JPS63166967A - Film forming device - Google Patents

Film forming device

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JPS63166967A
JPS63166967A JP31239586A JP31239586A JPS63166967A JP S63166967 A JPS63166967 A JP S63166967A JP 31239586 A JP31239586 A JP 31239586A JP 31239586 A JP31239586 A JP 31239586A JP S63166967 A JPS63166967 A JP S63166967A
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JP
Japan
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electrodes
base material
stabilized zirconia
electrode
gaseous
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Pending
Application number
JP31239586A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Masayoshi Murata
正義 村田
Takashi Yamamoto
山本 鷹司
Shozo Kaneko
祥三 金子
Tadashi Gengo
義 玄後
Joji Ichinari
市成 譲二
Hiroshi Fujiyama
寛 藤山
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To form thin films of uniform target materials on substrate surfaces by alternately disposing anodes and target cathods around the substrates in a gaseous Ar atmosphere and ionizing the gaseous Ar by the electric discharge of an AC voltage, thereby bombarding the targets. CONSTITUTION:The many cylindrical substrates 10 are mounted in a reaction vessel 1 and the many plasma generating electrodes 2, 3 are alternately disposed around the same. The electrodes 2 are the electrodes formed by thermally spraying films of stabilized zirconia onto the surfaces and the electrodes 3 are the counter electrodes having the polarity opposite from the polarity of the electrodes 2. After the inside of the vessel 1 is evacuated to a vacuum, the gaseous Ar is introduced into the vessel from an introducing pipe 7. A voltage is impressed to the electrodes 2, 3 from a power supply 4 to generate the plasma discharge, by which the gaseous Ar is ionized. 100Hz AC voltage is simultaneously impressed to a coil 5 on the outer periphery of the reaction chamber to generate the magnetic field orthogonal with the electric field generated between the electrodes 2 and 3 so that the stabilized zirconia on the surfaces of the electrodes 2 are bombarded by the gaseous Ar ions to granulate the zirconia. The thin films of the stabilized zirconia having the uniform thickness are thus formed with the high efficiency on the surfaces of the substrates 10.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は、太陽電池、薄膜半導体、テレビ用液晶、電
子写真感光体などの基材、あるいは、燃料電池の多孔性
基材なとの表面に薄膜を成膜する装置に関するものであ
る。
[Detailed Description of the Invention] [Industrial Application Field] This invention is applicable to the surface of substrates such as solar cells, thin film semiconductors, television liquid crystals, electrophotographic photoreceptors, or porous substrates of fuel cells. The present invention relates to an apparatus for forming a thin film on a substrate.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第3図には、従来より用いられている代表的なスパッタ
リング装置(例えば特公昭55−26710号公報に記
載)の概略を示しである。
FIG. 3 schematically shows a typical sputtering apparatus that has been used conventionally (for example, as described in Japanese Patent Publication No. 55-26710).

図において、01は円筒状の真空容器で、中心に基材0
2がホルダ03に支持されて配置されている。この基材
02を囲む同心円上に陽極電極04が置かれており、更
にその外周に筒状の陰極電極(ターゲット)05が同心
に配置されている。なお、06は永久磁石、07は電源
である。
In the figure, 01 is a cylindrical vacuum container with a base material 0 in the center.
2 is supported and arranged by the holder 03. An anode electrode 04 is placed on a concentric circle surrounding this base material 02, and a cylindrical cathode electrode (target) 05 is further placed concentrically around its outer periphery. Note that 06 is a permanent magnet and 07 is a power source.

真空容器01内を所定の低気圧のガス雰囲気にし、陽極
電極04と陰極電極05との間に適当な励起電圧を与え
てグロー放電を生じさせると、陰極スパッタリング現象
が起き、スパッタリングされた陰極電極−の原子、ある
いは、分子が基材02の表面上に付着堆積する。
When the inside of the vacuum container 01 is made into a predetermined low-pressure gas atmosphere and a suitable excitation voltage is applied between the anode electrode 04 and the cathode electrode 05 to generate a glow discharge, a cathode sputtering phenomenon occurs, and the sputtered cathode electrode - atoms or molecules adhere and deposit on the surface of the base material 02.

第4図には、燃料電池の素材となる安定化ジルコニアを
成膜させる装置を示しである。これはいわゆる真空源□
着と呼ばれるもので、塩化ジルコニウム(zrCL )
、塩化イツトリウム(HCI3)お−よび水蒸気(H2
O)が用いられる。
FIG. 4 shows an apparatus for forming a film of stabilized zirconia, which is a material for fuel cells. This is the so-called vacuum source□
Zirconium chloride (zrCL)
, yttrium chloride (HCI3) and water vapor (H2
O) is used.

二ノ5ポレータ08の中に、固体の塩化ジルコニウム0
9および塩化イツトリウム010を入れ、ヒータ011
によつて800ないし1000°Cに加熱し、金属蒸気
を発生させる。これらの金属蒸気は、キャリアガス導入
管012より導入されるアルゴンガス013と共に第1
のパイプ014を介して反応容器015に搬送される。
Solid zirconium chloride 0
9 and yttrium chloride 010, and heater 011.
to 800 to 1000°C to generate metal vapor. These metal vapors together with the argon gas 013 introduced from the carrier gas introduction pipe 012
is transported to a reaction vessel 015 via a pipe 014.

一方、水蒸気016は図示しない水蒸気発生装置で発生
され、第2のパイプ017を介して多孔質の基材018
の裏側より注入され、その内部を通って基材018の表
側に到達する。
On the other hand, water vapor 016 is generated by a water vapor generator (not shown), and is sent to the porous base material 018 via a second pipe 017.
It is injected from the back side of the base material 018 and reaches the front side of the base material 018 through the inside thereof.

なお、上記基材018の側方は、マスキング材019に
より水蒸気016が通過しないようにシールされている
Note that the sides of the base material 018 are sealed with a masking material 019 to prevent water vapor 016 from passing through.

基材O18の表側では、キャリアガスによって搬送され
た塩化ジルコニウム09と塩化イツトリウム010の蒸
気、および、水蒸気旧6が混合され、次式で示す化学反
応が起こり、 ZrCl4  +  2H創0−+ZrQt  +  
4HC12YC1s  +  3H!O→ YxOs 
 + 6HC1酸化ジルコニウム(zrot:ジルコニ
ア)、酸化イツトリウム(Y * Os)および塩素ガ
ス(HCI)が生じる。
On the front side of the base material O18, the vapors of zirconium chloride 09 and yttrium chloride 010 carried by the carrier gas, and water vapor 6 are mixed, and a chemical reaction shown by the following formula occurs, ZrCl4 + 2H 0- + ZrQt +
4HC12YC1s + 3H! O → YxOs
+6HC1 Zirconium oxide (zrot: zirconia), yttrium oxide (Y*Os) and chlorine gas (HCI) are produced.

これらの酸化ジルコニウムと酸化イツトリウムが基材0
18上に堆積するようにして形成されて行くにつれ、水
蒸気016は基材018を通過しにくくなるが、酸素イ
オン02−が移動するので、引続き zrclj  +  02 −+  zrQi  −1
−2(It4YC13+  30寞→2Yzo3+ 5
CIsで示される反応が起こる。
These zirconium oxide and yttrium oxide are used as base materials.
As the water vapor 016 is deposited on the base material 018, it becomes difficult to pass through the base material 018, but since the oxygen ions 02- move, zrclj + 02 −+ zrQi −1 continues.
-2(It4YC13+ 30寞→2Yzo3+ 5
A reaction designated CIs takes place.

このようにして、基材018上には、安定化ジルコニア
(ZrOz )o、 9t(YzO,)o、 09が形
成される。
In this way, stabilized zirconia (ZrOz)o,9t(YzO,)o,09 is formed on the base material 018.

なお、上記反応容器015の中の反応残留ガスおよび生
成物(塩酸や塩素)は、第3のパイプ020より吸引ポ
ンプ021を介して放出される。
Note that the reaction residual gas and products (hydrochloric acid and chlorine) in the reaction vessel 015 are discharged from the third pipe 020 via the suction pump 021.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

第3図に示した従来のスパッタリング装置では、基材0
2を囲むように同心円上に陽極電極04が置かれており
、更にその外周に筒状の陰極電極(ターゲット)05を
同心に配置しなければならないので、沢山の基材02を
一度に処理しようとすると真空容器01が大きくなって
しまう。
In the conventional sputtering apparatus shown in FIG.
An anode electrode 04 is placed on a concentric circle surrounding the anode electrode 2, and a cylindrical cathode electrode (target) 05 must be placed concentrically around the outer circumference of the anode electrode 04, so it is necessary to process a large number of base materials 02 at once. In this case, the vacuum container 01 becomes large.

また、第4図に示した安定化ジルコニア膜の形成方法で
は、塩化ジルコニウムと塩化イツトリウムの蒸気および
水蒸気を用いているので、■ 塩酸が生成されるため、
反応容器015やガス吸引ポンプ021などの補機類に
耐腐食性のガラス裂のものを用いざるを得す、取り扱い
など実用上不便なことが多い。
In addition, in the method for forming a stabilized zirconia film shown in Fig. 4, zirconium chloride and yttrium chloride vapor and water vapor are used;
Corrosion-resistant broken glass must be used for auxiliary equipment such as the reaction vessel 015 and the gas suction pump 021, which is often inconvenient for practical purposes such as handling.

■ 安定化ジルコニアの膜厚の制御が困難なため、10
0〜300μmというかなり厚い膜が形成されてしまい
、酸素イオン移動の抵抗が大きい固体電解質しか作るこ
とができない。
■ Because it is difficult to control the film thickness of stabilized zirconia,
A fairly thick film of 0 to 300 μm is formed, and only solid electrolytes with high resistance to oxygen ion movement can be produced.

などの不具合がある。There are problems such as.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

この発明の成膜装置は、基材を収納する反応容器と、同
基材を囲む同心円上に該基材と平行に偶数本配置された
電極と、これら電極の隣の物同士の間にスパッタリング
用電力を供給する電源とを有し、上記基材外周面上に上
記電極材料原子、あるいは、分子の薄膜を形成するもの
である。
The film forming apparatus of the present invention includes a reaction vessel containing a substrate, an even number of electrodes arranged parallel to the substrate on a concentric circle surrounding the substrate, and sputtering between adjacent objects of these electrodes. A thin film of atoms or molecules of the electrode material is formed on the outer peripheral surface of the base material.

また、特に安定化ジルコニアの薄膜を基材外周面上に形
成する装置として、まず、上記偶数の電極のひとつ置き
のものが安定化ジルコニアで被覆されているものを提供
し、次に、基材を収納する反応容器と、同筒状の基材を
囲む同心円上に該基材と平行で交互に配置されるジルコ
ニウム製電極と2価あるいは3価金属の酸化物製電極と
、これら隣同士の電極間にスパッタリング用電力を供給
する交流電源と、上記反応容器内に酸素ガスを供給する
ガス供給装置とを有するものを提供する。
In addition, as an apparatus for forming a thin film of stabilized zirconia on the outer circumferential surface of a base material, first, every other electrode of the even number of electrodes is coated with stabilized zirconia, and then the base material is coated with stabilized zirconia. zirconium electrodes and divalent or trivalent metal oxide electrodes arranged alternately on concentric circles surrounding the same cylindrical base material parallel to the base material, There is provided an AC power source that supplies sputtering power between the electrodes, and a gas supply device that supplies oxygen gas into the reaction vessel.

更に、この発明では、上記電極を囲み該電極間に発生さ
れた電界と直交する向きの磁界を発生させるコイルを具
備した成膜装置を提供する。
Furthermore, the present invention provides a film forming apparatus equipped with a coil that surrounds the electrodes and generates a magnetic field in a direction perpendicular to the electric field generated between the electrodes.

〔作 用〕[For production]

この発明では、基材を囲む同心円上に該基材と平行に偶
数本電極を配置し、これら電極の隣の物同士の間にスパ
ッタリング用電力を供給した。
In this invention, an even number of electrodes are arranged parallel to the base material on a concentric circle surrounding the base material, and power for sputtering is supplied between adjacent electrodes.

従って、隣合う電極の一方が陰極電極、すなわち、ター
ゲット電極となり、その材料原子あるいは分子が飛び出
し基材の表面に付着する。
Therefore, one of the adjacent electrodes becomes a cathode electrode, that is, a target electrode, and the atoms or molecules of the material fly out and adhere to the surface of the base material.

特に偶数の電極のひとつ置きのものが安定化ジルコニア
で被覆されているものを使用すれば、基材の表面には安
定化ジルコニアの薄膜が形成される。
In particular, if an even number of electrodes in which every other electrode is coated with stabilized zirconia is used, a thin film of stabilized zirconia is formed on the surface of the substrate.

一方、電極として、ジルコニウム環の電極と、2価ある
いは3価金属の酸化物製の電極とを採用して交互に配置
し、これらの電極間に放電用の交流電力を供給すると共
に、容器内に酸素ガスを導入すれば、電極が交互に陰極
と陽極を繰り返し、ジルコニウムと2価あるいは3価金
属の酸化物が放出されてプラズマによりイオン化・ラジ
カル化される。引き続き容器内に導入された酸素ガスと
ジルコニウムとが結合してジルコニアが生成され、かつ
、酸化物も固溶して基材上に安定化ジルコニアの膜が形
成される。
On the other hand, zirconium ring electrodes and divalent or trivalent metal oxide electrodes are alternately arranged as electrodes, and alternating current power for discharge is supplied between these electrodes, and the inside of the container is When oxygen gas is introduced, the electrodes alternately act as cathodes and anodes, and zirconium and divalent or trivalent metal oxides are released and ionized and radicalized by plasma. Subsequently, the oxygen gas introduced into the container and zirconium combine to produce zirconia, and the oxide is also solid-dissolved to form a stabilized zirconia film on the base material.

なお、コイルにより磁界を変動させれば、放出されたイ
オン粒子等が均一に拡散する。
Note that if the magnetic field is varied by the coil, the emitted ion particles etc. will be uniformly diffused.

〔実施例〕〔Example〕

以下、この発明を第1図に示す一実施例の装置について
説明する。
The present invention will now be described with reference to an embodiment of the apparatus shown in FIG.

1は反応容器で、筒状の基材10がその中央に配置され
ている。2.3はプラズマl生させるための電極で、基
材10を囲む同心円上に交互に、かつ、平行に配置され
る。なお、電極2の表面には安定化ジルコニアの膜が、
溶射などの方法によシ形成されている。
1 is a reaction container, and a cylindrical base material 10 is placed in the center thereof. Reference numeral 2.3 denotes electrodes for generating plasma, which are arranged alternately and in parallel on concentric circles surrounding the base material 10. Furthermore, on the surface of the electrode 2, there is a film of stabilized zirconia.
It is formed by a method such as thermal spraying.

4は第1の電源で、例えば60 Hzの商用周波数を用
い上記電極2.3で構成された電極群へ交tk極が変わ
るように接続されている。コイル5は上記反応容器1を
囲繞するもので、第2の電源6に接続されている。7は
プラズマ反応ガス導入管で、たとえば、アルゴンガスを
反応容器1に供給するものである。
Reference numeral 4 denotes a first power source, which uses a commercial frequency of 60 Hz, for example, and is connected to the electrode group made up of the electrodes 2.3 so that the alternating and tk poles are changed. The coil 5 surrounds the reaction vessel 1 and is connected to a second power source 6. Reference numeral 7 denotes a plasma reaction gas introduction tube, which supplies, for example, argon gas to the reaction vessel 1.

なお、排気孔8は、真空ポンプ9に連通しており、反応
容器1内は減圧される。
Note that the exhaust hole 8 communicates with a vacuum pump 9, and the pressure inside the reaction vessel 1 is reduced.

さて、真空ポンプ9を駆動して反応容器1内を排気し所
定の低気圧にした後、プラズマ反応ガス導入管7からア
ルゴンガスを供給する。
After the vacuum pump 9 is driven to exhaust the inside of the reaction vessel 1 to a predetermined low pressure, argon gas is supplied from the plasma reaction gas introduction pipe 7.

上記アルゴンガスを反応容器1内に充満させて圧力を0
.05ないしQ、5Torrに保ち、第1の電源4から
電極2.3に電圧を印加すると、グロー放電プラズマが
電極2.3間に発生する。
Fill the reaction vessel 1 with the above argon gas and reduce the pressure to 0.
.. When the voltage is maintained at 0.05 to 5 Torr and a voltage is applied to the electrodes 2.3 from the first power source 4, glow discharge plasma is generated between the electrodes 2.3.

一方、コイル5には、例えば100H2の交流電圧を印
加し、電極2.3間に発生する電界Eと直交する方向の
磁界Bを発生させる。なお、その磁束密度は10ガウス
程度で良い。
On the other hand, an AC voltage of, for example, 100H2 is applied to the coil 5 to generate a magnetic field B in a direction perpendicular to the electric field E generated between the electrodes 2 and 3. Note that the magnetic flux density may be about 10 Gauss.

プラズマ反応ガス導入管7から供給されたガスは、電極
2.3間の電子に励起されプラズマとなる。プラズマ中
のアルゴンイオンなどの荷電粒子は、電極2.3間で電
界Eによる。
The gas supplied from the plasma reaction gas introduction pipe 7 is excited by the electrons between the electrodes 2 and 3 and becomes plasma. Charged particles such as argon ions in the plasma are caused by the electric field E between the electrodes 2.3.

クーロン力F+ =q Eと ローレンツ力p、=q(vxB) によってEXBドリフトの運動を起こす。Coulomb force F+ = q E and Lorentz force p, = q (vxB) This causes EXB drift movement.

なお、■は荷電粒子の速度である。Note that ■ is the speed of charged particles.

電界Eが非常に大きい電極2.3間では、荷電粒子は電
極2あるいは3に直撃してスパッタリングを起こす。
Between the electrodes 2 and 3 where the electric field E is very large, the charged particles directly hit the electrodes 2 or 3 and cause sputtering.

このスパッタリングによシ、電極2から放出された安定
化ジルコニアの分子は、イオン粒子あるいはラジカル粒
子となる。
As a result of this sputtering, stabilized zirconia molecules released from the electrode 2 become ionic particles or radical particles.

しかし、磁界Eの影響が小さい放電空間では、上記KX
Bドリフトにより初速を与えられた形で、電極2.3と
直交する方向に飛び出し、コダ イル汐により生じた磁界Bによるサイクロントロン運動
によりLarmor軌道を描いて飛んでいく。
However, in a discharge space where the influence of the magnetic field E is small, the above KX
It flies out in a direction perpendicular to the electrode 2.3 with an initial velocity given by the B drift, and flies in a Larmor orbit due to the cyclotron motion caused by the magnetic field B generated by the codile tide.

従って、スパッタリングによシミ極2から放出された荷
電粒子は、基材10に至り、その表面に膜を形成する。
Therefore, the charged particles emitted from the stain electrode 2 by sputtering reach the base material 10 and form a film on its surface.

この時、ラジカル粒子はLarmor軌道を飛んでゆく
荷電粒子と衝突するため、電極2.3の前方だけでなく
、左あるいは右に広がった形で成膜される。しかも、磁
界Bを変動させているので、基材10の表面へ均一に膜
を形成させることが可能となる。
At this time, since the radical particles collide with the charged particles flying in the Larmor orbit, the film is formed not only in front of the electrode 2.3 but also in a form that spreads to the left or right. Moreover, since the magnetic field B is varied, it is possible to uniformly form a film on the surface of the base material 10.

この実施例では、従来のように塩酸(HOI )が生成
されないので、機器の耐腐食性を考慮する必要がなくな
る。
In this embodiment, unlike the conventional method, hydrochloric acid (HOI) is not generated, so there is no need to consider the corrosion resistance of the equipment.

また、基材上に直接溶射を施した場合に比較して、極め
てダメージの少ない安定化ジルコニアの薄膜が形成され
ることになる。
Additionally, a thin film of stabilized zirconia is formed with significantly less damage than when thermal spraying is applied directly onto the substrate.

更に本実施例では、いわゆる、プラズマスパッタリング
により安定化ジルコニアの膜を成膜しているので、その
成膜速度をコントロールすることも可能で、酸素イオン
移動の抵抗の小さい固体電解質を形成することができる
Furthermore, in this example, since the stabilized zirconia film is formed by so-called plasma sputtering, it is possible to control the film formation rate, and it is possible to form a solid electrolyte with low resistance to oxygen ion movement. can.

なお、安定化ジルコニアを形成に限らず、電極2側を所
望の金属からなるターゲット電極とし、電極3側を陽極
とすれば、電源は直流でよく、所望の金属材料原子、あ
るいは、分子の膜を成膜することができる。
In addition to forming stabilized zirconia, if the electrode 2 side is used as a target electrode made of a desired metal and the electrode 3 side is used as an anode, the power source may be DC, and a film of atoms or molecules of the desired metal material can be used. can be formed into a film.

更に、電極2.3の長さは、反応容器1の長さの許す限
り長くしても何等問題がないので、長尺な基材であって
もその表面に均一な非晶質薄膜を形成することが可能と
なる。
Furthermore, the length of the electrode 2.3 can be made as long as the length of the reaction vessel 1 allows without any problem, so even if a long base material is used, a uniform amorphous thin film can be formed on the surface of the base material. It becomes possible to do so.

第2図には、複数の基材を一度に処理できる装置の例を
示しである。
FIG. 2 shows an example of an apparatus that can process a plurality of substrates at once.

図に示すように、電極2.3がハニカム(6角形)状に
配置されてあシ、その中心に基材10が置かれている。
As shown in the figure, the electrodes 2.3 are arranged in a honeycomb (hexagonal) shape, and the base material 10 is placed in the center thereof.

従つて、1本の電極は、主として3本の基材10に対し
て働くことになり、装置のコンパクト化が図れる。また
、図示を省略したが、電極2.3を格子状に配置しても
勿論良い。この場合は、ハニカム状に比べて膜の厚さの
均一性は若干劣るが、コンパクト化は更に進む。
Therefore, one electrode mainly acts on three base materials 10, and the device can be made more compact. Although not shown, the electrodes 2.3 may of course be arranged in a grid pattern. In this case, the uniformity of the film thickness is slightly inferior to that of the honeycomb structure, but the compactness is further improved.

次に、本発明が提供している別の安定化ジルコニア薄膜
の成膜の仕方について説明する。
Next, a method of forming another stabilized zirconia thin film provided by the present invention will be explained.

装置としては、第1図のものでも、第2図のものでも使
用できる。
As for the apparatus, either the one shown in FIG. 1 or the one shown in FIG. 2 can be used.

すなわち、電極2にジルコニウム製電極、電極3に酸化
イツトリウム製の電極を採用する。
That is, the electrode 2 is made of zirconium, and the electrode 3 is made of yttrium oxide.

また、電極2.3間にスパッタリング用電力を供給する
電源に交流電源を使用し、アルゴンガスと共に酸素ガス
を供給する。
Further, an AC power source is used as a power source for supplying power for sputtering between the electrodes 2 and 3, and oxygen gas is supplied together with argon gas.

このようにすることによシ、先に従来例で示した真空蒸
着と同じ反応が起こり、素材の表面に安定化ジルコニア
の薄膜を形成することができる。
By doing so, the same reaction as in the vacuum evaporation described above in the conventional example occurs, and a thin film of stabilized zirconia can be formed on the surface of the material.

なお、2価あるいは3価の金属の酸化物として酸化イツ
トリウムを用いたが、酸化イットリビウム(Y煽○、)
や酸化カルシウム(Cab)を用いても安定化ジルコニ
アを形成することが可能である。
Although yttrium oxide was used as the oxide of a divalent or trivalent metal, yttribium oxide (Y fan○,)
It is also possible to form stabilized zirconia using calcium oxide (Cab) or calcium oxide (Cab).

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

この発明によれば、基材表面罠均−な薄膜が形成される
ことになるので、産業上きわめて価値がある。
According to this invention, a uniform thin film can be formed on the surface of a substrate, and therefore it is extremely valuable industrially.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図は本発明に係わる一実施例を示す装置の横断図、
第2図は本発明に係わる他実施例を示す装置の横断図で
ある。第3図シよび第4図、 は従来の装置を示す説明
図である。 l・・・反応容器、2.3・・・電極、4・・・第1の
電源、5・・・コイル、6・・・第2の電源、7・・・
プラズマ反応ガス導入管、8・・・排気孔、9・・・真
空ポンプ、1o・・・基材。
FIG. 1 is a cross-sectional view of an apparatus showing an embodiment of the present invention;
FIG. 2 is a cross-sectional view of a device showing another embodiment of the present invention. FIGS. 3C and 4 are explanatory diagrams showing conventional devices. l... Reaction container, 2.3... Electrode, 4... First power source, 5... Coil, 6... Second power source, 7...
Plasma reaction gas introduction pipe, 8... Exhaust hole, 9... Vacuum pump, 1o... Base material.

Claims (6)

【特許請求の範囲】[Claims] (1)基材を収納する反応容器と、同基材を囲む同心円
上に該基材と平行に偶数本配置された電極と、これら電
極の隣の物同士の間にスパッタリング用電力を供給する
電源とを有し、上記基材外周面上に上記電極材料原子あ
るいは分子の薄膜を形成することを特徴とする成膜装置
(1) Power for sputtering is supplied between a reaction vessel containing a substrate, an even number of electrodes arranged parallel to the substrate on a concentric circle surrounding the substrate, and objects next to these electrodes. 1. A film forming apparatus comprising a power source and forming a thin film of atoms or molecules of the electrode material on the outer peripheral surface of the base material.
(2)基材を収納する反応容器と、同基材を囲む同心円
上に該基材と平行に偶数本配置された電極と、これら電
極の隣の物同士の間にスパッタリング用電力を供給する
電源と、上記電極を囲み該電極間に発生された電解と直
交する向きの磁界を発生させるコイルとを有し、上記基
材外周面上に上記電極材料原子あるいは分子の薄膜を形
成することを特徴とする成膜装置。
(2) Power for sputtering is supplied between the reaction vessel that houses the base material, an even number of electrodes arranged parallel to the base material on a concentric circle surrounding the base material, and the objects next to these electrodes. It comprises a power source and a coil that surrounds the electrode and generates a magnetic field in a direction perpendicular to the electrolysis generated between the electrodes, and forms a thin film of atoms or molecules of the electrode material on the outer peripheral surface of the base material. Characteristic film forming equipment.
(3)上記偶数の電極のひとつ置きのものが、安定化ジ
ルコニアで被覆されていることを特徴とする請求の範囲
(1)および(2)記載の成膜装置。
(3) The film forming apparatus according to claims (1) and (2), wherein every other electrode of the even number of electrodes is coated with stabilized zirconia.
(4)上記スパッタリング用電力が交流であることを特
徴とする請求の範囲(1)ないし(3)記載の成膜装置
(4) The film forming apparatus according to any one of claims (1) to (3), wherein the sputtering power is alternating current.
(5)基材を収納する反応容器と、同基材を囲む同心円
上に該基材と平行で交互に配置されるジルコニウム製電
極と2価あるいは3価金属の酸化物製電極と、これら隣
同士の電極間にスパッタリング用電力を供給する交流電
源と、上記反応容器内に酸素ガスを供給装置とを有し、
安定化ジルコニアの薄膜を上記基材外周面上に形成する
ことを特徴とする成膜装置。
(5) A reaction vessel containing a base material, zirconium electrodes and divalent or trivalent metal oxide electrodes arranged alternately on concentric circles surrounding the base material parallel to the base material, and adjacent to these electrodes. It has an AC power source that supplies power for sputtering between the electrodes, and a device that supplies oxygen gas into the reaction vessel,
A film forming apparatus characterized in that a thin film of stabilized zirconia is formed on the outer peripheral surface of the base material.
(6)上記電極が格子状あるいはハニカム状に並べられ
ており、格子あるいはハニカムの中心に基材が配置され
ていることを特徴とする請求の範囲(1)ないし(5)
項記載の成膜装置。
(6) Claims (1) to (5) characterized in that the electrodes are arranged in a grid or honeycomb, and the base material is placed at the center of the grid or honeycomb.
The film forming apparatus described in Section 1.
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5524039A (en) * 1978-08-09 1980-02-20 Matsushita Electric Works Ltd Drive portion remote controller of electric razor
JPS5837177A (en) * 1981-08-27 1983-03-04 Mitsubishi Metal Corp Spattering device

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5524039A (en) * 1978-08-09 1980-02-20 Matsushita Electric Works Ltd Drive portion remote controller of electric razor
JPS5837177A (en) * 1981-08-27 1983-03-04 Mitsubishi Metal Corp Spattering device

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