JPS63228056A - イオン活量測定用アナライザ−の簡易チエツク治具 - Google Patents

イオン活量測定用アナライザ−の簡易チエツク治具

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JPS63228056A
JPS63228056A JP62094551A JP9455187A JPS63228056A JP S63228056 A JPS63228056 A JP S63228056A JP 62094551 A JP62094551 A JP 62094551A JP 9455187 A JP9455187 A JP 9455187A JP S63228056 A JPS63228056 A JP S63228056A
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analyzer
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Tadashi Uekusa
植草 正
Takashi Koizumi
孝 小泉
Nobuhiko Amano
天野 暢彦
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明はスライド型イオン活量測定器具を用いて水性液
体試料、例えば酒類、飲用物、水道水、特に生物体液(
血液、尿、唾液等)中の特定のイオンの活m(または濃
度)をボテンシオメトリーで定量分析するアナライザー
の機能を検査する治具に関するものである。
(従来の技術) 液体試料を点着して、その中に含まれる特定イオンのイ
オン活量を測定することができるスライド型のイオン活
量測定器具が特公昭58−4981号、特開昭58−1
56848号、特開昭58−211648号等に開示さ
れている。
このスライド型イオン活量測定器具(以下、「スライド
」ということもある)は、特定イオンのイオン活量に対
応する電位を発生するイオン選択電極からなる少なくと
も1対のイオン選択電極対と、このイオン選択電極対の
両電極間を連絡するように配された多孔性ブリッジとを
有するものぐ、特定イオンのイオン活Φが既知である参
照液および該イオンのイオン活量が未知である試料液を
前記イオン選択電極対の一方および他方の電極にそれぞ
れ点着供給し、前記多孔性ブリッジの作用により両液の
界面を接触(液絡)させて電気的導通を成立させると両
電極間には前記参照液と試料液との間に存在する前記イ
オンのイオン活量の差に対応して電位差が生じるため、
この電位差を測定すれば予め求めておいた検量線(原理
はネルンストの式による)に基づいて前記試料液中の特
定イオンのイオン活量が求まるようになっている。
このようなスライド型イオン活量測定器具を用いてイオ
ン活量を測定するには、参照液および試料液の点着供給
と、電位差の測定とを行なう機能を備えたアナライザー
を使用することが好ましい。
このようなアナライザーは例えば米国特許第4,257
.862号および特願昭59−12794号等に記載さ
れている。この種の従来のアナライザーは、参照液およ
び試料液の点着俊、スライド型イオン活量測定器具を電
位差測定部へ送り、そこで電位測定用プローブを前記電
極対の両電極にそれぞれ接触させて、該電極間の電位差
を測定するような構成になっている。
ところで、上記のような構成のアナライザーを製造、使
用するにあたっては、アナライザーが正常に作動する状
態になっているか否かを検査することが必要となる。す
なわち、例えば製造考は出荷検査等を行なう必要がある
し、一方サービスマンやユーザーは、保守管理や測定値
確認のために上記検査を適宜行なう必要がある。
(発明が解決しようとする問題点) 上述のような検査は、その他の種々の測定装置に対する
のと同様に、テスター等を用いて電気的に行なうことが
可能である。
しかしながら、この検査のためにいちいちテスター等を
用いるのは面倒である。さらにサービスマンやユーザー
がこのテスター等を持ち歩かなければならない状況も往
々にしてあり、このような場合は検査がより一層煩わし
いものとなる。
そこで本発明は、前記アナライザーが正常に作動する状
態にあるか否かを筒中に確認することができる簡易ヂエ
ック治具を提供することを目的とするものである。
(問題点を解決するための手段) 本発明のイオン活量測定用アナライザーの簡易チェック
治具は、前述したスライド型イオン活量測定器具とほぼ
同じ外形寸法を有する支持体と、この支持体に取り付け
られ、アナライザーのプローブが接触されたとき該プロ
ーブ間を短絡させる導電体とから構成されたものである
(作  用) E記のような外形寸法の支持体は、スライドに代えてア
ナライザーの電位差測定部にセットされつる。そしてこ
の状態で電位差測定の際と同様にプローブを移動させ、
治具の導電体に接触させてプローブ間を短絡させれば、
アナライザーが正常な状態にあれば電極間電位がゼロと
なる。一方この際、アナライザーの電気回路において接
触不良、断線、さらにはリレーやアンプ類の故障が有れ
ば、上記電極間電位はゼロとならないので、この貢常状
態が発見されつる。
(実 施 例〉 以下、図面に示す実施例に基づいて本発明の詳細な説明
する。
まず初めに、本発明の簡易チェック治具が適用されるア
ナライザー、およびそれに用いられるスライド型イオン
活吊測定器具について説明する。
第1図は上記アナライザーの一例を示すものであり、ま
た第2.3および4図はその要部を示している。第1図
に示きれるようにアナライザー10の外面はカバー11
で覆われており、このカバー11には、スライド型イオ
ン活!測定器具(スライド)20をセットしてそこに参
照液、試料液を点着するための開口12と、電位差測定
済みのスライド20を排出するための排出口13とが設
けられている。またこのアナライザー10には、スター
トボタン14、イオン活量表示部15、イオン活量記録
部16等が設けられている。
第2.3および4図に示す機構は、上記開口12が設け
られた部分の下側に配設されたものであり、平らな器具
載置台30と、この器具lII!置台30の両端に固定
された1対の側板31.31と、器具載置台30と平行
に配されて側板31.31を連結する6本のロッド32
.32.33.33.34.34とを有している。上記
器具載置台30の中央部には液点着部30Aが設けられ
、またこの液点着部3OAをはさんで電位差測定部30
Bと器具排出部30Cとが設けられている。
この器具載置台30は、上記液点者部30Aが前記間口
12の真下に位置するようにして、カバー11内に配置
されている。また上記電位差測定部303において器具
載置台30には貫通孔35が設けられ、この貫通孔35
内には上下動可能な加熱板36が組み込まれている。そ
して器具載置台30の表面と所定間隔をおいて上記加熱
板36と対向する位置には、スライド押え板37が配設
されている。一方器具排出部30Gにおいて器具載置台
3Gには、スライド排出孔38が設けられている。この
スライド排出孔38は前述のスライド20よりも大きく
形成され、傾斜した通路39および側板31の開口40
を介して、前記カバー11の排出口13と連結している
器具載置台30の上には、スライドセット孔(11通孔
)41を有する器具ホルダー42が配されている。
この器具ホルダー42の両端部は前記1対のロッド32
、32に摺動自在に嵌装されており、したがって該器具
ホルダー42は器具載置台30上を矢印A、B方向に(
すなわち液点着部30A、電位差測定部30B、器具排
出部30Gに順次移行できるように)移動可能となって
いる。なお前記スライド押え板37は、この器具ホルダ
ー42が加熱板36の上まで移動できるように、該器具
ホルダー42の厚さ以上器具載置台30の表面から離し
て配置されている。一方器具載置台30の下方には、ホ
ルダー移動台43が配設されている。このホルダー移動
台43の両端部は前記1対のロッド33.33に摺動自
在に嵌装されており、したがってこのホルダー移動台4
3も上記矢印A、B方向に移動可能となっている。この
ホルダー移動台43の下部には雌ネジ44(第4図参照
)が取り付けられており、この雌ネジ44は、上記ロッ
ド33と平行に配された駆動ネジ(雄ネジ)45に螺合
されている。この駆動ネジ45は、側板31に固定され
たモータ46により、歯車47.48を介して正逆回転
されるようになっており、このように駆動ネジ45が回
転されることによりホルダー移動台43は矢印A、B方
向に移動する。ホルダー移動台43の両端部にはそれぞ
れ、上方に突出した連結部材49が設けられており、こ
れらの連結部材49の後面〈すなわちホルダー移動台4
3が液点着部30A近傍にあるとき器具排出部30C側
を向く面)には磁石50が固定されている。一方器具ホ
ルダー42の両端部には下方に突出した連結部材51が
設けられており、この連結部材51には、上記磁石50
に対向する磁石52が固定されている。これら両磁石5
0.52は、互いに吸着し合うように極性の向きが設定
されている。したがって前述のように駆動ネジ45が回
転されてホルダー移動台43が矢印へ方向に移動すると
き、両磁石50.、52が吸着し合った状態にされてい
れば、器具ホルダー42はこのホルダー移動台43に牽
引されて矢印へ方向に移動する。一方ホルダー移動台4
3が矢印B方向に移動された場合、器具ホルダー42は
ホルダー移動台43に押されて同様に矢印B方向に移動
する。なおホルダー移動台43の中央部には、プローブ
移動手段としてのカム部材53が設けられている。この
カム部材53は上方に突出し、器具排出部3ocltF
Jが高く電位差測定部3013側が低くなるように形成
されたカム面53aを有している。
次に前記加熱板36周辺の構造について、第5.6図も
参照して説明する。なおこれら第5.6図はそれぞれ、
第3図に示すV−Vll、 V[−Vl線に沿った部分
の断面形状を示すものである。電位差測定部30Bにお
いて器具載置台30の下面には、1対のプローブホルダ
ー保持ロッドeo、 eoが固定されている。これらの
保持ロンドロ0.60は前記加熱板36を間に挟むよう
に配され、そして該保持Oラド60.60には、プロー
ブホルダー61が上下方向に摺動自在に*iされている
。なおプローブホルダー61は、各保持ロッド60.6
0の下端に取り付けられた座金62.θ2によって下方
から受は止められている。また該プO−プホルダー61
には、1対の加熱板保持Oラド63.63が上下方向に
摺動自在に挿通されており、これら保持ロッド63.6
3の上端に曲記加熱板36が固定されている。この加熱
板36とプローブホルダー61との間において保持ロッ
ド63のまわりにはスプリング64が縮装されており、
このスプリング64により両者は互いに離間する方向に
付勢されている。なおこのように付勢されたプローブホ
ルダー61は、加熱板保持ロンドロ3.63の下端に取
り付けられた座金65.θ5に受は止められる。保持ロ
ッド60.60および63.63の長さは、こうしてプ
ローブホルダー61の下面が座金65.65および上記
座金62.θ2に受は止められた状態において、加熱板
36の上表面が器具載置台30の表面と整合するように
設定されている。またプローブホルダー61には1対の
がイドロッド66、66の下端が固定されている。これ
らのガイドロッド66、66は加熱板36を間に挟むよ
うに配され、それらの上端部は器具載置台30に設けら
れた貫通孔30dから上方に突出可能となっている。そ
して該器具載置台30とプローブホルダー61との間に
おいて、ガイドロッド66のまわりにはスプリング61
が縮装されている。したがってプローブホルダー61が
下方から上方側に押されると、該プローブホルダー61
は前記ロンドロ0.60に沿って加熱板36とともに上
方に弾力的に移動し、このとき加熱板36が上方から押
さえられると、プO−プホルダー61は該加熱板36に
対して弾力的に相対移動する。
また上記プローブホルダー61には一例として3対の電
位差測定用プローブ68a 、 68b 、 69a 
、 69b、70a、70bが、上方に向けて突設され
ている。
プロー168a 、 68b 、 69a 、 69b
およ(、F70a、70bはそれぞれ、加熱板36に設
けられた切欠きゃ貝通孔を通って上方に突出可能となっ
ている。すなわち加熱板36とプローブホルダー61と
がスプリング64の作用で最も大きく離間している状態
(第4図図示の状態)においては、各プローブ68a〜
70bの先端は加熱板36の内部に位置するが、上述の
ようにプローブホルダー61が加熱板36に対して相対
移動すると、上記先端は加熱板36の表面から上方に突
出する。またプローブホルダー61の下部には、前記ホ
ルダー移動台43のカム部材53に対向する位置におい
て、ローラ71が取り付けられている。
そして液点着部30Aと電位差測定部303との間にお
いて器具M、載置台0には貫通孔72が設けられ、この
貫通孔72の下側にはバーコードセンサ73が取り付け
られている。
イオン活量の測定を行なう際、器具ホルダー42は後述
するようにしてホルダー移動台43と連結した状態とな
っており、そして公知の位置検出センサや駆動制御回路
によってモータ46が駆動制御され、該器具ホルダー4
2は液点哲部3OAに配置される。前述したようにこの
状態では器具ホルダー42がカバー11の開口12の真
下に位置するので、該開口12を通してスライド20を
この器具ホルダー42のスライドセット孔41内にセッ
トする。
このスライド20は前述したように例えば特開昭58−
211648号等に示される公知のものあるいは特願昭
60−148564号、特願昭60−180358% 
、実願昭60−204699号明lll5に記載のもの
であるが、ここで第7図を参照して簡単に説明する。ス
ライド20は3種のイオン選択電極対101(同種のイ
オン選択層を表面に有し互いに電気的に分離されたイオ
ン選択電極111および112からなる)、102(同
じり112および122からなる)、103(同じく 
113および123からなる)、両面に接着剤層を有す
る水不透性部材層200、綿および再生セルロースS維
製連続空隙含有不織布等からなる1対の多孔性液体分配
部材310. 320を、プラスチックからなる上部枠
体400と下部枠体500との間に収容してなるもので
ある。
上部枠体400には1対の液供給孔410. 420と
これら液供給孔内を横切って延びる凹部450が設けら
れており、この凹部内にはポリエチレンテレフタレート
I維紡糸等からなる多孔性ブリッジ600が収容され、
固定される。凹部450はブリッジ600が上部枠体4
00の上面より上に出ることがないような深さとする。
イオン選択電極対101. 102. 103を挾んで
上部枠体400下に配されろ水不透性部材層200には
液供給孔410. 420と整合する貫通孔(液体下降
通路)  210. 220、イオン選択電極111.
 112゜113、 121. 122. 123のイ
オ、ン選択唐領域の一部とそれぞれ整合する貫通孔く液
体上昇通路)211、 212. 213. 221.
 222. 223が設けられている。水不透性部材層
200の下には貫通孔210゜211、 212. 2
13と整合するように多孔性液体分配部材310が配さ
れ、貫通孔220. 221. 222゜223と整合
するように多孔性液体分配部材320が配される。下部
枠体500にはこれら多孔性液体分配部材310. 3
20を収容できる形状の凹部(液体水平通路)  51
0. 520が形成されている。また、上部枠体400
.水不透性部材層200、および下部枠体500にはそ
れぞれ1対の貫通孔(空気抜き孔)430、 440:
  230. 240:  530. 540が設けら
れ、このスライド20全体を導通する空気抜き孔を形成
している。イオン選択電極対101. 102. 10
3はイオン選択層を下向きにして配されており、これら
の電極対の端子部は水不透性部材層200に設けられた
1対の切欠部250. 260および下部枠体500に
設けられた1対の切欠部550. 560からスライド
下面に露出している。
このようなスライド20において、例えばイオン選択電
極対101. 102. 103ヲソレ−Pt’LCQ
Je。
Ke、Na”用のイオン選択層を有するものとし、これ
らのイオン活量が既知である参照液を液供給孔410に
点着し、これらのイオン活量が未知である試料液を液供
給孔420に点着すれば、参照液は液体下降通路210
を経て多孔性液体分配部材310内に浸透し液体上昇通
路211. 212. 213を通ってイオン選択電極
111. 112. 113の各イオン選択層に到達し
、一方、試料液は液体下降通路220を経て多孔性液体
分配部材320内に浸透し液体上昇通路221. 22
2. 223を通ってイオン選択電極121、 122
. 123の各イオン選択層に到達する。
また、両液はブリッジ600の中央付近で液絡して電気
的導通が生ずる。この結果、イオン選択電極111およ
び121の間、同112および122の間、同113お
よび123の間にそれぞれ参照液と試料液との間のCL
e、にΦ、 NB@の各イオン活量の差に対応する電位
差が発生するため、切欠部550゜560の下方から電
位測定用プローブを挿入して各イオン選択電極の端子部
と接触させ、各イオン選択電極対から生ずる電位差を測
定すれば従来のスライドと同様に試料液中の前記各イオ
ン活量か測定できる。
上記スライド20は、上部枠体400を上側に向けて前
記スライドセット孔41内にセットされる。そして例え
ば二連ピペット等を用いて、前記参照液と試料液とがそ
れぞれ液点着孔410. 420内に点着される。この
点者が終了した後スタートボタン14(第1図参照)が
押されると、モータ46が駆動されホルダー移動台43
は前記矢印へ方向に移動される。するとこのホルダー移
動台43に牽引されて器具ホルダー42も電位差測定部
30B側に移動し、ストッパ90に当接して、セットさ
れているスライド20が加熱板36と向かい合う所定位
置で停止する。
モータ46はそれ以後も引き続き駆動し、ホルダー移動
台43をさらに所定距離だけ移動させる。このとき器具
ホルダー42は移動し得ないので前記両磁石50.52
が引き離され、ホルダー移動台43は単独で上記のよう
に移動する。このようにホルダー移動台43が移動する
と、そのカム部材53のカム面53aがブO−ブホルダ
ー61のローラ71に接するようになり、ホルダー移動
台43の移動にともなってプローブホルダー61が上方
に押し上げられる。すると先に述べたように加熱板36
が押し上げられ、該加熱板36は器具ホルダー42に保
持されていたスライド20を押え板37に抑圧固定する
。なおこのとき、プローブホルダー61の上昇にともな
ってガイドロッド66、66が器具載置台30上に突出
し、器具ホルダー42のガイド孔91.91内に進入し
て器具ホルダー42を(すなわちスライド20を)所定
位置に位置決めする。上記のようにスライド20を押え
板37に押圧すると、それ以降加熱板36の上昇は阻止
されるが、プローブホルダー61はさらに所定長押し上
げられ、それにより加熱板36の表面からプローブ68
a 、 68b 、 69a 、 69bおよび70a
、70bが上方に突出する。こうして突出したプローブ
68a、68bはスライド20の切欠部550. 56
0の下方から挿入されて各々イオン選択電極111. 
121と接触する。同様にしてプローブ69a、69b
も切欠部550゜560の下方から挿入されてそれぞれ
イオン選択電極112. 122と接触し、またブロー
770a、70bも切欠部550. 560の下方から
挿入されてそれぞれイオン選択電極113. 123と
接触する。
この状態でモータ46は停止され、次いで加熱板36に
よってスライド20が所定温度に加熱される。
その後所定時間が経過したところで、上記プローブ69
a〜70bに接続する公知の電位差測定回路〈図示せず
)により、イオン選択電極対101. 102、 10
3間の電位差がそれぞれ測定される。先に述べた通り、
これらの電位差をα1定することにより、C応θ、K”
、NaΦのイオン活量が測定される。こうして測定され
たイオン活量は、前記表示部15において表示されたり
、あるいは記録部16において記録紙17に記録された
りする(第1図参照)。なお電位差測定に供されたスラ
イド20の前記バーコードがバーコードセンサ73によ
って読み取られ、上記イオン活鏝は、スライド20の識
別コードと共に表示あるいは記録される。
以上述べた電位差測定が終了すると、モータ46が前述
の場合とは逆方向に駆動される。それによりホルダー移
動台43は矢印B方向に移動される。
するとカム部材53がプローブホルダー61のローラ7
1から次第に離れるので、該プローブホルダー61が下
降する。するとまず各プローブ69a〜70bがスライ
ド20から離れ、ガイドロッド66、66が器具ホルダ
ー42のガイド孔91.91から下方に抜け、次いで加
熱板36もその表面が器具載置台30の表面と整合する
位置まで下降する。モータ46はそのままさらに駆動さ
れ、ホルダー移動台43が移動し続けるので、該ホルダ
ー移動台43の連結部材49が磁石50、52を介して
連結部材51を押し、器具ホルダー42も矢印B方向に
移動されるようになる。したがって電位差測定済みのス
ライド20は、該器具ホルダー42によって電位差測定
部30Bから液点着部30A側に送り出される。モータ
46は、器具ホルダー42が器具排出部3OC上に来る
まで駆動される。器具ホルダー42が器具排出部30C
上に来ると、該器具ホルダー42に保持されていたスラ
イド20はスライド排出孔38内に落とされる。このス
ライド20は、前記通路39を通って排出口13から排
出される。次いでモータ46が逆転されて器具ホルダー
42は液点着部30Aに送られ、そこで停止して次回の
点着に備える。
次に本発明による簡易チェック治具について説明する。
第8図は本発明の第1実施例の簡易チェック治具1を分
解して示している。図示されるようにこの簡易チェック
治具1は、支持体としての上マウント2および下マウン
ト3と、これらのマウント2,3の間に固定された金属
板4とからなる。上マウント2と下マウント3はそれぞ
れ、前記スライド20の上部枠体400と下部枠体50
0とほぼ同じ外形寸法とされ、例えばプラスチックから
形成されている。なおこれらマウント2,3として、各
々上記上部枠体400、下部枠体500そのものを流用
しても構わない。一方金属板4は、鋼び雌く耐久性の高
い例えばステンレス板等から形成され、本例においては
マウント2.3とほぼ同じ縦横寸法とされている。また
下マウント3には、6つの口過孔3a、3b、3c、3
d、3eおよび3fが設けられている。これらの貫通孔
3a。
3b、3c、3d、3eおよび3fはそれぞれ、スライ
ド20の水不透性部材層200の貫通孔211゜212
、 213. 221. 222および223と対応す
る位置に設けられている。
上記構成の簡易チェック治具1は、アナライザー10が
正常に作動する状態にあるか否かを検査する際、スライ
ド20に代えて前述のスライドセット孔41にセットさ
れる。この場合、マウント2,3が前述のような外形寸
法とされているので、簡易チェック治具1は上記スライ
ドセット孔41に緊密に収められる。なおこのWAl!
J易チェック治具1は、上マウント2を上側に向けた状
態でセットされる。
次いでイオン活量測定時と同様にスタートボタン14を
押してホルダー移動台43を移動させ、プローブホルダ
ー61を1袢させる。それによりプローブ68a 、 
68b 、 69a 、 69bおよび70a、70b
が上方に突出し、プロープロ8a、68bは下マウント
3の貫通孔3a、3dを通過し、プローブθ9a、69
bは同様に貫通孔3b、3eを通過し、またプローブ7
0a、70bは貫通孔3c、3fを通過してそれぞれ金
属板4に接触する。そのためプローブ68aと68b、
プローブ69aと69b、そしてプローブ10aと70
bとの間がそれぞれ短絡される。
アナライザー10の電気回路がすべて正常な状態にあれ
ば、上記のようにプローブ間が短絡されたときプローブ
間の電位差はO(ゼロ)となり、この値が前記表示部1
5に表示される。この表示により検査者は、アナライザ
ー10が正常に作動しうることを確認できる。
一層アナライザー10の電気回路において、前述したよ
うな接触不良、断線、リレーやアンプ類の故障等が有る
場合には、上述のようにプローブ間を短絡させても該プ
ローブ間の電位差が0(ゼロ)にならないので、検査者
はこの電位を示す表示部15の表示により、上記のよう
な異常が発生していることを確認できる。
次に第9図を参照して、本発明の第2実施例について説
明する。なおこの第9図において、前記第8図中の要素
と同等の要素には同番号を付し、それらについての説明
は省略する。この第2実施例の簡易チェック治具5にお
いては、第1実施例における大きな金属板4の代わりに
、独立した3本の金属板6.7.8が配設されている。
これらの金属板6,7.8はそれぞれ、スライド20の
イオン選択電極対101. 102. 103に対応す
る位置に取り付けられている。上記構成の簡易チェック
治具5も、第1実施例の簡易チェック治具1と同様にし
てアナライザー10の検査のために使用される。そして
アナライザー10の正常、異常は第1実施例の簡易チェ
ック治具1を用いる場合と同様にして確認されつるが、
この簡易チェック治具1においてはプローブ68aと6
8b、プローブ69aと69b、そしてプローブ70a
、ニア0bとの間をそれぞれ届略させる金属板6,7.
8が互いに独立して電気的に絶縁されているので、電位
差測定用プローブ(68a、 68b、 89’a、 
69b、 70a、 70b )とリレーとの間の誤配
線、およびこれらの3系統の回路の接触不良・断線が各
系統毎に確認できる。
なお金属板6.7.8としては、前述したステンレス等
から形成されたものの他、より一層の防劉を図り、電気
的接触を良化させるために、銅合金等の表面にすずメッ
キや金メッキを施したもの等が用いられてもよい。これ
は、先に述べた第1実施例の金属板4についても同様で
ある。
次に、第10図を参照して本発明の第3実施例について
説明する。この簡易チェック活貝1′は、貫通孔3a、
3b、3cに対面する位置に配された金属板4Aと、貫
通孔3d、3e、3fに対面する位置に配された金属板
4Bとを有している。
これら1対の金属板4A、4Bとしては、先に述べたス
テンレス等からなるもの、あるいは銅合金の表面に金メ
ッキを施したもの等が適宜選択使用されつる。そしてこ
れらの金属板4A、4Bは、薄いチップ抵抗4Cによっ
て連絡されている。
前述したようにスライド20に参照液および試料液を点
着して、両液がブリッジ600の中央付近で液絡したと
き、CQ、e用のイオン選択電極111および121の
間の電気抵抗は例えば100にΩ程度となる。同様にに
+B用のイオン選択電極112 Fjよび122の間、
Nae用のイオン選択電極113および123の間の電
気抵抗はそれぞれ10MΩ、1MΩ程度となる。そこで
前記チップ抵抗4Cとしては、上記3つの抵抗値の中間
値の1MΩ程度のものが用いられている。
このように金属板4A、48間の電気抵抗が、イオン活
量測定時のイオン選択電極111および121間、11
2および122間、113および123間の電気抵抗に
近い値とされているので、アナライザーの検査時にその
内部の電気回路が受ける各種ノイズの影響は、イオン活
量測定時のそれと近くなる。
したがって、アナライザーの検査が、より正確に行なわ
れつる。
次に、第11図を参照して本発明の第4実施例について
説明する。この簡易チェック活貝5′は、貫通孔3a、
3dにそれぞれ対面する金属板6A。
6Bと、貫通孔3b、3eにそれぞれ対面する金属板7
A、7Bと、貫通孔3c、3fにそれぞれ対面する金属
板8A、8Bとを有している。そして金属板6Aと68
,7Aと78.8Aと88はそれぞれ、チップ抵抗6G
、7C,8Cによって連絡されている。これらのチップ
抵抗6C,7Cおよび8Cの電気抵抗はそれぞれ、前述
したイオン活量測定時のイオン選択電極111と121
.112と122、および113と123の間の電気抵
抗値に合わせて、100にΩ、10MΩおよび1MΩ程
度とされている。
各金属板6Aと68,7Aと781および8Aと8Bの
間の電気抵抗値が上述のように設定されているため、こ
の簡易チェック活貝5′を用いてアナライザーの検査を
行なう際には、前記プローブ68aと68b、69aと
69b1および70aと70bを検出端とする前述の3
系統の回路が受ける各種ノイズの影響が、それぞれイオ
ン活量測定時のそれと略等しくなる。したがってこの簡
易チェック活貝5′によれば、アナライザーの検査がよ
り一層正確に行なわれるようになる。
以上、スライド20を自動的に電位差測定部に送り、ま
た該電位差測定部から排出するように形成されたアナラ
イザー10を例に挙げて説明したが、本発明の簡易チェ
ック治具はこの種のアナライザーに限らず、スライド2
0を手操作で電位差測定部に送り、また該電位差測定部
から排出するようにしたアナライザーにおいても利用さ
れうるものである。
(発明の効果) 以上詳細に説明した通り本発明の簡易チェック治具によ
れば、イオン活量測定用アナライザーが正常に作動する
状態にあるか否かを極めて簡単な操作で検査することが
できるので、アナライザー製造者やサービスマンそして
ユーザーにおける上記検査作業は、今までになく容易で
能率的なものとなる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の簡易チェック治具が適用されるアナラ
イザーの一例を示す斜視図、 第2.3および4図はそれぞれ、上記アナライザーの要
部を示す斜視図、平面図および側断面図、第5図は第3
図のV−VSに沿った部分の側断面図、 第6図は第3図のVI−VI線に沿った部分の側断面図
、 第7図は上記アナライザーにおいて用いられるスライド
型イオン活量測定器具の一例を示す分解斜視図、 第8.9.10および11図はそれぞれ、本発明の第1
.2.3および4実施例による簡易チェック治具を示す
分解斜視図である。 1.1’、5.5’・・・簡易チェック治具2・・・上
マウント     3・・・下マウント4.4A、4B
、6.6A、6B、7.7A、7B、8.8A、8B・
・・金属板 4G、60.70.8G・・・チップ抵抗10・・・ア
ナライザー 20・・・スライド型イオン活量測定器具68a、 6
8b、 69a、 69b、 70a、 70b・・・
電位差測定用プローブ 101 、102 、103・・・イオン選択電極対6
00・・・多孔性ブリッジ 第1図 第3図 第4図 第5図 第6 図

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)特定イオンのイオン活量に対応する電位を発生す
    る少なくとも1対のイオン選択電極対と、このイオン選
    択電極対の両電極間を連絡するように配された多孔性ブ
    リッジとを有するイオン活量測定器具を用い、前記イオ
    ン選択電極対の両電極にそれぞれ電位差測定用プローブ
    を接触させて該電極間の電位差を測定することによりイ
    オン活量を測定するアナライザーの機能を検査する簡易
    チェック治具であって、 前記イオン活量測定器具とほぼ同じ外形寸法を有する支
    持体と、 この支持体に取り付けられ、前記プローブが接触された
    とき該プローブ間を短絡させる導電体とからなるイオン
    活量測定用アナライザーの簡易チェック治具。
  2. (2)前記導電体が、金属の表面にすずメッキまたは金
    メッキが施されてなるものであることを特徴とする特許
    請求の範囲第1項記載のイオン活量測定用アナライザー
    の簡易チェック治具。
  3. (3)前記導電体が、前記プローブが接触する位置に配
    された1対の電気良導体と、試料液および参照液が浸透
    した前記多孔性ブリッジによって導通したときの前記両
    電極間の電気抵抗と略等しい電気抵抗を有し、前記1対
    の電気良導体を連絡するチップ抵抗とからなることを特
    徴とする特許請求の範囲第1項または第2項記載のイオ
    ン活量測定用アナライザーの簡易チェック治具。
JP62094551A 1986-10-09 1987-04-17 イオン活量測定用アナライザ−の簡易チエツク治具 Expired - Fee Related JPH0682113B2 (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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