JPS6326575A - プリント板試験台 - Google Patents

プリント板試験台

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Publication number
JPS6326575A
JPS6326575A JP61170346A JP17034686A JPS6326575A JP S6326575 A JPS6326575 A JP S6326575A JP 61170346 A JP61170346 A JP 61170346A JP 17034686 A JP17034686 A JP 17034686A JP S6326575 A JPS6326575 A JP S6326575A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
printed board
contact
airtight chamber
cover
frame plate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP61170346A
Other languages
English (en)
Inventor
Toshio Suzuki
俊雄 鈴木
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP61170346A priority Critical patent/JPS6326575A/ja
Publication of JPS6326575A publication Critical patent/JPS6326575A/ja
Pending legal-status Critical Current

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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概要〕 インサーキットテスタに接続した接触ピンを試験台に植
立させ、プリント板のパターンの所望の個所を、接触ピ
ンの頭部に接触させてプリント板の回路試験を行う試験
装置において、試験台に気密室を設け、この気密室内に
プリント板を上下に移動可能に水平に支持させ、気密室
を減圧することにより、気密室の上部を構成するカバー
を降下させ、カバーの押圧ピンで、プリント板を押し下
げ、裏面に設けたパターンの選択した個所を、接触ピン
の頭部に接触させるようにしたことにより、孔を有する
プリント板の回路試験を可能とする。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、試験台に装着したプリント板を、接触ピンを
介して、インサーキットテスタに接続して、プリント板
の回路試験を行うプリント板試験台の改良に関する。
搭載部品が実装されたプリント板は、電子装置等に組み
込む前に、搭載部品、及びパターンの回路試験を行うの
が一般である。
この場合、多数の接触ビンが植立した試験台に、プリン
ト板を取付けて、パターンの選択した個所を接触ビンの
頭部に圧接させるプリント板試験台の構造とする。そし
て、それぞれの接触ビンをインサーキットテスタの対応
する接続端子に接続させて、試験回路を構成せしめ、イ
ンサーキットテスタに装着した切換えスイッチの作動に
より、自動的に回路試験を行う方法が実施されている。
一方近年は、製造コストの低減のため、大形のプリント
基板に格子状にミシン目を設け、それぞれの区画内に部
品を実装し、回路試験後にミシン目に沿って個々のプリ
ント板に切断分離するという、所謂多数個取りのプリン
ト板製造方法が行われている。
また、大形な多層プリント板等には、プリント基板の製
造上の理由からガス抜き孔を設けたものがあり、さらに
電子装置に組み込んだ後に、冷却上の理由から通風孔を
設けたプリント板もある。
〔従来の技術〕
従来のプリント板試験台は第3図に示すように、箱形台
6の上部に多数の接触ビン3を植立した接触ピン保持板
5を装着し、接触ピン保持板5の四周に気密室側壁7を
設け、この気密室側壁7の上端面に可撓性のあるゴム枠
板8を接着材等で固着しである。
気密室側壁7の内寸法は、試験するプリント板1よりも
充分に大きく、またゴム枠板8は、プリント板1の平面
寸法よりも小さい内枠を有する枠形でである。
また、気密室側壁7には、図示してない真空ポンプに連
結した吸引孔9を設けである。
それぞれの接触ビン3は、プリント板1の裏面に設けた
パターンの選択した個所、例えば搭載部品のリードが半
田漬けされたスルーホール等に食い込み接触する頭部を
有する針状のピンが、上下に摺動可能に外筒に挿入され
、且つ外筒内に挿入されたコイルばねにより、常時上死
点に位置するように構成されている。
この接触ビン3は、外筒が接触ピン保持板5を貫通して
密着されている。そして、接触ピン保持板5の下面に突
出した外筒の先端部に、図示してないインサーキットテ
スタに接続する接続線の端末を、例えばラッピング等し
て接続している。
一方プリント板1には、比較的大きい孔2A (例えば
ガス抜き孔9通風孔等)、小径の孔2B (例えばミシ
ン目)等が穿設されている。
孔2Aは、例えば細い木片等よりなる充填物4^を押入
して気密に塞ぎ、孔2Bは接着テープ4Bを張り付けて
気密に塞いである。
よって、ゴみ枠板8の上面にプリント板1を載せ、吸引
孔9より空気を吸引すると、プリント板1の四周の下面
がゴム枠板8の上面に密着して、下部が接触ピン保持板
5.側部が気密室側壁7゜上部がゴノ、枠板8.及びプ
リント板1で取り囲まれた気密室10が構成される。
したがって、気密室10をさらに減圧すると、プリント
板1が接触ピン保持板5に近づく方向に吸引されて降下
する。この際、ゴム枠板8は気密室側壁7の内壁の角部
分で撓み、上面がプリント板1の下面に密着した状態で
気密室IO内に押し込まれる。
このようにプリント板1が降下することにより、接触ビ
ン3の頭部がパターンの選択した所望の個所に弾接する
。よってプリント板lは、接触ビン3、及び接続線を介
して、インサーキットテスタに電気的に接続される。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら上記従来例のプリント板試験台は、プリン
ト板1に孔2A、 2Bを充填物4A、接着テープ4B
等で塞がねばならず、この作業が煩わしく、且つ孔の塞
ぎが不十分であると、プリント板1が充分に降下せずし
て、接触ピン3とプリント板1のパターンとの接触の信
頼度が低下するという問題点がある。
またプリント板1が大形の場合には、気密室10を減圧
した際に、プリント板1が中凹みに撓み、プリント板の
周縁部が充分に降下せずして、接触ピン3とプリント板
1のパターンとの接触の信頼度が低下するという問題点
がある。  。
〔問題点を解決するための手段〕
上記従来の問題点を解決するため本発明は、第1図のよ
うに、多数の接触ピン3が植立した接触ピン保持板5と
、吸引孔9を有する気密2室側壁7と、試験するプリン
ト板lの取入れ・取出し口25が上方に開口し、接触ピ
ン保持板5の上方で上下に移動可能に装着された可動枠
板、11と、可動枠板11の上面に展着され、可動枠板
110側端面と気密室側壁7との間隙を塞ぐ可撓性ある
ゴゴム枠板8と、下面にプリント板1の表面に当接する
押圧ピン21を有し、ゴム枠板8の上面に載せられて取
入れ・取出し口25を塞ぐカバー20とで、気密室40
を構成するようにする。
また、プリント板1を気密室40内で、カバー20に並
行で、且つ上下に移動可能に支持するためのプリント板
支持手段30を、接触ピン保持板5上に設けるものとす
る。
そして吸引孔9より気密室40内の空気を吸引するする
ことにより、押圧ピン21がプリント板1を押下げ、裏
面に設けたパターン、の選択した所望の個所が、接触ピ
ン3の頭部に接触するようにしたものである。
〔作用〕
上記本発明の手段によれば、プリント板1をプリント板
支持手段30上に接触ピン保持板5に並行に装着し、カ
バー20を被せた後に、吸引孔9より気密室40内の空
気を吸引すると、カバ=20の四周の下面がゴム枠板8
上面に密着して、気密室40内が気密状態となる。
気密室40内をさらに減圧すると、カバー20が降下し
て、押圧ピン21がプリント板1の複数の選択した、搭
載部品を外れた個所に当接して、プリント板lを降下さ
せる。
したがって、プリント板1の裏面に設けたパターンの選
択した個所が、対応して植立された接触ピン3の頭部に
接触するので、プリント板1は、接触ピン3.及び接続
線を介して、インサーキットテスタに電気的に接続され
る。
この際、押圧ピン21が、プリント板10周縁の上面、
中央部等の選択した複数の個所に当接するので、プリン
ト板1は水平に支持された状態で降下する。よって、プ
リント板1の大きさに関係なく、平等の接触力で、接触
ピン3の頭部に接触する。部ち、プリント板1とそれぞ
れの接触ピン3との接続の信頼度が高い。
〜      また、気密室40の減圧度は、プリント
板1の孔の有無に関係がない。よって、孔を塞ぐ作業を
必要としない。
〔実施例〕
以下図を参照しながら、本発明を具体的に説明する。な
お、企図を通じて同一符号は同一対象物を示す。
第1図は本発明の1実施例の側断面図であり、第2図は
本発明の1実施例のプリント板支持手段を示す要部断面
図である。
第1図において、箱形台6の上部に多数の接触ピン3を
植立した接触ビン保持板5を、気密に水平に固着しであ
る。箱形台6の四周の側板は、接触ビン保持板5よりも
上方に延伸して、気密室側壁7としている。この気密室
側壁7に、吸引孔9を設けるものとする。
接触ピン保持板5の四隅にガイドポスト12が遊貫する
挿通孔を設け、この挿通孔に頭部が接触ビン保持板5の
下面に係止するような、ガイドポスト12を挿入し、接
触ビン保持板5の上部に突出したガイドポスト12の軸
部の先端部に、可動枠板11を水平に固着しである。ま
た、可動枠板11と接触ピン保持板5の間に、圧縮コイ
ルばね13を装着しである。
この可動枠板11は、側端面と気密室側壁7の内壁との
間に、例えば数11の間隙を有し、且つ上面が気密室側
壁7の上端面と、はぼ同一平面になるように、圧縮コイ
ルばね13の弾力により支持されている。したがって、
可動枠板11は、ガイドポスト12上に水平に保持され
た状態で、気密室側壁7内に沈む、即ち降下し得るもの
である。
また、可動枠板11の内枠部分がプリント板1の取入れ
・取出し口25であって、その内枠寸法は、プリント板
1よりも、充分に大きい。
内枠が可動枠板11の内枠にほぼ一敗したゴム枠板8は
、可動枠板11の上面に展着され、且つその四周が、気
密室側壁7の上端面、若しくは、内壁に接着材により固
着されている。
カバー20は、例えば透明の合成樹脂よりなり、下面が
、ゴム枠板8の内枠寸法よりも大きく開口した箱形であ
る。
このカバー20をゴム枠板8の上部に設けたカバーカイ
ト22の内側に挿入することにより、カバー20は左右
前後にずれることなく、取入れ・取出し口25を塞ぐ如
くにゴム枠板8上に載せられる。
またカバー20の天井板の内面には、上端面が例えば両
面接着テープにより接着されて、複数の押圧ピン21が
垂直に固着されている。この押圧ピン21の固着位置は
、プリント板1の周縁の上面、中央部等で、プリント板
1の搭載部品位置を避けた位置に当接するような選択し
た位置である。
上述のように、接触ビン保持板5.気密室側壁7、ゴム
枠板8.可動枠板11.及びカバー20がそれぞれ形成
・組合わせられているので、これらの部材内に気密室4
0が構成される。
気密室40に設けるプリント板支持手段30は、第2図
の如くに、接触ビン保持板5上に、試験するプリント板
1の四側縁のそれぞれを位置決めするように少なくとも
四本の、例えば合成樹脂よりなる角柱状の支持柱15を
植立しである。
支持柱15の上部軸心には、ガイドピン17が上方より
遊貫する軸孔を設け、軸孔の下部を門形に挾っである。
また、ガイドピン17の頭と支持柱15の上端面の間に
圧縮コイルばね18を装着するものとする。    ′ 二方、ガイドピン17の下端面に、支持柱15の凹部を
門状に水平貫通する可動支持片16を固着し、支持柱1
5の内側に突出した上面に、プリント板1の下面を載せ
るようにしている。
したがって、プリント板1は、それぞれの支持柱15に
よってガイドされ、パターンの選択位置が接触ピン3の
頭部に対応する如くに位置決めされ、可動支持片16に
よって水平に支持されている。
また、プリント板1は圧縮コイルばね18の弾力により
、ガイドピン17のストロークの上死点の位置で支持さ
れ、圧縮コイルばね18の弾力に抗して水平状態のまま
降下し得る。
上述のように構成しであるので、プリント板1をプリン
ト板支持手段30上に載せ、カバー20を被せた後に、
吸引孔9より気密室40内の空気を吸引すると、カバー
20の四周の下面がゴム枠板8上面に密着して、気密室
40内が気密状態となる。
気密室40内をさらに減圧すると、カバー20が降下し
、押圧ピン21の下端面がプリント機工の上面に当接し
、プリント板1が圧縮コイルばね18の弾力に抗して降
下する。そして、プリント板1の裏面に設けたパターン
の選択した個所が、対応して植立された接触ピン3の頭
部に接触する。 なお、この際、プリント板1に孔2A
、’ 2Bがあっても、塞ぐ必要のないことは勿論であ
る。
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明は、プリント板の孔を塞ぐこ
となく、またプリント板の形状の大小にに関係なく、パ
ターンの選択した個所を、確実に接触ピンに接触するこ
とができるという、実用上で優れた効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例の側断面図、 第2図は本発明の実施例の要部断面図、第3図は従来例
の側断面図である。 図において、 1はプリント板、  2A、 2Bは孔、3は接触ピン
、    5は接触ピン保持板、7は気密室側壁、  
8はゴム枠板、 9は吸引孔、    10.40は気密室、11は可動
枠板、   12はガイドポスト、15は支持柱、  
  16は可動支持片、17はガイドピン、  20は
カバー、21は押圧ピン、   25は取入れ・取出し
口、30はプリント板支持手段を示す。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】  接触ピン(3)が植立した接触ピン保持板(5)、吸
    引孔(9)を有する気密室側壁(7)、試験するプリン
    ト板(1)の取入れ・取出し口(25)が開口し、該接
    触ピン保持板(5)の上方で上下に移動可能に装着され
    た可動枠板(11)、該可動枠板(11)の上面に展着
    され、該可動枠板(11)の側端面と該気密室側壁(7
    )との間隙を塞ぐ可撓性あるゴム枠板(8)、及び下面
    に該プリント板(1)の表面に当接する複数の押圧ピン
    (21)を有し、該ゴム枠板(8)の上面に載せられて
    該取入れ・取出し口(25)を塞ぐカバー(20)とで
    、構成された気密室(40)と、該プリント板(1)を
    上下に移動可能に水平に支持する、該気密室(40)内
    に装着されたプリント板支持手段(30)とを備え、 該気密室(40)を減圧して、該押圧ピン(21)を介
    して該プリント板(1)を降下させた状態で、裏面に設
    けたパターンの選択した個所が、該接触ピン(3)の頭
    部に接触するよう構成されてなることを特徴とするプリ
    ント板試験台。
JP61170346A 1986-07-18 1986-07-18 プリント板試験台 Pending JPS6326575A (ja)

Priority Applications (1)

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JP61170346A JPS6326575A (ja) 1986-07-18 1986-07-18 プリント板試験台

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JPS6326575A true JPS6326575A (ja) 1988-02-04

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ID=15903224

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JP61170346A Pending JPS6326575A (ja) 1986-07-18 1986-07-18 プリント板試験台

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100871378B1 (ko) 2007-03-27 2008-12-02 주식회사 하이닉스반도체 Fbga 패키지 테스트 장치

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