JPS6377435A - デイジタルx線装置及びその画像作成方法 - Google Patents

デイジタルx線装置及びその画像作成方法

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JPS6377435A
JPS6377435A JP61219199A JP21919986A JPS6377435A JP S6377435 A JPS6377435 A JP S6377435A JP 61219199 A JP61219199 A JP 61219199A JP 21919986 A JP21919986 A JP 21919986A JP S6377435 A JPS6377435 A JP S6377435A
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JP
Japan
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mask
detector
digital
ray
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JP61219199A
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ジョン エフ ムーア
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Toshiba Corp
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Toshiba Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、複数の分離型検出器を利用して物体の画像を
出力するディジタルX線装置及びその画像作成方法に関
する。
(従来の技術) 従来より、空間的解像度を上げるには、より細い幅の分
離型X線検出器を使用する必要があり、また各検出器の
それぞれについてデータを積算し、操作用チャンネルを
設ける必要がある。これは費用増大の大きな原因となっ
ており、従って空間的解像度を上げようとすると平面画
像作成に使用するディジタルラジオグラフ装置等のディ
ジタルX線機器は高額のものとなってしまう。
コンピュータ断層撮影装置において、隣接する複数の分
離型検出器間に複数のビンの形状をとるマスクを用いて
、各々の検出器に開口部を狭めれば空間解像度は増加す
る。このように開口部を狭めると、検出器から見たX線
源の任意の特定位置について死点が生じてしまうが、検
出器に対するX線源を相対移動させることにより、この
死点による悪影響は軽減できる。
しかし、X線源と検出器とを連動して移動する場合には
、前記マスクの使用により絶え間なく死点が生じるため
解像度は上がらず、逆に減少してしまう。
散乱線の除去のためにもマスクは従来から使用されてき
た。ターゲットの上方と下方の両方に使用するスロット
付マスクとしては静止型ないし振動型のバラキーグリッ
ドが知られている。このスロット付マスクによりファン
型ビームからの散乱X線は、検出器に達することがなく
除去され、従って誤信号が発生することはなくなる。
また、第2世代および第4世代のCTスキャナーには櫛
型マスクが使用されており、これらのマスクは前記分離
型検出器アレイの直線軸に垂直な方向に移動することが
できる。このマスクは検出器の上方に設置された場合、
X線が検出器に到達する際に通過する開口部は狭められ
、これにより解像度を上げることができる。検出器アレ
イの直線軸に垂直な移動により、マスクを検出器から完
全に離すと、マスクの効果は全く失われ、アレイを形成
する検出器の全表面領域で検出が行なわれる。
この櫛型マスクには種々の直径の複数のピン形状の歯が
あるため、検出器アレイの縦軸に垂直な方向にマスクの
位置を変えることにより、検出器の開口部を変化させる
ことができる。
(発明が解決しようとする問題点) 上述の従来技術による方法は、第2世代または第4世代
のコンピュータ断層撮影装置において、散乱X線の除去
及び解像度を上げることは可能となるが、平面画像作成
ディジタルX線装置の空間解像度を改良し得る手段はな
い。
本発明は、この空間解像度を上げることの可能な平面画
像作成用のディジタルX線装置を提供することを目的と
する。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) 上記問題点を解決するために本発明においては、並列に
配置させてリニアアレイを形成する複数の分離型等幅の
検出器アレイと、この検出器アレイの縦軸に並行となる
ようなファン形状のビームを被検体の一部を透過させな
がら前記検出器アレイに向けて照射するX線源と、この
X線源から照射されるビームを前記検出器アレイの所定
部分のみに限定する前記被検体と前記検出器アレイとの
間に設置さとれるマスク手段と、このマスク手段を前記
検出器アレイの縦軸に平行な方向に移動して前記分離等
幅検出器の検出領域を変える手段とを具備したことを特
徴とする画像作成用ディジタルX線装置および、前記検
出器アレイの縦軸に平行となっている平面状のビームに
より前記検出器アレイに向けて前記被検体の所定部分を
透過してファン形状のビームを照射し、この照射される
ファン形状のビームを前記被検体と前記検出器との間に
設置される前記ビームの放射を所定範囲に限定するマス
クを前記検出器アレイの縦軸に平行な方向に移動させ、
前記被検体の任意の部位を透過させて前記各分離型検出
器に向けて放射させるようにしたことを特徴とするディ
ジタルX線装置における画像作成方法とを提供する。
(作用) 上記のように構成された画像作成用ディジタルX線装置
においては、被検体と検出器アレイとの間に設置される
マスクが検出器アレイの縦軸に平行な方向に移動される
。マスクは所定時間毎に複数箇所の所定の範囲に限定さ
れた領域でデータ出力が提供され、空間解像度は増加さ
れる。
(実施例) 以下、本発明による実施例を図面を用いて詳細に説明す
る。
第1図は、被検体12の画像を作成するディジタルX線
装置である。第1図で示されるディジタルX線装置10
は横方向に並行配置され、縦軸18を有するリニアアレ
イ16を形成する複数の分離型等幅検出器14a−eを
備えている。
検出器14a−eは、それぞれの検出器の上部表面に到
達するX線を受けとると電気出力信号を発生する機能を
有する従来のX線検出器装置を用いる。
導線20a−eは、各検出器14a−eと電気画像プロ
セッサ22の対応電気チャンネルに結合し、検出器14
a−eからの電気出力信号をプロセッサ22のそれぞれ
のチャンネルへと伝える。
X線源24を設は被検体12の所定部分28を通過して
検出器14a−eへと向うファン形状のX線ビーム26
を発生させる。ビーム26の面は、検出器アレイ16の
縦軸18に平行に向ける。使用する散乱X線防止および
ビーム形成マスク30は、狭いスロット付X線透過部3
2を有している。
当業者には周知のとおり、X線透過部32の動作は、ビ
ーム26の形状を定めるのに有効である。
リニア、アレイ16と電気画像プロセッサ22と線源2
4とマスク30の動作及び構造は、従来と同様である。
本発明によるマスク手段は、ディジタルX線装置の被検
体とこの装置で使用する分離型検出器のリニア・アレイ
との間に設け、ビームの放射を各検出器の一部分のみに
限定する。さらに、本発明において、マスク手段を線源
とアレイから見てアレイの縦軸と平行に移動させて検出
器の空間解像度を高める手段が設けられており、被検体
の所定任意の部位から、分離型検出器の所定の対応選定
部分へとビームを放射させる。
第1図に実施例として示すように、櫛形状のマスク40
が被検体12とアレイ16の間に設けられている。櫛型
マスク40には複数のX線遮断歯42a−fがあり、そ
の間が、開口部形状のX線透過開口部44a−eとなっ
ている。従って、マスク40は放射ビーム26を、検出
器14a−eの対応部分だけに限定することができる。
さらに、第1図に示すように、検出器アレイ16はベー
スサポート48の上に取付けられている。ベースサポー
ト48は、垂直サポート50と、機構的に線源24と検
出器アレイ16を相互結合して線源24と検出器アレイ
16の間の相対移動を防止する線源サポート52を備え
ている。従って、ベースサポート48が移動すると、線
源24も対応して移動する。
さらに第1図で示されるように、ソレノイド54は、垂
直サポート50に固定され、櫛型マスク40の一方の端
に物理的連結した可動アマチュア56を有している。当
業者には周知の通り、ソレノイド54の動作は、画像プ
ロセッサ22から導線58を通ってソレノイド54に達
する制御信号によって制御される。ソレノイド54のア
マチュア56は、検出器アレイ16の縦軸18に平行な
方向に位置している。従って、ソレノイド54の作動に
よりアマチュア56が縦方向に移動すると、これに合わ
せて櫛型マスク40が矢印60の示す方向に沿って移動
するが、この移動方向は検出器アレイ16の縦軸18に
平行である。
上記のように、櫛型マスク40のX線透過開口部44a
−eによって、ビーム26の検出器14a−eの所定の
対応部分46a−eへの放射が可能となる。検出器14
a−eの一部分である46a−eへの照射はそれぞれ、
被検体12の当該選定部分52a−eを通過するビーム
26の放射に対応するものである。従って、櫛型マスク
40が、検出器アレイ16の縦軸18に平行な方向60
に動くと、この移動によって、被検体12の任意の異な
る部分から、分離型検出器14a−eの所定の対応部分
へビーム26が放射されることになる。
この作用はさらに第2図にも示されている。第2図では
、被検体12の断面28と、検出器14a−eと、開口
部44a−eのある櫛型マスク740の、それぞれの側
面図が示されている。
第2図に示す如く、T1時には櫛型マスク40は被検体
12の一部分である62a−eからそれぞれ検出器14
a−eの対応部分にビーム26が放射するように位置し
ている。12時には櫛型マスク40は、アレイ16の縦
軸18に平行な方向60にある距離だけ移動しているが
、この場合ある距離とは、被検体12の部分64a−e
から、それぞれ検出器14a−eの所定の対応部分にビ
ーム26が放射されるのに充分な距離である。
同様にして、13時には櫛型マスク40は、被検体12
の部分5ga−eから、検出器14a−eの対応部分7
0a−eにビーム26が放射されるように移動し、また
T4時には櫛型マスク40は、目的物体12の部分72
a−eから検出器14a−eの部分74a−eにビーム
26が放射されるように移動している。
このように、被検体12の4箇所の異なる部分に対して
、検出器14a−eの各々がそれぞれデータ出力を提供
できるので、検出器14a−eの各々の空間解像度は4
倍高まる。この空間解像度の増加は、電気画像プロセッ
サ22のチャンネルの総ボリュームを増やさなくとも得
られるが、必要な走査時間は増大する。なぜなら、各検
出器14a−eからの個々の信号を時刻Tl、T2゜T
3.T4の各々について画像プロセッサ22が受信でき
るためには、充分な時間が必要とされるためである。
第1図、第2図に図解したように、櫛型マスク40は単
一の櫛型部材から構成されている。櫛型マスク40の開
口部44a−eの幅はそれぞれ、検出器14a−eの幅
のN分の1であるのが望ましい。ただし、Nは1以上の
整数である。例えば第1図および第2図において、Nは
4として示され、開口部44a−eは検出器14a−e
の幅の4分の1である。Nが4だとすれば、図中の櫛型
マスク40には4箇所の異なる位置があって、検出器1
4a−eの空間解像度を高めている。Nはまた2、3゜
もしくは4以上の整数でもよい。
この平面画像を得るために、被検体12は、アレイ16
、X線源24、櫛型マスク40から見て、ビーム26の
面に垂直な方向80へと移動する。
この移動を行なうには、被検体12を静止させたまま、
アレイ16、X線源24、櫛型マスク4゜を方向80に
移動させても、アレイ16、X線源24、櫛型マスク4
0を固定したまま、被検体12を方向80に移動させて
も良い。例えば、第1図に図示したように、ソレノイド
82は、ベースサポート48に連結したアマチュア84
を有している。アマチュア84は方向8oに平行な方向
に位置しているため、ビーム26の面に垂直な方向に位
置することになる。ソレノイド82はサポート86によ
り被検体12に物理的に連結されているため被検体12
と、アレイ16、X線源24、櫛型マスク40の結合と
が、ファンビーム26の面に垂直な方向80に沿って相
対移動することになる。ソレノイド82が方向8oにス
テップ移動するとき、被検体12の部分26もまた、方
向80にステップ移動する。
第1図および第2図に図解した本発明の実施例において
は、断面28を静止させたまま、櫛型マスク40を方向
60に沿ってステップ移動させ、その後被検体12を方
向8oに1ステップ動がしついでマスク40を方向6o
に沿って再度ステップ移動させる。あるいは、櫛型マス
ク4oを方向60に沿って静止させたまま、被検体12
の全面的走査を方向80に沿って行ってもよい。ががる
走査完了後、櫛型マスク4oを方向6oに1ステップ動
かしてから、被検体12の次の全面的走査を方向80に
沿って行なう。
マスク30は、線源24から見て固定したままでもよい
し、櫛型マスク4oがら見て方向6oに沿って移動させ
てもよい。この場合、マスク3゜の移動は、サポート5
oとマスク3oの間にアマチュア92で連結したソレノ
イド9oを動作させて行なう。第4図に示したように、
マスク3oが複数の個別開口部94を有する場合は、マ
スク30の方向60に沿う移動は、櫛型マスク4oの方
向60に沿う移動と同期して行なうのが望ましい。患者
の受ける入射放射線量を最小限にするには、複数の開口
部のある上部マスクの使用が望ましい。
また、ビーム26の散乱X線が被検体12を通過する際
の悪影響を最小限に抑えるには、マスク30と同種の第
2のマスクを、アレイ16と被検体12の間に設置する
第3図に、マスク40の他の実施例を示す。この場合マ
スク40は、方向6oの沿って相対移動し得る2つの別
のマスク100と102とがら構成されている。第3図
から分かるとおり、櫛型マスク102は、幅が検出器1
4a−eの幅の2分の1の個別開口部104を有してい
る。櫛型マスク100は、等間隔に並ぶ開口部108を
、櫛型マスク102の2倍有しているが、開口部106
の幅は、検出器14a−eの幅の4分の1である。
従って、第3図に示した櫛型マスク100と102の時
刻Tl、T2.T3.T4における相対移動は、第2図
に基づいて先に述べた、櫛型マスク40の移動と全く同
じ結果を生じる。
[発明の効果] 以上述べたように本発明によれば、被検体と検出器アレ
イとの間に設置され前記検出器アレイの所定部分のみに
X線源から照射されるビームを限定するマスク手段を、
前記検出器アレイの縦軸に平行な方向に移動させること
により、前記検出器の検出領域を狭めることにより、各
検出器の空間解像度が高い画像作成用ディジタルX線装
置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す概略ブロック図、第2
図は異なる時間積分時におけるマスクの種々の位置を説
明する概略図、第3図は異なる時間積分時における別形
状のマスクの腫々の位置を説明する概略図、第4図は本
発明による他の実施例を示す概略図である。

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)並列に配置させてリニアアレイを形成する複数の
    分離型等幅の検出器アレイと、この検出器アレイの縦軸
    に並行となるようなファン形状のビームを被検体の一部
    を透過させながら前記検出器アレイに向けて照射するX
    線源と、このX線源から照射されるビームを前記検出器
    アレイの所定部分のみに限定する前記被検体と前記検出
    器アレイとの間に設置されるマスク手段と、このマスク
    手段を前記検出器アレイの縦軸に平行な方向に移動して
    前記分離等幅検出器の検出領域を変える手段とを具備し
    たことを特徴とする画像作成用ディジタルX線装置。
  2. (2)前記マスク手段を前記ファン形状のビームの面に
    垂直な方向に移動する手段を具備したことを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載の画像作成用ディジタルX線
    装置。
  3. (3)前記マスク手段は、それぞれ独立に移動可能な重
    なり合う複数のマスクから成ることを特徴とする特許請
    求の範囲第1項記載の画像作成用ディジタルX線装置。
  4. (4)前記マスク手段は、前記検出器アレイの縦軸に並
    行に並ぶ所定の幅の複数のX線透過部を有し、この幅は
    前記各検出器の幅の任意の整数N分の1であることを特
    徴とする特許請求の範囲第1項記載の画像作成用ディジ
    タルX線装置。
  5. (5)前記空間解像度を高める手段は、前記検出器アレ
    イの縦軸に平行な方向に、前記検出器幅のN分の1ステ
    ップ毎にN回増加させて移動する手段を備えたことを特
    徴とする特許請求の範囲第4項記載の画像作成用ディジ
    タルX線装置。
  6. (6)並列に配置させてリニアアレイを形成する複数の
    分離型等幅の検出器アレイの縦軸に平行となっている平
    面状のビームにより前記検出器アレイに向けて被検体の
    所定部分を透過してファン形状のビームを照射し、この
    照射されるファン形状のビームを前記被検体と前記検出
    器との間に設置される前記ビームの放射を所定範囲に限
    定するマスクを前記検出器アレイの縦軸に平行な方向に
    移動させ、前記被検体の任意の部位を透過させて前記各
    分離型検出器に向けて放射させるようにしたことを特徴
    とするディジタルX線装置における画像作成方法。
  7. (7)前記検出器アレイと前記マスクと前記ファン形状
    のビームのX線源とを、前記ビームの面に平行な方向に
    移動させるようにしたことを特徴とする特許請求の範囲
    第1項記載のディジタルX線装置における画像作成方法
  8. (8)前記各検出器の幅のN分の1の幅の複数のX線透
    過部分を有する前記マスクを、前記検出器幅の任意の整
    数N分の1ステップ毎にN回増加させて移動するように
    したことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のディ
    ジタルX線装置における画像作成方法。
  9. (9)前記マスクをN増分移動させた後に、前記アレイ
    とマスクとファン形状のビームのX線源とを、前記ビー
    ムの面に垂直な方向に移動するようにしたことを特徴と
    する特許請求の範囲第3項記載のディジタルX線装置に
    おける画像作成方法。
  10. (10)前記マスクをそれぞれ増分ステップ移動させた
    後に前記検出器アレイと前記マスクと前記ファン形状の
    ビームのX線源とを前記ビームの面に垂直な方向に移動
    させるようにしたことを特徴とする特許請求の範囲第3
    項記載のディジタルX線装置における画像作成方法。
JP61219199A 1986-09-19 1986-09-19 デイジタルx線装置及びその画像作成方法 Pending JPS6377435A (ja)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02246934A (ja) * 1989-03-22 1990-10-02 Mitsubishi Electric Corp X線ct装置
JP2003102714A (ja) * 2001-09-26 2003-04-08 Ge Medical Systems Global Technology Co Llc X線ctシステム、ガントリ装置、操作コンソールおよびその処理方法
JP2021503070A (ja) * 2018-09-18 2021-02-04 ヌクテック カンパニー リミテッド X線検査システムおよび検査方法

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