JPS63224515A - Phase comparating circuit - Google Patents
Phase comparating circuitInfo
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- Signal Processing For Digital Recording And Reproducing (AREA)
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は例えば光デイスク装置等においてクロックを抽
出するPLL回路に用いて好適な位相比較回路に関する
。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a phase comparator circuit suitable for use in a PLL circuit for extracting a clock in, for example, an optical disk device.
本発明においては、ブリップフロップと2つのラッチ回
路により、入力信号とクロックの位相比較が行われる。In the present invention, phase comparison between an input signal and a clock is performed using a flip-flop and two latch circuits.
(従来の技術〕
第5図は光デイスク装置におけるサンプルサーボのサー
ボバイトパターンを表わしている。光ディスクの各セク
タは43のサーボブロックからなり、1サーボブロツク
は2バイトのサーボバイトとそれに続く16バイトのデ
ータバイトにより構成される。サーボバイトは2つのウ
ォブルドビットと1つのクロックビットからなり、ウォ
ブルドビットはトラックセンタの左右に配置されている
。(Prior art) Fig. 5 shows a servo byte pattern of sample servo in an optical disk device. Each sector of an optical disk consists of 43 servo blocks, and one servo block consists of 2 servo bytes followed by 16 bytes. The servo byte consists of two wobbled bits and one clock bit, and the wobbled bits are arranged on the left and right sides of the track center.
ピックアップ(情報検出用の光スポット)がトラックセ
ンタをトレースすると、左右のウォブルドビットにおけ
る光量の低下量が等しくなり、トレース位置が左右にず
れると、そのずれの方向と量に対応して2つのウォブル
ドビットにおける光量の低下量が変化する。従って2つ
の位置における低下itの差(RF倍信号レベル差)か
らトラッキングエラー信号が生成され、このトラッキン
グエラー信号が続くデータバイトの区間ホールドされる
・また2つのウォブルドビットは16トラツク毎により
長い間隔とより短い間隔に変化され、この間隔の変化を
検出することにより、高速サーチ時においてもトラック
の数を正確にカウント(16トラツクカウンテイング)
することができるようになっている。When the pickup (light spot for information detection) traces the track center, the amount of decrease in light intensity on the left and right wobbled bits becomes equal, and when the tracing position shifts left and right, the two The amount of decrease in light intensity in the wobbled bit changes. Therefore, a tracking error signal is generated from the difference in drop it (RF signal level difference) at two positions, and this tracking error signal is held for the duration of the following data byte. Also, the two wobbled bits are longer every 16 tracks. By detecting changes in this interval, the number of tracks can be accurately counted even during high-speed searches (16 track counting).
It is now possible to do so.
さらに後に位置するウォブルドピットとクロックピット
の距離りは、データバイト中に現われない特殊な長さに
設定されている。従ってこの距離りを同期信号として検
出することができる。検出した同期信号を元にして各種
のタイミング信号が生成される。クロックはクロックピ
ットの検出信号に対応して生成される。尚距離りの鏡面
部はフォーカスエリアとされ、そこにおいてフォーカス
エラー信号が検出され、続くデータバイトの区間ホール
ドされる。The distance between the wobbled pit and the clock pit located further back is set to a special length that does not appear in the data byte. Therefore, this distance can be detected as a synchronization signal. Various timing signals are generated based on the detected synchronization signal. A clock is generated in response to a clock pit detection signal. The mirror surface at a distance is used as a focus area, where a focus error signal is detected and held for the following data byte.
このようなサーボバイトが記録された例えば5インチの
DRAWディスクを180Orpmで回転させた場合、
クロックピットのエツジ情報は41゜28 K XIz
の繰り返し周波数で検出される。しかしながらこの信号
のエツジ情報は1つしがないため、通常の連続信号又は
所定時間連続するバースト信号のようにして基準信号と
の位相比較を行うことはできない。For example, when a 5-inch DRAW disk on which such servo bytes are recorded is rotated at 180 rpm,
Clock pit edge information is 41゜28K XIz
is detected at a repetition frequency of However, since this signal has only one edge information, it is not possible to perform a phase comparison with a reference signal as with a normal continuous signal or a burst signal that continues for a predetermined period of time.
そこで本発明は斯かる1つのエツジ情報しか有しない信
号の位相比較を行うようにするものである。Therefore, the present invention is designed to perform phase comparison of signals having only one edge information.
本発明は位相比較回路において、入力信号によりセット
されるフリップフロップと、フリップフロップの出力を
クロックの一方のエツジのタイミングでラッチする第1
のラッチ回路と、第1のラッチ回路の出力をクロックの
他方のエツジのタイミングでラッチする第2のラッチ回
路と、フリップフロップと第1のラッチ回路の出力より
、入力信号とクロックの時間差情報に対応する第1のパ
ルスを生成する第1の生成回路と、第1のラッチ回路と
第2のラッチ回路の出力より、クロックの一方のエツジ
と他方のエツジの幅に対応する第2のパルスを生成する
第2の生成回路とを備えることを特徴とする。The present invention provides a phase comparator circuit that includes a flip-flop set by an input signal and a first flip-flop that latches the output of the flip-flop at the timing of one edge of a clock.
a latch circuit, a second latch circuit that latches the output of the first latch circuit at the timing of the other edge of the clock, and a flip-flop and the output of the first latch circuit to obtain time difference information between the input signal and the clock. A first generation circuit that generates a corresponding first pulse, a first latch circuit, and a second latch circuit generate a second pulse corresponding to the width of one edge and the other edge of the clock. It is characterized by comprising a second generation circuit that generates.
入力信号がフリップフロップをセットし、そのフリップ
フロップの出力が、クロックの一方のエツジのタイミン
グで第1のラッチ回路にラッチされる。第1のラッチ回
路の出力はクロックの他方のエツジのタイミングで第2
のラッチ回路にラッチされる。第1の生成回路は、フリ
ップフロップの出力と第1のラッチ回路の出力から、入
力信号とクロックの時間差情報に対応する第1のパルス
を生成する。第2の生成回路は、第1のラッチ回路の出
力と第2のラッチ回路の出力から、クロックの一方のエ
ツジと他方のエツジの幅に対応する第2のパルスを生成
する。An input signal sets a flip-flop, and the output of the flip-flop is latched into a first latch circuit at the timing of one edge of the clock. The output of the first latch circuit is synchronized with the second latch circuit at the timing of the other edge of the clock.
is latched into the latch circuit. The first generation circuit generates a first pulse corresponding to time difference information between the input signal and the clock from the output of the flip-flop and the output of the first latch circuit. The second generation circuit generates a second pulse corresponding to the width of one edge and the other edge of the clock from the output of the first latch circuit and the output of the second latch circuit.
第1図は本発明の位相比較回路のブロック図である。ス
ポット光がサーボバイト区間のクロックピットの近傍を
トレースすると、RF倍信号波形は第2図(a)に示す
ようになる。すなわちクロックピットの部分あるいはキ
ズ、ゴミ等がある部分においてディスクからの反射光が
減少し、その受光量に対応したRF倍信号レベルは低下
する。このRF倍信号図示せぬ回路により微分し、その
エツジ情報を検出すると同図(b)に示すエツジデータ
信号(入力信号)が得られる。また上述したようにタイ
ミング信号生成回路(図示せず)は検出した同期信号を
基準にしてエツジデータ信号をゲートするゲート信号(
第2図(C))を生成する。このエツジデータ信号とゲ
ート信号がアンドゲート1に入力されるので、アンドゲ
ート1はゴミ、キズ等によるパルスを出力せず、エツジ
データ信号(41、28K Hz )のみを出力する(
第2図(d))。FIG. 1 is a block diagram of a phase comparator circuit according to the present invention. When the spot light traces the vicinity of the clock pit in the servo byte section, the RF multiplied signal waveform becomes as shown in FIG. 2(a). In other words, the amount of light reflected from the disk decreases in a clock pit portion or a portion where there are scratches, dust, etc., and the RF multiplied signal level corresponding to the amount of received light decreases. When this RF multiplied signal is differentiated by a circuit (not shown) and its edge information is detected, an edge data signal (input signal) shown in FIG. 4(b) is obtained. Furthermore, as described above, the timing signal generation circuit (not shown) generates a gate signal (not shown) that gates the edge data signal based on the detected synchronization signal.
FIG. 2(C)) is generated. Since this edge data signal and gate signal are input to AND gate 1, AND gate 1 does not output pulses due to dust, scratches, etc., and outputs only edge data signals (41, 28 KHz) (
Figure 2(d)).
アンドゲート1の出力はR−Sフリッププロップ2に入
力され、フリップフロップ2はその立ち上がりエツジで
セットされる(第2図(e))、フリツブフロップ2の
出力はラッチ回路としての遅延形フリップフロップ3の
データ端子に入力される。The output of AND gate 1 is input to R-S flip-flop 2, and flip-flop 2 is set at its rising edge (Fig. 2(e)). input to the data terminal of step 3.
そのクロック端子には比較される基準信号としてのクロ
ック(例えば11.1456MHz)が入力されている
ので、フリップフロップ3はクロックの立ち上がりエツ
ジのタイミングでデータ端子のデータをラッチする(第
2図(f)、(i))、フリップフロップ3の出力Q端
子はフリップフロップ2のリセット端子に接続され、生
成回路が構成されている。従ってフリップフロップ3の
出力こ(第2図(f))の立ち下がりエツジによりリセ
ットされるので、フリップフロップ2はエツジデータと
クロックの時間差(位相)情報に対応した幅のパルス(
第2図(e))を出力する。Since a clock (for example, 11.1456 MHz) as a reference signal to be compared is input to the clock terminal, the flip-flop 3 latches the data at the data terminal at the timing of the rising edge of the clock (see Fig. 2 (f)). ), (i)), the output Q terminal of the flip-flop 3 is connected to the reset terminal of the flip-flop 2, forming a generation circuit. Therefore, since it is reset by the falling edge of the output of the flip-flop 3 (FIG. 2(f)), the flip-flop 2 generates a pulse (
Figure 2(e)) is output.
フリップフロップ2より高レベルの信号(イネーブル信
号)が入力されているとき、3ステートのバッファ6は
イネーブル状態となり、低レベルの信号を出力する(第
2図(1))、この信号は抵抗Rにより電流に変換され
、一方の極性の電流I□が流れる。この電流Iiはクロ
ックを生成するPLL回路の一部を構成する図示せぬロ
ーパスフィルタに出力される。フリップフロップ2より
低レベルの信号が入力されているときバッファ6はオー
プン状態になる。When a high-level signal (enable signal) is input from the flip-flop 2, the 3-state buffer 6 becomes enabled and outputs a low-level signal (Fig. 2 (1)). This signal is connected to the resistor R. is converted into a current, and a current I□ of one polarity flows. This current Ii is output to a low-pass filter (not shown) forming part of a PLL circuit that generates a clock. When a low level signal is input from the flip-flop 2, the buffer 6 is in an open state.
フリップフロップ3の出力Q(第2図(i))はラッチ
回路としての遅延形フリップフロップ4のデータ端子に
入力されている。そのクロック端子には位相を反転した
クロック(第2図(h))が入力されているので、フリ
ップフロップ4はクロックの他方のエツジのタイミング
においてフリップフロップ3の出力Qをラッチする(第
2図(j))、フリップフロップ3の出力Qとフリップ
フロップ4の出力Qが生成回路としてのアンドゲート5
に入力されているので、アンドゲート5はクロックの一
方のエツジと他方のエツジの幅に対応したパルス(第2
図(k))を出力する。The output Q of the flip-flop 3 (FIG. 2(i)) is input to the data terminal of a delay type flip-flop 4 as a latch circuit. Since a clock whose phase is inverted (Fig. 2 (h)) is input to the clock terminal, the flip-flop 4 latches the output Q of the flip-flop 3 at the timing of the other edge of the clock (Fig. 2 (h)). (j)), the output Q of the flip-flop 3 and the output Q of the flip-flop 4 are connected to an AND gate 5 as a generation circuit.
, the AND gate 5 outputs a pulse (second pulse) corresponding to the width of one edge and the other edge of the clock.
Figure (k)) is output.
3ステートのバッファ7は、アンドゲート5より高レベ
ルの信号(イネーブル信号)が入力されているときイネ
ーブル状態となり、バッファ6とは反対極性の信号(高
レベルの信号)を出力する(第2図(m))。この信号
は抵抗Rにより電流に変換され、上述した場合とは逆極
性の電流工、が流れる。この電流I2も図示せぬローパ
スフィルタに出力される。The three-state buffer 7 is enabled when a high-level signal (enable signal) is input from the AND gate 5, and outputs a signal (high-level signal) with the opposite polarity to that of the buffer 6 (Fig. 2). (m)). This signal is converted into a current by a resistor R, and a current with a polarity opposite to that in the above case flows. This current I2 is also output to a low-pass filter (not shown).
フリップフロップ2の出力はクロックデータのエツジと
クロックのエツジの時間差に対応しており、アンドゲー
ト5の出力はクロックの172の周期(一方のエツジと
他方のエツジの幅)に対応している。フリップフロップ
2の出力だけを位相比較結果として出力することも可能
であるが、ローパスフィルタを介してフリップフロップ
2の出力とアンドゲート5の出力の差を出力することに
より、エツジ(クロックデータ)の繰り返し周期に依存
しない位相比較結果とすることができる。従ってディス
クの回転数が変動したとしても位相比較結果の変動を防
止することができる。エツジ間隔が変化する信号の位相
比較を行うことも可能である。The output of the flip-flop 2 corresponds to the time difference between the edge of the clock data and the edge of the clock, and the output of the AND gate 5 corresponds to 172 cycles (width between one edge and the other edge) of the clock. It is possible to output only the output of flip-flop 2 as the phase comparison result, but by outputting the difference between the output of flip-flop 2 and the output of AND gate 5 via a low-pass filter, it is possible to output the edge (clock data). It is possible to obtain a phase comparison result that does not depend on the repetition period. Therefore, even if the rotational speed of the disk changes, it is possible to prevent the phase comparison result from changing. It is also possible to perform phase comparison of signals with varying edge spacing.
また1つのエツジのみを位相比較情報としているため、
第2図(b)に破線で示すようにパルスの幅が変化した
としても、これにより比較結果が変動することはない。Also, since only one edge is used as phase comparison information,
Even if the pulse width changes as shown by the broken line in FIG. 2(b), this does not change the comparison results.
さらにバッファ6.7はサンプリング期間のみイネーブ
ル状態となり、他の期間はオープン状態となるため、サ
ンプリング(イネーブル)期間において位相比較した結
果を他の(オープン)期間ホールドするという所謂サン
プルホールド動作を位相比較回路自体において行うこと
ができる。Furthermore, since the buffer 6.7 is enabled only during the sampling period and is open during the other periods, the so-called sample-and-hold operation in which the result of phase comparison during the sampling (enable) period is held during the other (open) period is performed during phase comparison. It can be done in the circuit itself.
第3図は他の実施例のブロック図であり、第4図はその
タイミングチャートである(第1図、第2図における場
合と対応する部分には同一の符号を付しである)、この
実施例においてはフリップフロップ4の出力Q(第4図
(0))によりブリップフロップ2がリセットされ、ま
たフリップフロップ2の出力とブリップフロップ3の出
力0が、生成回路としてのアンドゲート11に入力され
、時間差情報信号(第4図(n))が生成、出力される
ようになっている。FIG. 3 is a block diagram of another embodiment, and FIG. 4 is a timing chart thereof (corresponding parts to those in FIGS. 1 and 2 are given the same reference numerals). In the embodiment, the flip-flop 2 is reset by the output Q of the flip-flop 4 ((0) in FIG. 4), and the output of the flip-flop 2 and the output 0 of the flip-flop 3 are input to an AND gate 11 as a generation circuit. Then, a time difference information signal (FIG. 4(n)) is generated and output.
第1図の実施例の場合、フリップフロップ2が出力する
信号の最小の時間差は、ブリップフロップ2のデータセ
ットアツプ時間と、フリップフロップ3のクロック入力
から出力0が発生されるまでの遅延時間と、フリップフ
ロップ2のリセット入力から出力Qが反転するまでの時
間を加算した値で規制される。これに対して第3図の実
施例の場合、フリップフロップ2のデータセットアツプ
時間と、フリップフロップ3のクロック入力から出力Q
が発せられるまでの遅延時間を加算した値に規制される
。従って第3図の実施例の方がより高速となる。In the embodiment of FIG. 1, the minimum time difference between the signals output by flip-flop 2 is the data set up time of flip-flop 2 and the delay time from the clock input of flip-flop 3 until output 0 is generated. , is regulated by the sum of the time from the reset input of the flip-flop 2 until the output Q is inverted. In contrast, in the case of the embodiment shown in FIG. 3, the data set up time of flip-flop 2 and the output Q from the clock input of flip-flop 3 are
It is regulated to the value obtained by adding the delay time until it is issued. Therefore, the embodiment of FIG. 3 is faster.
尚以上においては出力回路に3ステートのバッファ6.
7を用いたが、電流源をスイッチングし、位相比較出力
を送出する期間のみ電流が出力されるように構成するこ
とも可能である。In the above case, the output circuit includes a 3-state buffer 6.
7 is used, but it is also possible to switch the current source so that the current is output only during the period when the phase comparison output is sent out.
以上の如く本発明は位相比較回路において、入力信号に
よりセットされるフリップフロップと。As described above, the present invention uses a flip-flop set by an input signal in a phase comparator circuit.
フリップフロップの出力をクロックの一方のエツジのタ
イミングでラッチする第1のラッチ回路と、第1のラッ
チ回路の出力をクロックの他方のエツジのタイミングで
ラッチする第2のラッチ回路と、フリップフロップと第
1のラッチ回路の出力より、入力信号とクロックの時間
差情報に対応する第1のパルスを生成する第1の生成回
路と、第1のラッチ回路と第2のラッチ回路の出力より
、クロックの一方のエツジと他方のエツジの幅に対応す
る第2のパルスを生成する第2の生成回路とを備えるよ
うにしたので、1つのエツジ情報しか有しない入力信号
でも位相比較を行うことができる。a first latch circuit that latches the output of the flip-flop at the timing of one edge of the clock; a second latch circuit that latches the output of the first latch circuit at the timing of the other edge of the clock; A first generation circuit generates a first pulse corresponding to the time difference information between the input signal and the clock from the output of the first latch circuit, and a clock pulse from the output of the first latch circuit and the second latch circuit. Since the second generation circuit generates a second pulse corresponding to the width of one edge and the other edge, phase comparison can be performed even with an input signal having only one edge information.
第1図は本発明の位相比較回路のブロック図、第2図は
そのタイミングチャート、第3図はその他の実施例のブ
ロック図、第4図はそのタイミングチャート、第5図は
そのサーボバイトパターンの説明図である。
1・・・アンドゲート
2・・・R−Sフリップフロップ
3.4・・・遅延形フリップフロップ
5・・・アンドゲート
6.7°00バツフア
11・・・アンドゲート
以上Fig. 1 is a block diagram of the phase comparison circuit of the present invention, Fig. 2 is its timing chart, Fig. 3 is a block diagram of another embodiment, Fig. 4 is its timing chart, and Fig. 5 is its servo byte pattern. FIG. 1...AND gate 2...R-S flip-flop 3.4...Delay type flip-flop 5...And gate 6.7°00 buffer 11...And gate or more
Claims (1)
リップフロップの出力をクロックの一方のエッジのタイ
ミングでラッチする第1のラッチ回路と、該第1のラッ
チ回路の出力を該クロックの他方のエッジのタイミング
でラッチする第2のラッチ回路と、該フリップフロップ
と該第1のラッチ回路の出力より、該入力信号と該クロ
ックの時間差情報に対応する第1のパルスを生成する第
1の生成回路と、該第1のラッチ回路と該第2のラッチ
回路の出力より、該クロックの一方のエッジと他方のエ
ッジの幅に対応する第2のパルスを生成する第2の生成
回路とを備えることを特徴とする位相比較回路。A flip-flop that is set by an input signal, a first latch circuit that latches the output of the flip-flop at the timing of one edge of the clock, and an output of the first latch circuit that latches the output of the flip-flop at the timing of the other edge of the clock. a second latch circuit that latches the input signal, and a first generation circuit that generates a first pulse corresponding to time difference information between the input signal and the clock from the outputs of the flip-flop and the first latch circuit; A second generating circuit that generates a second pulse corresponding to the width of one edge and the other edge of the clock from the outputs of the first latch circuit and the second latch circuit. Phase comparator circuit.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62059746A JP2799706B2 (en) | 1987-03-13 | 1987-03-13 | Phase comparison circuit |
US07/162,625 US4872155A (en) | 1987-03-13 | 1988-03-01 | Clock generator circuit and a synchronizing signal detection method in a sampled format system and a phase comparator circuit suited for generation of the clock |
US07/367,771 US4982110A (en) | 1987-03-13 | 1989-06-19 | Clock generator circuit and a synchronizing signal detection method in a sampled format system and a phase comparator circuit suited for generation of the clock |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP62059746A JP2799706B2 (en) | 1987-03-13 | 1987-03-13 | Phase comparison circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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JPS63224515A true JPS63224515A (en) | 1988-09-19 |
JP2799706B2 JP2799706B2 (en) | 1998-09-21 |
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ID=13122109
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP62059746A Expired - Fee Related JP2799706B2 (en) | 1987-03-13 | 1987-03-13 | Phase comparison circuit |
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JP (1) | JP2799706B2 (en) |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59111415A (en) * | 1982-12-17 | 1984-06-27 | Toshiba Corp | Phase comparator |
-
1987
- 1987-03-13 JP JP62059746A patent/JP2799706B2/en not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS59111415A (en) * | 1982-12-17 | 1984-06-27 | Toshiba Corp | Phase comparator |
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JP2799706B2 (en) | 1998-09-21 |
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