JPS6352250A - 半導体集積回路装置 - Google Patents

半導体集積回路装置

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JPS6352250A
JPS6352250A JP61195370A JP19537086A JPS6352250A JP S6352250 A JPS6352250 A JP S6352250A JP 61195370 A JP61195370 A JP 61195370A JP 19537086 A JP19537086 A JP 19537086A JP S6352250 A JPS6352250 A JP S6352250A
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JP
Japan
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mode
Prior art date
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JP61195370A
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English (en)
Inventor
Noriyuki Yoshiya
吉屋 憲幸
Hiroshi Ozaki
浩 尾崎
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は、半導体集積回路技術に関し、例えば、電気
的に書き込み、消去可能な読み出し専用メモリ(EEP
ROM)を有する半導体集積回路装置に利用して特に有
効な技術に関する。
[従来の技術] キャッシュカードやクレジットカード等に搭載されるカ
ード用マイクロコンピュータ(以下カード用マイコンと
称する)の、内部にE E P ROMを内蔵すること
が考えられている。このEEPROMに記憶される情報
は、第三者による盗用から保護する必要がある(日経マ
グロウヒル社発行、日経エレクトロニクス、1985年
10月21日号、第135〜第137頁)。
この種のカード用マイコンにおける情報保護は、一般に
、使用者(ユーザ)のみが知るパスワード等によって行
なわれていた。つまり、このパスワード等を知らないと
、カード用マイコン内のEEPROMのデータを読み出
せないようになっていた。
[発明が解決しようとする問題点] 上記したような情報保護手段では、パスワード等によっ
てメモリに書き込まれた重要なデータが保護されており
、情報保護のためのハードウェア構成が考慮されておら
ず、情報保護が充分されているとは言えなかった。
さらに、上記したEEPROMを内蔵するカード用マイ
コンにおいて、ユーザの依頼によって。
メーカーが不良解析やテスティングを行なう場合、テス
トデータをEEPROMに書き込んで、そのデータの読
み出しが行なわれる。この場合、テストを行なうメーカ
ーは、本来ユーザのみが知っていることが望ましいパス
ワードを使用しないと、不良解析やテスティングができ
なかった。
この発明の目的は、機密保護が充分に行なえるような不
揮発性メモリを有する半導体集積回路装置を提供するこ
とにある。
この発明の他の目的は、不良解析やテスティングが充分
な機密保護の下に行なえるような不揮発性メモリを有す
る半導体集積回路装置を提供することにある。
この発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴に
ついては1本明細書の記述および添附図面から明らかに
なるであろう。
[問題点を解決するための手段] 本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を説明すれば、下記のとおりである。
すなわち、モードに応じて、データバスより送出される
データに異なるパリティ情報を与えるパリティ・ジェネ
レータと、このパリティ情報に応じてパリティ情報を出
力するパリティチェッカーとを備え、上記モード及びパ
リティ情報に基づいて、不当なデータの読み出しの有無
を判別し、割込み等の信号を出力させるようにするもの
である。
[作用] 上記した手段によれば、ユーザが通常モードにおいて書
き込んだデータは、ユーザ等の特定の人間が知る手段に
よってのみ設定可能な通常モードにおいてのみ読み出し
が可能となることにより、EEPROMに書き込まれた
データの機密保護を行なう。
さらに上記した手段によれば、メーカ等の特定の人間以
外の者がEEPROMのテストをする場合は、テストモ
ードにおいてEEPROMにテストデータの書き込みを
行ない、テストモードにおいてその書き込みデータの読
み出しを行なうことによって、ユーザ等の特定の人間が
知る通常モードの設定手段を知ることなくメーカにおい
てテストが行なえる。
[実施例] 第1図は、本発明をE E P ROMを内蔵するカー
ド用マイコンに適用した場合の一実施例である。
同図において特に制限されないが、二点鎖線1で囲まれ
た各回路ブロックは、単結晶シリコン基板のような一個
の半導体チップ上に形成される。
情報(データ)処理機能を有する中央処理装置CPU2
.データの一時記憶のためのランダムアクセスメモリR
AM3.マイクロプログラムを格納するROM4.EE
PR(li5は、アドレス、データ及び制御信号などを
供給するアドレスバス。
データバス及びコントロールバスを含む共通バス8で結
合される。半導体集積回路外とのアドレス、データ及び
制御信号のやりとりは、入出力回路(以下I10と記す
)7を介して行なわれる。また、EEPROM5をテス
トするためのデータ保護回路6が、EEPROM5と共
通バス8との間に付加されている。E E P ROM
 5はCPU2゜RA M 3 、 ROM 4から切
り離して独立にテストができるようにされている。
第2図にデータ保護回路6の説明図を示す。ラッチ回路
11は、パワースイッチがオンされると出力Qがロウレ
ベルにセットされる。つまり、パワーオンクリアまたは
パワーオンリセット機能を持つようにされている。ラッ
チ回路11のデータ入力端子りには、デコーダ回路12
の出力が供給される。デコーダ回路12の出力がロウレ
ベル及びハイレベルのとき、ラッチ回路11の出力Qは
それぞれロウレベル及びハイレベルとされる。
デコーダ12には、例えば、第1図において図示したR
OM4からモード設定信号が供給される。
すなわち、ユーザによって正しいパスワードがセットさ
れると、ROM 4内のマイクロプログラムによって、
データ保護回路6内のデコーダ12に通常モードの設定
のための信号が供給される。デコーグ12は、これをデ
コードしてラッチ回路11に通常モード設定信号”1”
(ハイレベル)を供給する。この通常モード設定信号は
、CPU2等からの適当なタイミング信号CLKによっ
て、ラッチ回路11に取り込まれ、その出力Qがハイレ
ベルにされる。一方、正しいパスワードがセットされな
い時、パスワードが全くセットされない時、あるいは電
源投入時等には、デコーダ12の出力はロウレベルとさ
れる。すなわち、通常モード設定信号は発生されない、
なお、テストモードにおいては、パスワードはセットさ
れない。
ラッチ回路11の出力Qはセレクタ14に供給され、一
方、インバータG2によって反転された出力QはAND
ゲートG1の一方の入力端子に供給される。通常モード
とされたとき、セレクタ14にはハイレベルが供給され
、ゲートG1にはロウレベルが供給される。通常モード
以外のとき、セレクタ14にはロウレベルが供給され、
ゲートG1にはハイレベルが供給される。つまり、ゲー
トG□は通常モードのときはゲートを閉じてその出力を
ロウレベルに固定される一方、テストモード等の通常モ
ード以外のときはゲートを開く。
符号13で示されるパリティジェネレータは、E E 
P ROM 5の書き込みデータにパリティ情報を与え
るためのものである。パリティジェネレータ13は1、
データバスDBから供給される8ビツト構成の1つのデ
ータに対して1ビツトのパリティ情報を発生させる。こ
のパリティ情報としては偶数パリティEvenおよび奇
数パリティ○ddの2種類が同時に発生させられる。こ
の2種類のパリティビットEven及びOddは後述す
るセレクタ14に供給される。
符号14で示されるセレクタは、パリティジェネレータ
13によって形成された偶数パリティEvenまたは奇
数パリティOddのうちいずれか一方を選択し、ラッチ
回路15に供給するためのものである。セレクタ14に
ラッチ回路11よすロウレベルの信号が供給される通常
モード以外のモードの場合は、EEPROM5への書き
込みデータのハイレベルのビットの数を奇数にするため
の奇数パリティデータを選択する。一方、ラッチ回路1
1よりハイレベルの信号が供給される通常モードの場合
は、EEPROM5への書き込みデータのハイレベルの
ビットの数を偶数にするための偶数パリティデータを選
択されたいずれか一方のパリティビットは、8ビツト構
成のデータに付加するために、ラッチ回路15に供給さ
れる。
ラッチ回路15には、EEPROM5への書込み動作に
おいて、データバスDBより8ビツト構成のデータが供
給されるとともに、セレクタ14より1ビツトの奇数パ
リティデータもしくは偶数パリティデータが供給される
。そして、ラッチ回路15は、パリティデータが供給さ
れるまでデータバスDBより供給されるデータを保持す
るようにされる。E E P ROM 5には、1ビツ
トのパリティビットを含む9ビツト構成のデータが書き
込まれる。一方、また、ラッチ回路15には、EEP 
ROM 5からの読出し動作において、EEPROM5
からの読出された9ビツト構成のデータが保持される。
ラッチ回路15は、パリティビットを除く8ビツトから
なるデータをデータバスDBに送出すると共に、9ビツ
ト構成のデータを後述するパリティチェッカー16に供
給する。
符号16で示されるパリティチェッカーは、ラッチ回路
15より供給されるパリティデータを含んだ9ビツトの
構成のデータのハイレベルのビットの数が奇数であるか
偶数であるかを判定し、その判定結果に応じたレベルの
信号をゲートG1に供給するためのものである。この実
施例の場合、データのハイレベルのビットの数が奇数で
あると・判定した場合は、ロウレベル信号をゲートG工
に出力し、偶数であると判定した場合はハイレベル信号
を出力するようにされる。
ゲートG1のそれぞれの入力端子には、ラッチ回路11
より送出された信号がインバータG2によって反転され
た信号とパリティチェッカー16より出力される信号が
供給されるようにされ、ゲートG□の出力端子がハイレ
ベルにされると不正使用を禁止するようにシステムに割
込みがかけられる。
以下、8ビツト構成のデータのうち、そのすべてのビッ
トが1101#にされているデータ(例えば、預金残高
や入金額等の重要なデータ)を例にとり、その通常モー
ドにおける書き込みについて説明する。
ユーザがデータの書き込みをする場合はデータ機密保護
のためパスワードを用い、これによってのみ指定可能な
通常モードで行なう。すなわち、まず、ユーザは、ユー
ザのみが知るパスワードをセットす、る。これによって
、デコーダ12にROM4よりモード設定信号が供給さ
れる。デコーダ12は、このモード設定信号をデコード
してラッチ回路11のデータ入力端子りにハイレベル信
号つまり通常モード設定信号“1″を供給するようにさ
れる。データ入力端子りに供給されている通常モード設
定信号14111は、CPU等からクロック入力端子G
に供給されるクロック信号に同期してラッチ回路11に
取り込まれる。これによって、ゲートG□の一方の入力
端子にロウレベル信号つまり信号410 IIが供給さ
れ、セレクタ14には信号″1”が供給される。その結
果、パリティチェッカー16の出力のいかんにかかわら
ず、ゲートG1の出力端子より出力されるデータはIt
 1 F+にされることはない、すなわち、ユーザが正
しいパスワードによって設定した通常モードにおいては
、不正読み出しの防止のためにシステムに割込みがかけ
られるようなことはない。また、このとき、セレクタ1
4は、パリティジェネレータ13の奇数と偶数の2つの
パリティデータOddとEvenのうちの偶数パリティ
Evenを選ぶ。
パリティジェネレータ13には、8ビツトのすべてが“
O”にされたデータが供給されるので、EEPROM5
への書き込みデータのハイレベルのビットの数を偶数及
び奇数にするための2つのパリティデータEven及び
Oddが、それぞれ“0”及び“1”とされ、セレクタ
14に供給される。セレクタ14は゛′O″信号のパリ
ティデータEvenを選択し、これをラッチ回路15に
供給する。ラッチ回路15に保持されたパリティデータ
110 Itは、データバスDBより8ビツト構成のデ
ータが供給されるまで保持される。そして、ラッチ回路
15からは、パリティデータ“OIIを含んだ9ビツト
構成のデータが出力され、これがEEPROM5に書き
込まれる。
次に、上記通常モードにおいて書き込まれたデータが、
通常モード及びこれ以外のモード(例えばテストモード
)で読み出された場合について説明する。
通常モードで読み出される場合には、何ら読出しに支障
はない、つまり、正しいパスワードが入力された場合、
ラッチ回路11の出力信号により、ゲートG工の出力は
ロウレベルに固定されるので、システムダウンのための
割込みのためのハイレベル信号が出力されることはない
。EEPROM5から読み出された9ビツトのデータの
うち、パリティビットを除く8ビツトがデータバスDB
に送出される。
テストモードで読み出される場合は、次のようにされる
。正しいパスワードがセットさ九ないがまたはテストモ
ードのためパスワードを入力しないことによって、デコ
ーダ12の出力はl(0”を保つ。これにより、ラッチ
回路11の出力Qは、電源投入時に110 Itとされ
た状態を保つ。従って、ゲートG8の一方の入力端子に
は信号“1”が供給される。読出し動作によって、EE
PROM5から読み出された最初の9ビツトのデータが
ラッチ回路15に取り込まれる。ラッチ回路15を介し
てパリティチェッカー16に供給されるデータのハイレ
ベル(1”)のビットの数は偶数なので、パリティチェ
ッカー16よりゲートG1の他方の入力端子に供給され
る信号は141 IIにされる。
従って、ゲートG工の出力端子からは1”レベルの信号
が出力される。この場合、不当なデータの読み出しが行
なわれないようにシステムをダウンされるように割込み
がかかるようにされる。なお、E E P ROM 5
には、カード所持者がカードを使用する際に使用する暗
証番号を書き込んでおいて、カードリーダーにカードが
セットされかつ外部から暗証番号が入力されてそれが内
部のEEPROM内の暗証番号と一致したときにEEP
ROMのデータの読み出しが可能になるように構成する
ことができる。
次に、テストモードでのデータのEEPROM5への書
込み及び読出しについて説明する。なお、テストモード
等で通常モード以外で書き込んだデータを通常モードで
読み出す場合は存在しないと考えられるので省略する。
テストモードでの書き込み及び読出しを行なうのは、例
えば、メーカーがユーザの依頼によって。
不良解析やテスティング等を行なう場合がある。
この場合、メーカーは、パワースイッチをオンして、ラ
ンチ回路11をリセットさせることによりテストモード
を設定し、EEPROM5へのデータの書き込み、読み
出しを行なえばよい。パスワードを入力しない場合、デ
コーダ12の出力はrr O+tレベルとされているの
で、パスワードを知る必要がない。テストモードにおい
ては、ランチ回路11からセレクタ14に“0”レベル
の制御信号が供給されて、パリティジェネレータ13の
書き込みデータのハイレベル(“’ 1 ” )のビッ
ト数を奇数にするためのパリティデータOddが選択さ
れ、ラッチ回路15に供給される。パリティジェネレー
タ13に供給される8ビツト構成のデータのすべてのビ
ットが110 ′1の場合、セレクタ14は、“1″レ
ベルとされたパリティジェネレータの出力であるパリテ
ィデータOddを選択し、これがラッチ回路15に供給
される。ラッチ回路15は、通常モードにおける場合と
同様に動作して、パリティデータ“1″を含んだ9ビツ
ト構成のデータを出力し、このデータがEEPROM5
に書き込まれる。
テストモードで、EEPROM5に書き込まれたデータ
をテストモードで読み出す際に、ラッチ回路15より出
力される9ビツト構成のデータはパリティチェッカー1
6によって、その“1″レベルのビット数が奇数と判定
される。この場合、パリティチェッカー16よりゲート
G□の入力端子に供給される信号は“0″にされ、ゲー
トG工の出力端子より出力される信号は11011にさ
れる。
そのため、不当なデータの読み出しを禁止するような割
込み信号は送出されない。従って、テストモードで書き
込まれたデータをテストモードで読み出す場合は何ら支
障がない。
上記した実施例では、テストモード、もしくはパスワー
ドによって使用者のみが設定可能な通常モードに応じ、
書き込みデータに異なるパリティ情報を与えるパリティ
・ジェネレータと、読出しデータに応じてパリティ情報
を出力するパリティチェッカーとを備え、上記モード情
報及びパリティチェッカーのパリティ情報に基づいて、
不当なデータの読み出しがされたような場合に、割込み
等の信号を出力させるようにする。これにより、メーカ
ーがパスワードを知ることなく不良解析やテスティング
が行なえるという効果が得られる。
さらに上記した実施例では、上記割込み等の信号を出力
させるようにすることにより、EEPRoM内のデータ
の機密保護が充分に行なえるという効果が得られる。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。
例えば、上記した実施例では、不当なデータの読み出し
が行なわれるような場合は、システムに割込みがかかる
ようにされているが、割込みがかかった場合、例えば警
報ブザーを鳴らして第三者に知らせるようにしてもよい
また、ラッチ回路11、デコーダ12等を省略し、ソフ
トウェアによって指定されたモードに対応する信号をイ
ンバータG2、セレクタ14に供給するようにしてもよ
い。
また、セレクタ14によって、通常モードの書込み時に
パリティデータ0dd(奇数パリティ)を選択し、他の
モードにおいてパリティデータEven (偶数パリテ
ィ)を選択するようにしてもよい。すなわち、ユーザの
みが知るパスワード等の手段によって正当に設定された
モードと、それ以外のモードとにおいて、データに付加
されるパリティが変更されればよい。この場合、ゲート
G0、インバータG2、ラッチ回路11等の構成を適宜
変更すればよい。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野であるEEP ROMを内
蔵する1チツプカード用マイコンに適用した場合につい
て説明したがそれに限定されるものではなく、EEPR
OMとマイクロコンピュータとが別チップに形成され同
一のモジュールに封止されたICカードのような半導体
装置、EEPROMからなる不揮発性半導体記憶装置、
さらには、EEPROMに限らずユーザにおいてプログ
ラム可能なROMに広く適用できる。
[発明の効果コ 本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば下記のとおりである
すなわち、FROMを有する半導体集積回路装置におけ
るPROM内のデータの機密保護が向上され、かつ、製
品品質の高信頼性が維持される。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明をE E P ROMを内蔵するカー
ド用マイコンに適用した場合の一実施例を示すブロック
図、 第2図は、第1図におけるテスト保護回路の説明図であ
る。 2・・・・CPU、3・・・・RAM、4・・・・RO
M、5・・・・EEPROM、6・・・・データ保護回
路、7・・・・入出力回路、8・・・・共通バス、11
・・・・ラッチ回路、12・・・・特殊回路、13・・
・・パリティジェネレータ、14・・・・セレクタ、1
5・・・・ラッチ回路、16・・・・パリティチェッカ
ー。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1. マイクロプロセッサ機能と、不揮発性メモリ機能
    とを有する半導体集積回路装置であって、書込みまたは
    読出しにおけるモードを設定するモード設定手段と、モ
    ードに応じて書き込みデータに奇数パリティまたは偶数
    パリティとされたパリティビットを付加して上記不揮発
    性メモリに書き込みを行なう回路と、書き込まれたデー
    タが書込み時のモードと異なるモードにおいて読み出さ
    れたか否かを、そのパリティビットの情報に基づいて判
    断する手段が設けられていることを特徴とする半導体集
    積回路装置。
JP61195370A 1986-08-22 1986-08-22 半導体集積回路装置 Pending JPS6352250A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61195370A JPS6352250A (ja) 1986-08-22 1986-08-22 半導体集積回路装置

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JP61195370A JPS6352250A (ja) 1986-08-22 1986-08-22 半導体集積回路装置

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JPS6352250A true JPS6352250A (ja) 1988-03-05

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ID=16340046

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JP61195370A Pending JPS6352250A (ja) 1986-08-22 1986-08-22 半導体集積回路装置

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JP (1) JPS6352250A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01293569A (ja) * 1988-05-20 1989-11-27 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01293569A (ja) * 1988-05-20 1989-11-27 Hitachi Ltd 半導体集積回路装置

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