JPS63209309A - Microwave semiconductor device - Google Patents

Microwave semiconductor device

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JPS63209309A
JPS63209309A JP4427487A JP4427487A JPS63209309A JP S63209309 A JPS63209309 A JP S63209309A JP 4427487 A JP4427487 A JP 4427487A JP 4427487 A JP4427487 A JP 4427487A JP S63209309 A JPS63209309 A JP S63209309A
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JP
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line
semiconductor device
coplanar
slot
coplanar line
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Application number
JP4427487A
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Japanese (ja)
Inventor
Akio Iida
明夫 飯田
Kenji Ito
健治 伊東
Makoto Matsunaga
誠 松永
Fumio Takeda
武田 文雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Electric Corp
Original Assignee
Mitsubishi Electric Corp
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To improve the detection sensitivity by adopting the constitution that ground conductors of a coplaner line are connected via a termination resistor so as to reduce the reflection of a sampling pulse passing through a diode and propagating through the coplaner line. CONSTITUTION:The ground conductors 20a, 20b of the coplaner line 3 are connected via a termination resistor 19. A sampling pulse propagated on the line 3 in the even number mode causes a potential difference between the ground conductors 20a, 20b, the potential difference is absorbed by the termination resistor 19 and diodes 8a, 8b are not switched in an undesired time. On the other hand, since the signal wave propagates on the line 3 in the odd number mode and no potential difference is caused between the ground conductors 20a, 20b of the line, no current flows to the resistor 19. Thus, the signal wave is applied to the diodes 8a, 8b without being attenuated by the termination resistor 19.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明はマイクロ波半導体装置に関し、特にマイクロ
波帯の信号周波数に比べて十分に低い繰り返し周波数を
もつパルス波によってマイクロ波信号をサンプリングし
て位相検波する、あるいは逓倍混合動作をするマイクロ
波半導体装置に関するものである。
[Detailed Description of the Invention] [Field of Industrial Application] The present invention relates to a microwave semiconductor device, and in particular to a microwave signal that is sampled by a pulse wave having a repetition frequency sufficiently lower than the signal frequency in the microwave band. The present invention relates to a microwave semiconductor device that performs phase detection or multiplication/mixing operation.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

マイクロ波集積回路化されたこの種の装置では、広帯域
化、小形化のため、誘電体基板の裏と表を使う両平面回
路が多く使われる。第6図は、例えば実開昭61−44
923号公報に示された従来のこの種の装置の一例を示
す全体回路図であり、同図において、1は誘電体基板、
2及び4はマイクロストリップ線路、3はコプレナ線路
、15はスロ・ノド線路であり、破線は裏面への配置状
態を示している。
In this type of microwave integrated circuit devices, double-plane circuits that use the back and front sides of a dielectric substrate are often used to widen the bandwidth and make the device smaller. Figure 6 shows, for example,
923 is an overall circuit diagram showing an example of a conventional device of this type, in which 1 is a dielectric substrate;
2 and 4 are microstrip lines, 3 is a coplanar line, and 15 is a slot/throat line, and the broken line shows the arrangement on the back side.

第6図において、従来のマイクロ波半導体装置は、誘電
体基板1の裏面に設けられ、端子5.6に加えられるサ
ンプリングパルスおよびマイクロ波信号を伝搬させる第
1及び第2のマイクロストリップ線路2,4と、上記誘
電体基板1の表面に設けられ、上記第2のマイクロスト
リップ線路4に結合されたコプレナ線路3と、上記誘電
体基板1の表面に設けられ、上記第1のマイクロストリ
ップ線路2に結合されるとともに上記コプレナ線路3に
接合されたスロット線路15と、該スロ・ノド線路15
及びコプレナ線路3の接合部に設けられ、ダイオード8
a、8b及びコンデンサ11a。
In FIG. 6, the conventional microwave semiconductor device includes first and second microstrip lines 2, which are provided on the back surface of a dielectric substrate 1 and which propagate sampling pulses and microwave signals applied to a terminal 5.6. 4, a coplanar line 3 provided on the surface of the dielectric substrate 1 and coupled to the second microstrip line 4, and a coplanar line 3 provided on the surface of the dielectric substrate 1 and coupled to the first microstrip line 2. a slot line 15 coupled to the coplanar line 3, and a slot line 15 connected to the coplanar line 3;
and a diode 8 provided at the junction of the coplanar line 3
a, 8b and capacitor 11a.

11bにて形成される一対の直列回路10a、10bと
、上記ダイオード13a、8bとコンデンサ11a、l
lbとの各接続点に抵抗13を介して出力線12a、1
2bで接続され、該抵抗13の中点から引出し接続され
た出力端子14と、一端を第2のマイクロストリップ線
路4に接続し他の一端を導通用スルーボール18により
接地したインダクタ17とを備えて構成される。上記ス
ロット線路15は第1のマイクロストリップ線路2との
交差結合点を中心として第1のスロット線路15aと第
2のスロット線路15bとを有してなり、この第2のス
ロット線FI!r15bに終端抵抗7が接続されている
A pair of series circuits 10a, 10b formed by diodes 13a, 8b and capacitors 11a, 11b.
Output lines 12a, 1 are connected to each connection point with lb via a resistor 13.
2b, and an output terminal 14 connected to the middle point of the resistor 13, and an inductor 17 whose one end is connected to the second microstrip line 4 and the other end is grounded by a conductive through ball 18. It consists of The slot line 15 has a first slot line 15a and a second slot line 15b centered at the cross-coupling point with the first microstrip line 2, and the second slot line FI! A terminating resistor 7 is connected to r15b.

次にこのマイクロ波半導体装置をマイクロ波入力信号の
周波数の整数分の1の周波数をもつ基準信号と、上述の
マイクロ波入力信号との位相差を検出するサンプリング
位相検波器として動作させる場合について説明する。
Next, we will explain the case where this microwave semiconductor device is operated as a sampling phase detector that detects the phase difference between the above-mentioned microwave input signal and a reference signal having a frequency that is an integer fraction of the frequency of the microwave input signal. do.

ステンブリ力ハリダイオードを使うパルス発生器により
発生させた基準信号と同じ繰り返し周波数をもつサンプ
リングパルスは、端子5に加えられると第1のマイクロ
ストリップ線路2を伝1般し、マイクロストリップ・ス
ロット線路変換器16によりマイクロストリップ線路2
と交差結合するスロット線路isa、15bに分配され
る。第2のスロット線路15bに伝搬するサンプリング
パルスは、終端抵抗7により吸収され、不要な反射を生
じない。第1スロツト線路15aを伝搬する残りのサン
プリングパルスは第1のスロット線路15aとコプレナ
線路3との接合部に設けたダイオード8a、8bに加わ
り、このダイオード8a。
A sampling pulse having the same repetition frequency as the reference signal generated by a pulse generator using a Stenbri force Halli diode is applied to terminal 5 and propagated through the first microstrip line 2, resulting in microstrip-to-slot line conversion. The microstrip line 2 is connected by the device 16.
It is distributed to slot lines isa and 15b which are cross-coupled with the slot lines isa and 15b. The sampling pulse propagating to the second slot line 15b is absorbed by the terminating resistor 7, and no unnecessary reflection occurs. The remaining sampling pulses propagating through the first slot line 15a are applied to diodes 8a and 8b provided at the junction between the first slot line 15a and the coplanar line 3, and the remaining sampling pulses are applied to the diodes 8a and 8b provided at the junction between the first slot line 15a and the coplanar line 3.

8bを導通状態(ON状態)にさせる。上記サンプリン
グパルスが無い時は、ダイオード8a、8bは開放状態
(OFF状態)となる。この開放状態のダイオード8a
、8bは、サンプリングパルスによって、スイッチング
されることになる。
8b is made conductive (ON state). When there is no sampling pulse, the diodes 8a and 8b are in an open state (OFF state). This open diode 8a
, 8b will be switched by the sampling pulse.

一方、サンプリングパルスの繰り返し周波数の整数倍の
周波数をもつ信号波は、端子6に加えられると、マイク
ロストリップ線路4を伝搬し、マイクロストリップ・コ
プレナ線路変換器9により、コプレナ線路3の奇モード
に変換され、コプレナ線路3を奇モードで伝搬する。従
ってその結果、サンプリングパルスがダイオード8a、
8bに加わっている時(ダイオードがON状態の時)の
み、信号波の電圧がコンデンサIla、llbに加わる
ことになる。このコンデンサlla、Ilbの端子間の
電圧は、出力線12a、12bにより取り出され、抵抗
13のほぼ中点に接続した端子14から取り出される。
On the other hand, when a signal wave having a frequency that is an integral multiple of the repetition frequency of the sampling pulse is applied to the terminal 6, it propagates through the microstrip line 4, and is converted into an odd mode of the coplanar line 3 by the microstrip coplanar line converter 9. It is converted and propagates through the coplanar line 3 in an odd mode. Therefore, as a result, the sampling pulse passes through the diode 8a,
8b (when the diode is in the ON state), the voltage of the signal wave is applied to the capacitors Ila and llb. The voltage between the terminals of the capacitors lla and Ilb is taken out through output lines 12a and 12b, and from a terminal 14 connected to approximately the midpoint of the resistor 13.

この信号周波数は、サンプリングパルスの繰り返し周波
数の整数倍であるため、信号波とサンプリングパルスは
同期している。このため端子14にあられれる電圧は、
平滑された後両者の位相差に応した直流電圧として得ら
れるため、位相検波が行われたことになる。
Since this signal frequency is an integral multiple of the repetition frequency of the sampling pulse, the signal wave and the sampling pulse are synchronized. Therefore, the voltage appearing at terminal 14 is
After smoothing, it is obtained as a DC voltage corresponding to the phase difference between the two, which means that phase detection has been performed.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

従来のこのマイクロ波半導体装置は、以上のようにサン
プリング位相検波器として動作するが、ダイオードをス
イッチングするサンプリングパルスの一部はダイオード
8a、8bを通過し、コプレナ線路3を伝搬する。この
サンプリングパルスはコプレナ線路3を偶モードで伝搬
してマイクロストリップ・コプレナ線路変換器9で反射
し、この反射したサンプリングパルスは、ダイオードに
再び印加され、正常な時間から反射点までの往復に要す
る時間だけ遅れた時間にダイオードをスイッチングする
ので、位相検波器の検波感度が低下したり誤動作をする
という欠点がある。
This conventional microwave semiconductor device operates as a sampling phase detector as described above, but part of the sampling pulse for switching the diodes passes through the diodes 8a and 8b and propagates through the coplanar line 3. This sampling pulse propagates through the coplanar line 3 in an even mode and is reflected by the microstrip-to-coplanar line converter 9, and this reflected sampling pulse is applied again to the diode, and the time required for a round trip from the normal time to the reflection point is Since the diode is switched at a time delayed by a certain amount of time, there is a drawback that the detection sensitivity of the phase detector decreases or malfunction occurs.

この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、ダイオードを通過しコプレナ線路を伝搬する
サンプリングパルスの反射を低減し、検波感度の向上を
図ることのできるマイクロ波半導体装置を提供すること
を目的とする。
This invention was made in order to solve the above-mentioned problems, and provides a microwave semiconductor device that can reduce the reflection of the sampling pulse that passes through the diode and propagates on the coplanar line, and improves the detection sensitivity. The purpose is to provide.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

この発明に係るマイクロ波半導体装置は、コプレナ線路
の両地導体間に抵抗を接続したものである。
The microwave semiconductor device according to the present invention has a resistor connected between both ground conductors of a coplanar line.

〔作用〕[Effect]

この発明においてはコプレナ線路の地導体間を接続する
抵抗は、コプレナ線路を伝搬するサンプリングパルスの
みを吸収し、コプレナ線路を伝搬するマイクロ波信号は
吸収しないので、マイクロ波信号を減衰させることなく
サンプリングパルスの反射を低減し、サンプリング位相
検波器とじて動作する場合検波感度の低下や誤動作を少
なくできる。
In this invention, the resistor connecting between the ground conductors of the coplanar line absorbs only the sampling pulse propagating on the coplanar line and does not absorb the microwave signal propagating on the coplanar line, so the microwave signal is sampled without attenuating it. By reducing pulse reflection, when operating as a sampling phase detector, detection sensitivity decrease and malfunction can be reduced.

〔発明の実施例〕[Embodiments of the invention]

以下、この発明の一実施例を第1図、及び第2図に基づ
いて説明する。第1図は本発明の一実施例によるマイク
ロ波半導体装置の全体回路図を示す。
An embodiment of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 and 2. FIG. 1 shows an overall circuit diagram of a microwave semiconductor device according to an embodiment of the present invention.

第1図において、本実施例のマイクロ波半導体装置は、
従来装置の構成に加え、コプレナ線路3の地導体208
.20b間を終端抵抗19を介して接続した構成になっ
ている。
In FIG. 1, the microwave semiconductor device of this example is as follows:
In addition to the configuration of the conventional device, the ground conductor 208 of the coplanar line 3
.. 20b are connected via a terminating resistor 19.

次に本実施例装置をサンプリング位相検波器として動作
させる場合について説明する。ここで、信号波がダイオ
ードに伝搬する動作に関しては前記第6図に示す従来装
置の動作と同一であり、サンプリングパルスのスロット
線路15からダイオード3a、8bへの伝111i態様
について説明する。
Next, a case will be described in which the device of this embodiment is operated as a sampling phase detector. Here, the operation of propagating the signal wave to the diodes is the same as the operation of the conventional device shown in FIG. 6, and the mode of propagation 111i of the sampling pulse from the slot line 15 to the diodes 3a and 8b will be described.

第2図はダイオードが装着されるスロ・ノド線路15a
とコプレナ線路3との接合部及びコプレナ線路3の要部
説明のための図である。
Figure 2 shows a slot-node line 15a to which a diode is installed.
FIG. 3 is a diagram for explaining a joint between the line and the coplanar line 3 and a main part of the coplanar line 3.

上記第1のスロット線路15aとコプレナ線路3との接
合部は、第2図に示すようにT分岐である。サンプリン
グパルスの電界は、図中の矢印で示すように分配されて
両ダイオード8a、8bに加わるため、T分岐が対称で
あれば、両ダイオード8a、8bに加わる電界の位相は
同じであり、ダイオード8a、8bと結合せずに通過す
るサンプリングパルスは、コプレナ線路3を偶モードで
励振する。このコプレナ線路3を偶モードで伝搬するサ
ンプリングパルスは、地導体20a、20b間に電位差
を生じるが、この電位差は終端抵抗19により吸収され
る。従ってダイオード8a。
The junction between the first slot line 15a and the coplanar line 3 is a T-branch as shown in FIG. The electric field of the sampling pulse is distributed as shown by the arrows in the figure and applied to both diodes 8a and 8b, so if the T-branch is symmetrical, the phase of the electric field applied to both diodes 8a and 8b is the same, and the diode The sampling pulses passing through without being combined with 8a and 8b excites the coplanar line 3 in an even mode. The sampling pulse propagating through the coplanar line 3 in an even mode generates a potential difference between the ground conductors 20a and 20b, but this potential difference is absorbed by the terminating resistor 19. Therefore, the diode 8a.

8bは不要な時間にスイッチングされることはない。一
方、信号波はコプレナ線路3を図中の破線の矢印で示す
電界をもつ奇モードで伝搬するので、コプレナ線路の地
導体20 a、  20 bとの間に電位差を生じない
ため抵抗19には電流が流れない。
8b is not switched at unnecessary times. On the other hand, since the signal wave propagates through the coplanar line 3 in an odd mode with an electric field indicated by the broken line arrow in the figure, the resistor 19 has a No current flows.

このため信号波は終端抵抗19により減衰されることな
くダイオード13a、8bに加えられる。
Therefore, the signal wave is applied to the diodes 13a and 8b without being attenuated by the terminating resistor 19.

なお、上記実施例では、無効スロット線路15bの終端
抵抗7以降の線路は同一寸法幅のスリ・ノドで構成して
いるが、こればより反射の小さい終端とするために、第
3図に示すように、終端抵抗7以隆では幅を広くする構
造にしてもよい。
In the above embodiment, the line after the terminating resistor 7 of the invalid slot line 15b is constructed with slotted grooves having the same dimension and width, but in order to achieve a termination with less reflection, the line is shown in FIG. 3. As shown, the structure may be such that the width is widened at the terminal resistor 7 and higher.

また上記実施例では、ダイオードとコンデンサとから成
る一対の直列回路10a、10b及び終端抵抗7.19
はコプレナ線路3及びスロット線路」5と同一面側に設
けてこれらの地導体に直接接続する構成としている。し
かし、これは第4図に示すように誘電体基板の裏と表と
を導通する導通用スルーホール18b、18c、18d
、18e、18f、18gを用いてコプレナ線路3及び
スロット線路15の裏面に設けた直列回路10a。
Further, in the above embodiment, a pair of series circuits 10a and 10b consisting of a diode and a capacitor and a terminating resistor 7.19
is provided on the same side as the coplanar line 3 and the slot line 5 and directly connected to these ground conductors. However, as shown in FIG.
, 18e, 18f, and 18g, the series circuit 10a is provided on the back surface of the coplanar line 3 and the slot line 15.

10b、終端抵抗7.19を地導体と接続する構成とし
てもよい。
10b, the terminating resistor 7.19 may be connected to the ground conductor.

この場合、ダイオード、コンデンサ、抵抗及びインダク
タの全ての部品を誘電体基板の片方の面だけに実装する
構造となり、作業の簡略化が図れ、製造コストを低減で
きる利点がある。
In this case, all components such as diodes, capacitors, resistors, and inductors are mounted on only one side of the dielectric substrate, which has the advantage of simplifying work and reducing manufacturing costs.

また、上記実施例では、終端抵抗19は1個で構成して
いるが、これに限らず第5図に示すように、2個あるい
はそれ以上の数の終端抵抗を用いる構成としてもよい。
Further, in the above embodiment, the number of terminating resistors 19 is one, but the present invention is not limited to this, and as shown in FIG. 5, two or more terminating resistors may be used.

また上記実施例においてはサンプリング位相検波器とし
て動作する場合について説明したが、前述のように逓倍
周波数混合器として動作させてもよく、上記実施例と同
様の効果を奏する。
Further, in the above embodiment, a case has been described in which it operates as a sampling phase detector, but as described above, it may also operate as a frequency multiplication mixer, and the same effects as in the above embodiment can be obtained.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上のように、この発明によれば、コプレナ線路の地導
体間を終端抵抗を介して接続する構成にして、ダイオー
ドを通過し、コプレナ線路を伝搬するサンプリングパル
スを吸収するようにしたので、ダイオードがサンプリン
グパルスの不要な反射波によってスイッチングされるこ
とを防ぎ、位相検波器としては高い検波感度が得られ、
逓倍周波数混合器としては高い効率が得られる効果があ
る。
As described above, according to the present invention, the ground conductors of the coplanar line are connected via the terminating resistor to absorb sampling pulses that pass through the diode and propagate on the coplanar line. This prevents the signal from being switched by unnecessary reflected waves of the sampling pulse, and provides high detection sensitivity as a phase detector.
As a multiplication frequency mixer, it has the effect of obtaining high efficiency.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図はこの発明にかかるマイクロ波半導体装置の一実
施例の全体回路図、 第2図は上記実施例のコプレナ線路とスロット線路との
接合部の要部説明図、 第3図はこの発明の他の実施例の一部を示す図、第4図
及び第5図はこの発明のさらに他の実施例の一部を示す
図、 第6図は従来のマイクロ波半導体装置の全体回路図であ
る。 1・・・誘電体、2.4・・・第1.第2のマイクロス
トリップ線路、3・・・コプレナ線路、5,6.14・
・・端子、7.19・・・終端抵抗、10a、10b・
・・直列回路、8a、8b・・・ダイオード、9・・・
マイクロストリップ・コプレナ線路変換器、lla、1
1b・・・コンデンサ、15・・・スロット線路、16
・・・マイクロストリップ・スロット線路変換器、1.
8a−18h−導通用スルーホール、20a、20b・
・・地導体。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
FIG. 1 is an overall circuit diagram of an embodiment of the microwave semiconductor device according to the present invention, FIG. 2 is an explanatory diagram of the main part of the joint between the coplanar line and the slot line of the above embodiment, and FIG. 3 is the present invention. FIG. 4 and FIG. 5 are diagrams showing a part of still other embodiments of the present invention, and FIG. 6 is an overall circuit diagram of a conventional microwave semiconductor device. be. 1... Dielectric, 2.4... 1st. Second microstrip line, 3... Coplanar line, 5,6.14.
・Terminal, 7.19 ・Terminal resistor, 10a, 10b・
...Series circuit, 8a, 8b...Diode, 9...
Microstrip coplanar line converter, lla, 1
1b... Capacitor, 15... Slot line, 16
... Microstrip slot line converter, 1.
8a-18h-Through hole for conduction, 20a, 20b・
...Ground conductor. Note that the same reference numerals in the figures indicate the same or equivalent parts.

Claims (2)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)マイクロ波集積回路用の誘電体基板上に設けられ
た第1、第2のマイクロストリップ線路、スロット線路
、及びコプレナ線路と、 上記誘電体基板の両面で上記第1のマイクロストリップ
線路に交差結合されると共に上記コプレナ線路に接合さ
れたスロット線路と、 上記スロット線路とコプレナ線路の接合部に設けられダ
イオードとコンデンサを直列に接続してなる一対の直列
回路とを備えたマイクロ波半導体装置において、 上記コプレナ線路の所要の位置において上記コプレナ線
路の両地導体間を1個又は複数個の抵抗により接続した
ことを特徴とするマイクロ波半導体装置。
(1) First and second microstrip lines, slot lines, and coplanar lines provided on a dielectric substrate for a microwave integrated circuit, and the first microstrip line provided on both sides of the dielectric substrate. A microwave semiconductor device comprising: a slot line that is cross-coupled and connected to the coplanar line; and a pair of series circuits that are provided at the junction of the slot line and the coplanar line and are formed by connecting a diode and a capacitor in series. A microwave semiconductor device, characterized in that the two ground conductors of the coplanar line are connected at a required position of the coplanar line by one or more resistors.
(2)上記一対の直列回路、及びコプレナ線路の両地導
体間を接続する抵抗は、上記誘電体基板面のマイクロス
トリップ線路の構成される面に設けられ、その各々の両
端は上記誘電体基板にあけた所要数の導通用スルーホー
ルを介し上記スロット線路の導体、コプレナ線路の導体
にそれぞれ接続されていることを特徴とする特許請求の
範囲第1項記載のマイクロ波半導体装置。
(2) A resistor connecting the pair of series circuits and both ground conductors of the coplanar line is provided on the surface of the dielectric substrate where the microstrip line is formed, and both ends of each resistor are connected to the dielectric substrate. 2. The microwave semiconductor device according to claim 1, wherein the microwave semiconductor device is connected to the conductor of the slot line and the coplanar line through a required number of conductive through holes formed in the slot line.
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Cited By (1)

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JP2009524333A (en) * 2006-01-20 2009-06-25 ケーエムダブリュ・インコーポレーテッド High frequency switch

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JP4717930B2 (en) * 2006-01-20 2011-07-06 ケーエムダブリュ・インコーポレーテッド High frequency switch

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