JPS63255647A - Method of inspecting moving metallic surface - Google Patents

Method of inspecting moving metallic surface

Info

Publication number
JPS63255647A
JPS63255647A JP7737587A JP7737587A JPS63255647A JP S63255647 A JPS63255647 A JP S63255647A JP 7737587 A JP7737587 A JP 7737587A JP 7737587 A JP7737587 A JP 7737587A JP S63255647 A JPS63255647 A JP S63255647A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
moving
defects
defect
image
range
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP7737587A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
ポール レギス アドメイティス
ニコラース ロウィス ブロウワー
バーナード ジョン ホビ
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Howmet Aerospace Inc
Original Assignee
Aluminum Company of America
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Aluminum Company of America filed Critical Aluminum Company of America
Priority to JP7737587A priority Critical patent/JPS63255647A/en
Publication of JPS63255647A publication Critical patent/JPS63255647A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、移動する金属、例えばアルミニウムの表面の
検査方法に関する。本発明は特に、移動物体の表面のき
ずを自動的に検出し、その検査の!こめに使用されるぎ
ずの可視画像を記憶4−る装置に関する。移動表面を静
止状態でどらえるためにはストロボ照明または電子的ま
たは機械的ンヤツタが用いられ、それによつ−(表面特
性のひずみのない画像が得られる。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a method for inspecting the surface of moving metal, such as aluminum. The present invention is particularly useful for automatically detecting and inspecting flaws on the surface of moving objects. The present invention relates to a device for storing visible images of abrasives for use in cooking. Strobe illumination or electronic or mechanical projections are used to capture the moving surface in a static state, thereby obtaining an undistorted image of the surface properties.

(従来の技術) カメラ装置を用いた物体の欠陥検査は、光用ボビンの移
動的検査および不合格判定のためにKendriCk等
による米国特許第3.230,305号において用いら
れ、クリンプされた繊維の不整を検出り−るために11
8 n r Vによる米国特許第4,232.336号
おJ、び第4.240,110号において用いられ、脈
動負荷を受ける試験体に生じる疲労き裂の成長の監視の
ためにEXtlによる米国特許第4,063,282号
において用いられている。
BACKGROUND OF THE INVENTION Inspection of objects for defects using camera equipment was used in U.S. Pat. No. 3,230,305 by KendriCk et al. 11 to detect irregularities in
8 n r V, U.S. Pat. Used in Patent No. 4,063,282.

’/ama’Juch1’Jによる米国特許第1I、4
49.B1ε3号においては、物体上の不整の態様を識
別(るために相yzなる形式の照明を用いており、物体
の表面」■の異物を検出するためには斜め方向からの照
明を用い、欠陥パターンの形状認識により欠陥を検出す
るために番ま垂直照明を用いている。
'/ama'Juch1'J U.S. Patent No. 1I, 4
49. B1ε3 uses illumination of the same type as YZ to identify irregularities on the object, and diagonal illumination is used to detect foreign matter on the surface of the object. Vertical illumination is used to detect defects by recognizing the shape of the pattern.

11amada@による米国特許第4.403,294
号にも不整パターンの認識が開示されており、その場合
は、画像信号が2進=1−ドとして定量化された後所定
の基準パターンと比較され、可視画像か欠陥パターンを
含んでいるか否かが決定される。
U.S. Patent No. 4.403,294 by 11amada@
The issue also discloses recognition of irregular patterns, in which case the image signal is quantified as a binary = 1-code and then compared with a predetermined reference pattern to determine whether it is a visible image or contains a defective pattern. is determined.

watsonによる米国特許第3,389.789号に
は、ビデオ信号の大ぎさが検出器のスレッショルドレベ
ルを超えた時、物体の不合格判定を行なう検出器が開示
され、Ga1llbrell外による米国特許第3,3
79,829号には、ガラス製品のある前ちって選択さ
れた部分のきすを選択的に検査して、他部分については
無視1−るぎず検出装置が開示されている。
U.S. Pat. No. 3,389,789 to Watson discloses a detector that determines whether an object is rejected when the magnitude of the video signal exceeds a threshold level of the detector, and U.S. Pat. ,3
No. 79,829 discloses a scratch detection device that selectively inspects scratches in a selected part of a glass product and ignores other parts.

2eenkovによる米国特許第3.868,478号
にもまた、郵便物などの移動物体に用いられる検査装置
が開示されでおり、その場合は、手紙の宛名の画像をス
ト]】ボ光を用いてカメラ装置によりとらえ、これをプ
レビジョン記憶装置へ送り、また閉回路テレビジコンモ
ニタ上に表示するようになっている。
U.S. Pat. No. 3,868,478 to 2eenkov also discloses an inspection device for use with moving objects, such as mail, in which an image of the addressee of a letter is captured using a flashlight. It is captured by a camera device, sent to a preview storage device, and displayed on a closed-circuit television monitor.

Decave 1等による米国特許第4.253,11
3号においても、移動シートの欠陥を監視するためにプ
レビジョンモニタカメラが用いられている。
U.S. Patent No. 4.253,11 by Decave 1 et al.
No. 3 also uses a pre-vision monitor camera to monitor defects in the moving sheet.

Kopineck等による米国特許第4.377.74
6号においては、ぞのような移動シートの光学的画像が
記憶されて後の観察に用いられ、Ne1hOiSe1等
による米国特許第4,223,346号においては、視
野の長さ、すなわち移動帯の移動方向における長さを拡
大し、視野の幅は拡大しない゛重荷結合アレイおよびレ
ンズがカメラの間に用いられている。Ohsumi等に
よる米国特許第4,219゜844号においては、照明
を調節して金属部分からの放射エネルギより遥かに大ぎ
いエネルギの反射光を生せしめることによって、赤熱ス
ラブのぎずを検出している。
U.S. Patent No. 4.377.74 to Kopineck et al.
No. 6, an optical image of the moving sheet is stored and used for later observation, and in U.S. Pat. No. 4,223,346 by Ne1hOiSe1 et al. Heavy coupling arrays and lenses are used between the cameras that extend the length in the direction of movement, but not the width of the field of view. Ohsumi et al., U.S. Pat. No. 4,219,844, detects gouges in a glowing slab by adjusting the illumination to produce reflected light with much greater energy than the radiant energy from the metal parts. .

多数の欠陥検出装置が従来技術によって提供されている
が、鋳造、圧延、押出し、その他のアルミニウム製品の
製造に関連する操作によって与えられる移動するアルミ
ニウム表面の検査装置に対する要求は未だに満たされて
いない。その要求とは、特定の照明技術を用いて(qら
れたIi!!7像パターンと基準パターンとの比較に基
づく欠陥検出に対プるものである。画像パターンの差が
検出され/j−〇 − 時は、その差を含む画像は自動的に伝送されて観察され
、あるいは電子的に処理される。
Although numerous defect detection devices have been provided by the prior art, there remains an unmet need for inspection devices for moving aluminum surfaces presented by casting, rolling, extrusion, and other operations associated with the manufacture of aluminum products. The requirement addresses defect detection based on a comparison of the image pattern with a reference pattern using a specific illumination technique. - If the image containing the difference is automatically transmitted and viewed or processed electronically.

C問題点を解決りるための手段) 本発明においては、高速度で移動する金属月利の広い表
面を連続的かつ自動的にlし、定められた許容表面条f
1を超えた表面変化を検出し打つ解析して、不合格判定
されるべき表面欠陥の存在を決定し、また該欠陥の正i
な分類を行なうための方法が提供され、この方法は、前
記移動表面に表面特徴を増強しそれによって表面欠陥の
検出を助長するための選択された波長範囲内にある可視
的な反射および不可視的な反射の少なくとも−hと拡散
されlこ電磁放射を移動表面に均一に照射する段階と、
高速移動表面を瞬間的に不動状態にする段階と、前記材
料の幅全体を観察しうるように配回された複数のしンリ
により1つまたはそれ以上の不合格判定されるべき欠陥
の存在を検出りる段階と、欠陥を含む領域の電子画像で
あって該欠陥により反射された電磁エネルギの変化する
強磨を表わJグレースケールレベルを含んでいる該電子
画像を後の表示および解析のために1つまたはそれ以下
の前記センサから画像記憶装置へ伝送する段階と、不合
格判定される欠陥をもたない表面からの反則電磁エネル
ギ強度の範囲を表わすグレースケールレベルの範囲を与
える段階と、欠陥を有する前記画像のグレースケールレ
ベルを不合格判定される欠陥をもたない表面を表わすグ
レースケールレベルの範囲と比較する段階と、不合格判
定される欠陥をもたない表面を示1グレースクール強瓜
範囲外のグレースケールレベルを有する表面画像のみを
]ン止めモニタ上で観察し解析覆る段階と、を含む。
Means for Solving Problem C) In the present invention, a wide surface of a metal surface moving at a high speed is continuously and automatically lubricated, and a predetermined allowable surface condition f is applied.
A surface change exceeding 1 is detected and analyzed to determine the presence of a surface defect that should be rejected, and to determine the correctness of the defect.
A method is provided for classifying visible and non-visible reflections within a selected wavelength range to enhance surface features on said moving surface and thereby facilitate detection of surface defects. uniformly irradiating the moving surface with at least -h of reflected and diffused electromagnetic radiation;
momentarily immobilizing a rapidly moving surface and detecting the presence of one or more rejectable defects by means of a plurality of sensors arranged to view the entire width of the material; detecting and providing an electronic image of the area containing the defect containing gray scale levels representing varying intensity of electromagnetic energy reflected by the defect for subsequent display and analysis. transmitting from one or more of said sensors to an image storage device for the purpose of providing a range of grayscale levels representative of a range of foul electromagnetic energy intensities from a non-defective surface to be rejected; , comparing the grayscale level of said image having defects with a range of grayscale levels representing a surface without defects to be rejected; viewing and analyzing on a monitor only those surface images having gray scale levels outside the school range;

〔実施例] 以下、本発明を添付図面を参照しつつ説明する。〔Example] The present invention will be described below with reference to the accompanying drawings.

第1図には、一連の光源20,30,40.50によっ
て照明される、移動金属シート10の一部が示されてい
る。光源20および30は金属シー l−10の表面を
拡散光によって照明し、光源40および5oは反則光に
よ゛つて金属シート10を照明−する。
In FIG. 1, a portion of a moving metal sheet 10 is shown illuminated by a series of light sources 20, 30, 40, 50. Light sources 20 and 30 illuminate the surface of metal sheet 1-10 with diffused light, and light sources 40 and 5o illuminate metal sheet 10 with reflected light.

この時、照明された金属シート10の選択された領域の
画像が1つまたはそれ以上のビデオカメラ60aないし
60dによって形成され、これらのビデオカメラは対応
する電気信号をそれぞれのビfオ検出器7Qaないし7
0dへ伝送する。1つまたはそれ以−Vの検出器70に
より、1つまたはそれ以上の欠陥を含む画像が検出され
た時は、トリガ信号が自動的にビデオ記憶1i180へ
送られる。装置80は検出器70のぞれそれに対して1
つずつの、複数の記憶装置を含む。その特定の画像はビ
デオ記憶装置80に記憶され、後に電子的に解析される
か、または」マ止めモニタ90により視覚的に観察され
る。
At this time, an image of the selected area of the illuminated metal sheet 10 is formed by one or more video cameras 60a to 60d, which transmit corresponding electrical signals to the respective biodetector 7Qa. or 7
Transmit to 0d. When an image containing one or more defects is detected by one or more -V detectors 70, a trigger signal is automatically sent to video storage 1i 180. The device 80 has one for each detector 70.
It includes a plurality of storage devices, one for each. That particular image may be stored in video storage 80 and later analyzed electronically or visually viewed on standstill monitor 90.

走査者はモニタ90によって、カメラ60の下1ノを通
過するシー1〜10の幅全体にわたり、実際に存在づ−
る不合格判定されるべきいかなる欠陥をも視覚的に検出
し定量化することができる。
By means of the monitor 90, the scanner 90 can see the actual presence of the entire width of the seams 1 to 10 passing below the camera 60.
Any defect that should be rejected can be visually detected and quantified.

電子的評価にJ:る欠陥の特徴の分類は、処理装置95
によって行なわれる。この装置は、97においてフレー
ム凍結モニタと、またさらに持久的−〇  − な記憶装置100と、インタノ■−スされる。従って、
ビデオ記憶装置80に記憶された画像は、さらに持久的
な記憶装置100へ伝送されつる。
The classification of defect characteristics in the electronic evaluation is performed by the processing device 95.
It is carried out by This device is interfaced at 97 with a frame freeze monitor and also with a persistent storage device 100. Therefore,
Images stored in video storage 80 are further transmitted to persistent storage 100.

記憶装置100は、ビデオテープ、」ンピュータ、レー
ザディスク、または他の適切な記憶装置を含んでいる。
Storage device 100 includes a videotape, computer, laser disk, or other suitable storage device.

もし所望ならば、移動シーI〜の画像は、第2図に示さ
れているモニタ66によるなどして、リアルタイムモー
ドでも観察されつる。しかし、最大のシー1〜生産速度
においては、検出器70により検出可能な欠陥を人の目
に」、って連続的に認知すること番よ不可能であること
を認識リベきである。
If desired, images of moving sea I~ can also be viewed in real-time mode, such as by monitor 66 shown in FIG. However, it should be recognized that at maximum production speeds, it is impossible to continuously perceive defects detectable by the detector 70 to the human eye.

本発明の実施例においては、移動する金属シー1へ10
は、拡散光および反射光の少なくとも一方の照明により
、シー1へ表面全体を一層均一に照射される。拡散照明
とJsj DJ照明とを組合せC使用すれば、検査され
ている表面の変化を強調することができる。J:た、特
に好ましい実施例にa3いでは、ビデオカメラ内に用い
られている画像セン1ノに感じるスベク1ヘルに一層完
全に適合する、長波長の不I′iJ視(赤外)スペクト
ル部分の光によって表面を照明し、表面の反射特性を増
強する。
In an embodiment of the invention, 10
The entire surface of the sea 1 is illuminated more uniformly by illumination of at least one of diffused light and reflected light. Diffuse lighting and Jsj DJ lighting in combination C can be used to highlight changes in the surface being inspected. In a particularly preferred embodiment, a long-wavelength non-I'iJ optical (infrared) spectrum that more fully matches the spectrum perceived by the imaging sensor used in a video camera is used. Illuminating the surface with partial light and enhancing the reflective properties of the surface.

不可視であるのC1人は高強度のストロボ照明過程によ
る妨害は受けない。照明源20,30゜40.50から
の反射または拡散エネルギは、シャッタ式カメラ装置が
用いられるか否かにより、−・定のものにされるか、ま
たはス1〜ロボ式のものにされる。市販のストロボ光源
またはカメラシャッタは、移動表面を毎秒60回または
60回の倍数の速度でとらえることができる。これによ
って通常、ししカメラ6oの視野か(シー1への移動方
向において)0.305m (1フィート)ならば、5
48.6m毎分(1800フイ一ト毎分)またはその倍
数の速度で移動するシート表面の100%の検査が行な
われうる。この場合、画像の解像度はプレビジョンスク
リーン十において512走査線であり、これはNTSC
プレビジョン放送規格のものである。移動表面のぼけの
ない画像を得るためには、照明源またはカメラセンサの
いずれかをストロボ動作させなくてはならない。これを
行なうためには、パルス動vU式照明源を用いるか、ま
たは機械的シャッタ式カメラセンザを用いればよい。い
ずれの場合にも、高強痘の照明源を使用する必要がある
A C1 person who is invisible is not disturbed by the high intensity strobe lighting process. The reflected or diffused energy from the illumination source 20, 30° 40.50 can be fixed or s1-robotic, depending on whether a shutter-type camera device is used. . Commercially available strobe light sources or camera shutters can capture moving surfaces at a rate of 60 times per second or multiples of 60 times per second. This typically means that if the field of view of camera 6o is 0.305 m (1 foot) (in the direction of movement toward sea 1), then 5
Inspection of 100% of the sheet surface moving at speeds of 1800 feet per minute or multiples thereof can be performed. In this case, the resolution of the image is 512 scan lines on the pre-vision screen, which is NTSC
It is based on the Pre-Vision broadcasting standard. To obtain an unblurred image of a moving surface, either the illumination source or the camera sensor must be strobed. This can be accomplished by using a pulsed VU illumination source or by using a mechanically shuttered camera sensor. In both cases, it is necessary to use a highly sclerotic illumination source.

第2図に示されているように、照明された金属シート1
0から反射されたエネルギは、1つまたはそれ以十のビ
デオカメラ装置60によってとらえられ、電子信号に変
換されてそれぞれの検出器70へ伝送される。本発明の
実施に適するビデオカメラは、RCA、GE、Pana
son i c。
Illuminated metal sheet 1 as shown in FIG.
The energy reflected from 0 is captured by one or more video camera devices 60 and converted to electronic signals and transmitted to respective detectors 70 . Video cameras suitable for implementing the present invention include RCA, GE, Pana
son ic.

5ony、Ph i I I i psなどの発売元か
ら容易に人手しつる。本発明の実施に用いられるビデオ
検出器もまた、コロラド州BOulderに所在のC0
IOradOVideo、InC0rpOratedか
ら発売されている630型ビデオ検出器などの市販装置
により構成されつる。
It can be easily obtained manually from distributors such as 5ony and PhiIIips. The video detector used in the practice of the present invention was also manufactured by C0 Boulder, Colorado.
The device may be constructed from commercially available equipment such as the Model 630 Video Detector from IOradOVideo, InC0rpOrated.

移動する金属シートの幅の観点からは、移動シーhの全
領域を監視するために、1つより多くのカメラが使用さ
れうる。例えば121.92(:IN(48インチ)の
幅の金属シートの幅全体を同時に検査するためには、第
1図に示されているように、4つのビデオカメラ装置を
並べて取付けて用いる。この仝休の幅は、ビデオ記憶装
置Z 80によって捕捉され、」マ止めモニタ90に表
示される。
In view of the width of the moving metal sheet, more than one camera can be used to monitor the entire area of the moving sea h. For example, in order to simultaneously inspect the entire width of a 48 inch (121.92 inch) wide metal sheet, four video camera devices are used, mounted side by side, as shown in Figure 1. The width of the pause is captured by the video storage device Z 80 and displayed on the stop monitor 90 .

必要イよりメラ6oの数は、検出されるべき表面の変化
の詳細さによる。光学的に拡大ηれば求める詳細さは得
られるが、カメラの視野は減少する。
The number of melas 6o required depends on the detail of the surface change to be detected. Optical magnification η provides the desired detail, but reduces the field of view of the camera.

その結呆、もしカメラの視野が監視されるべき表面領域
より小さくなれば、1つより多くのカメラが必要となる
The consequence is that if the field of view of the camera becomes smaller than the surface area to be monitored, more than one camera is needed.

ビデオカメラ装置60によってとらえられる反射画像は
、本技術分野においてグレースケールレベルとして知ら
れる変化する強度を有J−る。欠陥をもたない金属表面
を表わす特定のグレースケールレベルが実験的に決定さ
れ、欠陥をもたない、あるいはある形式の既知欠陥を有
する1ノンプルをそれぞれ用いて装置の栓止がiうなわ
れる。ある欠陥は、欠陥のない表面よりも多くの九を吸
収または散乱し、また、他の欠陥は、欠陥のない表面よ
りも少ない光しか吸収または散乱しない。従って、装置
は、欠陥をもたない表面から反射される強度範囲を表わ
す最小および最大グレースケールレベルの双方を定める
ことにより標準化される。
The reflected images captured by video camera device 60 have varying intensities known in the art as gray scale levels. A particular grayscale level representative of a defect-free metal surface is determined experimentally, and one sample is used to plug the device, either without defects or with some type of known defect. Some defects absorb or scatter more light than a non-defect surface, and other defects absorb or scatter less light than a non-defect surface. The device is therefore standardized by defining both minimum and maximum grayscale levels that represent the range of intensity reflected from surfaces that are free of defects.

表面欠陥などから生じた電子信号が、標準化された範囲
外のグレースケールレベルを与えた時は、検出器70は
この信号を検出して対応するビデオ装置80を作動させ
て画像を記憶せしめ。これをモニタ90上に表示せしめ
る。これを達成するために用いられる装置は、現在の技
術水準のものである。従って、欠陥を含有する画像の検
出、記憶、および表示は、可視的な手動操作を必要とし
ない自動的なものとなる。
When an electronic signal, such as from a surface defect, provides a grayscale level outside the standardized range, the detector 70 detects this signal and activates the corresponding video device 80 to store the image. This is displayed on the monitor 90. The equipment used to accomplish this is of the current state of the art. The detection, storage, and display of images containing defects is therefore automatic without the need for visible manual intervention.

記憶さ−れた画像ル〜ムはモニタ90上に表示されるの
で、ある欠陥に関してこの画像を視覚的に検査し調査す
れば、不合格判定されるべき欠陥が実際に存在するか否
かを決定することができる。
The stored image room is displayed on the monitor 90 so that visual inspection and investigation of this image for certain defects can determine whether or not a defect to be rejected actually exists. can be determined.

モニタ90上の画像は、他の欠陥が出現するまで、また
は操作者が随意に消去するまで、そのままの状態で存続
する。
The image on monitor 90 remains there until other defects appear or until it is erased at will by the operator.

前述のように、欠陥の画像を、じデAデープまた(まf
イスク100のJ、うな、もっと持久的な記憶媒体へ送
った後に、?N覚的または電子的に評価し、′、した″
、Jンピ」−夕装置によりその特徴を決定することもで
きる。
As mentioned above, the image of the defect is
Isk 100 J, Una, after sending it to a more durable storage medium? NEvaluated visually or electronically.
, the characteristics can also be determined by the device.

〔弁明の効采〕[Efficacy of excuse]

以1のJ、うに、本発明は移動する金属シー1−などの
移動表面を自動的に監視して、その表面十の欠陥を検出
し、欠陥をイ41する表面の特定部分の画像を記1装置
へ送り、欠陥の特徴を視覚的に1.1に電子的に決定す
るための駁訂を提供している。
The present invention automatically monitors a moving surface, such as a moving metal sheet, detects defects on the surface, and records images of specific portions of the surface that identify the defects. 1 equipment and provide a reconsideration for visual and electronic determination of the defect characteristics to 1.1.

このようにして、多品の材料が自8装dにより高速度で
検査されつると」先に、操作者はこの自l!lJ菰買が
欠陥を4.i−4る可能f’t&)りどして選び出した
移動物体の8It分のみの画像をさらに11息深く観察
することができる。さらに、選択された波長の反射照明
83よび拡散照明の少<7 くとも一方を用いることに
より、さまざまな形式の欠陥にス4する肢Nの感度が実
質的に増大せしめられる。
In this way, when a large number of materials are inspected at high speed by the eight machines, the operator first inspects the machine! lJ purchase has 4 defects. It is possible to further deeply observe 11 images of the moving object selected by i-4. Furthermore, by using at least one of reflected illumination 83 and diffuse illumination of selected wavelengths, the sensitivity of limb N to various types of defects is substantially increased.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、本発明の7J払を実11I!するだめの検出
装置の一部の輿略図、第2図は、検出部Wの他部分の1
1179図ぐある。 旬月の説明 10・・・・・・移動金属シート、 Boa〜60d・・・・・・ビデオカメラ、66・・・
・・・リフルタイムモニタ、70a〜70d・・・・・
・ビデオ検出器、80・・・・・・ビデA゛記憶装置、 90・・・・・・コマ11゛めモニタ、95・・・・・
・電子処理vt置、 97・・・・・・インタフ−F−ス、 100・・・・・・持久的記憶iA首。 代坤人 浅  H皓 手続ンrFj rE書 昭和63年1 月イ2日
Figure 1 shows that the 7J payment of the present invention is actually 11I! A schematic diagram of a part of the detection device shown in FIG.
There are 1179 pictures. Jungetsu's explanation 10...Moving metal sheet, Boa~60d...Video camera, 66...
...Reful time monitor, 70a-70d...
・Video detector, 80...Video A storage device, 90...11th frame monitor, 95...
・Electronic processing location, 97...Interface, 100...Durable memory iA head. Daikonto Asa H Koshi procedure rFj rE book January 2nd, 1988

Claims (1)

【特許請求の範囲】 (1)高速度で移動する金属材料の広い表面を連続的か
つ自動的に監視し、定められた許容表面条件を超えた表
面変化を検出し且つ解析して、不合格判定されるべき表
面欠陥の存在を決定し、また該欠陥の正確な分類を行な
うための方法であつて、前記移動表面に表面特徴を増強
しそれによつて表面欠陥の検出を助長するために選択さ
れた波長範囲内にある可視的な反射および不可視的な反
射の少なくとも一方と拡散された電磁放射とを移動表面
に均一になす段階と、高速移動表面を瞬間的に不動状態
にする段階と、前記材料の幅全体を観察しうるように配
置された複数のセンサにより1つまたはそれ以上の不合
格判定されるべき欠陥の存在を検出する段階と、後の表
示及び分析のために一つまたはそれ以上のセンサからの
欠陥を含んだ領域の電子映像を記憶するための装置にこ
の映像を送る段階であつて、前記映像は該欠陥により反
射された電磁エネルギの変化する強度を表わすグレース
ケールレベルを含んでいるような段階と、不合格判定さ
れる欠陥をもたない表面からの反射電磁エネルギ強度の
範囲を表わすグレースケールレベルの範囲を与える段階
と、欠陥を有する前記画像のグレースケールレベルを不
合格判定される欠陥をもたない表面を表わすグレースケ
ールレベルの範囲と比較する段階と、不合格判定される
欠陥をもたない表面を示すグレースケール強度範囲外の
グレースケールレベルを有する表面画像のみをコマ止め
モニタ上で観察し解析する段階と、を含む、移動する金
属表面の検査方法。 (2)特許請求の範囲第1項において、前記反射された
放射を前記移動表面の上方位置から送り、前記拡散され
た放射を該表面に対し実質的に平行な方向に送つて、双
方の形式の該放射を前記表面の幅全体を均一に照射する
ように配置する段階を含む、移動する金属表面の検査方
法。 (3)特許請求の範囲第1項において、毎フレーム51
2走査線のNTSC規格を用いたビデオカメラを並べて
用いることにより、前記表面が 548.6m毎分(1800フィート毎分)またはその
倍数の速度で移動する方向における該表面の0.305
m(1フィート)の距離の間の、該表面の幅を横切る方
向の該移動表面上に存在する1つまたはそれ以上の不合
格判定されるべき欠陥の画像を、毎秒60回またはその
倍数の速度でとらえることによつて、前記表面欠陥を検
出するようになつている、移動する金属表面の検査方法
[Claims] (1) Continuously and automatically monitors a large surface of a metal material moving at high speed, detects and analyzes surface changes that exceed predetermined allowable surface conditions, and rejects A method for determining the presence of a surface defect to be determined and for accurate classification of the defect, the method comprising: a method for determining the presence of a surface defect to be determined and for accurate classification of the defect; homogenizing the moving surface with at least one of visible and non-visible reflections and diffused electromagnetic radiation within the wavelength range determined by the moving surface; and momentarily rendering the fast moving surface immobile; detecting the presence of one or more rejectable defects by a plurality of sensors arranged to view the entire width of the material; one or more for subsequent display and analysis; sending this image to a device for storing an electronic image of the defect-containing area from a further sensor, said image having gray scale levels representative of the varying intensity of electromagnetic energy reflected by the defect; providing a range of grayscale levels representing a range of reflected electromagnetic energy intensities from a surface having no defects to be rejected; and providing a range of grayscale levels of the image having defects; comparing the surface with a range of grayscale levels representing a surface having no defects to be rejected; and an image of a surface having grayscale levels outside the grayscale intensity range representing a surface having no defects to be rejected; A method for inspecting a moving metal surface, the method comprising: observing and analyzing a moving metal surface on a frame-by-frame monitor; (2) In claim 1, the reflected radiation is directed from a position above the moving surface and the diffused radiation is directed in a direction substantially parallel to the surface, so that both types of A method for inspecting a moving metal surface, comprising the step of: arranging said radiation to uniformly illuminate the entire width of said surface. (3) In claim 1, each frame has 51
Using a side-by-side video camera using a two-scan line NTSC standard, 0.305 mm of the surface in a direction in which the surface is moving at a speed of 1800 feet per minute or multiples thereof.
images of one or more defects to be rejected on the moving surface in a direction across the width of the surface during a distance of 1 foot (60 m) per second or multiples thereof. A method for inspecting a moving metal surface, the method being adapted to detect said surface defects by capturing the surface at a velocity.
JP7737587A 1987-03-30 1987-03-30 Method of inspecting moving metallic surface Pending JPS63255647A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7737587A JPS63255647A (en) 1987-03-30 1987-03-30 Method of inspecting moving metallic surface

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP7737587A JPS63255647A (en) 1987-03-30 1987-03-30 Method of inspecting moving metallic surface

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63255647A true JPS63255647A (en) 1988-10-21

Family

ID=13632152

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP7737587A Pending JPS63255647A (en) 1987-03-30 1987-03-30 Method of inspecting moving metallic surface

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS63255647A (en)

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5129836U (en) * 1974-08-27 1976-03-04
JPS5635819A (en) * 1979-08-28 1981-04-08 Uni Cardan Ag Universal joint
JPS57124243A (en) * 1981-01-26 1982-08-03 Nippon Kokan Kk <Nkk> Detection for surface flaw of steel material
JPS61148308A (en) * 1984-12-22 1986-07-07 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Visual inspection of metallic surface
JPS61245045A (en) * 1985-04-23 1986-10-31 Nisshin Steel Co Ltd Automatic surface defect inspecting method for metallic band
JPS6266144A (en) * 1985-09-18 1987-03-25 Sumitomo Special Metals Co Ltd Surface defect inspection device

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5129836U (en) * 1974-08-27 1976-03-04
JPS5635819A (en) * 1979-08-28 1981-04-08 Uni Cardan Ag Universal joint
JPS57124243A (en) * 1981-01-26 1982-08-03 Nippon Kokan Kk <Nkk> Detection for surface flaw of steel material
JPS61148308A (en) * 1984-12-22 1986-07-07 Mitsubishi Heavy Ind Ltd Visual inspection of metallic surface
JPS61245045A (en) * 1985-04-23 1986-10-31 Nisshin Steel Co Ltd Automatic surface defect inspecting method for metallic band
JPS6266144A (en) * 1985-09-18 1987-03-25 Sumitomo Special Metals Co Ltd Surface defect inspection device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4675730A (en) Video surface inspection system
RU2665806C2 (en) Method and device for investigating inspection system used for detecting surface defects
US5355213A (en) Inspection system for detecting surface flaws
CA2227815C (en) Apparatus and method for automated visual inspection of objects
JPH08502361A (en) Method and apparatus for inspecting transparent substances
US6795201B2 (en) Method of objectively evaluating a surface mark
KR100894684B1 (en) Inspection Apparatus and Method for Dectecting Surface Defects of Metal Plate Using Vision System and Laser Depth Profiler
JP4618502B2 (en) Fluorescence flaw detector and fluorescent flaw detection method
US6433867B1 (en) Contrast imaging method for inspecting specular surface devices
US5220178A (en) Apparatus and process for detecting the presence of defects on a moving sheet of material
US6501546B1 (en) Inspection system for edges of glass
JPH07218451A (en) Device for optically inspecting steel plate for surface flaw
JPH06294749A (en) Flaw inspection method for plat glass
Delwiche et al. Prune defect detection by line-scan imaging
KR100808338B1 (en) A method and device for recording images of grains from cereals to detect cracking
JPH06148098A (en) Surface defect inspection apparatus
JP2003279503A (en) X-ray inspection apparatus
KR100769326B1 (en) Apparatus for inspecting polarized film
US6570177B1 (en) System, apparatus, and method for detecting defects in particles
CN111458344A (en) Mask defect visual detection method, equipment and storage medium
JPS63255647A (en) Method of inspecting moving metallic surface
JP2001124538A (en) Method and device for detecting defect in surface of object
JP3089079B2 (en) Circuit pattern defect inspection method
JP2004138417A (en) Method and apparatus for inspecting scratch in steel plate
JPH09312317A (en) Flip chip junction inspection method and device