JPS6321233B2 - - Google Patents

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JPS6321233B2
JPS6321233B2 JP57111114A JP11111482A JPS6321233B2 JP S6321233 B2 JPS6321233 B2 JP S6321233B2 JP 57111114 A JP57111114 A JP 57111114A JP 11111482 A JP11111482 A JP 11111482A JP S6321233 B2 JPS6321233 B2 JP S6321233B2
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JP
Japan
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pair
feature point
list
candidate
value
Prior art date
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Expired
Application number
JP57111114A
Other languages
Japanese (ja)
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JPS59778A (en
Inventor
Hiroshi Asai
Hiroyuki Izumisawa
Katsuaki Oowada
Seiichiro Kinoshita
Shunji Matsuno
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
Nippon Electric Co Ltd
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Publication date
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Priority to EP83303729A priority patent/EP0098152B1/en
Priority to CA000431287A priority patent/CA1199732A/en
Priority to DE8383303729T priority patent/DE3378794D1/en
Priority to AU16313/83A priority patent/AU567678B2/en
Priority to US06/508,759 priority patent/US4646352A/en
Publication of JPS59778A publication Critical patent/JPS59778A/en
Publication of JPS6321233B2 publication Critical patent/JPS6321233B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06VIMAGE OR VIDEO RECOGNITION OR UNDERSTANDING
    • G06V40/00Recognition of biometric, human-related or animal-related patterns in image or video data
    • G06V40/10Human or animal bodies, e.g. vehicle occupants or pedestrians; Body parts, e.g. hands
    • G06V40/12Fingerprints or palmprints

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  • Human Computer Interaction (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Image Analysis (AREA)
  • Collating Specific Patterns (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、指紋等の縞状パターンから構成さ
れた紋様の同一性を、その紋様特徴によつて照合
する装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION The present invention relates to a device for verifying the identity of patterns composed of striped patterns such as fingerprints based on the characteristics of the patterns.

従来、指紋等の縞状パターンの照合のための特
徴として、第1図に示したように指紋画面0上に
於ける紋様を構成する隆線01の端点02及び分
岐点03である各特徴点Mf(f=1,2,…,
F)の、指紋画面0の上に於ける位置(Xf
Yf)、方向Df、リレーシヨン(Mfr,Rfr;r=1
〜4)、及び集密量Cfを用いることが提案された。
これら特徴の抽出装置は特願昭54―39648号明細
書(特開昭55―138174号公報)に、また照合装置
については特願昭54―98966号明細書(特開昭56
―24675号公報)に示されている。ここでリレー
シヨンとは各特徴点Mfに対し、これを原点とす
る局所座標系(x,y)の各4象限(r=1〜
4)に於ける各々の最近傍特徴点Mfrに対し、原
点Mfと結んだ直線上の隆線交叉数をRfrと定義
し、さらに集密量Cfは上記原点Mfを中心とする
一定円領域内に存在する近傍特徴点の集密性を定
量化したものである。しかしながら、前記特願昭
54―98966号明細書に示された照合装置では、照
合すべき2つの指紋に於いて、個々の特徴点の対
応関係を厳密に評価していないため、検索フアイ
ルが多量になると識別能力が十分でない点に大き
な問題があつた。
Conventionally, as features for matching striped patterns such as fingerprints, as shown in FIG. M f (f=1, 2,...,
F) on the fingerprint screen 0 (X f ,
Y f ), direction D f , relation (M fr , R fr ; r=1
~4), and the use of the crowding amount C f was proposed.
A device for extracting these features is described in Japanese Patent Application No. 54-39648 (Japanese Unexamined Patent Publication No. 55-138174), and a matching device is described in Japanese Patent Application No. 54-98966 (Japanese Unexamined Patent Publication No. 56-1989).
- Publication No. 24675). Here, relation means that for each feature point M f , each of the four quadrants (r = 1 to
For each nearest feature point M fr in 4 ) , the number of ridge intersections on the straight line connected to the origin M f is defined as R fr , and the amount of density C f is defined as This is a quantification of the density of neighboring feature points existing within a certain circular area. However, the said patent application
The matching device disclosed in the specification of No. 54-98966 does not strictly evaluate the correspondence of individual minutiae in the two fingerprints to be matched, so if the number of search files becomes large, the identification ability may not be sufficient. The big problem was that it wasn't.

本発明の目的は、照合すべき2つの指紋に於
て、その対応する特徴点「対」を厳密に評価する
ことにより、より高性能な指紋照合を可能とする
装置を提供することにある。
An object of the present invention is to provide an apparatus that enables higher-performance fingerprint verification by strictly evaluating the corresponding minutiae pairs of two fingerprints to be verified.

次に図面を参照して本発明について詳細に説明
する。装置の説明の前に照合すべ指紋のデータ形
式について定義を行う。2つの指紋を照合する場
合理解を助けるために、一方を探索指紋、他方を
フアイル指紋と呼ぶこととする。通常の指紋照合
は、多量のフアイル指紋の中から探索指紋に合致
するフアイル指紋を検索する処理として行われ
る。
Next, the present invention will be explained in detail with reference to the drawings. Before explaining the device, we will define the data format of the fingerprint to be verified. When comparing two fingerprints, one will be referred to as a search fingerprint and the other as a file fingerprint for ease of understanding. Normal fingerprint verification is performed as a process of searching for a file fingerprint that matches a search fingerprint from among a large number of file fingerprints.

以下の説明では指紋照合の基本処理として、問
題となつている一つの探索指紋をフアイルから順
次選択される一つのフアイル指紋の対指紋照合に
ついて説明する。探索指紋の特徴は領域パターン
RN及び特徴点リスト(Ns;s=1〜S)からな
り、フアイル指紋の特徴は領域パターンPM及び
特徴点リスト(Mf;f=1〜F)からなる。両
指紋特徴のデータ形式は同じであるのでフアイル
指紋の特徴についてのみ第2図a,bに示した。
In the following explanation, as a basic process of fingerprint matching, a comparison of one search fingerprint in question with one file fingerprint, which is sequentially selected from a file, will be explained. The feature of the search fingerprint is the area pattern
It consists of R N and a minutiae list (N s ; s=1 to S), and the characteristics of the file fingerprint consist of an area pattern P M and a minutiae list (M f ; f=1 to F). Since the data formats of both fingerprint features are the same, only the file fingerprint features are shown in FIGS. 2a and 2b.

第2図中で特徴点リストbの内容については第
1図との対応で既に説明した。一方同図aに示す
領域パターンPMについては第1図04で示され
る紋様押捺領域を示す2値パターンであつて、例
えば紋様押捺領域内の領域パターン要素を“1”
で、紋様押捺領域外の領域パターン要素を“0”
で表わす。領域パターンの抽出方法は例えば特願
昭51―152377号明細書(特開昭53―75824号公報)
に示されれた装置で実現できる。ここで、前記特
徴点Mfは領域パターンPM中“1”で示される領
域内のみで抽出され、“0”で示される領域内で
は抽出されないことに注意すべきである。
The contents of the feature point list b in FIG. 2 have already been explained in correspondence with FIG. On the other hand, the area pattern P M shown in FIG. 1A is a binary pattern indicating the pattern stamping area shown in FIG.
Then set the area pattern elements outside the pattern stamping area to “0”.
It is expressed as The area pattern extraction method is described in, for example, Japanese Patent Application No. 51-152377 (Japanese Unexamined Patent Publication No. 53-75824).
This can be achieved with the device shown in . Here, it should be noted that the feature point M f is extracted only in the region indicated by "1" in the region pattern P M , and not in the region indicated by "0".

次に、本発明による指紋照合装置の一実施例の
構成を第3図で示すブロツク図で説明する。本発
明になる指紋照合装置は、制御部10に対し、探
索指紋の特徴を記憶する領域パターン記憶11N
と特徴点リスト記憶12N、フアイル指紋の特徴
の記憶する領域パターン記憶11Mと特徴点リス
ト記憶12M、対検査回路15、対向検査回路1
6、偏差平面17、対候補リスト記憶18、探索
指紋及びフアイル指紋の対特徴点を保持する対リ
スト記憶19N,19Mで構成され、上記各記憶
及び偏差平面についてはアドレス信号線110
N,110M,120N,120M,170,1
80,190N,190M、書込み信号線111
N,111M,121N,121M,171,1
81,191N,191M、読出し信号線112
N,112M,122N,122M,132N,
132M,172,182,192N,192M
で、また上記各検査回路については入力信号線1
51,161,出力信号線152,162の各信
号線群で、制御部10に結合されている。また照
合システム全体からのインターフエイス信号とし
て探索指紋及びフアイル指紋の特徴データを入力
する入力信号線101及び照合結果を出力する出
力信号線102が備えられている。またフアイル
指紋の特徴点リスト記憶12Mについては、第2
図bを参照して、特徴点Mfに対してXf,Yf,Df
Cf,Mfr,Rfr(r=1〜4)の情報を保持するが、
この内座標関連データであるXf,Yf,Dfに対し
て、座標変換回路13Mがその出力信号線131
Mに設けられている。この座標変換回路13Mの
変換量設定のための信号線は130Mであり、出
力信号線が132Mとなつている。探索指紋に対
する特徴点リスト記憶12Nについても全く同一
の構造である。
Next, the configuration of an embodiment of the fingerprint matching device according to the present invention will be explained with reference to the block diagram shown in FIG. The fingerprint matching device according to the present invention has an area pattern storage 11N for storing characteristics of a search fingerprint for the control unit 10.
and minutiae list storage 12N, area pattern storage 11M for storing characteristics of file fingerprints, minutiae list storage 12M, paired inspection circuit 15, and counter-inspection circuit 1.
6, consisting of a deviation plane 17, a pair candidate list memory 18, and pair list memories 19N and 19M that hold paired minutiae of search fingerprints and file fingerprints, and an address signal line 110 for each of the above-mentioned memories and deviation planes.
N, 110M, 120N, 120M, 170, 1
80, 190N, 190M, write signal line 111
N, 111M, 121N, 121M, 171, 1
81, 191N, 191M, read signal line 112
N, 112M, 122N, 122M, 132N,
132M, 172, 182, 192N, 192M
And, for each of the above test circuits, the input signal line 1
51, 161, and output signal lines 152, 162, which are coupled to the control unit 10. Also provided are an input signal line 101 for inputting characteristic data of search fingerprints and file fingerprints as interface signals from the entire verification system, and an output signal line 102 for outputting verification results. Regarding the file fingerprint minutiae list storage 12M, the second
Referring to figure b, for the feature point M f , X f , Y f , D f ,
It retains the information of C f , M fr , R fr (r=1 to 4), but
The coordinate conversion circuit 13M converts the coordinate-related data X f , Y f , D f into the output signal line 131
It is provided in M. The signal line for setting the conversion amount of this coordinate conversion circuit 13M is 130M, and the output signal line is 132M. The minutiae list storage 12N for the search fingerprint has exactly the same structure.

第4図は、第3図になる照合装置の動作概要を
説明するフローチヤートである。まず照合すべき
探索指紋及びフアイル指紋の各特徴である領域パ
ターンと特徴点リストを本照合装置内に入力する
と、各特徴点リスト内に登録されている全特徴点
を総当り的にその位置、方向及びリレーシヨンで
検査し、対応する可能性のある特徴点対を候補対
リストに記憶する。次に、この候補対に従つて最
も対応特徴点が一致する座標整合量を求め、フア
イル指紋の特徴点リストをこの整合量に従つて座
標整合する。次いで、座標整合後の特徴点リスト
を、その配置で検査し候補対を精選する。さら
に、精選された候補対を基に、リレーシヨンによ
る対応関係を検査し、各候補対に与えられている
候補対値を補正する。このようにして得られた候
補対リストから最終的な対特徴点を決定する対リ
ストを生成した後、再度リレーシヨンによる対値
の補正、及び領域パターン、対向特徴点の検査、
集密性の検査を行つて対値の最終的な値を決定す
る。対値を集計し、照合特徴点で正規化した照合
値が本照合装置の最終出力として算出出力され
る。尚、座標整合時に適当な整合量が発見されな
い時は、座標整合過程以下の照合過程を省略して
予じめ設定されている便宜的な不一致を表わす照
合値を照合値として出力することにより照合速度
の向上を行う。以降では、上記動作概要の順に、
各部の構成及び動作について詳細に説明する。
FIG. 4 is a flowchart illustrating an overview of the operation of the matching device shown in FIG. 3. First, when the area pattern and feature point list, which are the characteristics of the search fingerprint and file fingerprint to be matched, are input into this matching device, all the feature points registered in each feature point list are brute force searched for their positions, The direction and relation are checked, and potentially corresponding feature point pairs are stored in a candidate pair list. Next, the amount of coordinate matching where the corresponding feature points most closely match is determined according to this candidate pair, and the coordinates of the feature point list of the file fingerprint are matched according to this amount of matching. Next, the feature point list after coordinate matching is inspected in terms of its arrangement, and candidate pairs are carefully selected. Furthermore, based on the carefully selected candidate pairs, correspondence by relation is checked, and the candidate pair value given to each candidate pair is corrected. After generating a pair list for determining the final pair minutiae from the candidate pair list obtained in this way, the pair values are corrected again by relation, and the area pattern and opposing minutiae are inspected.
A convergence check is performed to determine the final value of the pairwise values. The pair values are totaled and the matching value normalized by the matching feature points is calculated and output as the final output of the matching device. In addition, if an appropriate matching amount is not found during coordinate matching, matching is performed by omitting the matching process below the coordinate matching process and outputting a matching value that represents a convenient mismatch that has been set in advance as a matching value. Perform speed improvements. From now on, in the order of the above operation summary,
The configuration and operation of each part will be explained in detail.

第3図を参照して、照合すべき探索指紋の領域
パターンPN及び特徴点リスト(Ns;s=1〜S)
が入力信号101(信号と信号線は対応している
限り、以降混用する。)を介して入力されると、
制御部10は領域パターン記憶11Nにアドレス
信号110Nを発生し、書込み信号111Nを介
して領域パターンPNを書込み保持する。また特
徴点リストも特徴点リスト記憶12Nにアドレス
信号120Nを発生し、書込み信号121Nを介
して書込み保持する。
Referring to FIG. 3, the area pattern P N of the search fingerprint to be matched and the minutiae list (N s ; s=1 to S)
is input via the input signal 101 (signals and signal lines will be used together hereafter as long as they correspond),
The control unit 10 generates an address signal 110N in the area pattern memory 11N, and writes and holds the area pattern P N via the write signal 111N. Also, the feature point list is written and held via the write signal 121N by generating an address signal 120N in the feature point list storage 12N.

次にフアイル指紋の領域パターンPM及び特徴
点リスト(Mf;f=1〜F)も同様に、領域パ
ターン記憶11M、特徴点リスト記憶12Mにア
ドレス信号110M,120Mを発生し、書込み
信号111M,121Mを介して書込み保持す
る。領域パターン記憶11M,11Nは、第2図
aで示したように、2次元格子状の2値データを
保持する通常のメモリで、そのアドレス信号11
0M,110Nは格子要素即ち領域パターン要素
を選択アドレスするものである。また特徴点リス
ト記憶12M,12Nは、第2図bに示す特徴点
データ群を保持するもので、そのアドレス信号1
20M,120Nが特徴点Mf,Nsを単位として
指定する通常のメモリである。これらのメモリに
ついてはすでに公知のものであり特に説明を要し
ない。このようにして照合されるべき探索指紋と
フアイル指紋が保持されると実際の照合動作が開
始される。
Next, for the area pattern P M of the file fingerprint and the feature point list (M f ; f=1 to F), address signals 110M and 120M are generated in the area pattern memory 11M and feature point list memory 12M, and a write signal 111M is generated. , 121M. As shown in FIG. 2a, the area pattern memories 11M and 11N are ordinary memories that hold two-dimensional grid-like binary data, and their address signals 11
0M and 110N are for selectively addressing grid elements, that is, area pattern elements. The feature point list memories 12M and 12N hold the feature point data group shown in FIG. 2b, and the address signal 1
20M and 120N are normal memories that specify feature points M f and N s as units. These memories are already known and do not require any particular explanation. When the search fingerprint and file fingerprint to be compared are held in this way, the actual matching operation is started.

第1の過程は候補対リストの生成である。即ち
探索指紋の各特徴点Ns(s=1〜S)に対し、フ
アイル指紋の各特徴点Mf(f=1〜F)を総当り
的に、制御部10がアドレス信号120N,12
0Mを発生して、読出し信号132N,122
N,132M,122Mを介して読出す。特徴点
データの内、位置(Xs,Ys)及び方向Ds、位置
(Xf,Yf)及び方向Dfは、座標変換回路13N,
13Mを経由して信号132N,132Mから読
出され、集密量Cs,Cf、及びリレーシヨンNsr
Rsr(r=1〜4)、及びMfr,Rfr(r=1〜4)は
信号122N,122Mから読出される。この場
合座標変換量は予じめ信号130N,130Mを
介して無変換量(ξ=0、η=0,θ=0)をセ
ツトしておき、座標変換回路13N,13Mでの
座標変換を行わないようにしておく。
The first step is the generation of a candidate pair list. That is, for each minutiae point N s (s=1 to S) of the search fingerprint, the control unit 10 converts each minutiae point M f (f=1 to F) of the file fingerprint into the address signals 120N, 120 in a brute force manner.
0M and read signals 132N, 122
Read via N, 132M, 122M. Among the feature point data, the position (X s , Y s ) and direction D s , the position (X f , Y f ) and direction D f are determined by the coordinate conversion circuit 13N,
13M from the signals 132N and 132M, and the density amount C s , C f and the relation N sr ,
R sr (r=1 to 4), and M fr and R fr (r=1 to 4) are read from the signals 122N and 122M. In this case, the amount of coordinate transformation is set in advance as the non-transformed amount (ξ=0, η=0, θ=0) via the signals 130N and 130M, and the coordinate transformation is performed in the coordinate transformation circuits 13N and 13M. Make sure there are no.

第5図は座標変換回路13Nの一実施例を示す
ブロツク図である。なお、13N,13Mは同一
構造であり、また各番号に添字としてN又はMを
付すべきであるが、簡明のため例えば131Nx
を単に131xと記することとする。第5図に於い
て、座標変換回路は、選択入力付レジスタ134
x,y,d、減算器135x,y,d、正余弦定
数ROM133、乗算器136c,s,137
c,s及び加算器138x、減算器138yから
構成される。座標変換量(ξ,η,θ)は、制御
部10からの信号130(即ち130N)を介し
てセツトされるデータか、又は特徴点データXs
Ys,Dsが信号131x,y,d(131Nの各部
分信号)を介してセツトされるかが、制御部の制
御信号(複雑になるので図示しない)によつて選
択され、レジスタ134x,y,dに保持され
る。また変換動作時では、特徴点データXs,Ys
Dsが特徴点リスト記憶12Nから信号131x,
y,dを介して入力されると、減算器135x,
y,dによつてレジスタ134x,y,d内に予
じめセツトされている座標変換量(ξ,η,θ)
と減算され、(Xs−ξ)、(Ys−η)、(Ds−θ)が
それぞれ出力される。信号132dのs=(Ds
θ)によつてアドレスされた正余弦ROM133
は、予じめ記憶してある余弦値cos(Ds−θ)及
び正弦値sin(Ds−θ)を信号1330c,sに出
力する。そして乗算器136c,s、137c,
s及び加減算器138x,yによつてs =(Xs−ξ)cos(Ds−θ)+(Ys−η)sin
(Ds−θ)s =(Ys−η)cos(Ds−θ)−(Xs−ξ)sin
(Ds−θ) が演算され、座標変換結果であるsss
出力信号132x,y,dに出力される。以上の
出力132x,y,dが第3図132Nに相当し
ている。これで座標変換回路の説明を終えた。
FIG. 5 is a block diagram showing one embodiment of the coordinate conversion circuit 13N. Note that 13N and 13M have the same structure, and N or M should be added as a subscript to each number, but for simplicity, for example, 131Nx
is simply written as 131x. In FIG. 5, the coordinate conversion circuit is a register 134 with selection input.
x, y, d, subtractor 135x, y, d, sine cosine constant ROM 133, multiplier 136c, s, 137
It is comprised of c, s, an adder 138x, and a subtracter 138y. The coordinate transformation amounts (ξ, η, θ) are data set via the signal 130 (i.e. 130N) from the control unit 10, or feature point data Xs ,
Whether Y s and D s are set via the signals 131x, y, and d (each partial signal of 131N) is selected by a control signal from the control section (not shown because it is complicated), and the registers 134x, It is held in y, d. Also, during conversion operation, feature point data X s , Y s ,
D s is the signal 131x from the feature point list memory 12N,
y, d, the subtractor 135x,
Coordinate transformation amounts (ξ, η, θ) preset in the registers 134x, y, d by y, d
(X s −ξ), (Y s −η), and (D s −θ) are output, respectively. s of signal 132d = (D s
Sine cosine ROM 133 addressed by θ)
outputs the pre-stored cosine value cos (D s -θ) and sine value sin (D s -θ) as signals 1330c,s. and multipliers 136c, s, 137c,
s and the adder/subtractor 138x, y, s = (X s - ξ) cos (D s - θ) + (Y s - η) sin
(D s −θ) s = (Y s −η) cos (D s −θ) − (X s −ξ) sin
( Ds - θ) is calculated, and the coordinate transformation results s , s , s are output as output signals 132x, y, d. The above outputs 132x, y, and d correspond to 132N in FIG. 3. This concludes the explanation of the coordinate conversion circuit.

今、座標変換量(ξ=η=θ=0)であつたか
ら特徴点Nsについては s=Xss=Yss=Ds フアイル指紋の特徴点Mfについては f=Xff=Yff=Df となり無変換を意味する。このようにして読出さ
れた特徴点Ns,Mf2組のXs,Ys,Ds,Cs、及び
Xf,Yf,Df,Cfは、直ちに対検査回路12に入
力信号151を介して送られる。
Now, since the amount of coordinate transformation is (ξ=η=θ=0), for the minutiae point N s s = X s , s = Y s , s = D s For the minutiae point M f of the file fingerprint, f = X f , f = Y f , f = D f , meaning no conversion. The feature points N s , M f read out in this way, two sets of X s , Y s , D s , C s , and
X f , Y f , D f , and C f are immediately sent to the paired inspection circuit 12 via the input signal 151 .

第6図は対検査回路15の一実施例を示すブロ
ツク図である。対検査回路は幾通りかの閾値群を
保持する閾値ROM153、差絶対値器154
x,y,d,z、比較器155x,y,d,z、
及びAND156から構成されている。その動作
は、制御部10から信号151x,y,d,zと
151x′,y′,d′,z′(第1図151に相当)を介
して入力される2つの特徴点データXs,Ys,Ds
Cs及びXf,Yf,Df,Cfに対し、各々の差の絶対
値を差絶対値器154x,y,d,zで算出す
る。その結果を、制御部10からの入力信号15
1tによつて選択される閾値ROM153の出力
153x,y,d,z即ち閾値Tx,Ty,Td,Tc
と、比較器155x,y,d,zで比較する。こ
れは、 |Xf−Xs|≦Tx,|Yf−Ys|≦Ty,|Df−Ds|≦Td,|
Cf−Cs|≦Tc を意味する。この比較結果の出力はAND156
で統合され、すべての上記条件を満足するか否か
を検査出力152として制御部10に返す。以上
で対検査回路の説明を終えた。
FIG. 6 is a block diagram showing one embodiment of the pair test circuit 15. The test circuit includes a threshold ROM 153 that holds several threshold groups, and a difference absolute value unit 154.
x, y, d, z, comparator 155x, y, d, z,
and AND156. Its operation is based on two feature point data X s , Ys , Ds ,
The absolute value of each difference is calculated for C s , X f , Y f , D f , and C f using absolute difference calculators 154x, y, d, and z. The result is sent to the input signal 15 from the control unit 10.
The outputs 153x, y, d, z of the threshold ROM 153 selected by 1t, that is, the thresholds T x , T y , T d , T c
and are compared by comparators 155x, y, d, and z. This is |X f −X s |≦T x , |Y f −Y s |≦T y , |D f −D s |≦T d , |
C f −C s |≦T c . The output of this comparison result is AND156
and returns a test output 152 to the control unit 10 indicating whether or not all of the above conditions are satisfied. This concludes the explanation of the test circuit.

探索指紋とフアイル指紋の特徴点データXs
Ys,Ds,CsとXf,Yf,Df,Cfが、上記の対検査
回路で検査されるときの閾値は、集密量に対する
閾値Tcのみが厳しく、Tx,Ty,Tdは座標整合前
であることから、照合する指紋が互に上下反対に
なつていないという程度の緩い許容条件を設定す
べきである。このような検査を通過した特徴点対
Ns;Mfが発見されると、制御部10は直ちに、
各座標変換回路13N,Mの変換量レジスタ(第
5図134x,y,d)に、現在特徴点リストか
ら読出されているXs,Ys,Ds及びXf,Yf,Df
保持するとともに、リレーシヨンNsr,Rsr(r=
1〜4)、及びMfr,Rfr(r=1〜4)を制御部内
部に保持する。そして、各象限r毎に特徴点リス
ト12N12Mに対しアドレス信号120N,1
20Mを介して特徴点番号Nsr,Mfrを出力し、
その特徴点データXsr,Ysr,Dsr、及びXfr,Yfr
Dfrを信号132N,132Mを介して読出す。
この場合、読み出された特徴点データは、座標変
換回路13N,13Mを通過しているので、それ
ぞれ特徴点Ns,Mfを原点とする局所座標系に変
換されていることになる。この変換された特徴点
データと予じめ制御部内で保持されていたリレー
シヨンRsr、及びRfrとが対検査回路15に送ら
れ、予じめ設定された閾値群Tx′,Ty′,Td′,
Tr′で、その差異が検査される。即ち 〈Mf〉〈Ns〉 〈Mf〉〈Ns
〈Mf〉〈Ns〉 |Xfr−Xsr|≦Tx′,|Yfr−Ysr|≦Ty′,|Dfr−D
sr|≦Td′ |Rfr−Rsr|≦Tr′(ただし〈Ns〉は特徴点Ns
の局所座標変換を、〈Mf〉は特徴点Mfの局所座
標変換を意味する)が検査されたこととなる。制
御部10はこの動作を各象限r=1〜4について
順次行い、その成功回数を候補対値Wsfとし、候
補対値Wsfが所定の数以上ならば、特徴点Nsに対
する候補対特徴点番号MfをMsi、候補対値Wsf
Wsiとして候補対リスト記憶18に出力保持する。
理解を助けるため第7図のようななNs;Mfに対
しては、r=3即ちNs3;Mf3のみが|Yfr〈Mf〉−
Ysr〈Ns〉|≦Ty′なる検査で否定され、この場合
候補対値はWsf=3となる。即ち、候補対値の意
味は、その値が大きいほど、特徴点付の可能性が
高いことを表わすものである。
Minutiae data of search fingerprint and file fingerprint X s ,
When Y s , D s , C s and X f , Y f , D f , C f are tested by the pair test circuit described above, only the threshold T c for the amount of concentration is strict, and T x , Since T y and T d are before coordinate matching, a loose tolerance condition should be set to the extent that the fingerprints to be compared are not upside down. Pairs of minutiae that pass this kind of inspection
When N s ; M f is discovered, the control unit 10 immediately
X s , Y s , D s and X f , Y f , D f currently read from the feature point list are stored in the transformation amount registers (134x, y, d in FIG. 5) of each coordinate transformation circuit 13N, M. At the same time, relations N sr , R sr (r=
1 to 4), and M fr and R fr (r=1 to 4) are held inside the control unit. Then, for each quadrant r, address signals 120N, 1 are applied to the feature point list 12N12M.
Output feature point numbers N sr and M fr via 20M,
The feature point data X sr , Y sr , D sr , and X fr , Y fr ,
D fr is read out via signals 132N and 132M.
In this case, since the read feature point data has passed through the coordinate conversion circuits 13N and 13M, it has been transformed into a local coordinate system having the feature points N s and M f as origins, respectively. This converted feature point data and the relations R sr and R fr held in advance in the control unit are sent to the paired inspection circuit 15, and preset threshold values T x ′, T y ′,T d ′,
At T r ′, the difference is examined. That is, 〈M f 〉〈N s 〉 〈M f 〉〈N s
〈M f 〉〈N s 〉 |X fr −X sr |≦T x ′, |Y fr −Y sr |≦T y ′, |D fr −D
sr |≦T d ′ |R fr −R sr |≦T r ′ (where 〈N s 〉 is the feature point N s
This means that the local coordinate transformation of the feature point Mf (where <M f > means the local coordinate transformation of the feature point Mf) has been examined. The control unit 10 sequentially performs this operation for each quadrant r = 1 to 4, sets the number of successes as the candidate pair value W sf , and if the candidate pair value W sf is a predetermined number or more, the candidate pair feature for the feature point N s is determined. The point number M f is M si and the candidate pair value W sf is
The output is held in the candidate pair list storage 18 as W si .
To aid understanding, for N s ; M f as shown in Figure 7, r = 3, that is, only N s3 ; M f3 is |Y fr 〈M f 〉−
This is denied by the test Y sr 〈N s 〉|≦T y ′, in which case the candidate pair value becomes W sf =3. That is, the meaning of the candidate pair value is that the larger the value, the higher the possibility of attaching a feature point.

候補対リスト記憶18は第8図に示すような内
容保持を行う通常のメモリでよく、第3図に示す
制御部10とは、アドレス信号180が指定する
Nsとiによつて決定される記憶単位に、信号1
81,182を介して1組のMsi,Wsiを書込み読
出しを行うことができる。ここで、iの数は、1
つの探索指紋特徴点Nsと対になる可能性のある
フアイル指紋特徴点数であり、通常i=1〜16程
度が適当である。上記候補対特徴点Msf,Wsf
格納に際しては、制御部10は上記Ns行に対し
て読出し書込みを操作して、Ws1≧Ws2≧…Wsi
Wsi+1≧……となるように行の記憶内容をWsiの大
きさ順にソートして格納する。
The candidate pair list storage 18 may be a normal memory that holds contents as shown in FIG. 8, and the control unit 10 shown in FIG.
In the storage unit determined by N s and i, the signal 1
A pair of M si and W si can be written and read through 81 and 182 . Here, the number of i is 1
This is the number of file fingerprint minutiae points that may be paired with one search fingerprint minutiae point Ns , and usually approximately i=1 to 16 is appropriate. When storing the candidate pair minutiae M sf and W sf , the control unit 10 reads and writes the N s rows so that W s1 ≧W s2 ≧...W si
The memory contents of the rows are sorted and stored in the order of the size of W si so that W si+1 ≧ .

以上のようにして探索指紋とフアイル指紋の特
徴点数の積であるNS×MF回の操作によつて候補
対リストが完成する。
As described above, the candidate pair list is completed by N S ×M F operations, which is the product of the number of feature points of the search fingerprint and the file fingerprint.

対指紋照合の第2の過程は偏差平面を用いた座
標系整合過程である。
The second process of fingerprint matching is a coordinate system matching process using a deviation plane.

偏差平面17は、位置偏位ΔX,ΔYに関して
は、第10図で示されるようなアドレス信号17
0で量子化した2次元アドレスΔX,ΔYで書込
み読出しの行われる通常のメモリであり、方向偏
差ΔDに関しては、第9図に示すようにその一部
を量子化1次元アドレスΔDで使用することもで
きる構成となつている。
Regarding the positional deviations ΔX, ΔY, the deviation plane 17 receives an address signal 17 as shown in FIG.
It is a normal memory in which writing and reading are performed using two-dimensional addresses ΔX and ΔY quantized at 0. Regarding the direction deviation ΔD, a part of it is used at the quantized one-dimensional address ΔD as shown in Figure 9. The configuration is such that it can also be used.

制御部10は候補対メモリ18に対しアドレス
180を介してNs(s=1〜S)及びi(i=1,
2…)を順次発生して、その内容Msi,Wsiを読出
すと、Nsを特徴点リスト記憶12Nに、Msiを特
徴点リスト記憶12Mにアドレス信号120N,
120Mを介して供給し、座標変換回路13N,
13Mを無変換として、特徴点の方向Ds,Dsi
読出し、制御部内の四則演算器によりΔD=Dsi
Dsを算出し、ΔDをアドレス信号170に供給し
て相当する偏差平面の要素に書込み信号171を
介してWsiを加える。(この動作を行うに際して、
偏差平面17の該当要素を全て“0”に初期化し
ておく必要がある。初期化動作については公知の
メモリクリア機能であつて特に説明しない。) このような動作を繰返す事により、候補対リス
トに格納されている全てのNs;Msiの候補対に対
して、偏差平面が第9図のようになる。この図で
黒点はWsiの大きさを模式的に示しており、実際
にはWsiがΔDの量子化単位に累和されているも
のである。もし探索指紋とフアイル指紋が同一指
紋なら、候補対リストに登録される候補対Ns
Msiはリレーシヨン検査により真の対であること
が確率的に高く、そのような候補対の特徴点方向
Ds,Dsiは一定の方向偏差ΔD*に第9図の如く集
中することが予想される。一方候補対リスト中に
は、偽の対も存在する可能性があるが、これらの
偏位ΔDは統計学的にΔD偏差平面上に散在し、
集中することはない。このような方法は、「ハフ
変換による特性抽出」としてよく知られている事
実である。
The control unit 10 sends N s (s=1 to S) and i (i=1,
2...) are sequentially generated and their contents M si and W si are read out, N s is stored in the feature point list storage 12N, M si is stored in the feature point list storage 12M as address signals 120N,
120M, coordinate conversion circuit 13N,
13M without conversion, read the directions D s and D si of the feature points, and use the four arithmetic operators in the control unit to calculate ΔD=D si
D s is calculated, ΔD is supplied to the address signal 170 and W si is added to the corresponding deviation plane element via the write signal 171 . (When performing this operation,
It is necessary to initialize all the relevant elements of the deviation plane 17 to "0". The initialization operation is a well-known memory clearing function and will not be specifically explained. ) By repeating such operations, the deviation plane becomes as shown in FIG. 9 for all N s ; M si candidate pairs stored in the candidate pair list. In this figure, the black dots schematically indicate the size of W si , and in reality, W si is accumulated in the quantization unit of ΔD. If the search fingerprint and the file fingerprint are the same fingerprint, the candidate pair N s is registered in the candidate pair list;
M si has a high probability that it is a true pair according to the relation test, and the minutiae direction of such a candidate pair
It is expected that D s and D si are concentrated at a certain directional deviation ΔD * as shown in FIG. On the other hand, there may be false pairs in the candidate pair list, but these deviations ΔD are statistically scattered on the ΔD deviation plane,
I don't concentrate. This method is well known as "characteristic extraction using Hough transform."

制御部10は偏差平面17の各要素を読出し比
較することにより、最大の集中部位を偏差ΔD*
として、直ちにξ=0,η=0,θ=ΔD*を座
標変換回路13Mに信号130Mを介してセツト
する。これにより座標回転についてのみは探索指
紋とフアイル指紋は整合量が確定したことにな
る。
The control unit 10 reads and compares each element of the deviation plane 17 to determine the maximum concentration area as the deviation ΔD *
Then, ξ=0, η=0, θ=ΔD * are immediately set in the coordinate conversion circuit 13M via the signal 130M. As a result, the amount of matching between the search fingerprint and the file fingerprint is determined only with respect to coordinate rotation.

制御部10は偏差ΔDと同様の処理によつて
ΔX=Xsi−Xs,ΔY=Ysi−Ysを求め、第10図
に示すような偏位ΔX,ΔYの集中箇所を偏差平
面17上に生成し、その集中箇所ΔX*,ΔY*
決定することにより、座標整合量ξ=ΔX*,η
=ΔY*を座標変換回路13Mにセツトする。以
上のようにして座標整合量の決定が完成するが、
制御部10は、偏差ΔD*及び偏位ΔX*,ΔY*
決定する際、その偏差平面の集中部分の累和が予
じめ設定された閾値より小さいときは、探索指紋
とフアイル指紋は同一指紋でないと決定し、不一
致照合を表わす便宜的な照合値を出力信号102
に出力し、以降の照合過程を打切る。また十分な
累和が得られた時は、上記座標整合量(ξ=
ΔX*,η=ΔY*,θ=ΔD*)で、特徴点リスト
記憶12Mの特徴点データXf,Yf,Df(f=1〜
F)を全て座標変換する。この動作は、制御部1
0によつてアドレス信号120MにMf(f=1〜
F)を供給し、読出し信号132M,122Mを
介して読出した後、書込み信号121Mを介して
再度書込みするだけでよい。
The control unit 10 calculates ΔX=X si -X s and ΔY=Y si -Y s by the same process as the deviation ΔD, and places the concentration points of the deviations ΔX and ΔY as shown in FIG. 10 on the deviation plane 17. By determining the concentration points ΔX * and ΔY * , the amount of coordinate matching ξ = ΔX * , η
=ΔY * is set in the coordinate conversion circuit 13M. The determination of the coordinate matching amount is completed in the above manner,
When determining the deviation ΔD * and the deviations ΔX * , ΔY * , if the cumulative sum of the concentrated portion of the deviation plane is smaller than a preset threshold, the control unit 10 determines that the search fingerprint and the file fingerprint are the same. It is determined that it is not a fingerprint, and a convenient matching value representing non-match matching is outputted as a signal 102.
, and the subsequent matching process is aborted. Also, when a sufficient cumulative sum is obtained, the above coordinate matching amount (ξ=
ΔX * , η = ΔY * , θ = ΔD * ), feature point data X f , Y f , D f (f = 1 to
F) All coordinates are transformed. This operation is performed by the control unit 1
M f (f=1~
F), and after reading via the read signals 132M and 122M, it is only necessary to write again via the write signal 121M.

以上で座標整合過程の説明を終えた。 This concludes the explanation of the coordinate matching process.

対指紋照合の第3の過程は、候補対の精選過程
である。制御部10は、座標変換回路13Mを無
変換状態(ξ=η=θ=0)にセツトし直した
後、候補対リスト記憶18に保持されている全て
の候補対Ns;Msiを再度読出し、Ns,Msiをアド
レスとして特徴点リスト記憶12N,12Mのア
ドレス信号120N,120Mに供給し、対応す
る特徴点データXs,Ys,Ds、及びXsi,Ysi,Dsi
を、候補対リスト生成時より厳しい閾値Tx″,
Ty″,Td″で、対検査回路15を用いて検査する
(この場合、Tz″は検査をdon'tcareとするため、
差絶対値器154zの最大出力に等しい値とす
る。)なぜなら、探索指紋とフアイル指紋とは座
標整合を完了しているため、指紋押捺のときに生
ずるの局所的歪みを除いて、特徴点の配置は一致
しているはずだからである。この対検査で対でな
いと判定された候補対Ns;Msiは、その候補対値
Wsiとともに候補対リスト記憶から削除される。
これが候補対の精選過程である。
The third process of pair-fingerprint matching is a selection process of candidate pairs. After resetting the coordinate conversion circuit 13M to the non-conversion state (ξ=η=θ=0), the control unit 10 re-sets all the candidate pairs N s ;M si held in the candidate pair list storage 18. Read and supply N s , M si as addresses to the address signals 120N, 120M of the feature point list storage 12N, 12M, and read the corresponding feature point data X s , Y s , D s , and X si , Y si , D si
is a stricter threshold T x ″ when generating the candidate pair list,
T y ″, T d ″ are tested using the paired test circuit 15 (in this case, Tz ″ is a don't care test, so
The value is set equal to the maximum output of the difference absolute value unit 154z. ) This is because the search fingerprint and the file fingerprint have completed coordinate matching, so the arrangement of minutiae should match, except for local distortions that occur when the fingerprint is imprinted. Candidate pair N s that is determined not to be a pair in this pairwise test; M si is the candidate pair value
It is deleted from the candidate pair list storage along with W si .
This is the process of selecting candidate pairs.

対指紋照合の第4の過程は、候補対値の補正過
程である。精選された候補対リストの全ての候補
対Ns;Msiに対して、次のような候補対値の補正
を行う。第11図は候補対リスト記憶18の記憶
内容を示しており、以降では添字が複雑になるの
で、探索指紋特徴点Nsに対して候補となるフア
イル指紋特徴点Msiを単にMk、候補対値Wsiを単
にWkと記す。制御部10はアドレス180にNs
(s=1〜S)及びiを供給して、候補対リスト
記憶18中の1つの候補対Ns;Mk即ちNs;Msi
を選択して、Mkを読出し、Nsとともにアドレス
信号120M,120Nに供給し、各々の特徴点
リスト記憶12N,13Nからリレーシヨンの特
徴点Nsr、及びMkr(r=1〜4)を読出す。次
に、制御部10は候補対リスト記憶18のNsr
の候補特徴点を順次読出し、読出された候補特徴
点中にMkrと一致するものがあるか否かを、各r
毎に検査する(この場合の特徴点Mrの一致とは、
単に特徴点番号そのものが一致することである)。
もしMkrと一致するものが発見されれば、候補値
WKrを、基になつたMkの候補対値Wkに加える。
以上の動作を候補対リスト記憶18の全候補対に
対して行う。候補対値補正の意義は、第11図説
明図に示すように、ある特徴点対Ns;Mkが真の
対であるときは、そのリレーシヨン特徴点である
Msr;Mkr(r=1〜4)、即ちNs1;Mk1,Ns2
Mk2,Ns3;Mk3,Ns4,Mk4の4つの特徴点対が
存在するはずであり、従つて、候補対リストの
Ns1行にMk1が、Ns2行にMk2が、…、登録されて
いるはずである。候補対リストの探索することに
よつて、上記の特徴点対の存在が確認されるとき
は、Ns;Mkの対としての信頼度は向上すること
となる。特徴点対の信頼度の向上は、Ns;Mk
候補対値Wkを増加させる(+Wkr)ことによつ
て補正される。新しい候補対値の大きさに従つて
候補対リストはNs行単位にソートされる(Wk
順に順序の入換えを行う)。以上で最終的な候補
対リストが完成する。
The fourth process of pair fingerprint matching is a process of correcting candidate pair values. The following candidate pair value correction is performed for all candidate pairs N s ;M si in the selected candidate pair list. FIG. 11 shows the stored contents of the candidate pair list memory 18. Since the subscripts will become complicated in the following, the file fingerprint minutiae M si that is a candidate for the search fingerprint minutiae N s is simply expressed as M k and the candidate The pairwise value W si is simply written as W k . The control unit 10 sets N s to the address 180.
(s=1 to S) and i, one candidate pair N s ; M k or N s ; M si in the candidate pair list store 18
is selected, M k is read out, and supplied to the address signals 120M and 120N along with N s , and relation feature points N sr and M kr (r=1 to 4) are selected from the respective feature point list memories 12N and 13N. Read out. Next, the control unit 10 sequentially reads the N sr rows of candidate feature points in the candidate pair list storage 18 and checks for each r
(In this case, the matching of the feature points M r is
It is simply that the minutiae numbers themselves match).
If a match with M kr is found, the candidate value
Add W Kr to the candidate pair value W k of the underlying M k .
The above operation is performed for all candidate pairs in the candidate pair list storage 18. The significance of the candidate pair value correction is that, as shown in the explanatory diagram in Fig. 11, when a certain feature point pair N s ;M k is a true pair, it is a relation feature point.
M sr ; M kr (r=1 to 4), that is, N s1 ; M k1 , N s2 ;
There should be four feature point pairs M k2 , N s3 ; M k3 , N s4 , M k4 , and therefore,
M k1 should be registered in the N s1 line, M k2 should be registered in the N s2 line, and so on. When the existence of the feature point pair described above is confirmed by searching the candidate pair list, the reliability of N s ; M k as a pair increases. The improvement in reliability of the feature point pair is corrected by increasing (+W kr ) the candidate pair value W k of N s ;M k . The candidate pair list is sorted in units of N s rows according to the size of the new candidate pair value (the order is permuted in the order of W k ). With the above steps, the final candidate pair list is completed.

対指紋照合の第5の過程は、対リスト生成過程
である。2つの対リスト記憶19N,19Mは、
第12図に示されるように同じ表形式の構造であ
つて、Ns(s=1〜S)、又はMf(f=1〜F)で
アドレスされ、特徴点番号と対値を保持できる2
組のリスト記憶である。制御部10からのアドレ
ス信号190N、又は190Mによつて指定され
たNs、又はMfのリスト要素が、信号線191N,
191M又は192N,192Mによつて、書込
み読出し可能な構造となつている。
The fifth process of pair fingerprint matching is a pair list generation process. The two paired list memories 19N and 19M are
As shown in Figure 12, it has the same tabular structure, is addressed by N s (s = 1 to S) or M f (f = 1 to F), and can hold feature point numbers and paired values. 2
It is a list memory of pairs. The list element of N s or M f specified by the address signal 190N or 190M from the control unit 10 is connected to the signal line 191N,
191M, 192N, and 192M, it has a structure that allows writing and reading.

対リストの生成過程は、先ず制御部10からア
ドレス信号191Nを発生し、N1からNSまでア
ドレスしながら書込み信号191Nに一定の初期
値データとして特徴点番号に“0”、対値に予じ
め設定された負の対値V-を供給しながら、対リ
スト記憶19Nの全リスト要素を初期化する。ま
た同様にして、対リスト記憶19Mも初期化す
る。この作業は、全ての対リスト記憶について非
対を意味する初期値データ(0,V-)を書込み、
次の候補対リストからの特徴点対の登録の準備と
するものである。即ち、候補対リストからの登録
が行われなかつた対リスト要素Ns又はMfには、
初期化時の内容(0,V-)が残存することによ
つて、非対であることを明示するのが目的であ
る。前記初期化処理の後、制御部10は候補対リ
スト記憶18に対しアドレス信号180にNs(s
=1〜S)の順にアドレスを発生し、i=1の各
要素Ms1,Ws1(s=1〜S)を読出し信号182
を介して読出す。読出されたWs1(s=1〜S)
は制御器10内で比較され、最大となるWs1即ち
Ns、及びMs1が選択される。さらに、選択された
Ns行のWs2を読出し予じめ設定されている閾値に
よつて、Ws1−Ws2が十分大きいか、即ちNsに対
となるフアイル指紋特徴点Msiが、二つ以上競合
していないかを検査する(Ws1Ws2なら競合し
ていると判断される)。
In the process of generating the pair list, first, the control unit 10 generates the address signal 191N, and while addressing from N 1 to N S , the write signal 191N is set to "0" as the minutiae number and as a predetermined pair value as constant initial value data. All list elements of the pair list storage 19N are initialized while supplying the previously set negative pair value V - . Similarly, the paired list memory 19M is also initialized. This work writes initial value data (0, V - ) that means unpaired for all paired list memories,
This is to prepare for registration of feature point pairs from the next candidate pair list. That is, for the pair list element N s or M f that has not been registered from the candidate pair list,
The purpose is to clearly indicate that they are unpaired by leaving the initialization contents (0, V - ) remaining. After the initialization process, the control unit 10 sends N s (s
= 1 to S), and read out each element M s1 and W s1 (s = 1 to S) of i=1 as a signal 182.
Read via. Read W s1 (s=1 to S)
are compared in the controller 10, and the maximum W s1 , that is,
N s and M s1 are selected. Additionally, the selected
Read out W s2 of N s rows and check whether W s1 − W s2 is sufficiently large or whether two or more file fingerprint minutiae M si that are paired with N s are in conflict. (If W s1 W s2 , it is determined that there is a conflict).

検査が満足された場合のNs,Ms1,Ws1が対リ
スト記憶19N、及び19Mに双対的に登録され
る。即ち、例えばMs1が特徴点Mfであつたとすれ
ば、対リスト記憶19Nに対して、アドレスNs
のリスト要素にMf=Ms1,Vf=Ws1が書き込まれ
る。同時に対リスト記憶19Mに対しては、アド
レスMf=Ms1のリスト要素にNs,Vs=Ws1が書込
まれる。以上のような対リストの登録書込みが行
われた場合、特徴点の対Ns;Ms1は確定したの
で、候補対リスト記憶18のNsでアドレスされ
る行は消去され(具体的にはMs1へ特徴点番号
“0”を書込む)、さらに全ての候補対リスト記憶
18の候補対特徴点の内でMs1と等しい要素は全
て消去され、行毎にソートしなおされる。
N s , M s1 , and W s1 when the test is satisfied are dually registered in pair list memories 19N and 19M. That is, for example, if M s1 is a feature point M f , the address N s
M f =M s1 and V f =W s1 are written to the list element. At the same time, N s and V s =W s1 are written to the list element of address M f =M s1 in the pair list storage 19M. When the pair list is registered and written as described above, the minutiae pair N s ; M s1 has been determined, so the line addressed by N s in the candidate pair list memory 18 is erased (specifically, The feature point number "0" is written to M s1 ), and all elements equal to M s1 among the candidate pair feature points in all candidate pair list storage 18 are deleted and re-sorted row by row.

一つの特徴点対Ns;Ms1が処理されると、制御
部10は再び次の最大候補対値を有する特徴点対
の検索及び対リスト記憶への登録を繰返す。
When one feature point pair N s ;M s1 is processed, the control unit 10 again repeats the search for the next feature point pair having the maximum candidate pair value and the registration in the pair list storage.

以上のようにして、候補対リスト記憶の全ての
要素がつきると対リスト生成過程が終了する。候
補対リスト記憶は、最大でもmin(S,F)しか
特徴点対を生成できないので、対リスト全てに登
録書込みは行われず、対リスト記憶中には、初期
化状態のままのリスト記憶要素が残る。これが非
対特徴点である。
As described above, when all the elements of the candidate pair list storage are completed, the pair list generation process ends. Candidate pair list storage can generate min (S, F) feature point pairs at most, so registration is not written to the entire pair list, and while the pair list is being stored, there are list storage elements that remain in the initialized state. remain. This is an unpaired minutiae.

対指紋照合過程の第6の過程は対値決定処理で
ある。対値の決定は、対値の補正と、非対値の補
正(緩和)の2つの処理によつて成される。
The sixth step in the fingerprint matching process is a matching value determination process. The determination of the paired value is performed by two processes: correction of the paired value and correction (relaxation) of the unpaired value.

対リスト記憶19Nに対して、制御部10はア
ドレス信号190NにアドレスNs(s=1〜S)
を発生して、対リスト要素(Mf,Vf)を、読出
し信号192Nを介して読出し、その対値Vf
正であるときは対値の次のような補正を行う。即
ち第13図に示すように、例えば対リスト記憶1
9N中のアドレスNsの対値Vfが正であるときは、
その対特徴点Ns;Mfをアドレスとして、先に述
べた候補対値の補正と同様に特徴点リスト記憶1
2N,12Mをアクセスしてそのリレーシヨン
Nsr,Mfr(r=1〜4)を読出し、対リスト記憶
のNsrの対特徴点がMfrでかつ対値Vfrが正の値で
あるか否かを検査する。もし正の値なら各r毎に
対リスト記憶19Nのアドレス信号190Nを
Nsrにアドレスするよう変更して、対リスト記憶
要素を読み出す。読出した対リスト記憶要素の対
特徴点がMfrであり、さらに対値が正の値である
か否かが制御部10内で検査される。もし、検査
が満足されると、対値Vfrが対値Vfに加えられる。
この対値の補正は、先に述べた候補対値の補正と
同様に、リレーシヨンで示される近傍特徴点が対
(Nsr;Mfr)であるとき、基の特徴点対(Ns
Mf)がより信頼の高い特徴点対である事実を反
映させる処理である。
For the pair list storage 19N, the control unit 10 inputs an address N s (s=1 to S) to the address signal 190N.
is generated, and the pair list element (M f , V f ) is read out via the read signal 192N, and when the pair value V f is positive, the following correction of the pair value is performed. That is, as shown in FIG. 13, for example, pair list memory 1
When the value V f of the address N s in 9N is positive,
Using the paired minutiae N s ; M f as the address, store the minutiae list 1 in the same way as the correction of the candidate paired values described above.
Access 2N and 12M and their relations
N sr and M fr (r=1 to 4) are read out, and it is checked whether the pair feature point of N sr stored in the pair list storage is M fr and the pair value V fr is a positive value. If it is a positive value, the address signal 190N of the paired list memory 19N is sent for each r.
Read the paired list storage element by changing the address to N sr . The pair feature point of the read pair list storage element is M fr , and it is further checked in the control unit 10 whether or not the pair value is a positive value. If the test is satisfied, the pair value V fr is added to the pair value V f .
Similar to the correction of candidate pair values described above, when the neighboring feature points indicated by the relation are a pair (N sr ; M fr ), this pair value correction is performed based on the original feature point pair (N s ;
This process reflects the fact that M f ) is a more reliable feature point pair.

同様の処理が対リスト記憶19M側でも対リス
ト記憶19N側とは独立に行われる。
Similar processing is performed on the paired list storage 19M side independently of the paired list storage 19N side.

次に、第14図の如く対リスト記憶19M上の
特徴点Mf′が正の対値をもつていない非対特徴点
である場合に、このMf′を特徴点リスト記憶12
Mのアドレス信号120Mに供給し、Mf′の特徴
点データを信号132M,122Mを介して読出
し、その位置データ(Xf′,Yf′)を領域パター
ン記憶11Nの2次元アドレスとして信号110
Nに供給する。その結果出力112Nから読み出
された領域パターン要素が“0”であれば、上記
特徴点Mfは探索指紋側の指紋押捺領域外であつ
たこととなり対値V-はdon'tcareを意味する値
“0”に書換えられる。一方領域パターン要素が
“1”なら対値V-はそのままとなる。対リスト記
憶19Nにおいても、上記の処理を同様に行う。
ただし、この場合特徴点リスト記憶19Nから特
徴点データを読出すときは、座標変変換回路13
Nに逆変換量(ξ=−ΔX*,η=−ΔY*,θ=
−ΔD*)をセツトし、領域パターン11Mを調
べる。これは、先に述べた座標整合過程において
特徴点リスト記憶12Mに対しては、(ξ=
ΔX*,η=ΔY*,θ=ΔD*)なる座標変換を施
して探索指紋及びフアイル指紋の紋様特徴の重ね
合わせ位置及び方向を整合したが、領域パターン
11Mに対してはこのような整合を行つていない
ためである。したがつて、探索指紋特徴点Ns
フアイル指紋の領域パターンPNで検査する場合
は座標整合のために近変換(ξ=−ΔX*,η=
−ΔY*,θ=−ΔD*)を特徴点Nsの各特徴点デ
ータに施す必要がある。
Next, when the feature point M f ' on the pair list storage 19M is an unpaired feature point that does not have a positive pair value as shown in FIG .
The feature point data of M f ' is read out via the signals 132M, 122M, and the position data (X f ', Y f ') is supplied to the signal 110 as a two-dimensional address of the area pattern storage 11N.
Supply to N. As a result, if the area pattern element read from the output 112N is "0", the above feature point M f is outside the fingerprint imprinting area on the search fingerprint side, and the contrast value V - means don't care. It is rewritten to the value “0”. On the other hand, if the area pattern element is "1", the pair value V - remains unchanged. The above process is similarly performed in the paired list storage 19N.
However, in this case, when reading the feature point data from the feature point list storage 19N, the coordinate transformation circuit 13
N is the amount of inverse transformation (ξ=-ΔX * , η=-ΔY * , θ=
-ΔD * ) and examine the area pattern 11M. This means that (ξ=
ΔX * , η = ΔY * , θ = ΔD * ) was applied to match the overlapping position and direction of the pattern features of the search fingerprint and file fingerprint, but such matching was not possible for area pattern 11M. This is because I haven't been there yet. Therefore, when inspecting the search fingerprint minutiae N s with the area pattern P N of the file fingerprint, a near transformation (ξ=-ΔX * , η=
−ΔY * , θ=−ΔD * ) must be applied to each feature point data of the feature point Ns .

次に、対値が負値V-のまま依然として保持さ
れている特徴点については、対向特徴点検査を行
う。例えば第14図において、制御部10は、順
次アドレス190Mを発生し、対値を読出し検査
することにより、負の値V-であるMgについて
は、特徴点リスト記憶12Mのアドレス120M
にMgを供給し、リレーシヨンを読出す。そのリ
レーシヨンMgr(r=1〜4)の内Rgr=0となる
もの方向Dgr(r=1〜4)が基の特徴点Mgの方
向Dgと正反対を向いているかを、対向検査回路
16を用いて探す。発見されると、特徴点Mg
Mgrの各位置及び方向を特徴点リスト記憶12M
から読出し、対向検査回路16の入力信号161
に供給する。
Next, for the minutiae whose paired value is still maintained as a negative value V - , an opposing minutiae test is performed. For example, in FIG. 14, the control unit 10 sequentially generates addresses 190M, reads out the pair values, and checks them.
Supply Mg to and read out the relation. Among the relations M gr (r = 1 to 4), if R gr = 0, check whether the direction D gr (r = 1 to 4) is directly opposite to the direction D g of the original feature point M g . Search using the opposing inspection circuit 16. Once discovered, the feature point M g ,
Store each position and direction of M gr in a feature point list 12M
The input signal 161 of the opposing inspection circuit 16 is read from
supply to.

第16図は対向検査回路16の一実施例を示す
ブロツク図である。即ち、差絶対値器163x,
y,d、補数値器163c、比較器164x,
y,d、方向ROM165、差絶対値器166
a,b、比較器167a,b、ANDゲート16
8及び閾値ROM169から構成され、入力信号
161、出力信号162及び図に示すような結線
で接続されている。
FIG. 16 is a block diagram showing one embodiment of the opposing inspection circuit 16. That is, the difference absolute value unit 163x,
y, d, complement value unit 163c, comparator 164x,
y, d, direction ROM 165, difference absolute value unit 166
a, b, comparators 167a, b, AND gate 16
8 and a threshold ROM 169, which are connected to an input signal 161, an output signal 162, and wiring as shown in the figure.

「対向」検査されるべき2組の特徴点Mg
Mgrの特徴点データを各々簡略表記して(X,
Y,D)と(X′,Y′,D′)とする。各特徴点デ
ータが、それぞれ入力信号161の部分信号であ
る161x,y,d及び161x′,y′,d′に供給
されると、補数値163cで方向D′のみが方向
補数即ち、πラジアンだけ反転された後、差絶対
値器163x,y,dで差の絶対値が演算され、
入力信号161の部分信号である閾値指定信号1
61tによつて、指定された閾値ROM169の
出力と、比較器161x,y,dで |X−X′|≦H′x,|Y−Y′|≦H′y,|D−D′
+π|≦H′d なる比較がおこなわれ、その出力がANDゲート
168に入力される。ここで方向成分ではπラジ
アンが差絶対値器163dの最上位ビツト
(MSB)に相当するようになつており、方向演算
に於ける周期性に対する正しい演算が保証され
る。一方、差絶対値器163x,yの差絶対値出
力と差符号(演算結果の符号)は方向ROM16
5にアドレスとして入力され、 DXY=Tan-1(Y−Y′)/(X−X′) なるDXYが方向ROM165から出力される。一
方、方向D−D′と上記DXYは、差絶対値器166
a,bでその差の絶対値が演算され、比較器16
7a,bで閾値ROM169からの予じめ定めら
れた閾値と比較され、その結果がANDゲート1
68に供給される。ANDゲート168は全ての
入力が肯定されたとき「対向」検査肯定信号を出
力信号162を介して制御部10に戻す。
Two sets of minutiae M g to be inspected “oppositely”;
The minutiae data of M gr are expressed in simplified form (X,
Y, D) and (X', Y', D'). When each feature point data is supplied to partial signals 161x, y, d and 161x', y', d' of the input signal 161, only the direction D' is the direction complement, that is, π radian, in the complement value 163c. After being inverted, the absolute value of the difference is calculated by the difference absolute value unit 163x, y, d,
Threshold specification signal 1 which is a partial signal of input signal 161
61t, the output of the specified threshold ROM 169 and the comparators 161x, y, d: |X-X'|≦H' x , |Y-Y'|≦H' y , |D-D'
A comparison is made such that +π|≦H′ d , and its output is input to AND gate 168. Here, in the direction component, π radian corresponds to the most significant bit (MSB) of the difference absolute value unit 163d, and correct calculation with respect to periodicity in the direction calculation is guaranteed. On the other hand, the difference absolute value output of the difference absolute value unit 163x, y and the difference sign (sign of the calculation result)
5 as an address, and output D XY from the direction ROM 165 as follows: D On the other hand, the direction D-D' and the above D
The absolute value of the difference is calculated at a and b, and the comparator 16
7a and 7b, the threshold value is compared with a predetermined threshold value from the threshold ROM 169, and the result is applied to the AND gate 1.
68. AND gate 168 returns a "counter" test affirmation signal to controller 10 via output signal 162 when all inputs are asserted.

以上で、対向検査回路の一例を説明した。 An example of the opposing inspection circuit has been described above.

負の対値V-をもつ、2組の特徴点Mg,Mgr
対向検査回路16によつて、対向であることが検
出された場合、制御部10はその特徴点Mg
Mgrをアドレスとして対リスト記憶19Mの対値
V-をともにdon'tcareの対値“0”に変更する。
これは、第15図に示す如く、対向する近接特徴
点を検査するもので、このような2組の特徴点は
指紋押捺の具合いや機械的な自動特徴抽出時に、
抽出されたりされなかつたりする不安定な特徴点
であるためである。
When the opposing inspection circuit 16 detects that two sets of feature points M g , M gr having a negative pairwise value V are opposed, the control unit 10 controls the feature points M g , M gr to be opposite to each other.
Pair value of pair list memory 19M with M gr as address
Both V - are changed to "0", the opposite value of don't care.
As shown in Fig. 15, this is a test of opposing adjacent feature points, and these two sets of feature points are determined based on the condition of the fingerprint impression and mechanical automatic feature extraction.
This is because they are unstable feature points that may or may not be extracted.

以上の処理は、対リスト記憶19Nについて
も、全く双対的に行われる。
The above processing is also performed completely dually for the pair list storage 19N.

負の対値を有する対リスト記憶19N及び19
M中の対向特徴点処理の結果、上述の「対向」特
徴点でないときは、最終的に特徴点リスト記憶1
2M(又は12N)の特徴点Mf(又はNs)の集密
量Cf(又はCs)を読出すことによつて、制御部1
0において閾値比較し、それが非常に大きいとき
はやはり対リスト記憶の該当する対値を“0”に
する。この処理の意義は、一般に特徴点が指紋の
紋様特性上、局所的に多数偏在する(すなわち集
密量大である)ことは稀であり、指紋押捺時のイ
ンク濃度や、自動特徴抽出時の雑音抽出による場
合が多いためである。以上をまとめて、第17図
に模式的に示したように、非対値V-の緩和は、
探索指紋とフアイル指紋との座標整合後の領域パ
ターンPN,PMの共通押捺領域外に存在する非対
特徴点、及び共通押捺領域内で点線で示した「対
向」特徴点及び集密量の大きい特徴点についてそ
の非対値V-をdon'tcareに緩和しようとするもの
である。
Pair list stores 19N and 19 with negative pair values
As a result of opposing feature point processing in M, if the above-mentioned "opposing" feature point is not found, the feature point list storage 1 is finally
By reading the density amount C f (or C s ) of 2M (or 12N) feature points M f (or N s ), the control unit 1
A threshold value is compared at 0, and if it is very large, the corresponding pair value in the pair list storage is also set to "0". The significance of this process is that, due to the pattern characteristics of a fingerprint, it is rare for a large number of feature points to be locally unevenly distributed (in other words, the amount of density is large). This is because noise extraction is often used. Summarizing the above, as schematically shown in Figure 17, the relaxation of the unpaired value V - is
Unpaired minutiae existing outside the common imprint area of the area patterns P N and P M after coordinate matching between the search fingerprint and the file fingerprint, and the "opposing" minutiae and density indicated by dotted lines within the common imprint area This is an attempt to reduce the unpaired value V - of feature points with a large value without care.

上記に詳述した非対値V-の緩和では、説明の
簡明さのためにdon'tcare“0”を書込むとした
が、より精密には“0”に限定せず、各種検査出
力に対応して適当な“0”に近い負の対値を導入
することができる。
In the relaxation of the unpaired value V - detailed above, we assumed that we write don't care "0" for the sake of simplicity, but more precisely, we do not limit it to "0" and write various test outputs. Correspondingly, a suitable negative pair value close to "0" can be introduced.

以上で対リスト記憶19N,19Mの対値が完
成すると、対指紋照合の最終過程として照合値算
出を行う。
When the pair values of the pair list memories 19N and 19M are completed in the above manner, a comparison value is calculated as the final process of fingerprint comparison.

制御部10は対リスト記憶19N及び19Mを
順次読出しながら照合値qとして を算出し、出力信号102を介して出力する。こ
こにS及びFは、探索指紋及びフアイル指紋の対
値“0”でない特徴点数を示す。これらの演算に
ついては、一般的な四則演算回路で制御部10の
内部で実施される。詳細は省略する。
The control unit 10 sequentially reads out the paired list memories 19N and 19M as a collation value q. is calculated and output via the output signal 102. Here, S and F indicate the number of minutiae points of the search fingerprint and the file fingerprint whose paired values are not "0". These calculations are performed inside the control unit 10 using a general four arithmetic calculation circuit. Details are omitted.

以上で本発明になる指紋照合装置の一実施例の
詳細について説明を完了したが、制御部10につ
いては、これまでの動作説明によりその構成は当
業者には容易に成し得るもので説明を要しない。
また、説明を簡明にするため、候補対リスト記憶
18の候補対値の補正、及び対リスト記憶19
N,19Mの対値の補正に於いて、リレーシヨン
で対応するNsr;Mfr(r=1〜4)の検査につい
ては、等しいrについて検査のみ説明したが、一
般的には指紋の特徴点の配位の歪みから必ずしも
同じrでNsrとMfrの対応を期待できるものでは
なく、Nsrに対し異なるr′によるMfr′が対応する
場合もあるので、Nsr;Mfr(r=1〜4)は象限
r単位(即ち等しいr毎)で比較するのではなく
(Nsr;r=1〜4)と(Mfr;r′=1〜4)の16
回総当りで対応を検査するのが精密である。この
場合の対応検査は各々Ns,Mfを原点とした局所
座標系で、予じめ設定された閾値Hx″,Hy″,
Hd″によつて 〈Ns〉〈Mf〉 〈Ns〉〈Mf
〈Ns〉〈Mf〉 |Xsr−Xfr′|≦Hx″,|Ysr−Yfr′|≦Hy″,|Ds
r
−Dfr′|≦Hd″ なる閾値比較が、念のために行われるべきであ
る。これらは座標変換回路13N,13M、及び
対検査回路15を用いれば候補対リスト生成時の
処理と同様に可能である。
The details of one embodiment of the fingerprint matching device according to the present invention have been explained in detail above, but the configuration of the control unit 10 can be easily accomplished by those skilled in the art based on the explanation of the operation so far, and therefore will not be explained. Not needed.
In order to simplify the explanation, correction of the candidate pair values in the candidate pair list memory 18 and pair list memory 19
In the correction of the pair values of N and 19M, regarding the test of N sr ; M fr (r = 1 to 4), which corresponds to the relation, we have only explained the test for equal r, but in general, the characteristics of the fingerprint Due to the distortion of the point configuration, it is not necessarily possible to expect correspondence between N sr and M fr with the same r, and M fr ′ with a different r′ may correspond to N sr , so N sr ; M fr ( r = 1 to 4) is not compared in quadrant r units (i.e., every equal r), but (N sr ; r = 1 to 4) and (M fr ; r' = 1 to 4) 16
It is accurate to check the correspondence by round robin. Correspondence tests in this case are local coordinate systems with origins at N s and M f respectively, and preset thresholds H x ″, H y ″,
By H d ″〈N s 〉〈M f 〉 〈N s 〉〈M f
〈N s 〉〈M f 〉 |X sr −X fr ′|≦H x ″, |Y sr −Y fr ′|≦H y ″, |D s
A threshold value comparison such as r −D fr ′|≦H d ″ should be performed just to be sure. These can be performed when generating the candidate pair list by using the coordinate conversion circuits 13N, 13M and the pair checking circuit 15. It is possible as well.

本発明の実施例については、その動作説明から
明らかなように既製のマイクロコンピユータを用
いて、処理装置で対検査回路15、対向検査回路
16及び制御部10を、又メモリ装置によつて領
域パターン記憶11N,11M、特徴点リスト記
憶12N,12M、偏差平面17、候補対リスト
記憶18及び対リスト記憶19N,19Mを割当
ることによつて等価な出力を得ることが可能であ
り、本発明はこのようなハードウエハ的構成上の
変更に対して特許請求範囲を制限されるものでは
ない。
As is clear from the description of the operation, in the embodiment of the present invention, an off-the-shelf microcomputer is used to control the pair test circuit 15, the counter test circuit 16, and the control unit 10 with the processing device, and the area pattern with the memory device. Equivalent outputs can be obtained by allocating the memories 11N and 11M, the feature point list memories 12N and 12M, the deviation plane 17, the candidate pair list memories 18 and the pair list memories 19N and 19M, and the present invention The scope of the claims is not limited to such changes in hardware configuration.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は、指紋特徴を説明する図、第2図は、
指紋特徴を定義する領域パターン記憶及びその内
容である領域パターン、特徴点リスト記憶及びそ
の内容である特徴点リストを説明する図、第3図
は、本発明になる指紋照合装置の一実施例を示す
ブロツク図、第4図は、本発明の動作の概略を示
す概要フロー、第5図は、座標変換回路の一例を
示すブロツク図、第6図は、対検査回路の一例を
示すブロツク図、第7図は、候補対の検査の内容
を説明する図、第8図は、候補対リスト記憶及び
その内容である候補対リストの構成を示す図、第
9図は、座標整合に於ける方向整合の偏差平面を
示す図、第10図は、同上の位置整合の偏差平面
を示す図、第11図は、候補対リストの候補対値
強調過程を説明する図、第12図は、対リスト記
憶及びその内容であある対リストの構造を示す
図、第13図は、対リストの対値修飾を説明する
図、第14図は、対リストの非対特徴点を説明す
る図、第15図は、対向特徴点の指紋上での形体
を説明する図、第16図は、対向検査回路の一例
を示すブロツク図、第17図は、非対値緩和を施
す特徴点の例を示す図である。 図において、制御部10、探索指紋の領域パタ
ーン記憶11N、特徴点リスト記憶12N、フア
イル指紋の領域パターン記憶11M、特徴点リス
ト記憶12M、座標変換回路13N,13M、対
検査回路15、対向検査回路16、偏差平面1
7、候補対リスト記憶18、及び対リスト記憶1
9N,19Mをそれぞれ示す。
Figure 1 is a diagram explaining fingerprint characteristics, Figure 2 is
FIG. 3 is a diagram illustrating an area pattern storage that defines a fingerprint feature, the area pattern that is its contents, a minutiae list storage, and a minutiae list that is its contents. 4 is a schematic flow diagram showing an outline of the operation of the present invention, FIG. 5 is a block diagram showing an example of a coordinate conversion circuit, FIG. 6 is a block diagram showing an example of a counter-inspection circuit, FIG. 7 is a diagram illustrating the content of candidate pair inspection, FIG. 8 is a diagram showing candidate pair list storage and the structure of the candidate pair list, which is the content thereof, and FIG. 9 is a diagram illustrating the direction in coordinate matching. FIG. 10 is a diagram showing the deviation plane of positional matching as above. FIG. 11 is a diagram explaining the candidate pair value emphasis process of the candidate pair list. FIG. FIG. 13 is a diagram showing the structure of the pair list that is stored and its contents; FIG. 13 is a diagram explaining the pair value modification of the pair list; FIG. 16 is a block diagram illustrating an example of a counter inspection circuit, and FIG. 17 is a diagram illustrating an example of a minutiae to which asymmetrical value relaxation is applied. It is. In the figure, a control unit 10, a search fingerprint area pattern storage 11N, a minutiae list storage 12N, a file fingerprint area pattern storage 11M, a minutiae list storage 12M, coordinate conversion circuits 13N, 13M, a paired inspection circuit 15, and a counter inspection circuit. 16, deviation plane 1
7. Candidate pair list memory 18 and pair list memory 1
9N and 19M are shown respectively.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 採取された2つの指紋が同一であるか否か
を、前記2つの指紋の紋様特徴によつて判別する
指紋照合装置において、 (1) 2次元量子化パターン記憶、及び前記パター
ン記憶の各要素へのアドレス、書込み及び読出
し信号線からなり前記紋様特徴のうち紋様有効
領域を示すパターンを保持する領域パターン記
憶手段と、 (2) 前記紋様特徴のうちの複数の特徴点データ群
を、表形式で保持する特徴点リスト記憶、前記
各特徴点データの単一又は複数の特徴点データ
要素へのアドレス、書込み及び読出し信号線、
及び前記読出し信号のうち座標関連データ読出
し信号に対し所定の座標変換を行う座標変換回
路を内蔵した特徴点リスト記憶手段と、 (3) 前記2つの紋様特徴の特徴点データの座標偏
差を2次元量子化偏差単位の頻度分布として保
持する偏差平面、及び量子化偏差要素へのアド
レス、書込み及び読出し信号線とからなる偏差
平面記憶手段と、 (4) 前記2つの紋様特徴のうち一方の特徴点毎に
他方の特徴点番号と候補対値とからなる候補対
を表形式で保持する候補対リスト記憶、及び前
記候補対単位へのアドレス、書込み及び読出し
信号線とからなる候補対リスト記憶手段と、 (5) 前記候補対から選択された特徴点対を、前記
2つの紋様特徴に対応して双対的に、一方の特
徴点毎に他方の特徴点番号と対値とからなる特
徴点対を表形式で保持する2つのリスト記憶、
及び前記各対リスト記憶の前記特徴点対単位へ
のアドレス、書込み及び読出し信号線とからな
る対リスト記憶手段と、 (6) 前記特徴点リスト記憶に保持されている前記
2つの紋様特徴に対する特徴点データ対を入力
し、各特徴点データ要素の差異を閾値比較する
とともに候補値を算出する対検査回路と、 (7) 前記対リスト記憶内で対が形成されない同一
指紋の特徴点対によつて指定される前記特徴点
リスト記憶上の特徴点データを入力し前記特徴
点データの座標関連要素を閾値比較することに
より、対向特徴点であることを判別出力する対
向検査回路と、 (8) 前記領域パターン記憶手段、各リスト記憶手
段及び偏差平面記憶手段の各アドレス、書込み
及び読出し信号線と接続され、前記各検査回路
の入力及び出力信号線と接続され、さらに外部
からの前記2つの紋様特徴を入力し、最終出力
である前記2つの紋様特徴の照合値を出力する
信号線を有し、順序制御、アドレス生成、一時
記憶、四則演算及び比較機能を内蔵する制御部
と、 から構成され、前記制御部の順序制御に従つ
て、前記各アドレス、書込み及び読出し信号線、
及び入出力信号線を利用して (イ) 前記2つの紋様特徴を入力し、前記領域パタ
ーン記憶及び特徴点リスト記憶に記憶保持した
後、 (ロ) 対検査回路を用いて、前記2つの紋様特徴の
特徴点データから予じめ設定された閾値によつ
て候補対を選択し前記候補対リスト記憶に保持
し、 (ハ) 前記選択された候補対の特徴点データの偏差
を前記偏差平面に累積した結果から得られる最
大累積偏差によつて座標整合のための前記特徴
点データの座標変換を行い、 (ニ) 再び、候補対によつて指定された特徴点デー
タ対を前記対検査回路を用いて予じめ設定され
た閾値により範囲外の候補対を削除することに
よつて精選し、 (ホ) 前記再精選した候補対に対して、候補対中に
存在する近傍関係によつて候補対値を補正し、 (ヘ) 前記更新された候補対値を対値とし、前記対
値によつて選択される特徴点付を前記対リスト
記憶に記憶保持し、 (ト) 再び前記対リスト記憶中の特徴点対の近傍関
係から対値を補正した後、 (チ) 前記対リスト記憶中で対を形成しない非対特
徴点に対し、同一指紋上の非対特徴点を前記特
徴点リスト記憶から読出し、対向検査回路を用
いて、予じめ設定されれた閾値による対向特徴
点検査によつて対値を補正し、 (リ) 前記非対特徴点データ要素、及び前記要素の
座標値による前記領域パターン記憶出力から、
共通照合領域外の前記対値を補正した後、 (ヌ) 前記2つの紋様特徴に対応する対値群及び各
特徴点数とから照合値を算出出力すること を特徴とした指紋照合装置。
[Scope of Claims] 1. A fingerprint matching device that determines whether two collected fingerprints are the same based on pattern characteristics of the two fingerprints, comprising: (1) two-dimensional quantization pattern storage; (2) area pattern storage means comprising address, write and read signal lines for each element of the pattern storage and holding a pattern indicating a pattern effective area among the pattern features; (2) a plurality of feature points of the pattern features; Feature point list storage for holding data groups in a tabular format, addresses for each feature point data to single or multiple feature point data elements, write and read signal lines;
and a feature point list storage means having a built-in coordinate transformation circuit that performs a predetermined coordinate transformation on the coordinate-related data readout signal among the readout signals; (3) a coordinate deviation of the feature point data of the two pattern features in two dimensions (4) a characteristic point of one of the two pattern features; Candidate pair list storage means for holding candidate pairs in tabular form consisting of the other minutiae number and candidate pair value for each candidate pair, and candidate pair list storage means consisting of addresses, write and read signal lines for each candidate pair; , (5) For the feature point pairs selected from the candidate pairs, dually create a feature point pair consisting of the feature point number and pair value of the other for each feature point, corresponding to the two pattern features. Two list memories held in tabular format,
and pair list storage means comprising addresses, write and read signal lines for each of the feature point pairs in each of the pair list memories; (6) characteristics for the two pattern features held in the feature point list memory; (7) a pair inspection circuit that inputs point data pairs, compares the difference between each minutiae data element with a threshold value, and calculates a candidate value; (8) an opposing inspection circuit that inputs feature point data on the feature point list storage specified by the feature point and compares coordinate-related elements of the feature point data with a threshold value, thereby determining and outputting an opposing feature point; Connected to each address, write and read signal line of the area pattern storage means, each list storage means and deviation plane storage means, connected to input and output signal lines of each of the inspection circuits, and further connected to the two patterns from the outside. a control section which has a signal line for inputting the features and outputting a matching value of the two pattern features as a final output, and has built-in functions for order control, address generation, temporary storage, four arithmetic operations, and comparison; , each address, write and read signal line according to the order control of the control unit,
and input/output signal lines to (a) input the two pattern features and store them in the area pattern memory and feature point list memory, and (b) use the pair inspection circuit to input the two pattern features. (c) selecting candidate pairs from feature point data of features according to a preset threshold and storing them in the candidate pair list storage; (c) calculating deviations of feature point data of the selected candidate pairs onto the deviation plane; Coordinate transformation of the feature point data for coordinate matching is performed using the maximum cumulative deviation obtained from the accumulated results; (d) Again, the feature point data pair specified by the candidate pair is passed through the pair checking circuit. (e) For the re-selected candidate pairs, select candidates based on the neighborhood relationships existing in the candidate pairs. correcting the pair values; (f) using the updated candidate pair values as pair values and storing feature points selected by the pair values in the pair list memory; (g) re-reading the pair list. After correcting the pair value from the neighborhood relationship of the stored pair of minutiae points, (h) for the unpaired minutiae points that do not form a pair in the pair list storage, unpaired minutiae points on the same fingerprint are added to the minutiae list; read from the memory and correct the paired values by testing the opposing minutiae with a preset threshold value using the opposing testing circuit; From the area pattern storage output by
After correcting the paired values outside the common matching area, (v) a fingerprint matching device that calculates and outputs a matching value from the paired value group corresponding to the two pattern features and the number of each feature point.
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