JPS63163278A - 紙の地合、特にワイヤ−マ−クの光学的測定法 - Google Patents

紙の地合、特にワイヤ−マ−クの光学的測定法

Info

Publication number
JPS63163278A
JPS63163278A JP30852686A JP30852686A JPS63163278A JP S63163278 A JPS63163278 A JP S63163278A JP 30852686 A JP30852686 A JP 30852686A JP 30852686 A JP30852686 A JP 30852686A JP S63163278 A JPS63163278 A JP S63163278A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
film
paper
image
measurement
wire
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP30852686A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0617905B2 (ja
Inventor
Keiji Hara
啓志 原
Takashige Yoshimura
隆重 吉村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
MISHIMA SEISHI KK
Mishima Paper Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
MISHIMA SEISHI KK
Mishima Paper Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by MISHIMA SEISHI KK, Mishima Paper Manufacturing Co Ltd filed Critical MISHIMA SEISHI KK
Priority to JP61308526A priority Critical patent/JPH0617905B2/ja
Publication of JPS63163278A publication Critical patent/JPS63163278A/ja
Publication of JPH0617905B2 publication Critical patent/JPH0617905B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は紙の地合の光学的測定法に関する。さらに詳し
くは、レーザー光を利用する紙の地合、特にワイヤーマ
ークの光学的測定法に関する。
〔従来技術〕
紙の地合とは紙を形成する繊維、填料等の分布状聾をい
うが、いわゆる紙の地合むらは質量(坪量)もしくは厚
さむらとしてあられれる。地合は紙の力学的性質、光学
的性質、印刷適性等と密接な関係があり、紙の品質の型
持性とされている。
地合むらのうち、ワイヤーマークと呼・ばれるものは抄
紙金網のメツシュ構造に起因し、微小な厚さ変動が規則
的に連続してあられれるので取引上問題となることが多
い。昔から紙の地合の良否やワイヤーマークを識別する
には紙を透かして見ろことが一般に行なわれているが、
客観的な評価は困難であった。地合を客観的に評価する
方法としては、たとえば以下の研究がなされている。即
ち、β線や軟X線を紙に照射して、その透過光を感光フ
ィルム上にとらえ、これを現像、定着して紙の質量分布
がa淡像として固定されたネガフィルム(以下、原図フ
ィルムという)を調製する。このフィルムの黒化度を光
学濃度計で測定し、その変動を坪量変動に変換して統計
的に処理し、地合を数量化ずろ方法である(β線につい
ては紙べ技協誌、第26巻第1号、P26〜P32、軟
X線については同第40巻第1号P85〜91)。
〔発明が解決しようとする問題点〕
前記の原図フィルムには、紙の厚さ方向の質量の大小が
全体として記録されているため、紙の大きな質量むら(
一般にいわれる地合むら)とワイヤーマークのような小
さな質量むらが重なって記録されている。従って前記の
測定方法では、地合むらを原因別に把握して地合の改善
をはかることは困難であった。
〔発明の目的〕
本発明は、光学的手段により第1に、紙のワイヤーマー
クを全体の質量分布成分のなかから分離する方法を提供
すること、第2に分離されたワイヤーマークの質量変動
を測定する方法を提供すること、第3に該ワイヤーマー
クを明瞭に再生する方法を提供することによって、紙の
地合改善に資することを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明者は、地合むらを紙のX、Y方向における質量の
二次元的変動としてとらえる手段につき種々研究を重ね
た結果、前記原図フィルム上の濃淡像を予め一定以上の
γ値(ガンマ−値)を有する感光フィルム上に接写撮影
し、得られたネガフィルム(以下、測定用フィルムとい
う)にレーザー光を照射して光学的二次元フーリエ変換
を行ない、通常の感光フィルム上に結像さD−るとワイ
ヤーマーク以外の質量分布の成分は、二次元フーリエ変
換像の中心部域に被検紙ごとに特有の拡がり (以下、
星雲という)をしって描き出され、ワイヤーマークは該
星雲の周辺に規則的に分布した多数のスポットとして描
き出されて、両成分が分離できることが判った。前記星
雲は大きな地合むら、換金すれば質量分布の長周期成分
を示す。この結果、前記多数のスポットについて、その
相対的位置(中心からの距離、角度等)、スポットの大
きさ、光学的濃度等を測定し、これらを統計的に処理す
ることにより、質量変動の強さ、周期性、方向性などが
求められることを見出し本発明に至った。
〔発明の構成〕
本発明は、被検紙にβ線またはX線または可視光線を照
射して、披倹祇の質量分布が濃淡像としてあらわされた
原図フィルムを調製した後、この濃淡像を前記原図フィ
ルムよりもγ値の高い感光フィルムに写しかえて測定用
フィルムを調製し、しかる後、所定の径に拡大されたレ
ーザービームを前記測定用フィルムに照射し、その透過
光を二次元フーリエ変換または二次元逆フーリエ変換せ
しめることを特徴とする紙の地合、特にワイヤーマーク
の光学的測定法に関する。
以下、本発明測定法を構成要素類に、実施例を挙げなが
ら詳細に説明する。
(原図フィルムの調製法) 本発明が特定する測定用フィルムは、前記したように原
図フィルムから再調製される。以下まず原図フィルムの
調製法について述べる。原図フィルムの調製法としては
、被検紙の質量変動が感光フィルム上に精度よく定着で
き、かつ、比較的大きな被検紙面積について調製できる
方法であれば制限はない。その方法としてβ線照射、X
線照射なとが知られており、また可視光を利用できる場
合らある。こ\ては本発明の実施に好適に用いることか
できた調製法の一例としてβ線密着写真法、および軟X
線写真法について概略を述べる。
■ β線密着写真法 β線源として放射線プラスチックシート、感光フィルム
としてX線フィルムを用いる前掲紙バ技協誌所載の方法
によれば、放射線プラスチックシートは英国原子力公社
制のもので、放射性同位元素14Cを含育するポリメタ
クリル酸メチルフィルム (4X 13CI11%密度
1.2g/cm1、ノートの放射能の強さ20μCi/
g)を用いることかできる。X線フィルムとしては富士
XレイフィルムRXシリーズ(商品名、富士写真フィル
ム製)、コダックス社製のクリスタレックス(Crys
tallePl等が利用できる。
β線の照射は放射線プラスチックシートとX線フィルム
との間に被検紙を挟み、密着してデシケータに入れ、2
0℃、65%RHの暗室内で所定時間照射し、以後指定
された原像液、定着液により現像、定着し乾燥する。
第1図は、被検紙としてモノブレンワイヤー(90メツ
ンユ)で抄紙された坪ff136g/m2の上質紙系薄
洋紙を50X 150mmの寸法に裁断し、前記の装置
を用いてβ線を72時間照射して得た原図フィルムの写
真を示す図である。第3図は被検紙として、トリプルワ
イヤー(65メツンユ)で抄紙された坪量36g/m’
の前記と同種の紙について得た原図フィルムの写真を示
す図である。両図とも規則的なワイヤーマークの存在が
認められる。
■ 軟X線写真法 高分解能のX線写真を撮影するためには波長の長い炊X
線を用いるのが有効である。以下に前掲祇パ技協誌に記
載されている方法につき、概要を述へる。軟X線発生装
置として5OFTEX−CMR型を用いる。被検紙の大
きさは90X 90mmとし、X線フィルムとしてフジ
ソフテゾクス0フィルムFG(分解能25μm)を使用
し、ターゲラトル試料面間距離21.5cm、管球電圧
6.0KVp、電流4.0mA、照射時間■ 3.0分とする。現像にはフジソフトールの2倍液を使
用し、液温20℃で10分間処理する。
第5図は被検紙として、トリプルワイヤー (65メソ
シユ)で抄紙された坪ff121g/m”の上質紙系薄
洋紙を90X 90mmの寸法に裁断し、前記の装置お
よび手順により軟X線を照射して得た原図フィルムの写
真を示す図である。ワイヤーマークが広範囲に存在する
ことが認められる。
(測定用フィルムの調製法) 抄紙金網はたとえばモノプレン織90メツシュ、トリプ
ル織65メツシュなどと呼ばれているように、金網の各
線条間の織り目は極めて小さい。そしてワイヤーマーク
はこの織り目に沈着した紙料と、各線条の重なり部分、
いわゆるナックル部分に沈積した紙料との質量差が現れ
たマークである。従ってγ値の低いX線フィルムからR
製した原図フィルムにレーザービームを照射しても、解
析可能な二次元フーリエ変換像をうろことは困難であっ
た。よって本発明では、原図フィルムの調製に用いたフ
ィルムよりもγ値が高いフィルムに濃淡像を写しかえて
測定用フィルムを調製する。このようにして得られたフ
ーリエ変換像はハーフトーンが可及的に除かれ、コント
ラストが強調されているので、ワイヤーマークに関する
特定データを得ることかはじめて可能となったものであ
る。また地合改簿のためには紙にあられれたワイヤーマ
ーク発現の周期性を知ることら重要であるから、被検紙
を可及的に太き(採ることが望ましい。逆に測定用フィ
ルムの大きさは小さい方が経済上、操作上とも望ましい
従ってi++定用フィルムとしては小さなスペースに多
くの情報量が盛られていることが必要で、この几めにも
原図フィルムより高いγ値の感光フィルムを用いること
が必須要件となる。前記したβ線写真法では、原図フィ
ルムの調製には富士XレイフィルムRXシリーズ(富士
写真フィルム製、γ値1.8〜3.2)を用い、この原
図フィルムを富士写真フィルム製ミニコピーフィルム 
(商品名、γ値3.7)を装置した1眼レフカメラで接
写撮影後、これを現像定着して測定用フィルムを調製し
、爾後これを用いて好結果が得られた。上記のように測
定用フィルムのγ値は相対的に定められるらのである。
なお、原図フィルムには一般にX線フィルムが用いられ
るので、測定用フィルムのγ値は上記条件を前提として
γ値2,0以上のものを用いることができ、3.0以上
が更?こ好ましい。
(フーリエ変換用装置の概要) 第6図は本発明測定法に用いるフーリエ変換用装置の一
例を示す概略図である。この装置はレーザー光源1、レ
ーザー光線を所定のビーム径に拡げるエキスパンダーレ
ンズ、たとえば顕微鏡用対物レンズ2、迷光やレンズ表
面のほこりなどによる回折光を除去するピンホール3、
拡げられたビームを平行線に変換するレンズ、いわゆる
クリメーターレンズ4、測定用フィルムをセットするボ
ルダ−5、フーリエ変換レンズ6、逆フーリエ変換レン
ズ7、面記各光学系の光軸を合イっせるための架台8か
ら構成されている。9は前焦点、10は後焦点である。
なお、ホルダー5はフーリエ変換レンズ6の後に位置し
てもよい。レーザー光源は最も簡便なIce−Neレー
ザー光源を用いることかでさる。照射は通常、測定用フ
ィルムの表面側に行なう。なお、この装置例では測定用
フィルムとして大きさ35mmX 23mmの前記ミニ
コピーフィルムを用い、レーザービームの直径は20〜
30mmの平行線に変換できるように各光学系を設計し
たから、この測定装置の手軽さが理解されよう。
(フーリエ変換像からワイヤーマークを測定する方法) 本発明測定法の原理を以下に述べる。いま均一な太さの
横線のみが等間隔に張られた金網を被写体モデルとして
原図フィルムを調製し、これから作られた測定用フィル
ムを用いてフーリエ変換像を得たとする。
このフーリエ変換像は参考図Aに示したように原点に0
次としてPO1原点を中心とした点対照の位置に1次と
してPいP7.2次としてP3、P。
等それぞれの象(スポット)がP。−P4を結んだ点線
上に在るように形成される。この原図フィルムには金網
のみ即ち短周期成分のみが現わされ、長周期成分は存在
しないから、そのフーリエ変換像には前記した星雲は存
在しない。以上のことから該点線と直交する規則的パタ
ーン(参考図Bの実線)が原図フィルムに含まれている
ことが判るため、角度0を測定することにより該規則的
パターンの方向性が求められる。次に1次の点、2次の
点は0次の点を中心とした同心円上にでき、POPI=
PQPt=PIP3=P2P、=a  −(1)の関係
になること、および原図の規則的な繰り退し間隔dが倍
に広くなればP。P、はa/2となり、繰り返し間隔が
半分となればP。Plは2aとなることが知られている
からP。P、を測定する。
これによって規則的パターンの操り返し間隔即ち被写体
モデルの横線間隔を特定できる。
実際の抄紙金網の構造は縦、横の線条から成り、さらに
単線、より線などが用いられているから参琴図Aに示し
た原点P。を通る点線は少なくとも2以上となる。また
被検紙についてのフーリエ変換像には星雲も存在する、
第2図は第1図の原図フィルム (坪ffi 36g、
モノブレンワイヤー90メツツユ抄造)−測定用フィル
ムを用いたフーリエ変換像の写真を示す図、第4図は第
3図の原図フィルム (坪fi 36[i、トリプルワ
イヤー65メツシユ抄造)−測定用フィルムを用いたフ
ーリエ変換像の写真を示す図である。各フーリエ変換像
は第6図の9の位置でネオパ?5S(7値0,6)を用
いて撮影しfコ。第1図と第3図、第2図と第4図はそ
れぞれ同じ倍率である。これらを比較すると同種の紙で
あっても抄紙したワイヤーの種類によって、星雲の現わ
れ方、スポットの相対的位置、スポットの大きさ、スポ
ットの光学的濃度等がそれぞれ特徴的であることが判る
。図示してはいないが、第5図の原図フィルム (坪f
fi 21g/m’、トリプルワイヤー65メソンユ抄
造)−測定用フィルムから得たフーリエ変換像は、坪m
 h< zJsさいこともあり上記のものとは更に異な
る特徴を有していた。これらの各フーリエ変換像につき
、前記参考図で説明した手法により、各々の点線上の成
分につき角度θおよび繰り返し間隔P。P、を測定する
ことにより被検紙にあられれたワイヤーマークの態様を
測定することができる。なお、光学的濃度の大小は特定
位置のワイヤーマークの強さなどをあられすがJIS 
Z 8120に塾拠して測定することができる。
本発明測定法を工業上簡易に利用する手段としては予め
繰り返し間隔の判っている市販の各種のワイヤーについ
て、そのフーリエ変換像を作成すること、前記のように
各種の紙についてフーリエ変換像を作成すること、これ
らのP。Pl、θ、光学的濃度、大きさ等を測定してお
くこと等によって法学図表を作成し、これらと被検紙の
フーリエ変換像を対比させてワイヤーマークの態様を検
印することか望ましい。このようにすればワイヤーマー
ク以外の規則的成分が存在する場合にもその発見、分離
が可能となる。
被検紙についてのフーリエ変換像には前記したように長
周期成分をあられす星雲と、短周期成分(規則的成分)
をあられすスポットとかあられれるが、この星雲のみを
除いて、スポットを示す回折光だけを通過するような空
間フィルターを第6図、第7図の9の位置において逆フ
ーリエ変換させると原図中の、即ち被検紙にあらつれf
こワイヤーマークを鮮明に再生することかて玉る。
本発明測定法と構成の一部が異なるが、同一の効果を示
すものとして、次に述べる方法を提示することができる
。即ち、走査電子顕微鏡、光学顕微鏡等を用い、被検紙
表面を撮影して、表面の凹凸分布が反射映像としてあら
わされたものを原図フィルムとして用いること、または
触針式粗さ試験器を用いて被検紙の断面形状を粗さ曲線
として描き、これを濃淡像におきかえてフィルム上にあ
られし京図フィルムとして用い、以後の手順を本発1j
ll測定法と同様に行なう測定法である。本発明測定法
に用いる原図フィルム上の濃淡像が、被検紙の質量分布
を示すのに対し、上記の場合には表面の祖さ分布を示す
点が異なるが、二次元フーリエ変換によりワイヤーマー
ク成分を分離、測定することができる点は同様である。
〔発明の効果〕
本発明測定法は以下に述べる効果を存する。
1、本発明測定法は全体の質量変動のうちワイヤーマー
クのような規則的成分の変動を分離して解析するから、
地合の変動に対して原因別にχ・を処しやすい。
2、ワイヤーマークの変動の強さ、周期性、方向性まで
ら含めて測定することができるから、紙の生産現場に直
接応用することができる。
3、逆フーリエ変換により得られるワイヤーマークの再
生像は、写真により従業者に理解されやすいから技術指
導に用いうる。
【図面の簡単な説明】
第1図はβ線密着写真の一例を示す質量分布図(原図)
、第2図はそのフーリエ変換像の写真を示す図面、第3
図はβ線密着写真の他の一例を示す質量分布図(原図)
、第4図はそのフーリエ変換像の写真を示す図、第5図
は炊X線写真法による質量分布図(原図)、第6図は本
発明測定法に用いる装置の一例を示す概略図である。 1・・レーサー光源、2 ・エキスパンダーレンズ、3
・・ピンホール、4・−コリメーターレンズ、5 ・を
測定用フィルムのホルダー、6 ・フーリエ変換レンズ
、7・・逆フーリエ変換レンズ、8・架台、9・・面塩
点、 IO・・・後焦点。 事 1 図 ←−・1o1鷲− 隼 2回 第 31 秦夕 図 手続補正書(方式) %式% 1、事件の表示 昭和61年特許願第308526号 2、発明の名称 紙の地合、特にワイヤーマークの光学的測定法3、補正
をする者 事件との関係  特許出願人 郵便番号  417 4、補正命令の日付  昭和62/iE3月4日(発送
日 昭和62年3月31日) 5、補正の対象 明細書の「図面の簡単な説明」の欄 (1)明細書第16頁第8行のあとに、改行して次の文
を加入する。 「第1図ないし第4図は凝集した繊維の形状に関する。 」 (2)明細書第16頁第9行〜第1O行および同書同頁
第12行の 「質量分布図(原図)、」を 「質量分布写真(原図の写真)、」と補正する。 (3)明細書第16頁第10行〜第11行の「写真を示
す図面、」を 「写真、」と補正する。 (4)明細書第16頁第13行の 「写真を示す図、」を 「写真、」と補正する。 手続補正書(方式) %式% 1、事件の表示        ゛ 昭和61年特許類第308526号 2、発明の名称 款の地合、特にワイヤーマークの光学的測定法3、補正
をする者 事件との関係  特許出願人 郵便番号  417 住 所   静厨県富士市原田506番地4、補正命令
の日付 令殆箱′上 5、補正の対象    、 明at書の「発明の詳細な説明」の欄 「1凹面の藺導48か月」の7閏 C9狛LLv内容 (υ 明、袷書の下よ乙曾+:r$糞さ、子、す回」と
ありξ「写i、!]と補正する。 峯7曾 峯よ付、 第7($8行。 第 3 曾   第 5 イブ 。 第 +2  匂   二51 丁 才子。 勇ら I 3 只   第 2  fi〜133 イブ
。 (21B月系田」「茅 I C役 9ト 13 行〜第
 1 今 行 0き。 「第5図は旦1し人繊維の漱S←線S濃法);1;16
質量か今写真(原)コの3真〕、」し持工する。 手  続  補  正  書 昭和63年3り//日

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 被検紙にβ線またはX線または可視光線を照射して、被
    検紙の質量分布が濃淡像としてあらわされた原図フィル
    ムを調製した後、この濃淡像を前記原図フィルムよりも
    γ値の高い感光フィルムに写しかえて測定用フィルムを
    調製し、しかる後、所定の径に拡大されたレーザービー
    ムを前記測定用フィルムに照射し、その透過光を二次元
    フーリエ変換または二次元逆フーリエ変換せしめること
    を特徴とする紙の地合、特にワイヤーマークの光学的測
    定法。
JP61308526A 1986-12-26 1986-12-26 紙のワイヤーマークの光学的測定法 Expired - Lifetime JPH0617905B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61308526A JPH0617905B2 (ja) 1986-12-26 1986-12-26 紙のワイヤーマークの光学的測定法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61308526A JPH0617905B2 (ja) 1986-12-26 1986-12-26 紙のワイヤーマークの光学的測定法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63163278A true JPS63163278A (ja) 1988-07-06
JPH0617905B2 JPH0617905B2 (ja) 1994-03-09

Family

ID=17982091

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP61308526A Expired - Lifetime JPH0617905B2 (ja) 1986-12-26 1986-12-26 紙のワイヤーマークの光学的測定法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0617905B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015083505A1 (ja) * 2013-12-03 2015-06-11 株式会社イシダ 近赤外線検査装置

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57175903A (en) * 1981-03-31 1982-10-29 Philips Nv Object inspecter
JPS58113842A (ja) * 1981-12-28 1983-07-06 Japan Atom Energy Res Inst ラジオグラフィー装置
JPS59177028A (ja) * 1983-03-29 1984-10-06 株式会社島津製作所 Nmr断層像撮影方法
JPS59221637A (ja) * 1983-05-31 1984-12-13 Ricoh Co Ltd Mtf測定装置
JPS61184444A (ja) * 1985-02-12 1986-08-18 Nippon Atom Ind Group Co Ltd 同時ラジオグラフイ−

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57175903A (en) * 1981-03-31 1982-10-29 Philips Nv Object inspecter
JPS58113842A (ja) * 1981-12-28 1983-07-06 Japan Atom Energy Res Inst ラジオグラフィー装置
JPS59177028A (ja) * 1983-03-29 1984-10-06 株式会社島津製作所 Nmr断層像撮影方法
JPS59221637A (ja) * 1983-05-31 1984-12-13 Ricoh Co Ltd Mtf測定装置
JPS61184444A (ja) * 1985-02-12 1986-08-18 Nippon Atom Ind Group Co Ltd 同時ラジオグラフイ−

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2015083505A1 (ja) * 2013-12-03 2015-06-11 株式会社イシダ 近赤外線検査装置
JPWO2015083505A1 (ja) * 2013-12-03 2017-03-16 株式会社イシダ 近赤外線検査装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0617905B2 (ja) 1994-03-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Rogers XIV.—experiments in diffraction microscopy
JPS63163278A (ja) 紙の地合、特にワイヤ−マ−クの光学的測定法
Wilson et al. Structure of a sunspot: V: What is the Wilson effect?
DE3020022A1 (de) Verfahren und einrichtung zur pruefung optischer abbildungssysteme
Welberry Routine recording of diffuse scattering from disordered molecular crystals
Baker Status of OTF in 1970
Jones On the Theory of Tone Reproduction, with a Graphic Method for the Solution of Problems
Erales et al. A study of the quality of duplicated radiographs
Higgins et al. The role of resolving power and acutance in photographic definition
van Staalduinen et al. Comparing X-ray and backlight imaging for paper structure visualization
JPH0480637A (ja) シート材料のムラの評価方法及びそのための評価システム
Holister et al. Telecentric systems for moire analysis: Authors undertake study of the basic optical principles underlying the observed characteristics of a telecentric system
Wan Optics for large telescope
Smith The measurement of RMS granularity of black and white photographic materials using a visual comparison technique
Deb et al. Measuring wavelength of laser beam using single slit diffraction: a simple but precise experiment using webcam and ImageJ software
Doi et al. 4. Measurement of MTFs of Radiographic Screen-Film Systems
Forno Moiré methods in strain measurement
Emara Comparison of lens response for sinusoidal and square-wave targets at several focal positions
Grum Modification and use of a Michelson interferometer to produce variable frequency sine wave patterns.
Collins et al. Transfer of resolution in the production of orthophotos
SU1132205A1 (ru) Устройство дл рентгеновской топографии монокристаллов
Wilson et al. Structure of a sunspot
Samei The performance of digital X-ray imaging systems in detection of subtle lung nodules
Glab et al. A method of calibrating a photo optical system for determining spatial relationships
CN110411983A (zh) 一种高分辨率衍射成像方法及装置