸し急冷される結果、レーザビーム照射
域を中心とする巾W、長さβの領域2は焼入れされた状
態となる。
鋼面焼入れされると透磁率μが減少するとともに導電率
も若干減少し電磁気特性が変化することになる。この変
化をマークとして後述するセンサを用いて検知し、ロッ
ドの軸方向りの直線変位を検出する。なお、マーク検出
感度を向上させるために長さの長いβ1を持つ領域21
のようなマークが得られるようにレーザビームをロッド
1の周方向に走査しても差し支えない。
も若干減少し電磁気特性が変化することになる。この変
化をマークとして後述するセンサを用いて検知し、ロッ
ドの軸方向りの直線変位を検出する。なお、マーク検出
感度を向上させるために長さの長いβ1を持つ領域21
のようなマークが得られるようにレーザビームをロッド
1の周方向に走査しても差し支えない。
実際には、上記のようなマークを第3図に示すようにロ
ッド1の軸方向(ロッド変位方向)Lにの直線変位を測
定することが可能となる。−例として、YAGレーザ(
波長1.06μm)を用いp=0.2mm毎にw =
0.1のレーザ熱処理マークをロッド表面に付けたとき
の顕微鏡写真を参考図に示す。
ッド1の軸方向(ロッド変位方向)Lにの直線変位を測
定することが可能となる。−例として、YAGレーザ(
波長1.06μm)を用いp=0.2mm毎にw =
0.1のレーザ熱処理マークをロッド表面に付けたとき
の顕微鏡写真を参考図に示す。
また、レーザ熱処理前にロッド表面を高周波焼入れする
ことも可能で、その場合には、レーザ熱処理は再焼入れ
の効果となる。更に、レーザ熱処理後ロッド表面保護の
ため硬質クロムメッキ等を施してもよい。
ことも可能で、その場合には、レーザ熱処理は再焼入れ
の効果となる。更に、レーザ熱処理後ロッド表面保護の
ため硬質クロムメッキ等を施してもよい。
第4図〜第6図はマークの付は方の変形例を示すもので
ある。すなわち、第4図はリング状、第5図はスパイラ
ル状、第6図は複数の小領域からなるパターンである。
ある。すなわち、第4図はリング状、第5図はスパイラ
ル状、第6図は複数の小領域からなるパターンである。
なお、実際のレーザ熱処理においては、鋼の炭素含有量
が多くなると熱衝撃によってマークに沿ってクラックが
発生する恐れがある。そこで、マークの検出に必要最小
限の熱処理となるようレーザビームのエネルギー密度(
D = A / a )を抑制することが必要である。
が多くなると熱衝撃によってマークに沿ってクラックが
発生する恐れがある。そこで、マークの検出に必要最小
限の熱処理となるようレーザビームのエネルギー密度(
D = A / a )を抑制することが必要である。
以上の説明では、ロッドすなわち丸棒表面に対する熱処
理について説明したが、これはロッドに代えて平板状あ
るいは角形棒状の物体であっても同様に実施できること
はいうまでもない。
理について説明したが、これはロッドに代えて平板状あ
るいは角形棒状の物体であっても同様に実施できること
はいうまでもない。
次に、上記のようにマークの検出方法について述べる。
レーザ熱処理によってマーク(領域2)は焼入れないし
再焼入れされ透磁率μが減少するとともに導電率σも若
干減少する。
再焼入れされ透磁率μが減少するとともに導電率σも若
干減少する。
そこで、上記のマークを検出するために、公知の電磁誘
導を用いた検出法を採用する。すなわち、第7図に示す
ようにコイル4.5をロッド1に対して配置する。コイ
ル4はリファレンスコイルで、コイル5はピックアップ
コイルである。コイル5はロッド1のマークの有無によ
るインピーダンス変化を受ける。一方コイル4はロッド
1のマーク無しの場合と同材質の材料片10に常に接し
ている。なお、コイル4.5の間には各々のコイルのつ
くる磁束が往来しないよう磁気遮蔽板9を設け、相互の
干渉がないようにする。そこで、第8図に示すように、
コイル4.5を含むブリッジを構成し、発振器8より交
流信号を供給すると、コイル4のインピーダンスは常に
一定であるのに対し、コイル5のインピーダンスはマー
クの有無によって変化する。コイル4.5間のインピー
ダンス差はブリッジの非平衡出力として取り出され増幅
器6で増幅された後、位相検波器7で位相検波される。
導を用いた検出法を採用する。すなわち、第7図に示す
ようにコイル4.5をロッド1に対して配置する。コイ
ル4はリファレンスコイルで、コイル5はピックアップ
コイルである。コイル5はロッド1のマークの有無によ
るインピーダンス変化を受ける。一方コイル4はロッド
1のマーク無しの場合と同材質の材料片10に常に接し
ている。なお、コイル4.5の間には各々のコイルのつ
くる磁束が往来しないよう磁気遮蔽板9を設け、相互の
干渉がないようにする。そこで、第8図に示すように、
コイル4.5を含むブリッジを構成し、発振器8より交
流信号を供給すると、コイル4のインピーダンスは常に
一定であるのに対し、コイル5のインピーダンスはマー
クの有無によって変化する。コイル4.5間のインピー
ダンス差はブリッジの非平衡出力として取り出され増幅
器6で増幅された後、位相検波器7で位相検波される。
但し、ここではコイル5のインピーダンスの変化を感知
した7うな位相で検波を行う。
した7うな位相で検波を行う。
ロッド変位量に対する位相検波器7からの出力■は第9
図に示すようになる。このピークを計数することによっ
てマークのピッチpに相当する変位量を検出することが
可能となる。
図に示すようになる。このピークを計数することによっ
てマークのピッチpに相当する変位量を検出することが
可能となる。
以上の説明の中で、コイル5とブリッジの代わ理的にマ
ークの検出は可能である。
ークの検出は可能である。
また、上記のようなコイルの代わりに第10図、第11
図に示すようなコイルを用いることも可能である。第1
0図は差動プローブコイル、第11図は差動貫通コイル
の場合である。第11図ではコイル5を省略し、コイル
4のインピーダンスを測定することによっても実施可能
である。
図に示すようなコイルを用いることも可能である。第1
0図は差動プローブコイル、第11図は差動貫通コイル
の場合である。第11図ではコイル5を省略し、コイル
4のインピーダンスを測定することによっても実施可能
である。
以上の説明は、電磁誘導を利用したマークの検出方法で
あるが、これの代わりに磁気誘導を利用したマークの検
出も可能である。すなわち、第12図に示すように、磁
性体コア12にコイル10.12を設け、コイル11に
交流信号を流し、コア12を励磁する。ロッド表面が磁
路の一部分を構成しているため、ロッド表面のマークの
有無すなわち透磁率μの大小によってコア12中を流れ
る磁束量が変化し、これをコイル13によって検出する
。これによりマークの有無が検出できる。
あるが、これの代わりに磁気誘導を利用したマークの検
出も可能である。すなわち、第12図に示すように、磁
性体コア12にコイル10.12を設け、コイル11に
交流信号を流し、コア12を励磁する。ロッド表面が磁
路の一部分を構成しているため、ロッド表面のマークの
有無すなわち透磁率μの大小によってコア12中を流れ
る磁束量が変化し、これをコイル13によって検出する
。これによりマークの有無が検出できる。
なお、コイル13の代わりにホール素子等の感磁素子1
4を磁路の一部に設けることによっても磁束量の変化を
検出することができる。この場合には、直流電流によっ
てコア12を励磁することも可能である(第13図)。
4を磁路の一部に設けることによっても磁束量の変化を
検出することができる。この場合には、直流電流によっ
てコア12を励磁することも可能である(第13図)。
更に、第14図に示すように永久磁石15を設け、ロッ
ド表面を磁化しロッド表面のマークの有無による透磁率
μの差異による磁場の強さの変化を感磁素子14によっ
て検出することも可能である。
ド表面を磁化しロッド表面のマークの有無による透磁率
μの差異による磁場の強さの変化を感磁素子14によっ
て検出することも可能である。
最後に、上記の電磁誘導と磁気誘導とは交流励磁の場合
に混在する可能性がある。その時にはコイルによって検
出される磁束変化量は両者の合成値となる。
に混在する可能性がある。その時にはコイルによって検
出される磁束変化量は両者の合成値となる。
C発明の効果〕
本発明によれば次のような効果を得ることができる。
+110ツド表面にレーザ熱処理のみによりパターンを
作成することができるから、工程、工期の短縮、コスト
ダウンを図ることができる。 ′(2)レーザビー
ムはμmオーダまで絞ることができるので、変位検出分
解能を上げるための微細パターンの加工が可能である。
作成することができるから、工程、工期の短縮、コスト
ダウンを図ることができる。 ′(2)レーザビー
ムはμmオーダまで絞ることができるので、変位検出分
解能を上げるための微細パターンの加工が可能である。
(3)レーザビームは光学的走査によって自由に走査す
ることがで′きるので、変位検出センサに応じた任意パ
ターンの加工が可能である。
ることがで′きるので、変位検出センサに応じた任意パ
ターンの加工が可能である。
第1図は本発明によるレーザ熱処理によるロッド表面の
マークの斜視図、第2図はレーザビーム照射時間と材表
面温度との関係を示す線図、第3図はロッド変位の検出
法の説明図、第4図〜第6図はマークの変形例を示す図
、第7図は電磁誘淳による検出法の説明図、蕃第8図は
同検出回路図、第9図は位相検波器の出力を示す図、第
10図〜第11図は他のコイルの変形例を示す図、第1
2図〜第14図は磁気誘導による検出法の説明図である
。 l・・−ロッド、2・・−マーク、3−・センサ、4.
5・・−コイル。 第 1 図 第 2 図 N 第 3 図 第 9 図 第 10 図 第 11 図 第 12 図 第 13 図 ] 第 14 図
マークの斜視図、第2図はレーザビーム照射時間と材表
面温度との関係を示す線図、第3図はロッド変位の検出
法の説明図、第4図〜第6図はマークの変形例を示す図
、第7図は電磁誘淳による検出法の説明図、蕃第8図は
同検出回路図、第9図は位相検波器の出力を示す図、第
10図〜第11図は他のコイルの変形例を示す図、第1
2図〜第14図は磁気誘導による検出法の説明図である
。 l・・−ロッド、2・・−マーク、3−・センサ、4.
5・・−コイル。 第 1 図 第 2 図 N 第 3 図 第 9 図 第 10 図 第 11 図 第 12 図 第 13 図 ] 第 14 図
Claims (1)
- 電磁誘導又は磁気誘導によつて金属材料の透磁率及び/
又は導電率の変化を検知するコイルと、該コイルに交流
電流を与える励磁回路と、前記コイルのインピーダンス
又は誘導電圧を検出する検出回路と、前記コイルに対し
て相対的に直線変位する金属材料のロッドを備えた直線
位置検出器において、前記ロッドの表面にレーザビーム
を照射することによつて部分的な熱処理を施し、それに
よつて透磁率及び/又は導電率を変調させてパターンを
形成することを特徴とする直線位置検出器の被検出部の
作成方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24289886A JPS6398501A (ja) | 1986-10-15 | 1986-10-15 | 直線位置検出器の被検出部の作成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24289886A JPS6398501A (ja) | 1986-10-15 | 1986-10-15 | 直線位置検出器の被検出部の作成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6398501A true JPS6398501A (ja) | 1988-04-30 |
Family
ID=17095859
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24289886A Pending JPS6398501A (ja) | 1986-10-15 | 1986-10-15 | 直線位置検出器の被検出部の作成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6398501A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2009053183A (ja) * | 2007-07-31 | 2009-03-12 | Kyocera Corp | ステージの位置変動検出装置およびこれを備えた搬送装置 |
WO2012117230A1 (en) | 2011-03-03 | 2012-09-07 | Rls Merilna Tehnika D.O.O. | Method of manufacturing a magnetic substrate for an encoder |
EP2527156A1 (en) | 2011-05-25 | 2012-11-28 | RLS Merilna Tehnika D.O.O. | Apparatus and method for writing a pattern in a substrate |
WO2017073280A1 (ja) * | 2015-10-29 | 2017-05-04 | Tdk株式会社 | 磁気検出装置及び移動体検出装置 |
JP2020091131A (ja) * | 2018-12-03 | 2020-06-11 | Tdk株式会社 | 磁気検出装置及び移動体検出装置 |
-
1986
- 1986-10-15 JP JP24289886A patent/JPS6398501A/ja active Pending
Cited By (11)
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