JPS63153797A - Writable read only memory - Google Patents
Writable read only memoryInfo
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- JPS63153797A JPS63153797A JP61302115A JP30211586A JPS63153797A JP S63153797 A JPS63153797 A JP S63153797A JP 61302115 A JP61302115 A JP 61302115A JP 30211586 A JP30211586 A JP 30211586A JP S63153797 A JPS63153797 A JP S63153797A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
書込み可能なリードオンリメモリにおいて、メモリセル
アレイのビットラインに対し電源を直接オン・オフし且
つ制御電極が共通の信号ラインに接続されたトランジス
タを各ビットライン毎に設けることにより、
一つのワードラインに繋がった複数のメモリセルに対す
る同時書込みを可能にしたものである。[Detailed Description of the Invention] [Summary] In a writable read-only memory, a transistor that directly turns on and off power to the bit line of a memory cell array and whose control electrode is connected to a common signal line is connected to each bit line. By providing a word line, it is possible to simultaneously write to multiple memory cells connected to one word line.
本発明は、書込み可能なリードオンリメモリの構成に関
す。The present invention relates to a writable read-only memory configuration.
上記メモリには、書替え可能なEPROM、ユーザで書
込みを行うFROMがあるが、書込みに要する時間は短
いことが望まれる。The above-mentioned memories include rewritable EPROM and FROM that can be written by the user, but it is desirable that the time required for writing be short.
以下EPROMの場合を例にとって説明する。 The case of EPROM will be explained below as an example.
第2図はMO3構造EPROMの従来例の要部回路図で
ある。FIG. 2 is a circuit diagram of a main part of a conventional example of an MO3 structure EPROM.
同図において、Aはメモリセルアレイ、QOO。In the figure, A is a memory cell array, QOO.
qot、 HHH+ QnO,Qnl+ ・・・は
MO3型トランジスタ構造のメモリセル、wo、wt、
・・・。qot, HHH+ QnO, Qnl+ ... are memory cells with MO3 type transistor structure, wo, wt,
....
Wn はワードライン、BO,Bl、・・・はビットラ
イン、QYO,QYL ・・・はビットラインを選択
するトランジスタ、QOは書込み時にオンさせるトラン
ジスタ、vppは書込み用の電源、QSは読取り時にオ
ンさせるトランジスタ、である。Wn is a word line, BO, Bl, . . . are bit lines, QYO, QYL . . . are transistors that select bit lines, QO is a transistor that is turned on during writing, vpp is a power supply for writing, and QS is turned on during reading. This is a transistor that allows
そして、例えばメモリセルQOOへの書込みは、トラン
ジスタQDとビットラインBOを選択するトランジスタ
QYOとをオンにすると共にワードラインWOに所定の
電圧を印加することによって実行される。他のメモリセ
ルに対する書込みも同様である。For example, writing to the memory cell QOO is executed by turning on the transistor QD and the transistor QYO that selects the bit line BO, and applying a predetermined voltage to the word line WO. The same applies to writing to other memory cells.
この際、ワードラインの電流は、メモリセルのゲート容
量に対するチャージアップ分となり微小であり、ビット
ラインの電流は、メモリセルのドレイン電流となりII
IAオーダである。また、書込みに要する時間は、ms
オーダである。At this time, the word line current is a charge-up amount to the gate capacitance of the memory cell and is very small, and the bit line current is the drain current of the memory cell and is small.
This is an IA order. Also, the time required for writing is ms
It is an order.
EFROMには、機能試験の一つとして、特にアドレス
を問わず全メモリセルに書込みを実行する場合がある。In EFROM, as one of the functional tests, writing is sometimes executed to all memory cells regardless of addresses.
上記構成のEFROMにおいては、メモリセルアレイA
に例えば32キロビット分即ち32キロ個のメモリセル
が収容されており、メモリセルに対する一回の書込みに
例えば約1msの時間を要するとすれば、全メモリセル
に対し書込みを実行するのに要する時間は約32秒とな
り、試験時間として長いという問題がある。In the EFROM having the above configuration, the memory cell array A
For example, if a memory cell containing 32 kilobits, or 32 kilograms, is stored in the memory cell, and it takes about 1 ms to write to a memory cell once, the time required to write to all memory cells is The test time is about 32 seconds, which is a long test time.
この問題となる時間を短縮する方策として、ワードライ
ンまたはビットラインの何れかを多重選択することによ
り、複数のメモリセルに対し同時書込みすることが考え
られる。As a measure to reduce the time required to cause this problem, it is conceivable to write to a plurality of memory cells simultaneously by multiple selection of either word lines or bit lines.
しかしながら、ワードラインを多重選択した場合には、
メモリセルのドレインが共通接続となるため最も耐圧の
低いメモリセルによりドレイン電圧が決定されて、他の
メモリセルに対する書込みが不安定になり、ビットライ
ンを多重選択した場合には、トランジスタQDの電圧降
下の増加により多重選択数に限界が生じて、何れの場合
も実用的でない。However, when multiple word lines are selected,
Since the drains of the memory cells are commonly connected, the drain voltage is determined by the memory cell with the lowest breakdown voltage, making writing to other memory cells unstable, and when multiple bit lines are selected, the voltage of the transistor QD Increasing the drop limits the number of multiple selections, making it impractical in either case.
上記問題点は、複数のワードラインおよび複数のビット
ラインを有する書込み可能なリードオンリメモリセルア
レイと、各ビットライン毎に設けられて該ビットライン
に対し電源を直接オン・オフし、且つ制御電極が共通の
信号ラインに接続されたトランジスタとを具えて、一つ
のワードラインに繋がる複数のメモリセルに対し同時書
込みが可能な本発明の書込み可能なり一ドオンリメモリ
によって解決される。The above problem is solved by a writable read-only memory cell array having multiple word lines and multiple bit lines, and a control electrode that is provided for each bit line to directly turn on and off power to the bit line. The problem is solved by the writable one-domain memory of the present invention, which is capable of simultaneously writing to a plurality of memory cells connected to one word line, with transistors connected to a common signal line.
このメモリにおける上記の同時書込みは、先に述べたビ
ットラインを多重選択した場合に相当する。The above-mentioned simultaneous writing in this memory corresponds to the case of multiple selection of bit lines described above.
即ち、上記信号ラインを制御して各ビ・ノドライン毎に
設けられた上記トランジスタの全てをオンとすることに
より、該ビットラインの全てに電圧降下の少ない電源電
圧を供給することが出来る。That is, by controlling the signal line to turn on all of the transistors provided for each bit line, a power supply voltage with a small voltage drop can be supplied to all of the bit lines.
このことから、上記トランジスタの数と同数のメモリセ
ルに対し安定に同時書込みを行うことが出来て、例えば
先に問題となった試験時間を上記の数に応じて短縮させ
ることが可能になる。From this, it is possible to stably perform simultaneous writing to the same number of memory cells as the number of transistors, and it becomes possible, for example, to shorten the test time, which was a problem earlier, in accordance with the number.
なお、上記トランジスタは、各ビットライン毎に設けら
れているので、オフにすることによりメモリの他の機能
を阻害することがない。Note that since the above-mentioned transistor is provided for each bit line, turning off the transistor does not interfere with other functions of the memory.
以下本発明の実施例について第1図の要部回路図により
説明する。全図を通じ同一符号は同一対象物を示す。Embodiments of the present invention will be described below with reference to the main circuit diagram of FIG. The same reference numerals indicate the same objects throughout the figures.
第1図に示す実施例は、第2図図゛示従来例のEPR(
:IMに相当するEPROMである。The embodiment shown in FIG. 1 is similar to the conventional EPR shown in FIG.
: EPROM equivalent to IM.
即ち、実施例は、従来例にトランジスタQ×0゜QXl
、 ・・・と信号ラインXとを付加したものであり、
トランジスタQXO,QXI、 ・・・は、ビットラ
インBO,Bl、・・・のそれぞれに対し個別に、電源
Vpl)を直接オン・オフし且つその制御電極であるゲ
ートが共通の信号ラインXに接続されている。That is, in the embodiment, the transistor Q×0°QXl is added to the conventional example.
, . . . and a signal line X are added,
The transistors QXO, QXI, . . . directly turn on and off the power supply Vpl) for each of the bit lines BO, BL, . has been done.
そして、例えばワードラインWOに繋がった複数のメモ
リセルQOO,QOI、 ・・・に対し同時書込みす
ることが出来る。それは、信号ラインXを制御してトラ
ンジスタQXO,QXI、 ・・・の全てをオンにす
ると共にワードラインWOに所定の電圧を印加すること
により実行される。この際、トランジスタQXO,QX
I、 ・・・の負荷がメモリセルQOO,QOI、
・・・の1個宛となるので、ビットラインBO,Bl
、・・・の全てに電圧降下の少ない電源電圧が供給され
て、メモリセルQOO,QOI。For example, it is possible to simultaneously write to a plurality of memory cells QOO, QOI, . . . connected to the word line WO. This is performed by controlling the signal line X to turn on all of the transistors QXO, QXI, . . . and applying a predetermined voltage to the word line WO. At this time, transistors QXO, QX
The load of I, ... is the memory cell QOO, QOI,
..., so the bit lines BO, Bl
, . . . all of the memory cells QOO, QOI are supplied with a power supply voltage with a small voltage drop.
・・・の全てに対し書込みが安定に行われる。このこと
は、他のワードラインWL・・・Wnに繋がったメモリ
セルについても同様である。Writing is performed stably for all of... This also applies to the memory cells connected to the other word lines WL...Wn.
従って、本実施例においては、メモリセルアレイAに例
えば32キロビット分即ち32キロ個のメモリセルがビ
ットライン当たり64個の構成で収容されており、メモ
リセルに対する一回の書込みに例えば約1msの時間を
要するとすれば、全メモリセルに書込みを実行するのに
要する時間は約0.5秒となり、その時間は、相当する
従来例の場合の約32秒に比して大幅に短縮される。Therefore, in this embodiment, the memory cell array A accommodates, for example, 32 kilobits, or 32 kilograms, of memory cells in a configuration of 64 per bit line, and it takes, for example, about 1 ms to write to a memory cell once. In this case, the time required to write to all memory cells is approximately 0.5 seconds, which is significantly shorter than approximately 32 seconds in the conventional example.
このことは、EPROMにおいて全メモリセルに書込み
を実行する機能試験の時間を大幅に短縮させる。This greatly reduces the time required for a functional test in which writing is performed on all memory cells in an EPROM.
なお、トランジスタQXO,QXI、 ・・・は、そ
れぞれビットラインBO,Bl、・・・毎に分離して設
けられているので、オフにすることによりメモリの他の
機能を阻害することがない。Note that since the transistors QXO, QXI, . . . are provided separately for each bit line BO, Bl, .
一方、この実施例は、トランジスタQOおよびQvo、
QYI、 ・・・を具えているので、従来例の場合
と同様にしてメモリセルの中の任意の1個に対し書込み
を実行することが可梯である。On the other hand, in this embodiment, transistors QO and Qvo,
Since QYI, . . . are provided, it is possible to write to any one of the memory cells in the same way as in the conventional example.
このため、トランジスタQYO,QYI、 ・・・の
系統とトランジスタQXO,QXI、 ・・・の系統
とを併用することにより、ユーザにおける書込みにも便
宜を与えることが出来る。Therefore, by using the system of transistors QYO, QYI, . . . together with the system of transistors QXO, QXI, .
以上の説明は、EPROMの場合を例としたが、本発明
は、PROMに通用してもEFROMの場合と同様にユ
ーザにおける書込みに便宜を与えることが出来る。Although the above description has been made using an EPROM as an example, the present invention can also be applied to a PROM and provide convenience for user writing in the same manner as in the case of an EFROM.
以上説明したように本発明の構成によれば、書込み可能
なり一ドオンリメモリにおいて、一つのワードラインに
繋がった複数のメモリセルに対する同時書込みを可能に
してメモリに対する書込みに要する時間の短縮を可能に
し、例えば、EPROM機能試験の時間短縮や、ユーザ
書込みに対する便宜供与を可能にさせる効果がある。As explained above, according to the configuration of the present invention, in a writable one-domain memory, it is possible to simultaneously write to a plurality of memory cells connected to one word line, thereby reducing the time required to write to the memory, For example, it has the effect of shortening the time required for EPROM functional testing and providing convenience for user writing.
第1図は本発明実施例の要部回路図、
第2図は従来例の要部回路図、
である。
図において、
Aはメモリセルアレイ、
QOO,QOI、 ・・・はメモリセル、WO,W!
、・ ・・はワードライン、BO,Bl、・・・はビッ
トライン、
QXO,QXI、 ・・・はトランジスタ、Xは信号
ライン、
vppは書込み用の電源、
である。FIG. 1 is a circuit diagram of a main part of an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a circuit diagram of a main part of a conventional example. In the figure, A is a memory cell array, QOO, QOI, ... are memory cells, WO, W!
, . . . are word lines, BO, BL, . . . are bit lines, QXO, QXI, . . . are transistors, X is a signal line, and vpp is a power supply for writing.
Claims (1)
書込み可能なリードオンリメモリセルアレイと、各ビッ
トライン毎に設けられて該ビットラインに対し電源を直
接オン・オフし、且つ制御電極が共通の信号ラインに接
続されたトランジスタとを具えて、一つのワードライン
に繋がる複数のメモリセルに対し同時書込みが可能なこ
とを特徴とする書込み可能なリードオンリメモリ。A writable read-only memory cell array having a plurality of word lines and a plurality of bit lines, and a control electrode provided for each bit line to directly turn on/off power to the bit line, and a control electrode connected to a common signal line. What is claimed is: 1. A writable read-only memory characterized in that it is equipped with connected transistors and can simultaneously write to a plurality of memory cells connected to one word line.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61302115A JPS63153797A (en) | 1986-12-17 | 1986-12-17 | Writable read only memory |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61302115A JPS63153797A (en) | 1986-12-17 | 1986-12-17 | Writable read only memory |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63153797A true JPS63153797A (en) | 1988-06-27 |
Family
ID=17905110
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61302115A Pending JPS63153797A (en) | 1986-12-17 | 1986-12-17 | Writable read only memory |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63153797A (en) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01113999A (en) * | 1987-10-28 | 1989-05-02 | Toshiba Corp | Stress test circuit for non-volatile memory |
WO1996026522A1 (en) * | 1995-02-24 | 1996-08-29 | Advanced Micro Devices, Inc. | Flash programming of flash eeprom array |
WO1997032312A1 (en) * | 1996-02-29 | 1997-09-04 | Siemens Aktiengesellschaft | Circuit arrangement for a programmable non-volatile memory |
KR100242099B1 (en) * | 1995-08-02 | 2000-03-02 | 모리시타 요이찌 | Semiconductor memory device and control method thereof |
-
1986
- 1986-12-17 JP JP61302115A patent/JPS63153797A/en active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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