JPS63282588A - 暗号化回路のチェック方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） 本発明は、いわゆるＩＣカードと称される携帯可能電子
装置に内蔵された暗号化回路の動作チェックを行なう暗
号化回路のチェック方式に関する。

（従来の技術） 近年、新たな携帯可能なデータ記憶媒体として、不揮発
性メモリおよびこれらを制御するＣＰＵなとの制御素子
を有するＩＣチップを内蔵したＩＣカードが開発されて
いる。この種のＩＣカードは、制御素子によってメモリ
をアクセスし、外部装置からの要求に応じて必要なデー
タの入出力を選択的に行なうものである。

さて、最近のＩＣカードでは、たとえば外部からの要求
によりメモリ内のデータを外部へ出力する際、あるいは
メモリに対してデータを書込む際、外部からの命令ある
いは内部での判断によりデータの全てまたはデータの一
部を暗号化する場合があり、そのための暗号化回路を内
蔵したものがある。暗号化回路としては、通常、データ
のビットを入れ替えるビット入れ替え回路を組合せて構
成する場合が多い。そのため、ビット入れ替え回路のパ
ターンチェック（動作チェック）は、ＩＣカードの信頼
性向上のために不可欠なものである。

通常、ＩＣカードの製造においては、まずＩＣチップの
段階でビット入れ替え回路のパターンチェックを行なう
。この時点では、ＩＣチップ自体の欠陥をパターンチェ
ックによって取り除く。その後、ＩＣチップはプラスチ
ック製のカード本体内に埋設される。このとき、埋設さ
れたＩＣチップのビット入れ替え回路に機械的な破損が
生じる可能性がある。しかし、従来は、ＩＣチップを埋
設した後、ＩＣカードになった状態では、ビット入れ替
え回路のパターンチェックを行なうことができなかった
。

すなわち、従来は、ＩＣチップの段階で行なわれていた
ビット入れ替え回路のパターンチェックを、ＩＣカード
になった状態では行なうことができなかった。このため
、ＩＣカードの製造時にＩＣカードの状態でビット入れ
替え回路のパターンチェックができず、ＩＣカードとし
ての信頼性が低下していた。

なお、ビット入れ替え回路のみに限らず、ビット入れ替
え回路を含む暗号化回路全体についても上記同様なこと
が言える。

（発明が解決しようとする問題点） 本発明は、上記したように携帯可能電子装置になった状
態では内部の暗号化回路の動作チェックが行なえず、携
帯可能電子装置としての信頼性か低下するという問題点
を解決すべ（なされたもので、携帯可能電子装置になっ
た状態でも内部の暗号化回路の動作チェックが可能とな
り、暗号化回路を含む携帯可能電子装置の信頼性が向上
する暗号化回路のチェック方式を提供することを目的と
する。

［発明の構成コ （問題点を解決するための手段） 本発明の暗号化回路のチェック方式は、データの暗号化
を行なう暗号化回路を備えた携帯可能電子装置において
、第１のデータおよびこの第１のデータに対応する第２
のデータをそれぞれ記憶する記憶手段と、この記憶手段
に記憶された第１のデータを前記暗号化回路に入力する
手段と、この手段で入力された第１のデータに対する暗
号化データを前記暗号化回路から出力させる手段と、こ
の手段で出力されたデータと前記記憶手段に記憶された
第２のデータとを照合することにより、前記暗号化回路
の動作チェックを行なう手段とを具備している。

（作用） 第１のデータおよびこの第１のデータに対応する第２の
データをそれぞれ用意しておき、この用意した第１のデ
ータを携帯可能電子装置内の暗号化回路に入力し、この
入力した第１のデータに対する暗号化データを上記暗号
化回路から出力させ、この出力されたデータと上記用意
した第２のデータとを照合することにより上記暗号化回
路の動作チェックを行なうものである。

これにより、携帯可能電子装置の状態で内部の暗号化回
路の動作チェックを行なえるため、たとえば携帯可能電
子装置の製造時にＩＣチップの段階で暗号化回路の動作
チェックを行ない、さらに携帯可能電子装置の段階で再
び暗号化回路の動作チｊ−ツクを行なうことにより、携
帯可能電子装置の製造過程において暗号化回路に破損が
生じなかったか否かを確認することができ、暗号化回路
を含む携帯可能電子装置の信頼性が著しく向上する。

（実施例） 以下、本発明の一実施例について図面を参照して説明す
る。

第２図は、本発明に係る携帯可能電子装置としてのＩＣ
カードと、このＩＣカードを取扱う外部装置とのシステ
ム構成図である。

ＩＣカード１１は、種々のデータを記憶するＥＥＦＲＯ
Ｍなどの不揮発性メモリ１２、データの暗号化を行なう
暗号化回路１３、後述する外部装置２１と通信するため
のコンタクト部１４、およびこれらを制御するＣＰＵな
どの制御素子１５から構成されていて、これらのうちメ
モリ１２、暗号化回路１３および制御素子１５は、たと
えば１つのＩＣチップ（あるいは複数のＩＣチップ）で
構成されてＩＣカード本体内に埋設されている。

暗号化回路１３は、暗号化の一手段としてデータのビッ
トを入れ替えるビット入れ替え回路１６を有している。

外部装置２１は、データを記憶するメモリ２２、前記ビ
ット入れ替え回路１６をチェックするためのパターンデ
ータを記憶するパターンデータメモリ２３、データの入
力などを行なうキーボード部２４、人出力データなどを
表示する表示部２５、ＩＣカード１１と通信するための
コンタクト部２６、およびこれらを制御するＣＰＵなど
の制御部２″Ｉから構成されている。パターンデータメ
そり２３は、チェック用の第１のパターンデータおよび
第２のパターンデータをそれぞれ記憶している。第１の
パターンデータおよび第２のパターンデータは１対１対
応であり、あらかじめ前記ビット入れ替え回路１６によ
り第１のパターンデータが変換される結果を第１のパタ
ーンデータに対応する第２のパターンデータとしである
。

なお、３１はＩＣカード１１と外部装置２１との間で通
信するための通信回線である。

次に、このような構成において本発明に係る暗号化回路
のチェック方式を第１図を用いて詳細に説明する。まず
、ＩＣカード１１を外部装置２１にセットし、キーボー
ド部２４からビット入れ替え回路のチェック命令を入力
する。すると、外部装置２１の制御部２７はＩＣカード
１１の制御素子１５にビット入れ替え回路チェック信号
を送信する。これを受信した制御素子１５は、チェック
承認信号を外部装置２１の制御部２７に送信する。

これを受信した制御部２７は、パターンデータメモリ２
３から第１のパターンデータを読出し、それをＩＣカー
ド１１の制御素子１５に送信する。

これを受信した制御素子１５は、受信した第１のパター
ンデータを暗号化回路１３内のビット入れ替え回路１６
に入力し、これによってビット入れ替え回路１６から出
力される変換されたデータを外部装置２１の制御部２７
に送信する。これを受信した制御部２７は、受信した第
１のパターンデータとパターンデータメモリ２３内の第
２のパターンデータとを比較照合する。この照合の結果
、両パターンデータが一致すれば、ビット入れ替え回路
１６は正常動作しており、したがって制御部２７は正常
である旨を示すメツセージを表示部２５に表示する。ま
た、上記照合の結果、両パターンデータが一致しなけれ
ば、ビット入れ替え回路１６は異常動作しており、した
がって制御部２７は異常である旨を示すメツセージを表
示部２５に表示する。

このように、チェック用の第１のパターンデータおよび
この第１のパターンデータに対応する第２のパターンデ
ータを外部装置に記憶しておき、この記憶しである第１
のパターンデータを外部装置からＩＣカードに送信して
暗号化回路内のビット入れ替え回路に入力し、この入力
した第１のパターンデータに対するビット入れ替え回路
の出力データをＩＣカードから外部装置に送信させ、外
部装置において受信したデータと上記記憶しである第２
のパターンデータとを比較照合することにより、上記暗
号化回路内のビット入れ替え回路の動作チェックを行な
うものである。

これにより、Ｉｃカードの状態で暗号化回路内のビット
入れ替え回路の動作チェックを行なえるため、たとえば
ＩＣカードの製造時にＩＣチップの段階でビット入れ替
え回路の動作チェックを行ない、さらにＩＣカードの段
階で再びビット入れ替え回路の動作チェックを行なうこ
とにより、ＩＣカードの製造過程においてビット入れ替
え回路に破損が生じなかったか否かを確認することがで
き、ビット入れ替え回路を含むＩＣカードの信頼性が著
しく向上する。

なお、比較照合するデータは数が多いので、ＩＣカード
内に記憶させると、メモリ容量の限られたＩＣカードに
おいては不利である。したがって、前記実施例のように
外部装置に比較照合するデータを記憶することにより、
ＩＣカードのメモリに負担をかけることはない。また、
暗号化回路自体ヲパターンチェックするのではな（、暗
号化回路内のビット入れ替え回路を個々にパターンチェ
ックするので、パターンチェック用のデータを盗まれた
り、あるいは盗聴されたりしても、暗号化回路自体の安
全性は損うことがないことも前記実施例の利点である。

なお、前記実施例では、暗号化回路内のビット入れ替え
回路の動作チェックを行なう場合について説明したが、
本発明はこれに限定されるものでなく、ビット入れ替え
回路を含む暗号化回路全体の動作チェックも同様に行な
うことができる。

［発明の効果コ 以上詳述したように本発明によれば、携帯可能電子装置
になった状態でも内部の暗号化回路の動作チェックが可
能となり、暗号化回路を含む携帯可能電子装置の信頼性
が向上する暗号化回路のチェック方式を提供できる。

【図面の簡単な説明】

図は本発明の一実施例を説明するためのもので、第１図
は暗号化囲路のチェック方式を説明する流れ図、第２図
はＩＣカードと外部装置とのシステム構成図である。 １１・・・ＩＣカード（携帯可能電子装置）、１２・・
・不揮発性メモリ、１３・・・暗号化回路、１４・・・
コンタクト部、１５・・・制御素子、１６・・・ビット
入れ替え回路、２１・・・外部装置、２３・・・パター
ンデータメモリ、２６・・・コンタクト部、２７・・・
制御部、３１・・・通信回線。

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. （１）　データの暗号化を行なう暗号化回路を備えた携
   帯可能電子装置において； 第１のデータおよびこの第１のデータに対応する第２の
   データをそれぞれ記憶する記憶手段と；この記憶手段に
   記憶された第１のデータを前記暗号化回路に入力する手
   段と； この手段で入力された第１のデータに対する暗号化デー
   タを前記暗号化回路から出力させる手段と； この手段で出力されたデータと前記記憶手段に記憶され
   た第２のデータとを照合することにより、前記暗号化回
   路の動作チェックを行なう手段とを具備したことを特徴
   とする暗号化回路のチェック方式。
2. （２）　前記第２のデータは前記第１のデータが前記暗
   号化回路で暗号化される結果と同一のデータとしてある
   ことを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の暗号化回
   路のチェック方式。
3. （３）　前記暗号化回路は暗号化の一手段としてデータ
   のビットを入れ替えるビット入れ替え回路を有し、この
   ビット入れ替え回路の動作チェックを行なうことを特徴
   とする特許請求の範囲第１項記載の暗号化回路のチェッ
   ク方式。
4. （４）　前記携帯可能電子装置はいわゆるＩＣカードで
   あることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載の暗号
   化回路のチェック方式。