JPS6367579A - Ic testing device - Google Patents

Ic testing device

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JPS6367579A
JPS6367579A JP61213426A JP21342686A JPS6367579A JP S6367579 A JPS6367579 A JP S6367579A JP 61213426 A JP61213426 A JP 61213426A JP 21342686 A JP21342686 A JP 21342686A JP S6367579 A JPS6367579 A JP S6367579A
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JP
Japan
Prior art keywords
pin
board
performance board
performance
pressing
Prior art date
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Pending
Application number
JP61213426A
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Japanese (ja)
Inventor
Hideyuki Hasegawa
長谷川 秀行
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Hitachi High Tech Corp
Original Assignee
Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Electronics Engineering Co Ltd filed Critical Hitachi Electronics Engineering Co Ltd
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Publication of JPS6367579A publication Critical patent/JPS6367579A/en
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  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

PURPOSE:To easily convert a performance substrate by pressing the performance substrate against spring contact pins connected to a pin electronic substrate by using an operation lever and a link mechanism and connecting them. CONSTITUTION:Lower end parts of the respective spring contact pins implanted in a pin-implanted ring 22 are connected to the wiring pattern (not shown in figure) of a guard board 18 and connected electrically to the pin electronic substrate 12 through connectors 20 and 14. The performance substrate 26 is pressed against the top surface side of the pin-implanted ring 22 by the operation lever and the link mechanism consisting of members 64 and 66, shafts 68 and 70, etc., to connect a contact and (not shown in figure) on the reverse surface of the substrate 26 to the upper end parts of the pins 24. Consequently, no large force is required to attach or detach the performance substrate 26.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、ICテスト装置に関し、さらに詳細には、
ICテスト装置におけるパフォーマンス基板の着脱に関
連した改良に関する。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] The present invention relates to an IC test device, and more specifically,
This invention relates to improvements related to the attachment and detachment of performance boards in IC test equipment.

[従来の技術] 一般にICテスト装置においては、テストヘッドと呼ば
れる部分に多数のピンエレクトロニクス基板が配設され
ており、そのピンエレクトロニクス基板に目的に応じた
パフォーマンス基板を交換可能に電気的に接続するよう
になっている。
[Prior Art] Generally, in an IC test device, a large number of pin electronics boards are arranged in a part called a test head, and a performance board according to the purpose is electrically connected to the pin electronics board in a replaceable manner. It looks like this.

従来、このパフォーマンス基板の電気的接続は、パフォ
ーマンス基板をピンエレクトロニクス基板に手で押し付
け、ピンエレクトロニクス基板のコネクタと、それに対
応してパフォーマンス基板の裏面に設けられているコネ
クタとを嵌合させることによって行う構造となっている
Traditionally, electrical connections for this performance board are made by manually pressing the performance board onto the pin electronics board and mating the connectors on the pin electronics board with the corresponding connectors on the backside of the performance board. It is structured to do so.

[解決しようとする問題点] しかし、ピンの多いICをテストするためのICテスト
装置の場合、ピンエレクトロニクス基板の枚数が著しく
増加し、それに伴いコネクタ数も増加するので、コネク
タの挿抜に大きな力が必要となり、パフォーマンス基板
の交換が容易でないという問題がある。
[Problem to be solved] However, in the case of IC test equipment for testing ICs with many pins, the number of pin electronics boards increases significantly, and the number of connectors also increases accordingly, so it takes a large amount of force to insert and remove connectors. Therefore, there is a problem that it is not easy to replace the performance board.

[発明のLJ的コ したがって、この発明の目的は、パフォーマンス基板の
交換を容易に行うことができるようにしたICテスト装
置を提供することにある。
[LJ Object of the Invention Accordingly, an object of the present invention is to provide an IC test device that allows easy replacement of performance boards.

[問題点を解決するための手段] 前記目的を達成するために、この発明によるICテスト
装置は、複数のスプリングコンタクトピンが植設された
固定されたピン植設体と、スプリングコンタクトピンを
ピンエレクトロニクス基板に電気的に接続するための手
段と、パフォーマンス基板をピン植設体のスプリングコ
ンタクトピンに押し付けて、パフォーマンス基板のコン
タクトパッドをスプリングコンタクトピンに押接させた
状態に固定する押し付け固定手段とを有し、この押し付
け固定手段は操作レバーと、この操作レバーの回動力を
パフォーマンス基板の押し付け力に増強変換するリンク
機構とからなる構成である。
[Means for Solving the Problems] In order to achieve the above object, an IC test device according to the present invention includes a fixed pin mounting body in which a plurality of spring contact pins are mounted, and a pin mounting body in which a plurality of spring contact pins are mounted. means for electrically connecting to the electronics board; and pressing fixing means for pressing the performance board against the spring contact pins of the pin mounting body and fixing the performance board in a state in which the contact pads of the performance board are pressed against the spring contact pins. The pressing and fixing means includes an operating lever and a link mechanism that enhances and converts the rotational force of the operating lever into a pressing force against the performance board.

[作用コ 前記のように、この発明のICテスト・装置にあっては
、ピンエレクトロニクス基板と電気的に接続したスプリ
ングコンタクトピンにパフォーマンス基板を押し付け、
パフォーマンス基板のコンタクトパッドをスプリングコ
ンタクトピンに押接させることにより、パフォーマンス
基板とピンエレクトロニクス基板との電気的な接続が行
われる。
[Function] As mentioned above, in the IC test device of the present invention, the performance board is pressed against the spring contact pins electrically connected to the pin electronics board,
By pressing the contact pads of the performance board against the spring contact pins, an electrical connection is made between the performance board and the pin electronics board.

このような構成であるから、パフォーマンス基板の取り
外しには殆ど力を要しないが、取り付け(押し付け固定
)に必要な力も従来のコネクタ接続構造に比べ減少する
With this configuration, almost no force is required to remove the performance board, but the force required for attachment (pressing and fixing) is also reduced compared to the conventional connector connection structure.

しかも、パフォーマンス基板の押し付け固定のための手
段は、操作レバーの回動力をリンク機構によって増強し
て押し付け力に変換する構成であるから、パフォーマン
ス基板を直接的に人手にて押し付ける場合に比べ、はる
かに小さな操作力でパフォーマンス基板を押し付け固定
することができる。
Moreover, the means for pressing and fixing the performance board is configured to increase the rotational force of the operating lever using a link mechanism and converting it into pressing force, so it is far more effective than pressing the performance board directly by hand. The performance board can be pressed and fixed with a small amount of operating force.

したがって、従来よりも乙に容易にパフォーマンス基板
の交換を行うことができる。
Therefore, the performance board can be replaced more easily than before.

[実施例コ 以下、図面を参照し、この発明の一実施例について詳細
に説明する。
[Embodiment] Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

第1図は、この発明のICテスト装置のテストヘッド部
の一部を省略した概略縦断面図である。
FIG. 1 is a schematic vertical cross-sectional view with a part of the test head section of the IC test apparatus of the present invention omitted.

第2図はそのヘッド部の概略平面図である。FIG. 2 is a schematic plan view of the head portion.

第1図および第2図において、10はテストヘッド部の
外フレームであり、その内側には多数のピンエレクトロ
ニクス基板(ピンエレクトロニクスカード)12が放射
状に配設されている。各ピンエレクトロニクス基板12
の上端部には、コネクタ14が上向きに取り付けられて
いる。
In FIGS. 1 and 2, reference numeral 10 denotes an outer frame of the test head section, and a large number of pin electronics boards (pin electronics cards) 12 are arranged radially inside the outer frame. Each pin electronics board 12
A connector 14 is attached to the upper end of the connector 14 facing upward.

16はアルミニウム板などからなるベースポードであり
、外フレーム10の−L端部に固定される。
A base port 16 is made of an aluminum plate or the like, and is fixed to the -L end of the outer frame 10.

このベースポード16には、ガードボード(プリント配
線基板)18が固着されているが、その裏面にはピンエ
レクトロニクス基板12のコネクタ14と嵌合せしめら
れるコネクタ20が設けられている。
A guard board (printed wiring board) 18 is fixed to this base port 16, and a connector 20 that is fitted to the connector 14 of the pin electronics board 12 is provided on the back surface thereof.

ガードボード18の表面には、ピン植設リング(ピン植
設体)22が取り付けられている。このピン植設リング
22には、多数のスプリングコンタクトピン24が表裏
にv■通して植設されている。
A pin planting ring (pin planting body) 22 is attached to the surface of the guard board 18. A large number of spring contact pins 24 are installed in this pin installation ring 22 so as to pass through the front and back sides thereof.

このスプリングコンタクトピン24は、少なくとも1一
端部は軸方向に進退ME能であって、L向きに図示しな
い内蔵スプリングによって付勢されている。
At least one end of the spring contact pin 24 can be moved back and forth in the axial direction, and is biased in the L direction by a built-in spring (not shown).

ピン植設リング22に植設された各スプリングコンタク
トピン24の下端部は、ガードボード18の配線パター
ン(図示せず)に半田付けなどによって電気的に接続さ
れて、その配線パターンを通じてコネクタ20と電気的
に接続される。したがって、コネクタ20をコネクタ1
4と嵌合させることにより、各スプリングコンタクトピ
ン24をピンエレクトロニクス基板12と電気的に接続
することができる。
The lower end of each spring contact pin 24 planted in the pin planting ring 22 is electrically connected to a wiring pattern (not shown) on the guard board 18 by soldering or the like, and is connected to the connector 20 through the wiring pattern. electrically connected. Therefore, connector 20 is
4, each spring contact pin 24 can be electrically connected to the pin electronics board 12.

26はパフォーマンス基板(プリント配線基板)であり
、これはテストの目的に応じて交換する必要があるもの
である。
26 is a performance board (printed wiring board), which needs to be replaced depending on the purpose of the test.

このパフォーマンス基板26は、後述の押し付け固定1
段によって、図示のようにピン植設リング22の、L面
側に押し付けられてベースポード16に固定される。パ
フォーマンス基板26の裏面には、ピン植設リング22
の各スプリングコンタクトピン24に対応したコンタク
トパッド(図示せず)が設けられおり、それぞれ対応し
たスプリングコンタクトピン24の上端部に押接して電
気的に相互に接続される。
This performance board 26 is pressed and fixed 1 to be described later.
As shown in the figure, the step is pressed against the L side of the pin implant ring 22 and fixed to the base port 16. On the back side of the performance board 26, there is a pin-embedding ring 22.
A contact pad (not shown) corresponding to each spring contact pin 24 is provided, and is pressed against the upper end of the corresponding spring contact pin 24 to be electrically connected to each other.

この接続により、パフォーマンス基板26とピンエレク
トロニクス基板12は、スプリングコンタクトピン24
、ガードボード18の配線パターン、およびコネクタ1
4.20を介して相互に電気的に接続される。
This connection connects the performance board 26 and the pin electronics board 12 to the spring contact pins 24.
, wiring pattern of guard board 18, and connector 1
They are electrically connected to each other via 4.20.

なお、バフt−ワンス基板26の位置決めなどの目的で
、位置決めポスト28がピン植設リング22に突設され
ており、それと嵌合する位置決め孔がパフォーマンス基
板26に形成されている。
In addition, for purposes such as positioning the buff T-once board 26, a positioning post 28 is provided protruding from the pin planting ring 22, and a positioning hole that fits with the positioning post 28 is formed in the performance board 26.

前記のように、パフォーマンス基板26をスプリングコ
ンタクトピン24に押接する構造であるため、従来のコ
ネクタ接続構造の場合に比べ、パフォーマンス基板26
の着脱に必要な力は少なくて済むが、その操作力をさら
に減少させるために、後述のように押し付け固定手段の
構造が工夫されている。
As described above, since the performance board 26 is pressed into contact with the spring contact pin 24, the performance board 26 is
The force required for attachment and detachment is small, but in order to further reduce the operating force, the structure of the pressing and fixing means has been devised as described below.

なお、ガードボード18とピンエレクトロニクス基板1
2とはコネクタ接続されるから、ガードボード18の着
脱には大きな力が必要である。しかし、ピン植設リング
22を複数種類のパフォーマンス基板26に共用できる
ように構成できるから、ガードボード18はパフォーマ
ンス基板26と違い頻繁に交換する必要がなく、この点
は格別支障はない。
In addition, the guard board 18 and the pin electronics board 1
Since the guard board 18 is connected to the guard board 18 by a connector, a large amount of force is required to attach and detach the guard board 18. However, since the pin planting ring 22 can be configured to be shared by multiple types of performance boards 26, the guard board 18 does not need to be replaced frequently unlike the performance board 26, and there is no particular problem in this respect.

ここで、パフォーマンス基板26はその周辺部を後述の
押し付け固定手段によって押し付けられて固定されるが
、パフォーマンス基板26が大型化した場合、それだけ
ではパフォーマンス基板26の反りなどにより、パフォ
ーマンス基板26のコンタクトパッド七スプリングコン
タクトピン24との接触が不安定になることがあり得る
Here, the performance board 26 is fixed by pressing its periphery by a pressing and fixing means to be described later, but if the performance board 26 becomes large, the contact pads of the performance board 26 may warp due to the performance board 26 being warped. Contact with the seven-spring contact pin 24 may become unstable.

そこで、この実施例においては、締め付け具30によっ
てパフォーマンス基板26の中央部分を!−側よりピン
植設リング22に締め付けるようになっている。
Therefore, in this embodiment, the central portion of the performance board 26 is tightened using the fastener 30! It is designed to be tightened onto the pin planting ring 22 from the − side.

この締め付け具30は、パフォーマンス基板26の上面
に当接する押さえリング32を、締め付けリング34の
下面側に所定の角度だけ回転可能に取り付けた構造とな
っている。
This tightening tool 30 has a structure in which a holding ring 32 that comes into contact with the upper surface of the performance board 26 is attached to the lower surface side of the tightening ring 34 so as to be rotatable by a predetermined angle.

押さえりング32には、位置決めポスト28が貫通可能
な孔(図示せず)が形成されている。
The holding ring 32 has a hole (not shown) through which the positioning post 28 can pass.

締め付けリング34には、位置決めポスト28に関連し
た弧状孔36が穿たれている。この弧状孔36の一端部
36aは位置決めポスト28が貫通できるような大きさ
に拡大されているが、それ以外の部分は、位置決めポス
ト28の、上端部に取着されたローラ38のrt通を許
さないような幅になっている。
The clamping ring 34 is bored with an arcuate hole 36 associated with the positioning post 28 . One end 36a of this arcuate hole 36 is enlarged to a size that allows the positioning post 28 to pass through, but the other part is designed to allow the rt passage of the roller 38 attached to the upper end of the positioning post 28. It is so wide that it is not allowed.

また、弧状孔36に沿った」ユ面部分に斜面部40が形
成されている。この斜面部40は、弧状孔36の一端部
36aで最も低く、他端部に向かって徐々に高くなって
いる。
Further, a slope portion 40 is formed on the “Y” surface portion along the arcuate hole 36. The slope portion 40 is lowest at one end 36a of the arcuate hole 36 and gradually becomes higher toward the other end.

パフォーマンス基板26を締め付ける場合、締め付けリ
ング34の弧状孔の一端部38aと押さえリング32の
孔を一致させた状態で、その孔を位置決めポスト28に
合わせて締め付け具30をパフォーマンス基板26に載
せる。
When tightening the performance board 26, the fastener 30 is placed on the performance board 26 with one end 38a of the arc-shaped hole of the tightening ring 34 aligned with the hole of the holding ring 32, and the hole aligned with the positioning post 28.

そして、締め付けリング34を時計回り方向に回すと、
位置決めポスト28のローラ38が斜面部40を転勤し
、押さえりング32は締め付けリング34によって徐々
にパフォーマンス基板26に押し付けられる。
Then, when the tightening ring 34 is turned clockwise,
The roller 38 of the positioning post 28 moves along the ramp 40, and the holding ring 32 is gradually pressed against the performance board 26 by the tightening ring 34.

最終的に締め付けリング34を第2図に示す角度まで回
転させれば、パフォーマンス基板28をピン植設リング
22に充分に締め付け、パフォーマンス基板28のコン
タクトパッドとスプリングコンタクトピン24の1一端
とを安定に押接させることができる。
Finally, by rotating the tightening ring 34 to the angle shown in FIG. 2, the performance board 28 is sufficiently tightened to the pin planting ring 22, and the contact pads of the performance board 28 and one end of the spring contact pin 24 are stabilized. It can be pressed against the

パフォーマンス基板26を取り外す場合には、締め付け
リング34を逆向きに回して弧状孔36の−・端部36
aを位置決めポスト28に一致させる。こうすれば、締
め付け具30を上側に取り外すことができるので、後述
の押し付け固定手段による固定を解除すれば、パフォー
マンス基板26を取り外すことができる。
When removing the performance board 26, turn the tightening ring 34 in the opposite direction to remove the - end 36 of the arcuate hole 36.
a to match the positioning post 28. In this way, the fastener 30 can be removed upward, and the performance board 26 can be removed by releasing the fixing by the pressing fixing means described later.

次に、パフォーマンス基板26の押し付け固定手段につ
いて説明する。この押し付け固定手段は、操作レバーの
回動力をリンク機構によってパフォーマンス基板26の
押し付け力に増強変換する基本構造であるが、具体的に
は、第2図に示すように、パフォーマンス基板26の補
強フレーム44に固定された操作ユニット46と、ベー
スポード16に固定された2個の固定ユニット48から
なる。これは、図示のように2組設けられているが、い
ずれも同一構造である。
Next, the means for pressing and fixing the performance board 26 will be explained. This pressing and fixing means has a basic structure that enhances and converts the turning force of the operating lever into a pressing force of the performance board 26 using a link mechanism. Specifically, as shown in FIG. It consists of an operating unit 46 fixed to the base port 44 and two fixed units 48 fixed to the base port 16. Two sets of these are provided as shown in the figure, but both have the same structure.

第3図は1組の押し付け固定手段の一部を破断した概略
平面図であり、第4図は押し付け固定手段の一部を破断
した概略正面図である。この各図を参照して、操作ユニ
ット46および固定ユニット48の詳細構造について説
明する。
FIG. 3 is a partially cutaway schematic plan view of a set of pressing and fixing means, and FIG. 4 is a partially cutaway schematic front view of the pressing and fixing means. The detailed structures of the operating unit 46 and the fixing unit 48 will be described with reference to these figures.

まず、操作ユニット46に関して、50は操作レバーで
あり、部材52に固着されている。この部材52は、そ
の中間部において、補強フレーム44に固定されたフレ
ーム54に軸56によって支持されており、この輔56
を支点として同動可能となっている。このフレーム54
の底部には、部材52の回動のための逃げ孔58が形成
されている。
First, regarding the operation unit 46, 50 is an operation lever, which is fixed to a member 52. This member 52 is supported at its intermediate portion by a shaft 56 on a frame 54 fixed to a reinforcing frame 44.
It is possible to move simultaneously using the fulcrum. This frame 54
An escape hole 58 for the rotation of the member 52 is formed at the bottom.

部材52の各端部に軸60.62によって部材64.6
6の一端が取り付けられている。各部材84.86はそ
れぞれ、図示のように対になっている。そして、各部材
64.86の他端にシャツ)88.70の基端部が軸7
2.74によって取り付けられている。
A member 64.6 is attached to each end of member 52 by an axle 60.62.
One end of 6 is attached. Each member 84,86 is paired as shown. At the other end of each member 64.86, the proximal end of the shirt 88.70 is attached to the shaft 7.
2.74.

軸72.74の一端はそれぞれ、フレーム54に形成さ
れた長溝76.78に案内されて水平方向にスライド可
能f能となっている。また、軸72゜74の他端はそれ
ぞれ、フレーム54に形成された長孔80,82に案内
されて水平方向にスライド可能となっている。
One end of each of the shafts 72, 74 is guided in a long groove 76, 78 formed in the frame 54 so that it can slide horizontally. Further, the other ends of the shafts 72 and 74 are guided by elongated holes 80 and 82 formed in the frame 54, respectively, so that they can slide in the horizontal direction.

各軸72,74の長孔80,82から突出した端部と、
部材52の支持軸56の突出した端部との間に、引っ張
りスプリング84.86が掛けられている。
Ends protruding from long holes 80, 82 of each shaft 72, 74;
Tension springs 84, 86 are suspended between the member 52 and the protruding end of the support shaft 56.

前記シャツ)68.70は、その先端寄り位置にて、ベ
アリング88.94により軸方向に進退11■能に補強
フレーム40に支持されている。そして、シャフト68
.70の先端部には、ローラ92.94が取着されてい
る。
The shirt 68.70 is supported by the reinforcing frame 40 at a position near its tip by a bearing 88.94 so that it can move back and forth in the axial direction. And shaft 68
.. Rollers 92 and 94 are attached to the tip of 70.

次、に、固定ユニット48の構造を説明する。図示のよ
うに、固定ユニット48は操作ユニット46の各端に対
応させて2個配置されるが、いずれの側のものも向きが
異なるだけで構造は同一である。
Next, the structure of the fixing unit 48 will be explained. As shown in the figure, two fixing units 48 are arranged corresponding to each end of the operating unit 46, but the structures of the fixing units 48 on either side are the same except for the orientation.

各固定ユニット48の上壁部の内面96はローラ92と
の保合面であり、その内側部分は上向きの傾斜面とされ
ている。
An inner surface 96 of the upper wall of each fixing unit 48 is a surface that engages the roller 92, and the inner surface thereof is an upwardly inclined surface.

このような構造の押し付け固定手段によるパフォーマン
ス基板26の押し付け固定について、以ド説明する。
The pressing and fixing of the performance board 26 by the pressing and fixing means having such a structure will be explained below.

パフォーマンス基板26をガイドポスト28によって位
置決めしてピン植設リング22に載置する。
The performance board 26 is positioned by the guide post 28 and placed on the pin planting ring 22.

この状態において、操作レバー50を図示のようにほぼ
水平位置まで回動させる。この回動により、部材64.
6Bが外側へ前進するので、シャフト68.70が外側
へ前進する。
In this state, the operating lever 50 is rotated to a substantially horizontal position as shown. This rotation causes member 64.
As 6B advances outwardly, shaft 68.70 advances outwardly.

シャフトθ8.70の先端部のローラ92,94は固定
ユニット48の保合面98を転動して前進するが、保合
面96の内側部分は傾斜面となっているから、シャフト
88.70が前進するに従いシャフト88.70はロー
ラ92,94を介して下向きに押され、その結果、パフ
ォーマンス基板26は下向きに押し付けられる。
The rollers 92 and 94 at the tip of the shaft 8.70 move forward by rolling on the retaining surface 98 of the fixing unit 48, but since the inner part of the retaining surface 96 is an inclined surface, the shaft 88.70 As the shaft advances, the shaft 88, 70 is pushed downwardly through the rollers 92, 94, and as a result, the performance board 26 is forced downwardly.

保合面96の傾斜面の部分を通過すると、軸72.74
が長溝78.78および長孔80.82の一端に係止さ
れ、シャフト68.70はそれ以」〕前進できなくなる
After passing through the inclined surface portion of the retaining surface 96, the axis 72.74
is locked at one end of the elongated groove 78.78 and the elongated hole 80.82, and the shaft 68.70 cannot advance any further.

このようにしてパフォーマンス基板26は押し付けられ
て固定されるが、レバー50の回転力は前記のようなリ
ング機構によって増強されて押し付け力に変換されるか
ら、その押し付け力に比べかなり小さな力で操作レバー
50を操作できる。
In this way, the performance board 26 is pressed and fixed, but since the rotational force of the lever 50 is amplified by the ring mechanism as described above and converted into a pressing force, it can be operated with a considerably smaller force than the pressing force. The lever 50 can be operated.

なお、前記の締め付け具30による締め付けは、この状
態で行われる。
Note that tightening by the tightening tool 30 described above is performed in this state.

パフォーマンス基板26を取り外す場合は、まず締め付
け具30を取り外し、次に操作レバー50をほぼ垂直位
置まで逆向きに回動させる。
When removing the performance board 26, first remove the fastener 30, and then rotate the operating lever 50 in the opposite direction to a substantially vertical position.

この操作レバー50の回動により部材64.66は内側
に移動するので、シャフト88.70は内側に引き込ま
れ、そのローラ92,94は固定ユニット48の係合面
96から外れる。かくして、パフォーマンス基板26の
固定が解除され、パフォーマンス基板26は取り外し可
能となる。
This rotation of the operating lever 50 moves the members 64 , 66 inwardly, so that the shaft 88 , 70 is drawn inward and its rollers 92 , 94 are disengaged from the engagement surface 96 of the fixing unit 48 . Thus, the fixation of the performance board 26 is released, and the performance board 26 can be removed.

なお、引っ張りスプリング84.86の引っ張り力によ
って、部材84.eeは軸72.74が長溝78.78
および長孔80.82の他端に係I卜される位置に保持
され、したがって操作レバー50はほぼ垂直位置に保持
される。
Note that due to the tensile force of the tension springs 84, 86, the member 84. ee has shaft 72.74 with long groove 78.78
The operating lever 50 is held in a position where it is engaged with the other end of the elongated hole 80, 82, and therefore the operating lever 50 is held in a substantially vertical position.

以上、一実施例について説明したが、この発明はそれだ
けに限定されるものではない。
Although one embodiment has been described above, the present invention is not limited thereto.

例えば、パフォーマンス基板の反りなどにより、パフォ
ーマンス基板のコンタクトパッドとスプリングピンとの
接触が不安定になる心配がなければ、締め付け具を省き
得る。
For example, if there is no concern that the contact between the contact pads of the performance board and the spring pins will become unstable due to warping of the performance board, the fastener can be omitted.

前記実施例においては、ピン植設リングのスプリングコ
ンタクトピンをガードボードおよびそのコネクタを介し
てピンエレクトロニクス基板と接続しているが、その接
続手段は適宜変更し得ることは当然である。
In the embodiments described above, the spring contact pins of the pin planting ring are connected to the pin electronics board via the guard board and its connector, but it goes without saying that the connection means can be changed as appropriate.

パフォーマンス基板の押し付け固定手段の構造も適宜変
更し得る。
The structure of the means for pressing and fixing the performance board can also be changed as appropriate.

また、前記実施例においては、ピンエレクトロニクス基
板は放射状に配設されていたが、縦横に直線的に配列さ
れている場合にも、この発明は同様に適用し得る。
Further, in the above embodiment, the pin electronics substrates are arranged radially, but the present invention can be similarly applied to cases where the pin electronics boards are arranged linearly in the vertical and horizontal directions.

前記以外にも、この発明はその要旨を逸脱しない範囲内
で様々な変形が訂されるものである。
In addition to the above, the present invention may be modified in various ways without departing from the spirit thereof.

[発明の効果コ 以上説明したように、この発明によるICテスト装置は
、複数のスプリングコンタクトピンが植設された固定さ
れたピン植設体と、スプリングコンタクトピンをピンエ
レクトロニクス基板に電気的に接続するための手段と、
パフォーマンス基板をピン植設体のスプリングコンタク
トピンに押し付ケて、パフォーマンス基板のコンタクト
パッドをスプリングコンタクトピンに押接させた状態に
固定する押し付け固定手段とを有し、この押し付け固定
手段は操作レバーと、この操作レバーの回動力をパフォ
ーマンス基板の押し付け力に増強変換するリンク機構と
からなる構成であるから、パフォーマンス基板の着脱に
必要な力は従来のコネクタ接続構造に比べ大幅に減少す
る。
[Effects of the Invention] As explained above, the IC test device according to the present invention includes a fixed pin mounting body in which a plurality of spring contact pins are implanted, and electrically connecting the spring contact pins to a pin electronics board. and the means to
It has a pressing fixing means for pressing the performance board against the spring contact pins of the pin mounting body and fixing the contact pads of the performance board in a pressed state against the spring contact pins. and a link mechanism that enhances and converts the rotational force of the operating lever into a pressing force against the performance board, so the force required to attach and detach the performance board is significantly reduced compared to conventional connector connection structures.

このように、この発明によればパフォーマンス基板の交
換が容易なICテスト装置を実現できる。
As described above, according to the present invention, an IC test device in which the performance board can be easily replaced can be realized.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、この発明のICテスト装置のテストヘッド部
の一部を破断した概略縦断面図、第2図は同ヘッド部の
概略・I1面図、第3図は押し付け固定手段の一部を破
断した概略平面図、第4図は押し付け固定手段の一部を
破断した概略正面図である。 12・・・ピンエレクトロニクスu板、14・・・コネ
クタ、16・・・ベースポード、18・・・ガードボー
ド、20・・・コネクタ、22・・・ピン植設リング、
24・・・スプリングコンタクトピン、26・・・パフ
ォーマンス基板、30・・・締め付け具、46・・・操
作ユニット、48・・・固定ユニット、50・・・操作
レバー、68・・・シャフト、92・・・ローラ、96
・・・係合面。
FIG. 1 is a schematic vertical cross-sectional view of a part of the test head section of the IC test device of the present invention, FIG. 2 is a schematic view of the head section, and FIG. FIG. 4 is a partially cutaway schematic front view of the pressing and fixing means. 12... Pin electronics U board, 14... Connector, 16... Base port, 18... Guard board, 20... Connector, 22... Pin planting ring,
24... Spring contact pin, 26... Performance board, 30... Tightener, 46... Operating unit, 48... Fixing unit, 50... Operating lever, 68... Shaft, 92 ... Laura, 96
...Engagement surface.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)複数のピンエレクトロニクス基板にパフォーマン
ス基板を交換可能に電気的に接続するようにしてなるI
Cテスト装置であって、複数のスプリングコンタクトピ
ンが植設された固定されたピン植設体と、前記スプリン
グコンタクトピンを前記ピンエレクトロニクス基板に電
気的に接続するための手段と、前記パフォーマンス基板
を前記スプリングコンタクトピンに押し付けて、前記パ
フォーマンス基板のコンタクトパッドと前記スプリング
コンタクトピンとを接触させた状態に固定する押し付け
固定手段とを有し、前記押し付け固定手段は操作レバー
と、この操作レバーの回動力を前記パフォーマンス基板
の押し付け力に増強変換するリンク機構とからなること
を特徴とするICテスト装置。
(1) A performance board is electrically connected to a multiple pin electronics board in a replaceable manner.
C test apparatus comprising a fixed pin implant having a plurality of spring contact pins implanted therein, means for electrically connecting the spring contact pins to the pin electronics board, and the performance board. It has a pressing and fixing means that presses against the spring contact pin and fixes the contact pad of the performance board and the spring contact pin in contact with each other, and the pressing and fixing means has an operation lever and a rotating force of the operation lever. and a link mechanism that increases and converts the pressing force of the performance board into a pressing force of the performance board.
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