JPS63200039A - Illumination mechanism for chromatographic scanner and the like - Google Patents

Illumination mechanism for chromatographic scanner and the like

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JPS63200039A
JPS63200039A JP3183087A JP3183087A JPS63200039A JP S63200039 A JPS63200039 A JP S63200039A JP 3183087 A JP3183087 A JP 3183087A JP 3183087 A JP3183087 A JP 3183087A JP S63200039 A JPS63200039 A JP S63200039A
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JP
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wavelength
switch
illumination
light
spectrometer
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Kunihiko Okubo
邦彦 大久保
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Abstract

PURPOSE:To reduce cost, by performing illumination by moving the wavelength of a measuring spectroscope to the specific wavelength of zero order light or that of a preset visible region. CONSTITUTION:When the lid 38 of a specimen chamber is opened, a switch 40 is turned OFF and, when a light source during lighting is a deuterium lamp 10, CPU 48 sets a spectroscope so that the output wavelength thereof becomes 0nm (0 order light). By this mechanism, a pulse motor 44 for a wavelength is driven through an interface 58 and a rotary lattice 48 is rotated to set an output wavelength 0nm. When the light source during lighting is a tungsten lamp 8, an illumination wavelength is set to a specific wavelength of about 500nm and the lattice 18 is rotated so that the output wavelength becomes 500nm. Next, when the lid 38 is closed, the switch 40 is turned ON and CPU 48 moves the wavelength of the spectroscope to a predetermined wavelength for measurement inputted from a keyboard. Thereafter, an X-Y stage is moved according to a usual program and the scanning on a specimen plate 30 is performed.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は薄層クロマトスキャナや分光光度計において、
試料上へ照射する光束位置を示すイルミネーション機構
に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial Application Field) The present invention is applicable to thin layer chromatography scanners and spectrophotometers.
This invention relates to an illumination mechanism that indicates the position of a beam of light irradiated onto a sample.

(従来の技術) 薄層クロマトスキャナでは薄層プレート上を照射する光
束を走査して、薄層プレートに展開された試料のスポッ
トを検出していく。この場合、試料室の蓋をあけて光束
が薄層プレート上のどの位置を照射しているかを確認す
る場合がある。しかし、紫外域の波長で照射を行なって
いるときは、薄層プレート上での光束位置がみえず、走
査する位置を目で確認することができない。
(Prior Art) A thin-layer chromatography scanner scans a light beam irradiated onto a thin-layer plate to detect spots on a sample spread on the thin-layer plate. In this case, the lid of the sample chamber may be opened to check which position on the thin plate is irradiated with the light beam. However, when irradiation is performed with a wavelength in the ultraviolet region, the position of the light beam on the thin layer plate cannot be seen, and the scanning position cannot be visually confirmed.

そこで、光束位置を目で見ることができるようにイルミ
ネーション機構が備えられている。
Therefore, an illumination mechanism is provided so that the position of the light beam can be visually seen.

従来の薄層クロマトスキャナのイルミネーション機構で
は、分光器の出口スリットの後にイルミネーション機構
用のタングステンランプからの光路を合流させ、そのタ
ングステンランプからの光を薄層プレート上に照射する
In the illumination mechanism of a conventional thin layer chromatography scanner, the light paths from the tungsten lamps for the illumination mechanism are merged after the exit slit of the spectrometer, and the light from the tungsten lamps is irradiated onto the thin layer plate.

(発明が解決しようとする問題点) イルミネーション機構のために別に光源と光学系を設け
る従来の機構では、余分な機構が必要となり、コスト高
になる。
(Problems to be Solved by the Invention) In the conventional mechanism in which a light source and optical system are separately provided for the illumination mechanism, an extra mechanism is required, resulting in high cost.

イルミネーション用の光束と測定用の光束とを切り換え
て使用するので、何れの光束が使用されているかを確認
する機構も必要になる。このような機構を備えると、遮
光上の問題もあり、構造が一層複雑となる。
Since the luminous flux for illumination and the luminous flux for measurement are switched and used, a mechanism for confirming which luminous flux is being used is also required. If such a mechanism is provided, there will be problems regarding light shielding, and the structure will become even more complicated.

また、イルミネーション用の光源を測定用の光源とは別
に設けているので、光源のランプの数が増え、ランプが
切れたときの交換頻度が高くなる。
Furthermore, since the light source for illumination is provided separately from the light source for measurement, the number of lamps for the light source increases, and the frequency of replacing lamps when they burn out increases.

本発明は、複雑な機構を使用せずに従来のイルミネーシ
ョン機構と同等の機能をもつイルミネーション機構を提
供することを目的とするものである。
An object of the present invention is to provide an illumination mechanism that has the same functions as conventional illumination mechanisms without using a complicated mechanism.

(問題点を解決するための手段) 本発明のイルミネーション機構は、第1図に示されるよ
うに、蓋などに設けられるスイッチ(2)と、スイッチ
(2)の出力信号により測定用分光器(6)の波長を0
次光又は予め設定された可視域の特定波長に移動する分
光器波長移動手段(4)とを備えている。
(Means for Solving the Problems) As shown in FIG. 6) the wavelength of 0
It is equipped with a spectrometer wavelength shifting means (4) that moves to the next light or a preset specific wavelength in the visible range.

(作用) 本考案ではイルミネーション機構のための光源や光学系
を設けないで、照射位置の確認時には測定用の光学系を
用いて分光器の出力波長をイルミネーション用の波長に
切り換える。
(Function) In the present invention, without providing a light source or optical system for the illumination mechanism, a measurement optical system is used to switch the output wavelength of the spectrometer to a wavelength for illumination when confirming the irradiation position.

(実施例) 第2図は本発明を薄層クロマトスキャナに適用した実施
例を表わすものである。
(Example) FIG. 2 shows an example in which the present invention is applied to a thin layer chromatography scanner.

8はタングステンランプ、10は重水素(D:)ランプ
であり、12はタングステンランプ8と重水素ランプ1
0のいずれかを選択して分光器に入射させる光源切替え
ミラーである。16は分光器の入口スリット、18は分
光器の回折格子、14はカットフィルタであり、ミラー
12によって選択された光源からの光は必要に応じてフ
ィルタ14を透過して入口スリット16から分光器の回
折格子18へ入射する。
8 is a tungsten lamp, 10 is a deuterium (D:) lamp, and 12 is a tungsten lamp 8 and a deuterium lamp 1.
This is a light source switching mirror that selects either one of 0 and makes it enter the spectrometer. 16 is an entrance slit of the spectrometer, 18 is a diffraction grating of the spectrometer, and 14 is a cut filter, and the light from the light source selected by the mirror 12 is transmitted through the filter 14 as necessary and sent from the entrance slit 16 to the spectrometer. is incident on the diffraction grating 18 of.

20は分光器のコリメータミラー、22は分光器の出口
スリットである。回折格子18で分光された光はミラー
20で反射されて出口スリット22から出射する。出口
スリット22は複数種の形状のスリットを備えており、
目的に応じて適当な形状のスリットが選択されて使用さ
れる。
20 is a collimator mirror of the spectrometer, and 22 is an exit slit of the spectrometer. The light separated by the diffraction grating 18 is reflected by a mirror 20 and exits from an exit slit 22. The exit slit 22 includes slits of multiple types of shapes.
A slit with an appropriate shape is selected and used depending on the purpose.

24は凹面ミラー、26は平面ミラー、28は水晶の窓
板である。分光器から出射した光はミラー24.26を
経て水晶窓板28から試料プレート30上に照射される
。水晶窓板28では入射光の一部が反射されてモニター
用光電子増倍管32に入射し検出されて、モニター用と
して使用される。
24 is a concave mirror, 26 is a plane mirror, and 28 is a crystal window plate. The light emitted from the spectrometer passes through mirrors 24 and 26 and is irradiated onto the sample plate 30 from the crystal window plate 28. A part of the incident light is reflected by the crystal window plate 28, enters the monitoring photomultiplier tube 32, is detected, and is used for monitoring.

試料プレート30上に測定光が入射し、その照射点から
の反射光が反射用光電子増倍管34に入射して検出され
、試料プレート30を透過した光は透過用光電子増倍管
36に入射して検出される。
The measurement light is incident on the sample plate 30, the reflected light from the irradiation point is incident on the reflection photomultiplier tube 34 and detected, and the light transmitted through the sample plate 30 is incident on the transmission photomultiplier tube 36. detected.

38は試料室の蓋であり、蓋38と連動して動作するス
イッチ40が設けられている。スイッチ40はM2Sが
閉じられてときにオンとなり、蓋38があけられたとき
にオフとなる。スイッチ40の出力信号は制御部42に
取り込まれる。
38 is a lid of the sample chamber, and a switch 40 that operates in conjunction with the lid 38 is provided. The switch 40 is turned on when the M2S is closed and turned off when the lid 38 is opened. The output signal of the switch 40 is taken into the control section 42.

分光器において回折格子18は波長用パルスモータ44
によって回転させられる。回折格子18の支持台には、
回折格子18の回転の原点を検出するためにフォトカプ
ラを含む原点検出部46が設けられている。
In the spectrometer, the diffraction grating 18 is driven by a wavelength pulse motor 44.
rotated by On the support base of the diffraction grating 18,
An origin detection section 46 including a photocoupler is provided to detect the origin of rotation of the diffraction grating 18.

制御部42ではCPU48がバス50に接続され、RO
M52やRAM54の他、種々のインターフェイスがバ
ス50を介してCPU48に接続されている。
In the control unit 42, the CPU 48 is connected to the bus 50, and the RO
In addition to the M52 and RAM 54, various interfaces are connected to the CPU 48 via a bus 50.

ROM52には試料プレート30を保持しているステー
ジの移動、出口スリット22の駆動、試料プレート30
上の検出されたスポットの面積計算、ピーク算出、及び
分光器の走査などを行なうプログラムが記憶されている
。RAM54には測定データ、各種パラメータ(波長走
査範囲など)などが記憶され、スペクトルを記憶したり
データ処理を行なうのに使用される。
The ROM 52 stores information such as moving the stage holding the sample plate 30, driving the exit slit 22, and controlling the sample plate 30.
A program is stored that calculates the area of the detected spot above, calculates the peak, and scans the spectrometer. The RAM 54 stores measurement data, various parameters (wavelength scanning range, etc.), and is used to store spectra and perform data processing.

スイッチ40は試料室MI10・インターフェイス56
を経てバス50に接続されている。波長用パルスモータ
44は波長モータI10・インターフェイス58を経て
バス50に接続されている。
The switch 40 is the sample chamber MI10/interface 56
It is connected to the bus 50 via. The wavelength pulse motor 44 is connected to the bus 50 via a wavelength motor I10/interface 58.

60は測定データをデジタル信号に変換して取り入れる
A/D変換器、62は電源がオフになったときに測定条
件などのパラメータを記憶しておくバックアップRAM
、64はキーボードを接続するキーコントロール・イン
ターフェイス、66は光gs、toのいずれをオンとす
るかを制御する光源制御・インターフェイス、68はク
ロック信号を入力するクロック・インターフェイス、7
0は試料プレート30を保持するXYステージを制御す
るXYステージ・インターフェイスである。
60 is an A/D converter that converts the measurement data into a digital signal and takes it in, and 62 is a backup RAM that stores parameters such as measurement conditions when the power is turned off.
, 64 is a key control interface for connecting a keyboard, 66 is a light source control interface for controlling which of the lights GS and TO is turned on, 68 is a clock interface for inputting a clock signal, 7
0 is an XY stage interface that controls the XY stage that holds the sample plate 30.

分光器波長移動手段4はCPU48とROM52及びR
AM54によって実現される。
The spectrometer wavelength shifting means 4 includes a CPU 48, a ROM 52, and a R
This is realized by AM54.

次に、本実施例の動作について第3図を参照して説明す
る。
Next, the operation of this embodiment will be explained with reference to FIG.

試料室の蓋38をあけると、スイッチ40がオフとなる
。スイッチ40がオフとなったことをCPU48が認識
しくステップS 1) 、CPU48は点灯している光
源が重水素ランプ10の場合には分光器を出力波長がO
nm(0次光)になるように設定する(ステップS2.
S3)。このCPU48での設定に従って、インターフ
ェイス58を介して波長用パルスモータ44を駆動し1
回折格子18を回転させて出力波長をOnmにする。
When the lid 38 of the sample chamber is opened, the switch 40 is turned off. In step S1), when the CPU 48 recognizes that the switch 40 is turned off, if the light source that is turned on is the deuterium lamp 10, the CPU 48 sets the spectrometer to a state where the output wavelength is O.
nm (0th order light) (step S2.
S3). According to the settings in the CPU 48, the wavelength pulse motor 44 is driven via the interface 58.
The diffraction grating 18 is rotated to set the output wavelength to Onm.

また、ステップS2において点灯している光源がタング
ステンランプ8の場合には、イルミネーション波長を可
視域の視感度の高い500nm前後の特定の波長に設定
する(ステップS4)。このときもインターフェイス5
8を介してパルスモータ44を駆動し、今度は回折格子
18を出力波長が500nmになるように回転させる。
Further, when the light source lit in step S2 is the tungsten lamp 8, the illumination wavelength is set to a specific wavelength of around 500 nm, which has high visibility in the visible range (step S4). At this time, interface 5
8, the pulse motor 44 is driven to rotate the diffraction grating 18 so that the output wavelength is 500 nm.

次に、試料室の蓋38が閉じられるとスイッチ40がオ
ンとなる。CPU48はスイッチ40がオンとなったこ
とを認識し、分光器の波長をキーボードから入力された
測定用の所定の波長に移動させる(ステップS5)。そ
の後は5通常のプログラムに従ってXYステージを移動
させ、試料プレート30上の走査を行なう。
Next, when the sample chamber lid 38 is closed, the switch 40 is turned on. The CPU 48 recognizes that the switch 40 is turned on, and moves the wavelength of the spectrometer to the predetermined wavelength for measurement input from the keyboard (step S5). Thereafter, the XY stage is moved according to a normal program to scan the sample plate 30.

実施例では光源としてタングステンランプと重水素ラン
プを用いているが、水銀ランプを光源として使用すると
きには、イルミネーションのための波長としてOnm、
又は546nmと577nmのいずれかの輝線スペクト
ル波長を選択するようにROM52にプログラムを施し
ておく。
In the example, a tungsten lamp and a deuterium lamp are used as light sources, but when a mercury lamp is used as a light source, the wavelength for illumination is Onm,
Alternatively, the ROM 52 is programmed to select either the emission line spectrum wavelength of 546 nm or 577 nm.

上記の実施例は本発明を薄層クロマトスキャナに適用し
た例であるが、分光光度計においても試料の照射位置を
確認したい場合がある。本発明は分光光度計にも同様に
適用することができる。
Although the above embodiment is an example in which the present invention is applied to a thin layer chromatography scanner, there are cases where it is desired to confirm the irradiation position of a sample using a spectrophotometer as well. The invention is equally applicable to spectrophotometers.

本発明を分光光度計に適用する場合、スペクトル測定を
しない停止時に、重水素ランプ使用時には0波長(0次
光)に、ハロゲンランプ又はタングステンランプ使用時
には可視の視感度の高い波長に分光器を設定するイルミ
ネーションモードを設けることができる。そして、その
ようなイルミネーションモードを使用するかしないかを
キーボードから入力できるようにしてもよい。
When applying the present invention to a spectrophotometer, when the spectrophotometer is stopped without performing spectrum measurements, the spectrometer is set to zero wavelength (zero-order light) when using a deuterium lamp, and to a visible wavelength with high visual sensitivity when using a halogen lamp or tungsten lamp. It is possible to provide an illumination mode to be set. Then, it may be possible to input from a keyboard whether or not to use such illumination mode.

(発明の効果) 本発明では測定用分光器の波長を0次光又は予め設定さ
れた可視域の特定波長に移動してイルミネーションを行
なうようにしたので、従来のようなイルミネーションの
ための光学系が不要となり、コストが低下する。
(Effects of the Invention) In the present invention, illumination is performed by shifting the wavelength of the measurement spectrometer to zero-order light or a preset specific wavelength in the visible range, so that the optical system for illumination as in the conventional one is not required. is no longer necessary, reducing costs.

また、構造が簡単になるため故障率が低下する。Furthermore, since the structure is simplified, the failure rate is reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明の構成を示すブロック図、第2図は一実
施例を示す概略図、第3図は一実施例の動作を示すフロ
ーチャートである。 2・・・・・・スイッチ、 4・・・・・・分光器波長移動手段、 6・・・・・・分光器、 40・・・・・・スイッチ、 42・・・・・・制御部。
FIG. 1 is a block diagram showing the configuration of the present invention, FIG. 2 is a schematic diagram showing one embodiment, and FIG. 3 is a flowchart showing the operation of one embodiment. 2...Switch, 4...Spectroscope wavelength moving means, 6...Spectrometer, 40...Switch, 42...Control unit .

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)スイッチと、このスイッチの出力信号により測定
用分光器の波長を0次光又は予め設定された可視域の特
定波長に移動する分光器波長移動手段とを備えたクロマ
トスキャナ等のイルミネーション機構。
(1) Illumination mechanism such as a chromato scanner equipped with a switch and a spectrometer wavelength shifting means that shifts the wavelength of a measurement spectrometer to zero-order light or a preset specific wavelength in the visible range based on the output signal of the switch. .
JP62031830A 1987-02-14 1987-02-14 Illumination mechanism for chromatographs Expired - Lifetime JPH087138B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP62031830A JPH087138B2 (en) 1987-02-14 1987-02-14 Illumination mechanism for chromatographs

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JP62031830A JPH087138B2 (en) 1987-02-14 1987-02-14 Illumination mechanism for chromatographs

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63200039A true JPS63200039A (en) 1988-08-18
JPH087138B2 JPH087138B2 (en) 1996-01-29

Family

ID=12341988

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62031830A Expired - Lifetime JPH087138B2 (en) 1987-02-14 1987-02-14 Illumination mechanism for chromatographs

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JP (1) JPH087138B2 (en)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59120939A (en) * 1982-12-22 1984-07-12 メルク・パテント・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング Quantitative evaluating device for thin-layer chromatogram
JPS6046445A (en) * 1984-07-12 1985-03-13 Shimadzu Corp Optical scanner for thin layer chromatography

Patent Citations (2)

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JPH087138B2 (en) 1996-01-29

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