JPS63242082A - Tomograph - Google Patents

Tomograph

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Publication number
JPS63242082A
JPS63242082A JP62074824A JP7482487A JPS63242082A JP S63242082 A JPS63242082 A JP S63242082A JP 62074824 A JP62074824 A JP 62074824A JP 7482487 A JP7482487 A JP 7482487A JP S63242082 A JPS63242082 A JP S63242082A
Authority
JP
Japan
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section
ray
data
radiation
specific cross
Prior art date
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Pending
Application number
JP62074824A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Kiichiro Uyama
喜一郎 宇山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP62074824A priority Critical patent/JPS63242082A/en
Publication of JPS63242082A publication Critical patent/JPS63242082A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To obtain a tomogram with excellent picture quality by collecting radiant ray projection data of photographing region formed to a specific cross section of a body to be checked and correcting the radiant ray projection data of the body to be checked based thereupon. CONSTITUTION:An X-ray beam 1 is radiated to a specific cross section of a correction check body from an X-ray generator 2 by a command of a control console part 18, the projected data is detected by each detection element of an X-ray detector 3 and the projected data from each detection element is collected by a data collection section 14. Then the correction data is read, logarithmic transformation is applied and the result is stored in a prescribed area of the memory 16. Then an X-ray beam 1 is radiated to the specific cross section of the body to be checked 6 from the X-ray generator 2 to collect the X-ray projection data outputted from the X-ray detector 3 by the section 14. Then the correction data stored in the memory 16 is used to reconstitute the tomogram by the X-ray transmission distribution in the photographing region 5 in the specific cross section of the object 6. Thus, the tomogram with high picture quality is obtained.

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的] (産業上の利用分野) 本発明は、非破壊検査等に用いられる断層像撮像装置に
関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Object of the Invention] (Industrial Application Field) The present invention relates to a tomographic imaging apparatus used for non-destructive inspection and the like.

(従来の技術) 断層像撮像装置としては、被検査体の特定断面に放射線
源としてのX*発生器によりX線を全周方向から照射し
、X線検出器でX線の透過a量を測定することにより投
影データを得、この投影データから上記被検査体の特定
断面の断層像を得る、いわゆるXImCTスキャナが一
般的である。
(Prior art) As a tomographic imaging device, an X* generator serving as a radiation source irradiates X-rays from all around a specific cross section of an object to be inspected, and an X-ray detector measures the amount of transmitted X-rays a. A so-called XImCT scanner that obtains projection data through measurement and obtains a tomographic image of a specific cross section of the object to be inspected from this projection data is common.

そして、このCTスキャナにより得られた各スライス位
置の断層像からは、上記被検査体の計測に関する情報、
例えば被検査体の寸法、断面形状および欠陥の有無等の
情報を得ることができるので、産業用として広く利用さ
れている。
From the tomographic images at each slice position obtained by this CT scanner, information regarding the measurement of the object to be inspected,
For example, it is widely used for industrial purposes because it can obtain information such as the dimensions, cross-sectional shape, and presence or absence of defects of the object to be inspected.

ところで、従来のこの種の断層F14m像装置のなかに
は、第5図に示す如く、所定の広がり角度を有する扇状
のX線ビーム1を放射するX線発生器2と全てのX線ビ
ーム1を受信可能な複数チャンネルのX線検出素子から
なるX線検出器3とを回転フレーム4上に対向配置し、
X゛線ビーム1の鍛影領域5内に被検査体6を配置して
回転フレーム4を1回転させ、つまりはX線発生器2と
X線検出器3とを1回転させて被検査体6の特定断面に
対する各方向からの放射線投影データを収集することに
より断層像を得るようにしたものがある。
By the way, as shown in FIG. 5, some conventional tomographic F14m imaging devices of this type include an X-ray generator 2 that emits a fan-shaped X-ray beam 1 having a predetermined spread angle, and an X-ray generator 2 that receives all the X-ray beams 1. An X-ray detector 3 consisting of possible multiple channels of X-ray detection elements is arranged facing each other on a rotating frame 4,
The object to be inspected 6 is placed within the shadow area 5 of the X-ray beam 1, and the rotating frame 4 is rotated once, that is, the X-ray generator 2 and the X-ray detector 3 are rotated once. There is a system in which a tomographic image is obtained by collecting radiation projection data from each direction for a specific cross section of 6.

このような断層像Ii象装置において、断層像の分解能
Rは、 R″F(llil影領域直径)/(検出器チャンネル数
)で表わされる。そこで、被検査体6内の一部分にXw
Aビーム1を照射することにより撮影領域5の直径を小
さくし、この部分のみの放射線投影データを収集するよ
うにすれば断層像の分解能を高められる。しかしながら
、この場合は被検査体6の廠影領11i5からはみ出し
た部分の影響を受けてしまい、断層像に画像誤差を生じ
て画質低下を招く。
In such a tomographic image device, the resolution R of the tomographic image is expressed as R″F (diameter of the shadow area)/(number of detector channels).
The resolution of the tomographic image can be improved by reducing the diameter of the imaging area 5 by irradiating it with the A beam 1 and collecting radiation projection data only for this area. However, in this case, the portion of the object 6 to be inspected that protrudes from the shadow area 11i5 will be affected, resulting in an image error in the tomographic image and a deterioration in image quality.

このため、産業用CTスキャナとして利用する場合には
被検査体6の特定断面が撮影領11!5内に全て含まれ
るようにX線発生器2およびX線検出器3を配置する必
要があった。
Therefore, when used as an industrial CT scanner, it is necessary to arrange the X-ray generator 2 and X-ray detector 3 so that the specific cross section of the object to be inspected 6 is completely included within the imaging area 11!5. Ta.

(発明が解決しようとする問題点) このように、撮影領域5を被検査体6の特定断面よりも
小さくすると画像誤差を生じ、画質低下を招くため、従
来の断層像撮像装置においては、検査したい部分が被検
査体6内の一部であったとしても被検査体6を内包する
べく撮像領域5を大きくしなければならず、断層像の分
解能を高めることが困難であった。また、放射線検出器
のチャンネル数を増加させることにより分解能の向上は
可能であるが、検出素子の小型化に限度がある上コスト
高は避けられない。
(Problems to be Solved by the Invention) As described above, if the imaging area 5 is made smaller than the specific cross section of the object to be inspected 6, an image error will occur and the image quality will deteriorate. Even if the desired part is a part of the object 6 to be inspected, the imaging area 5 must be enlarged to include the object 6, making it difficult to improve the resolution of the tomographic image. Further, although it is possible to improve the resolution by increasing the number of channels of the radiation detector, there is a limit to the miniaturization of the detection element and an increase in cost is unavoidable.

そこで本発明は、撮影領域の外部の影響により生じる画
像誤差を容易に補償でき、低コストで分解能が高く画質
の良好な断層像を得ることができる断sIiIms装置
を提供することを目的とする。
SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to provide a tomography sIiIms apparatus that can easily compensate for image errors caused by influences outside the imaging region and can obtain tomographic images with high resolution and good image quality at low cost.

[発明の構成] (問題点を解決するための手段) 本発明は、被検査体の特定断面に放射線を多方向から所
定の広がり角度を有して扇状に照射し、この特定断面の
各方向からの放射線投影データを収集し、この収集した
放射線投影データに画像再構成処理を施して特定断面の
放射線透過度分布による断層像を出力する断層像撮像装
置において、前記被検査体の特定断面の一部領域に放射
線を多方向から照射する放射線照射手段と、この手段に
より被検査体の特定断面に形成される撮影領域に対し領
域外を同一構成要素とする補正用検査体に前記放射線照
射手段により放射線を照射して放射線投影データを収集
する補正データ収集手段と、この手段により収集された
補正データに基いて前記放射線照射手段により聯られる
被検査体の放射線投影データを補正するデータ補正手段
とを備えたものである。
[Structure of the Invention] (Means for Solving the Problems) The present invention irradiates a specific cross section of an object to be inspected with radiation in a fan shape from multiple directions with a predetermined spread angle, and In a tomographic imaging apparatus that collects radiation projection data from the object, performs image reconstruction processing on the collected radiation projection data, and outputs a tomographic image based on the radiation transmittance distribution of a particular cross section, Radiation irradiation means for irradiating a partial region with radiation from multiple directions, and said radiation irradiation means for a correction inspection object in which the outside of the region is the same component for the imaging region formed in a specific cross section of the object to be inspected by this means. a correction data collection means for collecting radiation projection data by irradiating radiation with the means; and a data correction means for correcting the radiation projection data of the subject to be inspected which is connected by the radiation irradiation means based on the correction data collected by the means. It is equipped with the following.

(作用) このような手段を講じたことにより、被検査体の放射線
投影データに対する撮影領域外の影響が補正され、高画
質な断層像が得られるので、撮影領域を被検査体の特定
断面面積よりも小さくすることが可能である。
(Function) By taking such measures, the influence of areas outside the imaging area on the radiation projection data of the object to be inspected is corrected, and a high-quality tomographic image is obtained. It is possible to make it smaller than.

(実施例) 以下、本発明の実施例を図面を参照しながら説明する。(Example) Embodiments of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は本発明をXICTスキャナに適用した一実施例
の構成図である。なお、第5図と同一部分に畔同−符号
を付し、詳しい説明は省略する。
FIG. 1 is a block diagram of an embodiment in which the present invention is applied to an XICT scanner. Note that the same parts as in FIG. 5 are given the same reference numerals, and detailed explanations will be omitted.

回転テーブル4上には移動レールii、iiにより図中
矢印A1.A2方向に水平移動が自在の断面C型フレー
ム12が取付けられており、このC型フレーム12上に
X線発生器2とX線検出器3とが対向配置されている。
On the rotary table 4, arrows A1. A cross-section C-shaped frame 12 that is horizontally movable in the A2 direction is attached, and an X-ray generator 2 and an X-ray detector 3 are disposed facing each other on this C-shaped frame 12.

また、回転フレーム4には補正用データを収集するため
の補正用被検査体く不図示)を載置するファントム台1
3が固定されており、このファントム台13の上方を前
記C型フレーム12が水平移動するものとなっている。
Also, on the rotating frame 4, a phantom stand 1 on which a correction test object (not shown) is placed for collecting correction data.
3 is fixed, and the C-shaped frame 12 moves horizontally above the phantom stand 13.

そして、被検査体6は軸対象をなしており、回転フレー
ム4の回転軸と被検査体6の中心軸とが一致するように
配置されている。なお、本実施例において被検査体6は
内部に水等の媒質6bを充填し、この媒質6b内に測定
対象6aを配置した容器6Cを使用する。また、X線発
生器2およびX線検出器3は撮影領域5が測定対象6a
のみを内包する程度まで小さくなるように配置する。
The object to be inspected 6 is axially symmetrical and arranged so that the rotation axis of the rotary frame 4 and the central axis of the object to be inspected 6 coincide. In this embodiment, the object to be inspected 6 uses a container 6C in which a medium 6b such as water is filled and a measurement object 6a is placed inside the medium 6b. Furthermore, the X-ray generator 2 and the X-ray detector 3 are arranged so that the imaging area 5 is the measurement target 6a.
Place it so that it is small enough to contain only the

データ収集部14は、X線検出器3の各検出素子にて検
出されたX線強度に基く投影データを被検査体6の多方
向にわたって収集するものであって、収集されたデータ
はCPLI 15に送出される。
The data collection unit 14 collects projection data based on the X-ray intensity detected by each detection element of the X-ray detector 3 in multiple directions of the object to be inspected 6, and the collected data is transmitted to the CPLI 15. will be sent to.

CPU15は演算回路等を内蔵し、投影データを再構成
アルゴリズムの入力データに変換する前処理機能、前処
理されたデータを補正する補正機能、補正されたデータ
を再構成アルゴリズムにしたがってX線透過度分布によ
る断層像に再構成する再構成処理機能などを有している
。また、CPU15には再構成アルゴリズムあるいは補
正用データなどを記憶するためのメモリ16、断層像を
表示するためのCRTディスプレイ17、および制御コ
ンソール部18が接続される。制御コンソール部18は
CPU15からの制御指令、あるいは外部からの入力情
報に応じて機構制御部19またはX線制御部20に動作
指令を出力する機能を有しており、これらの動作指令に
応じて機構制御部19は回転テーブル4の回転機構(不
図示)またはC型フレーム12の移動機構(不図示)の
駆動制御を行ない、X線制御部20はX線発生器2から
のX線放射を制御する。
The CPU 15 has a built-in arithmetic circuit, etc., and has a preprocessing function for converting projection data into input data for the reconstruction algorithm, a correction function for correcting the preprocessed data, and an X-ray transparency correction function for corrected data according to the reconstruction algorithm. It has a reconstruction processing function that reconstructs tomographic images based on distribution. Also connected to the CPU 15 are a memory 16 for storing reconstruction algorithms or correction data, a CRT display 17 for displaying tomographic images, and a control console unit 18. The control console section 18 has a function of outputting operation commands to the mechanism control section 19 or the X-ray control section 20 according to control commands from the CPU 15 or input information from the outside, and according to these operation commands. The mechanism control section 19 controls the rotation mechanism (not shown) of the rotary table 4 or the movement mechanism (not shown) of the C-shaped frame 12, and the X-ray control section 20 controls the X-ray radiation from the X-ray generator 2. Control.

このように構成された本実施例装置においては、被検査
体6のX線投影データ収集前に補正用データの収集を行
なう。補正用データ収集時にはC型フレーム12を矢印
A1方向に移動させて第2図に示す状態に固定し、ファ
ントム台13の上に補正用検査体3oを載置する。この
とき、補正用検査体30としては被検査体6の容器6C
と同一の容器30Gで、その中に被検査体6の媒質6b
と同質の媒質30bを充填したものを使用し、被検査体
6の投影データ収集時における被検査体6のX線ビーム
1に対する位置と相対的に等しい位置に位置決めする。
In the apparatus of this embodiment configured as described above, correction data is collected before collecting X-ray projection data of the object 6 to be inspected. When collecting correction data, the C-shaped frame 12 is moved in the direction of arrow A1 and fixed in the state shown in FIG. 2, and the correction test object 3o is placed on the phantom stand 13. At this time, the container 6C of the test object 6 is used as the correction test object 30.
in the same container 30G as the one in which the medium 6b of the object to be inspected 6 is placed.
A medium 30b filled with a medium 30b having the same quality as the above is used, and the object is positioned at a position relatively equal to the position of the object to be inspected 6 with respect to the X-ray beam 1 at the time of collecting projection data of the object to be inspected.

したがって、撮影領域5より外部に関しては被検査体6
と補正用検査体30とは同一の構成要素となり、撮影領
域内部に関しては被検査体′は媒質6bと測定対象6a
が充填され、補正用検査体30は同一の媒質30bのみ
が充填される。
Therefore, outside the imaging area 5, the object to be inspected 6
and the correction inspection object 30 are the same component, and regarding the inside of the imaging area, the inspection object' is composed of the medium 6b and the measurement object 6a.
is filled with the same medium 30b, and the correction test body 30 is filled with only the same medium 30b.

この状態で、CPU15は第3図に示す如く動作する。In this state, the CPU 15 operates as shown in FIG.

すなわち、制御コンソール部18を動作させてX線制御
部20にX線放射を指令し、これによりX線発生器2か
ら補正用検査体30の特定断面にX線ビーム1が照射さ
れ、このときの投影データがX線検出器3の各検出素子
により検出されるので、データ収集部14を動作させて
各検出素子からの投影データを収集する。ここで、補正
用検査体30は軸対象になっているのでデータ収集時に
回転スキャンを行なう必要はない。そして、データ収集
部14により補正用検査体30・の特定断面からのX線
投影データを収集し終えたならば(ST1)、この収集
された各検出素子のX線投影データ、すなわち補正用デ
ータIo+(i−検出素子ナンバー)を読込み(ST2
)、各データに対して次の(1)式にしたがって対数変
換を行なう(ST3)。
That is, the control console section 18 is operated to instruct the X-ray control section 20 to emit X-rays, whereby the X-ray beam 1 is irradiated from the X-ray generator 2 to a specific cross section of the correction inspection object 30. Since the projection data of is detected by each detection element of the X-ray detector 3, the data collection unit 14 is operated to collect the projection data from each detection element. Here, since the correction inspection object 30 is axially symmetrical, there is no need to perform a rotational scan when collecting data. When the data collection unit 14 finishes collecting the X-ray projection data from a specific cross section of the correction inspection object 30 (ST1), the collected X-ray projection data of each detection element, that is, the correction data Read Io+ (i-detection element number) (ST2
), logarithmic transformation is performed on each data according to the following equation (1) (ST3).

Xo  +  −1oalo  I         
         −(1)しかる後、上記データ値X
o +をメモリ16の所定領域に記憶させ(ST4)、
補正データの収集を終了する。
Xo + -1 oalo I
-(1) After that, the above data value
o+ in a predetermined area of the memory 16 (ST4),
Finish collecting correction data.

次に、被検査体6の断層像撮像処理に移行する。Next, the process moves to tomographic imaging processing of the subject 6.

すなわち、機構I制御部19の1IilJ illに・
より、あるいは手動によってC型フレーム12を図中矢
印A2方向に移動させ、第1図に示す状態で位置決めす
る。この状態で、CPL115は第4図に示すように動
作する。まず、制御コンソール部18を動作させてX線
制御部20にX線放射を指令し、これによりX線発生器
2から被検査体30の特定断面にX線ビーム1が照射さ
れ始める。同時に、制御コンソール部18を動作させて
機構制御部19により回転フレーム4を連続回転させな
がらデータ収集a!$14によりX線検出器3から出力
されるX線投影データを収集する。こうして、回転フレ
ーム4を1回転させ、つまりはX線発生器2とX線検出
器3とを1回転スキャンさせて被検査体6の特定断面に
対する各X線投影データを収集し終えたならば(ST1
1)、これらのX線投影データ、すなわちスキャンデー
タ11 (θ) (1−検出素子チャンネルナンバー、
θ=回転角度)を読込み(ST12)、各データI−+
(θ)に対し次の(2)式にしたがって対数変換を行な
う(S T 13)。
That is, in 1IilJill of mechanism I control section 19,
The C-shaped frame 12 is moved in the direction of the arrow A2 in the figure by hand or by hand, and is positioned in the state shown in FIG. In this state, the CPL 115 operates as shown in FIG. First, the control console section 18 is operated to instruct the X-ray control section 20 to emit X-rays, and as a result, the X-ray generator 2 starts irradiating the X-ray beam 1 onto a specific cross section of the object 30 to be inspected. At the same time, the control console section 18 is operated and the mechanism control section 19 continuously rotates the rotating frame 4 while data collection a! X-ray projection data output from the X-ray detector 3 is collected by $14. In this way, when the rotating frame 4 is rotated once, that is, the X-ray generator 2 and the X-ray detector 3 are scanned once, and each X-ray projection data for a specific cross section of the inspected object 6 has been collected. (ST1
1), these X-ray projection data, that is, scan data 11 (θ) (1-detection element channel number,
θ=rotation angle) (ST12), each data I-+
(θ) is subjected to logarithmic transformation according to the following equation (2) (S T 13).

Xr  (θ)=  10!llI+  (θ)   
   ・・・(2)次いで、メモリ16に記憶されてい
る補正用データ値Xo +を用い、次の(3式により各
スキャンデータ値X+  <θ)に対して補正演算を行
なう(ST14)。
Xr (θ)=10! llI+ (θ)
(2) Next, using the correction data value Xo+ stored in the memory 16, the following correction calculation is performed for each scan data value X+<θ according to equation 3 (ST14).

X′1 (θ) −Xo t −Xr  (θ)   
 ・(3)しかして、これらの補正済みスキャンデータ
値X′1 (θ)により再構成アルゴリズムにしたがっ
て再構成処理を行ない、被検査体6の特定断面における
撮影領域5内のX線透過度分布による断WJ像を再構成
しく5T15)、この断層像をCRT、ディスプレイ1
7上に表示させて終了する(ST16)。
X′1 (θ) −Xo t −Xr (θ)
(3) Then, reconstruction processing is performed according to the reconstruction algorithm using these corrected scan data values X'1 (θ), and the X-ray transmittance distribution in the imaging area 5 in a specific cross section of the inspected object 6 is calculated. 5T15), and display this tomographic image on a CRT and display 1.
7 and ends the process (ST16).

このように本実施例によれば、X線ビーム1による撮影
領域5を被検査体6の特定断面の面積より小さくしても
、補正用検査体30を用いて収集された補正用データに
より、前記被検査体6の特定断面に対するX線投影デー
タの撮影領域外にはみ出した部分の影響が補償され、高
画質な断層像が得られる。したがって、X線検出器3の
検出チャンネル数が従来と同一であっても、撮影領域5
の直径を小さくすることが可能なので、低コストで容易
に分解能を高めることができる。その結果、被検査体6
として容器6C内に媒質6bを介して配置された測定対
象6aを検査したい場合、測定対象6aのみを内包する
ように撮影領域5を形成することにより測定対象6a部
分の断層像を高分解能で得られるので、より信頼性の^
5い検査を実施できる。この種の検査としては、例えば
例えば流体加圧を要する物質の断層検査等が上げられる
In this way, according to this embodiment, even if the imaging area 5 by the X-ray beam 1 is smaller than the area of the specific cross section of the object to be inspected 6, the correction data collected using the correction object 30 can The influence of the portion of the X-ray projection data protruding outside the imaging area on the specific cross section of the object 6 to be inspected is compensated for, and a high-quality tomographic image can be obtained. Therefore, even if the number of detection channels of the X-ray detector 3 is the same as before, the imaging area 5
Since it is possible to make the diameter smaller, resolution can be easily increased at low cost. As a result, the inspected object 6
When it is desired to inspect a measurement object 6a placed in a container 6C via a medium 6b, a tomographic image of the measurement object 6a can be obtained with high resolution by forming the imaging region 5 so as to include only the measurement object 6a. It is more reliable because
5 tests can be carried out. Examples of this type of inspection include, for example, tomographic inspection of substances that require fluid pressurization.

この場合、流体を充填した容器に該当物質を入れたもの
を被検査体6とし、同一の容器に流体のみを充填したも
のを補正用検査体30とする。
In this case, the test object 6 is a container filled with fluid and the relevant substance, and the correction test object 30 is the same container filled only with fluid.

また、従来のように、撮影領域5を被検査体6の特定断
面を内包するように形成すると、容器6Cの内接線にて
Xts吸収が大きいため、その影響で断層像に誤差を生
じるが、本実施例では容器6Cの内径よりも小さな撮影
領域でスキャンできるので、内接線の高吸収による影響
を受けることがなく、この種の誤差を容易に除去できる
Furthermore, if the imaging region 5 is formed to include a specific cross section of the object 6 as in the past, Xts absorption is large at the inscribed line of the container 6C, which causes errors in the tomographic image. In this embodiment, since it is possible to scan an imaging area smaller than the inner diameter of the container 6C, it is not affected by the high absorption of the inscribed line, and this type of error can be easily removed.

なお、本発明は前記実施例に限定されるものではない。Note that the present invention is not limited to the above embodiments.

例えば、前記実施例では被検査体6として軸対象のもの
を使用した場合を示したが、補正用データ収集時に回転
スキャンを行なうようにすれば、被検査体6が軸対象で
なくても使用可能である。また、被検査体6として容器
6−cから測定対象6aを取出せるものであれば、取出
した状態で補正用データを収集することができるので、
被検査体6とは別に補正用検査体30を用意する必要が
ない。さらに、前記実施例では回転フレーム4上にX線
発生器2とX線検出器3とを対向配置し、これらを一体
内に回転させることにより被検査体の特定断面のX線投
影データを得るXl1lCTスキヤナに適用した場合を
示したが、これに限らず、例えば被検査体6を回転テー
ブル上に載置して被検査体6自身を回転させることによ
り投影データを得るようにしたCTスキャナであっても
よ。
For example, in the above embodiment, the case where an axially symmetrical object is used as the inspected object 6 is shown, but if a rotational scan is performed when collecting correction data, it can be used even if the inspected object 6 is not axially symmetrical. It is possible. Furthermore, if the object to be measured 6a can be removed from the container 6-c as the object to be inspected 6, correction data can be collected while it is removed.
There is no need to prepare the correction test object 30 separately from the test object 6. Furthermore, in the embodiment described above, the X-ray generator 2 and the X-ray detector 3 are disposed facing each other on the rotating frame 4, and by rotating these together, X-ray projection data of a specific cross section of the object to be inspected is obtained. Although the case where the application is applied to an Xl1l CT scanner is shown, the present invention is not limited to this, but is applicable to, for example, a CT scanner in which the object to be inspected 6 is placed on a rotary table and the projection data is obtained by rotating the object to be inspected 6 itself. It's okay.

い。また、放射線はX線に限定されるものではない。こ
のほか、本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形実施
可能であるのは勿論である。
stomach. Furthermore, radiation is not limited to X-rays. It goes without saying that various other modifications can be made without departing from the spirit of the invention.

[発明の効果] 以上詳述したように、本発明によれば、撮影領域の外部
の影響により生じる画像誤差を容易に補償でき、低コス
トで分解能が高く画質の良好な断層像を得ることができ
る断層***装置を提供できる。
[Effects of the Invention] As detailed above, according to the present invention, it is possible to easily compensate for image errors caused by influences outside the imaging area, and to obtain tomographic images with high resolution and good image quality at low cost. We can provide a fault *** device that can do this.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図ないし第4図は本発明の一実施例を示す図であっ
て、第1図は全体構成図、第2図は補正用データ収集時
の機構配置図、第3図は補正用データ収集時のCPUの
動作を示す流れ図、第4図はスキャンデータ収集時のC
PtJの動作を示す流れ図、第5図は従来例の構成を示
す図である。 1・・・X線ビーム、2・・・X線発生器、3・・・X
線検出器、4・・・回転フレーム、5・・・撮影領域、
6・・・被検査体、12・・・C型フレーム、13・・
・ファントム台、14・・・データ収集部、15・・・
CPU、16・・・メモリ、17・・・CRTディスプ
レイ、18・・・制御コンソール部、30・・・補正用
検査体。 出願人代理人 弁理士 鈴江武彦 第1図 第2図 第4図
1 to 4 are diagrams showing one embodiment of the present invention, in which FIG. 1 is an overall configuration diagram, FIG. 2 is a mechanism layout diagram at the time of collecting correction data, and FIG. 3 is a diagram showing correction data. A flowchart showing the operation of the CPU when collecting scan data, Figure 4 shows the CPU operation when collecting scan data.
FIG. 5 is a flowchart showing the operation of PtJ, and is a diagram showing the configuration of a conventional example. 1...X-ray beam, 2...X-ray generator, 3...X
line detector, 4...rotating frame, 5...imaging area,
6...Object to be inspected, 12...C-type frame, 13...
・Phantom stand, 14...Data collection unit, 15...
CPU, 16...Memory, 17...CRT display, 18...Control console unit, 30...Correction test object. Applicant's agent Patent attorney Takehiko Suzue Figure 1 Figure 2 Figure 4

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 被検査体の特定断面に放射線を多方向から所定の広がり
角度を有して扇状に照射し、この特定断面の各方向から
の放射線投影データを収集し、この収集した放射線投影
データに画像再構成処理を施して前記特定断面の放射線
透過度分布による断層像を出力する断層像撮像装置にお
いて、前記被検査体の特定断面の一部領域に前記放射線
を多方向から照射する放射線照射手段と、この手段によ
り前記被検査体の特定断面に形成される撮影領域に対し
領域外を同一構成要素とする補正用検査体に前記放射線
照射手段により放射線を照射して放射線投影データを収
集する補正データ収集手段と、この手段により収集され
た補正データに基いて前記放射線照射手段により得られ
る被検査体の放射線投影データを補正するデータ補正手
段とを具備したことを特徴とする断層像撮像装置。
Radiation is irradiated from multiple directions in a fan shape with a predetermined spread angle to a specific cross section of the object to be inspected, radiation projection data from each direction of this specific cross section is collected, and an image is reconstructed based on the collected radiation projection data. A tomographic image capturing apparatus that performs processing to output a tomographic image based on the radiation transmittance distribution of the specific cross section, comprising a radiation irradiation means that irradiates the radiation from multiple directions to a partial area of the specific cross section of the object to be inspected; Correction data collection means for collecting radiation projection data by irradiating radiation with the radiation irradiation means to a correction inspection object in which the outside of the area is the same component with respect to the imaging region formed in a specific cross section of the object to be inspected by the means. and a data correction means for correcting the radiation projection data of the object to be inspected obtained by the radiation irradiation means based on the correction data collected by this means.
JP62074824A 1987-03-28 1987-03-28 Tomograph Pending JPS63242082A (en)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008119020A (en) * 2006-11-08 2008-05-29 Rigaku Corp Detected value calibration method, x-ray ct system, phantom for calibration and holder

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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