JPS63230889A - Production of substrate - Google Patents

Production of substrate

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JPS63230889A
JPS63230889A JP6430887A JP6430887A JPS63230889A JP S63230889 A JPS63230889 A JP S63230889A JP 6430887 A JP6430887 A JP 6430887A JP 6430887 A JP6430887 A JP 6430887A JP S63230889 A JPS63230889 A JP S63230889A
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JP
Japan
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etching
layer
substrate
manufacturing
coating
Prior art date
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Pending
Application number
JP6430887A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Keiko Ishizawa
石澤 慶子
Hiroshi Morita
廣 森田
Tsuneichi Yoshino
吉野 常一
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Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP6430887A priority Critical patent/JPS63230889A/en
Publication of JPS63230889A publication Critical patent/JPS63230889A/en
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03FPHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
    • G03F7/00Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
    • G03F7/004Photosensitive materials
    • G03F7/09Photosensitive materials characterised by structural details, e.g. supports, auxiliary layers
    • G03F7/094Multilayer resist systems, e.g. planarising layers

Abstract

PURPOSE:To flatten the bottoms of grooves having different depths on a substrate by exposing a photosensitive resin layer on plural coating layers formed on the substrate, removing the resulting latent image and selectively etching the coating layers. CONSTITUTION:A coating layer 11 of aluminum oxide, a coating layer 12 of silicon oxide and a coating layer 13 of silicon nitride are successively formed on a glass substrate 10. The substrate 10 is dried and exposed to an atmosphere contg. an adhesion improver. A photosensitive resin layer 14 as a positive type resist layer is formed on the whole surface of the layer 13 by spin coating, dried and exposed to form latent image 16 having different depths in accordance with the intensity of light for exposure. The guide or pit parts are then dissolved by development to form a photosensitive resin film 17 having partially different thicknesses. The film 17 is baked and reactive ion etching is carried out in three stages with CF4+25%N2, CF4+40%N2 and CF4+25%N2 to form a groove 18a of a desired depth in the layers 13, 12 and groove 18b of a desired depth in the layer 13.

Description

【発明の詳細な説明】 [−5!!明の目的〕 (産業上の利用分野) 本発明は、特に光ディスク、光磁気ディスク等の記録用
の基板を製造するのに好適な基板の製造方法に関する。
[Detailed Description of the Invention] [-5! ! OBJECT OF THE INVENTION (Industrial Field of Application) The present invention relates to a method of manufacturing a substrate particularly suitable for manufacturing a recording substrate such as an optical disk or a magneto-optical disk.

(従来の技術) 一般に、光ディスク、光磁気ディスク等の記録媒体には
、らせん状または同心円状の溝状パターンが形成された
基板が用いられている。4のような基板は、ポリカーボ
ネート、アクリル、エポキシ等のプラスチックスからな
り、上記溝状パターンとともに成型加工されてなる。そ
して、この基板は記録媒体の支持基体であり、記録・読
出しのための光線を透過する機能を有する。また基板上
に形成された上記溝状パターンは光サーボ用の案内溝(
以下、案内溝と呼ぶ)の機能を有する。
(Prior Art) Generally, recording media such as optical discs and magneto-optical discs use substrates on which spiral or concentric groove patterns are formed. The substrate 4 is made of plastic such as polycarbonate, acrylic, or epoxy, and is molded together with the groove-like pattern. This substrate is a support base for the recording medium, and has a function of transmitting light beams for recording and reading. In addition, the groove-like pattern formed on the substrate is a guide groove for optical servo (
It has the function of a guide groove (hereinafter referred to as a guide groove).

ところで上記したようにプラスチックス材からなる基板
においては、記録媒体としての信頼性に問題を有する。
However, as described above, substrates made of plastics have problems in reliability as recording media.

すなわち、上記した材質においては変形、変質等が起こ
ることが多く、長期的な信頼性はない、このため上記基
板の材質としてガラスを用いることがこのような信頼性
を解決するための手段として注目されているが、光サー
ボ用の案内溝をガラス上に形成する工程が複数である。
In other words, the above-mentioned materials often undergo deformation, deterioration, etc., and are not reliable over the long term. Therefore, the use of glass as the material for the above-mentioned substrate is attracting attention as a means to solve such reliability problems. However, there are multiple steps to form guide grooves for optical servo on glass.

このため、基板の材質としてガラスを用いる場合、紫外
線硬化樹脂を用いたフォシポリマー法により案内溝を形
成している。しかし1本質的には樹脂を用いていること
がイー1頼性を損う結果を招いている。
For this reason, when glass is used as the substrate material, the guide grooves are formed by the Fossipolymer method using an ultraviolet curing resin. However, the use of resin essentially results in a loss of reliability.

ところで近年、エツチング技術の進歩とともに従来にお
いては困難を極めていたガラス基板上に直接案内溝を加
工することは必ずしも可能でなくなってきている。とり
わけ、ドライエツチングは有効である。このようなドラ
イエツチングによるガラス基板への案内溝の加工方法の
一例を第6図に示す。まず、洗浄したガラス、15板■
」―にポジ型レジスト■をスピンコーティングする(同
図(a) )。
However, in recent years, with advances in etching technology, it is no longer necessarily possible to directly form guide grooves on a glass substrate, which has been extremely difficult in the past. In particular, dry etching is effective. An example of a method for forming guide grooves on a glass substrate by such dry etching is shown in FIG. First, 15 sheets of cleaned glass■
'' - is spin-coated with a positive resist ■ (see figure (a)).

次に、光露光法により幅0.5〜1−、ピッチ1〜21
!I&のらせん状の案内溝を記録しく同図(b)) 、
続いて視像する(同図(c))、その後、残存するレジ
ストをマスクとして、反応性ガス(例えばCHF、)中
でドライエツチングを行ない、0.5〜1−程度の深さ
までガラス基板ω上をエツチングする(同図(d))。
Next, by light exposure method, width 0.5-1-, pitch 1-21
! Record the spiral guide groove of I & (b) in the same figure.
Then, using the remaining resist as a mask, dry etching is performed in a reactive gas (e.g., CHF) to a depth of approximately 0.5 to 1 - ω on the glass substrate. Etch the top ((d) in the same figure).

この後、不要となったレジストを酸素プラズマでアッシ
ングして除去する(同図(e))。
Thereafter, the resist that is no longer needed is removed by ashing with oxygen plasma (FIG. 4(e)).

一方近年、情報の高密度化、高実装化等にともないより
複雑な溝の形成が要求されるようになってきた。すなわ
ち、上記した案内溝に加え、各種フォーマット用のビッ
トを形成する必要が生じてきた。この場合、案内溝は深
さλ:読み出し用光源の波長、n:基板の屈折率)でら
せん状または同心円状に形成され1番地、セクタ、同期
信号等のフォーマット用のビットは深さλ/4nで案内
溝中や案内溝間に形成される。
On the other hand, in recent years, with the increase in information density and packaging, it has become necessary to form more complex grooves. That is, in addition to the above-mentioned guide grooves, it has become necessary to form bits for various formats. In this case, the guide groove is formed in a spiral or concentric shape with a depth λ: wavelength of the readout light source, n: refractive index of the substrate), and the bits for formatting 1 address, sector, synchronization signal, etc. have a depth λ/ 4n is formed in or between the guide grooves.

ところで、このような深さの異なる案内溝とビットとを
同一基板上に形成することは従来から基板の材質として
プラスチックスが用いられ以下に示す方法で形成される
。この方法によれば、まずスタンパを形成する。すなわ
ちガラス基板上にレジスト膜をλ/4nの膜厚で塗布し
、この上を高精度のカッティング装置で高い記録パワー
を用い2水準のレーザ微少光スポット(−光源を変調ま
たは二元源)で露光する。この後、露光強度に応じて、
案内溝部またはピット部を現像溶出して形成せしめ、そ
の後感電化処理を施す、しかる後、ニッケル電鋳めっき
をすることで上記したスタンパが形成される。そしてこ
のスタンパを用いて深さの異なる案内溝およびビットを
有しプラスチックス材からなる基板が大:jtW!e!
される。
Incidentally, the formation of such guide grooves and bits of different depths on the same substrate has conventionally been carried out using plastic as the material of the substrate and by the method described below. According to this method, a stamper is first formed. In other words, a resist film is applied to a glass substrate with a film thickness of λ/4n, and then a high-precision cutting device is used to cut the resist film using two levels of laser light spots (modulated light source or dual source) using high recording power. Expose. After this, depending on the exposure intensity,
The above-mentioned stamper is formed by forming a guide groove part or a pit part by developing and eluting it, and then subjecting it to electrocution treatment, followed by nickel electroforming plating. Then, using this stamper, a large substrate made of plastic material having guide grooves and bits of different depths is made: jtW! e!
be done.

(発明が解決しようとする問題点) ところで上記したようにスタンパにより形成された基板
はその材質がプラスチックスからなるものであるため、
上述したように記録媒体としての信頼性において問題を
有する。このため、上記したように基板の材質としてガ
ラスを用いることが考えられるが、ガラス基板上に深さ
の異なる案内溝とピットとを形成することは困難を極め
ていた。
(Problems to be Solved by the Invention) By the way, as mentioned above, since the substrate formed by the stamper is made of plastic,
As mentioned above, there is a problem in reliability as a recording medium. For this reason, as described above, it is conceivable to use glass as the material of the substrate, but it has been extremely difficult to form guide grooves and pits of different depths on a glass substrate.

上述の問題を解決するために、本出願人は、露光工程に
おいて基板上に形成すべき溝の深さに応じた光景で感光
性樹脂層を露光し、潜像除去工程でこの溝の深さに応じ
た潜像が得られることによがさらに試験を行なってみた
ところ、この基板を用いて形成した光磁気ディスクにお
いては低周波域でのノイズレベルが高い傾向にあること
が判明技術では、所望の深さのエツチングを基板に対し
て行なう際、溝の底部が平担にならずIIIIIIRな
凹凸ができることが多いためであるからである。詳述す
るならば、小規模な試作においてはエツチング条件を狭
い制限の下に制御が可能となり平滑化が達成されるが、
しかし、量産体制下(大量処理時)では光磁気ディスク
内のばらつきロット内での凹凸の分布が目立ち、ノイズ
レベルを低下させていた。
In order to solve the above-mentioned problem, the present applicant exposes a photosensitive resin layer in the exposure process with a view corresponding to the depth of the groove to be formed on the substrate, and in the latent image removal process, the depth of the groove is adjusted. However, further tests revealed that magneto-optical disks formed using this substrate tend to have high noise levels in the low frequency range. This is because when etching a substrate to a desired depth, the bottom of the groove is often not flat and has irregularities. To be more specific, in small-scale prototype production, etching conditions can be controlled within narrow limits and smoothing can be achieved;
However, under a mass production system (during mass processing), variations in unevenness within a magneto-optical disk within a lot become noticeable, reducing the noise level.

本発明は上述の問題点を鑑みてなされたものであり、j
jI板上に深さの異なる145面が充分平滑である溝を
容易に生産性良く形成することができる基板の製造方法
を提供することを目的としている。
The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and
It is an object of the present invention to provide a method for manufacturing a substrate that can easily form grooves having sufficiently smooth surfaces on 145 different depths on a JI board with good productivity.

〔発明の構成〕[Structure of the invention]

(問題点を解決するための手段) 」〕述の目的を達成するために1本発明の基板の製造方
法は、被覆層を所望の深さに食刻する食刻工程が、この
被覆層の少なくとも一部を選択的に食刻する複数の食刻
工程からなることを特徴としている。
(Means for Solving the Problems)] In order to achieve the above-mentioned objects, the method for manufacturing a substrate of the present invention includes an etching process for etching a coating layer to a desired depth. It is characterized by comprising a plurality of etching processes in which at least a portion is selectively etched.

以下に、本発明の実施態様について図面を用いて詳述す
る。
Embodiments of the present invention will be described in detail below with reference to the drawings.

本発明の実施態様においては、透光性基板上に少なくと
も二層若しくは三層を光学的に所望の厚味で被覆層を形
成する。この被覆層の材料は層中に溝を形成する食刻工
程において、一定条件下で食刻の困難性、容易性を相互
に有することにより溝形成を容易にならしめる物質群よ
り選択される。
In an embodiment of the present invention, a coating layer is formed on a light-transmitting substrate by forming at least two or three layers to an optically desired thickness. The material of this coating layer is selected from a group of substances that make grooves easy to form by mutually having difficulty and ease of etching under certain conditions in the etching process for forming grooves in the layer.

すなわち、第5図(a)に示す如<、m板若しくはある
堆積被覆層■上に、順次別の被覆層(へ)、さらにに別
の被覆層■を積層し、最終的に形成すべき溝の深さに応
じて厚さが異なる感光性樹脂層■を設ける0次いで、三
回食刻をくり返しく第5Ij4(b) 、 (c) 、
 (d)にそれぞれの食刻工程を示す)、溝を完成させ
る。この際、この食刻工程は次の如き条件にしたがう、
すなわち、第5図(b)に示す食刻工程では、被覆層■
の食刻速度が被覆層0の食刻速度よりも大となり、第5
図(C)に示す食刻工程では、被覆層0の食刻速度が、
被覆層■、■の食刻速度よりも大となり、第5図(d)
に示す食刻工程では、被覆層■の食刻速度が、被覆M(
ハ)、8の食刻速度よりも大となることである。この条
件を満足させるためには、例えば、被覆層■を^QsO
1、被覆層0をSin、 、被覆層■をSi、N、で作
成し。
That is, as shown in FIG. 5(a), on a plate or a certain deposited coating layer (1), another coating layer (2) is sequentially laminated, and then another coating layer (2) is laminated to finally form a layer. Provide a photosensitive resin layer ■ whose thickness varies depending on the depth of the groove 0 Then, repeat etching three times No. 5 Ij4 (b), (c),
(d) shows the respective etching steps), the grooves are completed. At this time, this etching process follows the following conditions:
That is, in the etching process shown in FIG. 5(b), the coating layer ■
The etching speed of the coating layer 0 is higher than that of the coating layer 0, and the fifth
In the etching process shown in Figure (C), the etching speed of coating layer 0 is
The etching speed is higher than that of the coating layers ■ and ■, as shown in Figure 5(d).
In the etching process shown in FIG.
C), the etching speed is greater than 8. In order to satisfy this condition, for example, the coating layer ■ should be
1. The coating layer 0 was made of Sin, and the coating layer (■) was made of Si and N.

各食刻工程の食刻法に反応性イオシエッチング法を選択
し1食刻ガスに各々、CF、 + 25%Nバ第5図(
b)に用いるガス)%CF、+40%ll2(第5図(
c)に用いるガス) 、 CF、+25%N、(第5図
(d)に用いるガス)を選択すれば良い。
The reactive io-etching method was selected as the etching method for each etching process, and each etching gas contained CF, + 25% N, and
Gas used in b) %CF, +40%ll2 (Fig. 5 (
The gas used in (c)), CF, +25%N (the gas used in FIG. 5(d)) may be selected.

(作 用) 本発明の基板の製造方法において、yl光工程で透光性
基板上に形成すべき溝の深さに応じた光量で感光性樹脂
層を露光しているので、潜像除去工程で上記溝の深さに
応じた潜像が得られることになる。このため、食刻工程
で深さの異なる溝が上記透光性基板に容易に形成される
。さらに9本発明では各深さの溝を形成する際に、溝を
形成する必要のない部分や溝の底部に位置する層が食刻
されないような食刻方法(エツチングガス、圧力)を選
ぶことにより底部に微細な凹凸が生ずることなく、平担
な溝形状を得ることが可能である。
(Function) In the substrate manufacturing method of the present invention, the photosensitive resin layer is exposed in the yl light process with an amount of light that corresponds to the depth of the groove to be formed on the transparent substrate. A latent image corresponding to the depth of the groove is obtained. Therefore, grooves with different depths can be easily formed in the light-transmitting substrate during the etching process. Furthermore, in the present invention, when forming grooves of various depths, it is necessary to select an etching method (etching gas, pressure) that does not etch portions that do not require groove formation or layers located at the bottom of the grooves. This makes it possible to obtain a flat groove shape without producing minute irregularities on the bottom.

(実施例) 以下本発明の実施例について、図面を参照して説明する
(Example) Examples of the present invention will be described below with reference to the drawings.

まず、第1−を参照して1本発明の一実施例を説明する
First, an embodiment of the present invention will be described with reference to No. 1-.

第1v4(a)において符号(10)は外形130m+
+、内径15mm、厚さ1.2+sの円板状の強化ガラ
ス基板(7059゜コーニング社製の商品名)であり1
表面粗さ0.02趨以下の平担な面に加工され、かつ充
分な洗浄が施されている。この強化ガラス基板(10)
の被覆層(11)として酸化アルミニウムを250人形
成する。
In the 1st v4 (a), the code (10) has an outer diameter of 130 m+
+, a disk-shaped tempered glass substrate (7059°, product name manufactured by Corning Inc.) with an inner diameter of 15 mm and a thickness of 1.2 + s.
It is processed to have a flat surface with a surface roughness of 0.02 or less, and has been thoroughly cleaned. This tempered glass substrate (10)
250 layers of aluminum oxide are formed as a coating layer (11).

さらにこの被1191層(11)の上に連続して第2の
被覆層(12)として酸化シリコンを520人形成する
Further, 520 layers of silicon oxide are continuously formed as a second covering layer (12) on this 1191 layer (11).

さらにその上に連続して第3の被膜層(13)として窒
化シリコンを700人を積層する。
Furthermore, 700 layers of silicon nitride are continuously layered thereon as a third film layer (13).

そしてこの基板(10)を充分乾燥した後、密着向上剤
’svp気(例えばOAP 、東京応化(株)の商品名
)にあて、第3の被覆層(13)の全面にスピンコード
法により通常の感光性樹脂層(14)を形成する(第λ
図(b) ) 、この感光性樹脂層(14)として、ポ
ジ型レジスト(例えばOFI’R−800(東京応化(
株)製の商品名)等)、ネガ型レジスト(例えばLMR
16(′F6士薬品(株)の商品名)等)のいずれを用
いてもよいが、本実施例においてはポジ型レジストを用
いた例を示す、すなわち本実施例によれば、上記感光性
樹脂J11(14)としてポジ型レジストである0FP
R−800(東京応化(株)Wsノ商M名) ヲ350
0人(7)厚さに形成した。
After thoroughly drying this substrate (10), it is applied with an adhesion improver'svp gas (for example, OAP, a trade name of Tokyo Ohka Co., Ltd.), and the entire surface of the third coating layer (13) is coated with a spin code method. form a photosensitive resin layer (14) (λth
(Figure (b)), this photosensitive resin layer (14) is made of a positive resist (for example, OFI'R-800 (Tokyo Ohka Co., Ltd.)).
Co., Ltd. product name), etc.), negative resists (for example, LMR
16 (trade name of F6 Shiyakuhin Co., Ltd.), etc., but in this example, an example using a positive resist is shown. 0FP which is a positive resist as resin J11 (14)
R-800 (Tokyo Ohka Co., Ltd. Ws commercial name) Wo350
It was formed to a thickness of 0 people (7).

この後、感光性樹脂N (14)を常法により90℃で
30分乾燥する。
Thereafter, the photosensitive resin N (14) is dried at 90° C. for 30 minutes by a conventional method.

そして、この上を従来のプラスチック基板用のスタンバ
作成工程で用いるような高精度のカッティング装置で高
い記録パワーを用いて2水準のアルゴンレーザ微少光ス
ポット(−光源を変調または二光源)でディスクを回転
しながら露光する。
Then, using a high-precision cutting device similar to that used in the conventional standby production process for plastic substrates, a disc is cut using two levels of argon laser minute light spots (-modulated light source or dual light source) using high recording power. Expose while rotating.

すると、レーザ光強度に応じた深さの異なる潜像(16
)ができる、この後、露光強度に応じて、案内溝部また
はビット部を現像溶出して異なる厚味を部分的に有する
感光性樹脂被膜(17)を形成せしめる。
Then, a latent image (16
) is formed, and then, depending on the exposure intensity, the guide groove portion or the bit portion is developed and eluted to form a photosensitive resin film (17) having partially different thicknesses.

この後、130℃、30分のベーキングを行ない、続い
て平行平板型の反応性イオンエツチング!4f[(図示
せず)のチャンバ内でCF、に25%N2を添加したガ
スを導入してプラズマを発生させるプラズマエツチング
により、第3の被覆層に溝が所望の深さくλ/8n:第
3の被膜層の厚さ)形成される。
After this, baking was performed at 130°C for 30 minutes, followed by parallel plate reactive ion etching! A groove is formed in the third coating layer to a desired depth by plasma etching, which generates plasma by introducing a gas containing CF and 25% N2 into a chamber of 4f (not shown). A coating layer thickness of 3) is formed.

(第誠図(6)) 同じチャンバ内に、今度はCF4に40%N、を添加し
た混合ガスを導入してプラズマを発生させるプラズマエ
ツチングにより、第2の被覆層に溝が所同じチャンバ内
で、第1Ii′11目と同一の条件でエツチングを行う
と、深さλ/8nの案内溝(18a)および深さλ/4
nのビット(18b) (この場合、λ=830n鵬、
n=1.46)を有する基板が形成される。
(Fig. (6)) In the same chamber, a gas mixture of CF4 and 40% N was introduced to generate plasma, and grooves were formed in the second coating layer. Then, when etching is performed under the same conditions as No. 1Ii'11, a guide groove (18a) with a depth of λ/8n and a depth of λ/4 are formed.
bits (18b) of n (in this case, λ=830npeng,
A substrate having n=1.46) is formed.

(第\図(g)) すなわちこの基板(10)には半径:(0■〜60■の
範囲ピッチ1.6−で幅0.8−深さ700人の案内溝
(18a)がらせん状に形成され、所々に深さ1220
Aのプリフォーマット情報用ビット(18b)が形成さ
れている。
(Fig. (g)) In other words, this board (10) has a spiral guide groove (18a) with a radius of 0.8 mm and a pitch of 1.6 mm and a width of 0.8 mm and a depth of 700 mm. formed to a depth of 1220 mm in places.
A preformat information bit (18b) is formed.

このようにして得られた基Fi(10)上に記録層や反
射層を積層して記録媒体を形成する。第2図はこのこと
を説明するための図である。同図に示すように、まず上
述の工程により得た基板(10)上にTb、 Fe、 
Go三元合金層を記録層(31)として250人形成す
る。このためにはマグネトロンスパッタ法によりTb、
 Fe、 Coの三元合金ターゲット(組成Tb25a
 t%、Fe65.5a t%、 Co 9.5a t
%)をArガスでスパッタする。そして、この上に干渉
層32としてAQNを350人形成する。このためには
、 AQツタ−ットを用い、スパッタガスを、30%N
、を含むAr混合ガスとしたマグネトロンスパッタ法を
用いる。さらに干渉層(32)上にマグネトロンスパッ
タ法によりAQよりなる反射層(33)を500人形成
し、光磁気記録媒体(34)を形成する。
A recording layer and a reflective layer are laminated on the base Fi(10) thus obtained to form a recording medium. FIG. 2 is a diagram for explaining this. As shown in the figure, first, Tb, Fe,
250 Go ternary alloy layers are formed as recording layers (31). For this purpose, Tb,
Fe, Co ternary alloy target (composition Tb25a
t%, Fe65.5a t%, Co 9.5a t
%) is sputtered with Ar gas. Then, 350 AQNs are formed as an interference layer 32 on top of this. For this purpose, use AQ Tuttar and change the sputtering gas to 30%N.
A magnetron sputtering method using an Ar mixed gas containing . Further, 500 reflective layers (33) made of AQ are formed on the interference layer (32) by magnetron sputtering to form a magneto-optical recording medium (34).

上述の構成で、記録層(31)は層面に垂直方向に磁化
容易軸を有する磁気記録層となる。ガラス基板(10)
(11よりレーザー光を照射し1局部加熱し。
With the above configuration, the recording layer (31) becomes a magnetic recording layer having an axis of easy magnetization in a direction perpendicular to the layer surface. Glass substrate (10)
(Irradiate laser light from 11 to heat one local area.

原理に基づけば光のカー効果を増大させるような干渉層
(32) 1反射層(33)により見かけ上の(i’j
号強度を増加し、信号対ノイズレベル(S/N比)を著
しく向上させた特性のよい記録媒体ができる。
Based on the principle, the apparent (i'j
A recording medium with good characteristics, which has increased signal strength and significantly improved signal-to-noise level (S/N ratio), can be produced.

かくして本実施例によれば、ガラス、透光性セラミック
ス等に深さの異なる底面の平担な案内溝とプリフォーマ
ット用のビットとを同一工程で全面に形成することがで
き、信頼性の高い記録媒体の製造方法を説明する。
Thus, according to this embodiment, flat guide grooves with different depths and preformat bits can be formed on the entire surface of glass, translucent ceramics, etc. in the same process, resulting in high reliability. A method for manufacturing a recording medium will be explained.

第3図(a)において、符号(20)は外形130m。In FIG. 3(a), the symbol (20) has an outer diameter of 130 m.

内fi15■、厚さ1.2■の円板状の無アルカリガラ
ス基板(Nム40.HOYA(株)IIの商品名)であ
り1表面粗さ0.002−以下の平担な面に加工され、
かつ充分な洗浄が施されている。この基板上に高層波マ
グネトロンスパッタ法により第1の被覆層(21)とし
て酸化シリコンを520人形成する。さらにその上に連
続して第2の被覆層(22)として窒化シリコンを70
0人積層重る。
It is a disc-shaped alkali-free glass substrate (Nmu 40. trade name of HOYA Co., Ltd. II) with an internal fi of 15 and a thickness of 1.2. processed,
and has been thoroughly cleaned. On this substrate, 520 layers of silicon oxide are formed as a first covering layer (21) by high wave magnetron sputtering. Further on top of that, a second covering layer (22) of silicon nitride with a thickness of 70% is applied.
0 people piled up.

そしてこの基板(20)を充分乾燥した後、密着向上剤
雰囲気(例えばOAP :東京応化(株)11!商品名
)にあて、第2の被覆W(22)の全面にスピンコード
法により通常の感光性樹脂層(23)を形成する(第3
図(b)) 、この感光性樹脂層(23)として、ポジ
型レジスト(例えば0FPR−800東京応化(株)I
Iの商品名)等)、ネガ型レジスト(例えば富士薬品(
株)fBのLMR16等:商品名)のいずれを用いても
よいが、本実施例においてはポジ型レジストを用いた例
を示す、すなわち本実施例によれば、この感光性樹脂層
(23)としてポジ型レジストである0FPR−800
(東京応化(株)!l!の商品名)を3500人の厚さ
に形成した。
After sufficiently drying this substrate (20), it is placed in an atmosphere of an adhesion improver (for example, OAP: Tokyo Ohka Co., Ltd. 11! trade name), and the entire surface of the second coating W (22) is coated with a normal coating using a spin code method. Forming a photosensitive resin layer (23) (third
(Figure (b)), this photosensitive resin layer (23) is a positive resist (for example, 0FPR-800 Tokyo Ohka Co., Ltd. I).
), negative resists (such as Fuji Yakuhin (trade name)
fB Co., Ltd. LMR16 (trade name) may be used, but in this example, an example using a positive resist is shown. In other words, according to this example, this photosensitive resin layer (23) 0FPR-800 is a positive resist.
(trade name of Tokyo Ohka Co., Ltd. !l!) was formed to a thickness of 3,500 people.

この後、感光性樹脂m12を常法により90℃で30分
乾燥する。
Thereafter, the photosensitive resin m12 is dried at 90° C. for 30 minutes by a conventional method.

そして、被覆層(21) (22)上に形成すべき深さ
の異なる案内溝とプリフォーマット情報用のピットとに
応じて膜厚を異ならしめたクロム(通常色は黒)のパタ
ーン(24a)  (基本的にらせん状)を具備する露
光用マスク(24)を用いて露光し感光性樹脂M (2
3)に潜像(25)を形成する(f53図(c))。
Then, patterns (24a) of chrome (usually black in color) with different film thicknesses depending on the guide grooves of different depths and pits for preformat information to be formed on the covering layers (21) (22). The photosensitive resin M (2
3) to form a latent image (25) (Fig. f53 (c)).

この露光には紫外光を光源としたコンタクト露光(アラ
ナイト:キャノン(株)製のPLA−521F ;商品
名)を用いた。
For this exposure, contact exposure (allanite: PLA-521F; trade name, manufactured by Canon Inc.) using ultraviolet light as a light source was used.

次に専用現像液(NMD−3;東京応化(株)製の商品
名)で現像、洗浄すると潜像となった部分が除去される
。すなわち、潜像の濃淡に応じて換言するならば露光用
マスク(24)の光透過量に応じて感光性樹脂層(23
)に孔例えば透孔または凹部のパターン(26)が形成
される(第3図(d))、なお、このパターン(15)
は1秒前後の短時間の露光で潜像が形成されるため、一
実施例に用いたレーザ光による回転しな力tらのカッテ
ィングに比べると高いスループットが約束される。
Next, by developing with a special developer (NMD-3; trade name manufactured by Tokyo Ohka Co., Ltd.) and washing, the portion that has become a latent image is removed. That is, depending on the density of the latent image, in other words, depending on the amount of light transmitted through the exposure mask (24), the photosensitive resin layer (23
) is formed with a pattern (26) of holes, e.g., through holes or recesses (FIG. 3(d)); this pattern (15)
Since a latent image is formed in a short exposure time of about 1 second, a higher throughput is guaranteed compared to cutting using a rotary force t using a laser beam used in one embodiment.

この後、130℃、30分のベーキングを行ない。After that, baking was performed at 130°C for 30 minutes.

続いて平行平板型の反応性イオンオッチング装置(図示
せず)のチャバ内で、CF4に25%N、を添加したガ
スを導入してプラズマを発生させるプラズマエツチング
により第2の被覆層に溝が所望の深さくλ/8n:f5
2の被覆層の厚さ)形成される(第3w4(e))  
Next, in a chamber of a parallel plate type reactive ion etching device (not shown), grooves are formed in the second coating layer by plasma etching, in which a gas containing 25% N added to CF4 is introduced to generate plasma. is the desired depth λ/8n: f5
2 coating layer thickness) is formed (3rd w4(e))
.

同じチャンバ内に、今度はCF、に40%1!2添加し
たガスを導入してプラズマを発生させるプラズマエツチ
ングにより、第1の被覆層に溝が所望の深さくλ/4n
:第1及び第2の被覆層の厚さ)形成される。(第3図
(f))。
Into the same chamber, a gas containing 40% 1!2 of CF was introduced to generate plasma, and grooves were formed in the first coating layer to a desired depth of λ/4n.
:Thickness of the first and second coating layers) is formed. (Figure 3(f)).

同じチャンバ内で、第1回目と同一の条件でエツチング
を行うと、深さλ/8nの案内溝(27)のおよび深さ
λ/4nのビット(27b)(この場合、λ=830n
m、 n =1.46)を有する基板が形成される。(
第3図(g)) 。
When etching is performed in the same chamber under the same conditions as the first time, the guide groove (27) with a depth of λ/8n and the bit (27b) with a depth of λ/4n (in this case, λ=830n)
m, n = 1.46) is formed. (
Figure 3 (g)).

しかる後、残存する感光性樹脂層(23)を酸素プラズ
マで除去し洗浄する。(第3 +m (h))。
Thereafter, the remaining photosensitive resin layer (23) is removed and cleaned using oxygen plasma. (3rd +m (h)).

すなわちこの基板(20)には半fi30a〜60膿の
範囲にピッチ1.6−で幅0.8um深さ700人の案
内溝(27a)#tらせん状に形成され、所々に深さ1
220人のプリフォーマット情報用のビット(27b)
が形成されている。
That is, on this substrate (20), a guide groove (27a) #t is formed in a spiral shape with a pitch of 1.6 mm and a width of 0.8 um and a depth of 700 mm in the range of half fi 30a to 60 mm, with a depth of 1 in some places.
220 bits for preformat information (27b)
is formed.

このようにして得られた基板(20)上に記録層や反射
層を積層して記録媒体を形成する。第4図はこのことを
説明するための図である。同図に示すように、まず上述
の工程により得た基板上にTb。
A recording layer and a reflective layer are laminated on the substrate (20) thus obtained to form a recording medium. FIG. 4 is a diagram for explaining this. As shown in the figure, Tb is first deposited on the substrate obtained by the above-mentioned process.

Fe、Co三元合金層を記録層22として250人形成
する。このためにはマグネトロンスパッタ法によりそし
て、この上に干渉層(42)としてSi、 N4を35
0人したマグネトロンスパッタ法を用いる。さらにム 干渉層(42)上にマグネットロン省バッタ法によりA
gよりなる反射層(43) を500人形成し、光磁気
配IIjt媒体(44)を形成する。
A Fe, Co ternary alloy layer is formed as the recording layer 22 by 250 people. For this purpose, 35% of Si and N4 are deposited as an interference layer (42) on top of this by magnetron sputtering.
A zero-person magnetron sputtering method is used. In addition, A
500 reflective layers (43) made of G were formed to form a magneto-optical IIjt medium (44).

上述の構成で、記録層(41)は膜面に垂直方向に磁化
容易軸を有する磁気記録層と1なる。ガラス基板(20
)側よりレーザー光を照射し1局部加熱し。
With the above configuration, the recording layer (41) becomes a magnetic recording layer 1 having an axis of easy magnetization in the direction perpendicular to the film surface. Glass substrate (20
) side to heat one local area by irradiating laser light.

光磁気記録を行なう、また再生は、やはり光の反射光を
検出して磁気カー効果による信号を読みとる。このよう
な原理に基づけば光のカー効果を増大させるような干渉
層(42)1反射層(43)により見かけ上の信号強度
を増加し、信号対ノイズレベル(S/N比)を著しく向
上させた特性のよい記録媒体ができる。
Magneto-optical recording and reproduction are performed by detecting reflected light and reading signals due to the magnetic Kerr effect. Based on this principle, the interference layer (42) and reflective layer (43), which increase the Kerr effect of light, increase the apparent signal strength and significantly improve the signal-to-noise level (S/N ratio). A recording medium with good characteristics can be produced.

かくして本実施例によれば、ガラス、透光性セラミック
ス等に深さの異なる底面の平担な案内溝とプリフォーマ
ット用のビットとを同一工程で全面に形成することがで
き、信頼性の高い記録媒体用の基板を量産することが可
能になる。
Thus, according to this embodiment, flat guide grooves with different depths and preformat bits can be formed on the entire surface of glass, translucent ceramics, etc. in the same process, resulting in high reliability. It becomes possible to mass produce substrates for recording media.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明の基板の11造方法によれば
、透光性基板上に深さの異なる底面の平担な溝を容易に
形成することができるようになる。
As explained above, according to the method for manufacturing a substrate of the present invention, grooves with flat bottoms having different depths can be easily formed on a transparent substrate.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図(a)乃至5151図(h)は本発明の一実施例
を示す工程簡略図、第2図は一実施例により得られた記
録媒体の断面簡略図、第3図(0)乃至第3図(h)は
本発明の他の実施例を示す工程簡略図、第4図は他の実
施例により得られた記録媒体の断面簡略図、第5図は本
発明の詳細な説明するための工程簡略図、3156図(
a)乃至第6図(a)は従来の記録媒体の製造方法を説
明するための工程簡略図である。 (10) 、 (20)・・・ガラス基板 (透光性基
板)(11)・・・酸化アルミニウム(3番目の被覆層
)(12)、(21)・・・酸化シリコン(2#目の被
覆層)(13) 、 (22)・・・窒化シリコンCM
上層の被覆層)(14) 、 (23)・・・感光性樹
脂層(24)  ・・・露光マスク (25)  ・・・潜像 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 同  大胡典夫 第5図 第2図 第4図 第6図
1(a) to 5151(h) are simplified process diagrams showing one embodiment of the present invention, FIG. 2 is a simplified cross-sectional diagram of a recording medium obtained by one embodiment, and FIG. 3(0) to 5151(h) FIG. 3(h) is a simplified process diagram showing another embodiment of the present invention, FIG. 4 is a simplified cross-sectional diagram of a recording medium obtained by another embodiment, and FIG. 5 is a detailed explanation of the present invention. Simplified process diagram for the process, Figure 3156 (
a) to FIG. 6(a) are simplified process diagrams for explaining a conventional method of manufacturing a recording medium. (10), (20)...Glass substrate (transparent substrate) (11)...Aluminum oxide (third coating layer) (12), (21)...Silicon oxide (second coating layer) Covering layer) (13), (22)...Silicon nitride CM
Upper coating layer) (14), (23)...Photosensitive resin layer (24)...Exposure mask (25)...Latent image agent Patent attorney Noriyuki Noriyuki Chika Norio Ogo Figure 5 Figure 2 Figure 4 Figure 6

Claims (1)

【特許請求の範囲】 (1)基板上に複数の被覆層を形成する第1の工程と、 複数の前記被覆層の最上層に感光性樹脂層を形成する第
2の工程と、 前記感光性樹脂層を露光する第3の工程と、 露光された前記感光性樹脂層の潜像を除去する第4の工
程と、 前記被覆層を所望の深さに食刻する第5の工程とを少な
くとも備えた基板の製造方法において、前記第5の工程
は、前記被覆層の少なくとも一部を選択的に食刻する複
数の食刻工程からなることを特徴とする基板の製造方法
。 (2)複数の前記食刻工程は、 複数の前記被覆層の最上層から数えて2番目の被覆層に
対して食刻困難であるような第1の食刻条件からなる第
1の食刻工程と、 複数の前記被覆層の最上層から数えて2番目の被覆層に
対して食刻容易であるが、最上層から数えて3番目の被
覆層と基板とのいずれかと最上層とに対して食刻困難で
あるような第2の食刻条件よりなる第2の食刻工程と、 複数の前記被覆層の最上層から数えて3番目の被覆層と
のいずれかと最上層から数えて2番目の被覆層とに対し
て食物困難であるような第3の食刻条件よりなる第3の
食刻工程とを少なくとも備えていることを特徴とする特
許請求の範囲第1項記載の基板の製造方法。(3)前記
第3の工程は、複数の前記被覆層に形成する溝の所望の
深さに応じた深さの凹部または孔を有する黒色マスクを
用いて露光する工程であることを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載の基板の製造方法。 (4)複数の前記食刻工程は、ドライエッチングである
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項または第2項記
載の基板の製造方法。 (5)前記基板は、透光性基板であることを特徴とする
特許請求の範囲第1項記載の基板の製造方法。 (6)前記透光性基板は、無機基板であることを特徴と
する特許請求の範囲第5項記載の基板の製造方法。 (7)前記第1の工程は、最上層に窒化シリコンからな
る層を形成する工程であることを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載の基板の製造方法。 (8)前記第1の工程は、前記酸化シリコンからなる層
の下に酸化アルミニウムからなる層を形成することを特
徴とする特許請求の範囲第7項記載の基板の製造方法。 (9)前記第1の食刻工程は、N_2ガスを添加したC
F_4ガスを主成分とするエッチングガスを用いてなる
食刻工程であることを特徴とする特許請求の範囲第2項
記載の基板の製造方法。 (10)前記第2の食刻工程は、H_2ガスを添加した
CF_4ガスを主成分とするエッチングガスを用いてな
る食刻工程であることを特徴とする特許請求の範囲第2
項記載の基板の製造方法。 (11)前記第3の食刻工程は、N_2ガスを添加した
CF_4ガスを主成分とするエッチングガスを用いてな
る食刻工程であることを特徴とする特許請求の範囲第3
項記載の基板の製造方法。
[Scope of Claims] (1) A first step of forming a plurality of coating layers on a substrate; a second step of forming a photosensitive resin layer on the top layer of the plurality of coating layers; A third step of exposing the resin layer to light, a fourth step of removing the latent image on the exposed photosensitive resin layer, and a fifth step of etching the coating layer to a desired depth. The method for manufacturing a substrate comprising: the fifth step comprises a plurality of etching steps for selectively etching at least a portion of the covering layer. (2) The plurality of etching steps include a first etching condition that makes it difficult to etch a second coating layer counted from the top layer of the plurality of coating layers. a second coating layer counted from the top layer of the plurality of coating layers is easily etched, but a third coating layer counted from the top layer and the top layer are easily etched; a second etching step comprising second etching conditions such that etching is difficult; and a third coating layer counting from the top layer of the plurality of coating layers and a second coating layer counting from the top layer. The substrate according to claim 1, further comprising at least a third etching step comprising a third etching condition that is difficult to eat with respect to the third coating layer. Production method. (3) The third step is a step of exposing using a black mask having recesses or holes having a depth corresponding to the desired depth of the grooves to be formed in the plurality of covering layers. A method for manufacturing a substrate according to claim 1. (4) The method of manufacturing a substrate according to claim 1 or 2, wherein the plurality of etching steps are dry etching. (5) The method for manufacturing a substrate according to claim 1, wherein the substrate is a light-transmitting substrate. (6) The method for manufacturing a substrate according to claim 5, wherein the light-transmitting substrate is an inorganic substrate. (7) The method of manufacturing a substrate according to claim 1, wherein the first step is a step of forming a layer made of silicon nitride as the uppermost layer. (8) The method of manufacturing a substrate according to claim 7, wherein in the first step, a layer made of aluminum oxide is formed under the layer made of silicon oxide. (9) In the first etching process, C
3. The method of manufacturing a substrate according to claim 2, wherein the etching step is performed using an etching gas containing F_4 gas as a main component. (10) The second etching step is an etching step using an etching gas mainly composed of CF_4 gas to which H_2 gas is added.
2. Method for manufacturing the substrate described in Section 1. (11) The third etching step is an etching step using an etching gas mainly composed of CF_4 gas to which N_2 gas is added.
2. Method for manufacturing the substrate described in Section 1.
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