JPS6382421A - Production of electrophotographic sensitive body - Google Patents

Production of electrophotographic sensitive body

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JPS6382421A
JPS6382421A JP22895686A JP22895686A JPS6382421A JP S6382421 A JPS6382421 A JP S6382421A JP 22895686 A JP22895686 A JP 22895686A JP 22895686 A JP22895686 A JP 22895686A JP S6382421 A JPS6382421 A JP S6382421A
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JP
Japan
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layer
region
gas
substrate
photoreceptor
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Application number
JP22895686A
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Japanese (ja)
Inventor
Takao Kawamura
河村 孝夫
Naooki Miyamoto
宮本 直興
Hitoshi Takemura
仁志 竹村
Akira Watanabe
暁 渡辺
Kokichi Ishiki
石櫃 鴻吉
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Kyocera Corp
Original Assignee
Kyocera Corp
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Publication date
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    • G03G5/00Recording members for original recording by exposure, e.g. to light, to heat, to electrons; Manufacture thereof; Selection of materials therefor
    • G03G5/02Charge-receiving layers
    • G03G5/04Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor
    • G03G5/08Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic
    • G03G5/082Photoconductive layers; Charge-generation layers or charge-transporting layers; Additives therefor; Binders therefor characterised by the photoconductive material being inorganic and not being incorporated in a bonding material, e.g. vacuum deposited
    • G03G5/08214Silicon-based
    • G03G5/08221Silicon-based comprising one or two silicon based layers

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  • Inorganic Chemistry (AREA)
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Abstract

PURPOSE:To obtain a sensitive body having high dark resistivity by decomposing a gas contg. C2H2 and Si in a prescribed ratio and a gas for forming amorphous silicon carbide (a-SiC) contg. a prescribed amount of a group IIIa element of the periodic table by glow discharge to form a positively chargeable layer on a substrate. CONSTITUTION:A first layered region 6 and a second layered region 7 are successively formed on an electrically conductive substrate 1 in the form of an integrated photoconductive a-SiC layer 5a by decomposing a gas contg. 10<-6>-1mol% gas contg. a group IIIa element of the periodic table. The first region 6 contains a larger amount of the group IIIa element than the second region 7. The second region 7 contains 0.1-10,000ppm, preferably 0.1-1,000ppm group IIIa element, so the resulting sensitive body is positively chargeable and required electrophotographic characteristics such as surface potential and photosensitivity are obtd. Since the first region 6 contg. a larger amount of the group IIIa element than the second region 7 is formed, the conductivity of the a-SiC layer 5a is increased in the substrate side region, the injection of carriers from the substrate 1 side is hindered and light carriers flow smoothly to the substrate 1.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は光導電性アモルファスシリコンカーバイド層か
ら成る電子写真感光体の製法に関し、特に正極性に帯電
可能な電子写真感光体の製法に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to a method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor comprising a photoconductive amorphous silicon carbide layer, and particularly relates to a method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor that can be positively charged. be.

〔従来技術及びその問題点〕[Prior art and its problems]

近年、電子写真感光体め進歩は目覚ましく、感光体を搭
載する複写機やプリンター等の開発に伴って感光体自体
にも種々の特性が要求されている、この要求に対してア
モルファスシリコン層が耐熱性、耐摩耗性、無公害性並
びに光感度特性等に優れているという理由から注目され
ている。
In recent years, progress in electrophotographic photoreceptors has been remarkable, and with the development of copying machines and printers equipped with photoreceptors, various characteristics are required of the photoreceptors themselves. It is attracting attention because of its excellent properties such as hardness, abrasion resistance, non-pollution, and photosensitivity.

しかし乍ら、アモルファスシリコン(以下、a−Stと
略す)層は、それに何ら不純物元素をドーピングしない
と約109Ω・cllの暗抵抗値しか得られず、これを
電子写真用感光体に用いる場合には101zΩ・cm以
上の暗抵抗値にして電荷保持能力を高める必要がある。
However, the amorphous silicon (hereinafter abbreviated as a-St) layer can only obtain a dark resistance value of about 109 Ω・cll unless it is doped with any impurity element, and when used in an electrophotographic photoreceptor, It is necessary to increase the charge retention ability by increasing the dark resistance value to 101 zΩ·cm or more.

そのために酸素や窒素などの元素を微少量ドーピングし
て高抵抗化にし得るが、その反面、光導電性が低下する
という問題がある。また、ホウ素などを添加しても高抵
抗化が期待できるが、十分に満足し得るような暗抵抗値
が得られず約IQIIΩ・cm程度にすぎない。
For this purpose, it is possible to increase the resistance by doping a small amount of elements such as oxygen or nitrogen, but on the other hand, there is a problem that the photoconductivity decreases. Further, even if boron or the like is added, a high resistance can be expected, but a sufficiently satisfactory dark resistance value cannot be obtained and is only about IQIIΩ·cm.

一方、上記の如きドーピング剤の開発と共に、a−5i
光導電層に別の非光導電層を積層して成る積層型感光体
が提案されている。
On the other hand, along with the development of doping agents as mentioned above, a-5i
A laminated photoreceptor has been proposed in which a photoconductive layer is laminated with another non-photoconductive layer.

例えば、第2図はこの積層型感光体であり、基1rIi
(1)の上にキャリア注入阻止層(2) 、a−St光
導電N(3)及び表面保護層(4)が順次積層されてい
る。
For example, FIG. 2 shows this laminated photoreceptor, and the group 1rIi
A carrier injection blocking layer (2), an a-St photoconductive layer (3), and a surface protection layer (4) are sequentially laminated on (1).

この積層型感光体によれば、キャリア注入阻止層(2)
 は基板(1)からのキャリアの注入を阻止するもので
あり、表面保護層(4)はa−Si光導電層(3)を保
護して耐湿性等を向上させるものであるが、両者の層(
2)及び(4)ともに感光体の暗抵抗値を大きくして帯
電能を高めることが目的であり、そのためにこ乳らの層
を光導電性にする必要はない。
According to this laminated photoreceptor, the carrier injection blocking layer (2)
The surface protection layer (4) protects the a-Si photoconductive layer (3) and improves moisture resistance, etc., but the layer(
The purpose of both 2) and (4) is to increase the dark resistance value of the photoreceptor to increase the charging ability, and for that purpose, it is not necessary to make the layer photoconductive.

このように従来周知のa−3i電子写真感光体は光キヤ
リア発生層をa−Si光導電層により形成させた点に大
きな特徴があり、これによって耐熱性、耐久性及び光感
度特性などに優れた長所を有している反面、暗抵抗値が
不十分であるためにドーピング剤を用いたり、或いは積
層型感光体にすることで暗抵抗値を大きくしている。即
ち、積層型感光体に形成されるキャリア注入阻止N(2
)及び表面保護N(4)はa−Si光導電層自体が有す
る欠点を補完するものであり、a−5i光導電層(3)
と実質上区別し得る層と言える。
As described above, the conventionally well-known a-3i electrophotographic photoreceptor has a major feature in that the photocarrier generation layer is formed of an a-Si photoconductive layer, and as a result, it has excellent heat resistance, durability, and photosensitivity characteristics. However, since the dark resistance value is insufficient, the dark resistance value is increased by using a doping agent or by forming a laminated type photoreceptor. That is, carrier injection prevention N(2
) and surface protection N (4) complement the defects of the a-Si photoconductive layer itself, and the a-5i photoconductive layer (3)
It can be said that it is a layer that can be practically distinguished.

〔発明の目的〕[Purpose of the invention]

本発明者等は上記事情に鑑みて鋭意研究の結果、アセチ
レン及びケイ素含有ガスが一定の比率に設定された混合
ガスをグロー放電分解して得られたアモルファスシリコ
ンカーバイド(以下、a−3iCと略す)は光導電性を
存すると共に暗抵抗値がドーピング剤の有無と無関係に
容易に10+3Ω・cn+以上になり、更にドーピング
剤の選択によって正極性に帯電可能な電子写真感光体と
成り得ることを見い出した。
In view of the above circumstances, the present inventors conducted intensive research and found that amorphous silicon carbide (hereinafter abbreviated as a-3iC) obtained by glow discharge decomposition of a mixed gas containing acetylene and silicon-containing gas at a certain ratio. ) has photoconductivity and has a dark resistance value of easily 10+3Ω·cn+ regardless of the presence or absence of a doping agent, and has also been found to be an electrophotographic photoreceptor that can be positively charged by selecting a doping agent. Ta.

従って、本発明は上記知見に基いて完成されたものであ
り、その目的は大きな暗抵抗値を有する光導電性a−S
iC層から成る電子写真感光体の製法を提供することに
ある。
Therefore, the present invention was completed based on the above findings, and its purpose is to provide a photoconductive a-S having a large dark resistance value.
An object of the present invention is to provide a method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor comprising an iC layer.

本発明の他の目的は表面保護層及びキャリア注入阻止層
を実質上不要とし、全層に亘って光導電性a−SiCか
ら成る電子写真感光体の製法を提供することにある。
Another object of the present invention is to provide a method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor that substantially eliminates the need for a surface protective layer and a carrier injection blocking layer, and in which all layers are made of photoconductive a-SiC.

本発明の更に他の目的は正極性に帯電可能な電子写真感
光体の製法を提供することにある。
Still another object of the present invention is to provide a method for producing an electrophotographic photoreceptor that can be positively charged.

本発明の更に他の目的は高速成膜を達成した電子写真感
光体の製法を提供することにある。
Still another object of the present invention is to provide a method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor that achieves high-speed film formation.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明によれば、少なくともアセチレン(CJz)及び
ケイ素(St)含有ガスから成ると共にこのガス組成比
が0.01:1乃至3:1の範囲内に設定され、且つ1
0−h乃至1モルχの周期律表第IIIa族元素含有ガ
スを含むa−SiC生成用ガスをグロー放電分解して基
板上に正極性に帯電可能なa−5iCliを形成するこ
とを特徴とする電子写真感光体の製法が提供される。
According to the present invention, the gas contains at least acetylene (CJz) and silicon (St), and the gas composition ratio is set within the range of 0.01:1 to 3:1, and 1
A-5iCli, which can be positively charged, is formed on a substrate by glow discharge decomposition of an a-SiC generation gas containing a gas containing a group IIIa element of the periodic table in an amount of 0-h to 1 mole χ. A method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor is provided.

以下、本発明の詳細な説明する。The present invention will be explained in detail below.

本発明の製法によれば、グロー放電分解法によってCJ
zガス及びSl含有ガスから基板上に光導電性a−Si
CJi!を形成させると大きな暗抵抗値が得られ、更に
周期律表第Ha族元素ガスを10−”乃至1モル%含有
させると正極性に帯電することを特徴とし、第1図はそ
の基本構成となる感光体である。
According to the production method of the present invention, CJ is produced by glow discharge decomposition method.
photoconductive a-Si onto the substrate from Z gas and Sl-containing gas.
CJi! When it is formed, a large dark resistance value can be obtained, and when it contains 10-'' to 1 mol% of a gas belonging to the Ha group of the periodic table, it is positively charged. Figure 1 shows its basic structure. It is a photoreceptor.

即ち、第1図によれば導電性基板(1)上に、グロー放
電分解法によって光導電性a−3iC層(5)を形成し
たものであり、この層厚方向に亘って炭素と周期律表第
IIIa族元素(以下、Ina族元素と略す)をそれぞ
れ同一含有比率で含有させている。
That is, according to FIG. 1, a photoconductive a-3iC layer (5) is formed on a conductive substrate (1) by a glow discharge decomposition method, and carbon and a periodic rule are formed over the thickness direction of this layer. Group IIIa elements (hereinafter abbreviated as Ina group elements) are contained in the same content ratio.

これによって暗抵抗率が1013cm・Ω以上となると
共に明抵抗率に比べて1000倍以上となることを見い
出し、この知見に基づく後述する実施例から明らかな通
り、この単一組成の層だけで十分に実用性のあるa−5
iC感光体と成り得たことは予想外の成果であった。
It was discovered that this resulted in a dark resistivity of 1013 cm Ω or higher, which was also 1000 times higher than the bright resistivity.As is clear from the examples described below based on this knowledge, a layer of this single composition is sufficient. practical a-5
The fact that it became an iC photoreceptor was an unexpected result.

更に本発明者等はこのa−3iC感光体を正極性又は負
極性に帯電させて両者の帯電性能を比較した場合、この
a−SiC層(5)に1ira族元素を0.1乃至10
.000ppmの範囲、好適には0.1乃至11000
ppの範囲内でドーピングすると正極性で有利に帯電能
を高めることができることも見い出した。
Furthermore, when the present inventors charged this a-3iC photoreceptor to positive or negative polarity and compared the charging performance of the two, they found that the a-SiC layer (5) contained 0.1 to 10 of the 1ira group elements.
.. 000 ppm, preferably from 0.1 to 11000
It has also been found that doping within the pp range can advantageously enhance the charging ability with positive polarity.

このようにIIIa族元素のドーピング左≠チテ牛=4
によって正極性に帯電し易くなる点については、未だ推
論の域を脱し得ないが、a−SiCJiが正電荷を保持
するのに十分に高い抵抗率をもち、また、基板からの負
電荷の注入を防ぐ効果にも優れ、更に正電荷に対する電
荷移動度が優れている等の理由によると考えられる。
In this way, group IIIa element doping left ≠ tite cow = 4
Although it is still a matter of speculation that a-SiCJi is more likely to be positively charged due to This is thought to be due to the fact that it has an excellent effect of preventing oxidation, and also has excellent charge mobility for positive charges.

また、このIIIa族元素としてはB、AI+Ga+I
nがあるが、就中、Pが共有結合性に優れて半導体特性
を敏感に変え得る点で好ましく、その上、優れた帯電能
及び感度を有するという点で望ましい。
In addition, the IIIa group elements include B, AI+Ga+I
Of these, P is preferred because it has excellent covalent bonding properties and can sensitively change semiconductor properties, and is also desirable because it has excellent charging ability and sensitivity.

上記のようにIIIa族元素をドーピングさせるに当た
っては、a−3iC生成用ガスに10−h乃至1モルχ
、好適には10−6乃至0.1モルχのHa族元素ガス
を含有させるとよく、これによって上記の所要の範囲内
にドーピングさせることが可能となる。
In doping the IIIa group element as described above, the a-3iC generation gas is doped with 10-h to 1 mol χ
, preferably 10 -6 to 0.1 mol χ of the Ha group element gas, thereby making it possible to dope within the above-mentioned required range.

また、IIIa族元素をドープするに当たってはl1h
Hb、BPs、AI(CH3)s+Ga(CHりs+I
n(CHs)s+等が用いられ、就中、BJiが好まし
い。
In addition, when doping with IIIa group elements, l1h
Hb, BPs, AI(CH3)s+Ga(CHris+I
n(CHs)s+ etc. are used, and BJi is particularly preferred.

更に本発明者等は上記の電子写真感光体を製作するに当
たって、グロー放電分解法に基いてCgHzガス及びS
i含有ガスを所定の比率で混合させるとよく、これによ
り、a−3iC層が高速に成膜され、且つ光導電性を有
することを見い出した。
Furthermore, in manufacturing the above-mentioned electrophotographic photoreceptor, the present inventors used CgHz gas and S based on the glow discharge decomposition method.
It has been found that by mixing i-containing gases at a predetermined ratio, an a-3iC layer can be formed at high speed and has photoconductivity.

即ち、CtHtとSi含有ガスをグロー放電領域に導入
するに当たってこのガス組成比を0.01:1乃至3:
lの範囲内に、好適には0.05:1乃至1:1、最適
には0.05:1乃至0.3:1の範囲内に設定すれば
よく、0.01:1の比率から外れた場合には暗抵抗率
が1011Ω・cs以下となって電荷保持能力が十分で
なく、大きな帯電電位を得ることができなくなり、3:
1の比率から外れた場合には膜中のダングリングボンド
が増加して暗抵抗率がIQIIΩ・cm以下となる。
That is, when introducing CtHt and Si-containing gas into the glow discharge region, the gas composition ratio is set to 0.01:1 to 3:
l, preferably within the range of 0.05:1 to 1:1, optimally within the range of 0.05:1 to 0.3:1, and from a ratio of 0.01:1 to If it is off, the dark resistivity will be less than 1011 Ω·cs, and the charge retention ability will be insufficient, making it impossible to obtain a large charged potential.3:
When the ratio deviates from 1, the number of dangling bonds in the film increases and the dark resistivity becomes less than IQIIΩ·cm.

前記Si含有ガスとして5iHe+5fJi、SiJ□
Sin、。
As the Si-containing gas, 5iHe+5fJi, SiJ□
Sin,.

5iC1+、5iHC1s等々があり、就中、5iHa
+5iJa+はそれ自身Stが■と結合しているため膜
中にHが取り込まれ易いので膜中のダングリングボンド
が低減し、これによって光導電性を向上させる点で望ま
しい。
There are 5iC1+, 5iHC1s, etc., especially 5iHa
Since +5iJa+ itself has St bonded to -, H is easily incorporated into the film, reducing dangling bonds in the film, thereby improving photoconductivity, which is desirable.

また、前記ダングリングボンド終端用元素としてHを用
いる場合には、HtガスはCJzガス及びSiH4ガス
の流量合計値に対して3倍以下、好適には2倍以下に配
合すればよく、これから外れると膜中の水素が過剰とな
って感光体に要求される電気的特性が劣化する。
In addition, when H is used as the element for terminating the dangling bond, the Ht gas may be blended in an amount not more than three times, preferably not more than twice, the total flow rate of the CJz gas and the SiH4 gas. This results in excessive hydrogen in the film, deteriorating the electrical characteristics required of the photoreceptor.

本発明の製法によれば、上述した通りの製造条件によっ
てa−3iC層を生成するに当たっては、グロー放電用
の高周波電力、反応室内部のガス圧及び基板温度を次の
通りに設定するのがよい。
According to the manufacturing method of the present invention, in producing the a-3iC layer under the manufacturing conditions as described above, the high frequency power for glow discharge, the gas pressure inside the reaction chamber, and the substrate temperature are set as follows. good.

即ち、高周波電力は0.05乃至0.5W/cm”の範
囲に設定すればよ< 、0.05W/cm”未満である
と成膜速度が小さくなり、0.5W/c+++”を越え
るとプラズマダメージによって膜質が低下してキャリア
移動度が小さくなる。また、ガス圧は0.1乃至2.0
Torrの範囲に設定すればよ< 、0.ITorr未
満であると成膜速度が小さくなり、2.0Torrを越
えると放電が不安定となる。更に、基板温度はg−Si
:H膜の成膜形成に比べて30乃至80℃位高くするの
がよく、望ましくは200乃至400℃の範囲がよい。
In other words, the high frequency power should be set within the range of 0.05 to 0.5 W/cm. If it is less than 0.05 W/cm, the deposition rate will be low, and if it exceeds 0.5 W/c+++ The film quality deteriorates due to plasma damage and the carrier mobility decreases.Also, the gas pressure is 0.1 to 2.0.
Just set it in the range of Torr<, 0. If it is less than I Torr, the film formation rate will be low, and if it exceeds 2.0 Torr, the discharge will become unstable. Furthermore, the substrate temperature is
:The temperature is preferably about 30 to 80°C higher than that of the H film, and preferably in the range of 200 to 400°C.

この基板温度が200℃未満であれば、SiとCのネッ
トワーク化が阻害され、400℃を越えると水素の脱離
が著しくなって暗抵抗率が小さくなる。
If the substrate temperature is less than 200° C., networking of Si and C is inhibited, and if it exceeds 400° C., hydrogen desorption becomes significant and the dark resistivity decreases.

本発明の製法によって得られたa−SiC層が光導電性
を有するようになった点については、アモルファス化し
たケイ素と炭素を不可欠な構成元素とし、更にそのダン
グリングボンドを終端させるべ(Hやハロゲン元素を所
要の範囲内で含有させることによって光導電性が生じる
ものと考えられる。本発明者等が炭素の含有比率を幾通
りにも変えて光導電性の有無を確かめる実験を行ったと
ころ、a−SiC層(5)中に炭素を1乃至90原子χ
、好適には5乃至50原子χの範囲内で含有させるとよ
く、或いはこの範囲内で層厚方向に亘って炭素含有量を
変えてもよい。
The a-SiC layer obtained by the manufacturing method of the present invention has photoconductivity because amorphous silicon and carbon are essential constituent elements, and the dangling bonds are terminated (H It is thought that photoconductivity occurs by containing carbon and halogen elements within the required range.The present inventors conducted experiments to confirm the presence or absence of photoconductivity by varying the content ratio of carbon. However, in the a-SiC layer (5), 1 to 90 atoms of carbon χ
, preferably within the range of 5 to 50 atoms χ, or the carbon content may be varied within this range over the layer thickness direction.

また、Hやハロゲン元素の含有量は5乃至50原子χ、
好適には巨乃至40原子χ、最適には1o乃至30原子
χがよく、通常、Hが用いられている。このHはダング
リングボンドの終端部に取込まれ易いのでバンドギャッ
プ中の局在準位密度を低減化させ、これにより、優れた
半導体特性が得られる。
In addition, the content of H and halogen elements is 5 to 50 atoms χ,
Preferably, it is a giant to 40 atoms χ, optimally 1 to 30 atoms χ, and H is usually used. Since this H is easily incorporated into the terminal portion of the dangling bond, the localized level density in the band gap is reduced, thereby providing excellent semiconductor characteristics.

更にこのHの一部をハロゲン元素に置換してもよく、こ
れにより、a−SiC層の局在準位密度を下げて光導電
性及び耐熱性(温度特性)を高めることができる。その
置換比率はダングリングボンド終端用全元素中0.01
乃至50原子χ、好適には1乃至30原子χがよい、ま
た、このハロゲン元素にはF、C1,Br、1.At等
があるが、就中、Fを用いるとその大きな電気陰性度に
よって原子間の結合が大きくなり、これによって熱的安
定性に優れるという点で望ましい。
Furthermore, a part of this H may be replaced with a halogen element, whereby the localized level density of the a-SiC layer can be lowered and the photoconductivity and heat resistance (temperature characteristics) can be improved. Its substitution ratio is 0.01 among all elements for dangling bond termination.
50 atoms χ, preferably 1 to 30 atoms χ, and this halogen element includes F, C1, Br, 1. Although there are At and the like, F is particularly desirable because its large electronegativity increases the bonding between atoms, resulting in excellent thermal stability.

また、光導電性a−SiC(5)の厚みは、少なくとも
5a請以上あればよく、これによって表面電位が一20
0v以上となり、一方、この層(5)の厚みは画像の分
解能及び画像流れが生じない範囲内でその上限が適宜選
ばれており、本発明者等の実験によれば、5乃至100
μ■、好適には10乃至50μIの範囲内に設定すると
よい。
Further, the thickness of the photoconductive a-SiC (5) should be at least 5 cm or more, so that the surface potential is 200 nm or more.
On the other hand, the upper limit of the thickness of this layer (5) is appropriately selected within the range of image resolution and image blurring, and according to experiments conducted by the present inventors, the thickness is 5 to 100 V.
μI, preferably set within the range of 10 to 50μI.

そして、このa−SiCjiiの分光感度特性、並びに
暗減衰曲線及び光減衰曲線を求めたところ、前者につい
ては可視光領域で分光感度ピーク(ピーク波長約670
nm )があり、これによって複写機用光源として一般
的に用いられているタングステンランプに十分に適用し
得ることが判った。また、後者の減衰曲線についても高
い表面電位をもつと共に優れた光感度特性を有し、更に
残留電位が小さくなっていることが判った。
When we determined the spectral sensitivity characteristics, dark decay curve, and light decay curve of this a-SiCjii, we found that the former has a spectral sensitivity peak (peak wavelength of about 670
nm), and it has been found that this can be fully applied to tungsten lamps commonly used as light sources for copying machines. It was also found that the latter decay curve also had a high surface potential, excellent photosensitivity characteristics, and a small residual potential.

かくして、単一組成の光導電性a−SiC層だけで十分
に実用と成り得る電子写真感光体が提供される。
Thus, an electrophotographic photoreceptor is provided which can be put into practical use with just a photoconductive a-SiC layer having a single composition.

次に本発明者等は上記の結果を踏まえて、更に鋭意研究
に努めたところ、この単一組成の層内部に種々のN領域
を生成させることによって電子写真特性を更に向上し得
ることを見い出した。
Next, based on the above results, the present inventors conducted further intensive research and discovered that the electrophotographic characteristics could be further improved by creating various N regions within this single composition layer. Ta.

即ち、本発明の製法においては、グロー放電分解法によ
る成膜中に炭素又はIIIa族元素の含有比率を層厚方
向に亘って変化させ、これによって複数の層領域を生成
させ、この層領域の数に対応して下記の第1の態様乃至
第4の態様までの電子写真感光体の製法が得られる。
That is, in the manufacturing method of the present invention, the content ratio of carbon or group IIIa elements is varied in the layer thickness direction during film formation by glow discharge decomposition, thereby producing a plurality of layer regions, and The manufacturing methods of electrophotographic photoreceptors according to the following first to fourth aspects can be obtained in accordance with the numbers.

以下、本発明に係る電子写真感光体の製法の態様を第3
図乃至24図により説明する。
Hereinafter, the third embodiment of the method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor according to the present invention will be described.
This will be explained with reference to Figures 24 to 24.

茅上■履槙 第1の態様によれば、a−3iC生成用ガスをグロー放
電分解して正極性に帯電可能な光導電性a−StC層を
基板上に形成した電子写真感光体の製法にあって、前記
ガスはC,lh及びSi含有ガスから成り、そのガス組
成比を0.01:1乃至3:1の範囲内に設定し、且つ
IIIa族元素含有ガスを含有させると共に成膜中にこ
の含有比率を小さくしたことを特徴とする電子写真感光
体の製法が提供される。
According to the first aspect, a method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor in which a photoconductive a-StC layer that can be positively charged is formed on a substrate by glow discharge decomposition of an a-3iC generation gas. In this method, the gas is composed of a gas containing C, lh, and Si, and the gas composition ratio thereof is set within the range of 0.01:1 to 3:1, and a gas containing a group IIIa element is contained, and the film is formed. Provided is a method for producing an electrophotographic photoreceptor characterized in that the content ratio thereof is reduced.

即ち、この第1の態様によれば、第1図に示した単一組
成の光導電性a−SiCiiに対してIIIa族元素を
含有させ、これに伴ってその含有比率を変えることによ
り少なくとも第1のN9i域及び第2の層領域を生成さ
せるものであり、この態様を第3図乃至第9図により説
明する。
That is, according to this first aspect, at least the third group element is contained in the photoconductive a-SiCii of the single composition shown in FIG. 1, and the content ratio thereof is changed accordingly. This method generates an N9i region of 1 and a second layer region, and this aspect will be explained with reference to FIGS. 3 to 9.

第3図においては導電性基板(1)上に第1の層領域(
6)及び第2の層領域(7)を順次形成し、両者の層領
域が一体化した光導電性a−3iC層(5a)から成っ
ており、そして、第1の層領域(6)には第2の層領域
(7)に比べてIIIa族元素が多く含まれていること
が重要である。
In FIG. 3, a first layer region (
6) and a second layer region (7) are successively formed, both layer regions consisting of an integrated photoconductive a-3iC layer (5a); It is important that the second layer region (7) contains more group IIIa elements than the second layer region (7).

第2の層領域(7)はIIIa族元素の含有量が0.1
乃至10.000ppn+の範囲内で、好適には0.1
乃至1゜000 ppmの範囲内で適宜決められ、これ
によって負極性に帯電すると共に表面電位、光感度特性
等の所要な電子写真特性が得られる。そして、このN?
fI域よりもIIIa族元素を多(含有した第1の層領
域(6)を形成すると、光導電性a−3iC層(5a)
の基板側領域で導電率が大きくなり、これにより、基板
側からのキャリアの注入が阻止されると共にa−SiC
層の全領域で発生した光キャリアが基板へ円滑に流れ、
その結果、表面電位が大きくなると共に光感度特性が向
上することを見い出した。
The second layer region (7) has a group IIIa element content of 0.1
Within the range of 10.000 ppn+, preferably 0.1
It is appropriately determined within the range of 1°,000 ppm, and as a result, it is charged to a negative polarity and required electrophotographic properties such as surface potential and photosensitivity properties are obtained. And this N?
When the first layer region (6) containing a higher content of Group IIIa elements than the fI region is formed, the photoconductive a-3iC layer (5a)
The conductivity increases in the substrate side region of the a-SiC, which prevents carrier injection from the substrate side and
Photocarriers generated in all areas of the layer flow smoothly to the substrate,
As a result, it was found that as the surface potential increases, the photosensitivity characteristics improve.

この第1の層領域(6)はその領域全体に亘って光導電
性を有しており、これによって第2図に示した従来のa
−5i電子写真感光体のキャリア注入阻止層(2)と区
別し得る。
This first layer region (6) is photoconductive over its entire region, which makes it possible to avoid the conventional a shown in FIG.
It can be distinguished from the carrier injection blocking layer (2) of the -5i electrophotographic photoreceptor.

即ち、第1の層領域(6)はその領域全体の光導電性に
よって光感度特性を全般に亘って向上させる。特に、第
1の層領域(6)に到達し易い比較的長波長な光に対し
ては優れた光感度特性が得られ、これにより、半導体レ
ーザーを記録用光源とした電子写真感光体に好適となる
That is, the first layer region (6) improves the photosensitivity characteristics over the whole area due to the photoconductivity of the entire region. In particular, excellent photosensitivity characteristics can be obtained for relatively long wavelength light that easily reaches the first layer region (6), making it suitable for electrophotographic photoreceptors using semiconductor lasers as recording light sources. becomes.

また、従来のa−3i電子写真感光体によれば、前記キ
ャリア注入阻止層(2)の層厚をa−5t光導電層(3
)に対して115倍以下に設定するのに対して、本発明
の製法によれば、第1の層領域(6)の層厚は第2の層
領域(7)に比べて1倍以下であっても十分に残留電位
を小さくして光感度特性を向上させることができ、その
好適な層厚比は1/2以下、最適には1/4以下に設定
するのがよい。
Further, according to the conventional a-3i electrophotographic photoreceptor, the layer thickness of the carrier injection blocking layer (2) is reduced to a layer thickness of the a-5t photoconductive layer (3).
), whereas according to the manufacturing method of the present invention, the layer thickness of the first layer region (6) is set to be 1 times or less than that of the second layer region (7). Even if the residual potential is present, the residual potential can be sufficiently reduced to improve the photosensitivity characteristics, and the preferred layer thickness ratio is preferably set to 1/2 or less, and optimally to 1/4 or less.

この光導電性a−5iC層(5a)の炭素含有量は、第
4図乃至第9図に示す通りであり、横軸は基板から感光
体表面に至る層厚方向を示し、縦軸は炭素含有量を示し
ている。尚、この横軸において(6)。
The carbon content of this photoconductive a-5iC layer (5a) is as shown in FIGS. It shows the content. Note that (6) on this horizontal axis.

(7)に示すそれぞれの範囲は第1の層領域及び第2の
層領域を表している。
Each range shown in (7) represents a first layer region and a second layer region.

即ち、第4図は炭素含有比率が全層に亘って一定であり
、或いは第5図は第1の層領域で炭素含有量を少なくし
ており、これに対して第6図乃至第9図は第1の層領域
が第2のN Jii域に比べて炭素が多く含有されてい
ることを示すものであり、これによって表面電位が一段
と高くなって光感度特性が向上する。また、第7図乃至
第9図のように炭素の含有量を層厚方向に亘って漸次変
えると表面電位及び光感度を一層高め且つ残留電位が小
さくなる。
That is, in FIG. 4, the carbon content ratio is constant throughout the entire layer, or in FIG. 5, the carbon content is reduced in the first layer region, whereas in FIGS. indicates that the first layer region contains more carbon than the second N Jii region, which further increases the surface potential and improves the photosensitivity characteristics. Further, if the carbon content is gradually changed in the layer thickness direction as shown in FIGS. 7 to 9, the surface potential and photosensitivity will be further increased and the residual potential will be reduced.

また、前記第1の層領域(6)には酸素や窒素の少なく
とも一種を含有させてもよ(、これによってa−5iC
層(5a)の基板(1)に対する密着性が向上する。
Further, the first layer region (6) may contain at least one of oxygen and nitrogen (by this, a-5iC
The adhesion of the layer (5a) to the substrate (1) is improved.

遍l」すl遥 第2の態様によれば、a−5iC生成用ガスをグロー放
電分解して正極性に帯電可能な光導電性a−SiC層を
基板上に形成した電子写真感光体の製法であって、前記
ガスはCzlb及びSi含有ガスから成りそのガス組成
比を0.01:1乃至3:1の範囲内に設定し、成膜中
にCzHz含有組成比を変えて前記a−3iC層に少な
くとも第1の領域、第2のN9N域及び第3の領域を具
備させ、第1の層領域は第2のN領域より基板側に、第
2の層領域は第3の層領域より基板側にそれぞれ配置さ
れ、第3の層領域は第2の層領域に比べて炭素が多く含
まれ、且つ前記第2の層領域の形成時に前記a−SiC
生成用ガスに10−h乃至1モルχのIIIa族元素含
有ガスを含むとともに第1の層領域の形成時にa−3i
C生成用ガス中におけるIIIa族元素含有ガスの占め
る割合が第2の層領域の形成時に比べて大きいことを特
徴とする電子写真感光体の製法が提供される。
According to a second aspect, an electrophotographic photoreceptor is provided, in which a photoconductive a-SiC layer that can be charged to a positive polarity is formed on a substrate by glow discharge decomposition of an a-5iC generation gas. In the manufacturing method, the gas is composed of Czlb and Si-containing gas, and the gas composition ratio is set within the range of 0.01:1 to 3:1, and the CzHz content composition ratio is changed during film formation to produce the a- The 3iC layer includes at least a first region, a second N9N region, and a third region, the first layer region being closer to the substrate than the second N region, and the second layer region being closer to the third layer region. The third layer region contains more carbon than the second layer region, and when forming the second layer region, the a-SiC
The generation gas contains a group IIIa element-containing gas of 10-h to 1 mol χ, and a-3i when forming the first layer region.
Provided is a method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor, characterized in that the proportion of the Group IIIa element-containing gas in the C-generating gas is larger than that during the formation of the second layer region.

即ち、この第2の態様によれば、第1O図に示す通り、
第1の態様にて示した第2のN領域(7)の上に更に第
3の層領域(8)を形成し、これに伴って第3の層領域
(8)の炭素含有量を第2のN領域(7)よりも多くし
、そして、第1のN領域(6)、第2の層領域(7)及
び第3の層領域(8)を実質上一体化して光導電性a−
SiC層(5b)とした。
That is, according to this second aspect, as shown in FIG. 1O,
A third layer region (8) is further formed on the second N region (7) shown in the first embodiment, and the carbon content of the third layer region (8) is accordingly increased. and the first N region (6), the second layer region (7) and the third layer region (8) are substantially integrated to form a photoconductive a. −
A SiC layer (5b) was formed.

この第3の層領域(8)を形成すると、a−3iC層(
5b)の表面側の暗抵抗値が大きくなり、これに伴って
感光体の表面電位が顕著に向上することを見い出した。
When this third layer region (8) is formed, the a-3iC layer (
It has been found that the dark resistance value on the surface side of 5b) increases, and the surface potential of the photoreceptor increases markedly.

この第3の層領域(8)は光導電性a−5iCJii(
5b)の表面側を高抵抗化させるために形成されており
、第2図にて述べた従来周知の表面保護層(4)とは全
く区別し得るものである。また、光キヤリア発生層とキ
ャリア輸送層とに分けられた機能分離型感光体によれば
、キャリア輸送層を1013Ω・cm以上に高抵抗化さ
せるが、この層に格別大きな光導電性が要求されておら
ず、通常、光導電率の暗導電率に対する比率が1000
倍未満の光導電性に設定されているに過ぎない、これに
対して、第3の層領域(8)はこの比率が1000倍以
上の光導電性を有しており、上記キャリア輸送層に対し
ても十分に区別し得る。
This third layer region (8) is photoconductive a-5iCJii (
It is formed to increase the resistance of the surface side of layer 5b), and is completely distinguishable from the conventionally known surface protective layer (4) described in FIG. Furthermore, according to a functionally separated photoconductor that is divided into a photocarrier generation layer and a carrier transport layer, the carrier transport layer has a high resistance of 1013 Ωcm or more, but this layer is required to have exceptionally high photoconductivity. Usually, the ratio of photoconductivity to dark conductivity is 1000.
On the other hand, the third layer region (8) has a photoconductivity that is 1000 times or more higher than that of the carrier transport layer. They can also be clearly distinguished.

第3の層領域(8)の層厚は、第2の層領域(7)に比
べて1倍以下、好ましくは1/2倍以下、最適には17
4倍以下がよく、これにより、表面電位が顕著に向上す
ると共に光感度に優れ、且つ残留電位が小さくなり、望
ましいと言える。
The layer thickness of the third layer region (8) is not more than 1 times, preferably not more than 1/2 times, optimally 17 times, compared to the second layer region (7).
4 times or less is preferable, and this can be said to be desirable because the surface potential is significantly improved, the photosensitivity is excellent, and the residual potential is small.

本発明によれば、光導電性a−3iC[(5b)の炭素
含有分布は第11図乃至第16図に示す通りであり、横
軸は基板から感光体表面に至る層厚方向を示し、縦軸は
炭素含有量を示している。尚、この横軸において、(6
) (7) (8)に示すそれぞれの範囲は第1のN 
領域、第2の層領域及び第3の層領域を表している。
According to the present invention, the carbon content distribution of photoconductive a-3iC [(5b) is as shown in FIGS. 11 to 16, where the horizontal axis indicates the layer thickness direction from the substrate to the surface of the photoreceptor, The vertical axis shows carbon content. Furthermore, on this horizontal axis, (6
) (7) Each range shown in (8) is the first N
area, a second layer area and a third layer area.

第12図、第14図、第15図及び第16図は層厚方向
に亘って炭素の含有量を漸次変え、これにより、表面電
位が向上すると共に光感度に優れ、且つ残留電位が小さ
くなる。
Figures 12, 14, 15, and 16 show that the carbon content is gradually changed in the layer thickness direction, which improves the surface potential, provides excellent photosensitivity, and reduces residual potential. .

第3の態様 第3のB様によれば、a−SiC生成用ガスをグロー放
電分解して正極性に帯電可能な光導電性a−Sicmを
基板上に形成した電子写真感光体の製法であって、前記
ガスはC,H,及びSi含有ガスから成り、そのガス組
成比を0.01:1乃至3:lの範囲内に設定し、成膜
中にCzHz含有組成比を変えて前記a−5iC層に少
なくとも第1のN’pM域、第2のN領域、第3のN領
域及び第4の層領域を基板側から感光体表面へ向けて順
次具備し、且つ第3の層領域は第2の層境域に比べて、
第4のFl 8M域は第3の層領域に比べてそれぞれ炭
素が多く含まれ前記第2のN’pM域の形成時に前記a
−3iC生成用ガスに10−h乃至1モルχのIIIa
族元素含有ガスを含むとともに第1のN ?iJi域の
形成時にa−3iC生成用ガス中におけるIIIa族元
素含有ガスの占める割合が第2の1! ?iI域の形成
時に比べて大きいことを特徴とする電子写真感光体の製
法が提供される。
Third aspect According to the third aspect B, there is provided a method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor in which photoconductive a-Sicm, which can be positively charged, is formed on a substrate by glow discharge decomposition of a-SiC generation gas. The gas is composed of C, H, and Si-containing gas, and the gas composition ratio is set within the range of 0.01:1 to 3:l, and the CzHz-containing composition ratio is changed during film formation. The a-5iC layer is provided with at least a first N'pM region, a second N region, a third N region, and a fourth layer region in order from the substrate side toward the photoreceptor surface, and a third layer The area is compared to the second layer boundary area.
The fourth Fl 8M region contains more carbon than the third layer region, and when the second N'pM region is formed, the a
-3iC generation gas from 10-h to 1 mol χ of IIIa
Group element-containing gas and the first N? When forming the iJi region, the ratio of the Group IIIa element-containing gas in the a-3iC generation gas is the second 1! ? Provided is a method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor characterized in that the area iI is larger than when it is formed.

即ち、第3の態様によれば、第17図に示す通り、第2
の態様にて示した第3のIWTJ域(8)の上に更に第
4の層領域(9)を形成し、これに伴って第4の層領域
(9)が第3のN領域(8)に比べて炭素を多く含んで
おり、そして、第1の層領域(6)から第4の層領域(
9)を実質上一体化して光導電性a−5iC層(5C)
とした。
That is, according to the third aspect, as shown in FIG.
A fourth layer region (9) is further formed on the third IWTJ region (8) shown in the embodiment, and accordingly, the fourth layer region (9) is formed on the third N region (8). ), and the first layer region (6) to the fourth layer region (
9) is substantially integrated to form a photoconductive a-5iC layer (5C).
And so.

この第4のN領域(9)は第3の層領域(8)に比べて
炭素を多く含有させて高抵抗化させ、これより、帯電能
を高めて表面電位を向上させることができ、その結果、
耐電圧が高くて長寿命の感光体を得ることができる。
This fourth N region (9) contains more carbon than the third layer region (8) to have a high resistance, thereby increasing the charging ability and improving the surface potential. result,
A photoreceptor with high withstand voltage and long life can be obtained.

本発明の製法によれば、光導電性a−SiC層(5c)
の炭素含有分布は第18図乃至第21図に示す通りであ
り、横軸は基板から感光体表面に至る層厚方向を示し、
縦軸は炭素含有量を示している。尚、この横軸において
、(6) (7) (8) (9)に示すそれぞれの範
囲は第1のN領域、第2のNeX域、第3のN領域及び
第4の領域を表している。
According to the manufacturing method of the present invention, the photoconductive a-SiC layer (5c)
The carbon content distribution of is as shown in FIGS. 18 to 21, where the horizontal axis indicates the layer thickness direction from the substrate to the photoreceptor surface,
The vertical axis shows carbon content. In addition, on this horizontal axis, the respective ranges shown in (6), (7), (8), and (9) represent the first N region, the second NeX region, the third N region, and the fourth region. There is.

第19図及び第21図は層厚方向に亘って炭素の含有量
を漸次変え、これにより、表面電位及び光感度が向上し
、且つ残留電位が小さくなる。
In FIGS. 19 and 21, the carbon content is gradually changed in the layer thickness direction, thereby improving the surface potential and photosensitivity, and reducing the residual potential.

第4の態様 第4図の態様によれば、a−SiC生成用ガスをグロー
放電分解して正極性に帯電可能な光導電性a−SiC層
及びa−SiC表面保護層を順次形成した電子写真感光
体の製法にあって、前記光導電性a−SiC生成用ガス
はC2H4及びSi含有ガスから成り、そのガス組成比
を0.01:1乃至3:1の範囲内に設定し、成膜中に
CtHz含有組成比を変えて前記a−5iC層に少なく
とも第1の層領域、第2の層領域及び第3の層領域を具
備させ、第1の層領域は第2のN領域より基板側に、第
2の層領域は第3の層領域より基板側にそれぞれ配置さ
れ、第3の層領域は第2の領域に比べて炭素が多く含ま
れ、且つ前記第2の層領域の形成時に前記a−SiC生
成用ガスに10−6乃至1モル2のIIIa族元素含有
ガスを含むとともに第1のN領域の形成時にa−5iC
生成用ガス中におけるIIIa族元素含有ガスの占める
割合が第2ONjI域の形成時に比べて大きいことを特
徴とする電子写真感光体の製法が提供される。
Fourth Embodiment According to the embodiment shown in FIG. 4, a photoconductive a-SiC layer that can be positively charged and an a-SiC surface protective layer are sequentially formed by glow discharge decomposition of an a-SiC generation gas. In the method for manufacturing a photographic photoreceptor, the photoconductive a-SiC generating gas is composed of C2H4 and Si-containing gas, and the gas composition ratio is set within the range of 0.01:1 to 3:1. The a-5iC layer is provided with at least a first layer region, a second layer region, and a third layer region by changing the CtHz content composition ratio in the film, and the first layer region is higher than the second N region. On the substrate side, the second layer regions are arranged closer to the substrate than the third layer regions, and the third layer regions contain more carbon than the second region, and the second layer regions contain more carbon than the second layer regions, and At the time of formation, the a-SiC generation gas contains 10-6 to 1 mole of Group IIIa element-containing gas, and at the time of formation of the first N region, a-5iC
Provided is a method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor, characterized in that the ratio of the Group IIIa element-containing gas in the generation gas is larger than when the second ONjI region is formed.

即ち、この第4の態様によれば、第22図に示す通り、
第2の態様にて示した第3の1M域(8)の上に更にa
−SiC表面保11Jl!(10)を形成したものであ
り、このa−SiC表面保護層(10)は光導電性a−
SiCjEJ(5b)の表面をオーバーコートして保護
するために形成される。
That is, according to this fourth aspect, as shown in FIG.
Further a on the third 1M area (8) shown in the second embodiment
-SiC surface retention 11Jl! (10), and this a-SiC surface protective layer (10) is a photoconductive a-SiC surface protective layer (10).
It is formed to overcoat and protect the surface of SiCjEJ (5b).

a−SiC表面保護層(10)はa−SiCから成ると
いう点では光導電性a−SiC層(5b)と同じである
が、炭素の含有量を多くして高硬度とし、これによって
表面保護作用をもたらす。
The a-SiC surface protection layer (10) is the same as the photoconductive a-SiC layer (5b) in that it is made of a-SiC, but it has a high carbon content to make it highly hard, thereby protecting the surface. bring about action.

このa−5iC表面保護層(10)は、その構成元素の
組成比を変えて光導電性又は非光導電性とすることがで
き、炭素の含有量を多くすると非光導電性になる傾向が
あり、これに伴って高硬度特性が得られ、高硬度a−3
iC表面保護層となる。
This a-5iC surface protective layer (10) can be made photoconductive or non-photoconductive by changing the composition ratio of its constituent elements; increasing the carbon content tends to make it non-photoconductive. With this, high hardness characteristics are obtained, and high hardness is A-3.
It becomes an iC surface protective layer.

第4の態様によれば、炭素含有分布は第23図及び第2
4図に示す通りであり、横軸は基板から感光体表面に至
る層厚方向を示し、縦軸は炭素含有量を示している。尚
、この横軸において(6) (7) (8) (10)
に示すそれぞれの範囲は第1のN iJl域、第2のM
領域、第3の層領域及びa−3iC表面保護層を表して
いる。
According to the fourth aspect, the carbon content distribution is shown in FIGS.
As shown in FIG. 4, the horizontal axis indicates the layer thickness direction from the substrate to the surface of the photoreceptor, and the vertical axis indicates the carbon content. Furthermore, on this horizontal axis (6) (7) (8) (10)
The respective ranges shown in are the first N iJl area and the second M
region, the third layer region and the a-3iC surface protective layer.

本発明によれば、単一組成のa−SiC層並びに第1乃
至第3の態様のa−5iC層は、いずれも光導電性a−
SiC層から成り、これによって十分実用的な電子写真
特性が得られるが、これらのa−5iC層の表面上に従
来周知の表面保護層を形成してもよい。
According to the present invention, the a-SiC layer of a single composition and the a-5iC layer of the first to third aspects are both photoconductive a-SiC layers.
The a-5iC layer is composed of a SiC layer, which provides sufficient practical electrophotographic properties, but a conventionally known surface protective layer may be formed on the surface of these a-5iC layers.

この層はそれ自体高絶縁性、高耐食性及び高硬度特性を
有するものであれば種々の材料を用いることができ、例
えばポリイミド樹脂などの有機材料+ a−SiC,S
ing、 Sin、 Al zO!+ stc、 S1
3Nm+ a−Si 、 a−3i :H,a−St:
F、a−SiC:)1. ;a−5iC:Fなどの無機
材料を用いることができる。
Various materials can be used for this layer as long as they themselves have high insulating properties, high corrosion resistance, and high hardness properties. For example, organic materials such as polyimide resin + a-SiC, S
ing, Sin, Al zO! + stc, S1
3Nm+ a-Si, a-3i:H, a-St:
F, a-SiC:)1. ;a-5iC:F and other inorganic materials can be used.

次に本発明の実施例に用いられる容量結合型グロー放電
分解装置を第25図により説明する。
Next, a capacitively coupled glow discharge decomposition device used in an embodiment of the present invention will be explained with reference to FIG.

図中、第1.第2.第3.第4.第5.第6タンク(1
1) (12) (13) (14) (15) (1
6)には、それぞれSiH4+Czlh+BJ、(Hz
ガス希釈で0.2χ含有)、BtHi(Ihガス希釈で
38ppm含有)、Hl、NOガスが密封されており、
Hlはキャリアーガスとしても用いられる。これらのガ
スは対応する第1.第2.第3.第4.第5.第6調整
弁(17) (18) (19) (20) (21)
 (22)を開放することにより放出され、その流量が
マスフローコントローラ(23)(24)(25)(2
6) (27) (2B)により制御され、第1、第2
.第3.第4.第5タンク(11) (12) (13
) (14) (15)からのガスは第1主管(29)
へ、第6タンク(16)からのNOガスは第2主管(3
0)へ送られる。尚、(31)(32)は止め弁である
。第1主管(29)及び第2主管(30)を通じて流れ
るガスは反応管(33)へと送り込まれるが、この反応
管(33)の内部には容量結合型放電用電極(34)が
設置されており、それに印加される高周波電力は50賀
乃至3に%1が、また周波数はIMHz乃至10MHz
が適当である。反応管(33)の内部には、アルミニウ
ムから成る筒状の成膜基板(35)が試料保持第(36
)の上に載置されており、この保持台(36)はモータ
ー(37)により回転駆動されるようになっており、そ
して、基板(35)は適当な加熱手段により、約200
乃至400℃好ましくは約200乃至350℃の温度に
均一に加熱される。更に、反応管(33)の内部はa−
3iC膜形成時に高度の真空状態(放電圧0.1乃至2
.0Torr )を必要とすることにより回転ポンプ(
38)と拡散ポンプ(39)に連結されている。
In the figure, 1st. Second. Third. 4th. Fifth. 6th tank (1
1) (12) (13) (14) (15) (1
6), SiH4+Czlh+BJ, (Hz
Contains 0.2χ when diluted with gas), BtHi (contains 38ppm when diluted with Ih gas), Hl, and NO gas are sealed.
Hl is also used as a carrier gas. These gases correspond to the first. Second. Third. 4th. Fifth. Sixth regulating valve (17) (18) (19) (20) (21)
(22) is released by opening the mass flow controller (23) (24) (25) (2
6) (27) Controlled by (2B), the first and second
.. Third. 4th. 5th tank (11) (12) (13)
) (14) The gas from (15) is transferred to the first main pipe (29)
The NO gas from the 6th tank (16) is transferred to the 2nd main pipe (3
0). Note that (31) and (32) are stop valves. Gas flowing through the first main pipe (29) and the second main pipe (30) is sent into the reaction tube (33), and a capacitively coupled discharge electrode (34) is installed inside this reaction tube (33). The high frequency power applied to it ranges from 50 to 3%, and the frequency ranges from IMHz to 10MHz.
is appropriate. Inside the reaction tube (33), a cylindrical film-forming substrate (35) made of aluminum is placed in a sample holding position (36).
), this holding stand (36) is driven to rotate by a motor (37), and the substrate (35) is heated to about 200 degrees by a suitable heating means.
It is heated uniformly to a temperature of from 400°C to 400°C, preferably from about 200°C to 350°C. Furthermore, the inside of the reaction tube (33) is a-
3iC film is formed in a high vacuum state (discharge voltage 0.1 to 2
.. By requiring a rotary pump (0 Torr)
38) and a diffusion pump (39).

以上のように構成されたグロー放電分解装置において、
例えば、a−3iC膜(Bを含有する)を基板(35)
に形成する場合には、第1.第2.第3.第5調整弁(
17) (1B) (19) (21)を開いてそれぞ
れより5iHa+CzHt、BtHh Hzガスを放出
する。放出量はマスフローコントローラ(23) (2
4) (25) (27)により制御され、Si!(a
+CtHz+BzHh+Hzの混合ガスは第1主管(2
9)を介して反応管(33)へと流し込まれる。そして
、反応管(33)の内部が0,1乃至2.0Torr程
度の真空状態、基板温度が200乃至400℃、容量型
放電用電極(34)の高周波電力が50−乃至3Kw 
、または周波数が1乃至10MHzに設定されているこ
とに相俟ってグロー放電が起こり、ガスが分解してBを
含有したa−3iC膜が基板上に高速で形成される。
In the glow discharge decomposition device configured as above,
For example, an a-3iC film (containing B) is placed on the substrate (35).
1. Second. Third. Fifth regulating valve (
17) (1B) (19) Open (21) and release 5iHa+CzHt, BtHh Hz gas from each. The release amount is determined by the mass flow controller (23) (2
4) (25) Controlled by (27), Si! (a
The mixed gas of +CtHz+BzHh+Hz is sent to the first main pipe (2
9) into the reaction tube (33). The inside of the reaction tube (33) is in a vacuum state of about 0.1 to 2.0 Torr, the substrate temperature is 200 to 400°C, and the high frequency power of the capacitive discharge electrode (34) is 50 to 3 Kw.
, or in conjunction with the frequency being set to 1 to 10 MHz, glow discharge occurs, the gas decomposes, and an a-3iC film containing B is formed on the substrate at high speed.

〔実施例〕〔Example〕

次に本発明の実施例を詳細に説明する。 Next, embodiments of the present invention will be described in detail.

(例1) 本例においては、光導電性a−SiC層をアルミニウム
製成膜基板に生成し、そのC!)I!ガスの配合比率に
対する導電率を測定した。
(Example 1) In this example, a photoconductive a-SiC layer is produced on an aluminum deposition substrate, and its C! )I! The conductivity was measured with respect to the gas mixture ratio.

即ち、第25図に示した容量結合型グロー放電分解装置
を用いて第1タンク(11)よりSiH4ガスを10Q
sccmの流量で、第5タンク(15)よりH2ガスを
30Qsccn+の流量で放出し、第2タンク(12)
よりC2H2ガスを10〜101005eの流量で放出
し、グロー放電分解法に基いて約5μmの厚みのa−S
iC膜を製作し、その暗導電率及び光導電率を測定した
ところ、第26図に示す通りの結果が得られた。尚、製
造条件として基板温度を300℃、ガス圧を0.45T
orr、高周波電力を150−に設定した。
That is, using the capacitively coupled glow discharge decomposition device shown in FIG.
sccm, H2 gas is released from the fifth tank (15) at a flow rate of 30Qsccn+, and the second tank (12)
C2H2 gas is released at a flow rate of 10~101005e, and a-S with a thickness of about 5 μm is produced based on the glow discharge decomposition method.
When an iC film was manufactured and its dark conductivity and photoconductivity were measured, the results shown in FIG. 26 were obtained. The manufacturing conditions are a substrate temperature of 300°C and a gas pressure of 0.45T.
orr, and the high frequency power was set to 150-.

第26図によれば、横軸にcJzガス流!(sccm)
を、縦軸に導電率〔(Ω・cm)−’)を表わし、・印
は暗導電率のプロット、Q印は光導電率のプロットであ
り、a+bはそれぞれの特性曲線である。
According to Fig. 26, the horizontal axis shows the cJz gas flow! (sccm)
, the vertical axis represents conductivity [(Ω·cm)−′), the mark . is a plot of dark conductivity, the mark Q is a plot of photoconductivity, and a+b are respective characteristic curves.

第26図から明らかな通り、暗導電率は10−”(Ω・
cm)−’以上と成り得、最大で10−”(Ω・cm)
−’以上まで得られた。また、光導電率は暗導電率に比
べて1000倍以上となり、このa−SiC層が電子写
真感光体用として十分に満足し得る光導電性をもってい
ることが判る。
As is clear from Fig. 26, the dark conductivity is 10-” (Ω・
cm)-' or more, with a maximum of 10-'' (Ω・cm)
−' or more was obtained. Furthermore, the photoconductivity was 1000 times or more as compared to the dark conductivity, which indicates that this a-SiC layer has photoconductivity that is sufficiently satisfactory for use in electrophotographic photoreceptors.

(例2) 本例においては、(例1)に基いてBzHhガス(又は
Plhガス)を導入して暗導電率及び光導電率を測定し
たところ、第27図に示す通りの結果が得られた。
(Example 2) In this example, when BzHh gas (or Plh gas) was introduced based on (Example 1) and the dark conductivity and photoconductivity were measured, the results shown in Figure 27 were obtained. Ta.

図中、横軸は5kHaとCzHzの合計流量に対するB
、H。
In the figure, the horizontal axis is B for the total flow rate of 5 kHa and CzHz.
,H.

純量(これはHtガスの希釈比率より換算して求められ
るB、H,の絶対流量のことである)である。尚、az
uhN量をPH,純量に置き換えた場合も参考例として
記載する。
The pure amount (this is the absolute flow rate of B, H, calculated from the dilution ratio of Ht gas). Furthermore, az
A case where the uhN amount is replaced with PH, the pure amount, is also described as a reference example.

第27図によれば、・印は暗導電率のプロットであり、
○印は光導電率のプロットであり、c、dはそれぞれの
特性曲線である。
According to FIG. 27, the mark is a plot of dark conductivity,
The circle mark is a plot of photoconductivity, and c and d are respective characteristic curves.

第27図から明らかな通り、光導電率は暗導電率に比べ
て1000倍以上となり、P J?3Bをドーピングし
たa−5iC層が電子写真感光体用として満足し得る光
導電性をもっている。
As is clear from FIG. 27, the photoconductivity is more than 1000 times that of the dark conductivity, and P J? The a-5iC layer doped with 3B has satisfactory photoconductivity for use in electrophotographic photoreceptors.

(例3) 本例においては、(例1)中CzHtガス流量を105
CCII+に設定して得られたa−5iCJiIに対し
て分光感度特性を測定し、その結果は第28図に示され
た分光感度曲geとなった。尚、この図は各波長におい
て等エネルギー光を照射した時の光導電率を示す。
(Example 3) In this example, (Example 1) medium CzHt gas flow rate is 105
The spectral sensitivity characteristics of a-5iCJiI obtained by setting CCII+ were measured, and the results were the spectral sensitivity curve ge shown in FIG. Note that this figure shows the photoconductivity when irradiated with equal energy light at each wavelength.

第28図より明らかな通り、可視光領域に光感度が認め
られ、これによって電子写真用の光導電体として十分に
用いることができる。
As is clear from FIG. 28, photosensitivity is observed in the visible light region, and as a result, it can be satisfactorily used as a photoconductor for electrophotography.

(例4) 本例においては、(例1)中CJzガス流量を1010
5cに設定して得られたa−3iC層(厚み30μm)
に対して表面電位、暗減衰及び光減衰のそれぞれの特性
を測定した。この測定は+5.6KVのコロナチャージ
ャで正帯電し、暗中での表面電位の経時変化と、650
nmの単色光照射直後の表面電位の経時変化を追ったも
のである。
(Example 4) In this example, (Example 1) medium CJz gas flow rate is 1010
a-3iC layer (thickness 30 μm) obtained by setting 5c
The characteristics of surface potential, dark decay, and light decay were measured. This measurement was performed by positively charging with a +5.6KV corona charger, and by measuring the change in surface potential over time in the dark and the 650KV corona charger.
This figure follows the change in surface potential over time immediately after irradiation with nm monochromatic light.

その結果は第29図に示す通りであり、Lgはそれぞれ
暗減衰曲線及び光減衰曲線である。
The results are shown in FIG. 29, where Lg is the dark decay curve and the light decay curve, respectively.

第29図より明らかな通り、表面電位が約+600Vと
大きくなっており、暗減衰も5秒後で25χ程度であり
、電荷保持能力に優れている。また、光導電率にも優れ
ており、残留電位も小さいと言える。
As is clear from FIG. 29, the surface potential is as large as about +600V, and the dark decay is about 25χ after 5 seconds, indicating excellent charge retention ability. It can also be said that it has excellent photoconductivity and low residual potential.

尚、(例4)にて得られたa−stc層を−5,6KV
おコロナチャージャで負帯電させたところ、表面電位が
数十Vであった。
In addition, the a-stc layer obtained in (Example 4) was heated to -5.6 KV.
When negatively charged with a corona charger, the surface potential was several tens of volts.

そして、この(例4)に基づいて製作されたa−5iC
層感光体を、+5.6KVのコロナチャージャによって
正極性に帯電させ、次いで画像露光して磁気ブラシ現象
を行った結果、画像濃度が高く、高コントラストで良質
な画像が得られ、20万回の繰り返しテスト後において
も初期画像の劣化が見られず、耐久性も良好であること
が確認できた。
And a-5iC manufactured based on this (Example 4)
The layered photoreceptor was positively charged with a +5.6KV corona charger, and then exposed to image light to perform a magnetic brush phenomenon. As a result, a high-quality image with high image density and contrast was obtained, and after 200,000 cycles. Even after repeated tests, no deterioration of the initial image was observed, and it was confirmed that the durability was good.

(例5) 本例においては第1の態様の感光体を製作した。(Example 5) In this example, a photoreceptor of the first embodiment was manufactured.

即ち、基板用アルミニウム製ドラムを第25図に示した
容量結合型グロー放電分解装置の反応管(33)内に設
置し、そして、第1タンク(1工)より5iHaガスを
、第2タンク(12)よりCtHtガスを、第3タンク
(13)よりBJhガスを、第5タンク(15)より1
1□ガスを、第6タンク(16)よりNoガスをそれぞ
れ放出し、第1表に示す製造条件で第1の層領域及び第
2の層領域を形成した。
That is, the aluminum drum for the substrate was installed in the reaction tube (33) of the capacitively coupled glow discharge decomposition device shown in FIG. 12), BJh gas from the third tank (13), and 1 from the fifth tank (15).
1□ gas and No gas were released from the sixth tank (16), respectively, and the first layer region and the second layer region were formed under the manufacturing conditions shown in Table 1.

かくして得られた感光体の電子写真特性は、暗中で+5
.6KVの高圧源に接続されたコロナチャージャで正極
性に帯電させ、次いで分光された単色光(650nm)
を感光体表面に照射し、これによって下記の通りの特性
が得られた。尚、残留電位は露光開始の5秒後の値であ
る。
The electrophotographic properties of the photoreceptor thus obtained were +5 in the dark.
.. Positively charged with a corona charger connected to a 6KV high voltage source, and then split into monochromatic light (650nm)
was irradiated onto the surface of the photoreceptor, and the following characteristics were obtained. Note that the residual potential is the value 5 seconds after the start of exposure.

表面電位・・・+700v 光感度・・・0.38cがerg−’ 残留電位・・・25V (例6) 本例においては第2の態様の感光体を第2表に示す条件
で製作し、これによって下記の電子写真特性が得られた
Surface potential...+700v Photosensitivity...0.38c is erg-' Residual potential...25V (Example 6) In this example, the photoreceptor of the second embodiment was manufactured under the conditions shown in Table 2, As a result, the following electrophotographic properties were obtained.

表面電位・・・+760v 光感度・・・0.40CIlterg−1残留電位・・
・30V (例7) 本例においては第3の態様の感光体を第3表に示す条件
で製作し、これによって下記の電子写真特性が得られた
Surface potential...+760v Photosensitivity...0.40 CIlterg-1 Residual potential...
-30V (Example 7) In this example, a photoreceptor of the third embodiment was manufactured under the conditions shown in Table 3, and the following electrophotographic characteristics were obtained.

表面電位・・・+820■ 光感度・・・0.42C1erg−1 残留電位・・・35V また、この感光体の表面電位、暗減衰及び光減衰のそれ
ぞれの特性を(例4)と同様に測定したところ、第30
図に示す通りの結果が得られた。図中、h、iはそれぞ
れ暗減衰曲線及び光減衰曲線である。
Surface potential...+820■ Photosensitivity...0.42C1erg-1 Residual potential...35V In addition, the surface potential, dark decay, and light decay characteristics of this photoreceptor were measured in the same manner as in (Example 4). Then, the 30th
The results shown in the figure were obtained. In the figure, h and i are a dark decay curve and a light decay curve, respectively.

第30図より明らかな通り、表面電位が約+820vと
著しく大きくなっており、暗減衰も5秒後で8χ程度で
あって電荷保持能力に優れている。
As is clear from FIG. 30, the surface potential is significantly large, approximately +820 V, and the dark decay is approximately 8χ after 5 seconds, indicating excellent charge retention ability.

(例8) 本例においては第4の態様の感光体を第4表に示す条件
で製作し、これによって下記の電子写真特性が得られた
(Example 8) In this example, a photoreceptor of the fourth embodiment was manufactured under the conditions shown in Table 4, and the following electrophotographic characteristics were obtained.

表面電位・・・+870■ 光感度・・・0.42cl12erg−1(例9) 本例においては、第25図に示したグロー放電分解装置
を用いて下記の製造条件によって成膜速度を測定したと
ころ、第31図に示す通りの結果が得られた。
Surface potential...+870■ Photosensitivity...0.42cl12erg-1 (Example 9) In this example, the film formation rate was measured under the following manufacturing conditions using the glow discharge decomposition apparatus shown in Figure 25. However, the results shown in FIG. 31 were obtained.

盟遺粂住 RF電力・・・150W ガス圧力・・・0.45TOrr 基板温度・・・300℃ 5in4ガス流量・・・100scc+wUZガス流量
・・・300secm 第31図中○印は測定結果のプロットであり、jはその
特性曲線である。
RF power...150W Gas pressure...0.45TOrr Substrate temperature...300℃ 5in4 gas flow rate...100scc+wUZ gas flow rate...300sec The ○ marks in Figure 31 are plots of measurement results. , and j is its characteristic curve.

第31図より明らかな通り、CJtガスの含有比率が大
きくなるのに伴って成膜速度が大きくなっており、約5
〜13μ請/時の成膜速度となった。
As is clear from Fig. 31, as the content ratio of CJt gas increases, the film formation rate increases, and the rate of film formation increases by approximately 5.
The film formation rate was ~13μ/hour.

(例10) 本例においては、(例9)と同一の製造条件によってC
,H,ガスの含有比率を変えながら膜中の水素含有量を
追ったところ、第32図に示す通りの結果が得られた。
(Example 10) In this example, C
, H, and the hydrogen content in the film while changing the content ratio of the gases, the results shown in FIG. 32 were obtained.

第32図中、O印及び・印はそれぞれC及びSiと結合
したHの結合量を示すプロットであり、k、1はそれぞ
れその特性曲線である。
In FIG. 32, marks O and * are plots showing the amount of H bonded to C and Si, respectively, and k and 1 are their characteristic curves, respectively.

第32図より明らかな通り、CtHzガスの含有比率が
大きくなるのに伴ってC−H結合が増大すると共にS−
H結合が減少することが判る。
As is clear from Fig. 32, as the content ratio of CtHz gas increases, the number of C-H bonds increases and the number of S-
It can be seen that H-bonds are reduced.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上の通り、本発明の電子写真感光体の製法によれば、
全層に亘って光導電性を有するa−5iCが高い暗抵抗
値となり、且つ光感度特性にも優れていることによって
実質上表面保護層及びキャリア注入阻止層を不要とする
ことができ、その結果、光導電性a−SiC層だけから
成る電子写真感光体が提供できた。
As described above, according to the method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor of the present invention,
Since a-5iC, which has photoconductivity throughout the entire layer, has a high dark resistance value and excellent photosensitivity characteristics, it is possible to substantially eliminate the need for a surface protection layer and a carrier injection blocking layer. As a result, an electrophotographic photoreceptor consisting only of a photoconductive a-SiC layer could be provided.

また、本発明の製法によれば、C冨HtガスとSt含有
ガスを組合せてグロー放電分解すると著しい高い成膜速
度が得られ、これによって製造効率及び製造コストが改
善される。
Further, according to the manufacturing method of the present invention, a significantly high film formation rate can be obtained by glow discharge decomposition using a combination of C-rich Ht gas and St-containing gas, thereby improving manufacturing efficiency and manufacturing cost.

更に本発明の製法によれば、層厚方向に亘って炭素及び
■a族元素の含有量を変えることによって表面電位を向
上させると共に光感度特性を高め、且つ残留電位を顕著
に小さくすることができる。
Furthermore, according to the manufacturing method of the present invention, by changing the content of carbon and group A elements in the layer thickness direction, it is possible to improve the surface potential, enhance the photosensitivity characteristics, and significantly reduce the residual potential. can.

特に、炭素の含有量を層厚方向に亘って変えると、抵抗
率が制御されて所要のN領域が得られ、その結果、格段
に高性能な電子写真感光体が提供できる。
In particular, when the carbon content is varied in the layer thickness direction, the resistivity can be controlled and the required N region can be obtained, and as a result, an electrophotographic photoreceptor with significantly higher performance can be provided.

また、本発明の製法によれば、正極性に有利に帯電する
ことができる正極性用電子写真感光体が提供される。
Further, according to the manufacturing method of the present invention, a positive polarity electrophotographic photoreceptor that can be charged advantageously to positive polarity is provided.

更に、従来のa−St感光体を長期間に亘って使用した
場合にはコロナ放電に伴って感光体表面の局所的な放電
破壊が発生し易(なり、これに起因して画像に流点が生
じるという問題があったが、本発明の製法によれば、a
−Stの誘電率がε=12であるのに対してa−SiC
はε・7と約半分程度であるために帯電能に優れており
、これにより、表面電位を高くしても何ら上記の放電破
壊が発生しなくなり、その結果、高品質且つ高信頼性の
電子写真感光体が提供される。
Furthermore, when a conventional a-St photoreceptor is used for a long period of time, local discharge damage on the surface of the photoreceptor is likely to occur due to corona discharge, which causes spots on the image. However, according to the manufacturing method of the present invention, a
-St has a dielectric constant of ε=12, while a-SiC
is about half that of ε・7, so it has excellent charging ability.As a result, the above-mentioned discharge breakdown does not occur even if the surface potential is increased, and as a result, high-quality and highly reliable electronic A photographic photoreceptor is provided.

また、本発明の電子写真感光体の製法によれば、それ自
体で帯電能及び耐環境性に優れていることから特に保護
層を設ける必要がなく、例えばコロナ放電による被曝或
いは現像剤の樹脂成分の感光体表面へのフィルミング等
によって表面が劣化した場合、その劣化した表面を研摩
剤等で研摩再生を繰り返し行ってもその研摩量において
制限を受けずに感光体の初期特性を維持することができ
、それによって初期における良好な画像を長期に亘り安
定して供給することが可能となる。
Further, according to the method for producing an electrophotographic photoreceptor of the present invention, since it has excellent charging ability and environmental resistance by itself, there is no need to provide a special protective layer, and, for example, it is not necessary to provide a protective layer due to exposure to corona discharge or the resin component of the developer. When the surface of a photoconductor is deteriorated due to filming, etc., the initial characteristics of the photoconductor can be maintained without being limited in the amount of polishing even if the deteriorated surface is repeatedly polished and regenerated with an abrasive. This makes it possible to stably supply a good initial image over a long period of time.

更に本発明の製法により得られる電子写真感光体を、従
来のa−St感光体と比較して場合、このa−5i悪感
光の問題点として耐湿性に劣っているので画像流れが生
じ易く、また、帯電能に劣っているのでゴースト現象が
発生するが、これを解決するためにa−S i 感光体
の使用時にヒータを用いてその感光体を加熱し、その発
生を防止している。これに対して本発明の製法に係る電
子写真感光体は耐湿性且つ帯電能に優れているために上
記のようにヒータを用いて使用する必要はないという長
所がある。
Furthermore, when the electrophotographic photoreceptor obtained by the manufacturing method of the present invention is compared with a conventional a-St photoreceptor, the problem with the a-5i photoreceptor is that it is inferior in moisture resistance, which tends to cause image deletion. Furthermore, since the charging ability is poor, a ghost phenomenon occurs, but in order to solve this problem, a heater is used to heat the photoreceptor when the a-S i photoreceptor is used, thereby preventing the occurrence of this phenomenon. On the other hand, the electrophotographic photoreceptor according to the manufacturing method of the present invention has excellent moisture resistance and charging ability, and therefore has the advantage that it does not require the use of a heater as described above.

また、本発明の電子写真感光体の製法はa−3t悪感光
と比べて炭素の含有量を変えるだけで幅広い分光感度特
性(ピーク600〜700nm )が得られると共に光
感度自体を増大させることができ、更に必要に応じて不
純物元素をドーピングすれば長波長側の増感も可能にな
るという利点がある。
Furthermore, compared to the A-3T photoreceptor, the manufacturing method of the electrophotographic photoreceptor of the present invention allows a wide range of spectral sensitivity characteristics (peak 600 to 700 nm) to be obtained by simply changing the carbon content, and it is also possible to increase the photosensitivity itself. Furthermore, there is an advantage that sensitization on the long wavelength side is also possible by doping with an impurity element as necessary.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の製法に係る電子写真感光体の層構成を
示す説明図、第2図は従来の電子写真感光体の層構造を
示す説明図、第3図は本発明に係る第1の態様の感光体
の層領域を示す説明図、第4図、第5図、第6図、第7
図、第8図及び第9図はそれぞれ本発明に係る第1の態
様の感光体の炭素含有量を示す説明図、第10図は本発
明に係る第2の態様の感光体のJW 6i域を示す説明
図、第11図、第12図、第13図、第14図、第15
図及び第16図はそれぞれ本発明に係る第2のB様の感
光体の炭素含有量を示す説明図、第17図は本発明に係
る第3の態様の感光体のi領域を示す説明図、第18図
、第19図、第20図及び第21図はそれぞれ本発明に
係る第3の態様の感光体の炭素含有量を示す説明図、第
22図は本発明に係る第4の態様の感光体の層領域を示
す説明図、第23図及び第24図は本発明に係る第4の
態様の感光体の炭素含有量を示す説明図、第25図は本
発明の実施例に用いられる容量結合型グロー放電分解装
置の説明図、第26図はCtH2ガスの流量比率に対す
る導電率を示す線図、第27図はPH3ガス及びBtH
*ガスのそれぞれの流量比率に対する導電率を示す線図
、第28図はアモルファスシリコンカーバイド層の分光
感度特性を示す線図、第29図はアモルファスシリコン
カーバイド層の暗減衰及び光減衰を示す線図、第30図
は第3の態様のアモルファスシリコンカーバイド層の暗
減衰及び光減衰を示す線図、第31図はCtll、ガス
の流量比率に対する成膜速度を示す線図、第32図はC
よH□ガスの流量比率に対する水素原子の結合比率を示
す線図である。 工・・・基板 5.5a、5b、5c・・・・光導電性アモルファスシ
リコンカーバイド層 6・・・第1の層領域 7・・・第2の層領域 8・・・第、3の層領域 9・・・第4の層領域 10・・・アモルファスシリコンカーバイド表面保護層 特許出願人 (663)京セラ株式会社同    河村
孝夫
FIG. 1 is an explanatory diagram showing the layer structure of an electrophotographic photoreceptor according to the manufacturing method of the present invention, FIG. 2 is an explanatory diagram showing the layer structure of a conventional electrophotographic photoreceptor, and FIG. 4, 5, 6, and 7
8 and 9 are explanatory diagrams showing the carbon content of the photoconductor of the first embodiment according to the present invention, respectively, and FIG. 10 is the JW 6i area of the photoconductor of the second embodiment of the present invention. 11, 12, 13, 14, 15
16 and 16 are explanatory diagrams showing the carbon content of the second B-type photoconductor according to the present invention, respectively, and FIG. 17 is an explanatory diagram showing the i-area of the third embodiment photoconductor according to the present invention. , FIG. 18, FIG. 19, FIG. 20, and FIG. 21 are explanatory diagrams showing the carbon content of the photoreceptor of the third embodiment of the present invention, respectively, and FIG. 22 is an explanatory diagram showing the carbon content of the photoreceptor of the fourth embodiment of the present invention. 23 and 24 are explanatory diagrams showing the carbon content of the photoconductor of the fourth embodiment according to the present invention, and FIG. 25 is an explanatory diagram showing the layer area of the photoconductor according to the fourth embodiment of the present invention. An explanatory diagram of a capacitively coupled glow discharge decomposition device, FIG. 26 is a diagram showing the conductivity versus the flow rate ratio of CtH2 gas, and FIG. 27 is a diagram showing the conductivity with respect to the flow rate ratio of CtH2 gas
*A diagram showing the electrical conductivity for each gas flow rate ratio, Figure 28 is a diagram showing the spectral sensitivity characteristics of the amorphous silicon carbide layer, and Figure 29 is a diagram showing the dark attenuation and optical attenuation of the amorphous silicon carbide layer. , FIG. 30 is a diagram showing the dark decay and optical attenuation of the amorphous silicon carbide layer of the third embodiment, FIG. 31 is a diagram showing the film formation rate versus Ctll and gas flow rate ratio, and FIG. 32 is a diagram showing C.
FIG. 3 is a diagram showing the bonding ratio of hydrogen atoms to the flow rate ratio of YoH□ gas. Process...Substrates 5.5a, 5b, 5c...Photoconductive amorphous silicon carbide layer 6...First layer region 7...Second layer region 8...Third and third layers Region 9...Fourth layer Region 10...Amorphous silicon carbide surface protective layer Patent applicant (663) Kyocera Corporation Takao Kawamura

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)少なくともアセチレン及びケイ素含有ガスから成
ると共にこのガス組成比が0.01:1乃至3:1の範
囲内に設定され、且つ10^−^6乃至1モル%の周期
律表第IIIa族元素含有ガスを含むアモルファスシリコ
ンカーバイド生成用ガスをグロー放電分解して基板上に
正極性に帯電可能なアモルファスシリコンカーバイド層
を形成することを特徴とする電子写真感光体の製法。
(1) Consisting of at least acetylene and silicon-containing gas, the gas composition ratio is set within the range of 0.01:1 to 3:1, and 10^-^6 to 1 mol% Group IIIa of the periodic table A method for producing an electrophotographic photoreceptor, which comprises forming an amorphous silicon carbide layer that can be positively charged on a substrate by glow discharge decomposition of an amorphous silicon carbide generating gas containing an element-containing gas.
(2)前記アモルファスシリコンカーバイド層は1乃至
90原子%の炭素を含有していることを特徴とする特許
請求の範囲第(1)項記載の電子写真感光体の製法。
(2) The method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor according to claim (1), wherein the amorphous silicon carbide layer contains 1 to 90 atomic percent carbon.
(3)前記アモルファスシリコンカーバイド層は1乃至
90原子%の炭素と5乃至50原子%の水素を含有して
いることを特徴とする特許請求の範囲第(1)項記載の
電子写真感光体の製法。
(3) The electrophotographic photoreceptor according to claim (1), wherein the amorphous silicon carbide layer contains 1 to 90 atomic % carbon and 5 to 50 atomic % hydrogen. Manufacturing method.
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