JPS63310962A - Thin film forming device - Google Patents

Thin film forming device

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JPS63310962A
JPS63310962A JP14655487A JP14655487A JPS63310962A JP S63310962 A JPS63310962 A JP S63310962A JP 14655487 A JP14655487 A JP 14655487A JP 14655487 A JP14655487 A JP 14655487A JP S63310962 A JPS63310962 A JP S63310962A
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Japan
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grid
thin film
counter electrode
vacuum chamber
slit
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Mikio Kinoshita
幹夫 木下
Wasaburo Ota
太田 和三郎
Toru Miyabori
透 宮堀
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Ricoh Co Ltd
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Ricoh Co Ltd
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Abstract

PURPOSE:To easily and surely form an excellent thin film at low temp. by deflecting the thermoelectron from an electron gun by a deflecting coil, and introducing the thermoelectron into a space in the vicinity of a grid kept at a positive potential against a substrate holding electrode through a slit. CONSTITUTION:A vaporization source 11 of W, etc., is energized by an electric power source 40 in a vacuum vessel 1, heated, and vaporized. Meanwhile, the thermoelectron generated by the filament 7 of the electron gun 30 is deflected by a couple of deflecting coils 10, and introduced into the space in the vicinity of the grid 6 from the slit SL of a slit member 12. The vaporization substance is ionized by the thermoelectron. The grid 6 is arranged intermediate between the vaporization source 11 and a counter electrode 5 opposed to the source 11 and holding a substrate 100, and kept at a positive potential against the counter electrode 5 by the power source 40. The ion is accelerated by the grid 6, and allowed to collide with the substrate 100 to form the thin film of W or its compd. thereon. The direct hitting of the radiation of the electron gun 30 on the substrate 100 is prevented by the slit member 12.

Description

【発明の詳細な説明】 (技術分野) 本発明は、薄膜形成装置に関する。[Detailed description of the invention] (Technical field) The present invention relates to a thin film forming apparatus.

(従来技術) 薄膜の形成に関しては従来からCVD法やPvD法等の
形成方式がしられ、これらを利用した種々の形成装置が
提案されている。
(Prior Art) Formation methods such as CVD and PvD have been known for forming thin films, and various forming apparatuses using these methods have been proposed.

低温で薄膜形成でき、かつ密着性のよい薄膜を得る事を
ねらいとして、出願人は先に、蒸発源と、これに対向す
るように基板を保持する対電極との間に熱電子発生用の
フィラメントを配するとともに、フィラメントと対電極
との間にグリッドを配し、グリッドを対電極に対して正
電位とするようにした薄膜形成装置を提案した(特開昭
59−89763号公報)。
With the aim of obtaining a thin film that can be formed at low temperatures and has good adhesion, the applicant first installed a thermionic-generating electrode between an evaporation source and a counter electrode that holds a substrate in opposition to the evaporation source. A thin film forming apparatus was proposed in which a filament was disposed and a grid was disposed between the filament and a counter electrode so that the grid had a positive potential with respect to the counter electrode (Japanese Patent Application Laid-open No. 89763/1983).

この装置では、蒸発源から蒸発した蒸発物質をフィラメ
ントからの熱電子でイオン化し、グリッド、対電極間の
電界で加速して基板に当て、薄膜を形成するのであるが
、対電極にたいするグリッドの電位が高すぎると、イオ
ンは過剰に加速され、かえって薄膜を損傷する恐れがあ
る。従ってグリッドの電位をなるべく低くしたい訳であ
るが、そうするとフィラメントからの熱電子が強く加速
されず、イオン化に適したエネルギーを持つ熱電子の密
度が少なくなり、蒸発物質のイオン化率が小さくなって
形成される薄膜の基板に対する密着性や結晶性に問題が
生ずる恐れがある。このため、この装置では良好な薄膜
形成の為にグリッド電圧の調整が面倒であった。
In this device, the evaporated substance evaporated from the evaporation source is ionized by thermionic electrons from the filament, accelerated by the electric field between the grid and the counter electrode, and applied to the substrate to form a thin film.The potential of the grid relative to the counter electrode is If is too high, ions may be excessively accelerated and may even damage the thin film. Therefore, we want to keep the potential of the grid as low as possible, but if we do this, the hot electrons from the filament will not be strongly accelerated, the density of hot electrons with energy suitable for ionization will decrease, and the ionization rate of the evaporated substance will decrease. Problems may arise in the adhesion and crystallinity of the thin film to the substrate. Therefore, with this device, it is troublesome to adjust the grid voltage in order to form a good thin film.

(目  的) 本発明は、上述した事情に鑑みてなされたものであって
、その目的とするところは、良好な薄膜を低温で、容易
且つ確実に形成しうる新規な、薄・膜形成装置の提供に
ある。
(Objective) The present invention has been made in view of the above-mentioned circumstances, and its object is to provide a novel thin/film forming apparatus that can easily and reliably form a good thin film at low temperatures. It is provided by.

(構  成) 以下、本発明を形成する。(composition) Hereinafter, the present invention will be formed.

本発明の薄膜形成装置は、真空槽と、蒸発源と、対電極
と、グリッドと、電子銃と5.電源手段と。
The thin film forming apparatus of the present invention includes a vacuum chamber, an evaporation source, a counter electrode, a grid, an electron gun, and 5. With power means.

導電手段と、スリット部材と、電子誘導手段とを有する
It has a conductive means, a slit member, and an electron guiding means.

真空槽には、活性ガスもしくは不活性ガス、または、こ
れら両者の混合ガスが導入される。蒸発源、対電極、グ
リッド、電子銃、スリット部材、電子誘導手段は真空槽
内に配備される。
An active gas, an inert gas, or a mixture of both gases is introduced into the vacuum chamber. An evaporation source, a counter electrode, a grid, an electron gun, a slit member, and an electron guiding means are arranged in a vacuum chamber.

蒸発源は、真空槽内において蒸発物質を蒸発させるため
の手段であり、周知の各種の蒸発源、例えば、後述する
コイル状のものや、ボート状のもの、或は電子ビーム蒸
発源等を用い得る。
The evaporation source is a means for evaporating the evaporation substance in a vacuum chamber, and various well-known evaporation sources, such as a coil-shaped one, a boat-shaped one, or an electron beam evaporation source, as described later, can be used. obtain.

対電極は基板、即ち薄膜を形成すべき板状部材を蒸発源
と対向するように保持する。
The counter electrode holds the substrate, ie, the plate member on which the thin film is to be formed, so as to face the evaporation source.

グリッドは、上記蒸発源と対電極との間に配備されるが
、蒸発物質を通過させうる形態、例えば網状に構成され
る。
The grid is disposed between the evaporation source and the counter electrode, and has a shape that allows the evaporation substance to pass through, for example, a mesh shape.

電子銃は、蒸発物質をイオン化するための電子を発生す
るために設けられ、熱電子発生用のフィラメントを有す
る。
The electron gun is provided to generate electrons for ionizing the vaporized substance, and has a filament for generating thermionic electrons.

電源手段は、真空槽内に所定の電気的状態を実現するた
めの手段である。
The power supply means is means for achieving a predetermined electrical state within the vacuum chamber.

導電手段は真空槽内と電巡手段とを電気的に接続する手
段である。
The conductive means is a means for electrically connecting the inside of the vacuum chamber and the electric circuit means.

スリット部材は、フィラメントからの放射が基板を直撃
するのを防止するとともに、熱電子を上記グリッド近傍
の空間に排出しうる位置にスリットを有する。
The slit member has a slit at a position that prevents radiation from the filament from directly hitting the substrate and discharges thermoelectrons into a space near the grid.

電子誘導手段は、フィラメントからの熱電子の軌道を電
気的および/または磁気的に偏向させ、スリット部材の
スリットを介して、グリッド近傍の空間に導く。
The electron guiding means electrically and/or magnetically deflects the trajectory of the thermoelectrons from the filament and guides them into the space near the grid through the slits of the slit member.

薄膜形成時には、電源手段によりグリッドが対電極に対
し正電位に保たれる。
During thin film formation, the grid is maintained at a positive potential with respect to the counter electrode by the power supply means.

本発明では、電子銃による電子で蒸発物質のイオン化を
行うので、グリッドの電位を低くしても蒸発物質を効率
よくイオン化できる。
In the present invention, since the evaporated substance is ionized with electrons from an electron gun, the evaporated substance can be efficiently ionized even if the potential of the grid is lowered.

また、電子銃のフィラメントから放射される中性粒子や
イオン等が基板を直撃するのをスリット部材で防止する
ので、上記放射により基板が熱的に損傷されることがな
い。
Further, since the slit member prevents neutral particles, ions, etc. emitted from the filament of the electron gun from directly hitting the substrate, the substrate is not thermally damaged by the radiation.

(実施例) 以下、図面を参照しながら具体的な実施例に即して説明
する。
(Example) Hereinafter, a specific example will be described with reference to the drawings.

図において、符号1は真空槽を示す。この真空槽はペル
ジャー3をベースプレート2の上に、バッキング4を介
して一体化することにより内部に密閉空間を形成する様
に構成されている。ベースプレート2には孔2aが穿設
されており、真空槽内部は図示されない真空排気系へ孔
2aを介して連結され真空槽1内の機密性を維持しつつ
、周知の方法で真空槽内に活性ガスもしくは不活性ガス
、又は、これら両者の混合ガスを導入しうるようになっ
ている。
In the figure, reference numeral 1 indicates a vacuum chamber. This vacuum chamber is constructed by integrating a Pel jar 3 onto a base plate 2 via a backing 4 to form a sealed space inside. A hole 2a is bored in the base plate 2, and the inside of the vacuum chamber is connected to a vacuum exhaust system (not shown) via the hole 2a, and the airtightness inside the vacuum chamber 1 is maintained while the interior of the vacuum chamber is connected to a vacuum exhaust system (not shown) using a well-known method. It is possible to introduce active gas, inert gas, or a mixture of both.

真空、1内には、図示のように蒸発源11、対電極5、
グリッド6、電子銃30.1対の偏向コイル10、スリ
ット部材12が配備されている。
In the vacuum 1, as shown in the figure, there are an evaporation source 11, a counter electrode 5,
A grid 6, an electron gun 30.1 pair of deflection coils 10, and a slit member 12 are provided.

電子銃3oはフィラメント7、補助グリッド8、アノー
ド9により構成される。
The electron gun 3o is composed of a filament 7, an auxiliary grid 8, and an anode 9.

これら真空槽1内の各部材は、それぞれ支持体13.1
4,15,16,17,18.19により支持されてい
る。
Each of these members in the vacuum chamber 1 is a support 13.1.
4, 15, 16, 17, 18.19.

これら支持体13ないし19はいずれも導電性であって
、ベースプレート2との絶縁性を確保されつつ、かつ、
真空槽1内の密閉性を確保した状態でベースプレート2
を貫通して真空槽外へ引き出されている。即ち、これら
支持体は、各部材を支持するとともに、これら真空槽内
の部材と真空槽外とを電気的に接続する機能をも有し、
他の配線具とともに導電手段を構成する。
These supports 13 to 19 are all electrically conductive, ensuring insulation from the base plate 2, and
While ensuring airtightness inside the vacuum chamber 1, attach the base plate 2.
It penetrates through and is pulled out of the vacuum chamber. That is, these supports have the function of supporting each member and electrically connecting the members inside the vacuum chamber with the outside of the vacuum chamber,
It constitutes a conductive means together with other wiring fittings.

なお、真空槽l内において、対電極5、蒸発源11は略
水平状態に設けられている。
Note that in the vacuum chamber 1, the counter electrode 5 and the evaporation source 11 are provided in a substantially horizontal state.

蒸発源11は例えばタングステンやモリブデン等の金屑
をコイル状に形成してなる抵抗加熱式のものであるが、
前述のごとく、ボート状に形成した蒸発源や、電子ビー
ム蒸発源など、従来真空蒸着方式で用いられている各種
の蒸発源を蒸発源11にかえて用いることが出来る。
The evaporation source 11 is of a resistance heating type formed by forming a coil of metal scraps such as tungsten or molybdenum, for example.
As described above, the evaporation source 11 can be replaced by various evaporation sources conventionally used in vacuum evaporation methods, such as a boat-shaped evaporation source or an electron beam evaporation source.

電源手段40は真空槽外に設けられ、図の如く、交流の
電源22、直流の電源23,24,25゜26、.27
,28を有し、その外、図示されない、操作用の各種ス
イッチを含んでいる。
The power supply means 40 is provided outside the vacuum chamber, and as shown in the figure, an AC power supply 22, a DC power supply 23, 24, 25° 26, . 27
, 28, and also includes various operation switches (not shown).

上記各電源は、以下の如く接続されている。The above power sources are connected as follows.

先ず、交流の電源22は蒸発源11を加熱するためのも
のであり、一対の支持体15により蒸発源11に接続さ
れている。
First, the AC power source 22 is for heating the evaporation source 11 and is connected to the evaporation source 11 through a pair of supports 15 .

直流の電源23,24,25,26,27,28のうち
電源23はそのプラス側が支持体14を介してグリッド
6に接続され、マイナス側は支持体13を介して対電極
5に接続されている。電源24は、電子銃30のフィラ
メント7を支持する一対の支持体19に接続され、電源
25はそのプラス側が電源24.28のマイナス側に、
マイナス側は支持体18を介して電子[30の補助グリ
ッド8に接続されている。電源26のプラス側は支持体
17を介して電子銃3oのアノード9に接続され、マイ
ナス側は接地されている。電源27は1対の偏向コイル
10を支持する支持体16に接続されている。さらに、
電源28のプラス側は接地され、マイナス側は電源24
のマイナス側と接続されているさなお、図中の接地は必
ずしも必用ではない。
Among the DC power supplies 23, 24, 25, 26, 27, and 28, the power supply 23 has its positive side connected to the grid 6 through the support 14, and its negative side connected to the counter electrode 5 through the support 13. There is. The power source 24 is connected to a pair of supports 19 that support the filament 7 of the electron gun 30, and the positive side of the power source 25 is connected to the negative side of the power source 24.28.
The negative side is connected to the auxiliary grid 8 of the electronic [30] via the support 18. The positive side of the power source 26 is connected to the anode 9 of the electron gun 3o via the support 17, and the negative side is grounded. A power source 27 is connected to a support 16 that supports a pair of deflection coils 10. moreover,
The positive side of the power supply 28 is grounded, and the negative side is connected to the power supply 24.
The grounding shown in the figure is not necessarily necessary.

グリッド6は網目状など、蒸発物質を通過させ得る形態
に構成され、電源23の作用により、対電極5に対して
正電位とされる。従って、グリッド6と対電極5とのあ
いだには、グリッド6から対電極5へ向かう電界が形成
される。
The grid 6 is configured to have a shape such as a mesh that allows the evaporated substance to pass through, and is set at a positive potential with respect to the counter electrode 5 by the action of the power source 23 . Therefore, an electric field directed from the grid 6 toward the counter electrode 5 is formed between the grid 6 and the counter electrode 5.

スリット部材12は、図示の如くに電子銃3゜と1対の
偏向コイル10とを覆うように形成され、電子銃のフィ
ラメント7からの放射が、対電極に保持された基板を直
撃しないようになっている。
The slit member 12 is formed to cover the electron gun 3° and the pair of deflection coils 10 as shown in the figure, and prevents radiation from the filament 7 of the electron gun from directly hitting the substrate held by the counter electrode. It has become.

1対の偏向コイル10は、電子誘導手段であって、図面
を裏側から表側へ貫くような偏向用磁界を発生するよう
に構成配備されている。電子銃30から放出された電子
は偏向コイル10の形成する磁界中に入射し、偏向用磁
界の作用によりその軌道を偏向され、スリット部材10
のスリットSLの部位に誘導され、上記スリットSLを
通ってグリッド6の近傍の空間に出て行く。
A pair of deflection coils 10 are electron guiding means and are configured and arranged to generate a deflection magnetic field that penetrates the drawing from the back side to the front side. Electrons emitted from the electron gun 30 enter the magnetic field formed by the deflection coil 10, and their trajectory is deflected by the action of the deflection magnetic field, and the slit member 10
is guided to the slit SL, and exits into the space near the grid 6 through the slit SL.

なお、図の装置にたいし、付加的なスリットや公知の電
子レンズの類を使用することも可能である。さらに、電
子銃30.1対の偏向コイル10、スリット部材12は
、これを図のグリッド6を含む水平面に関し1図示の態
位と対称的に配備しても良い、基板や電子銃の冷却の為
の冷却水などの導入のためのパイプ等を真空槽1内に配
備することも勿論可能である。また、スリット部材12
にバイアス電圧を印加する電源手段等を付加しても良い
It should be noted that it is also possible to use additional slits and known electronic lenses in the device shown. Further, the deflection coil 10 and slit member 12 of the electron gun 30.1 may be arranged symmetrically with respect to the horizontal plane including the grid 6 in the figure, and the substrate and the electron gun can be cooled. Of course, it is also possible to provide a pipe or the like for introducing cooling water or the like into the vacuum chamber 1. In addition, the slit member 12
A power supply means or the like may be added to apply a bias voltage to the circuit.

さて、以下に実施例装置による薄膜形成を説明する。Now, thin film formation using the apparatus of the embodiment will be explained below.

薄膜を形成するべき基板100を図の如<姶電極5に保
持させて、グリッド6を介して蒸発源11と対向させる
。蒸発源11には、蒸発物質を保持させる。用いる蒸発
物質は、形成する薄膜に応じて定まり、例えばアルミニ
ウム、金のような金属や、金属の酸化物、フッ化物、硫
化物、あるいは合金等である。
A substrate 100 on which a thin film is to be formed is held by an electrode 5 as shown in the figure, and is opposed to an evaporation source 11 with a grid 6 interposed therebetween. The evaporation source 11 holds an evaporation substance. The evaporation substance used is determined depending on the thin film to be formed, and is, for example, a metal such as aluminum or gold, a metal oxide, fluoride, sulfide, or an alloy.

真空槽1内には、活性ガス、不活性ガスあるいは、これ
らの混合ガスが10〜10−’Paの圧力で導入される
。ここでは説明の具体性のために、導入ガスは、アルゴ
ン等の不活性友スであるとする。
An active gas, an inert gas, or a mixed gas thereof is introduced into the vacuum chamber 1 at a pressure of 10 to 10-'Pa. Here, for the sake of concreteness of explanation, it is assumed that the introduced gas is an inert gas such as argon.

この状態で装置を作動させると、蒸発源11に保持され
た蒸発物質が蒸発する。蒸発して微粒子となった蒸発物
質は、基板100へ向かって、広がるように飛行し、グ
リッド6を通り抜ける。
When the apparatus is operated in this state, the evaporative substance held in the evaporation source 11 evaporates. The evaporated substance, which has been evaporated into fine particles, flies toward the substrate 100 in a spreading manner and passes through the grid 6.

一方、電子銃30からは電子が放出されるが、この電子
は、1対の偏向コイル10により形成された偏向用磁界
により反時計方向の軌道を描きつつ誘導され、スリット
部材12のスリットSLを通ってグリッド6の方へ飛行
する。そして、飛行中の蒸発物質にぶつかると、これを
イオン化する。
On the other hand, electrons are emitted from the electron gun 30, and these electrons are guided in a counterclockwise trajectory by the deflection magnetic field formed by the pair of deflection coils 10, and are guided through the slit SL of the slit member 12. Pass through and fly towards grid 6. When it hits evaporated matter in flight, it ionizes it.

かくして、グリッド近傍の空間にプラズマ状態が実現さ
れる。イオン化された蒸発物質は、グリッド6から対電
極5に向かう電界の作用により基板100に向かって加
速され、高速で基板100に衝突し、これにより基板1
00上に所望の薄膜が形成される。
In this way, a plasma state is realized in the space near the grid. The ionized evaporated substance is accelerated toward the substrate 100 by the action of the electric field from the grid 6 toward the counter electrode 5, and collides with the substrate 100 at high speed.
A desired thin film is formed on 00.

このとき、スリット部材12の作用により、基板100
はフィラメント7からの放射の直撃を免れ、この放射直
撃による基板温度の上昇は、有効ニ防止され、薄膜の、
放射金属イオンによる汚染も良好に防止される。
At this time, due to the action of the slit member 12, the substrate 100
is not directly hit by the radiation from the filament 7, and the rise in substrate temperature due to this direct radiation is effectively prevented.
Contamination by radioactive metal ions is also well prevented.

電子銃30から放出される電子の、密度、エネルギー、
空間的分布は、電源手段の操作で制御することができ、
グリッド6の電圧が低い場合でも、蒸発物質を有効にイ
オン化出来る。
Density and energy of electrons emitted from the electron gun 30,
The spatial distribution can be controlled by the operation of power supply means,
Even when the voltage of the grid 6 is low, the evaporated substance can be effectively ionized.

真空槽1内に、活性ガスを単独で、または不活性ガスと
ともに導入して成膜を行えば、蒸発物質を活性ガスと化
合させて、化合物による薄膜を得る事ができる。
If a film is formed by introducing an active gas alone or together with an inert gas into the vacuum chamber 1, the evaporated substance can be combined with the active gas, and a thin film of the compound can be obtained.

例えば、不活性ガスとしてアルゴン、活性ガスとして酸
素を導入し、圧力を10−1〜1O−2Paに調整し、
蒸発物質としてアルミニュームを選べば、基板上にA 
120jの薄膜を形成する事ができる。
For example, introduce argon as an inert gas and oxygen as an active gas, adjust the pressure to 10-1 to 1O-2Pa,
If aluminum is chosen as the evaporation material, A
A thin film of 120j can be formed.

また、この場合、蒸着物質としてSiまたは、SiOを
選べば、S x 01の薄膜を得る事が出来る。
Further, in this case, if Si or SiO is selected as the vapor deposition material, a thin film of S x 01 can be obtained.

蒸発物質としてIn、Znを選べば、I nzo e 
ZnOの薄膜が得られる。また、ガスとしてHえS、蒸
発物質としてCdを選べばCdSの薄膜が得られる。さ
らに、活性ガスとしてアンモニアをアルゴンと共に用い
、蒸発物質としてTi、Taを用いると、TiN、Ta
N等の薄膜を得る事も可能である。
If In and Zn are selected as evaporative substances, Inzo e
A thin film of ZnO is obtained. Furthermore, if HeS is selected as the gas and Cd is selected as the evaporated substance, a thin film of CdS can be obtained. Furthermore, when ammonia is used together with argon as an active gas and Ti and Ta are used as evaporative substances, TiN, Ta
It is also possible to obtain a thin film of N or the like.

(効  果) 以上、本発明によれば、新規な薄膜形成装置を提供でき
る。
(Effects) As described above, according to the present invention, a novel thin film forming apparatus can be provided.

この装置による薄膜形成においては、蒸発物質はイオン
化され電気的に加速されて高エネルギーを有するので、
成膜、詰晶化に必要なエネルギーを熱の形で与える必用
がなく、シたがって、耐熱性に劣るプラスチックなどを
基板として薄膜形成を行うこともできる。またグリッド
の電圧を低くしても十分なイオン化効率が得られるので
、イオン衝撃による損傷の少ない、良質の薄膜を形成す
ることが出来る。また、スリット部材の作用により、基
板はフィラメントからの放射の直撃を免れ、この放射直
撃による基板温度の上昇や1、薄膜の、放射金属イオン
による汚染が良好に防止される。
When forming a thin film using this device, the evaporated substance is ionized and electrically accelerated and has high energy.
There is no need to provide the energy necessary for film formation and crystal packing in the form of heat, and therefore thin films can be formed using a substrate such as plastic, which has poor heat resistance. Furthermore, since sufficient ionization efficiency can be obtained even if the grid voltage is lowered, a high-quality thin film with less damage caused by ion bombardment can be formed. In addition, the effect of the slit member protects the substrate from being directly hit by the radiation from the filament, and the rise in temperature of the substrate due to the direct impact of the radiation as well as the contamination of the thin film by radioactive metal ions are well prevented.

蒸発物質のイオン化には電子銃による電子が極めて有効
に寄与するので10−’Pa以下の圧力の高真空下に於
いても蒸発物質のイオン化が可能であり、このため薄膜
中へのガス分子の取り込みが極めて少なく出来、高純度
の薄膜形成が可能である。また、薄膜の構造も極めて緻
密なものとすることが可能であり、通常、薄膜の密度は
バルクのそれより小さいとされているが、本発明の装置
で形成すると、バルクの密度と略同程度の密度が得られ
る。
Since the electrons from the electron gun contribute extremely effectively to the ionization of the evaporated substance, it is possible to ionize the evaporated substance even in a high vacuum with a pressure of 10-'Pa or less. The amount of incorporation can be extremely small, making it possible to form a highly pure thin film. Furthermore, the structure of the thin film can be made extremely dense, and although the density of a thin film is normally considered to be smaller than that of the bulk, when it is formed using the apparatus of the present invention, the density of the thin film is approximately the same as that of the bulk. The density is obtained.

本発明の薄膜形成装置、はLSI、IC等を構成する半
導体薄膜や、電極に用いられる高純度の金属薄膜の形成
に極めて適している。
The thin film forming apparatus of the present invention is extremely suitable for forming semiconductor thin films constituting LSIs, ICs, etc., and high purity metal thin films used for electrodes.

なお、実施例においては、電子誘導手段として磁気的な
ものを説明したが、電気的な手段、例えば適当な形状の
コンデンサー電極を単独で、あるいは磁界発生用コイル
と組み合わせて用いても良い。
In the embodiments, magnetic means are used as the electron guiding means, but electric means, such as a capacitor electrode of an appropriate shape, may be used alone or in combination with a magnetic field generating coil.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

図は、本発明の1実施例を示す図である。 The figure shows one embodiment of the invention.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 活性ガスもしくは不活性ガス、または、これら両者の混
合ガスが導入される真空槽と、 この真空槽内において蒸発物質を蒸発させるための蒸発
源と、上記真空槽内に配備され、基板を上記蒸発源と対
向するように保持する対電極と、上記蒸発源と対電極と
の間に配備され、蒸発物質を通過させうる、グリッドと
、 上記真空槽内に配備され、熱電子発生用のフィラメント
を有し、薄膜形成時に蒸発物質をイオン化するための電
子を発生させる電子銃と、 上記真空槽内に所定の電気的状態を実現するための電源
手段と、真空槽内と電源手段とを接続する導電手段と、 上記フィラメントからの放射による基板の直撃を防止し
、かつ、熱電子を上記グリッド近傍の空間に排出しうる
スリットを有する、スリット部材と、 上記フィラメントからの熱電子の軌道を電気的および/
または磁気的に偏向させ、上記スリットを介して、グリ
ッド近傍の空間に導くための電子誘導手段と、を有し、 薄膜形成時に、上記電源手段により上記グリッドが上記
対電極に対し正電位に保たれることを特徴とする、薄膜
形成装置。
[Scope of Claims] A vacuum chamber into which an active gas, an inert gas, or a mixture of both gases is introduced; an evaporation source for evaporating an evaporable substance within the vacuum chamber; and an evaporation source disposed within the vacuum chamber. a counter electrode that holds the substrate facing the evaporation source; a grid that is disposed between the evaporation source and the counter electrode and that allows the evaporated substance to pass therethrough; an electron gun having a filament for generating electrons and generating electrons to ionize the evaporated substance during thin film formation; a power supply means for realizing a predetermined electrical state in the vacuum chamber; a slit member having a slit that prevents the board from being directly hit by radiation from the filament and discharges thermoelectrons into a space near the grid; Electron orbits electrically and/or
or a means for magnetically deflecting electrons and guiding them into a space near the grid through the slit, and when forming a thin film, the grid is maintained at a positive potential with respect to the counter electrode by the power supply means. A thin film forming device characterized by sag.
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