JPS636446A - 検査光伝送用光伝送体 - Google Patents

検査光伝送用光伝送体

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JPS636446A
JPS636446A JP15093686A JP15093686A JPS636446A JP S636446 A JPS636446 A JP S636446A JP 15093686 A JP15093686 A JP 15093686A JP 15093686 A JP15093686 A JP 15093686A JP S636446 A JPS636446 A JP S636446A
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JP
Japan
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light
transmitting member
transmission member
inspection
optical transmission
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Pending
Application number
JP15093686A
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English (en)
Inventor
Fumihiko Abe
文彦 安倍
Motohiro Yamane
基宏 山根
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Furukawa Electric Co Ltd
Original Assignee
Furukawa Electric Co Ltd
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Publication date
Application filed by Furukawa Electric Co Ltd filed Critical Furukawa Electric Co Ltd
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Publication of JPS636446A publication Critical patent/JPS636446A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8901Optical details; Scanning details

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 r産業上の利用分野1 本発明はシート状、フィルム状、板状など、各種面状体
の欠陥を光学的に検出する際に用いられる光伝送体に関
する。
r従来の技術J 合成樹脂シート(フィルムも含む)、金属板、ガラス板
など、これらの面状体を光学的に検査する手段として、
フライング・スポット法が広く採用されている。
このフライング・スポット法では、レーザ光源から出射
された平行光をレンズ系で絞り、光走査手段を介してそ
の光ビームを被検体(面状体)の表面に照射かつ走査し
、この際の反射光または透過光を受光検出系にて検出す
るとともに、その光信号をく光→電気〉変換して電気的
に処理している。
かかる方法によるとぎ、面状体からの反射光または透過
光は、その面状体の正常部と欠陥部とで異なり、受光検
出系へ入射される光量も異なるので、当該受光検出系に
おいて受光量の変化を検出することにより1面状体の欠
陥の有無、その欠陥部位などが判明する。
一般に、フライング・スポット法の受光手段として、光
フアイバ受光法、ミラー集光法、拡散板受光法、コンデ
ンサ・レンズ集光法などが用いられているが、これらの
受光手段は、システムの合理性、経済性などを確保する
上で改善の余地が残されており、そのため、第3図に示
す新礪な方法が検討されている。
以下、第3図の方法を説明する。
第3図において、光照射系11は、光源12と集光レン
ズ13と光走査手段14とを備え、その光走査手段14
は光走査器15を主体にして構成されている。
透光部材21は、透明体からなり、その長手方向に沿う
一定幅の周面が入光部22となっているとともに、その
長手方向の一端が出光部23となっている。
受光検出系31は、受光器(光検出器)32と検出装置
33とからなり、その受光器32が前記透光部材21の
出光部23に接続されている。
41は被検体たる面状体であり、これは金属、合成樹脂
等の透明体または不透明体からなり、シート状、フィル
ム状、板状などの形状を有する。
第3図において、面状体41の上位(下位でもよい)に
配置された光照射系11は、その光走査手段14の光走
査器15を介して面状体41の表面を幅方向に光走査で
きるようになっており、これと対応して、透光部材21
はつぎのように配置される。
すなわち、面状体41が光照射系11からの走査光t、
sを反射させるものであるとき、透光部材21は、第3
図実線のごとく1反射光LRを受光する領域に配置され
、面状体41が上記走査光LSを透過させるものである
とき、透光部材21は、第3図仮想線のごとく、透過光
Llを受光する領域に配置され、かくて、透光部材21
の入光部22は、面状体41の幅方向に沿うようになり
、その入光部22から透光部材21内に上記反射光LR
または透過光t、rが入射され、透光部材21の散乱光
が受光検出系31へ入射されるようになる。
第3図において、面状体41が同図の矢印方向に移動し
ているとき、光照射系11の光源12から出射され、集
光レンズ13により絞られた光ビームは、光走査手段1
4の光走査器15を介して面状体41の表面に照射され
、その面状体41の幅方向に走査される。
この際の面状体41が不透明体の場合、走査光LSが面
状体41の表面で反射し、その反射光LRが透光部材2
1の入光部22よりその内部に入射し、逆に面状体41
が透明体の場合、走査光t、sが面状体41を透過し、
その透過光LTが透光部材21の入光部22よりその内
部に入射する。
上記反射光LRあるいは透過光t、rが透光部材21内
に入射されたとき、その光の一部は透光部材21を透過
するが、他の一部は透光部材21内で散乱し、その散乱
光が受光検出系31へ入射される。
この際の光走査において、面状体41の正常部に走査光
t、sが照射されているとき、その反射光LRまたは透
過光LIが定常状態で透光部材21内に入射されるので
、受光検出系31での受光レベルは変化せず、当該受光
検出系31は面状体41に欠陥がないと認識する。
一方、面状体41の欠陥部に走査光LSが照射されたと
き、その欠陥に起因した光の散乱が生じ、正常部の場合
と異なる光が透光部材21内に入射されるので、受光検
出系31での受光レベルが変化し、その受光レベルの変
化により、当該受光検出系31は面状体41に欠陥があ
ると認識する。
かくて、面状体41の欠陥が検出される。
r発明が解決しようとする問題点J しかし、上述した第3図の方法に用いられる透光部材2
1は、これの断面形状が円形であるため、面状体41か
らの反射光LRあるいは透過光LTを透光部材21内へ
入射させるのがむずかしい。
すなわち、透光部材21が断面円形であるとき、第4図
に示すごとく1反射光LRあるいは透過光LTは、透光
部材21の外周面の一点PRまたはpyよりその透光部
材21内に入射するが1反射光LR,透過光t、r等が
これらの点PR,P+から外れると、当該検査光が透光
部材21内に入射されなくなる。
そのため、光学系の軸合わせ、各部材の相対配置にきび
しい精度が要求され、検査システムの構成が面倒となる
本発明は上記の問題点に鑑み、反射光、透過光LTなど
の検査光を簡易に入射させることのできる光伝送体を提
供しようとするものである。
r問題点を解決するための手段j 本発明に係る光伝送体は、所期の目的を達成するため、
被検体からの検査光を受光検出系へ伝送するための棒状
透光部材からなり、該透光部材の外周面長手方向にわた
り、少なくともその幅方向にわたる成分が平坦な面状の
入光部が形成され、該透光部材の長手方向の端部に、出
光部が形成されていることを特徴とする。
r作用J 本発明に係る光伝送体は、透光部材の外周面長手方向に
わたる入光部が、上述のごとき面状を呈しているので、
その長手方向はもとより、その輻方向の入光条件も緩和
され、したがって、光走査にともなう面状体からの検査
光(反射光、透過光など)を当該透光部材内に入射させ
るための光学系の軸合わせ、各部材の相対配とが容易と
なり、検査システムが簡易に構成できるようになる。
r実 施 例」 以下、本発明に係る光伝送体の実施例につき、図面を参
照して説明する。
図示の各実施例で述べる本発明の光伝送体は、棒状の透
光部材51を主体にして構成され、かかる透光部材51
は、透明なガラスロッド(例えば石英系)、あるいは透
明なプラスチックロッド(例えばアクリル系、スチレン
系、シリコーン系)等からなる。
本発明の第一実施例である第1図(A) CB)の透光
部材51は、切り欠き円形からなる断面形状を有して、
その外周面長手方向にわたる切り欠き面が入光部52と
なっており、当該入光部52がフラットな面状を呈して
いる。
さらに第1図(A) CB)の透光部材51は、その−
端が出光部53、その他端が反射部54となっており、
ち該反射部54は、鏡面のごとき反射面を有する適当な
部材を透光部材51の他端に結合することによ設けられ
る。
なお、透光部材51は、前記反射光、透過光などの検査
光を一定の入射角度で入射させるべく、第1図(A)仮
想線のように、所定の曲率で弯曲されることがある。
また、透光部材51は、その両端とも出光部53とする
ことがあり、このような場合、前記反射部54での反射
部材が省略される。 。
本発明の第二実施例である第2図(A) (B)の透光
部材51は、多角形からなる断面形状を有して、その透
光部材51の長手方向にわたる外周−側面が入光部52
となっており、当該入光部52もフラットな面状を呈し
ている。
さらに第2図(A) (B)の透光部材51は、その入
光部52と対向する外周−側面が散乱部55となってい
る。
この散乱部55は、透光部材51の所定面に、すりガラ
スのごとく光散乱を生じさせるための散乱加工を施すと
か、ガラス、プラスチック等からなる板状の散乱部材を
貼り合わせることにより、形成される。
第2図(A) (B)の実施例における他の構成は、第
1図(A) (B)と同じである。
本発明に係る光伝送体は、前記第1図と同様に用いられ
る。
すなわち、光走査にともなう面状体からの検査光(前記
反射光、透過光など)を受光すべく、透光部材51が所
定の受光領域に配置され、該透光部材51の入光部52
より受光した検査光を、その出光部53に接続された受
光検出系へ伝送する。
r発明の効果j 以上説明した通り、本発明に係る光伝送体は、透光部材
の外周面長手方向にわたる入光部が、所定の面状を有す
るので、光走査にともなう面状体からの検査光をその透
光部材内に入射させるための条件が緩和され、面状体の
光学的な検査システムが簡易に構成できるようになる。
【図面の簡単な説明】
第1図(A) (B)は本発明に係る光伝送体の第一実
施例を示した斜視図と横断面図、第2図(A) (B)
は同上の第二実施例を示した斜視図と横断面図、第3図
は従来の光伝送体をその使用例とともに示した説明図、
第4図は従来の光伝送体における光入射情況を示した断
面図である。 51・・・−・・透光部材 52・・・・・・透光部材の入光部 53・・・・・・透光部材の出光部 54・・・・・・透光部材の反射部 55・・・・・・透光部材の散乱部 代理人 弁理士 斎 藤 義 雄 第 1 図 第2図

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被検体からの検査光を受光検出系へ伝送するため
    の棒状透光部材からなり、該透光部材の外周面長手方向
    にわたり、少なくともその幅方向にわたる成分が平坦な
    面状の入光部が形成され、該透光部材の長手方向の端部
    に、出光部が形成されていることを特徴とする検査光伝
    送用光伝送体。
  2. (2)透光部材が横断面多角形からなる特許請求の範囲
    第1項記載の検査光伝送用光伝送体。
  3. (3)透光部材が横断面切り欠き円形からなる特許請求
    の範囲第1項記載の検査光伝送用光伝送体。
  4. (4)透光部材がその入光部と対向する面に散乱部を有
    する特許請求の範囲第1項または第2項記載の検査光伝
    送用光伝送体。
  5. (5)透光部材が真直な棒状からなる特許請求の範囲第
    1項または第4項いずれかに記載の検査光伝送用光伝送
    体。
  6. (6)透光部材が弯曲した棒状からなる特許請求の範囲
    第1項または第4項いずれかに記載の検査光伝送用光伝
    送体。
JP15093686A 1986-06-27 1986-06-27 検査光伝送用光伝送体 Pending JPS636446A (ja)

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