JPS6365232U - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6365232U JPS6365232U JP15977586U JP15977586U JPS6365232U JP S6365232 U JPS6365232 U JP S6365232U JP 15977586 U JP15977586 U JP 15977586U JP 15977586 U JP15977586 U JP 15977586U JP S6365232 U JPS6365232 U JP S6365232U
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- half mirror
- mask
- irradiates
- semiconductor wafer
- Prior art date
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- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 5
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims description 2
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Description
図はこの考案の一実施例の半導体検査装置の概
略構成図である。 1…光源、4…ハーフミラー、5…半導体ウエ
ハース、8…マスク、9…光検出器。
略構成図である。 1…光源、4…ハーフミラー、5…半導体ウエ
ハース、8…マスク、9…光検出器。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 半導体ウエハース表面を検査するための照明光
を発する光源と、 この光源からの光源を透過するハーフミラーと
、 このハーフミラーの透過光が照射され、その反
射光を再びハーフミラーに照射する半導体ウエハ
ースと 前記ハーフミラーでの反射光が照射されるマス
クと、 このマスクの透過光を検出する光検出器とを具
備してなる半導体検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15977586U JPS6365232U (ja) | 1986-10-17 | 1986-10-17 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP15977586U JPS6365232U (ja) | 1986-10-17 | 1986-10-17 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6365232U true JPS6365232U (ja) | 1988-04-30 |
Family
ID=31084525
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP15977586U Pending JPS6365232U (ja) | 1986-10-17 | 1986-10-17 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6365232U (ja) |
-
1986
- 1986-10-17 JP JP15977586U patent/JPS6365232U/ja active Pending