JPS63285615A - Off-line teaching device for three-dimensional measuring instrument - Google Patents

Off-line teaching device for three-dimensional measuring instrument

Info

Publication number
JPS63285615A
JPS63285615A JP62121785A JP12178587A JPS63285615A JP S63285615 A JPS63285615 A JP S63285615A JP 62121785 A JP62121785 A JP 62121785A JP 12178587 A JP12178587 A JP 12178587A JP S63285615 A JPS63285615 A JP S63285615A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measurement
data
specified
group
dimensional
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62121785A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Hideaki Okamoto
英明 岡本
Akira Iwakoshi
岩越 朗
Toyoharu Sasaki
佐々木 豊春
Yuichi Sano
雄一 佐野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp filed Critical Nikon Corp
Priority to JP62121785A priority Critical patent/JPS63285615A/en
Publication of JPS63285615A publication Critical patent/JPS63285615A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To obtain an off-line teaching device simpler in operation than the conventional by using a means which decides the drawing data from a designated accuracy name. CONSTITUTION:An accuracy name is designated by an accuracy name designating means 40 and a measuring element is designated by a measuring element designating means 41 in response to said accuracy name. Thus a specific area to be measured is designated for a subject. Then a deciding means 42 decides from the designated accuracy name whether the drawing data belongs to a 1st group where the drawing data can be treated as the space coordinate data, a 2nd group where the drawing data is handled as the projection coordinate data, or a 3rd group where it is impossible to decide unconditionally whether the drawing data should by handles as the space coordinate data or the projection coordinate data. Thus an automatic off-line teaching action is possible to the measuring path of a 3-dimensional measuring instrument just with designation of the accuracy name and the measuring element.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、部品設計時に使用したCADデータを利用し
て効率的なティーチングを行なえる3次元測定機のオフ
ラインティーチング装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to an offline teaching device for a three-dimensional measuring machine that can perform efficient teaching using CAD data used when designing a part.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

3次元測定機では、ティーチングプレイバック方式を採
用したNC化により、従来のマニュアル機と比較して、
格段に測定能率が向上している。
Compared to conventional manual machines, the 3D measuring machine uses an NC system that uses a teaching playback method.
Measurement efficiency has been significantly improved.

ティーチングプレイバック方式とは周知のように、複数
ある被検物のうちの最初の被検物に対して、3次元測定
機のプローブを動かしながら、測定点を決めていき測定
動作を覚え込ませ(これをティーチングという)、以後
はそのティーチングデータを繰り返し呼び出すことによ
り、測定作業を効率化するものである。
As is well-known, the teaching playback method is a method in which a measurement point is determined while moving the probe of a three-dimensional measuring machine for the first object among multiple objects to be measured, and the measurement operation is memorized. (This is referred to as teaching).Then, by repeatedly calling up the teaching data, the measurement work becomes more efficient.

ところで、上述の如く、3次元測定機のプローブを動か
しながら測定動作を覚え込ませる、いわゆるオンライン
ティーチングでは1.ティーチングの間には3次元測定
機をティーチングのために占領してしまい、本来の測定
が行なえない、という問題点があるばかりでなく、ティ
ーチングに多くの時間が必要である、という問題点があ
る。
By the way, as mentioned above, in so-called online teaching, in which students learn measurement operations while moving the probe of a three-dimensional measuring machine, 1. During teaching, there is not only the problem that the 3D measuring machine is occupied for teaching and the original measurement cannot be performed, but also the problem that teaching requires a lot of time. .

そこで、部品設計時に使用したCADデータを利用して
効率的なティーチングの行なえるオフラインティーチン
グが提案されている(例えば、「マシニストVOL、3
1  Nα3 50頁〜53頁)。このものは、被検物
の平面図を作成する平面図入力手段(汎用的な2次元C
AD) 、平面図入力手段で作成した平面図に高さ情報
を与えて3次元形状とした幾何データ(これが被検物の
形状モデルとなる)を作成する(3次元処理)手段(コ
ンピュータ)、3次元処理手段で作成された被検物の形
状モデルに対して、画面上で測定指示を行ない、測定パ
スを決定する測定パス決定手段、測定パス表示手段、を
有している。
Therefore, offline teaching has been proposed that allows for efficient teaching using the CAD data used when designing parts (for example, "Machinist VOL, 3
1 Nα3 pages 50-53). This is a plan view input means (general-purpose two-dimensional C
(3D processing) means (computer) for creating geometric data (this becomes a shape model of the object) by giving height information to the plan view created by the plan view input means and making it into a three-dimensional shape; The apparatus includes measurement path determining means and measurement path display means for instructing on the screen to measure the shape model of the object created by the three-dimensional processing means and determining the measurement path.

そして、測定パス決定のためにオペレータには以下の操
作が要求される。
In order to determine the measurement path, the operator is required to perform the following operations.

■画面に表われたメニュー領域内の測定項目メニューか
ら、所望の測定項目(平面度、真円度、溝幅、要素間寸
法等)をヒツト(指定)する。
■ Click (designate) the desired measurement item (flatness, roundness, groove width, dimension between elements, etc.) from the measurement item menu in the menu area displayed on the screen.

■測定したい要素(主として面)をヒツトする。■ Hit the element (mainly surface) you want to measure.

■測定点数を入力する。■Enter the number of measurement points.

■測定点数を指示する。■Instruct the number of measurement points.

■測定諸元(プローブ寸法、フィーラ寸法等)を設定す
る。
■Set measurement specifications (probe dimensions, feeler dimensions, etc.).

0画面上で、被検物の測定基準面、基準軸、原点を設定
する。
0 Set the measurement reference plane, reference axis, and origin of the test object on the screen.

測定パス決定手段は上述の■〜■の操作により入力され
たデータに基づき、測定パスを決定し、測定パス表示手
段に表示させる。
The measurement path determining means determines a measurement path based on the data inputted through the above-mentioned operations 1 to 2, and causes the measurement path display means to display the determined measurement path.

なお、上述の■で、プローブと被検物とが干渉する位置
に測定点が設定されると、該当する測定点を点滅してオ
ペレータに再設定を促す干渉チェック機能や、測定点の
追加、削除、抹消機能が付加されている。
In addition, when a measurement point is set at a position where the probe and the object to be measured interfere with each other in (■) above, there is an interference check function that blinks the corresponding measurement point to prompt the operator to reset it, and the addition of a measurement point. Deletion and deletion functions are added.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

上述の如き従来の技術においては、測定パス決定のため
にオペレータに要求される操′作が多いので、操作のよ
り簡便なオフラインティーチング装置を得ることを目的
とする。
In the conventional techniques as described above, the operator is required to perform many operations in order to determine the measurement path. Therefore, it is an object of the present invention to provide an offline teaching device that is easier to operate.

(発明の概要) 本発明は、図面データを記憶するデータ記憶手段の記憶
内容に基づいて3次元測定機のオフラインティーチング
を行なう装置において、精度名を指定する精度名指足手
段と、測定要素を指定する測定要素指定手段と、前記指
定された測定要素が前記図面データを空間座標データと
して扱える第1グループのものか、前記図面データを投
影座標データとして扱える第2グループのものか、前記
図面データを空間座標データとして扱えるか投影座標デ
ータとして扱えるか不明の第3グループのものかを前記
指定された精度名に基づいて判断する判断手段と、前記
指定された測定要素が第1グループの場合には、前記指
定された測定要素の3次元データを前記データ記憶手段
より読み出し、前記指定された精度名より決定した測定
項目に基づいて、測定点数及び測定位置を演算する第1
演算手段と、前記指定された測定要素が第2グループの
場合には、前記指定された測定要素の3次元データを前
記データ記憶手段より読み出し、所定の投影面に投影し
た2次元データに変換した後、前記指定された精度基よ
り決定した測定項目に基づいて測定点数及び測定位置を
演算する第2演算手段と、前記指定された測定要素が第
3グループの場合は、前記指定された測定要素の3次元
データを前記データ記憶手段より読み出し、該要素の面
積、長さ、幅から該要素を面、直線、点のいずれで扱う
かを決定し、前記指定された精度基より決定した測定項
目に基づいて測定点数及び測定位置を演算する第3演算
手段と、前記第1演算手段、前記第2演算手段、前記第
3演算手段の演算結果を人力し、3次元測定機のプロー
ブの測定パスを決定し、記憶する測定パス記憶手段と、
を有することを特徴とする3次元測定機のオフラインテ
ィーチング装置である。
(Summary of the Invention) The present invention provides an apparatus for off-line teaching of a three-dimensional measuring machine based on the storage contents of a data storage means for storing drawing data. A measuring element specifying means to be specified, and whether the specified measuring element is from a first group that can treat the drawing data as spatial coordinate data or a second group that can treat the drawing data as projected coordinate data, and the drawing data. a determination means for determining whether the specified measurement element can be treated as spatial coordinate data or projected coordinate data or belongs to an unknown third group based on the specified accuracy name; reads the three-dimensional data of the specified measurement element from the data storage means, and calculates the number of measurement points and measurement positions based on the measurement item determined from the specified accuracy name.
If the specified measurement element is in a second group, the calculation means reads the three-dimensional data of the specified measurement element from the data storage means and converts it into two-dimensional data projected on a predetermined projection plane. a second calculation means for calculating the number of measurement points and measurement positions based on the measurement items determined from the specified accuracy basis; and if the specified measurement element is in the third group, the specified measurement element; The three-dimensional data of is read from the data storage means, and it is determined whether the element is treated as a surface, a straight line, or a point based on the area, length, and width of the element, and the measurement items determined based on the specified accuracy criteria are determined. a third calculation means for calculating the number of measurement points and a measurement position based on the above, and the calculation results of the first calculation means, the second calculation means, and the third calculation means are manually calculated, and the measurement path of the probe of the three-dimensional measuring machine is determined. measurement path storage means for determining and storing the
This is an offline teaching device for a three-dimensional measuring machine characterized by having the following.

(実施例) 以下、図面に示した実施例に基づいて本発明を説明する
(Example) The present invention will be described below based on the example shown in the drawings.

第1図は本発明の一実施例のブロック図である。FIG. 1 is a block diagram of one embodiment of the present invention.

平面図入力機能及び3次元処理機能を有するCADIは
、キーボードによって図面データが入力される。第1記
憶手段2は、CADlにより処理された被検物の3次元
形状を記憶する。
In CADI, which has a plan view input function and a three-dimensional processing function, drawing data is input using a keyboard. The first storage means 2 stores the three-dimensional shape of the object processed by CADl.

精度名指足手段40は、キーボード等により図面上の精
度基の指定を行なうためのものである。
The precision name foot means 40 is for specifying the precision base on the drawing using a keyboard or the like.

精度は幾何偏差、寸法公差、角度公差に分類され、具体
的な精度基としては、例えば、平面度、円筒度、真円度
、寸法がある。測定要素指定手段41は、被検物のどこ
を測定の対象とするかを指定するもので、第1記憶手段
2の記憶内容に応じてグラフィックディスプレイ3に表
示された被検物の3次元形状を見ながら、タブレットを
用いてグラフィックディスプレイ3上に測定対象を指定
してい(、精度名指足手段40と測定要素指定手段41
とは入力手段400に含まれており、入力手段400は
、精度基と測定要素とを対応させて記憶し、指定終了指
定によって順次、判断手段42と演算手段43.44.
45に送出する。判断手段42は、精度名指足手段40
にて指定された精度基を基に、測定要素指定手段41に
て指定された測定要素が、第1記憶手段2に記憶されて
いる図面データを空間座標データとして扱える第1グル
ープのものか、第1記憶手段2に記憶されている図面デ
ータを投影座標データとして扱える第2グループのもの
か、第1記憶手段2に記憶されている図面データを空間
座標データとして扱えるか投影座標データとして扱える
か不明の第3グループのものか、を判断する。
Accuracy is classified into geometric deviation, dimensional tolerance, and angular tolerance, and specific accuracy bases include, for example, flatness, cylindricity, roundness, and dimension. The measurement element specifying means 41 specifies which part of the test object is to be measured, and the three-dimensional shape of the test object displayed on the graphic display 3 according to the stored contents of the first storage means 2. While looking at the table, the measurement target is designated on the graphic display 3 using a tablet (accuracy name finger/toe means 40 and measurement element designation means 41).
are included in the input means 400, and the input means 400 stores the accuracy basis and the measurement element in correspondence, and sequentially selects the judgment means 42, the calculation means 43, 44, .
45. The determining means 42 is an accuracy measuring means 40.
Based on the precision basis specified in , whether the measurement element specified by the measurement element specification means 41 is from the first group in which the drawing data stored in the first storage means 2 can be treated as spatial coordinate data; Whether the drawing data stored in the first storage means 2 belongs to the second group that can be handled as projected coordinate data, or whether the drawing data stored in the first storage means 2 can be handled as spatial coordinate data or projected coordinate data. Determine if it belongs to the unknown third group.

第1演算手段43は、判断手段42が指定された測定要
素を第1グループのものと判断すると、測定要素指定手
段41により指定された要素の3次元データを第1記憶
手段2より読み出し、前記指定された精度基より決定し
た測定項目に基づいて、測定点数及び測定位置を演算す
る。すなわち、第1演算手段43は、測定項目決定手段
と測定点数及び測定位置の決定手段とを有する。なお、
測定項目決定手段は、例えば精度基として平面度が与え
られていれば、それに対応する測定項目(この場合には
面)を決定する。より具体的な動作を述べれば、3次元
データとして読み出された図形をメツシュに切って(こ
の手法は図形認識の手段として画像解析の分野ではよく
知られている)、例えば図形が平面の場合には、プロー
ブと物体の干渉をチェックし、図形内の3つの測定点が
張る面積が最大となる3点を測定する。さらに、平面度
の測定の場合のように多点測定が要求されている場合に
は、第1記憶手段2の図面データの面精度に応じた細か
さで、測定点数及び測定点の座標を求める。
When the determining means 42 determines that the specified measuring element belongs to the first group, the first calculating means 43 reads the three-dimensional data of the element specified by the measuring element specifying means 41 from the first storage means 2, and The number of measurement points and measurement positions are calculated based on the measurement items determined from the specified accuracy criteria. That is, the first calculation means 43 has a measurement item determination means and a measurement point number and measurement position determination means. In addition,
For example, if flatness is given as an accuracy basis, the measurement item determining means determines a corresponding measurement item (in this case, a surface). More specifically, a figure read out as three-dimensional data is cut into meshes (this method is well known in the field of image analysis as a means of figure recognition), and for example, if the figure is a plane, To do this, check for interference between the probe and the object, and measure the three points in the figure where the area covered by the three measurement points is maximum. Furthermore, when multi-point measurement is required, such as in the case of flatness measurement, the number of measurement points and the coordinates of the measurement points are determined with a fineness corresponding to the surface accuracy of the drawing data in the first storage means 2. .

第1演算手段43により演算された測定点の座標は、第
2記憶手段46に記憶される。
The coordinates of the measurement point calculated by the first calculation means 43 are stored in the second storage means 46.

第2演算手段44は、判断手段42が指定された測定要
素を第2グループのものと判断すると、測定要素指定手
段41により指定された要素の3次元データを第1記憶
手段2より読み出し、前記指定された精度基より決定し
た測定項目に基づいて、測定点数及び測定位置を演算す
る。すなわち、精度基として例えば真円度が与えられて
いれば、測定項目決定手段がそれに対応する測定項目(
円)を決定する。ついで、投影面決定手段により、その
測定要素を測定するのに最もふされしい投影面を決定す
る。具体的には、例えば穴の真円度を測定する場合、そ
の穴の軸に垂直でかつ最も広い平面を図面データより選
び出し、投影面とする。
When the determination means 42 determines that the specified measurement element belongs to the second group, the second calculation means 44 reads the three-dimensional data of the element specified by the measurement element specification means 41 from the first storage means 2, and The number of measurement points and measurement positions are calculated based on the measurement items determined from the specified accuracy criteria. In other words, if, for example, roundness is given as the accuracy basis, the measurement item determining means selects the corresponding measurement item (
yen). Next, the projection plane determining means determines the most suitable projection plane for measuring the measurement element. Specifically, when measuring the roundness of a hole, for example, the widest plane perpendicular to the axis of the hole is selected from the drawing data and used as the projection plane.

そして、測定点数及び測定位置の決定手段が測定点の座
標を決定する。このように、第2演算手段44は、測定
項目決定手段、投影面決定手段、測定点数及び測定位置
の決定手段、を有する。このようにして第2演算手段4
4により演算された測定点の座標もまた、第2記憶手段
46に記憶される。
Then, the measurement point number and measurement position determining means determines the coordinates of the measurement points. In this way, the second calculation means 44 includes a measurement item determination means, a projection plane determination means, and a measurement point and measurement position determination means. In this way, the second calculation means 4
The coordinates of the measurement point calculated in step 4 are also stored in the second storage means 46.

第3演算手段45は、判断手段42が指定された測定要
素を第3グループのものと判断すると、測定要素指定手
段41により指定された要素の3次元データを第1記憶
手段2より読み出し、前記指定された精度名より決定し
た測定項目に基づいて、測定点数及び測定位置を演算す
る。具体的には、第3演算手段の測定項目決定手段が精
度名と測定要素とから3次元測定機の測定項目を決定す
る。例えば、平面間の距離の場合、平面がどちらも平面
として扱えるのであれば、平面間の距離として、どちら
も直線として扱えるのであれば直線間の距離として測定
項目を決定する。すなわち、平面の場合は3次元データ
として読み出された図形をメツシュに切って、プローブ
と物体の干渉を考慮し、面積、長さ、幅を検査する。そ
して、面積、長さ、幅がそれぞれに対応させた第1の所
定値以上のときは、この図形を3次元座標上の平面とし
て扱って良いと判断し、測定点数及び測定位置の決定手
段が、例えば、図形内で最大面積を張る3点を測定点と
しての座標を求める。一方、上述の面積、長さ、幅がそ
れぞれに対応させた上記第1の所定値より小さく、かつ
上記第1の所定値より小さな第2の所定値以上である場
合には、この図形は3次元座標上の平面として扱うより
も、3次元座標上の直線として扱う方が好ましいと判断
し、投影面決定手段がその要素を測定するのに最適な投
影面を求め、測定点数及び測定位置の決定手段は投影さ
れた直線の最大距離となる2点を測定点としてその座標
を求める。また、上述の面積、長さ、幅がそれぞれに対
応させた上記第2の所定値より小さい場合には、点とし
て扱い、その座標を求める。
When the determining means 42 determines that the specified measuring element belongs to the third group, the third calculating means 45 reads the three-dimensional data of the element specified by the measuring element specifying means 41 from the first storage means 2, and The number of measurement points and measurement positions are calculated based on the measurement items determined from the specified accuracy name. Specifically, the measurement item determining means of the third calculation means determines the measurement item of the three-dimensional measuring machine from the accuracy name and the measurement element. For example, in the case of the distance between planes, if both planes can be treated as planes, the measurement item is determined as the distance between planes, and if both can be treated as straight lines, the measurement item is determined as the distance between straight lines. That is, in the case of a plane, the figure read out as three-dimensional data is cut into a mesh, and the area, length, and width are inspected, taking into account interference between the probe and the object. When the area, length, and width are each greater than or equal to the first predetermined values, it is determined that this figure can be treated as a plane on three-dimensional coordinates, and the means for determining the number of measurement points and measurement positions is executed. For example, the coordinates of three points having the maximum area within the figure are determined as measurement points. On the other hand, if the above-mentioned area, length, and width are smaller than the corresponding first predetermined values and greater than or equal to the second predetermined values smaller than the first predetermined values, this figure is 3 It is determined that it is better to treat the element as a straight line on three-dimensional coordinates than as a plane on dimensional coordinates, and the projection plane determining means determines the optimal projection plane for measuring the element, and determines the number of measurement points and the measurement position. The determining means determines the coordinates of two points that are the maximum distance between the projected straight lines as measurement points. Further, if the above-mentioned area, length, and width are smaller than the corresponding second predetermined values, it is treated as a point and its coordinates are determined.

同様に、円筒面の場合には、例えば円筒面をメツシュに
切って、平面と同様な検査を行ない、軸方向において最
大のスパンをとるような2円の座標を求める。そのスパ
ンがある値以上であれば、円筒面として扱い、小さけれ
ば円として扱う。
Similarly, in the case of a cylindrical surface, for example, the cylindrical surface is cut into a mesh and inspected in the same way as for a flat surface, to find the coordinates of two circles that have the maximum span in the axial direction. If the span is greater than a certain value, it is treated as a cylindrical surface, and if it is smaller, it is treated as a circle.

このようにして第3演算手段44により演算された測定
点の座標もまた、第2記憶手段46に記憶される。
The coordinates of the measurement point calculated by the third calculation means 44 in this manner are also stored in the second storage means 46.

測定パス決定手段47は、第2記憶手段46に記憶され
ている測定点の座標値から測定パスを決定し、それを記
憶すると共に、ディスプレイ3に被検物の3次元形状と
共に表示させる。
The measurement path determining means 47 determines a measurement path from the coordinate values of the measurement points stored in the second storage means 46, stores it, and displays it on the display 3 together with the three-dimensional shape of the object.

出力手段48は、測定パス決定手段47の出力信号を3
次元コントローラ5に送出するもので、その結果、3次
元測定機6のプローブは、測定バス決定手段47により
決定された測定バスに従って移動する。
The output means 48 outputs the output signal of the measurement path determination means 47 to three
As a result, the probe of the three-dimensional measuring machine 6 moves according to the measurement bus determined by the measurement bus determination means 47.

なお、以上説明した精度名指足手段40、測定要素指定
手段41、判断手段42、第1演算手段43、第2演算
手段44、第3演算手段45、第2記憶手段46、測定
バス決定手段47、出力手段48は、オフラインティー
チング装置本体4を構成する。
Note that the accuracy name toe/toe means 40, measurement element designation means 41, judgment means 42, first calculation means 43, second calculation means 44, third calculation means 45, second storage means 46, measurement bus determination means explained above 47, the output means 48 constitutes the offline teaching device main body 4.

以下、オフラインティーチングのフローチャートである
第2図に基づいて第1図の動作を説明する。
Hereinafter, the operation shown in FIG. 1 will be explained based on FIG. 2, which is a flowchart of offline teaching.

まず、CADIに図面データを人力する(ステップ20
)。この図面データの入力は、オフラインティーチング
に際して新たに人力する必要はな(、CADlによる設
計作業の結果、被検物のデータが既に入っている場合に
は(通常は既に入っている)、これを呼び出せばよい(
ステップ20)。次いで、精度名指足手段40により精
度名を指定しくステップ21)、測定要素指定手段41
により精度名に対応させて測定要素を指定する(ステッ
プ22)。これによって被検物のどこを測定するかが指
定される。入力手段400は精度名指定及び測定要素指
定が終了したか否かを判断しくステップ23)、終了の
指示がなされると、指定された精度名と測定要素の組に
順番を付し、N−1を指定する(ステップ24)。判断
手段42は、指定手段40にて指定された精度名から、
図面データを空間座標データとして扱って良い第1グル
ープのものか、図面データを投影座標データとして扱う
第2グループのものか、図面データを空間座標データと
して扱うか投影座標データとして扱うか一義的には定め
られない第3グループのものか、を判断する(ステップ
25)。・指定された精度名が判断手段42によって第
1グループのものと判断されると、第1演算手段43は
、測定要素指定手段41により指定された測定要素の空
間座標データを第1記憶手段2より呼び出し、測定点数
及び測定点の座標を演算し、第2記憶手段46に記憶さ
せる(ステップ26)。また、指定された精度名が判断
手段によって第2グループのものと判断されると、第2
演算手段44は、測定要素指定手段41により指定され
た測定要素の空間座標データを第1記憶手段2より呼び
出し、前述の如き演算を行って、測定点数及び測定点の
座標を演算し、第2記憶手段46に記憶させる(ステッ
プ27)。さらに、指定された精度名が判断手段42に
よって第3グループのものと判断されると、第3演算手
段45は、測定要素指定手段41により指定された測定
要素の空間座標データを第1記憶手段2より呼び出し、
まず、この測定要素を空間座標データとして扱えるか投
影座標データとして扱うものかを決定しくステン128
)、この決定に基づいて、測定点数及び測定点の座標を
演算し、第2記憶手段46に記憶させる(ステップ29
)。
First, input drawing data into CADI (step 20)
). There is no need to input this drawing data manually during offline teaching (if the data of the object to be inspected is already included as a result of design work using CADl (usually it is already included), this input is not necessary. Just call it (
Step 20). Next, the accuracy name is designated by the accuracy name finger foot means 40 (step 21), and the measurement element designation means 41
The measurement element is specified in correspondence with the accuracy name (step 22). This specifies where on the object to be measured. The input means 400 determines whether or not the specification of accuracy name and measurement element has been completed (step 23). When the instruction to finish is given, the input means 400 assigns an order to the specified combination of accuracy name and measurement element, and returns N- 1 (step 24). The determining means 42 determines from the accuracy name specified by the specifying means 40,
Whether it is the first group that allows drawing data to be treated as spatial coordinate data, or the second group that treats drawing data as projected coordinate data, or whether drawing data is treated as spatial coordinate data or projected coordinate data. It is determined whether the data belongs to the unspecified third group (step 25). - When the designated accuracy name is determined by the determination means 42 to be of the first group, the first calculation means 43 stores the spatial coordinate data of the measurement element designated by the measurement element designation means 41 in the first storage means 2. The number of measurement points and the coordinates of the measurement points are calculated and stored in the second storage means 46 (step 26). In addition, if the specified accuracy name is determined by the determination means to belong to the second group, the second
The calculating means 44 reads the spatial coordinate data of the measuring element specified by the measuring element specifying means 41 from the first storage means 2, performs the above-mentioned calculations, calculates the number of measuring points and the coordinates of the measuring points, and calculates the number of measuring points and the coordinates of the measuring points. It is stored in the storage means 46 (step 27). Further, when the designated accuracy name is determined by the determining means 42 to be of the third group, the third calculating means 45 stores the spatial coordinate data of the measuring element specified by the measuring element specifying means 41 in the first storage means. Called from 2,
First, determine whether this measurement element can be treated as spatial coordinate data or projected coordinate data.
), based on this determination, the number of measurement points and the coordinates of the measurement points are calculated and stored in the second storage means 46 (step 29
).

ステップ26.27.29が終了すると、指定された精
度名と測定要素の組がすべて演算終了したか否かを判断
しくステップ30)、終了していなければ、次の組の演
算を行ない(ステップ31.25.26.27.28.
29)、終了していれば、測定パス決定手段47によっ
て、測定パスを決定し、ディスプレイ3に表示させる(
ステップ32)。
When steps 26, 27, and 29 are completed, it is determined whether all the specified accuracy name and measurement element pairs have been calculated (step 30), and if not, the next pair is calculated (step 30). 31.25.26.27.28.
29) If the measurement path has been completed, the measurement path determination means 47 determines the measurement path and displays it on the display 3 (
Step 32).

そして、出力指令があるか否かを判断し、(ステップ3
3)出力指令があれば、3次元コントローラ5に測定パ
ス決定信号を送出する(ステップ34)。
Then, it is determined whether there is an output command or not (step 3
3) If there is an output command, a measurement path determination signal is sent to the three-dimensional controller 5 (step 34).

なお、オフラインティーチング装置4のキーボード等の
指令部材を除いた残りの部分は、コンピュータにより構
成することが好ましい。
Note that it is preferable that the remaining portion of the offline teaching device 4 except for a command member such as a keyboard be configured by a computer.

(発明の効果) 以上述べたように本発明によれば、精度名と測定要素と
を指定するだけで、3次元測定機の測定パスが自動的に
かつオフラインでティーチングしうるので、きわめて使
い易いオフラインティーチング装置を得ることができる
(Effects of the Invention) As described above, according to the present invention, the measurement path of the 3D measuring machine can be taught automatically and off-line by simply specifying the accuracy name and measurement element, making it extremely easy to use. An offline teaching device can be obtained.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の第1実施例のブロック図、第2図は第
1図の実施例の動作を説明するためのフローチャートで
ある。 (主要部分の符号の説明〕 4・・・オフラインティーチング装置 40・・・精度名指定手段 41・・・測定要素指定手段 42・・・判断手段 43・・・第1演算手段 44・・・第2演算手段 45・・・第3演算手段 47・・・測定パス決定手段 400・・・入力手段
FIG. 1 is a block diagram of a first embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a flowchart for explaining the operation of the embodiment of FIG. (Explanation of symbols of main parts) 4...Offline teaching device 40...Accuracy name specifying means 41...Measurement element specifying means 42...Judgment means 43...First calculation means 44...No. 2 calculation means 45...Third calculation means 47...Measurement path determination means 400...Input means

Claims (1)

【特許請求の範囲】 図面データを記憶するデータ記憶手段の記憶内容に基づ
いて3次元測定機のオフラインティーチングを行なう装
置において、 精度名を指定する精度名指定手段と、 測定要素を指定する測定要素指定手段と、 前記指定された測定要素が、前記図面データを空間座標
データとして扱える第1グループのものか、前記図面デ
ータを投影座標データとして扱える第2グループのもの
か、前記図面データを空間座標データとして扱えるか投
影座標データとして扱えるか不明の第3グループのもの
かを前記指定された精度名に基づいて判断する判断手段
と、前記指定された測定要素が第1グループの場合には
、前記指定された測定要素の3次元データを前記データ
記憶手段より読み出し、前記指定された精度名より決定
した測定項目に基づいて測定点数及び測定位置を演算す
る第1演算手段と、前記指定された測定要素が第2グル
ープの場合には、前記指定された測定要素の3次元デー
タを前記データ記憶手段より読み出し、所定の投影面に
投影した2次元データに変換した後、前記指定された精
度名より決定した測定項目に基づいて測定点数及び測定
位置を演算する第2演算手段と、前記指定された測定要
素が第3グループの場合は、前記指定された測定要素の
3次元データを前記データ記憶手段より読み出し、該要
素の面積、長さ、幅から該要素を面、直線、点のいずれ
かで扱うかを決定し、前記指定された精度名より決定し
た測定項目に基づいて測定点数及び測定位置を演算する
第3演算手段と、 前記第1演算手段、前記第2演算手段、前記第3演算手
段の演算結果を入力し、3次元測定機のプローブの測定
パスを決定し、記憶する測定パス記憶手段と、 を有することを特徴とする3次元測定機のオフラインテ
ィーチング装置。
[Scope of Claims] An apparatus for offline teaching of a three-dimensional measuring machine based on the contents stored in a data storage means for storing drawing data, comprising: an accuracy name designation means for designating an accuracy name; and a measurement element for designating a measurement element. specifying means; determining whether the specified measurement element is from a first group that can treat the drawing data as spatial coordinate data or a second group that can treat the drawing data as projected coordinate data; determining means for determining whether the specified measurement element is of a third group of unknown whether it can be treated as data or projected coordinate data, based on the specified accuracy name; a first calculation means for reading three-dimensional data of a specified measurement element from the data storage means and calculating the number of measurement points and measurement positions based on the measurement item determined from the specified accuracy name; If the element is in the second group, the three-dimensional data of the specified measurement element is read from the data storage means, converted into two-dimensional data projected on a predetermined projection plane, and then converted from the specified accuracy name. a second calculation means that calculates the number of measurement points and measurement positions based on the determined measurement items; and when the designated measurement element is in a third group, the data storage means stores the three-dimensional data of the designated measurement element; , determine whether the element is treated as a surface, straight line, or point based on the area, length, and width of the element, and calculate the number of measurement points and measurement position based on the measurement item determined from the specified accuracy name. and a measurement path for inputting the calculation results of the first calculation means, the second calculation means, and the third calculation means, and determining and storing the measurement path of the probe of the three-dimensional measuring machine. An offline teaching device for a three-dimensional measuring machine, comprising: a storage means;
JP62121785A 1987-05-19 1987-05-19 Off-line teaching device for three-dimensional measuring instrument Pending JPS63285615A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62121785A JPS63285615A (en) 1987-05-19 1987-05-19 Off-line teaching device for three-dimensional measuring instrument

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62121785A JPS63285615A (en) 1987-05-19 1987-05-19 Off-line teaching device for three-dimensional measuring instrument

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63285615A true JPS63285615A (en) 1988-11-22

Family

ID=14819831

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62121785A Pending JPS63285615A (en) 1987-05-19 1987-05-19 Off-line teaching device for three-dimensional measuring instrument

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS63285615A (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008209420A (en) * 2008-05-09 2008-09-11 Mitsutoyo Corp Non-contact three-dimensional measurement method

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008209420A (en) * 2008-05-09 2008-09-11 Mitsutoyo Corp Non-contact three-dimensional measurement method
JP4578538B2 (en) * 2008-05-09 2010-11-10 株式会社ミツトヨ Non-contact 3D measurement method

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5208763A (en) Method and apparatus for determining position and orientation of mechanical objects
US5465221A (en) Automated process planning for quality control inspection
US6611786B1 (en) Apparatus and method concerning analysis and generation of part program for measuring coordinates and surface properties
US20200033109A1 (en) Workpiece measurement device, workpiece measurement method and non-transitory computer readable medium recording a program
US10990075B2 (en) Context sensitive relational feature/measurement command menu display in coordinate measurement machine (CMM) user interface
Kweon et al. Part orientations for CMM inspection using dimensioned visibility maps
JPH10300457A (en) Measurement support system
Spitz et al. Accessibility analysis using computer graphics hardware
JP4046370B2 (en) 3D shape drawing method
JPS62272366A (en) Graphic information processor
Yang et al. Inspection path generation in haptic virtual CMM
JPS63285615A (en) Off-line teaching device for three-dimensional measuring instrument
JP3765061B2 (en) Offline teaching system for multi-dimensional coordinate measuring machine
JPH02197965A (en) Method for displaying three-dimensional analysis data as pattern
JP6664073B2 (en) Measurement support method, coordinate measuring machine, and measurement support program
JP2007213437A (en) Information-processing method and information-processing device
Schmetz et al. Touch-based augmented reality marking techniques on production parts
JP6293293B2 (en) How to establish routines for multi-sensor measurement equipment
JP2744081B2 (en) Measurement support device
JP2674868B2 (en) Measurement support device
JPH08159746A (en) Method for preparing measurement information for multi-dimensional shape measuring device
Van Thiel Feature based automated part inspection
JP2559113B2 (en) Method of generating measurement information in coordinate measuring machine
JP3640790B2 (en) 3D CAD system and computer readable storage medium storing 3D CAD program
JPH0320803A (en) Work simulation device