JPS6361936A - Double reflection measuring instrument - Google Patents

Double reflection measuring instrument

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JPS6361936A
JPS6361936A JP20598986A JP20598986A JPS6361936A JP S6361936 A JPS6361936 A JP S6361936A JP 20598986 A JP20598986 A JP 20598986A JP 20598986 A JP20598986 A JP 20598986A JP S6361936 A JPS6361936 A JP S6361936A
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JP
Japan
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light
reflected
birefringence
optical
birefringent medium
Prior art date
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Pending
Application number
JP20598986A
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Japanese (ja)
Inventor
Yasuo Otsuka
康男 大塚
Yoshihiro Katase
片瀬 順弘
Toru Sasaki
徹 佐々木
Yukio Fukui
幸夫 福井
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To reduce the quantity of measuring operation greatly, to shorten a measurement time, and to take a measurement even when a body to be measured is in operation by measuring the differential output of light which is transmitted through or reflected by a birefringent medium. CONSTITUTION:Laser light emitted by a semiconductor laser 5 is projected on a recording film 2 through a collimator lens 6, an objective 11, and cover glass 3 and reflected light from the film 2 is reflected by the 1st polarizing element 8. The reflected laser light is further passed through the 2nd polarizer 12 and incident on a photodetector 15 for a servo. Laser light containing a signal component by Kerr effect which is reflected by the 2nd polarizer 12 is converged by a condenser lens 16 and branched into two by a polarization beam splitter 17. Then they are made incident on the 1st and the 2nd photodetectors 18a and 18b and converted into electric signals respectively. Then the signal which are detected by the photodetectors 18a and 18b are amplified 21 and 22 and inputted to a differential circuit 23. Then the differential circuit 23 subtracts the in-phase components of the signals and the opposite- phase components are added and outputted 12.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、屈折率が一様でない複屈折媒体において、そ
の複屈折量を簡便に測定する装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an apparatus for easily measuring the amount of birefringence in a birefringent medium whose refractive index is not uniform.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

従来の複屈折測定方法は、固体物理Vol 12 、 
NILlo(1977)第581頁から第587頁にお
いて論じられている。この測定方法によれば、ボラリメ
ータ(またはエリプソメータ)を用いて、平行光を被測
定物である複屈折媒体に照射し、セナルモン法により複
屈折を測定する。セナルモン法は、光源から導ひかれた
光を、グラントムソンプリズムのような偏光子によって
直線偏光とし、この偏光方向に対して媒体の結晶軸が4
5度となるように(すなわち方位角が45度であるよう
に)複屈折媒体を置き、これを透過または反射した光を
1/4波長板に照射することにより、複屈折媒体のもつ
位相差による楕円偏光をつくりだす。さらにこの楕円偏
光を、別の1/4波長板に照射し、さらに偏光子と同様
にグラントムリン・プリズムなどから成る検光子に通し
、検光子を光軸中心に回転させて消光位置に合わせ、こ
のときの回転角と、複屈折が無い場合の消光位置におけ
る検光子の回転角との角度差から、複屈折媒体の位相差
を測定する。
The conventional method for measuring birefringence is as described in Solid State Physics Vol. 12,
Discussed in NILlo (1977) pp. 581-587. According to this measurement method, a birefringent medium, which is an object to be measured, is irradiated with parallel light using a volarimeter (or ellipsometer), and birefringence is measured by the Senarmont method. In the Senarmont method, light guided from a light source is linearly polarized using a polarizer such as a Glan-Thompson prism, and the crystal axis of the medium is
By placing a birefringent medium so that the angle is 5 degrees (that is, the azimuth is 45 degrees) and irradiating the quarter-wave plate with the transmitted or reflected light, the phase difference of the birefringent medium can be Creates elliptically polarized light. Furthermore, this elliptically polarized light is irradiated onto another 1/4 wavelength plate, and then passed through an analyzer made of a Glan-Tomlin prism, etc., similar to the polarizer, and the analyzer is rotated around the optical axis to align it with the extinction position. The phase difference of the birefringent medium is measured from the angular difference between the rotation angle at this time and the rotation angle of the analyzer at the extinction position when there is no birefringence.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

上記したように従来の複屈折測定方法では、複屈折媒体
に方位角45度で光を照射しなければならず、測定の前
作業として媒体の結晶軸を見つけ、これに対して45度
傾けた光を照射することが必要であった。また測定に際
しても検光子の回転が必要である。このようなことから
従来技術では測定に時間を要するばかりでなく、被測定
物が静止状態になければ測定できず、例えば光ディスク
のカバーガラスのような、回転動作中の複屈折媒体の測
定は不可能であった。
As mentioned above, in the conventional birefringence measurement method, it is necessary to irradiate the birefringent medium with light at an azimuth angle of 45 degrees. It was necessary to irradiate it with light. Furthermore, it is necessary to rotate the analyzer during measurement. For these reasons, conventional techniques not only take time to measure, but also cannot be measured unless the object to be measured is in a stationary state. For example, it is difficult to measure birefringent media that are rotating, such as the cover glass of an optical disk. It was possible.

本発明の目的は、上記従来技術にあったような複屈折測
定における作業量を大幅に軽減し、測定時間を短縮する
とともに、被測定物が動作状態にあっても測定が可能な
複屈折測定装置を提供することにある。
The purpose of the present invention is to significantly reduce the amount of work involved in birefringence measurement, which was required in the prior art described above, to shorten the measurement time, and to provide birefringence measurement that can be performed even when the object to be measured is in an operating state. The goal is to provide equipment.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

この目的を達成するために、本発明では複屈折媒体を透
過または反射した光を、偏光ビームスプリッタにより二
分岐し、さらに二分岐した光を光電変換したのちその差
動出力を検出し、この差動出力値から前記複屈折媒体の
位相差、方位角などの複屈折量を測定する方法をとった
In order to achieve this objective, in the present invention, the light transmitted or reflected by a birefringent medium is split into two by a polarizing beam splitter, the split light is further photoelectrically converted, and the differential output is detected. A method was used to measure the amount of birefringence such as the phase difference and azimuth of the birefringent medium from the dynamic output value.

〔作用〕[Effect]

上記差動光学系において、被測定物に複屈折性が無い場
合、これを透過または反射してきた光を偏光ビームスプ
リッタで二分岐し、それぞれの光量を比較すると両者は
一致するのに対して、複屈折性がある場合には、二分岐
した光に光量差を生ずる。すなわちこの光量差は、媒体
の複屈折量である位相差と、媒体に入射する偏光方向と
媒体結晶軸との角度、すなわち方位角により生ずるもの
であり、本発明では、この光量差を光電変換後の差動ア
ンプ出力により検出し、被測定物の複屈折量を測定する
ものである。
In the differential optical system described above, if the object to be measured does not have birefringence, the light transmitted or reflected by it is split into two by a polarizing beam splitter and the light amounts of each are compared. If there is birefringence, a difference in the amount of light will occur between the two branches of light. In other words, this light amount difference is caused by the phase difference, which is the amount of birefringence of the medium, and the angle between the polarization direction of the medium and the medium crystal axis, that is, the azimuth angle.In the present invention, this light amount difference is generated by photoelectric conversion. The amount of birefringence of the object to be measured is measured by detecting it using the output of the differential amplifier afterwards.

これによれば従来技術にあったような、結晶軸を見つけ
出しこれに対して方位角45度で光を入射させるような
作業は不要であり、また測定に際して消光位置を見つけ
出すために検光子を回転させる作業も不要である。した
がって本発明の複屈折測定方法を用いれば、測定作業量
および時間を大幅に軽減でき、さらに被測定物が動作状
態にあっても測定を可能にすることができる。
According to this method, there is no need to find the crystal axis and make the light incident on it at an azimuth angle of 45 degrees, which was required in the prior art, and it is also unnecessary to rotate the analyzer to find the extinction position during measurement. There is no need to do any additional work. Therefore, by using the birefringence measurement method of the present invention, the amount of measurement work and time can be significantly reduced, and furthermore, measurement can be performed even when the object to be measured is in an operating state.

〔実施例〕〔Example〕

以下、図面を参照して本発明の実施例につき説明する。 Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は、本発明の一実施例である光磁気再生装置を示
したものであり、また第2図は、第1図における光磁気
再生装置の一部分の側面図を示したものである。光磁気
再生装置は、光磁気信号の検出用に差動光学系を有して
おり、その構成自体が本発明の複屈折補正機能をもつ。
FIG. 1 shows a magneto-optical reproducing device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 shows a side view of a portion of the magneto-optical reproducing device in FIG. The magneto-optical reproducing device has a differential optical system for detecting magneto-optical signals, and its configuration itself has the birefringence correction function of the present invention.

これらの図において、1は光反射性の磁気記録膜2、お
よびカバーガラス3を有する光磁気ディスクであり、モ
ータ4によって回転する。記録信号の再生は、直線偏光
光源である半導体レーザ5から出るレーザ光が、コリメ
ートレンズ6により平行光とされ、ビーム整形プリズム
7でほぼ円形の光強度分布に整形されたのち、ビームス
プリッタである第1の偏光子8で、一部を反射し、残り
を透過する。このうちの透過レーザ光は、さらに旋光板
または位相板である波長板9およびミラー1oを介して
、対物レンズ11により集光され、カバーガラス3を透
過して記録膜2上に照射される。このとき、記録膜2に
照射されたレーザ光は、カー効果によって記録膜2の記
録部および未記録部の磁気モーメントの配向状態により
偏光面が変化する。(すなわちカー回転を生じる。) さらにこの記録膜2からの反射光は、再たびカバーガラ
ス3を透過したのち、対物レンズ11で平行光に戻り、
ミラー10および波長板9を介して、第1の偏光子8で
、カー効果による信号成分を含む偏光方向のレーザ光(
例えばS偏光)がほぼ全て反射され、これと(社)°の
位相差のある偏光成分(例えばP偏光)は、一部反射し
残りを透過される。このS偏、光およびP偏光の反射レ
ーザ光は、さらにビームスプリッタである第2の偏光子
12により・偏光子8と同様にS偏光はほぼ全てを反射
、P偏光は一部を反射、残りを透過する。ここで透過し
たレーザ光は、凸レンズ13で集光され、円柱レンズ1
4を介してサーボ用光検出器15に入射する。
In these figures, reference numeral 1 denotes a magneto-optical disk having a light-reflecting magnetic recording film 2 and a cover glass 3, and is rotated by a motor 4. To reproduce the recorded signal, laser light emitted from a semiconductor laser 5, which is a linearly polarized light source, is collimated by a collimating lens 6, shaped into a substantially circular light intensity distribution by a beam shaping prism 7, and then processed by a beam splitter. The first polarizer 8 reflects part of the light and transmits the rest. Of these, the transmitted laser beam further passes through a wavelength plate 9 that is an optical rotation plate or a phase plate and a mirror 1o, is condensed by an objective lens 11, and is transmitted through a cover glass 3 and irradiated onto a recording film 2. At this time, the plane of polarization of the laser beam irradiated onto the recording film 2 changes depending on the orientation state of the magnetic moment in the recorded portion and the unrecorded portion of the recording film 2 due to the Kerr effect. (That is, Kerr rotation occurs.) Further, the reflected light from the recording film 2 passes through the cover glass 3 again, and then returns to parallel light at the objective lens 11.
The first polarizer 8 passes the laser beam in the polarization direction (
For example, S-polarized light) is almost entirely reflected, and polarized light components having a phase difference of 1° (for example, P-polarized light) are partially reflected and the rest are transmitted. The S-polarized light and the P-polarized reflected laser light are further processed by a second polarizer 12, which is a beam splitter.Similar to the polarizer 8, almost all of the S-polarized light is reflected, a portion of the P-polarized light is reflected, and the rest is Transparent. The laser beam transmitted here is condensed by a convex lens 13, and is condensed by a cylindrical lens 1.
4 and enters the servo photodetector 15.

このサーボ用光検出器15は、その検出方法に応じて複
数に分割されており、それらの出力信号26を処理して
、フォーカス誤差信号およびトラック誤差信号(検出法
は省略)を得て、ディスク1上にレーザ光が正確に位置
決めされるように、対物レンズを制御する。一方、第2
の偏光子12で反射したカー効果による信号成分を含む
レーザ光は、凸レンズ16で集光され、偏光ビームスプ
リッタ17に入射して二分岐される。二分岐されたレー
ザ光のうち、一方は、第1の光検出器18αに入射し、
また他方は、第2の光検出器18 b Jこ入射し、そ
れぞれ電気信号へ変換される。本実施例では、このレー
ザ光を二分岐する手段として偏光ビームスプリッタを用
いたので、これらの二分岐されたレーザ光のそれぞれが
、検光子を通過したことになる。
This servo photodetector 15 is divided into a plurality of parts depending on the detection method, and processes their output signals 26 to obtain a focus error signal and a track error signal (detection method is omitted). The objective lens is controlled so that the laser beam is accurately positioned on the object. On the other hand, the second
The laser light including the signal component due to the Kerr effect reflected by the polarizer 12 is focused by the convex lens 16, enters the polarizing beam splitter 17, and is split into two. One of the two branched laser beams enters the first photodetector 18α,
The other light enters the second photodetector 18b and is converted into an electrical signal. In this embodiment, since a polarizing beam splitter is used as a means for splitting this laser beam into two, each of these two-branched laser beams passes through an analyzer.

したがって、検光子17と第1の光検出器18αは、第
1の光電変換系19を構成し、また検光子17と第2の
光検出器18 hは、第2の光電変換系20を構成する
ことになる。さらにこれらの光検出器18α。
Therefore, the analyzer 17 and the first photodetector 18α constitute a first photoelectric conversion system 19, and the analyzer 17 and the second photodetector 18h constitute a second photoelectric conversion system 20. I will do it. Furthermore, these photodetectors 18α.

18 hで検出された信号は、プリアンプ21および2
2で増幅され、差動回路田に入力される。差動回路nで
は、プリアンプ21または22により入力された各信号
の同位相の成分が差し引かれ、同時に逆位相の成分が加
算されることから、再生信号の振幅は2倍となって出力
寓される。
The signal detected at 18h is sent to preamplifiers 21 and 2.
2 and input to the differential circuit. In the differential circuit n, the in-phase components of each signal input by the preamplifier 21 or 22 are subtracted, and at the same time, the opposite-phase components are added, so the amplitude of the reproduced signal is doubled and output. Ru.

次に、この差動出力信号夙についてさらに詳細に説明す
る。
Next, this differential output signal will be explained in more detail.

第3図は、第1図の光電変換19 、20に検出される
信号を示す説明図である。この図において、】01およ
び102は、レーザ光のP偏光およびS偏光方向、10
3および104は、第1図の検光子17における透過軸
を示している。図に示すように、レーザ光が記録膜2に
照射されると、その反射レーザ光は、記録部と未記録部
にて、角度θにおよび一部にの偏光面の回転を生ずる。
FIG. 3 is an explanatory diagram showing signals detected by the photoelectric conversions 19 and 20 of FIG. 1. In this figure, ]01 and 102 are the P and S polarization directions of the laser beam, and 10
3 and 104 indicate the transmission axes of the analyzer 17 in FIG. As shown in the figure, when the recording film 2 is irradiated with a laser beam, the reflected laser beam causes rotation of the plane of polarization by an angle θ and a partial rotation in the recorded portion and the unrecorded portion.

この現象がカー効果であり、この回転角θにはカー回転
角と呼ばれる。光電変換系19および20に入射する光
量Pは、高周波の光磁気信号であるAC光量成分PAC
と、サーボ信号および測定対象である複屈折成分を含む
DC光量成分PDCに分類でき、それぞれ+11 、 
+21式にて表わされる。
This phenomenon is the Kerr effect, and this rotation angle θ is called the Kerr rotation angle. The amount of light P incident on the photoelectric conversion systems 19 and 20 is an AC light amount component PAC which is a high frequency magneto-optical signal.
It can be classified into DC light amount component PDC, which includes the servo signal and the birefringence component to be measured, and +11 and PDC, respectively.
It is expressed by the formula +21.

P、tc=(1(−〇x) ’(+θK))°η”di
、k    (11Pnc −2(I(−〇x )+1
(+θI))°η”disk   f2)ここで、 η:ディスク上入射から光検出器18 a 、 18 
bまでの光利用率(偏光子8,12の二色性を除く) Pdisk ’ディスク1への入射光量(F)また上式
におけるIは、第3図に示す振幅E1゜Byにより、(
31式にて表わされる。
P, tc=(1(-〇x)'(+θK))°η”di
, k (11Pnc −2(I(−〇x )+1
(+θI))°η”disk f2) Here, η: From the incidence on the disk to the photodetectors 18a, 18
Light utilization rate up to b (excluding dichroism of polarizers 8 and 12) Pdisk ' Amount of light incident on disk 1 (F) Also, I in the above equation can be expressed as (
It is expressed by equation 31.

1 =: (E□)2+(Ey)”         
 +31ここで、 E工:検光子17で検出されるS偏光の振幅Ey二二元
光子7で検出されるP偏光の振幅さらにE工、E、は、
直線偏光であるレーザ光をストークスパラメータで表わ
し、各偏光要素をミューラ行列で組合わせると、(4)
式のように表わせる。
1 =: (E□)2+(Ey)”
+31 Here, E: the amplitude of the S-polarized light detected by the analyzer 17, Ey, the amplitude of the P-polarized light detected by the two-dimensional photon 7, and E:
When linearly polarized laser light is expressed by Stokes parameters and each polarization element is combined by a Mueller matrix, (4)
It can be expressed as the formula.

ここで第3図のように、検光子17によりS偏光方向1
02より04回転した透過軸103での振幅E工を検出
するとすれば、 s 儂肋優咄   回転角 二色性 方位角  位相差
方位角     カー回転   方位角  位相差方位
角  直線偏光(P偏光) ここで、 θに:力−回転角(度) θ0:検光子17の回転角渡) δ:位相差(dす) α:方位角(dす) R5:偏光子8,12の二色性(S偏光反射率)Rp 
:           (P偏光反射率)この(4)
式を解くと、 (3j、(4)式より、カー回転により生ずるI(±θ
、)は次のように表わせる。
Here, as shown in FIG.
If we want to detect the amplitude E at the transmission axis 103 rotated by 04 from 02, we can obtain the following: Then, θ: force - rotation angle (degrees) θ0: rotation angle of analyzer 17) δ: phase difference (ds) α: azimuth angle (ds) R5: dichroism of polarizers 8 and 12 ( S polarized light reflectance) Rp
: (P polarized light reflectance) This (4)
Solving the equation, (3j, from equation (4), I(±θ
, ) can be expressed as follows.

I(−θK)=IEよ(−θz)l” + l Ey(
−θK)12ニ一匁・血θヶ・房δ・k部鍮・焦θa−
L;)”+(ccs鍮・血δ(回θ。・比2α・is−
mfjecas2c1・1p)P  (511(+θに
)” ”xc+θ、)I”+1%(−釦12=(asf
)x−出θ、・!δ・lRp −5tn茄crsθa−
A)”+(部外・血δ(囲θ。・蜘頒・4−六〇。・1
加・〜))”  +s+したがって(51、+61式を
fi+ 、 +21式へ代入し、picPDCを求める
と、 PAC(θ、)=idn2f)x−ydn2θ。・(2
)δ・〜・八・η・Pd1ik      f71Pr
x(θ=z) = (Ca5t)r噛θ。・(2)δ・
7%)” +(mfJx・■θ4・^)2+(■に一血
δ(Cxsθ。・5石2α・l←士θ。・−2α・^)
)2〕*η・Pd1sk              
         i81となる。さらlこ光電変換系
19および加に入射するDC光量は、検光子回転角θ4
(θ6は通常45度)とπ−06となるように配置され
ており、それぞれの入射光量は(8)式および(8t式
のようになる。
I(-θK) = IEyo(-θz)l” + l Ey(
-θK) 12 niichi momme, blood θ month, tassel δ, k part brass, ko θa-
L;)”+(ccs brass・blood δ(times θ.・ratio 2α・is−
mfjecas2c1・1p)P (511(+θ)""xc+θ,)I"+1%(-button 12=(asf
)x−outθ,・! δ・lRp −5tncrsθa−
A)”+(External・Blood δ(circumstance θ.・Spider・4-60.・1
Add・~))” +s+Therefore, substituting equations (51, +61 into equations fi+, +21 and finding picPDC, PAC(θ,)=idn2f)x−ydn2θ.・(2
) δ・~・8・η・Pd1ik f71Pr
x(θ=z) = (Ca5t) r bite θ.・(2) δ・
7%)” + (mfJx・■θ4・^) 2+(■niichiketsu δ (Cxsθ.・5 stones 2α・l←shiθ.・−2α・^)
)2] *η・Pd1sk
It becomes i81. The amount of DC light incident on the photoelectric conversion system 19 and the top is determined by the analyzer rotation angle θ4.
(θ6 is normally 45 degrees) and π-06, and the respective amounts of incident light are expressed by equations (8) and (8t).

Pnc(π−θ。)=C(Ok−内θ4・■δ・尚)2
+(血0K・房θ。・西)2+(casax−出δ(−
回θ4・ldn頒・小咄θα・可瀉・爵))2〕*η 
・Pd1sk                   
                     t8どし
たがって、雨検出系の光量差ΔPは(9)式にて表わさ
れる。
Pnc (π-θ.) = C (Ok-inside θ4・■δ・Sho)2
+(Blood 0K・Tessel θ.・West) 2+(casax-output δ(-
Times θ4・ldn distribution・小咄θα・可瀉・蚉))2〕*η
・Pd1sk
t8 Therefore, the light amount difference ΔP of the rain detection system is expressed by equation (9).

dゝPDc(π−Ca)−PDc(Ca)−k・血2θ
白6・西・dδ・5石4α・η・Pd1sk     
(91さらに(9)式の光量差ΔPを光電変換すると、
al式に示す差動電圧出力として、DC光量成分が検出
される。
dゝPDc(π-Ca)-PDc(Ca)-k・Blood 2θ
White 6, West, dδ, 5 stones 4α, η, Pd1sk
(91 Furthermore, when the light intensity difference ΔP in equation (9) is photoelectrically converted,
A DC light amount component is detected as a differential voltage output shown in the al formula.

DC−DC(π−θ、)  Ix:(θ7)−cxyn
x−51n2θ、−4−Q・7δ・*祇11 ・Pdt
J& ・K−Ralここで、 K:光検出器18c、18hの光電変換効率(綬R:ア
ンプ利得抵抗(Ω) α〔式において、 θz=Qの場合、邸13r = 1 θ。=45度の場合、自2θ。=1 である。また光検出器18a、18bの受光光量Pdt
tは、 〜・函・η・Pd1rk = Pdetであり、これら
から111式をα1′式のように書換えることができる
DC-DC(π-θ,) Ix:(θ7)-cxyn
x-51n2θ, -4-Q・7δ・*Gi11・Pdt
J & K-Ral where, K: Photoelectric conversion efficiency of photodetectors 18c and 18h (R: amplifier gain resistance (Ω) α [In the formula, when θz=Q, 13r=1 θ.=45 degrees In this case, self 2θ = 1. Also, the amount of light received by the photodetectors 18a and 18b Pdt
t is ~・box・η・Pd1rk=Pdet, and from these, equation 111 can be rewritten as equation α1'.

ΔV(、c=m’δ・tkn411・Pd、1・K−R
−δ・血4α・’tht          (1G’
CVdet = Pc1at 、に−R)すなわちH’
式より、差動出力信号iDcは・複屈折が無いときの受
光光量の光電変換値Vdttに対して、位相差δ、方位
角αがこれを減少させる方向に作用することを表わして
いる。また11〔′式に示されるように、本発明の測定
方法は光磁気信号の有無にかかわらず測定可能であるこ
とがわかる。したがってガラス基板のように複屈折が無
い材料を用いてVdgtを測定しておき、その後目的と
する複屈折媒体の測定を行なえば、たとえそのディスク
が回転していたとしても、差動出力IDCから位相差δ
、方位角αを求めることができる。
ΔV(, c=m'δ・tkn411・Pd, 1・K−R
-δ・Blood4α・'tht (1G'
CVdet = Pc1at, ni-R) i.e. H'
From the equation, the differential output signal iDc represents that the phase difference δ and the azimuth α act in a direction to reduce the photoelectric conversion value Vdtt of the amount of received light when there is no birefringence. Furthermore, as shown in equation 11[', it can be seen that the measurement method of the present invention is capable of measurement regardless of the presence or absence of a magneto-optical signal. Therefore, if you measure Vdgt using a material without birefringence, such as a glass substrate, and then measure the target birefringent medium, even if the disk is rotating, the differential output IDC will phase difference δ
, the azimuth α can be determined.

また複屈折の変動周波数は低く、差動後の信号をローパ
スフィルタに通せば、光磁気信号およびサーボ信号等が
混在する中から、複屈折成分を抜きとることができる。
Furthermore, the fluctuation frequency of birefringence is low, and by passing the differential signal through a low-pass filter, the birefringence component can be extracted from a mixture of magneto-optical signals, servo signals, and the like.

さらにサーボ信号成分がより低周波である場合には、バ
ンドパスフィルタを用いればよい。
Furthermore, if the servo signal component has a lower frequency, a bandpass filter may be used.

次に、この位相差δと方位角αの測定方法を第4図〜第
9図を用いて説明する。これらの図では、第1図におけ
る波長板9を旋光板として用いた場合の測定方法を示し
たものである。
Next, a method for measuring the phase difference δ and the azimuth α will be explained using FIGS. 4 to 9. These figures show a measurement method when the wavelength plate 9 in FIG. 1 is used as an optical rotation plate.

第4図は、第1図におけるディスク主のカバーガラス3
に照射されるレーザ光の偏光方向を示したものであり、
110はカバーガラス3の結晶軸、111〜113は直
線偏光であるレーザ光の入射偏光方向である。この図の
ように、レーザ光の偏光方向111とカバーガラス3の
結晶軸110が一致せず、方位角αなる角度(反時計方
向に正)関係にあるとき、さらに波長板9をアクチュエ
ータ化により駆動し、旋光角−bおよび+bを与え、方
位角(α+6〕と(α−6)でレーザ光を入射させ、そ
の差動出力を再生すると、第5図(1)のスαおよび2
4bの出力波形を得る。そこで、このカバーガラス3の
ある点における位相差δ、方位角αに注目する場合、デ
ィスク1が回転中に、レーザ光が測定点を照したときの
時刻tにおける差動出力電圧υ1およびν、を測定する
。具体的には、ディスク1が回転中であってもレーザ光
が同一場所を照射するように、例えばスチル再生状態に
して、差動出力をストレージオシロスコープ等により波
形モニタすればよい。
Figure 4 shows the disk main cover glass 3 in Figure 1.
This shows the polarization direction of the laser beam irradiated on the
110 is the crystal axis of the cover glass 3, and 111 to 113 are the incident polarization directions of linearly polarized laser light. As shown in this figure, when the polarization direction 111 of the laser beam and the crystal axis 110 of the cover glass 3 do not match and are in an angular relationship of azimuth α (positive in the counterclockwise direction), the wave plate 9 can be further converted into an actuator. When the laser beams are input at azimuth angles (α+6] and (α-6), and the differential output is reproduced, steps α and 2 in Fig. 5 (1) are obtained.
4b output waveform is obtained. Therefore, when focusing on the phase difference δ and azimuth α at a certain point on the cover glass 3, the differential output voltages υ1 and ν at time t when the laser beam illuminates the measurement point while the disk 1 is rotating, Measure. Specifically, the differential output may be monitored in waveform using a storage oscilloscope or the like with, for example, a still playback state so that the laser beam irradiates the same location even when the disc 1 is rotating.

このようにして同一場所にレーザ光を照射されることに
より、007式に示すように位相差δは一定で、方位角
(α+b)と(α−b)の2通りに変えて差動出力を測
定するので、第5図(I[)に示す2点の値ν1および
v2を測定することになる。これらの値は員′式より、 vl−=dlJ−自4(α−h ) ・Vctet  
     (Ll)υ、−δ・比4(α+b)・Vdt
t       (6)として表わされ、さらに(ロ)
、(6)式より、;η「:D= sfn僅「マ5 = 
Mδ、7dttしたがって、方位角αは(6)式により
表わされる。
By irradiating the same place with laser light in this way, the phase difference δ is constant as shown in equation 007, and the differential output is changed by changing the azimuth (α + b) and (α - b). Since the measurement is performed, the values ν1 and v2 at the two points shown in FIG. 5 (I[) are measured. These values are obtained from the member's formula: vl-=dlJ-self4(α-h) ・Vctet
(Ll)υ, -δ・Ratio 4(α+b)・Vdt
t (6), and further (b)
, From equation (6), ;η":D= sfn only
Mδ, 7dtt Therefore, the azimuth angle α is expressed by equation (6).

(L−” tm−’ (−工”’ ・tm4 h ) 
     e334     Q−ν1 この(至)式において、与えた方位角すは既知量、I’
S sυ!は測定値であるから、これらから方位角αを
求めることができる。またαが得られたことにより、こ
の値をα環式または(6)式へ代入することにより位相
差δを求めることができる。
(L-"tm-'(-work"' ・tm4 h)
e334 Q-ν1 In this equation, the given azimuth angle is a known quantity, I'
S sυ! Since is a measured value, the azimuth angle α can be determined from these values. Furthermore, since α has been obtained, the phase difference δ can be determined by substituting this value into the α ring formula or equation (6).

さらに、上記実施例では波長板9を旋光板として用い、
既知量の旋光角すを与えることlζより複屈折媒体の位
相差、方位角を測定する方法を述べたが、この波長板9
を位相板として使用し、既知量の位相差を与えても同様
に測定することができる。
Furthermore, in the above embodiment, the wavelength plate 9 is used as an optical rotation plate,
We have described a method of measuring the phase difference and azimuth of a birefringent medium by giving a known amount of optical rotation angle lζ.
The same measurement can be made by using the phase plate as a phase plate and giving a known amount of phase difference.

以上述べたように、本発明の測定方法によれば、測定点
毎に方位角を見つけ出し光学系を調整すること、検光子
を回転させて消光位置を見つけ出すことが不要となり、
測定作業量および時間を大幅に軽減することができる。
As described above, according to the measurement method of the present invention, it is not necessary to find the azimuth angle for each measurement point and adjust the optical system, or to rotate the analyzer to find the extinction position.
The amount of measurement work and time can be significantly reduced.

また桧測定物である光ディスク1が回転動作中でも複屈
折を測定することができる。またさらに大きな特長は、
従来の測定方法は上記したボラリメータ等を使用し、通
常は平行光でカバーガラスを透過させ、このときの複屈
折量を測定していたが、本発明の測定方法によれば、光
磁気ディスクの再生に使用する光学ヘッドを用いて、カ
バーガラス3に対物レンズ11によって絞り込まれたレ
ーザ光を入射、反射させることから、実使用状態におけ
る複屈折測定が可能になるだけでなく、記録膜上で回折
限界まで絞込まれるピットオーダーの測定が可能となり
、測定精度を大幅に向上させることができる。
Furthermore, birefringence can be measured even when the optical disk 1, which is the object to be measured, is rotating. Another great feature is
The conventional measurement method used the above-mentioned volarimeter, etc., and usually transmitted parallel light through a cover glass and measured the amount of birefringence at this time, but according to the measurement method of the present invention, the amount of birefringence of the magneto-optical disk was measured. By using the optical head used for reproduction, the laser beam focused by the objective lens 11 is incident on the cover glass 3 and reflected, which not only makes it possible to measure birefringence in actual use conditions, but also makes it possible to measure birefringence on the recording film. It becomes possible to measure pit orders that are narrowed down to the diffraction limit, and measurement accuracy can be greatly improved.

次に、波長板9およびアクチュエータ化について具体的
に説明する。
Next, the wave plate 9 and the actuator will be specifically explained.

第6図〜第9図は、第1図〜第5図にて述べた旋光作用
を生ずる波長板9と、このアクチュエータの一例を示し
たものである。第6図に示すように、この波長板9は結
晶軸120が光軸41に直交する1/2波長板である。
6 to 9 show an example of the wave plate 9 that produces the optical rotation described in FIGS. 1 to 5, and its actuator. As shown in FIG. 6, this wavelength plate 9 is a half-wave plate in which a crystal axis 120 is orthogonal to the optical axis 41.

この場合、1/2波長板9を光軸41に垂直な平面内で
、且つ光軸41まわりに角度θ回転させると、入射偏光
方向121と出射偏光方向124とのあいだには角度β
の旋光を生ずる。
In this case, when the half-wave plate 9 is rotated by an angle θ in a plane perpendicular to the optical axis 41 and around the optical axis 41, an angle β is created between the input polarization direction 121 and the output polarization direction 124.
produces optical rotation.

第7図は、この回転角θと旋光角βの関係を示したもの
であり、1/2波長板9の回転に併ない、旋光角βは直
線yに従がい変化する。
FIG. 7 shows the relationship between the rotation angle θ and the optical rotation angle β, and as the half-wave plate 9 rotates, the optical rotation angle β changes following the straight line y.

次に、本実施例の旋光板9のアクチュエータ29につい
て、第80図、第9図を用いて説明する。
Next, the actuator 29 of the optical rotation plate 9 of this embodiment will be explained using FIG. 80 and FIG. 9.

第8図は、このアクチュエータ化の一具体例を示したも
のであり、また、第9図は第8図におけるA側からアク
チュエータ化を示した図であり、同一番号を付したもの
は同一なものである。
Fig. 8 shows a specific example of this actuator conversion, and Fig. 9 is a diagram showing the actuator conversion from the A side in Fig. 8, and the same numbers are the same. It is something.

51α、51bは内部に永久磁石5oα、 so bを
含み、共に鉄等の磁性材料からできている固定鉄心、5
2α、52bは固、定鉄心51a 、 51 bをそれ
ぞれ囲むように巻かれたコイルであり、旋光板9が取り
付けである回転部材犯に固定されている。54は回転部
材おを支持する支接部であり、たとえば、ベアリング等
が使用される。
51α, 51b include permanent magnets 5oα, sob inside, and are both fixed iron cores made of magnetic material such as iron, 5
Coils 2α and 52b are wound around the fixed and fixed iron cores 51a and 51b, respectively, and are fixed to a rotating member to which the optical polarization plate 9 is attached. Reference numeral 54 denotes a support portion for supporting the rotating member, for example, a bearing or the like is used.

このように構成したことから、固定鉄心51a。Because of this configuration, the fixed iron core 51a.

51 b中には、磁界が発生しており、さらに、コイル
52 a 、 52 bには旋光板駆動回路nにより、
各制御信号に応じた電流が流れるため、回転部材53は
矢印θ方向へ回転する。したがって、回転部材郭に取り
付けである旋光板9は、その信号電流によって、θ方向
に回転制御され、その結果、旋光板9を通過するレーザ
光に旋光角αを与える。また上記実施例のように、既知
量の方位角すを与えるためには、波長板9を用いずに、
光学ヘッド全体を動かして、第4図の偏光方向112 
、113に合わせてもよい。
A magnetic field is generated in the coils 52a and 52b, and an optical rotation plate drive circuit n generates a magnetic field in the coils 52a and 52b.
Since current flows according to each control signal, the rotating member 53 rotates in the direction of the arrow θ. Therefore, the optical rotation plate 9 attached to the rotating member frame is rotationally controlled in the θ direction by the signal current, and as a result, the laser beam passing through the optical rotation plate 9 is given an optical rotation angle α. Further, as in the above embodiment, in order to provide a known amount of azimuth angle, without using the wave plate 9,
By moving the entire optical head, the polarization direction 112 in FIG.
, 113.

次に位相差を発生させる波長板9と、これに使用するア
クチュエータ囮について説明する。
Next, the wave plate 9 that generates a phase difference and the actuator decoy used therein will be explained.

第10図〜第12図は、−例として、結晶軸120が光
軸41と平行な172波長板9を、また第13図〜第1
5図は、結晶軸120が光軸41に斜交する1/2波長
板9を、位相板として用いた場合の偏光特性を示したも
のである。これらの図において、第1図〜第9図と同一
番号を付したものは、同一部分である。
10 to 12 show, for example, a 172-wave plate 9 whose crystal axis 120 is parallel to the optical axis 41, and FIGS. 13 to 1.
FIG. 5 shows polarization characteristics when a half-wave plate 9 in which the crystal axis 120 intersects obliquely with the optical axis 41 is used as a phase plate. In these figures, the same parts are denoted by the same numbers as in FIGS. 1 to 9.

第10図に示す172波長板9は、光軸41に垂直、す
なわち第11図においてθ=0°のとき、第12図にお
ける位相差δ=0°であるが、P偏光方向122または
S偏光方向123に角度θ傾けると、第12図の42ま
たは招のごとく、位相差δが変化する。また第13図に
示す1/2波長板9は、第14図のように、傾きθをθ
1〜θ、のように変えることにより、第15図の42ま
たは椙のごとく、位相差δが変化する。
The 172 wavelength plate 9 shown in FIG. 10 is perpendicular to the optical axis 41, that is, when θ=0° in FIG. 11, the phase difference δ=0° in FIG. 12, but the P polarization direction 122 or S polarization is When the angle θ is tilted in the direction 123, the phase difference δ changes as shown at 42 in FIG. 12 or as shown in FIG. Further, the 1/2 wavelength plate 9 shown in FIG. 13 has an inclination θ of θ as shown in FIG.
By changing from 1 to θ, the phase difference δ changes as shown at 42 or 0 in FIG. 15.

またここでは位相板として1/2波長板を例に示したが
、これ以外の位相制御手段、例えばバビネ補正器および
ソレイユ補正器、または単に光弾性効果等を用いた音響
光学素子などの位相板を用いても、同様な効果を得るこ
とができる。
Although a 1/2 wavelength plate is used as an example of the phase plate here, other phase control means may be used, such as a Babinet corrector, a Soleil corrector, or a phase plate such as an acousto-optic element that simply uses the photoelastic effect. A similar effect can be obtained by using .

次に、位相板9を駆動させるアクチュエータ益について
説明、する。
Next, the effect of the actuator for driving the phase plate 9 will be explained.

第16図は、このアクチュエータ益の一実施例を示した
ものであり、また第17図は、第16図のAA閉断面あ
る。各図において同一番号を付したものは同一部分であ
り、55はプラスチック等の非磁性材料からできている
アクチュエータ化全体のハウジング、51および53は
、共に鉄等の磁性材料からできている鉄心であり、51
が内部に永久磁石(資)を含む固定鉄心、53は支持部
材54により、矢印116方向へ回転する可動鉄心であ
る。また52は、可動鉄心郭の周囲に巻かれたコイル、
56は、位相板9を可動鉄心団へ固定するための部材で
ある。
FIG. 16 shows an example of this actuator effect, and FIG. 17 shows the AA closed cross section of FIG. 16. In each figure, the same numbers indicate the same parts, 55 is the housing of the entire actuator made of non-magnetic material such as plastic, and 51 and 53 are both iron cores made of magnetic material such as iron. Yes, 51
53 is a fixed core that includes a permanent magnet therein, and 53 is a movable core that rotates in the direction of an arrow 116 by a support member 54. 52 is a coil wound around the movable iron core;
56 is a member for fixing the phase plate 9 to the movable iron core group.

このように構成したことから、固定鉄心51および可動
鉄心53には、図中の破線矢印117に示すような磁界
が発生しており、さらにコイル52に電流が流されるた
め、可動鉄心53は矢印116方向へ回転する。したが
って位相板9は、その信号電流によって0方向に傾斜制
御され、その結果、位相板9を透過するレーザ光に位相
差を与える。
With this configuration, a magnetic field as shown by the broken line arrow 117 in the figure is generated in the fixed core 51 and the movable core 53, and since a current is passed through the coil 52, the movable core 53 is Rotate in 116 directions. Therefore, the phase plate 9 is tilt-controlled in the 0 direction by the signal current, and as a result, a phase difference is imparted to the laser light passing through the phase plate 9.

次に、第18図および第19図は、本発明の他の実施例
を示したものである。これらの実施例は、本発明の複屈
折測定に必要な最少限度の構成を示しており、第18図
は片道光、第19図は往復光における測定方法である。
Next, FIGS. 18 and 19 show other embodiments of the present invention. These examples show the minimum configuration required for birefringence measurement according to the present invention, and FIG. 18 shows a measurement method using one-way light, and FIG. 19 shows a measurement method using reciprocating light.

これらの図において、30は被測定物である複屈折媒体
である。レーザ5より発散光で出射した光は、コリメー
トレンズ6により平行光とされ、波長板9を透過し、さ
らに複屈折媒体園を平行光のまま透過する。第18図で
はそのまま差動光学系に入射するが、第19図ではミラ
ー31で反射され、再たび元の光路をもどり、ビームス
プリッタ32で反射され、差動光学系に入射する。
In these figures, 30 is a birefringent medium which is an object to be measured. The light emitted from the laser 5 as a diverging light is converted into parallel light by the collimating lens 6, passes through the wavelength plate 9, and further passes through the birefringent medium garden as parallel light. In FIG. 18, the light enters the differential optical system as it is, but in FIG. 19, it is reflected by the mirror 31, returns to the original optical path again, is reflected by the beam splitter 32, and enters the differential optical system.

測定原理、方法は、上記した第1の実施例と同様である
。本実施例の測定系は、平行光を複屈折媒体に透過させ
るという点で、従来のボラリメータ等を使用した測定系
に最も近いが、上記したように本発明の測定方法では、
測定作業、時間の短縮、および被測定物の動的解析がで
きるだけでなく、装置自体も大幅に簡略、低価化するこ
とができる。
The measurement principle and method are the same as in the first embodiment described above. The measurement system of this example is closest to a measurement system using a conventional volarimeter etc. in that parallel light is transmitted through a birefringent medium, but as described above, the measurement method of the present invention
Not only can the measurement work and time be shortened and the dynamic analysis of the object to be measured can be performed, but the device itself can also be significantly simplified and lowered in cost.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上、詳細に説明したように、本発明によれば複屈折媒
体を透過または反射した光の差動出力を測定し、これか
ら複屈折媒体の位相差、方位角を求めるよう番こしたた
め、これらの複屈折I11定番こ関し、作業量、測定時
間を大幅に短縮することができ、また被測定物である複
屈折媒体が動作状態にあっても測定が可能である。
As explained in detail above, according to the present invention, the differential output of light transmitted or reflected by a birefringent medium is measured, and the phase difference and azimuth angle of the birefringent medium are determined from this. Regarding the birefringence I11 standard, the amount of work and measurement time can be significantly reduced, and measurement can be performed even when the birefringence medium as the object to be measured is in an operating state.

さらに本発明は、測定装置の簡略化、低価格化にも効果
があり、゛光ディスク等の複屈折測定に際しては、実際
に使用する光学ヘッドを用いて測定が行なえることから
、測定精度の大幅な向上をはかることができる。
Furthermore, the present invention is effective in simplifying and reducing the cost of the measuring device. ``When measuring birefringence of optical discs, etc., the measurement accuracy can be significantly improved because the measurement can be performed using the optical head that is actually used. You can make significant improvements.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図乃至第5図は本発明の一実施例を示す複屈折測定
方法および装置の説明図、第6図乃至第17図は波長板
とそのアクチュエータの作業説明図、また第18図およ
び第19図は本発明の他の実施例を示す説明図である。 1・・・光ディスク    3・・・カバーガラス5・
・・半導体レーザ   9・・・波長板15 、18 
a 、 18 b ・・−光検出器■ 箔とえ      囁31 嘱4図 第S図 嘱8図         第97 猶1O(21第1I図     猶12図Σ 第13図   第14図     第1S図彩18図 n 猶19え ?n
1 to 5 are explanatory diagrams of a birefringence measurement method and apparatus showing an embodiment of the present invention, FIGS. 6 to 17 are illustrations of the operation of a wave plate and its actuator, and FIGS. FIG. 19 is an explanatory diagram showing another embodiment of the present invention. 1... Optical disc 3... Cover glass 5.
...Semiconductor laser 9...Wave plates 15, 18
a, 18 b...-Photodetector ■ Foil Toe Whisper 31 Figure 4 Figure S Figure 8 Figure 97 1O (21 Figure 1I Figure 12 Σ Figure 13 Figure 14 Figure 1S Illustration 18 n 19 huh? n

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、光源と、この光源からの光を複屈折媒体に集光する
手段と、上記複屈折媒体からの透過光あるいは反射光を
二分岐する偏光ビームスプリッタと、この分岐された光
をそれぞれ受光する2個光電変換器と、この光電変換器
のそれぞれの出力の差により前記複屈折媒体の複屈折量
を測定することを特徴とする複屈折測定装置。 2、特許請求の範囲第1項記載の装置において、光路中
に旋光板または位相板を設け、既知量の旋光角または位
相差を与えることにより2点以上の差動出力を判定し、
これらの差動出力値と、与えた該既知量である旋光角ま
たは位相差により、前記複屈折媒体の複屈折量を測定す
ることを特徴とする複屈折測定装置。
[Claims] 1. A light source, a means for condensing light from the light source onto a birefringent medium, a polarizing beam splitter for splitting transmitted light or reflected light from the birefringent medium into two, and a polarizing beam splitter for splitting the transmitted light or reflected light from the birefringent medium into two; 1. A birefringence measuring device comprising: two photoelectric converters each receiving light from the birefringent medium; and measuring the amount of birefringence of the birefringent medium based on the difference in output of each of the photoelectric converters. 2. In the apparatus according to claim 1, an optical rotation plate or a phase plate is provided in the optical path, and a differential output at two or more points is determined by providing a known amount of optical rotation angle or phase difference;
A birefringence measurement device characterized by measuring the amount of birefringence of the birefringence medium using these differential output values and the given known quantity, ie, the optical rotation angle or the phase difference.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6338669B1 (en) 1997-12-26 2002-01-15 Ebara Corporation Polishing device
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