JPS63307546A - Method and device for evaluation of program test - Google Patents

Method and device for evaluation of program test

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JPS63307546A
JPS63307546A JP62143813A JP14381387A JPS63307546A JP S63307546 A JPS63307546 A JP S63307546A JP 62143813 A JP62143813 A JP 62143813A JP 14381387 A JP14381387 A JP 14381387A JP S63307546 A JPS63307546 A JP S63307546A
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JP
Japan
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test
data
access
program
area
Prior art date
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Application number
JP62143813A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yuki Takahashi
勇喜 高橋
Seizo Mori
森 清三
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To realize the evaluation for perfection of a program test by applying an optional test data and measuring the access frequency to a data area for each type of access. CONSTITUTION:An optional test data 40 is given to a program 10 to be tested and consisting of a program data area 11 and a program control area 12. The access frequency to the area 11 is measured for each type of access. As a result, the type-based access frequency can be known together with a data area which does not receive an entire access. In this respect, the test data having the perfection even with the data area can be obtained by setting again such test items and test data that ensure the accesses of all data areas. Furthermore the perfection of a program test is improved by giving a test to a program to be tested based on the obtained test data.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、テストデータによるプログラムテストの十分
性を評価するプログラムテストの評価方法および装置に
関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a program test evaluation method and apparatus for evaluating the sufficiency of a program test using test data.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

コンピュータ等に実行させるプログラムを作成したなら
ば、これが機能仕様通りに動作するかどうかを検証する
必要がある。
Once you have created a program to be executed by a computer, you need to verify whether it operates according to the functional specifications.

この検証方法としては、被テストプログラムを実行させ
ずに机上で人手による検証を行う静的テストと、実際に
被テストプログラムを実行させて検証を行う動的テスト
とに大別される。
Verification methods are broadly divided into static testing, in which verification is performed manually on a desk without running the program under test, and dynamic testing, in which verification is performed by actually running the program under test.

このうち動的テストについては、いかに効果的なテスト
データを選定して効果的な検証を行うかが重要な要素と
なる。
For dynamic testing, the important factor is how to select effective test data and perform effective verification.

そこで、例えば[日立評論J  (VoQ、66Nα3
、PP7〜10)およびrb i tJ  (Vo Q
For example, [Hitachi Review J (VoQ, 66Nα3
, PP7-10) and rb i tJ (Vo Q
.

18 、 Na 7 、 P P 831〜839 )
に示されてぃるように、プログラムテスト作業における
テスト項目およびテストデータの選定指標として、被テ
ストプログラムがどの程度網羅的に実行されるかを示す
全文網羅、全分岐網羅のように被テストプログラムの制
御構造に基づく基準が知られている。
18, Na7, PP831-839)
As shown in , the program under test is used as an indicator for selecting test items and test data in program testing work, such as full text coverage and all branch coverage, which indicate how comprehensively the program under test is executed. Standards based on control structures are known.

これら網羅基準によれば、テスト作業の結果、!Ill
羅率が低ければ未だ実行していないパスが存在すること
になるので、そのパスを実行するテスト項目およびテス
トデータを新たに設定してテストの十分性を改善するこ
とができる。
According to these coverage criteria, the results of the test work,! Ill
If the pass rate is low, it means that there is a path that has not been executed yet, so it is possible to improve the sufficiency of the test by setting new test items and test data for executing that path.

ここで、テストデータとは被テストプログラムに与える
テスト用のデータの総称であり、テスト項目とはテスト
データの種類によって区別されるテスト内容の区分であ
る。
Here, test data is a general term for test data given to a program under test, and test items are classifications of test contents that are distinguished by the type of test data.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

ところが、前記の網羅基準によれば、被テストプログラ
ムの制御構造のみに着目しているため、予め与えたテス
ト項目およびテストデータによる実行パスの網羅率が高
くても、被テストプログラムのデータ領域についてはこ
れを全て網羅してアクセスしたとは限らず、中には複数
個存在するデータ領域のうち特定のデータ領域を全くア
クセスしないこともあるなど、テストが十分とは言えな
くなる事例がし1t:’ L rz’発生している。
However, according to the above-mentioned coverage standard, since it focuses only on the control structure of the program under test, even if the coverage rate of the execution path with the test items and test data given in advance is high, the data area of the program under test is There are cases where the test may not be sufficient, such as not necessarily accessing all of these areas, and in some cases, a specific data area among multiple data areas may not be accessed at all. 'L rz' is occurring.

第8図は、このことを説明するための図であり。FIG. 8 is a diagram for explaining this.

被テストプログラムのデータ領域100には、第8図(
a)に示すように変数x、y、zの領域106〜10B
が設定されており、制御領域200には同図(b)のフ
ローチャートで示すようなプログラムが設定されている
In the data area 100 of the program under test, as shown in FIG.
As shown in a), the areas 106 to 10B of variables x, y, z
is set in the control area 200, and a program as shown in the flowchart of FIG.

この第8図(b)のプログラムは変数Xが正か負かによ
り、正の場合には、変数yは「+1」だけ更新し、負の
場合には変数yをr〜11だけ更新するという、いわゆ
るアップダウンカウンタのような機能を持つものである
が、このプログラムをテストするために、例えば、x=
5とx=−5のテストデータを与えたものとすると、x
=5の場合にはステップ208→209→210の順序
で1つのパスを通る。また、x=−5の場合にはステッ
プ208→208→211の順序で2つ目のパスを通る
The program shown in Figure 8(b) depends on whether the variable , which has a function similar to a so-called up-down counter, but in order to test this program, for example, x =
5 and x=-5, then x
If =5, one path is passed in the order of steps 208→209→210. Further, in the case of x=-5, the second path is passed in the order of steps 208→208→211.

従って、全文網羅率、全分岐網羅率を求めると。Therefore, if we calculate the full text coverage rate and all branch coverage rate.

合計3個のパスを全て通過するため、全文#!I羅率お
よび全分岐網羅率とも3/3X100 (%)=100
%となり、テストが十分であることになる。
To pass all 3 paths in total, the full text is #! Both Ira rate and total branch coverage rate are 3/3 x 100 (%) = 100
%, and the test is sufficient.

しかしながら、データ領域100については。However, regarding the data area 100.

変数X+’/の他に変数2を設定しているにもかかわら
ず、この変数2については全く使用しておらず、果して
この変数2が必要なのかどうか、あるいは制御領域の内
容に欠陥があるのかがわからない。すなわち、全文網羅
および全分岐網羅の指標のみでは被テストプログラムの
テストが十分であるかどうかがわからないという問題が
ある。
Although variable 2 is set in addition to variable I don't know. That is, there is a problem in that it cannot be determined whether the testing of the program under test is sufficient using only the indicators of full text coverage and all branch coverage.

本発明の目的は、被テストプログラムのテストの十−分
性をさらに改善することができるプログラムテストの評
価方法および装置を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a program test evaluation method and apparatus that can further improve the sufficiency of testing a program under test.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明は、データ領域と制御領域とから成る被テストプ
ログラムに対して任意のテストデータを与え、前記デー
タ領域へのアクセス頻度をアクセスの種類別に計測し、
その計測結果によって前記テストデータによるプログラ
ムテストの十分性を評価するようにしたものである。
The present invention provides arbitrary test data to a program under test consisting of a data area and a control area, measures the frequency of access to the data area by type of access,
The measurement results are used to evaluate the sufficiency of the program test using the test data.

〔作用〕[Effect]

被テストプログラムは、制御領域とデータ領域とに大別
されるので、プログラム実行時にデータ領域に対する定
義や参照のためのアクセス頻度を、これら定義や参照等
のアクセスの種類別に計測する。この計測の結果、アク
セスの種類別にアクセスの頻度および全くアクセスされ
ないデータ領域を知ることができる。従って、この評価
結果によって全てのデータ領域がアクセスされるような
テスト項目やテストデータを再設定することにより、デ
ータ領域についても十分性のあるテストデータを得るこ
とができ、これによって得たテストデータを用いて被テ
ストプログラムをテストすることにより、テストの十分
性をさらに高めることができる。
Since the program under test is broadly divided into a control area and a data area, the frequency of accesses for definition and reference to the data area during program execution is measured for each type of access such as definition and reference. As a result of this measurement, it is possible to know the frequency of access for each type of access and data areas that are never accessed. Therefore, by resetting the test items and test data so that all data areas are accessed based on this evaluation result, it is possible to obtain test data that is sufficient for the data area. By testing the program under test using , the sufficiency of the test can be further improved.

〔実施例〕〔Example〕

第1図は、本発明による評価装置の一実施例を示す機能
ブロック図であり、データ領域11と制御領域12とか
ら成る被テストプログラム10のデータ領域11をアク
セスするデータアクセス機構20と、被テストプログラ
ム10に対してテストデータ40を与え、制御領域12
の内容に従った処理を実行し、その実行結果に従ってデ
ータ領域11を更新するテスト機構30とを健えている
FIG. 1 is a functional block diagram showing an embodiment of an evaluation apparatus according to the present invention, in which a data access mechanism 20 that accesses a data area 11 of a program under test 10 consisting of a data area 11 and a control area 12; The test data 40 is given to the test program 10, and the control area 12
The test mechanism 30 executes processing according to the contents of the test and updates the data area 11 according to the execution results.

ここで、データアクセス機構20はテスト機構30がデ
ータ領域11をアクセスする際に、アクセスの種類別に
、すなわちデータの定義や参照等のアクセスの内容別に
そのアクセス頻度を監視しながら計測する。この場合、
制御領域12に2つ以上のプログラムが設定されている
場合は、そのプログラム別にアクセス頻度を計測する。
Here, when the test mechanism 30 accesses the data area 11, the data access mechanism 20 monitors and measures the access frequency by type of access, that is, by content of the access such as data definition or reference. in this case,
If two or more programs are set in the control area 12, the access frequency is measured for each program.

一方、これらアクセス機構20やテスト機構3oの他に
、アクセス機構20で計測されたアクセス頻度をアクセ
スの種類別に蓄積するアクセス情報蓄積機構50と、蓄
積されたアクセス頻度を基に不アクセス領域等を解析す
るアクセス情報解析機構60と、その解析結果および蓄
積機構50に蓄積されたアクセス頻度を印字または表示
等の形式で可視出力するアクセス情報出力機構70とを
備えている。
On the other hand, in addition to the access mechanism 20 and the test mechanism 3o, there is an access information storage mechanism 50 that stores the access frequency measured by the access mechanism 20 for each type of access, and an access information storage mechanism 50 that stores the access frequency measured by the access mechanism 20 by type of access, and stores inaccessible areas etc. based on the accumulated access frequency. It includes an access information analysis mechanism 60 that performs analysis, and an access information output mechanism 70 that visually outputs the analysis results and access frequencies accumulated in the accumulation mechanism 50 in a format such as printing or display.

以上の構成において、テスト機構30が被テストプラグ
ラム10を実行する方法として、被テストプログラム1
0に記述された命令語を逐次解釈しながら実行するイン
タブリド方式と、命令語を機械語に翻訳して機械語を実
行するコンパイル方式がある。
In the above configuration, as a method for the test mechanism 30 to execute the program under test 10, the program under test 1
There is an interbrid method in which the instruction words written in 0 are executed while sequentially interpreting them, and a compilation method in which the instruction words are translated into machine language and the machine language is executed.

インタプリ1一方式を適用する場合には、テスト機構3
0が制御領域12の内容を逐次読込みながらその内容に
従った処理を実行し、その実行途中でデータ領域11を
アクセスした時にアクセス機構20がアクセス頻度を計
測する。
When applying Interpretation 1 one-sided method, test mechanism 3
0 executes processing according to the contents while sequentially reading the contents of the control area 12, and when the data area 11 is accessed during the execution, the access mechanism 20 measures the access frequency.

コンパイル方式を適用する場合には、テスト機構30が
制御領域12の内容を全て読込み、それを機械語に翻訳
し、その機械語をテスト機構30の内部に蓄積しておき
、この蓄積された機械語に従って処理を実行する。この
場合、テスト機構30は機械語に翻訳する際に、データ
領域11をアクセスする部分にアクセスの種類別にアク
セス頻度を計測するためのカウンタ機能を挿入し、この
カウンタ機能で得られたアクセス頻度をアクセス機構2
0に提供する。
When the compilation method is applied, the test mechanism 30 reads all the contents of the control area 12, translates it into machine language, stores the machine language inside the test mechanism 30, and uses this accumulated machine language. Execute processing according to the word. In this case, when translating into machine language, the test mechanism 30 inserts a counter function to measure the access frequency by type of access in the part where the data area 11 is accessed, and calculates the access frequency obtained by this counter function. Access mechanism 2
Provided to 0.

なお、データ領域11は各種の変数等を格納しておくた
めのものであるため、具体的には複数個の領域で構成さ
れる。従って、アクセス頻度については各領域毎に計測
される。
Note that since the data area 11 is for storing various variables, etc., it is specifically composed of a plurality of areas. Therefore, the access frequency is measured for each area.

また、蓄積機構50は、磁気テープメモリ、磁気ディス
クメモリ、光デイスクメモリ、ICメモリ等の公知の記
憶手段で構成される。さらに、解析機構60は解析手順
を記憶するICメモリおよびマイクロプロセッサ等で構
成される。さらにまた、出力機構70はCRTディスプ
レイ装置やプリンタ等で構成される。
Further, the storage mechanism 50 is constituted by known storage means such as a magnetic tape memory, a magnetic disk memory, an optical disk memory, and an IC memory. Furthermore, the analysis mechanism 60 is composed of an IC memory that stores analysis procedures, a microprocessor, and the like. Furthermore, the output mechanism 70 is composed of a CRT display device, a printer, or the like.

第2図は、被テストプロゲラ1110の一例として、入
力文字をA−Z、O〜9およびその他の文字の3種類に
分けて計数するプログラムをPASCAI。
FIG. 2 shows, as an example of the tested progera 1110, a program called PASCAI that divides and counts input characters into three types: A-Z, O-9, and other characters.

言語で示したものである。このプログラムはデータ領域
と制御領域とに大別されており、データ領域では変数c
tbll、iを用いている。変数ctb nは配列変数
counterと変数ahの2つに構造が分かれており
、このうち配列変数counterについてはcoun
ter  (0) 〜(2)に分かれている。
It is expressed in language. This program is roughly divided into a data area and a control area. In the data area, the variable c
tbll, i is used. The structure of the variable ctb n is divided into two, the array variable counter and the variable ah.
It is divided into ter (0) to (2).

従って、この例の場合のデータ領域11は第3図(a)
に示すように合計5個の領域、101〜105で構成さ
れることになる。この場合counter  (0) 
〜(3)および変数ahの領域は変数ctb Qの中に
属するものであるため、 ctbα・counter 
 (0〕〜(2) 、 ctb12−chとして表わし
ている。
Therefore, the data area 11 in this example is shown in FIG. 3(a).
As shown in the figure, it is composed of a total of five areas, 101 to 105. In this case counter (0)
~(3) and the area of the variable ah belongs to the variable ctbQ, so ctbα・counter
(0] to (2), expressed as ctb12-ch.

第3図(b)は、第2図のプログラムのフローチャート
で示したものであるが、ここで第4図に示すように、文
字Cを読込むテスト項目301、文字中を読込むテスト
項目302、文字2を読込むテスト項目303とから成
るテストデータ40が設定されているものとすると、蓄
積機構50には第3図(a)で示したデータ領域11の
各領域101〜105とテスト項目301〜303の組
合せに対応して第5図に示すような構造の蓄積領域50
が準備されている。
FIG. 3(b) is a flowchart of the program shown in FIG. 2, but as shown in FIG. , test item 303 for reading character 2 is set, the storage mechanism 50 stores each area 101 to 105 of the data area 11 shown in FIG. 3(a) and the test item. An accumulation region 50 having a structure as shown in FIG. 5 corresponds to the combinations 301 to 303.
is being prepared.

そこで、第4図で示したテストデータ40を被テストプ
ログラム10のテストのためにテスト機構30が読込み
、各テスト項目別に第3図(b)の処理を実行させると
、テスト項目301の場合には、第3図(b)のステッ
プ201→202→203→206→207のパスで処
理が終了する。
Therefore, when the test mechanism 30 reads the test data 40 shown in FIG. 4 to test the program under test 10 and executes the process shown in FIG. The process ends in the path of steps 201→202→203→206→207 in FIG. 3(b).

このとき、データ領域11へのアクセスはステップ20
1において、ctbQ−ch に入力データを定義し、
次のステップ202でctb12−ch のデータを参
照し1次のステップ203で変数iとなるデータ(1,
2,Oのいずれか)を定義し。
At this time, access to the data area 11 is performed in step 20.
1, define input data to ctbQ-ch,
In the next step 202, the data of ctb12-ch is referred to, and in the first step 203, the data (1,
2, O).

さらにステップ206で変数iのデータを2回参照して
ctbQ−counter  (1)を更新する。
Furthermore, in step 206, the data of variable i is referred to twice to update ctbQ-counter (1).

従って、テスト項目301について各データ領域のアク
セス頻度は、第5図のテスト項目301の欄に示すよう
なものとなる。
Therefore, the access frequency of each data area for the test item 301 is as shown in the column of the test item 301 in FIG.

次に、テスト項目302の場合には、第3図(b)のス
テップ201→202→205→206→207のパス
で処理が終了する。
Next, in the case of the test item 302, the process ends in the path of steps 201→202→205→206→207 in FIG. 3(b).

従って、テスト項目302について各データ領域のアク
セス頻度は、第5図のテスト項目302の欄に示すよう
なものとなる。
Therefore, the access frequency of each data area for the test item 302 is as shown in the column of the test item 302 in FIG.

次にテスト項目303の場合には、テスト項目301と
全く同じパスを通って処理が終了するため、各データ領
域、のアクセス頻度は第5図のテスト項目303の欄で
示すようなものとなる。
Next, in the case of test item 303, the processing ends through the exact same path as test item 301, so the access frequency of each data area is as shown in the column of test item 303 in Figure 5. .

このようにしてアクセス機構20で計測され、かつ蓄積
機構50に蓄積されたアクセス頻度のデータは解析機構
60で合計等の解析処理が施される。この結果、第5図
の合計の欄を含めた形の解析結果が得られ、出力機構7
0から出力される。
The access frequency data thus measured by the access mechanism 20 and stored in the storage mechanism 50 is subjected to analysis processing such as summation by the analysis mechanism 60. As a result, an analysis result including the total column in Figure 5 is obtained, and the output mechanism 7
Output from 0.

第5図から明らかなようにi=2のデータ領域(=ct
bQ −counter  (2) ) 103につい
てはデータ領域に対する定義および参照回数の合計は0
であり全くアクセスされていないことがわかる。
As is clear from FIG. 5, the data area of i=2 (=ct
bQ -counter (2)) For 103, the total number of definitions and references to the data area is 0.
It can be seen that it is not accessed at all.

従って、このデータ領域103をアクセスするようなテ
スト項目を再設定すれば、データ領域および制御領域の
テストを完全なものにすることができるという評価が得
られる。
Therefore, it can be evaluated that by resetting test items such as accessing this data area 103, the test of the data area and control area can be completed.

ところで、第2図のプログラムをplとすると。By the way, if the program in Figure 2 is pl.

plと独立に動作してplの制御領域とは別にp2の制
御領域が存在しかつplと第3図(a)のデータ領域1
1を共通に使用するプログラムp2がある場合には蓄積
機構5oに対して第6図に示すようにプログラムp2に
よるアクセス頻度をテスト項目別に蓄積する領域を付加
すればよい。
There is a control area for p2 that operates independently of pl and is separate from the control area for pl, and the control area for pl and the data area 1 in FIG. 3(a) exist.
If there is a program p2 that commonly uses 1, an area may be added to the storage mechanism 5o to store the frequency of access by the program p2 for each test item, as shown in FIG.

なお、第5図で示したアクセス頻度のデータは次のよう
な手順であっても得ることができる。
Note that the access frequency data shown in FIG. 5 can also be obtained by the following procedure.

すなわち、データ領域11として必要な領域101〜1
05を被テストプログラム10から取出し1次に制御領
域を全て走査して各データ領域101〜105がアクセ
スされる箇所を記憶しておく。そして、テストの実行時
に、現在の実行箇所がデータ領域のアクセス箇所に該当
するか否かを比較し、該当すればa積機構50の中に予
め準備した領域のアクセス頻度のデータを更新する。
That is, the areas 101 to 1 necessary as the data area 11
05 from the program under test 10, first scans all the control areas, and stores the locations where each data area 101 to 105 is accessed. Then, when the test is executed, it is compared whether the current execution location corresponds to an access location of the data area, and if so, the access frequency data of the area prepared in advance in the a product mechanism 50 is updated.

例えば、第2図のプログラムに対しては、第7図に示す
ような構造の蓄積領域50′を?;i積機溝機構50に
予め準備しておく。そこで、テスト項目301をテスト
機構30に実行させると、データ領域101は定義と参
照がそれぞれ1回、102は定義も参照も0回、103
は定義と参照がそれぞれ1回、105は参照が2回、定
義が1回であることのデータを得ることができる。
For example, for the program shown in FIG. 2, the storage area 50' having the structure shown in FIG. 7 may be used. i Prepare the stacker groove mechanism 50 in advance. Therefore, when the test item 301 is executed by the test mechanism 30, the data area 101 is defined and referenced once each, 102 is defined and referenced 0 times, and 103 is defined and referenced 0 times.
It is possible to obtain data that 105 is defined and referenced once each, and 105 is referenced twice and defined once.

なお、上記実施例はPASCAL言語のプログラムの例
を挙げて説明したが他の高級言語、あるいは機械語等に
おいても全く同様に適用することができる。
Although the above embodiment has been explained using an example of a PASCAL language program, it can be applied to other high-level languages, machine language, etc. in exactly the same way.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明によれば、プログラムのテス
ト時に全文網羅率および全分岐網羅率を補うことができ
るので、テストの十分性をさらに高めることができる。
As described above, according to the present invention, it is possible to supplement the full text coverage rate and all branch coverage rate when testing a program, so that the sufficiency of the test can be further improved.

また、十分性のあるテストデータを容易に設定すること
ができる。
Furthermore, sufficient test data can be easily set.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明を適用した評価装置の一実施例を示す機
能ブロック図、第2図は被テストプログラムの一例を示
すプログラムリスト、第3図(a)はプログラムデータ
領域の構造を示す構造図、第3図(b)は第2図のプロ
グラムの処理を示したフローチャート、第4図はテスト
データの一例を示す説明図、第5図はアクセス情報蓄積
機構の容積構造の説明図、第6図はアクセス情報蓄積V
&構の蓄積機構の他の例を示す説明図、第7図はアクセ
ス情報蓄積機構のさらに他の例を示す説明図。 第8図は従来の評価方法を説明するためのデータ領域の
構造図および被テストプログラムのフローチャートであ
る。 10・・・被テストプログラム、11・・・データ領域
、12・・・制御領域、20・・・データアクセス機構
、30・・・テスト機構、40・・・テストデータ、5
0・・・アクセス情報蓄積機構、60・・・アクセス情
報解析機構、70・・・アクセス情報出力機構。
FIG. 1 is a functional block diagram showing an embodiment of an evaluation device to which the present invention is applied, FIG. 2 is a program list showing an example of a program under test, and FIG. 3(a) is a structure showing the structure of a program data area. 3(b) is a flowchart showing the processing of the program in FIG. 2, FIG. 4 is an explanatory diagram showing an example of test data, FIG. 5 is an explanatory diagram of the volumetric structure of the access information storage mechanism, Figure 6 shows access information storage V
FIG. 7 is an explanatory diagram showing another example of the & structure storage mechanism, and FIG. 7 is an explanatory diagram showing still another example of the access information storage mechanism. FIG. 8 is a structural diagram of a data area and a flowchart of a program under test for explaining a conventional evaluation method. DESCRIPTION OF SYMBOLS 10... Program under test, 11... Data area, 12... Control area, 20... Data access mechanism, 30... Test mechanism, 40... Test data, 5
0...Access information storage mechanism, 60...Access information analysis mechanism, 70...Access information output mechanism.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1、データ領域と制御領域とから成る被テストプログラ
ムに対して任意のテストデータを与え、前記データ領域
へのアクセス頻度をアクセスの種類別に計測し、その計
測結果によって前記テストデータによるプログラムテス
トの十分性を評価することを特徴とするプログラムテス
トの評価方法。 2、データ領域と制御領域とから成る被テストプログラ
ムに対して任意のテストデータを与え、制御領域の内容
に従って処理を実行し、データ領域の内容に従った処理
を実行し、データ領域の内容をその実行結果に従って更
新するテスト機構と、このテスト機能によるデータ領域
へのアクセス頻度をアクセスの種類別に記憶するアクセ
ス情報蓄積機構と、記憶されたアクセス頻度をアクセス
の種類別に可視出力する出力機構とを備えて成るプログ
ラムテストの評価装置。
[Claims] 1. Give arbitrary test data to a program under test consisting of a data area and a control area, measure the frequency of access to the data area for each type of access, and use the measurement results to determine whether the test A program test evaluation method characterized by evaluating the sufficiency of a program test using data. 2. Give arbitrary test data to the program under test, which consists of a data area and a control area, execute processing according to the contents of the control area, execute processing according to the contents of the data area, and change the contents of the data area. A test mechanism that updates according to the execution results, an access information storage mechanism that stores the frequency of access to data areas by this test function for each type of access, and an output mechanism that visually outputs the stored access frequency for each type of access. A program test evaluation device.
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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS59148962A (en) * 1983-02-14 1984-08-25 Hitachi Denshi Ltd Monitoring device of memory data

Patent Citations (1)

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