JPS63157325A - 焦点制御装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ［発明の目的］ （産業上の利用分野） この発明は、たとえば集束光を用い光ディスクに対して
情報の記録あるいは再生を行う光デイスク装置などに用
いられる焦点制御１１装置に関する。

（従来の技術） 近年、多量に発生する文書などの画像情報を２次元的な
光走査により光電変換し、この光電変換された画像情報
を画像記録装置に記録し、あるいはそれを必要に応じて
検索、再生し、ハードコピーあるいはソフトコピーとし
て再生出力し得る画像情報ファイル装置における画像記
録装置として最近、光デイスク装置が用いられている。

従来、このような光デイスク装置にあっては、スパイラ
ル状のトラックつまりグループ（案内溝）にビットを形
成することにより、情報を記録する光ディスクが用いら
れ、この光ディスクの半径方向にリニアモータで直線移
動する光学ヘッドにより情報の記録あるいは再生が行わ
れるようになっている。

このような装置では、光学ヘッドにおける対物レンズの
フォー力ツシングあるいはトラッキングを行う場合、そ
の差を検出する方法として非点収差法（特公昭５３−３
９１２３号公報参照）が用いられており、この方法で検
出された、フォー力ッシング用の２種類の検出信号の差
を取り、その信号差に応じた電流を対物レンズ駆動用の
ボイスコイルに流すことにより、対物レンズを合焦点位
置に駆動するようになっている。

また、トラッキング用の２種類の検出信号の差を取り、
それらの信号差に応じた電流を対物レンズ駆動用のコイ
ルに流すことにより、対物レンズを正しいトラック位置
に駆動するようになっている。

ところが、このような装置では、トラックアクセスを行
なう場合、グループを何本も横切るようになっている。

このため、光検出器にグループの影による影響が入って
しまい、光検出器に照射される光の量が変化してしまう
。これにより、合焦点位置でないのに、信号の和信号の
差、つまり焦点ぼけ検出信号がｒＯＪとなってしまった
り、合焦点位置に位置しているのにも係わらず、焦点ぼ
けが生じている状態となってしまうという問題があった
。

したがって、グループの通過により光検出器から出力さ
れる信号に変化が生じ、フォー力ツシングエラーが生じ
る、つまりトラックアクセス時、対物レンズが振れてし
まうという欠点があった。

（発明が解決しようとする問題点） この発明は、グループの通過により光検出器から出力さ
れる信号に変化が生じ、フォー力ツシングエラーが生じ
るという欠点を除去するもので、グループの通過による
フォー力ツシングエラーを防止することができる焦点制
御装置を提供することを目的とする。

［発明の構成］ （問題点を解決するための手段） この発明の焦点制御装置は、光源、この光源から発せら
れた光を記録媒体上に集束するための集束手段、上記記
録媒体からの光の光路中に設けられ、配役位置が光軸方
向に異なっているとともに、異なった位置に焦点を結ぶ
少なくとも２つの円筒レンズ、これらの円筒レンズから
の光を用いて少なくとも２種類の信号を検出する検出手
段、およびこの検出手段の検出信号により少なくとも上
記集束手段を駆動し、上記記録媒体上に収束される光の
焦点を制御する制御手段から構成されている。

（作用） この発明は、光源から発せられた光を集積手段を用いて
記録媒体上に集束し、上記記録媒体からの光の光路中に
設けられ、配設位置が光軸方向に異なっているとともに
、異なった位置に焦点を結ぶ少なくとも２つの円筒レン
ズからの光を用いて少なくとも２種類の信号を検出し、
この検出した検出信号により少なくとも上記集束手段を
駆動し、上記記録媒体上に収束される光の焦点を制御す
るようにしたものである。

（実施例） 以下、この発明の一実施例を図面を参照しながら説明す
る。

第１図は、この発明の焦点制御装置が用いられる光デイ
スク装置の概略構成を示すものである。

すなわち、光ディ スフ（記録媒体）１は、モータ（図示しない）によって
光学ヘッド３に対して、線速一定で回転駆動されるよう
になっている。上記光ディスク１は、たとえばガラスあ
るいはプラスチックスなどで円形に形成された基板の表
面に、テルルあるいはビスマスなどの金属被膜層がドー
ナツ形にコーティングされている。

上記光ディスク１の裏側には、情報の記録、再生を行う
ための光学ヘッド３が設けられている。

この光学ヘッド３は、次のように構成される。すなわち
、１１は半導体レーザ（光源）であり、この半導体レー
ザ１１からは発散性のレーザ光りが発生される。この場
合、情報を上記光ディスク１の記録膜（図示しない）に
書き込む（記録）に際しては、書き込むべき情報に応じ
てその光強度が変調されたレーザ光りが発生され、情報
を光ディスク１の記録膜から読み出すく再生）際には、
一定の光強度を有するレーザ光りが発生される。

そして、半導体レーザ１１から発生された発散性のレー
ザ光りは、コリメータレンズ１３によって平行光束に変
換され、ハーフプリズム１４に導かれる。このハーフプ
リズム１４に導かれたレーザ光りは、このハーフプリズ
ム１４を通過した後、対物レンズ１６に入射され、この
対物レンズ１６によって光ディスク１の記録膜に向けて
集束される。

ここで、対物レンズ１６は、その光軸方向および光軸と
直交する方向にそれぞれ移動可能に支持されており、対
物レンズ１６が所定位置に位置されると、この対物レン
ズ１６から発せられた集束性のレーザ光りのビームウェ
ストが光ディスク１の記録膜の表面上に投射され、最小
ビームスポットが光ディスク１の記録膜の表面上に形成
される。

この状態において、対物レンズ１６は合焦状態および合
トラック状態に保たれ、情報の書き込みおよび読み出し
が可能となる。

また、光ディスク１の記録膜から反射された発散性のレ
ーザ光りは、合焦時には対物レンズ１６によって平行光
束に変換され、再びハーフプリズム１４に戻される。

そして、ハーフプリズム１４で反射したレーザ光りは集
光用のシリンドリカルレンズ１７に導かれる。このシリ
ンドリカルレンズ１７は第１図の紙面と平行な面内に屈
折力を有するレンズであり、光検出器１９の実用的な大
きさを考慮し、光検出器１９上で所定の大きさの像を得
るためのもので、光ディスク１のフォーカス方向の位置
ずれによってその収束点が光検出器１９よりも光デイス
ク１側にならないようにしているものであるａ上記シリ
ンドリカルレンズ１７からのレーザ光りのうちの半分（
図中左半分）は、第１の円筒レンズ１８によって光検出
器１９上に照射される。

また、上記シリンドリカルレンズ１７からのレーザ光り
のうちの残り半分（図中右半分）は、第２の円筒レンズ
２０によって光検出器１９上に照射される。上記第１の
円筒レンズ１８、第２の円筒レンズ２０は、第１図の紙
面と垂直な面内に屈折力を有するシリンドリカルレンズ
であり、第１図および第２図に示すように、光軸方向（
０−ＯＮに距離を変えて配置されている。これにより、
第１の円筒レンズ１８、第２の円筒レンズ２０の焦点距
離が等しいものとなっており、それぞれの結像位置が異
なったものとなっている。

上記光検出器１９は、第４図（ａ）に示すように、第１
の円筒レンズ１８によって結像される光を、電気信号に
変換する光検出セル１９ａ１１９ｂ、１９Ｃと第２の円
筒レンズ１８によって結像される光を、電気信号に変換
する光検出セル１９ｄ、１９ｅ、１９ｆの左右に３分割
ずつの６分割セルによって構成されている。

上記光学ヘッド３の出力つまり光検出セル１９ａ〜１９
ｆの出力は、フォー力ッシング（焦点ぼけ）補正用、ト
ラッキングずれ補正用、および再生信号用に用いられる
ようになっている。

上記光軸方向に間隔を開けて配置された２つの第１の円
筒レンズ１８、第２の円筒レンズ２０に平行な光束が入
射された場合、それらの結像状態は第２図に示すように
、焦点位ＩＦＩ点、Ｆ２点とに結像されるようになって
いる。これにより、上記光検出器１９は、上記焦点位置
１１点とＦ２点との中心位置、つまりＤ−Ｄ−上に位置
するように設けられている。

これにより、対物レンズ１６が合焦点位置にある場合、
第１、第２の円筒レンズ１８．２０に平行光束が入射さ
れ、第３図（ｂ）に示すように、光検出器１９に対して
第１の円筒レンズ１８の焦点位ＩＦＩと第２の円筒レン
ズ２ｏの焦点位置Ｆ２とが等距離のところに位置するよ
うになっている。この場合、光検出器１９上には、第４
図（ｂ）に示すように、右側と左側とに同じ大きさの像
が結像され、光検出セル１９ａ、１９ｃ、１９ｅに対す
る光量と、光検出セル１９ｂ、１９ｄ、１９ｆに対する
光量とが一致するようになっている。

また、対物レンズ１６が合焦点位置のときより光ディス
ク１に近付いた場合、第１、第２の円筒レンズ１８．２
０に収束しつつある光束が入射され、第３図（ａ）に示
すように、光検出器１９に対して第１の円筒レンズ１８
の焦点位置Ｆ１と第２の円筒レンズ２０の焦点位置Ｆ２
とが、第３図（ｂ）の場合よりも左側に移動したところ
に位置するようになっている。この場合、光検出器１９
上には、第４図（ａ＞に示すように、右側の像より左側
の像の方が小さく結像され、光検出セル１９ａ、１９ｃ
、１９ｅに対する光量よりも、光検出セル１９１）、１
９ｄ、１９ｆに対する光量の方が大きくなるようになっ
ている。

また、対物レンズ１６が合焦点位置のときより光ディス
ク１から遠のいた場合、第１、第２の円筒レンズ１８．
２０に拡散しつつある光束が入射され、第３図（Ｃ）に
示すように、光検出器１９に対して第１の円筒レンズ１
８の焦点位置Ｆ１と第２の円筒レンズ２０の焦点位＠Ｆ
２とが、第３図（ｂ）の場合よりも右側に移動したとこ
ろに位置するようになっている。この場合、光検出器１
９上には、第４図（Ｃ）に示すように、左側の象より右
側の像の方が小さく結像され、光検出セル１９ｂ、１９
ｄ、１９ｆに対する光量よりも、光検出セル１９ａ１１
９ｃ１１９ｅに対する光量の方が大きくなるようになっ
ている。

これにより、光ディスク１が対物レンズ１６の合焦虚位
＠（ジャストフォーカス点）よりずれた場合、光ディス
ク１からの反射光は拡散したり、収束したりしながら光
検出器１つへ入射するため、上記２つの第１、第２の円
筒レンズ１８．２０の特性を利用することにより、対物
レンズ１６の焦点ぼけを検出することができるようにな
っている。

次に、光検出器１９における各光検出セル３１ａ〜３１
ｆからの信号の処理方法について説明する。

まず、第４図（ａ）（ｂ）（ｃ）において、光検出器１
９の右半分、つまり光検出セル３１ｄ、３１ｅ、３１ｆ
に着目すると、第４図（ａ）の場合、ｒ　（Ｌｄ＋Ｌｆ
）−Ｌｅ＞ＯＪ　、同図（ｂ）の場合、ｒ　（Ｌｄ＋Ｌ
ｆ）−Ｌｅ−Ｏｊ　、同図（Ｃ）の場合、ｒ　（Ｌｄ＋
Ｌｆ）−Ｌｅ＜ＯＪとなる。

この場合、ｒＬｄＪは光検出セル１９ｄの検出出力、ｒ
Ｌｅ！Ｊは光検出セル１９ｅの検出出力、ｒＬｆＪは光
検出セル１９ｆの検出出力となっている。

また、光検出器１９の左半分、つまり光検出セル３１ａ
、３１ｂ、３１ｃ１．：＠目すると、第４図（ａ）の場
合、ｒＬｂ−（Ｌａ＋Ｌｃ）＞ＯＪ、同図（ｂ）の場合
、ｒＬｂ−（Ｌａ＋Ｌｃ）−ｏ」、同図（Ｃ）の場合、
ｒＬｂ−（Ｌａ＋Ｌｃ）＜ＯＪとなる。

この場合、ｒＬａＪは光検出セル１９ａの検出出力、ｒ
ＬｂＪは光検出セル１９ｂの検出出力、「ＬＣ」は光検
出セル１９ｃの検出出力となっている。

これにより、焦点ぼけ検出信号は、光検出器１つの光検
出セル１９ｂ、１９ｄ、１９ｆからの信号の和（Ｌｂ＋
Ｌｄ＋Ｌｆ）と、光検出セル１９ａ、１９ｃ、１９ｅか
らの信号の和（ｌａ＋ｌｃ＋１−ｅ）との差ｒ　（Ｌｂ
＋Ｌｄ＋Ｌｆ）−（Ｌａ＋１−ｃ＋Ｌｅ）Ｊにより得ら
れるようになっている。

次に、対物レンズ１６が光ディスク１のグループ（案内
溝）を横切る際、そのグループの影により焦点ぼけ検出
信号が受ける影響について、第４図（ａ）の場合を例に
とり、第５図（ａ）〜（Ｃ）を用いて説明する。

すなわち、グループにより光検出器１つの各光検出セル
１９ａ〜１９ｆ上に結像する影の影響をｇ１〜ｇ６とす
ると、焦点ぼけ検出信゛号は、第５図（ａ）の場合、ｒ
　（Ｌｂ＋Ｌｄ＋Ｌｆ）−（Ｌａ＋ＬＣ＋Ｌｅ）＋　Ｃ
Ｑ１＋０３−ｇ２）Ｊとなり、同図（ｂ）の場合、ｒ　
（Ｌｂ＋Ｌｄ＋Ｌｆ）−（Ｌａ＋Ｌｃ＋Ｌｅ）＋（Ｑｌ
−１−ｇ３−ｇ２）＋　（Ｑ５−ｇ４−０６）、（Ｑ１
＋０３−ｇ２）＋（ｑ５−ｇ４−ｇ６）＝（ｇ１＋ｑ３
＋０５）−（Ｑ２−＋−ｇ４−＋−０６）−ｇ１＋ｑ３
−ｑ２Ｊとなり、同図（Ｃ）の場合、［（Ｌｂ＋Ｌｄ＋
Ｌｆ）−（Ｌａ＋Ｌｃ＋Ｌｅ）＋　（ｇ５−ｇ４−０６
）、　　ｇ５−ｇ４−０６＝０１＋に１３−ａ２Ｊとな
る。

したがって、第５図（ａ）〜（Ｃ）のいずれの場合も、
焦点ぼけ検出信号がグループの影により受ける影響は（
ｇｌ＋ｑ３−ｑ２）となり、グループの影の位置によら
ず一定となっている。

また、第４図（ｂ）、（Ｃ）の場合も上記同様に、焦点
ぼけ検出信号がグループの影により受ける影響は（ｇ１
＋ｑ３−ａ２）となり、グループの影の位置によらず一
定となっている。

したがって、グループの影が光検出器１９を横切ること
により、焦点ぼけ検出信号が誤った検出信号を出力しな
いようになっている。

この結果、上記のように、各光検出セル１９ａ・・・の
信号のとり方をすることにより、これらの光検出セル１
９ａ・・・の境界と垂直に現われるグループの影による
影響は、焦点ぼけ検出信号に一定のオフセット信号とし
て加えられることになるため、グループの影により焦点
ぼけ検出信号が誤ったものとなることを防止することが
できる。また、比較的大きな像で十分な検出感度が得ら
れ、光学系の温度等による位置ずれに強いものとなる。

また、対物レンズ１６のトラッキング方向の移動制純に
ついては、プッシュプル法を用いて行い、第５図（ａ）
〜（Ｃ）に示すように、グループの影が現われるように
、光検出器１９を配置し、光検出器１９の左右の信号の
差、つまり光検出セル１９ａ、１９ｂ、１９ｃからの信
号の和（１−ｄ＋１−ｅ＋１で）と、光検出セル１９ｄ
、１９ｅ、１９ｆからの信号の和（Ｌｄ＋Ｌｅ＋Ｌｆ）
との差ｒ（Ｌａ＋−Ｌｂ＋Ｌｃ）−（Ｌｄ＋Ｌｅ＋Ｌｆ
）Ｊにより、トラックずれ検出信号が得られるようにな
っている。

上記光デイスク１上の情報を再生する読取信号（ＲＦ倍
信号は、光検出器１９の各光検出セル３１ａ〜３１ｆか
らの検出信号の合計値［Ｌａ＋１−ｂ＋ｌｃ＋Ｌｄ＋Ｌ
ｅ＋１−ｆＪを用イルヨウニなっている。

次に、第６図を用いて電気回路の要部について説明する
。すなわち、上記光検出セル１９ａ〜１９ｆの出力は、
それぞれ増幅回路３１ａ〜３１ｆに供給される。

上記増幅回路３１ａの出力は、加算回路３３．３５．３
６に供給され、上記増幅回路３１ｂの出力は、加算回路
３２．３５．３６に供給され、上記増幅回路３１ｃの出
力は、加算回路３３，３５．３６に供給され、上記増幅
回路３１ｄの出力は、加算回路３２．３４．３６に供給
され、上記増幅回路３１ｅの出力は、加算回路３３．３
４．３６に供給され、上記増幅回路３１ｆの出力は、加
算回路３２．３４．３６に供給される。上記加算回路３
２は、層幅回路３１ｂ、３１ＣＩ、３１ｆの出力、つま
り光検出セル１９ｂ、１９ｄ、１９ｆの出力を加算する
ものであり、上記加算回路３３は、増幅回路３１ａ、３
１ｃ、３１ｅの出力、つまり光検出セル１９ａ、１９Ｃ
，１９ｅの出力を加算するものであり、上記加算回路３
４は、増幅回路３１（１，３１ｅ、３１ｆの出力、つま
り光検出セル１９ｄ、１９ｅ、１９ｆの出力を加算する
ものであり、上記加算回路３５は、増幅回路３１ａ、３
１ｂ、３１ｃの出力、つまり光検出セル１９ａ１１９ｂ
、１９ｃの出力を加算するものであり、上記加算回路３
６は、増幅回路３１ａ〜３１ｆの出力、つまり光検出セ
ル１９ａ〜１９ｆの出力を加算するものである。

上記加算回路３２の出力は、比較回路３７の反転入力端
に供給され、この比較回路３７の非反転入力端には、上
記加算回路３３の出力が供給されている。上記比較回路
３７は、上記光検出セル１９ｂ、１９ｄ、１９ｆの検出
信号の加算結果と上記光検出セル１９ａ、１９ｃ、１９
ｅの検出信号の加算結果とを比較し、その差に応じた出
力つまりフォーカスずれ検出信号が位相補償回路３９に
供給される。この位相補償回路３９は、比較回路３７か
ら供給される信号の位相が補償され、駆動回路４１に供
給される。この駆動回路４１は、位相補償回路３９から
供給される信号に応じて、前記対物レンズ１６を光ディ
スク１の記録面に対して垂直方向に駆動するコイル（図
示しない）に対応する電流を供給することにより、対物
レンズ１６を駆動して焦点ぼけの補正（フォーカス位置
の補正）を行うものである。

上記加算回路３４の出力は、比較回路３８の反転入力端
に供給され、この比較回路３８の非反転入力端には、上
記加算回路３５の出力が供給されている。上記比較回路
３８は、上記光検出セル１９ｄ、１９ｅ、１９ｆの検出
出力の加算結果と上記光検出セル１９ａ、１９ｂ、１９
ｃの検出出力の加算結果とを比較し、その差に応じた出
力つまりトラッキングずれ検出信号が位相補償回路４０
に供給される。この位相補償回路４０は、比較回路３８
から供給される信号の位相が補償され、駆動回路４２に
供給される。この駆動回路４２は、位相補償回路４０か
ら供給される信号に応じて、前記対物レンズ１６を光デ
ィスク１の記録面に対して水平方向に駆動するコイル（
図示しない〉に対応する電流を供給することにより、対
物レンズ１６を駆動してトラッキングずれの補正を行う
ものである。

上記加算回路３６の出力は、２値化回路４３に供給され
る。この２値化回路４３で２値化された信号は読取信号
として図示しない制御回路へ供給されるようになってい
る。

次に、このような構成において動作を説明する。

たとえば今、半導体レーザ１１からレーザ光りが発散さ
れる。このレーザ光りは、コリメータレンズ１３によっ
て平行光束に変換され、ハーフプリズム１４に導かれる
。このハーフプリズム１４に導かれたレーザ光りは、こ
のハーフプリズム１４を通過した後、対物レンズ１６に
入射され、この対物レンズ１６によって光ディスク１の
記録膜に向けて集束される。

この状態において、情報の記録を行う際には、強光度の
レーザ光束（記録ビーム光）の照射によって、光デイス
ク１上のトラックにビットが形成され、情報の再生を行
う際には、弱光度のレーザ光束（再生ビーム光）が照射
される。この再生ビーム光に対する光ディスク１からの
反射光は、対物レンズ１６によって平行光束に変換され
、再びハーフプリズム１４に戻される。

そして、ハーフプリズム１４で反射したレーザ光りはシ
リンドリカルレンズ１７に導かれ、このシリンドリカル
レンズ１７を通過したレーザ光りのうちの半分は、第１
の円筒レンズ１８によって光検出器１９の光検出セル１
９ａ〜１９ｃ上に照射される。一方、シリンドリカルレ
ンズ１７を通過したレーザ光りの残り半分は、第２の円
筒レンズ２０によって光検出器１９の光検出セル１９Ｃ
Ｉ〜１９ｆ上に照射される。したがって、光検出セル１
９ａ〜１９ｆから照射光に応じた信号が出力され、それ
らの信号がそれぞれ増幅回路３１ａ〜３１ｆに供給され
る。

このような状態において、フォーカツレンズ動作につい
て説明する。すなわち、上記増幅回路３１ｂ、３１ｄ、
３１ｆからの信号は加算回路３２に供給され、上記増幅
回路３１ａ、３１ｃ、３１ｅからの信号は加算回路３３
に供給される。

すると、加算回路３２は、光検出セル１９ｂ１１９（ｊ
、１９１’からの検出信号を加算し、比較回路３７に出
力する。また、加算回路３３は、光検出セル１９ａ、１
９ｃ１１９ｅからの検出信号を加算し、比較回路３７に
出力する。これにより、比較回路３７は、上記光検出セ
ル１９ｂ、１９ｄ。

１９ｆの検出信号の加算結果と上記光検出セル１９ａ、
１９ｃ、１９ｅの検出信号の加算結果とを比較し、その
差に応じた出力つまり焦点ぼけ検出信号を位相補償回路
３９に供給する。

この結果、その焦点ぼけ検出信号は位相補償回路３５で
位相補償され駆動回路３つに供給される。

これにより、駆動回路３９は位相補償回路３８からの信
号に応じてコイル（図示しない）に所定の電流を供給し
、対物レンズ１６を垂直方向に駆動して、フォー力ツシ
ングを行う。

また、トラッキング動作について説明する。すなわち、
上記増幅回路３１ｄ、３１ｅ、３１ｆからの信号は加算
回路３４に供給され、上記増幅回路３１ａ、３１ｂ、３
１ｃからの信号は加算回路３５に供給される。すると、
加算回路３４は、光検出セル１９ｄ、１９ｅ！、１９ｆ
からの検出信号を加算し、比較回路３８に出力する。ま
た、加算回路３５は、光検出セル１９ａ、１９ｂ、１９
ｃからの検出信号を加算し、比較回路３８に出力する。

これにより、比較回路３８は、上記光検出セル１９ｄ、
１９８．１９ｆの検出信号の加算結果と上記光検出セル
１９ａ、１９ｂ、１９Ｃの検出信号の加算結果とを比較
し、その差に応じた出力つまりトラックずれ検出信号を
位相補償回路４０に供給する。

この結果、そのトラックずれ検出信号は位相補償回路４
０で位相補濱され駆動回路４２に供給される。これによ
り、駆動回路４２は位相補償回路４０からの信号に応じ
てコイル（図示しない）に所定の電流を供給し、対物レ
ンズ１６を垂直方向に駆動して、トラッキングを行う。

次に、情報の再生について説明する。すなわち、半導体
レーザ１１から連続的な偏光度のレーザ光りが発生され
る。この結果、上記記録時の再生ビーム光が発せられた
場合と同様に動作し、光検出セル１９８〜１９ｆの出力
がそれぞれ増幅回路３１８〜１９ｆ’に供給される。

これにより、上記増幅回路３１８〜３１ｆからの出力に
よりフォー力ツシングおよびトラッキング等が行われる
とともに、上記増幅回路３１ａ〜３’１ｆからの出力が
すべて加算回路３６で加算され、この加算結果を２値化
回路４３で２値化することにより、データの読取り（再
生）を行うようになっている。

上記したように、２つの円筒レンズをそれらによる結像
位置が異なるように配置し、それらの結像位置の間に配
設された６分割セルにより構成される光検出器により、
焦点ぼけ検出信号およびトラックずれ検出信号が得られ
るようにしたものである。

これにより、グループの影による影響を受けずに、安定
かつ正確なフォー力ツシング、トラッキングを行うこと
ができる。

なお、前記実施例では、光検出器が６つの光検出セルで
構成される場合について説明したが、これに限らず、他
の構造の光検出器を用いても同様に実施できる。また、
第１、第２の円筒レンズの焦点距離が同じものであった
が、これに限らず両者の焦点距離が異なるものであって
も良い。この場合、光軸に対して異なった位置に設けら
れものであっても、同じ位置に設けられるものであって
も良い。また、記録媒体として光ディスクを用いた場合
の焦点制御について説明したが、これに限らず、直線上
にグループが設けられているレーザカードにおいて焦点
を制御するものであっても良い。

［発明の効果］ 以上詳述したようにこの発明によれば、グループの通過
によるフォー力ツシングエラーを防止することができる
焦点制御装置を提供できる。

【図面の簡単な説明】

図面はこの発明の一実施例を示すもので、第１図はディ
スク装置の構成を概略的に示す図、第２図は光学ヘッド
内の要部の構成を説明するための図、第３図は円筒レン
ズによる焦点位置と光検出器の位置関係を説明するため
の図、第４図は光検出器の結像状態を説明するための図
、第５図は光検出器におけるグループの影の影響を説明
するための図、第６図は電気回路の要部の構成を示す図
である。 １・・・光デ′イスク（記録媒体）、３・・・光学ヘッ
ド、１１・・・半導体レーザ（光源）、１４・・・ハー
フプリズム、１６・・・対物レンズ、１７・・・シリン
ドリカルレンズ、１８・・・第１の円筒レンズ、１９・
・・光検出器、１９ａ〜１９　ｆ　両光検出セル、２ｏ
・・・第２の円筒レンズ、３１ａ〜３１ｆ・・・増幅回
路、３２〜３６・・・加算回路、３７．３８・・・比較
回路、３９．４０・・・位相補償回路、４１．４２・・
・駆動回路、４３・・・２値化回路。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. （１）光源と、 この光源から発せられた光を記録媒体上に集束するため
   の集束手段と、 上記記録媒体からの光の光路中に設けられ、配設位置が
   光軸方向に異なっているとともに、異なった位置に焦点
   を結ぶ少なくとも２つの円筒レンズと、 これらの円筒レンズからの光を用いて少なくとも２種類
   の信号を検出する検出手段と、 この検出手段の検出信号により少なくとも上記集束手段
   を駆動し、上記記録媒体上に収束する光の焦点を制御す
   る制御手段と、 を具備したことを特徴とする焦点制御装置。
2. （２）検出手段が、６分割された光検出器で構成される
   ものであることを特徴とする特許請求の範囲第１項記載
   の焦点制御装置。