JPS633268A - 論理アナライザのプロ−ブの入力回路とプロ−ブおよび論理アナライザ - Google Patents

論理アナライザのプロ−ブの入力回路とプロ−ブおよび論理アナライザ

Info

Publication number
JPS633268A
JPS633268A JP62138322A JP13832287A JPS633268A JP S633268 A JPS633268 A JP S633268A JP 62138322 A JP62138322 A JP 62138322A JP 13832287 A JP13832287 A JP 13832287A JP S633268 A JPS633268 A JP S633268A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
input
signal
probe
circuit
input circuit
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62138322A
Other languages
English (en)
Inventor
ピエール−アンリ・ブティニィ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Koninklijke Philips NV
Original Assignee
Philips Gloeilampenfabrieken NV
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Philips Gloeilampenfabrieken NV filed Critical Philips Gloeilampenfabrieken NV
Publication of JPS633268A publication Critical patent/JPS633268A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F1/00Details of amplifiers with only discharge tubes, only semiconductor devices or only unspecified devices as amplifying elements
    • H03F1/30Modifications of amplifiers to reduce influence of variations of temperature or supply voltage or other physical parameters
    • H03F1/303Modifications of amplifiers to reduce influence of variations of temperature or supply voltage or other physical parameters using a switching device
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06766Input circuits therefor
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3177Testing of logic operation, e.g. by logic analysers
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/25Testing of logic operation, e.g. by logic analysers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Measurement Of Current Or Voltage (AREA)
  • Amplifiers (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は高周波における論理信号の伝送に対する論理ア
ナライザ(!ogic analyser)のプローブ
の入力回路に関連しており、これは入力端子と出力端子
の間に、高入力インピータンスと1より小さい増幅度を
有する高周波増幅器を具え、この増幅器は出力端子とア
ースの間に低シンピーダンスで出力信号を供給している
さらにそれは論理プローブ(logic probe)
とそのような入力回路を備える論理アナライザにも関連
している。
この種の回路は米国特許第4.498.058号から知
られており、これはオンロスコープのプローブの形成を
意図している低入力容量を有する増幅器を開示している
。このプローブは負荷インピーダンス50Ωにおいて±
IOVの電圧ダイナミックレンジで1ナノ秒オーダの立
上り時間を有する電気信号を分析するのに用いられてい
る。高入力インピーダンス(5!、lΩ)と低入力容f
f1(0,5PF)を得るために、入力トランジスタは
電界効果トランジスタである。
そのような入力回路は固定減衰器と低インピーダンス(
50Ω)同軸接続を伴なう高入力インピーダンスを有す
る高周波増幅器に、溝成上分解できる。
そのような回路は、そのグイナミンクレンジが例えばT
TL論理回路に対して5v、あるいはECL論理回路に
対して0.8vであるように非常に異なっている標準化
された論理信号を分析するのに余り適していない固定減
衰係数を有している。他方、これらの論理信号、特にε
CL信号は、直流成分を有し、そして従前の技術による
回路の場合には、そのようなく低周波をまた有する)直
流成分はそのような回路によって伝送されている。しば
しばもっと高い、直流成分上に重畳された小振幅を有す
る論理信号の検出は、検出に対する困難性をひき起し、
これは誤の原因となっている。これらの低周波/直流が
安定でなく、かつ変動、特に温度の変動を受けると言う
事実によってこの問題はもっと重大になる。
従って本発明の目的は、短い立上り時間を降下時間を有
し、かつさまざまな振幅のダイナミンクレンジに対して
制御できるかまたはプログラムされる論理アナライサ°
1言号の伝送を許容する入力回路を提供することである
本発明の池の目的は、直流成分上に重畳された論理信号
の検出の精度が増大されるように論理信号の直流成分を
除くことである。
他の目的は、所与のダイナミックレンジに対して、全偏
倚(overall excursion) に存在す
る検出しきい1直が正確に決定でき、従って論理信号の
立上り時間と降下時間に対する表示がそれから導けると
言うことである。
従って、冒頭の記事で規定された本発明は、入力回路が
、 回路の入力端子と増幅器の入力回路との間に配列された
容量と、 入力端子と出力端子のこれら2つの端子に生起する各信
号の低周波/直流成分と、導入素子(injectio
n element)を用いて増幅器の入力端子におけ
る偏差を補償する目的の補償信号を供給する信号の低周
波/直流成分との間の偏差を比較するところの、入力端
子と出力端子の間に並列な補1貫回路、 を具え、 ごの補1賞回路は直置成分を捕[宜するために所与のオ
フセットを受ける直流信号によって制御された入力を有
すること、 を特徴としている。
論理入力信号の正確な分析は入力容量が非常に低い値を
持たなくてはならぬように高入力インピーダンスを有す
る回路によってのみ実現することができる。IGH2の
近傍で必要な精度を保証するために、この値はIPF程
度の籟であり、これは分析すべき論理信号の最大限を表
わしている。これらの周波数に対して、サンプリングは
2G11□近くで実行されている。
入力信号の立上り時間と下降時間を決定するために、ア
ナログ対ディジタル変換は2ビット以上で起る。これは
GaAs比較器によって実現できる。
通過帯域IGl+2を有する入力回路は約300Psに
等しいかあるいはそれより少ない立上り時間を示し、こ
れは接続ケーブルの伝送遅延の問題を生起しよう。この
目的で、本発明は多重ケーブルにおける伝ばん分散を除
ける単一ケーブルに類似な1つの接続を15号毎に利用
して4)ろ。アナログ対ディジタル変換が論理アナライ
ザそれ自体で実行されている。
これはさらにプローブの容量が接続ケーブルの数より減
少によって減らせると言う利点を持っている。
各高周波増幅器の入力に配列された容量は入力信号の高
周波成分(最大約lG112)を通過させる。
補償回路は入力信号の低周波/直流成分を入力端子で直
接溝いている。同様に、補償回路は出力端子に接続され
、かつまた出力端子でこの信号の低周波/@直流成分導
いている。補償回路はこれらのタイプの成分を比較し、
かつ補償信号を発生し、これはこれら2つのタイプの成
分間の偏差ができる限り小さいことを保証するように高
周波増幅器の入力端子に導入される。さらに補償回路は
直流オフセット信号が印加てきる入力を有し、それは分
析すべき論理信号の直流成分を補償することを意図して
いる。
このように負帰還ループが得られ、これはその補訂出力
とその入力のl −)を通して高周波増幅器および補償
回路によって形成されている。
この制御ループは安定度を制御し、かつ高周波増幅器の
すべての変動、非線形性および安定度を調節する。直流
安定度は1mV程度である。
本発明はいろいろなダイナミックレンジを有する論理信
号の分析を許容することをその目的としている。この目
的で、高周波増幅器の出力において、プログラマブルな
態様で減衰制御信号によって制(卸できる減衰器が配列
されている。この減衰器は増幅器の出力と出力端子の間
の抵抗器に並列に配列された電界効果トランジスタ(F
ET)によって構成されている。例えばG a A S
からなるこのεETのゲートは減衰制御信号によって制
御され、これはj)られた補償が同じ程度に減衰される
ように補償回路に同時に作用する。このようにして、5
vのダイナミックレンジを有する論理入力信号は0.5
vに減衰でき、これは「エミッタフォロア」回路によっ
て供給されたインピーダンス50Ωの出力電流を実質的
に減少することを許容している。
この入力回路は、アナログ対ディジタル変換が実行され
るように例えば論理アナライザそれ自身に首かれた比較
器に50Ωの同軸接続を通して接続されている。この入
力回路によって、比較器は所与のしきい値に高い精度で
論理することができる。
このことはまず論理アナライザに非常に高い検出信頼性
を保証することを許容し、かつさらに例えば最大偏倚の
20%、50%、80%に存在するしきい値に対するト
リガ時点の検出、ふよび単一接続を用いて論理信号の立
上り時間と降下時間の決定を許容する。
低周波/直流成分を処理する補償回路は演算増幅器によ
って構成されている。
入力回路はプローブを形成するために使用されている。
後者(プローブ)は容量と高周波増幅器および導入素子
によって構成された非常に小さい寸法の可動部分を具え
ている。それはまた可変減衰段を具えることができる。
この可動部分は50Ωの同軸接続を通してプローブの固
定部分に接続され、それは論理アナライザ中に配列でき
るか、あるいは論理アナライザを収容するハウジングを
構成できるかのいずれかである。
このプローブは信号をアナログ形式で送り、アナログ対
ディジタル変換は1ビツトあるいは2ビツト以上でアナ
ライザ自身で実行される。このことはプローブの容積の
減少を許容し、従って接続線の数はアナログ対ディジタ
ル変換が信号の導かれている領域で実行される構成に対
して可成り減少されている。これはその設計が多重動作
による論理アナライザの問題に適用され、従前の技術に
対して簡単化された構造の入力回路である。従ってこの
論理プローブは価格を減少している。
本発明を容易に実行するために、添付図面を参照し、実
例によってさらに充分説明する。
第1図は従前の技術(米国特許第4.498.058号
)による入力回路の回路図を示している。高入力インピ
ーダンスを有する高周波増幅器10が入力端子2と出力
端子4の間で固定減衰器12に直列に配列されている。
出力端子は一般に50Ωである低い値の抵抗器14を通
してアースに接続されている。そのような入力回路の全
増幅度は固定されており、かつ、例えば増幅度0.1で
は、TTL信号に対して0.5vの信号出力、ECL信
号に対しては0.8Vの信号出力となる。しかし、低周
波/直流成分がこの入力回路を通過し、かつどんなオフ
セット修正(例えば)温度と共に変り得る直流成分を抑
制することは不可能である。正確なしきい値はそのよう
な回路で直接決定できず、従って立上り時間および降下
時間はアナログ対ディジタル変換のあとで決定できない
第2図は本発明による入力回路7の電気回路図を示して
いる。入力端子2と出力端子4の間に容量20と高周波
増幅器22が直列に配列されている。
低周1/直流成分の補償回路24が入力端子2と出力端
子に生起する低周1直流成分を導いている。
2つの端子の信号の間の偏差をキャンセルするために回
路24は出力23に補償信号を発生する。この補償信号
は導入朱子27を通して高周波増幅器22の入力に導入
されている。補1賞回路24は入力信号の直流成分を補
償するために決められたところの、端子6から発生され
る直流オフセット信号を入力25で受信する。出力端子
4は例えば50Ωである低いインピーダンスの抵抗器2
6に接続されている。
プローブの可動部分21は容量20と、増幅器22およ
び素子27を具えている。
第3図は第2図に示されたものに類似の入力回路の電気
回路図を示し、ここで同じ素子には同じ参照記号が与え
られているが、しかしこれは分析すべき信号のプログラ
ミングあるいは適用と、高周波増幅器によって供給され
た電流を制限する減衰器(これは出力ダイナミックレン
ジの制限を許容する)を具えている。
この目的で、抵抗器30と電界効果トランジスタ31の
並列結合が増幅器22と出力端子4との間に配列されて
いる。このトランジスタのゲート32は制御され、かつ
このトランジスタは補償回路24の端子34にまた導か
れる端子5から発生する減衰信号によって導通にされた
り、あるいは非導通にされる。高周波通路と直流電流に
対する低周波通路を同時に減衰することもまた可能であ
る。
プローブの可動部分21は上記の素子のほかに可変減衰
段を具えている。
第4図は補償回路24の電気回路図を非常に詳しく示し
ている。増幅度−1を有する反転増幅器40が減衰器3
0.31の出力、および抵抗器41と断続器43の接合
点に接続されている。断続器43の他端は抵抗器42に
接続され、これはまた点Aで抵抗器41と接続されてい
る。このように断続器の位置に依存して、等価抵抗器は
高い(直の抵抗器41<例えば5にΩ)に等しいか、あ
るいは低い値の抵抗器42と並列になった抵抗器41の
値(例えば1にΩ)に等しい。
点Aは演算増幅器44の入力に接続され、その別の入力
はアースに接続されている。増幅器44の出力は反転増
幅器45の入力に接続され、これは補償信号を素子27
を通して高周波増幅器22の入力に導入する。この素子
27は抵抗器であってもよいが、電流補償を行なうため
にはトランジスタからで゛きていることが好ましい。補
償回路24は値Rを有する抵抗器46を用いて入力信号
を導いている。同様に、端子6から発生するオフセット
信号は抵抗器47を通して点Aに印加される。
低周波/直流成分に対する負帰還ループは、高周波増幅
器の入力端子、すなわち入力容量のあとで、信号の再導
入のために備えられている。補償のために要求されるダ
イナミックレンジは入力信”号のダイナミックレンジに
等しい。このループの入力インピーダンスの実数部は低
周波における1直Rから、Zc〈もしZcが高周波増幅
器22の入力インピーダンスZ8の抵抗部分ならンサ並
列な値Rまで変化する。
ZPが点2において測定されたプローブの入力インピー
ダンスを表わし、 Zeが高周波増幅器の入力インピーダンスを表わし、 Zsが論理信号源の出力インピーダンスを表わし、かつ Rが抵抗器46の値を表わし、 Gが出力4と入力2における信号の間で得られた増幅度
である、 とした場合、 低周波と高周波の間の増幅度Gの増幅度変動DGは によって得られ、プローブの入力インピーダンスの変動
が Z、   R+2e なら、電源インピーダンスの関数として増幅度の変動に
よって次式が得られる。
これらの相対変動はトランジスタ31と抵抗器30によ
って構成された減衰器の状態にかかわらず同じである。
rl = IOkΩ、Z、−IKΩおよびZEが100
にΩより高いところの好ましい実施例によると、増幅度
の最大変化は1%である。
通常の設計の高周波増幅器は共通のコレクタを持つ2つ
のトランジスタを有し、かつその出力電流を負荷インピ
ーダンス100 Ω(2X50Ω)ニ供給るす出力段を
具えている。直流および低周波に対する負帰還ループの
制限された通過帯域による安定度問題を避けるためにこ
の増幅器の低域遮断周波数は約200 Hzである。抵
抗器26と同じ値を有する抵抗器49(例えば5oΩ)
は、電界効果トランジスタ31が導通している場合に1
00 Ωの負荷インピーダンスを形成するために高周波
増幅器22の出力に配列されている。その抵抗器は約6
Ω以下の値を持ち、その寄生素子は非常に小さい。この
場合、抵抗器30は例えば400 Ωである。このよう
にしてダイナミックレンジ5vを有するTTL (g号
と減衰率10によって、0.5vのダイナミックレンジ
が出力で得られる。同様に、ダイナミックレンジ1vと
減衰率2を有するIEcL信号によって0.5Vのダイ
ナミックレンジがその出力で得られている。
第5図は本発明によるいくつかの入力回路を具える論理
プローブの電気回路図を示し、その1っのみが図面に示
されている。プローブの可動部分は論理アナライザに取
付けられた固定部分56に接続されたケーブルによって
構成された50Ωの同軸ライン52を通して伝送された
信号をその出力4に有している。負荷抵抗26が50Ω
の接続のあとに配列されるのが好ましい。固定部分は比
較器を具え、その数は変換の所望の精度に依存している
例えばGaAsによって構成され、かつ53.54.5
5と番号の付けられている比較器は、例えば最大偏倚の
20%、50%、80%の所与のしきい値に各々調整さ
れている。50%に調整された比較器の使用は1ビツト
のアナログ対ディジタル変換の実行を許容する。20%
および80%に調整された比較器の使用は2ビア)以上
のアナログ対ディジタル変換の実行、およびそこから論
理アナライザで実行された処理から信号の立上り時間と
降下時間の導出を許容する。
第5図の回路図は取扱うべき各論理入力信号に対して使
用されている。例えば、取扱うべき8つの信号が存在す
る場合には、8つの入力回路7が出力15号に対ずろ8
つのii続、−)いて入力活号を導く接続、減衰のため
の接続、そしてオフセy)電圧のための接続を持つプロ
ーブに配列されている。増幅器の供給電圧はそれに限定
的に加えられねばならない。そのようなプローブは論理
アナライザに接続され、これは分析された信号の解釈を
変える。
(要 約) 直流成分に重畳されたかあるいは重畳されない高速論理
信号を分析する論理アナライザのプローブの入力回路(
7)が種々のタイプの論理回路に適応された。各通路に
対して、高周波増幅器(22)を伴ない、かつ入力端子
(2)と出力端子(4)に現われる低周波直/流成分間
の偏差を比較し、それから高周波増幅器(22)の入力
に信号を再導入(rein−iection)すること
(こよりこの偏差をp甫償するλ甫1賞回路<24)を
伴なう入力容量 (20)が具えられている。
この回路(7)はさらに遠隔的に制御できる可変減衰器
(30,31)を具えている。
【図面の簡単な説明】
第1図は従前の技術による入力回路図を、第2図は本発
明による入力回路の電気回路図を、第3図は第2図に類
似しているが、さらに減衰のプログラム化を有する入力
回路の電位回路図を、第4図は補償回路をもっと詳細に
表わしている第3図に類似の電気回路図を、 第5図は論理アナライザの比較器に接続された回路を含
む論理プローブの電気回路図を示している。 2・・・入力端子     4・・・出力端子5.6・
・・端子      7・・・入力回路lO・・高周波
増幅器   12・・・固定減衰器14・・・抵抗器 
     20・・容量21・・・プローブの可動部分 22・・・高周波増幅器   23・・・出力24・・
・補償回路     25・・入力26・・・抵抗器 
     27・・・導入素子30・・・抵抗器   
   31・・・FET32・・・ゲート      
34・・・端子40・・・反転増幅器    41.4
2・・・抵抗器43・・・断続器      44・・
・演算増幅器45・・・反転増幅器    46.47
.49・・・抵抗器52・・・同軸ライン    53
.54.55・・・比較器56・・・固定部分 特許出願人   エヌ・ベー・フィリップス・フルーイ
ランペンファブリケン

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、高入力インピーダンスと1より小さい増幅度を有し
    、出力端子とアースの間に配列された低インピーダンス
    で出力信号を供給する高周波増幅器を入力端子と出力端
    子の間に具えるたとろの、高周波で論理信号を伝送する
    論理アナライザのプローブの入力回路において、入力回
    路は、 回路の入力端子と増幅器の入力との間に配列された容量
    と、 入力端子と出力端子のこれら2つの端子に生起する各信
    号の低周波/直流成分と、導入素子を用いて増幅器の入
    力端子における偏差の補償を意図する補償信号を供給す
    る信号の低周波/直流成分との間の偏差を比較するとこ
    ろの、入力端子と出力端子の間に並列な補償回路、 を具え、 該補償回路は直流成分を補償するために所与のオフセッ
    トを受ける直流信号によって制御された入力を有するこ
    と、 を特徴とする入力回路。 2、増幅器の出力と出力端子の間に電界効果トランジス
    タと並列な直列抵抗器によって構成された可変減衰段を
    具え、そのゲート電位は減衰信号によって制御され、こ
    れはまた高周波通路および低周波/直流電流通路で同じ
    減衰を得るため補償回路を制御することを特徴とする特
    許請求の範囲第1項に記載の入力回路。 3、電界効果トランジスタがガリウムひ素からなること
    を特徴とする特許請求の範囲第2項に記載の入力回路。 4、特許請求の範囲第1項に記載の少なくとも1つの入
    力回路を具え、 入力回路は容量、高周波増幅器および導入素子によって
    構成された可動部分に分解され、可動部分は論理アナラ
    イザと一体となった補償回路を具える固定部分に同軸接
    続を通して接続されていること、 を特徴とする論理アナライザのプローブ。 5、特許請求の範囲第2項あるいは第3項のいずれか1
    つに記載の少なくとも1つの入力回路を具え、 入力回路は容量と、高周波増幅器と、導入素子および可
    変減衰段によって構成された可動部分に分解され。 可動部分は論理アナライザと一体となった補償回路を具
    える固定部分に同軸接続を通して接続されること、 を特徴とする論理アナライザのプローブ。 6、各入力回路が固定部分に配列され、所与のレベルを
    検出し、かつ比較信号を供給する少なくとも1つの比較
    器を具えることを特徴とする特許請求の範囲第4項ある
    いは第5項に記載のプローブ。 7、論理信号の立上り時間および下降時間を決定するた
    めに入力回路の少なくとも1つの出力がいくつかの比較
    器に接続されていることを特徴とする特許請求の範囲第
    6項に記載のプローブ。 8、3つの比較器が存在し、論理信号の立上り時間およ
    び下降時間を決定するために所与の各レベルが最大偏倚
    の約20%、50%および80%であることを特徴とす
    る特許請求の範囲第6項に記載のプローブ。 9、比較器がガリウムひ素からなることを特徴とする特
    許請求の範囲第4項ないし第8項のいずれか1つに記載
    のプローブ。 10、特許請求の範囲第4項ないし第9項のいずれか1
    つの記載の少なくとも1つのプローブを具えることを特
    徴とする論理アナライザ。
JP62138322A 1986-06-06 1987-06-03 論理アナライザのプロ−ブの入力回路とプロ−ブおよび論理アナライザ Pending JPS633268A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR8608185A FR2599852B1 (fr) 1986-06-06 1986-06-06 Circuit d'entree pour sonde d'analyseur logique, et sonde et analyseur logique munis d'un tel circuit
FR8608185 1986-06-06

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS633268A true JPS633268A (ja) 1988-01-08

Family

ID=9336083

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62138322A Pending JPS633268A (ja) 1986-06-06 1987-06-03 論理アナライザのプロ−ブの入力回路とプロ−ブおよび論理アナライザ

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4803423A (ja)
EP (1) EP0252538A1 (ja)
JP (1) JPS633268A (ja)
FR (1) FR2599852B1 (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009204398A (ja) * 2008-02-27 2009-09-10 Yokogawa Electric Corp 波形測定装置
JP2015158495A (ja) * 2014-02-24 2015-09-03 テクトロニクス・インコーポレイテッドTektronix,Inc. 試験測定システム、アクセサリ及びアクセサリ補償方法

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2633053B1 (fr) * 1988-06-17 1990-10-05 Labo Electronique Physique Analyseur logique a multiniveaux configurable
JPH0820975B2 (ja) * 1990-03-29 1996-03-04 インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレイション コンピュータシステムおよびコンピュータ上で実行されるトレース方法
US5384532A (en) * 1992-07-01 1995-01-24 Hewlett-Packard Company Bipolar test probe
US5621310A (en) * 1994-07-15 1997-04-15 Tektronix, Inc. High frequency calibration circuit
US7282935B2 (en) * 2006-01-24 2007-10-16 Agilent Technologies, Inc. Regenerator probe
DE102006052720A1 (de) * 2006-08-14 2008-02-21 Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg Oszilloskop-Tastkopf
US8688058B2 (en) * 2008-11-24 2014-04-01 Chiewcharn Narathong Techniques for improving transmitter performance
CN102735887B (zh) * 2012-07-16 2014-08-27 电子科技大学 一种数字示波器单端有源探头电路

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR805022A (fr) * 1935-07-29 1936-11-09 Materiel Telephonique Perfectionnements aux appareils sensibles à une différence de potentiel tels que les voltmètres à lampes
US3441863A (en) * 1965-08-02 1969-04-29 Tektronix Inc Drift compensated direct coupled amplifier circuit having adjustable d.c. output voltage level
US3893103A (en) * 1971-01-21 1975-07-01 Singer Co Electrical drift correction system
FR2138234A1 (ja) * 1971-05-19 1972-09-22 Commissariat Energie Atomique
FR2167404A5 (ja) * 1972-01-14 1973-08-24 Cit Alcatel
FR2238300B1 (ja) * 1973-07-20 1976-11-12 Lignes Telegraph Telephon
JPS5110798A (ja) * 1974-07-17 1976-01-28 Citizen Watch Co Ltd
US4042881A (en) * 1975-06-23 1977-08-16 Unitec, Inc. Voltage measuring device having an amplifier in the probe
US3995175A (en) * 1975-06-30 1976-11-30 International Business Machines Corporation High impedance voltage probe
FR2396463A1 (fr) * 1977-06-30 1979-01-26 Ibm France Circuit pour compenser les decalages du zero dans les dispositifs analogiques et application de ce circuit a un convertisseur analogique-numerique
US4110687A (en) * 1977-08-24 1978-08-29 Sneed Jr James W Dual threshold logic probe
US4217542A (en) * 1978-02-13 1980-08-12 Ade Corporation Self inverting gauging system
FR2434538A1 (fr) * 1978-08-23 1980-03-21 Thomson Csf Amplificateur a verrouillage de tension, et recepteur de television utilisant un tel amplificateur
US4229703A (en) * 1979-02-12 1980-10-21 Varian Associates, Inc. Zero reference and offset compensation circuit
AT377873B (de) * 1981-10-22 1985-05-10 Akg Akustische Kino Geraete Impedanzwandlerschaltung fuer kapazitive spannungsquellen
US4498058A (en) * 1982-05-17 1985-02-05 Sperry Corporation Low input capacitance amplifier
US4491968A (en) * 1983-04-07 1985-01-01 Comsonics, Inc. Status monitor
DE3432091A1 (de) * 1984-08-28 1986-03-13 Hahn-Meitner-Institut für Kernforschung Berlin GmbH, 1000 Berlin Schaltungsanordnung fuer ein messgeraet mit automatischem nullinienabgleich
US4663586A (en) * 1985-05-02 1987-05-05 Hewlett-Packard Company Device with automatic compensation of an ac attenuator

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009204398A (ja) * 2008-02-27 2009-09-10 Yokogawa Electric Corp 波形測定装置
JP2015158495A (ja) * 2014-02-24 2015-09-03 テクトロニクス・インコーポレイテッドTektronix,Inc. 試験測定システム、アクセサリ及びアクセサリ補償方法

Also Published As

Publication number Publication date
FR2599852B1 (fr) 1988-06-24
EP0252538A1 (fr) 1988-01-13
US4803423A (en) 1989-02-07
FR2599852A1 (fr) 1987-12-11

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4588950A (en) Test system for VLSI digital circuit and method of testing
US4255714A (en) GaAs Dual-gate FET frequency discriminator
US6856126B2 (en) Differential voltage probe
US4403183A (en) Active voltage probe
US4663586A (en) Device with automatic compensation of an ac attenuator
EP0275079A2 (en) Amplifying circuit
JPS633268A (ja) 論理アナライザのプロ−ブの入力回路とプロ−ブおよび論理アナライザ
Arbel Analog signal processing and instrumentation
CN113608000B (zh) 差分电路、差分探头和示波器组件
EP0127347B1 (en) Wide bandwidth signal coupling circuit having a variable dc voltage-level shift from input to output
US5034698A (en) Dual-path wideband and precision data acquisition system
CN1280637C (zh) 快速采样与保持峰值检测器电路
US4688267A (en) Optical fibre receiver
KR20020053034A (ko) 트랙 및 홀드 증폭기
US4525688A (en) Oscilloscope signal input circuit including an attenuator
EP0121278A1 (en) Attenuator circuit
EP0462626B1 (en) Travelling wave sampler
US9335364B2 (en) SMU RF transistor stability arrangement
US7940077B2 (en) Adjustable resistance
US4879661A (en) Bi-directional circuit to interface between a low current device and high current tester
CA1078468A (en) Amplifier circuit for high frequency signals, particularly for cable distribution systems, comprising at least a first transistor controlled at its base electrode by a signal source, and a difference amplifier
US4495458A (en) Termination for high impedance attenuator
JP4839572B2 (ja) 入力回路
CN219328889U (zh) 具有自动调零功能的模拟电路及示波器
CN112039443B (zh) 一种可调节通道放大器寄生直流偏置的电路及调节方法