JPS63163202A - 精度検査用ブロツク - Google Patents
精度検査用ブロツクInfo
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- JPS63163202A JPS63163202A JP30830286A JP30830286A JPS63163202A JP S63163202 A JPS63163202 A JP S63163202A JP 30830286 A JP30830286 A JP 30830286A JP 30830286 A JP30830286 A JP 30830286A JP S63163202 A JPS63163202 A JP S63163202A
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- axis
- measurement point
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- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims abstract description 19
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 88
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 4
- 239000011295 pitch Substances 0.000 description 13
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 2
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 2
- 241000861914 Plecoglossus altivelis Species 0.000 description 1
- 229910000831 Steel Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
- 239000010959 steel Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Length-Measuring Instruments Using Mechanical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の目的〕
（産業上の利用分野）
本発明は三次元測定機などの精度検査に好適な精度検査
用ブロックに関する。
用ブロックに関する。
（従来の技術）
従来三次元測定機のＸ軸、Ｙ軸およびＺ軸の寸法測定；
Ｆ↓差を検査するときには、プロックゲ−ジなどを用い
て行なわれる。これを第１４図により略述すると、（１
）は三次元測定機で、プローブ（２）はＹ軸方向、Ｙ軸
方向およびＺ軸方向に案内移動され、プローブ（２）の
接触により測定がなされる。測定誤差を検査するときに
は、ブロックゲージ（３）、（４）。
Ｆ↓差を検査するときには、プロックゲ−ジなどを用い
て行なわれる。これを第１４図により略述すると、（１
）は三次元測定機で、プローブ（２）はＹ軸方向、Ｙ軸
方向およびＺ軸方向に案内移動され、プローブ（２）の
接触により測定がなされる。測定誤差を検査するときに
は、ブロックゲージ（３）、（４）。
（５）を測定すべき各軸方向に沿ってほぼ平行に載置し
、これらブロックゲージ（３） 、 （４） 、 （５
］の両端間の長さを測って、ブロックゲージ（３）、
（４）、 （５）の真の値と比較して、その測定誤差が
検出される。なお、これらブロックゲージ（３，１，（
４）、 （５）は正確に測定軸に沿って載置されなくて
も、軸方向の２点の測定値を入力すると、付属のコンビ
エータにより傾きの誤差は修正されて、平行に載置した
ときの測定値が直接表示される。
、これらブロックゲージ（３） 、 （４） 、 （５
］の両端間の長さを測って、ブロックゲージ（３）、
（４）、 （５）の真の値と比較して、その測定誤差が
検出される。なお、これらブロックゲージ（３，１，（
４）、 （５）は正確に測定軸に沿って載置されなくて
も、軸方向の２点の測定値を入力すると、付属のコンビ
エータにより傾きの誤差は修正されて、平行に載置した
ときの測定値が直接表示される。
またＸ軸とＹ軸との直角度の誤差測定に際しては、第１
５図に示すように、直角定規（６）を用いて測定してい
る。第１６図はＸ軸とＺ軸との直角度の測定の場合を示
し、第１７図はＹ軸とＺ軸との場合を示す。
５図に示すように、直角定規（６）を用いて測定してい
る。第１６図はＸ軸とＺ軸との直角度の測定の場合を示
し、第１７図はＹ軸とＺ軸との場合を示す。
上述のような方法で三次元測定機の寸法測定誤差および
直角性誤差の検査を行なう場合には、それぞれ検査項目
に合った検査器具（ブロックゲージおよび直角定規）を
使用しなければならない。
直角性誤差の検査を行なう場合には、それぞれ検査項目
に合った検査器具（ブロックゲージおよび直角定規）を
使用しなければならない。
そしてこれらの検査器具は絶体寸法および形状積度が公
設機関およびメーカによって校正されている標準器で、
基準となるため、一般のものと比較して高精度であり、
非常に高価である。そのだめこのような高価なものを各
使用者が購入保管するのは経費の点で問題があり、また
、これを使用者側が自ら製作することは技術的に困難で
あるという不都合がある。
設機関およびメーカによって校正されている標準器で、
基準となるため、一般のものと比較して高精度であり、
非常に高価である。そのだめこのような高価なものを各
使用者が購入保管するのは経費の点で問題があり、また
、これを使用者側が自ら製作することは技術的に困難で
あるという不都合がある。
（発明が解決しようとする問題点）
上述したように、三次元測定機のような高（３度な測定
機や三軸送りの工作機械などのｌｆ１＋］定誤差や送り
誤差の検出には非常に高価な測定器具が必要で、これら
の装置の維持管理には多項な費用と熟練が必要であると
いう不都合がある。
機や三軸送りの工作機械などのｌｆ１＋］定誤差や送り
誤差の検出には非常に高価な測定器具が必要で、これら
の装置の維持管理には多項な費用と熟練が必要であると
いう不都合がある。
本発明は、上述の不都合を除去するためになされたもの
で、安価に入手でき、しかも従来の標準器を用いた場合
と同等な精度で三軸間の直角性誤差２よび各軸の測定誤
差が測定できる精度検査用ブロックを提供することを目
的とする。
で、安価に入手でき、しかも従来の標準器を用いた場合
と同等な精度で三軸間の直角性誤差２よび各軸の測定誤
差が測定できる精度検査用ブロックを提供することを目
的とする。
（問題点を解決するための手段と作用）本発明は三次元
測定機または三軸送り加工装置のＸ軸、Ｙ軸およびＺ軸
の各軸間の直角性誤差および各軸の寸法測定誤差を検査
する精度検査用ブロックであって、 第１基準平面およびこれに直角な第２基準平面および上
記第１基準平面をＸＹ軸平面に平行に支持するための第
１支持面および上記第１基準平面をＸＺ軸平面またはＹ
Ｚ軸平面に平行に支持するための第２支持面および上記
第２基迩平面をＸＹ軸平面に平行に支持するための第３
支持面を有するブロック本体と、 上記第１基準平面上に設定された第１測定点および上記
第１基準平面上に設定されかつ上記第１測定点を通り上
記第２基準平面に平行な直線上に上記第１測定点から離
間した第２測定点および上記第１基準平面上に設定され
かつ上記第１測定点を通り上記直線に直角な直線上に上
記第１測定点から離間した第３測定点を有する測定点部
とを具備したことを特徴とする梢度検互用ブロックであ
る。
測定機または三軸送り加工装置のＸ軸、Ｙ軸およびＺ軸
の各軸間の直角性誤差および各軸の寸法測定誤差を検査
する精度検査用ブロックであって、 第１基準平面およびこれに直角な第２基準平面および上
記第１基準平面をＸＹ軸平面に平行に支持するための第
１支持面および上記第１基準平面をＸＺ軸平面またはＹ
Ｚ軸平面に平行に支持するための第２支持面および上記
第２基迩平面をＸＹ軸平面に平行に支持するための第３
支持面を有するブロック本体と、 上記第１基準平面上に設定された第１測定点および上記
第１基準平面上に設定されかつ上記第１測定点を通り上
記第２基準平面に平行な直線上に上記第１測定点から離
間した第２測定点および上記第１基準平面上に設定され
かつ上記第１測定点を通り上記直線に直角な直線上に上
記第１測定点から離間した第３測定点を有する測定点部
とを具備したことを特徴とする梢度検互用ブロックであ
る。
すなわち、本精度検査用ブロックは、第１測定点を直角
の頂点とする直角三角形の各頂点に各測定点を配置し、
測定されるべき２・袖の一方の軸にほぼ平行に第１測定
点と７Ｊ ２０１Ｊ定点とを配置して各測定点間のピッ
チを測定し、次にこれを９０夏回転させて再び各測定点
間のピッチを測定し、９０度可回転より生ずる対応側足
点間のピッチの差により、各軸の寸法測定誤差および両
軸間の直角度の誤差を算出するものである。また、各測
定点間のピッチは任意であり、直角度も高イｎ度に形成
する必要はないので、ブロフクは極めて安価である。
の頂点とする直角三角形の各頂点に各測定点を配置し、
測定されるべき２・袖の一方の軸にほぼ平行に第１測定
点と７Ｊ ２０１Ｊ定点とを配置して各測定点間のピッ
チを測定し、次にこれを９０夏回転させて再び各測定点
間のピッチを測定し、９０度可回転より生ずる対応側足
点間のピッチの差により、各軸の寸法測定誤差および両
軸間の直角度の誤差を算出するものである。また、各測
定点間のピッチは任意であり、直角度も高イｎ度に形成
する必要はないので、ブロフクは極めて安価である。
また、測定に際しての位１決めも公知の補正手段を用い
ればよいので、高精度な位置決めは全く不要で、補正も
コンビエータの使用により瞬時になされる８ｒのもので
ある。
ればよいので、高精度な位置決めは全く不要で、補正も
コンビエータの使用により瞬時になされる８ｒのもので
ある。
なお、直角度測定の原理を第９図により説明する。面角
度は、２軸（例えばｘ拗とＹ軸）に対してそれぞれ４５
度の角度をなし、互いに直交する２つのピッチの差から
求める。いｇ、ＸＹ軸軸面面内て孔の中心ａ。＋ ａｌ
＋ Ｊがあり、説明を容易にするため中心ａ０はＸ軸
上に、中心ａＩ ＋ ３１はＸ軸上にあり、その座標は
、ａｏ（０，ｙ）、 ａ、（−ｘ、 ｏ）、 ａｔ（Ｘ
＋ ｏ）である（ただしｘ＝ｙ ）。実際の三次元測定
機が面角度うぶψだけ、狂っていたために、Ｙ軸がＹ′
軸になったとする。従って三次元測定機は３０点の座標
をａｌ（ム、ｙ）とΔＸだけ＋Ｘ側に測定する。理想的
なＸＹＹ標系ではＰ、 ＝ Ｐ！＝ Ｊコヨ；）巧−で
ある。しかし鮎νこはＹ軸がψだけ傾いているため、”
ｔ＝ （ｘ＋ｍｘ）＋ｙ”。
度は、２軸（例えばｘ拗とＹ軸）に対してそれぞれ４５
度の角度をなし、互いに直交する２つのピッチの差から
求める。いｇ、ＸＹ軸軸面面内て孔の中心ａ。＋ ａｌ
＋ Ｊがあり、説明を容易にするため中心ａ０はＸ軸
上に、中心ａＩ ＋ ３１はＸ軸上にあり、その座標は
、ａｏ（０，ｙ）、 ａ、（−ｘ、 ｏ）、 ａｔ（Ｘ
＋ ｏ）である（ただしｘ＝ｙ ）。実際の三次元測定
機が面角度うぶψだけ、狂っていたために、Ｙ軸がＹ′
軸になったとする。従って三次元測定機は３０点の座標
をａｌ（ム、ｙ）とΔＸだけ＋Ｘ側に測定する。理想的
なＸＹＹ標系ではＰ、 ＝ Ｐ！＝ Ｊコヨ；）巧−で
ある。しかし鮎νこはＹ軸がψだけ傾いているため、”
ｔ＝ （ｘ＋ｍｘ）＋ｙ”。
Ｐｘ＝ｑ玉−；丁茫戸；３巧−となってＰ（〉Ｐ；とな
る。（図では反対に示される） （実施例） 以下、３発明の詳ｍｔ第１図ないし第１３図に示す一実
施例により説明する。
る。（図では反対に示される） （実施例） 以下、３発明の詳ｍｔ第１図ないし第１３図に示す一実
施例により説明する。
ｔｉｌｌは立方体で形成されたブロック本体で、鋼で作
られている。これら正方形からなる６面の中、主に使用
するのは第１基準平面０と、これに隣設した第２基準乎
ｔｆｓｊ Ｑ３１とであって、その他県１眉了（礪平面
α力に平行な第１支持面Ｑ４１と、第１基準平ｉ’ｆｉ
ｒＱ２１と第２基準平面（１３）とに隣接した第２支持
面（Ｊ９と、第２基準平面（１３１に平行な第３支持面
（１（ｉ）などを使用する。第１基準平ｔｆｆｉＱ２ｉ
上には、３個の円孔からなる測定孔ｕｓ、 （１’３．
（２０が形成されていて、これらの中心は第１測定点
１２１）、第２測定点の、第３測定点ｔ２３１からなる
測足点＃（至）を構成している。これら３個の測定点Ｃ
ＪＩ）、１２’Ｊ、■の位置関係は、第１測定点Ｃυを
通り第２基準千而０３）に平行な直線１２つ上に第２測
定点１２３があり、また、第１測定点Ｉ２υを通り直Ｎ
１２５１に直角な直１線（イ）上に第３測定点（ハ）
が位置している。
られている。これら正方形からなる６面の中、主に使用
するのは第１基準平面０と、これに隣設した第２基準乎
ｔｆｓｊ Ｑ３１とであって、その他県１眉了（礪平面
α力に平行な第１支持面Ｑ４１と、第１基準平ｉ’ｆｉ
ｒＱ２１と第２基準平面（１３）とに隣接した第２支持
面（Ｊ９と、第２基準平面（１３１に平行な第３支持面
（１（ｉ）などを使用する。第１基準平ｔｆｆｉＱ２ｉ
上には、３個の円孔からなる測定孔ｕｓ、 （１’３．
（２０が形成されていて、これらの中心は第１測定点
１２１）、第２測定点の、第３測定点ｔ２３１からなる
測足点＃（至）を構成している。これら３個の測定点Ｃ
ＪＩ）、１２’Ｊ、■の位置関係は、第１測定点Ｃυを
通り第２基準千而０３）に平行な直線１２つ上に第２測
定点１２３があり、また、第１測定点Ｉ２υを通り直Ｎ
１２５１に直角な直１線（イ）上に第３測定点（ハ）
が位置している。
第１測定点シυと第３測定点のとの間の距離（ピッチと
称す）Ｐｌと第１測定点しυと第２測定点りとのピッチ
Ｐ！とは等しくなっている。すなわち、第２測定点＠と
第３測定点（ハ）とのピッチをＰ３とすると、３測定点
Ｃυ、 Ｃ！ａ、 ！２騰は第１測定点０１１を直角の
頂点とする２等辺直角三角形の各頂点に位置していて、
Ｐ、ｌＩ＋Ｐ：＝Ｐ：（但しＰ＋ ＝ Ｐｚ ）の関係
にあり、−辺（ハ）は第２基準平面（１３）に平行であ
り、他辺（至）は第２基準平面（ＩＪに直角である。
称す）Ｐｌと第１測定点しυと第２測定点りとのピッチ
Ｐ！とは等しくなっている。すなわち、第２測定点＠と
第３測定点（ハ）とのピッチをＰ３とすると、３測定点
Ｃυ、 Ｃ！ａ、 ！２騰は第１測定点０１１を直角の
頂点とする２等辺直角三角形の各頂点に位置していて、
Ｐ、ｌＩ＋Ｐ：＝Ｐ：（但しＰ＋ ＝ Ｐｚ ）の関係
にあり、−辺（ハ）は第２基準平面（１３）に平行であ
り、他辺（至）は第２基準平面（ＩＪに直角である。
また、この第１基準平面αΔ上には基準平面を決定する
ための丸印の基準平面用マーク（至）、ｅａ＋、（２１
１９が電気ペンなどによりマーキングされていて、同様
に、第２基準平面囮上には、２個の軸補正マーク！２９
）ｉ９）がマーキングされている。なお、本実施例にお
いては、Ｐｌ ” Ｐ２ ＝ １０６ ｒｎｒｘであり
、Ｐｓ＝１５０門になっている。
ための丸印の基準平面用マーク（至）、ｅａ＋、（２１
１９が電気ペンなどによりマーキングされていて、同様
に、第２基準平面囮上には、２個の軸補正マーク！２９
）ｉ９）がマーキングされている。なお、本実施例にお
いては、Ｐｌ ” Ｐ２ ＝ １０６ ｒｎｒｘであり
、Ｐｓ＝１５０門になっている。
次に、上述の精度検査用ブロック圓を用いて、三次元測
定機の各鋤の寸法測定誤差および面角度を検査した場合
につき説明する。
定機の各鋤の寸法測定誤差および面角度を検査した場合
につき説明する。
三次元測定機（１）はＸ軸案内部６υ、Ｙ軸案内部Ｃ３
２゜Ｚ＠案内部Ｑを具えていて、Ｚ軸案内部（至）下端
に取付けられたプローブ（３由を三次元的に移動させ、
定盤（ト）上の被測定物に接触させて測定する。本検査
用ブロックＩ３υは第２図に示すように定盤Ｃ３Ｓ上に
載置して検査を行なう。検査項目は三軸の寸法測定誤差
および三軸間の面角度で、具体的にはＹ軸とＹ軸、Ｙ軸
とＺ軸およびＹ軸とＺ軸の三通りある。
２゜Ｚ＠案内部Ｑを具えていて、Ｚ軸案内部（至）下端
に取付けられたプローブ（３由を三次元的に移動させ、
定盤（ト）上の被測定物に接触させて測定する。本検査
用ブロックＩ３υは第２図に示すように定盤Ｃ３Ｓ上に
載置して検査を行なう。検査項目は三軸の寸法測定誤差
および三軸間の面角度で、具体的にはＹ軸とＹ軸、Ｙ軸
とＺ軸およびＹ軸とＺ軸の三通りある。
まず、Ｙ軸とＹ＠につき述べる。検査ブロック６υは第
３図に示すように、第１支持面Ｉを定盤Ｃ９に密着させ
て、第１基準平面０２をＺ軸に対し直角に、すなわち上
向きに、かつ第２基準千而ｕ３）が測定機（１）のＹ軸
とほぼ平行になるように位置決めする。次に測定機（１
）のグローブ（ロ）により第１基準平面（Ｌ７Ｊの基準
平面用マーク（２）、・・・をプロービングして、基準
平面を決定する。次に第２基準平面ｕ３の軸補正マーク
ツ、ζ１をプロービングした２１所の点を結んだ直線が
Ｙ＠と平行になるように調整する。このように位置決め
してから第１基準平面（１カの第１測定孔α騰、第２測
定孔Ｕ→、第３測定孔憐を寸法測定し、付属のコンピュ
ータに入力処理し、それぞれの中心位置、すなわち第１
測定点Ｃ］）、第２測定点ｃ２つ、第３測定点（ハ）の
ＸＹ実座標得られる。
３図に示すように、第１支持面Ｉを定盤Ｃ９に密着させ
て、第１基準平面０２をＺ軸に対し直角に、すなわち上
向きに、かつ第２基準千而ｕ３）が測定機（１）のＹ軸
とほぼ平行になるように位置決めする。次に測定機（１
）のグローブ（ロ）により第１基準平面（Ｌ７Ｊの基準
平面用マーク（２）、・・・をプロービングして、基準
平面を決定する。次に第２基準平面ｕ３の軸補正マーク
ツ、ζ１をプロービングした２１所の点を結んだ直線が
Ｙ＠と平行になるように調整する。このように位置決め
してから第１基準平面（１カの第１測定孔α騰、第２測
定孔Ｕ→、第３測定孔憐を寸法測定し、付属のコンピュ
ータに入力処理し、それぞれの中心位置、すなわち第１
測定点Ｃ］）、第２測定点ｃ２つ、第３測定点（ハ）の
ＸＹ実座標得られる。
これによりピップＰ、、Ｐ、、Ｐ、に対応した測定ｆｌ
ｉＰｔ。
ｉＰｔ。
Ｐ、、Ｐ、が得られる。
次に第４図に示すように、第１基準平面ａ力が、上向き
で、第２基準平面Ｕが測定戦（１）のＹ軸とほぼ平行に
なるように位置決めをし、グローブ（３ｉによＩ）曳’
Ｎ １基阜而Ｕわの基準平面用マーク轍、・・・をプロ
ービングして基準平面を決定しくコンピュータ・み ’ｇ［） 、次ニｍ ２−１１！ｉｉ”ＡＩ］１ＩＴ（
１：ｕのｕＪｌ ；ｒ＋ｉ正マークＣＩ’ｊＪ、Ｇ２Ｊ
ｔ全プロービングした２箇所の点を結んだ直線がＸＩ＋
１と平行になるように調整する。そして上述と同様に６
１１１定孔（１８）、 ｆｌ’ｓ、 畑を測定して第１
測定点ｃｌｉ）、第２ ｄ！’、１定点（２Ｊ、第３８
ｉ１１宇点シ、３Ｊの座標を求め、ピッチＰ１・Ｐ２・
Ｐ３に対応した測定値Ｐ、 、 Ｐ２． Ｐ、を得る。
で、第２基準平面Ｕが測定戦（１）のＹ軸とほぼ平行に
なるように位置決めをし、グローブ（３ｉによＩ）曳’
Ｎ １基阜而Ｕわの基準平面用マーク轍、・・・をプロ
ービングして基準平面を決定しくコンピュータ・み ’ｇ［） 、次ニｍ ２−１１！ｉｉ”ＡＩ］１ＩＴ（
１：ｕのｕＪｌ ；ｒ＋ｉ正マークＣＩ’ｊＪ、Ｇ２Ｊ
ｔ全プロービングした２箇所の点を結んだ直線がＸＩ＋
１と平行になるように調整する。そして上述と同様に６
１１１定孔（１８）、 ｆｌ’ｓ、 畑を測定して第１
測定点ｃｌｉ）、第２ ｄ！’、１定点（２Ｊ、第３８
ｉ１１宇点シ、３Ｊの座標を求め、ピッチＰ１・Ｐ２・
Ｐ３に対応した測定値Ｐ、 、 Ｐ２． Ｐ、を得る。
上述の結果からＹ軸とＹ＠については、ピッチＸ軸とＹ
軸の寸法４（１１定誤差が判る。またピッチＰ。
軸の寸法４（１１定誤差が判る。またピッチＰ。
とＰ３とを比較すれば直角度の誤差が判る。これは一般
公知の手段なので、実施例の場合を第１２図お、よび餓
１３図を参照して略述する。
公知の手段なので、実施例の場合を第１２図お、よび餓
１３図を参照して略述する。
ここで、ψ：ＸＹ軸の直角度の狂い〔ｒａｄ〕、２角度
？ε〔μｍ〕とすると、 δ＝ Ｐ３− Ｐ３＝ （Ｐ、 ＋ Ｐｔ ）ψｃｏｓ
−２より いま、Ｐ、 ＝ １０６ Ｘ １０’ Ｃ／４ｍ）より
＝ １．９５ε〔秒〕 以下、Ｙ軸とＺ軸については第５図および第６図、Ｙ軸
とＺ軸については第７図および第８図に示すように位置
決めを行ない、上述のＸ４ｔｂ、Ｙｔｉ市と同じ方法で
測定すればよい。
？ε〔μｍ〕とすると、 δ＝ Ｐ３− Ｐ３＝ （Ｐ、 ＋ Ｐｔ ）ψｃｏｓ
−２より いま、Ｐ、 ＝ １０６ Ｘ １０’ Ｃ／４ｍ）より
＝ １．９５ε〔秒〕 以下、Ｙ軸とＺ軸については第５図および第６図、Ｙ軸
とＺ軸については第７図および第８図に示すように位置
決めを行ない、上述のＸ４ｔｂ、Ｙｔｉ市と同じ方法で
測定すればよい。
なお、本実施例は三次元測定機の場合を例に述べたが、
三軸の送りをもった工作機械などの加工機械の場合でも
よい。またブロック本体は、立方体で構成したが、これ
に限らず、各支持部を球面で形成して適宜固定する手段
を併用してもよい。
三軸の送りをもった工作機械などの加工機械の場合でも
よい。またブロック本体は、立方体で構成したが、これ
に限らず、各支持部を球面で形成して適宜固定する手段
を併用してもよい。
さらにまだ測定形態は孔で構成し念が、円１荀１球面の
一部でもよい。
一部でもよい。
以上詳述したように、本発明の（３度検査用ブロックは
、各ピッチ間隔は任意であり、測定対象を９０度可回転
て直角度が測定できるので、検査ブロック各部の、ｔｌ
￥１ｑは一般便用者側でも製作可能な程度であり、従来
のように高価なブロックゲージや直角定規を多数揃える
必要がないので、維持管理の費用が著しく安価になる。
、各ピッチ間隔は任意であり、測定対象を９０度可回転
て直角度が測定できるので、検査ブロック各部の、ｔｌ
￥１ｑは一般便用者側でも製作可能な程度であり、従来
のように高価なブロックゲージや直角定規を多数揃える
必要がないので、維持管理の費用が著しく安価になる。
また、測定点を直角三角形で構成したので、測定に際し
ては単に９０度可回転るだけでよいから迅速に正確な測
定かできる効果がある。
ては単に９０度可回転るだけでよいから迅速に正確な測
定かできる効果がある。
第１因は本発明の一実施例の斜視図、第２図は同じく測
定状態を説明する斜視図、第３図および第４図は同じ（
Ｘ、Ｙ＠についての測定を説明する斜視図、第５図およ
び第６図は同じ＜Ｘ、Ｚ軸についての測定を説明する斜
視図、第７図および第８図は同じ＜Ｙ、Ｚ＠についての
測定を説明する斜視図、第９図は同じく直角度測定原理
説明図、第１０図は同じく寸法を示す斜視図、第１１図
は同じく測定点群のピッチを示す平面図、第１２図およ
び第１３図は同じく面角度測定説明図、第１・を図は従
来の各軸寸法測定検査方法説明ｆ＋祝図、第１５図ない
し第１７図は従来の直角度検査説明斜視図である。 （１）・・・三次元測定機、 αυ・・・ブロック本
体、α２・・・第１基準平面、０３）・・・第２基應平
面、■・・・第１支持面、Ｑ５＋・・・第２支持面、（
１ｉ１９・・・第３支持面、 ｔ１８１．１１１．
（、、Ｕ−・・測定孔、０１）・・・第１測定点、
ｔ２２）・・・第２測定点、Ｑ・・・第３測定点、
０・・・測定点群。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 同 竹 花 喜久男 第 １ 図 第 ３ 図 築 ４ 図 ビ１ 第５図 第６図 第７図 第 ８ 図 第９図 第１０図 第１１図 第１２１４ 第１３７ 第１．・１図
定状態を説明する斜視図、第３図および第４図は同じ（
Ｘ、Ｙ＠についての測定を説明する斜視図、第５図およ
び第６図は同じ＜Ｘ、Ｚ軸についての測定を説明する斜
視図、第７図および第８図は同じ＜Ｙ、Ｚ＠についての
測定を説明する斜視図、第９図は同じく直角度測定原理
説明図、第１０図は同じく寸法を示す斜視図、第１１図
は同じく測定点群のピッチを示す平面図、第１２図およ
び第１３図は同じく面角度測定説明図、第１・を図は従
来の各軸寸法測定検査方法説明ｆ＋祝図、第１５図ない
し第１７図は従来の直角度検査説明斜視図である。 （１）・・・三次元測定機、 αυ・・・ブロック本
体、α２・・・第１基準平面、０３）・・・第２基應平
面、■・・・第１支持面、Ｑ５＋・・・第２支持面、（
１ｉ１９・・・第３支持面、 ｔ１８１．１１１．
（、、Ｕ−・・測定孔、０１）・・・第１測定点、
ｔ２２）・・・第２測定点、Ｑ・・・第３測定点、
０・・・測定点群。 代理人 弁理士 則 近 憲 佑 同 竹 花 喜久男 第 １ 図 第 ３ 図 築 ４ 図 ビ１ 第５図 第６図 第７図 第 ８ 図 第９図 第１０図 第１１図 第１２１４ 第１３７ 第１．・１図
Claims (3)
- （１）三次元測定機または三軸送り加工装置のＸ軸、Ｙ
軸およびＺ軸の各軸の寸法測定誤差および各軸間の直角
度の誤差を検査する精度検査用ブロックであって、 第１基準平面およびこれに直角な第２基準平面および上
記第１基準平面をＸＹ軸平面に平行に支持するための第
１支持面および上記第１基準平面をＸＺ軸平面またはＹ
Ｚ軸平面に平行に支持するための第２支持面および上記
第２基準平面をＸＹ軸平面に平行に支持するための第３
支持面を有するブロック本体と、 上記第１基準平面上に設定された第１測定点および上記
第１基準平面上に設定されかつ上記第１測定点を通り上
記第２基準平面に平行な直線上に上記第１測定点から離
間した第２測定点および上記第１基準面上に設定されか
つ上記第１測定点を通り上記直線に直角な直線上に上記
第１測定点から離間した第３測定点を有する測定点群と
を具備したことを特徴とする精度検査用ブロック。 - （２）ブロック本体は立方体であることを特徴とする特
許請求の範囲第１項記載の精度検査用ブロック。 - （３）第１測定点および第２測定点および第３測定点は
それぞれ第１基準平面に設けられた円形の測定孔の中心
軸線上にあることを特徴とする特許請求の範囲第１項ま
たは第２項記載の精度検査用ブロック。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30830286A JPS63163202A (ja) | 1986-12-26 | 1986-12-26 | 精度検査用ブロツク |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP30830286A JPS63163202A (ja) | 1986-12-26 | 1986-12-26 | 精度検査用ブロツク |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63163202A true JPS63163202A (ja) | 1988-07-06 |
Family
ID=17979413
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP30830286A Pending JPS63163202A (ja) | 1986-12-26 | 1986-12-26 | 精度検査用ブロツク |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63163202A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014506989A (ja) * | 2011-03-01 | 2014-03-20 | 新東工業株式会社 | 立方体基準器 |
-
1986
- 1986-12-26 JP JP30830286A patent/JPS63163202A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2014506989A (ja) * | 2011-03-01 | 2014-03-20 | 新東工業株式会社 | 立方体基準器 |
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