JPS635325A - 液晶表示装置 - Google Patents
液晶表示装置Info
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- JPS635325A JPS635325A JP61146965A JP14696586A JPS635325A JP S635325 A JPS635325 A JP S635325A JP 61146965 A JP61146965 A JP 61146965A JP 14696586 A JP14696586 A JP 14696586A JP S635325 A JPS635325 A JP S635325A
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Classifications
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- G—PHYSICS
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-
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- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/1368—Active matrix addressed cells in which the switching element is a three-electrode device
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- Physics & Mathematics (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は液晶表示装置に関し、特にアクティブマトリッ
クス方式の液晶表示方式に関する。
クス方式の液晶表示方式に関する。
液晶表示装置においては、液晶を挟む基板間の距離を一
定に保つ必要があり、従来はこのために、グラスファイ
バーなどのスペーサを液晶中に分散させる方法がとられ
ている。なお、薄膜トランジスタを使用した液晶表示装
置は例えば日経エレクトロニクス1984年9月10日
号、No、351、頁211〜240で知られている。
定に保つ必要があり、従来はこのために、グラスファイ
バーなどのスペーサを液晶中に分散させる方法がとられ
ている。なお、薄膜トランジスタを使用した液晶表示装
置は例えば日経エレクトロニクス1984年9月10日
号、No、351、頁211〜240で知られている。
ところがこのようにスペーサを液晶中に分散させる方法
を、高精細な液晶テレビ等を実現するものとして近年注
目されているアクティブマトリックス方式の液晶表示装
置に適用した場合、TFT(薄膜トランジスタ)が形成
された凸部にスペーサが乗った場合と他の平坦部に乗っ
た場合とで、基板間のギャップにばらつきが発生すると
いう問題があった。
を、高精細な液晶テレビ等を実現するものとして近年注
目されているアクティブマトリックス方式の液晶表示装
置に適用した場合、TFT(薄膜トランジスタ)が形成
された凸部にスペーサが乗った場合と他の平坦部に乗っ
た場合とで、基板間のギャップにばらつきが発生すると
いう問題があった。
この発明は、基板間ギャップのばらつきの少ないアクテ
ィブマトリックス方式の液晶表示装置を提供することを
目的とする。
ィブマトリックス方式の液晶表示装置を提供することを
目的とする。
上記問題点は、表示画素電極およびTFTを形成した第
1の基板の1表示画素電極以外の部分にスペーサを形成
することによって解決される。
1の基板の1表示画素電極以外の部分にスペーサを形成
することによって解決される。
スペーサの位置は固定されるため、予め一定の高さの部
分に一定の厚さのスペーサを形成することによりギャッ
プは一定に規定される。
分に一定の厚さのスペーサを形成することによりギャッ
プは一定に規定される。
第2図は本発明の一実施例を示す平面図、第1図はその
I−1断面図である。
I−1断面図である。
同図において、5UB1は1.1(m)程の厚さを有す
るガラス基板でありGTはCr等から成るゲート電極で
ある。ASは非晶質のSiであり、ゲート電極GTやガ
ラス基板5UB1との間には電界効果トランジスタ(F
ET)のゲート絶縁膜として作用する膜GIが形成され
ている。SDI及びSD2は一対のソース・ドレイン電
極であり。
るガラス基板でありGTはCr等から成るゲート電極で
ある。ASは非晶質のSiであり、ゲート電極GTやガ
ラス基板5UB1との間には電界効果トランジスタ(F
ET)のゲート絶縁膜として作用する膜GIが形成され
ている。SDI及びSD2は一対のソース・ドレイン電
極であり。
シリコン膜AS上に間隔をあけて、またゲート電IGT
がそれらをまたぐように形成されている。
がそれらをまたぐように形成されている。
−対のソース・ドレイン電極SDは、回路のバイアス極
性が変わると動作上のソース・ドレインが入れ替わるの
で、つまり通常のFETと同様に双方向性であるので、
両方共ソース・ドレイン電極と名づける。このソース・
ドレイン電極SDは下からN + (ドナー不純物濃度
の高い)非晶質Si、Cr及びAQの3層構造とされて
いる。N”−3i主電極は非晶質SLとの接触抵抗を下
げ、Cr電極層はAQ@極層がSi層と反応するのを防
ぐために用いられる。psvは保護膜であり、FETを
湿気等から保護し、透明性が高く耐湿性の良い5i02
膜やSi、N4膜で形成される。ITOはソース・ドレ
イン電極SDの一方(S D 2)に接続された透明導
電膜であり、液晶表示装置の一方の電極として作用する
。他方のソース・ドレイン電極SDIはY方向に走る配
線としても兼用されている。又、X方向にはゲート電極
GTが配線層も兼ねて走っている。LSは外部光がFE
Tの心臓部であるゲート領域に入り込まないようにする
ための遮光膜であり、Cr材等で形成される。このFE
Tはソース電極に対してゲート電極を正のバイアスにす
ればソースとドレイン間の抵抗が小さくなり、ゲートバ
イアスを零に近くすれば大きな抵抗を示す。
性が変わると動作上のソース・ドレインが入れ替わるの
で、つまり通常のFETと同様に双方向性であるので、
両方共ソース・ドレイン電極と名づける。このソース・
ドレイン電極SDは下からN + (ドナー不純物濃度
の高い)非晶質Si、Cr及びAQの3層構造とされて
いる。N”−3i主電極は非晶質SLとの接触抵抗を下
げ、Cr電極層はAQ@極層がSi層と反応するのを防
ぐために用いられる。psvは保護膜であり、FETを
湿気等から保護し、透明性が高く耐湿性の良い5i02
膜やSi、N4膜で形成される。ITOはソース・ドレ
イン電極SDの一方(S D 2)に接続された透明導
電膜であり、液晶表示装置の一方の電極として作用する
。他方のソース・ドレイン電極SDIはY方向に走る配
線としても兼用されている。又、X方向にはゲート電極
GTが配線層も兼ねて走っている。LSは外部光がFE
Tの心臓部であるゲート領域に入り込まないようにする
ための遮光膜であり、Cr材等で形成される。このFE
Tはソース電極に対してゲート電極を正のバイアスにす
ればソースとドレイン間の抵抗が小さくなり、ゲートバ
イアスを零に近くすれば大きな抵抗を示す。
液晶LCは上下のガラス基板5UBI及び5UB2間に
封入され、液晶分子の向きは上下の配向膜○RI2及び
○R11で決められる。PSV2はアクリル系の樹脂で
形成された保護膜である。
封入され、液晶分子の向きは上下の配向膜○RI2及び
○R11で決められる。PSV2はアクリル系の樹脂で
形成された保護膜である。
FILはカラーフィルターである。ITO2は配列され
た複数のピクセル電極ITOIに対向する共通透明電極
である。
た複数のピクセル電極ITOIに対向する共通透明電極
である。
このような表示体は、基板5UBI側と5UB2側の積
層を別個に行い、その後液晶を封入することによって組
み立てられる。
層を別個に行い、その後液晶を封入することによって組
み立てられる。
ここで、ソース・ドレイン電極SDIの上に、スペーサ
SPIが形成しである。このスペーサSP1は、例えば
次のようにして形成される。第3図において、保護膜P
SVIの上に蒸着もしくはスパッタ法等によりクロム膜
CRを形成する(第3図A)。次に、ホトレジストを塗
布し、パターニングしてレジストパターンRPを形成す
る(第3fiB)。次いでこのレジストパターンRPを
マスクとし、メツキにより厚いニッケル膜NIを形成す
る(第3図C)。その後レジストパターンRPを除去し
く第3図D)、さらにニッケルII!NIをマスクとし
て不要なりロム膜CRをエツチングにより除去する(第
3図E)。
SPIが形成しである。このスペーサSP1は、例えば
次のようにして形成される。第3図において、保護膜P
SVIの上に蒸着もしくはスパッタ法等によりクロム膜
CRを形成する(第3図A)。次に、ホトレジストを塗
布し、パターニングしてレジストパターンRPを形成す
る(第3fiB)。次いでこのレジストパターンRPを
マスクとし、メツキにより厚いニッケル膜NIを形成す
る(第3図C)。その後レジストパターンRPを除去し
く第3図D)、さらにニッケルII!NIをマスクとし
て不要なりロム膜CRをエツチングにより除去する(第
3図E)。
このようにして予めガラス基板SUB l上の所定の位
置にスペーサSPIを作りつけておくことにより、その
高さを一定とし、基板間のギャップ、つまり液晶層の厚
みにばらつきが生ずるのを防ぐことができる。
置にスペーサSPIを作りつけておくことにより、その
高さを一定とし、基板間のギャップ、つまり液晶層の厚
みにばらつきが生ずるのを防ぐことができる。
なお、第2図に示した例では1つのピクセル平面パター
ンPIXIは縦、横の配列ピッチがほぼ同じとなるよう
に設計されており、ドツトの大きさが縦、横同じである
単色表示の場合はそのままのパターンで行、列に配列す
れば良い。
ンPIXIは縦、横の配列ピッチがほぼ同じとなるよう
に設計されており、ドツトの大きさが縦、横同じである
単色表示の場合はそのままのパターンで行、列に配列す
れば良い。
カラー表示の場合、赤、緑及び青等のカラーフィルター
を交互に横方向に配列する場合、すなわち縦ストライプ
の配列では1つのピクセルパターンは第4図Aに示すよ
うに縦長にされ(P I X 2)、それと逆の横スト
ライプの配列では第4図Bに示すように横長にされる(
PIX3)。この場合、スペーサは第4図Bのようにゲ
ート配線GT上に配置しても良い(SF3)。
を交互に横方向に配列する場合、すなわち縦ストライプ
の配列では1つのピクセルパターンは第4図Aに示すよ
うに縦長にされ(P I X 2)、それと逆の横スト
ライプの配列では第4図Bに示すように横長にされる(
PIX3)。この場合、スペーサは第4図Bのようにゲ
ート配線GT上に配置しても良い(SF3)。
第5図はこのようにして形成された液晶表示装置(LC
D)パネル(PNL)の等価回路と、その周辺駆動回路
を示すものである。LVSはLCD垂直走査回路であり
、TFTのゲート電極に走査スイッチング信号を印加す
る。LH8はLCD水平走査回路であり、TFTのソー
ス・ドレイン電極SDIに順次選択的にビデオ信号を印
加する。
D)パネル(PNL)の等価回路と、その周辺駆動回路
を示すものである。LVSはLCD垂直走査回路であり
、TFTのゲート電極に走査スイッチング信号を印加す
る。LH8はLCD水平走査回路であり、TFTのソー
ス・ドレイン電極SDIに順次選択的にビデオ信号を印
加する。
上述した実施例では、スペーサSPIをソース・ドレイ
ン電極SD1の配線部分の上方に形成したが、この位置
はこれに限定されるものではなく、例えば第6図に示す
スペーサSP2のようにゲート電極GTの上方に形成し
てもよい、ただ、表示画素電極部、つまりピクセルパタ
ーンPIXの部分は避けることにより、光の透過率が減
少するのを防ぐ、また、このように画素以外の部分にス
ペーサSPを形成することは隣接画素間の光の漏れを防
ぎ表示品質を向上させる上でも効果がある。
ン電極SD1の配線部分の上方に形成したが、この位置
はこれに限定されるものではなく、例えば第6図に示す
スペーサSP2のようにゲート電極GTの上方に形成し
てもよい、ただ、表示画素電極部、つまりピクセルパタ
ーンPIXの部分は避けることにより、光の透過率が減
少するのを防ぐ、また、このように画素以外の部分にス
ペーサSPを形成することは隣接画素間の光の漏れを防
ぎ表示品質を向上させる上でも効果がある。
以上説明したように1本発明によれば、基板間ギャップ
、すなわち液晶層の厚みのばらつきを解消し表示むらの
ないアクティブマトリックス方式の液晶表示装置が得ら
れる。
、すなわち液晶層の厚みのばらつきを解消し表示むらの
ないアクティブマトリックス方式の液晶表示装置が得ら
れる。
第1図ないし第3図は本発明の一実施例を示す図で、第
1図は液晶表示装置の一実施例を示す断面図、第2図は
同じく平面図、第3図はスペーサの形成方法を説明する
ための工程断面図、第4図はピクセルパターンの他の構
成例を示す図、第5図は液晶表示装置パネルの等価回路
、第6図はスペーサの他の構成例を示す断面図である。 GT・・・ゲート電極、ITOI・・・ピクセル電極、
LC・・・液晶、PIXI〜PIX3・・・ピクセルパ
ターン、SDI、SD2・・・ソース・ドレイン電極、
SPI、SF3・・・スヘーPIXI・・・ピクセルパ
ターン 第4図A
1図は液晶表示装置の一実施例を示す断面図、第2図は
同じく平面図、第3図はスペーサの形成方法を説明する
ための工程断面図、第4図はピクセルパターンの他の構
成例を示す図、第5図は液晶表示装置パネルの等価回路
、第6図はスペーサの他の構成例を示す断面図である。 GT・・・ゲート電極、ITOI・・・ピクセル電極、
LC・・・液晶、PIXI〜PIX3・・・ピクセルパ
ターン、SDI、SD2・・・ソース・ドレイン電極、
SPI、SF3・・・スヘーPIXI・・・ピクセルパ
ターン 第4図A
Claims (1)
- 1、複数の表示画素電極を形成した第1の基板と、対向
電極を形成した第2の基板とを所定の間隔をおいて対向
させ、間に液晶を挟持してなる液晶表示装置において、
第1の基板は、上記複数の表示画素電極と、各表示画素
電極をスイッチ駆動する複数のTFTとをマトリックス
状に配列してなるアクティブマトリックス基板であり、
かつこの第1の基板の表示画素電極以外の部分に第1お
よび第2の基板間の間隔を規定するスペーサを形成して
なる液晶表示装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61146965A JPS635325A (ja) | 1986-06-25 | 1986-06-25 | 液晶表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61146965A JPS635325A (ja) | 1986-06-25 | 1986-06-25 | 液晶表示装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS635325A true JPS635325A (ja) | 1988-01-11 |
Family
ID=15419585
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61146965A Pending JPS635325A (ja) | 1986-06-25 | 1986-06-25 | 液晶表示装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS635325A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02131307A (ja) * | 1988-11-04 | 1990-05-21 | Kimoto & Co Ltd | セルとその製造方法 |
JP2018174328A (ja) * | 2009-12-04 | 2018-11-08 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置 |
-
1986
- 1986-06-25 JP JP61146965A patent/JPS635325A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02131307A (ja) * | 1988-11-04 | 1990-05-21 | Kimoto & Co Ltd | セルとその製造方法 |
JP2018174328A (ja) * | 2009-12-04 | 2018-11-08 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 半導体装置 |
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