JPS6334530B2 - - Google Patents
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- JPS6334530B2 JPS6334530B2 JP57074428A JP7442882A JPS6334530B2 JP S6334530 B2 JPS6334530 B2 JP S6334530B2 JP 57074428 A JP57074428 A JP 57074428A JP 7442882 A JP7442882 A JP 7442882A JP S6334530 B2 JPS6334530 B2 JP S6334530B2
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 9
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 5
- 230000002411 adverse Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000005611 electricity Effects 0.000 description 1
- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
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-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/095—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble
- G11B7/0956—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following specially adapted for discs, e.g. for compensation of eccentricity or wobble to compensate for tilt, skew, warp or inclination of the disc, i.e. maintain the optical axis at right angles to the disc
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- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は光学式デイスクプレーヤにおけるトラ
ツキング制御装置に関するものである。
ツキング制御装置に関するものである。
光学式デイスクプレーヤ（DADプレーヤ等）
は通常第１図に示す如く構成され、光学式ピツク
アツプ１、フオーカスサーボ回路２、ラジアルサ
ーボ回路３、スピンサーボ回路４、スピンモータ
５、デイスク６、デコーダ回路７、レーザ光量調
整回路８、送りサーボ回路９及びピツクアツプ送
り用モータ１０等を主たる構成要素としている。
は通常第１図に示す如く構成され、光学式ピツク
アツプ１、フオーカスサーボ回路２、ラジアルサ
ーボ回路３、スピンサーボ回路４、スピンモータ
５、デイスク６、デコーダ回路７、レーザ光量調
整回路８、送りサーボ回路９及びピツクアツプ送
り用モータ１０等を主たる構成要素としている。
そして、デイスク６に刻まれた1/1000ミリ単位
の微細な情報孔（ピツトと云う第２図のＰ）にピ
ツクアツプ１よりレーザー光を投射し、その反射
光に基いた信号電圧をフオーカスサーボ回路２で
処理してデイスク６に対するピツクアツプ１の相
対距離を一定に保持すると共に同じく上記信号電
圧をラジアルサーボ回路３で処理してピツクアツ
プ１の対物レンズ１５による光スポツトがピツト
列から離脱しないように制御（これをトラツキン
グサーボと云う）する構成と成つている。
の微細な情報孔（ピツトと云う第２図のＰ）にピ
ツクアツプ１よりレーザー光を投射し、その反射
光に基いた信号電圧をフオーカスサーボ回路２で
処理してデイスク６に対するピツクアツプ１の相
対距離を一定に保持すると共に同じく上記信号電
圧をラジアルサーボ回路３で処理してピツクアツ
プ１の対物レンズ１５による光スポツトがピツト
列から離脱しないように制御（これをトラツキン
グサーボと云う）する構成と成つている。
光学式のデイスクプレーヤではこのトラツキン
グサーボを如何に安定にかつ確実に行うかが重要
な課題であつて、その一つの方法として所謂プツ
シユ・プル法と呼ばれるものがある。
グサーボを如何に安定にかつ確実に行うかが重要
な課題であつて、その一つの方法として所謂プツ
シユ・プル法と呼ばれるものがある。
ところで、上記プレーヤにおけるピツクアツプ
１の構造は第２図に示すように半導体レーザー１
１より出力したレーザー光をレンズ１２で平行光
線にした後、光の偏向角により光路を切替えるビ
ームスプリツター１３を通して1/4λ板より成る
偏向板１４に送り、こゝで90゜偏向させ更に対物
レンズ１５で絞つて（ピツトＰの大きさ（1/1000
ミリ）程度に絞る）デイスク６のピツトＰに光ス
ポツトとして照射する。そして、このピツトＰで
反射したレーザー光を上記対物レンズ１５から偏
向板１４に与え、こゝで更に90゜偏向させた後上
記ビームスプリツタ１３で反射させレンズ１６を
通してデイテクター１７に供給して電気信号に変
換させるべく成つている。
１の構造は第２図に示すように半導体レーザー１
１より出力したレーザー光をレンズ１２で平行光
線にした後、光の偏向角により光路を切替えるビ
ームスプリツター１３を通して1/4λ板より成る
偏向板１４に送り、こゝで90゜偏向させ更に対物
レンズ１５で絞つて（ピツトＰの大きさ（1/1000
ミリ）程度に絞る）デイスク６のピツトＰに光ス
ポツトとして照射する。そして、このピツトＰで
反射したレーザー光を上記対物レンズ１５から偏
向板１４に与え、こゝで更に90゜偏向させた後上
記ビームスプリツタ１３で反射させレンズ１６を
通してデイテクター１７に供給して電気信号に変
換させるべく成つている。
殊に、上記デイテクター１７はレーザー光を受
光する面が面積の等しい４つの受光素子１８，１
９，２０，２１より成つていて、夫々の受光素子
に当る光量に比例した電気信号を検出する構成と
なつている。
光する面が面積の等しい４つの受光素子１８，１
９，２０，２１より成つていて、夫々の受光素子
に当る光量に比例した電気信号を検出する構成と
なつている。
第３図はデイスク６上のピツトＰとデイテクタ
ー１７における光スポツトの関係を示す図で、図
中P′はデイスク上のピツトＰの状況をデイテクタ
ー１７上に重ね書きしたものであり、又、２２は
デイテクター１７にレンズ１６より投影された光
スポツトの形状を示している。
ー１７における光スポツトの関係を示す図で、図
中P′はデイスク上のピツトＰの状況をデイテクタ
ー１７上に重ね書きしたものであり、又、２２は
デイテクター１７にレンズ１６より投影された光
スポツトの形状を示している。
こゝで、この第３図の要領に従つて、ピツトＰ
の移動に伴う光スポツトの形状２２の変化を説明
すると、ピツクアツプ１が正しくピツト列をトラ
ツキングしている場合には第４図（デイスク６が
正常に傾きなく装着されている場合のピツトＰと
光スポツトの形状２２との関係を示している）の
ｂ列のようにピツトＰの移動に伴つて光スポツト
の形状２２が変化してもデイテクター１７の受光
素子１８，１９と２０，２１における光スポツト
の形状２２は対称性を持つており、受光素子１
８，１９と２０，２１の出力電圧の差成分ERは
次式 ER＝（E18＋E19）−（E20＋E21） よりゼロとなる。
の移動に伴う光スポツトの形状２２の変化を説明
すると、ピツクアツプ１が正しくピツト列をトラ
ツキングしている場合には第４図（デイスク６が
正常に傾きなく装着されている場合のピツトＰと
光スポツトの形状２２との関係を示している）の
ｂ列のようにピツトＰの移動に伴つて光スポツト
の形状２２が変化してもデイテクター１７の受光
素子１８，１９と２０，２１における光スポツト
の形状２２は対称性を持つており、受光素子１
８，１９と２０，２１の出力電圧の差成分ERは
次式 ER＝（E18＋E19）−（E20＋E21） よりゼロとなる。
又、ピツクアツプ１の対物レンズ１５からの光
スポツトが、ピツト列よりは第４図のｃ列のよう
にピツトＰの位置がデイテクター１７の中心より
右側に位置した場合には、ピツトＰの入り込む程
度にもよるが平均的には差成分ERは正の電圧を
示し、又、対物レンズ１５からの光スポツトが上
記とは逆方向にはずれ第４図のａ列のようにピツ
トＰの位置がデイテクター１７の中心より左側に
位置した場合にはERは負の電圧を示す。
スポツトが、ピツト列よりは第４図のｃ列のよう
にピツトＰの位置がデイテクター１７の中心より
右側に位置した場合には、ピツトＰの入り込む程
度にもよるが平均的には差成分ERは正の電圧を
示し、又、対物レンズ１５からの光スポツトが上
記とは逆方向にはずれ第４図のａ列のようにピツ
トＰの位置がデイテクター１７の中心より左側に
位置した場合にはERは負の電圧を示す。
上記したプツシユ・プル法は上述の現象を利用
したもので、具体的には第５図に示すようにデイ
テクター１７の受光素子１８，１９の出力を抵抗
を介して差動アンプ２４の（＋）極に受光素子２
０，２１の出力を抵抗を介して差動アンプ２４の
（−）極に夫々接続して両者の差成分ERを検出
し、斯る差成分ERを抵抗２４、コンデンサ２５
から成るフイルターを通してトラツキングサーボ
出力として出力端子２７より出力する構成と成つ
ている。
したもので、具体的には第５図に示すようにデイ
テクター１７の受光素子１８，１９の出力を抵抗
を介して差動アンプ２４の（＋）極に受光素子２
０，２１の出力を抵抗を介して差動アンプ２４の
（−）極に夫々接続して両者の差成分ERを検出
し、斯る差成分ERを抵抗２４、コンデンサ２５
から成るフイルターを通してトラツキングサーボ
出力として出力端子２７より出力する構成と成つ
ている。
そして、この出力端子２７より出力した上記差
成分ERで第１図のアクチユエータ２３を動作さ
せることにより対物レンズ１５を移動させ、ピツ
ト列（トラツク上）に正しく光スポツトを当てる
ようにしている。
成分ERで第１図のアクチユエータ２３を動作さ
せることにより対物レンズ１５を移動させ、ピツ
ト列（トラツク上）に正しく光スポツトを当てる
ようにしている。
この方法は一般的に行なわれている方法である
が、一つの大きな欠点がある。すなわち、第４図
に示したピツトとスポツトの形状の関係は、第１
図に示すデイスク６がレーザー光の光軸２に対し
て正しく垂直である場合に限られる。デイスクが
少し傾くと、前記の関係は影響を受ける。その程
度は、90゜±0.5゜の傾きによつてもかなり顕著な影
響があらわれることが実験で確かめられている。
が、一つの大きな欠点がある。すなわち、第４図
に示したピツトとスポツトの形状の関係は、第１
図に示すデイスク６がレーザー光の光軸２に対し
て正しく垂直である場合に限られる。デイスクが
少し傾くと、前記の関係は影響を受ける。その程
度は、90゜±0.5゜の傾きによつてもかなり顕著な影
響があらわれることが実験で確かめられている。
第６図はデイスクが0.5°程度傾いたときの状況
を第４図に対比して表わしたものである。この第
６図からわかるようにデイスク６が傾いたとき
は、正常な状態（ｂの状態でピツト上に光スポツ
トが照射されている状態）でも上記差成分ERは
ゼロにならず、出力端子２７より正の電圧を検出
する。この電圧でサーボをかけると、正常にピツ
ト上に光スポツトが照射されているにもかかわら
ず見掛け上光スポツトがピツト列より左にずれて
いる様な電圧が発生されている為、サーボラジア
ル回路３の作用で、対物レンズ１５を右側に移動
させ、結果的にはサーボが脱れることになる。
を第４図に対比して表わしたものである。この第
６図からわかるようにデイスク６が傾いたとき
は、正常な状態（ｂの状態でピツト上に光スポツ
トが照射されている状態）でも上記差成分ERは
ゼロにならず、出力端子２７より正の電圧を検出
する。この電圧でサーボをかけると、正常にピツ
ト上に光スポツトが照射されているにもかかわら
ず見掛け上光スポツトがピツト列より左にずれて
いる様な電圧が発生されている為、サーボラジア
ル回路３の作用で、対物レンズ１５を右側に移動
させ、結果的にはサーボが脱れることになる。
このような現象が起れば正常なデイスク演奏は
期待できない。
期待できない。
本発明はこのような従来装置の欠点を解消せん
とするものであり、以下、その一実施例を上記第
１図乃至第４図及び第６図を参照しつゝ添附図面
に従つて詳細に説明する。
とするものであり、以下、その一実施例を上記第
１図乃至第４図及び第６図を参照しつゝ添附図面
に従つて詳細に説明する。
第７図は本発明に係るトラツキング制御装置の
一実施例の電気回路図であつて、図中従来と同一
部分は同一符号で示している。
一実施例の電気回路図であつて、図中従来と同一
部分は同一符号で示している。
従つて、符号１７で示すものはデイテクターで
あり、４つの受光素子１８，１９及び２０，２１
を有している。
あり、４つの受光素子１８，１９及び２０，２１
を有している。
これら受光素子の内、１８及び１９は共に差動
アンプ２８とアンプ２９の（＋）極に、又２０及
び２１は差動アンプ２８の（−）極とアンプ２９
の（＋）極に夫々接続されている。
アンプ２８とアンプ２９の（＋）極に、又２０及
び２１は差動アンプ２８の（−）極とアンプ２９
の（＋）極に夫々接続されている。
従つて、上記差動アンプ２８の出力ER及びア
ンプ２９の出力ESは、 ER＝（E18＋E19）−（E20＋E21） ES＝E18＋E19＋E20＋E21 となる。
ンプ２９の出力ESは、 ER＝（E18＋E19）−（E20＋E21） ES＝E18＋E19＋E20＋E21 となる。
その内、出力ERは上記従来例の説明で示した
差成分であり、又、出力ESはデイテクター１７上
に第２図におけるレンズ１６より照射されるレー
ザー光の光スポツトの光量を示すものである。上
記の第４図、第６図より明らかな如く、対物レン
ズ１５からの光スポツトの位置にピツトのないと
き、出力ESは最大で、レーザー光の照射位置にピ
ツトが完全に入りこんだ状態では出力ESは最小と
なる。すなわち出力ESにより対物レンズからの光
スポツトのピツトへの入りこみの程度を判断する
ことができる。
差成分であり、又、出力ESはデイテクター１７上
に第２図におけるレンズ１６より照射されるレー
ザー光の光スポツトの光量を示すものである。上
記の第４図、第６図より明らかな如く、対物レン
ズ１５からの光スポツトの位置にピツトのないと
き、出力ESは最大で、レーザー光の照射位置にピ
ツトが完全に入りこんだ状態では出力ESは最小と
なる。すなわち出力ESにより対物レンズからの光
スポツトのピツトへの入りこみの程度を判断する
ことができる。
３０は微分器にして、アンプ２９の出力ESの正
負の瞬間を取らえ、微分出力を出す。従つて、こ
の微分器３０による上記出力ESの微分により正又
は負の頂点はゼロを横切る電圧に変換される。
負の瞬間を取らえ、微分出力を出す。従つて、こ
の微分器３０による上記出力ESの微分により正又
は負の頂点はゼロを横切る電圧に変換される。
３１はコンパレータにして、上記微分器３０の
出力に基いた方形波を出力する。
出力に基いた方形波を出力する。
３２及び３３はワンシヨツトマルチバイブレー
タにして、上記コンパレータ３１の出力する方形
波の立上り又は立下りでパルスを発生するもので
あり、ワンシヨツトマルチバイブレータ３２は上
記出力ESの正の頂点で１発パルスESPを、又、ワ
ンシヨツトマルチバイブレータ３３は出力ESの負
の頂点で１発パルスERPを夫々出力する。
タにして、上記コンパレータ３１の出力する方形
波の立上り又は立下りでパルスを発生するもので
あり、ワンシヨツトマルチバイブレータ３２は上
記出力ESの正の頂点で１発パルスESPを、又、ワ
ンシヨツトマルチバイブレータ３３は出力ESの負
の頂点で１発パルスERPを夫々出力する。
３４及び３５は夫々上記ワンシヨツトマルチバ
イブレータ３２，３３に対応しているサンプルホ
ールド回路にして、上記ワンシヨツトマルチバイ
ブレータ３２，３３より出力されるパルスにより
制御され差動アンプ２８の出力ERを出力ESの正
の頂点又は負の頂点のタイミングでホールドした
電圧が得られるべく成つている。
イブレータ３２，３３に対応しているサンプルホ
ールド回路にして、上記ワンシヨツトマルチバイ
ブレータ３２，３３より出力されるパルスにより
制御され差動アンプ２８の出力ERを出力ESの正
の頂点又は負の頂点のタイミングでホールドした
電圧が得られるべく成つている。
３６及び３７は上記サンプルホールド回路３
４，３５より得られる出力の高域をカツトするフ
イルターにして、夫々の出力はET及びESと成つ
ている。
４，３５より得られる出力の高域をカツトするフ
イルターにして、夫々の出力はET及びESと成つ
ている。
こゝで、出力ETは上記第４図又は第６図にお
ける１のタイミング電圧を取らえたものである。
即ち、上記第１図に示すデイスク６上のピツトＰ
の無いところをピツクアツプ１の対物レンズ１５
からの光スポツトがトレースしているときの出力
で、ピツトの無い場合の電圧であるから、対物レ
ンズ１５からの光スポツトがピツト列から離れて
いるか否か、つまり、正しくトラツキングをして
いるか否かには無関係な信号であつて、デイスク
６の傾きにのみ係わる電圧である。
ける１のタイミング電圧を取らえたものである。
即ち、上記第１図に示すデイスク６上のピツトＰ
の無いところをピツクアツプ１の対物レンズ１５
からの光スポツトがトレースしているときの出力
で、ピツトの無い場合の電圧であるから、対物レ
ンズ１５からの光スポツトがピツト列から離れて
いるか否か、つまり、正しくトラツキングをして
いるか否かには無関係な信号であつて、デイスク
６の傾きにのみ係わる電圧である。
従つて、デイスク６の傾きが大きくなれば出力
ETは正又は負の方向に大きくなる。
ETは正又は負の方向に大きくなる。
又、他方、上記出力EXは上記第４図又は第６
図における５のタイミングの電圧を取らえたもの
である。即ち、対物レンズ１５からの光スポツト
がピツトＰの中に完全に入り込んだときの出力
で、この出力EXには当然トラツキングの状態を
示す情報が含まれており、而も、他のタイミング
（第４図又は第６図の１乃至４のタイミング）の
ときよりもトラツキングの外れに対してより顕著
な反応を示す。
図における５のタイミングの電圧を取らえたもの
である。即ち、対物レンズ１５からの光スポツト
がピツトＰの中に完全に入り込んだときの出力
で、この出力EXには当然トラツキングの状態を
示す情報が含まれており、而も、他のタイミング
（第４図又は第６図の１乃至４のタイミング）の
ときよりもトラツキングの外れに対してより顕著
な反応を示す。
尚、この５のタイミングで取らえたところの出
力EXは１乃至４のタイミングで取らえた電圧よ
りデイスク６の傾きによる悪影響が現われ難いこ
とは第６図より明らかであります。
力EXは１乃至４のタイミングで取らえた電圧よ
りデイスク６の傾きによる悪影響が現われ難いこ
とは第６図より明らかであります。
３９は差動アンプにして、その（−）極に可変
抵抗から成る利得調整器３８を介して上記出力
ETを入力すると共に（＋）極に上記出力EXを入
力するべく成つている。
抵抗から成る利得調整器３８を介して上記出力
ETを入力すると共に（＋）極に上記出力EXを入
力するべく成つている。
従つて、この差動アンプ３９の出力端子４０よ
り出る出力E0は E0＝EX−α・ET 但し、EXはトラツキング信号成分α・ETはデ
イスクの傾き補正成分である。
り出る出力E0は E0＝EX−α・ET 但し、EXはトラツキング信号成分α・ETはデ
イスクの傾き補正成分である。
となり、この出力E0が上記第１図のラジアルサ
ーボ回路３のトラツキングサーボ出力となり、ア
クチユエータ２３をして対物レンズ１５を作動さ
せる。
ーボ回路３のトラツキングサーボ出力となり、ア
クチユエータ２３をして対物レンズ１５を作動さ
せる。
要するに、上記差動アンプ３９において上記出
力ETとEXを上記式に基いて処理することにより、
出力EXを出力ETで補正してデイスク６の傾きの
影響を考慮した理想的なトラツキングサーボ電圧
を得ることができると言うことである。
力ETとEXを上記式に基いて処理することにより、
出力EXを出力ETで補正してデイスク６の傾きの
影響を考慮した理想的なトラツキングサーボ電圧
を得ることができると言うことである。
上記出力EXは上記のように第４図又は第６図
の５のタイミングのときのトラツキング信号成分
でデイスク６の傾きの影響を受け難いトラツキン
グサーボ電圧であるが、デイスクの傾きが大きく
なると誤差信号の混入を免がれず、サーボ誤動作
の原因となるが、上記差動アンプ３９による補正
動作によつてその惧れは無くなる。
の５のタイミングのときのトラツキング信号成分
でデイスク６の傾きの影響を受け難いトラツキン
グサーボ電圧であるが、デイスクの傾きが大きく
なると誤差信号の混入を免がれず、サーボ誤動作
の原因となるが、上記差動アンプ３９による補正
動作によつてその惧れは無くなる。
尚、上記利得調整器３８を操作して上記式にお
けるαを調整することにより確実な上記補正成分
α・ETが得られデイスクの傾きによる影響をよ
り確実にキヤンセルできる。
けるαを調整することにより確実な上記補正成分
α・ETが得られデイスクの傾きによる影響をよ
り確実にキヤンセルできる。
本発明は叙上のように構成されるもので、上記
説明から明らかな様に、従来装置では第４図又は
第６図の１乃至５の全タイミングの平均的な電圧
ERによりトラツキングサーボを掛けいたのに対
し例えば同図１のタイミングのような特定のタイ
ミングの電圧EXのみを基礎として効果的なサー
ボ電圧を得る事を第１の特徴とし、又、第４図、
第６図に示す５のタイミング（デイスクに照射さ
れる光スポツトがピツトの無い部分に対応してい
るタイミング）で取らえた出力ETを以つて上記
出力EXを補正することにより、デイスクの傾き
による影響を含まないトラツキングサーボ出力
E0を得ることを第２の特徴としている。
説明から明らかな様に、従来装置では第４図又は
第６図の１乃至５の全タイミングの平均的な電圧
ERによりトラツキングサーボを掛けいたのに対
し例えば同図１のタイミングのような特定のタイ
ミングの電圧EXのみを基礎として効果的なサー
ボ電圧を得る事を第１の特徴とし、又、第４図、
第６図に示す５のタイミング（デイスクに照射さ
れる光スポツトがピツトの無い部分に対応してい
るタイミング）で取らえた出力ETを以つて上記
出力EXを補正することにより、デイスクの傾き
による影響を含まないトラツキングサーボ出力
E0を得ることを第２の特徴としている。
本発明は叙上のように構成されるものであるか
ら、デイスクの傾きによる影響を解消したトラツ
キングサーボ電圧を得ることができる優れた発明
である。
ら、デイスクの傾きによる影響を解消したトラツ
キングサーボ電圧を得ることができる優れた発明
である。
第１図は一般的な光学式デイスクプレーヤの要
部を示す構成概略図、第２図は同上プレーヤにお
けるピツクアツプの構成説明図、第３図は同上プ
レーヤにおけるデイテクター上の光スポツトとピ
ツトの関係を説明する図、第４図はデイスクに傾
きが無い場合におけるデイテクター上の光スポツ
トとピツト関係をフローチヤート的に示した図
で、ａ及びｃはピツクアツプからの光スポツトが
ピツト列（トラツク）より脱れた状態を示し、ｂ
は一致している状態を示している。第５図は従来
のトラツキング制御装置におけるトラツキングサ
ーボ電圧出力回路を示す電気回路図、第６図はデ
イスクに傾きが有る場合におけるデイテクター上
の光スポツトとピツト関係をフローチヤート的に
示した図でａ及びｃはピツクアツプからの光スポ
ツトがピツト列より脱れた状態を示し、ｂは一致
している状態を示している。第７図は本発明のト
ラツキング制御装置におけるトラツキングサーボ
電圧出力回路を示す電気回路図である。 ６：デイスク、１７：デイテクター、１８乃至
２１：受光素子、２８，２９：差動アンプ、３
４，３５：サンプルホールド回路、３９：差動ア
ンプ。
部を示す構成概略図、第２図は同上プレーヤにお
けるピツクアツプの構成説明図、第３図は同上プ
レーヤにおけるデイテクター上の光スポツトとピ
ツトの関係を説明する図、第４図はデイスクに傾
きが無い場合におけるデイテクター上の光スポツ
トとピツト関係をフローチヤート的に示した図
で、ａ及びｃはピツクアツプからの光スポツトが
ピツト列（トラツク）より脱れた状態を示し、ｂ
は一致している状態を示している。第５図は従来
のトラツキング制御装置におけるトラツキングサ
ーボ電圧出力回路を示す電気回路図、第６図はデ
イスクに傾きが有る場合におけるデイテクター上
の光スポツトとピツト関係をフローチヤート的に
示した図でａ及びｃはピツクアツプからの光スポ
ツトがピツト列より脱れた状態を示し、ｂは一致
している状態を示している。第７図は本発明のト
ラツキング制御装置におけるトラツキングサーボ
電圧出力回路を示す電気回路図である。 ６：デイスク、１７：デイテクター、１８乃至
２１：受光素子、２８，２９：差動アンプ、３
４，３５：サンプルホールド回路、３９：差動ア
ンプ。
Claims (1)
- １ デイスクからの反射光を複数の受光素子から
成るデイテクターで受光して電気信号に変換し、
この電気信号に基いてトラツキングサーボ電圧を
得るものにおいて、上記デイテクターの受光素子
の出力する総和電圧を出力する和電圧出力手段
と、上記デイテクターの受光素子中の第１のグル
ープの和出力と第２のグループの和出力の差電圧
を出力する差電圧出力手段と、上記総和電圧の正
電位の適宜タイミングで上記差電圧をサンプリン
グしデイスクの傾きに係わる電圧を得る手段と、
上記総和電圧の負電位の適宜タイミングで上記差
電圧をサンプリングしトラツキングに係わる電圧
を得る手段と、このトラツキングに係わる電圧を
上記デイスクの傾きに係わる電圧で補正しトラツ
キングサーボ電圧を得る手段とを有する光学式デ
イスクプレーヤにおけるトラツキング制御装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7442882A JPS58194146A (ja) | 1982-04-30 | 1982-04-30 | 光学式デイスクプレ−ヤにおけるトラツキング制御装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7442882A JPS58194146A (ja) | 1982-04-30 | 1982-04-30 | 光学式デイスクプレ−ヤにおけるトラツキング制御装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58194146A JPS58194146A (ja) | 1983-11-12 |
| JPS6334530B2 true JPS6334530B2 (ja) | 1988-07-11 |
Family
ID=13546925
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7442882A Granted JPS58194146A (ja) | 1982-04-30 | 1982-04-30 | 光学式デイスクプレ−ヤにおけるトラツキング制御装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58194146A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5919250A (ja) * | 1982-07-21 | 1984-01-31 | Hitachi Ltd | 情報の記録再生装置 |
| JPH09270137A (ja) * | 1996-04-01 | 1997-10-14 | Nec Corp | 光ディスク装置のレンズ位置検出装置 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57164448A (en) * | 1981-03-31 | 1982-10-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Position detecting device |
| JPS57199903A (en) * | 1981-06-03 | 1982-12-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Position detector |
-
1982
- 1982-04-30 JP JP7442882A patent/JPS58194146A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS57164448A (en) * | 1981-03-31 | 1982-10-09 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Position detecting device |
| JPS57199903A (en) * | 1981-06-03 | 1982-12-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | Position detector |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS58194146A (ja) | 1983-11-12 |
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