JPS63153652A - 半導体集積回路 - Google Patents
半導体集積回路Info
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- JPS63153652A JPS63153652A JP61298726A JP29872686A JPS63153652A JP S63153652 A JPS63153652 A JP S63153652A JP 61298726 A JP61298726 A JP 61298726A JP 29872686 A JP29872686 A JP 29872686A JP S63153652 A JPS63153652 A JP S63153652A
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
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- 230000007257 malfunction Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 230000000717 retained effect Effects 0.000 description 2
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- 102100036831 Steroid hormone receptor ERR2 Human genes 0.000 description 1
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Landscapes
- Microcomputers (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
この発明は、電気的に書込み可能な不揮発性メモリを内
蔵しへ半導体集積回路に適用して特に有効な技術に関し
1例えばEEPROM (E l e ctrical
ly Erasable andProgramm
able Read OnlyMemory)を内
蔵したシングルチップ・マイクロコンピュータに利用し
て有効な技術に関する。
蔵しへ半導体集積回路に適用して特に有効な技術に関し
1例えばEEPROM (E l e ctrical
ly Erasable andProgramm
able Read OnlyMemory)を内
蔵したシングルチップ・マイクロコンピュータに利用し
て有効な技術に関する。
[従来の技術]
最近、EEPROMを内蔵したシングルチップ・マイク
ロコンピュータ(以下、シングルチップマイコンと称す
る)が提供されてきており、不揮発性のデータファイル
等としてE E P ROMが用いられている。例えば
、銀行用のいわゆるICカードに応用された場合には、
入出金データ等がEEPROMに記憶されることになる
。
ロコンピュータ(以下、シングルチップマイコンと称す
る)が提供されてきており、不揮発性のデータファイル
等としてE E P ROMが用いられている。例えば
、銀行用のいわゆるICカードに応用された場合には、
入出金データ等がEEPROMに記憶されることになる
。
ところで、シングルチップマイコンは1周辺回路を制御
するための各種コントロール・レジスタ、或いは前記E
EPROMを内蔵したものにあってはEEPROMの動
作を制御するためのコントロールレジスタ等を有してい
る。しかしながら、従来、これらのレジスタはフリップ
フロップ等で構成されており、電源の遮断と共に内容が
消失される揮発性のものであった(日立評論社、昭和6
1年7月25日発行、「日立評論」第68巻第7号、第
29頁〜第32頁参照)。
するための各種コントロール・レジスタ、或いは前記E
EPROMを内蔵したものにあってはEEPROMの動
作を制御するためのコントロールレジスタ等を有してい
る。しかしながら、従来、これらのレジスタはフリップ
フロップ等で構成されており、電源の遮断と共に内容が
消失される揮発性のものであった(日立評論社、昭和6
1年7月25日発行、「日立評論」第68巻第7号、第
29頁〜第32頁参照)。
[発明が解決しようとする問題点]
そのため、素子特性等のデバイス固有のデータであって
も、電源遮断と共にレジスタから消失してしまうので再
度設定し直す必要があり、非常に不便である。また、計
測機器や精密機械の制御等に応用された場合の出荷前の
微調整や、経年変化に伴う較正を行なうことは非常に困
難であった。
も、電源遮断と共にレジスタから消失してしまうので再
度設定し直す必要があり、非常に不便である。また、計
測機器や精密機械の制御等に応用された場合の出荷前の
微調整や、経年変化に伴う較正を行なうことは非常に困
難であった。
ここで、制御用レジスタをEEPROMで構成すること
により、固有のデータを不揮発的に保持させ、或いは微
調整・較正等が行なえるようにすることも考えられる。
により、固有のデータを不揮発的に保持させ、或いは微
調整・較正等が行なえるようにすることも考えられる。
しかしながら、EEFROMには、高電圧発生回路等の
書込みのための回路が必要であり、前記した不揮発性デ
ータファイル等として使用されるEEPROMと別個に
EEPROMで構成したレジスタを設けることはハード
ウェア的な規模を著しく増大させてしまう。また。
書込みのための回路が必要であり、前記した不揮発性デ
ータファイル等として使用されるEEPROMと別個に
EEPROMで構成したレジスタを設けることはハード
ウェア的な規模を著しく増大させてしまう。また。
EEFROMは書込み所要時間が長く、書込み中はその
内容を出力することができないために、この書込み期間
中には周辺回路或いはE E P ROM書込み動作等
の制御を行なうことはできない。
内容を出力することができないために、この書込み期間
中には周辺回路或いはE E P ROM書込み動作等
の制御を行なうことはできない。
更に、前記した不揮発性データファイル等として使用さ
れるEEFROM内にレジスタ領域を形成し、不揮発保
持を可能とすることもできる。本方法によれば、書込み
のための回路を新たに設ける必要はなく、ハードウェア
的な規模の増大は最小限とすることができるものの、レ
ジスタとデータファイルを同一のEEPROMで形成し
たために、前記データファイルに書込み中は、レジスタ
の内容を出力することができず、非常に不便である。
れるEEFROM内にレジスタ領域を形成し、不揮発保
持を可能とすることもできる。本方法によれば、書込み
のための回路を新たに設ける必要はなく、ハードウェア
的な規模の増大は最小限とすることができるものの、レ
ジスタとデータファイルを同一のEEPROMで形成し
たために、前記データファイルに書込み中は、レジスタ
の内容を出力することができず、非常に不便である。
本発明の目的は、電気的に書込み可能な不揮発性メモリ
を有する半導体集積回路において、ハードウェア的な規
模の増大は最小限にして、不揮発性メモリが書込み動作
中であっても、既に所定の領域に書き込まれているデー
タを出力することができるようにして、特定のデータを
不揮発性保持とすると共に、不揮発性メモリの動作に拘
らず。
を有する半導体集積回路において、ハードウェア的な規
模の増大は最小限にして、不揮発性メモリが書込み動作
中であっても、既に所定の領域に書き込まれているデー
タを出力することができるようにして、特定のデータを
不揮発性保持とすると共に、不揮発性メモリの動作に拘
らず。
回路動作を可能とさせることにある。
この発明の前記ならびにそのほかの目的と新規な特徴に
ついては、本明細書の記述および添附図面から明らかに
なるであろう。
ついては、本明細書の記述および添附図面から明らかに
なるであろう。
口問題点を解決するための手段]
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を説明すれば、下記のとおりである。
を説明すれば、下記のとおりである。
すなわち、電気的に書込み可能な不揮発性メモリ内の特
定の領域をレジスタ領域として使用すると共に、このレ
ジスタ領域に対応して揮発性のレジスタを設け、この揮
発性レジスタには上記不揮発性メモリの対応する特定領
域(レジスタ)内のデータと同じデータを入れるように
するものである。
定の領域をレジスタ領域として使用すると共に、このレ
ジスタ領域に対応して揮発性のレジスタを設け、この揮
発性レジスタには上記不揮発性メモリの対応する特定領
域(レジスタ)内のデータと同じデータを入れるように
するものである。
[作用コ
上記した手段によれば、不揮発性メモリの特定の領域に
書込んだデータは、前記不揮発性メモリとは物理的に別
個の揮発性レジスタにも入っているため、不揮発性メモ
リに対する書込みが行なわれている期間中でも前記デー
タについては直ちにそのデータを出力することができる
ようにして、不揮発性メモリの動作に拘らず、回路動作
を可能とさせるという上記目的を達成することができる
。
書込んだデータは、前記不揮発性メモリとは物理的に別
個の揮発性レジスタにも入っているため、不揮発性メモ
リに対する書込みが行なわれている期間中でも前記デー
タについては直ちにそのデータを出力することができる
ようにして、不揮発性メモリの動作に拘らず、回路動作
を可能とさせるという上記目的を達成することができる
。
[実施例]
第1図には1本発明をシングルチップマイコンに適用し
た場合の一実施例が示されている。
た場合の一実施例が示されている。
同図において、符号1で示されているのは、MNO5(
メタル・ナイトライド・オキサイド・セミコンダクタ)
にような不揮発性記憶素子が、マトリックス状に配置さ
れてなるメモリセルアレイ(EEFROM)である。こ
のメモリセルアレイ1は、アドレスバス2およびデータ
バス3を介して、チップ全体の制御を行うマイクロプロ
セッサ(MPU)4に接続されている。特に制限はされ
ないが、このメモリセルアレイ1は、不揮発性のデータ
ファイルとして使用されlMPU4の制御によって要保
存のデータが書き込まれる。
メタル・ナイトライド・オキサイド・セミコンダクタ)
にような不揮発性記憶素子が、マトリックス状に配置さ
れてなるメモリセルアレイ(EEFROM)である。こ
のメモリセルアレイ1は、アドレスバス2およびデータ
バス3を介して、チップ全体の制御を行うマイクロプロ
セッサ(MPU)4に接続されている。特に制限はされ
ないが、このメモリセルアレイ1は、不揮発性のデータ
ファイルとして使用されlMPU4の制御によって要保
存のデータが書き込まれる。
メモリセルアレイ1は、アドレスバス2を介してMPU
4から供給されるアドレス信号をデコードするデコーダ
5によって選択され、選択されたメモリセルへのデータ
の書込み及び読出しが、例えば1バイトや1ワードのよ
うな単位で行われる。
4から供給されるアドレス信号をデコードするデコーダ
5によって選択され、選択されたメモリセルへのデータ
の書込み及び読出しが、例えば1バイトや1ワードのよ
うな単位で行われる。
メモリセルアレイ1の一側にはセンスアンプ6が配置さ
れ、読出されたデータはセンスアンプ6によって増幅さ
れてデータバス3上に出力される。
れ、読出されたデータはセンスアンプ6によって増幅さ
れてデータバス3上に出力される。
なお1図示しないが上記アドレスバス2およびデータバ
ス3には、MPU4のプログラムを格納するマスクRO
M (Re a d On 1 y Mem。
ス3には、MPU4のプログラムを格納するマスクRO
M (Re a d On 1 y Mem。
r)’) 、MPU4の作業領域或いはデータの一時記
憶領域となるRAM (Ra nd am Ac c
ess Memory)、或いはタイマ回路やシリ
アル・コミュニケーション・インタフェース回路のよう
な周辺回路が接続される。
憶領域となるRAM (Ra nd am Ac c
ess Memory)、或いはタイマ回路やシリ
アル・コミュニケーション・インタフェース回路のよう
な周辺回路が接続される。
この実施例では、上記メモリセルアレイl内の、特に制
限はされないが先頭アドレスもしくは最終アドレスのよ
うな特定領域11が他の領域と異なる取扱いがされてい
る。すなわち、デコーダ5から出力されるその特定領域
11を選択するための選択信号SELとlMPU4から
供給される読出し制御信号Rと、を入力信号とするAN
DゲートG1の出力信号によって、その特定領域11の
読出し動作の制御を行う、しかも、その特定領域11の
読出し制御は、メモリセルアレイ1内の他領域の読出し
制御とは異なる動作、つまり、この特定領域11が選択
された場合は読出しが禁止され、また、読出し制御信号
R及び書込み信号Wが共にロウレベルにされた場合に、
ANDゲートG、の出力信号によって特定領域11内の
データの読出しが可能とされるにのためにゲートG4は
信号R及びWの反転信号を受ける。
限はされないが先頭アドレスもしくは最終アドレスのよ
うな特定領域11が他の領域と異なる取扱いがされてい
る。すなわち、デコーダ5から出力されるその特定領域
11を選択するための選択信号SELとlMPU4から
供給される読出し制御信号Rと、を入力信号とするAN
DゲートG1の出力信号によって、その特定領域11の
読出し動作の制御を行う、しかも、その特定領域11の
読出し制御は、メモリセルアレイ1内の他領域の読出し
制御とは異なる動作、つまり、この特定領域11が選択
された場合は読出しが禁止され、また、読出し制御信号
R及び書込み信号Wが共にロウレベルにされた場合に、
ANDゲートG、の出力信号によって特定領域11内の
データの読出しが可能とされるにのためにゲートG4は
信号R及びWの反転信号を受ける。
一方、上記特定領域11に対する書込み制御は他の領域
と同じにされる。つまり、デコーダ5からその特定領域
11を選択する信号SELが出力され、かつ書込み制御
信号Wがハイレベルにされると、ANDゲートG2の出
力信号によって書込み可能にされるようになっている。
と同じにされる。つまり、デコーダ5からその特定領域
11を選択する信号SELが出力され、かつ書込み制御
信号Wがハイレベルにされると、ANDゲートG2の出
力信号によって書込み可能にされるようになっている。
従って、この特定領域11はマイクロプロセッサから見
ると書込み専用のメモリとされる。
ると書込み専用のメモリとされる。
この実施例では、上記特定領域11を1例えばメモリセ
ルの特性等のデバイス固有のデータを保持させる不揮発
性レジスタとして使用するものである。
ルの特性等のデバイス固有のデータを保持させる不揮発
性レジスタとして使用するものである。
上記不揮発性レジスタ11内のデータは保持するだけで
は意味がないので、不揮発性レジスタ11内のデータと
同じデータが格納されるレジスタ7が別個に設けられて
いる。このレジスタ7は。
は意味がないので、不揮発性レジスタ11内のデータと
同じデータが格納されるレジスタ7が別個に設けられて
いる。このレジスタ7は。
通常のシングルチップマイコン内に設けられているコン
トロールレジスタと同様、フリップフロップ等で構成さ
れた揮発性のレジスタである。このレジスタ7は、上記
ANDゲートG2の出力信号がORゲートG、を介して
供給されることにより、書込み制御信号Wとデコーダか
らの選択信号SELがハイレベルのときに、上記不揮発
性レジスタ11への書込みと並行してデータバス3上の
同じデータを取り込んで保持する。また、上記ANDゲ
ートG1の出力信号が供給されることにより、読出し制
御信号Rと選択信号SELがハイレベルのとき、揮発性
レジスタ7の保持データがデータバス3上に出力される
。このとき、不揮発性レジスタ11は動作されない。し
かして、不揮発性レジスタ11と揮発性レジスタ7には
、同じデータが入っているので、MPU4は、メモリセ
ルアレイ1への書込み期間中においても、揮発性レジス
タ7をアクセスしてデータを読出すことができるように
なる。
トロールレジスタと同様、フリップフロップ等で構成さ
れた揮発性のレジスタである。このレジスタ7は、上記
ANDゲートG2の出力信号がORゲートG、を介して
供給されることにより、書込み制御信号Wとデコーダか
らの選択信号SELがハイレベルのときに、上記不揮発
性レジスタ11への書込みと並行してデータバス3上の
同じデータを取り込んで保持する。また、上記ANDゲ
ートG1の出力信号が供給されることにより、読出し制
御信号Rと選択信号SELがハイレベルのとき、揮発性
レジスタ7の保持データがデータバス3上に出力される
。このとき、不揮発性レジスタ11は動作されない。し
かして、不揮発性レジスタ11と揮発性レジスタ7には
、同じデータが入っているので、MPU4は、メモリセ
ルアレイ1への書込み期間中においても、揮発性レジス
タ7をアクセスしてデータを読出すことができるように
なる。
この実施例では、更に電源電圧のレベルを検出する電源
レベル検出回路8が設けられており、電源が投入された
ことを検出して、トランスファゲート10を開くと共に
、揮発性レジスタ7をアクセスして不揮発性レジスタ1
1内のデータを揮発性レジスタ7へ転送して保持させる
ようになっている。このとき、転送に要する時間は、不
揮発性記憶素子を読出し、揮発性記憶装置に書込むため
の時間であって極めて短いと考えられる。少なくとも半
導体集積回路の内部リセットに要する時間よりは短い。
レベル検出回路8が設けられており、電源が投入された
ことを検出して、トランスファゲート10を開くと共に
、揮発性レジスタ7をアクセスして不揮発性レジスタ1
1内のデータを揮発性レジスタ7へ転送して保持させる
ようになっている。このとき、転送に要する時間は、不
揮発性記憶素子を読出し、揮発性記憶装置に書込むため
の時間であって極めて短いと考えられる。少なくとも半
導体集積回路の内部リセットに要する時間よりは短い。
これによって、ユーザが一旦不揮発性レジスタ11に書
込んだデータは、電源が切られてから再び投入された場
合にも改めて書込むことなく、いつでも使用することが
できる。
込んだデータは、電源が切られてから再び投入された場
合にも改めて書込むことなく、いつでも使用することが
できる。
第2図には、本発明の第2の実施例が示されている。
この実施例では、電源レベル検出回路8を設ける代わり
に、デコーダ5の全出力を入力したNORゲートG s
を設け、このNORゲートG5の出力信号によってトラ
ンスファゲート10を開くようにしている。つまりlM
PU4がメモリセルアレイ(不揮発性レジスタ11を含
む)1を全くアクセスしていないときに、不揮発性レジ
スタ11に読出しを指示すると共に、トランスファゲー
ト10を開いて、不揮発性レジスタ11内のデータを揮
発性レジスタ7へ転送するようになっている。
に、デコーダ5の全出力を入力したNORゲートG s
を設け、このNORゲートG5の出力信号によってトラ
ンスファゲート10を開くようにしている。つまりlM
PU4がメモリセルアレイ(不揮発性レジスタ11を含
む)1を全くアクセスしていないときに、不揮発性レジ
スタ11に読出しを指示すると共に、トランスファゲー
ト10を開いて、不揮発性レジスタ11内のデータを揮
発性レジスタ7へ転送するようになっている。
更に、データが不揮発性レジスタ11から揮発性レジス
タ7へ転送されたことを検出する検出回路91が設けら
れている。他の構成は、第1の実施例と同様である。
タ7へ転送されたことを検出する検出回路91が設けら
れている。他の構成は、第1の実施例と同様である。
この実施例においても、不揮発性レジスタ11への書込
みと同様に揮発性レジスタ7へのデータの取込みが行わ
れるため、いつでも読出しが行える。また、電源をオフ
してもデータが不揮発性レジスタ11の、方で保持され
、電源投入後メモリセルアレイ1を全くアクセスしてい
ない時間に速やかに揮発性レジスタ7へ転送される。し
かもその場合、転送前にMPU4が不揮発性レジスタ7
の読出しを行なったならば、転送検出回路91は、エラ
ー検出信号ERRIを出力して誤動作があったことをM
PU4に知らせることができる。あるいは、MPU4が
転送検出回路91内のフラグの状態を調べて、データが
転送されたことを確認してから揮発性レジスタ7の読出
しを行うことで、誤動作を防止することができる。転送
検出回路91は、トランスファゲート10が一定時間、
開かれていたことを検出すればよい。
みと同様に揮発性レジスタ7へのデータの取込みが行わ
れるため、いつでも読出しが行える。また、電源をオフ
してもデータが不揮発性レジスタ11の、方で保持され
、電源投入後メモリセルアレイ1を全くアクセスしてい
ない時間に速やかに揮発性レジスタ7へ転送される。し
かもその場合、転送前にMPU4が不揮発性レジスタ7
の読出しを行なったならば、転送検出回路91は、エラ
ー検出信号ERRIを出力して誤動作があったことをM
PU4に知らせることができる。あるいは、MPU4が
転送検出回路91内のフラグの状態を調べて、データが
転送されたことを確認してから揮発性レジスタ7の読出
しを行うことで、誤動作を防止することができる。転送
検出回路91は、トランスファゲート10が一定時間、
開かれていたことを検出すればよい。
さらに、上記フラグを利用して、一旦レジスタ間のデー
タ転送が行われたならば、データの再転送を禁止するよ
うに構成することもできる。また。
タ転送が行われたならば、データの再転送を禁止するよ
うに構成することもできる。また。
この実施例では、トランスファゲート1oを利用して揮
発性レジスタ7への書込みを行うことで、不揮発性レジ
スタ11への書込みの際に同時に揮発性レジスタ7への
書込みを行わないようにすることも可能である。但し、
不揮発性レジスタ11への書込み期間中は揮発性レジス
タ7の内容は更新されていないことになる。
発性レジスタ7への書込みを行うことで、不揮発性レジ
スタ11への書込みの際に同時に揮発性レジスタ7への
書込みを行わないようにすることも可能である。但し、
不揮発性レジスタ11への書込み期間中は揮発性レジス
タ7の内容は更新されていないことになる。
第3図には、本発明の第3の実施例が示されている。
第1と第2の実施例では、不揮発性レジスタ11と揮発
性レジスタ7とに同じアドレスが割り付けられていた。
性レジスタ7とに同じアドレスが割り付けられていた。
すなわち、デコーダ及び選択信号SELが共通化されて
いたが、この第3実施例では別々のアドレスを付与しで
ある。また、不揮発性レジスタ11から揮発性レジスタ
7へのデータの転送は、ソフトウェアで行えるようにし
である。
いたが、この第3実施例では別々のアドレスを付与しで
ある。また、不揮発性レジスタ11から揮発性レジスタ
7へのデータの転送は、ソフトウェアで行えるようにし
である。
つまり、MPU4がプログラムによって、先ず不揮発性
レジスタ11からデータを読出してから、揮発性レジス
タ7を指定してデータバス3を介してそのデータを書込
むことによって転送が行われる。
レジスタ11からデータを読出してから、揮発性レジス
タ7を指定してデータバス3を介してそのデータを書込
むことによって転送が行われる。
さらに、この実施例では、不揮発性レジスタ11と揮発
性レジスタ7の状態を示すためのフラグ92が設けられ
ている。このフラグ92は不揮発性レジスタ1↓への書
込みが行われたときおよびパワーオンリセット回路のよ
うな電源レベル検出回路8からのパルス信号によってそ
れぞれセット状1rIAにされる。このとき、不揮発性
レジスタ11と揮発性レジスタ7の内容は一致していな
い。従って、マイクロプロセッサはその状態信号Qを調
べることによって、転送を行う必要があるが否かを知る
ことができる。
性レジスタ7の状態を示すためのフラグ92が設けられ
ている。このフラグ92は不揮発性レジスタ1↓への書
込みが行われたときおよびパワーオンリセット回路のよ
うな電源レベル検出回路8からのパルス信号によってそ
れぞれセット状1rIAにされる。このとき、不揮発性
レジスタ11と揮発性レジスタ7の内容は一致していな
い。従って、マイクロプロセッサはその状態信号Qを調
べることによって、転送を行う必要があるが否かを知る
ことができる。
また、上記フラグ92は、揮発性レジスタ7への書込み
があったとき、リセット状態にされる。
があったとき、リセット状態にされる。
従って、状態信号Qがリセット状態を示していれば、不
揮発性レジスタ11と揮発性レジスタ7の内容が一致し
ていることを意味する。
揮発性レジスタ11と揮発性レジスタ7の内容が一致し
ていることを意味する。
さらに、この実施例では、揮発性レジスタ7を指定する
ためのデコーダ57の選択信号と読出し制御信号との論
理積をとるANDゲートG6の出力信号に基づいて、フ
ラグ92がセット状態(レジスタの内容が不一致)のと
きに揮発性レジスタ7の読出しが行われると、エラー検
出信号ERR2を出力するように構成されている。
ためのデコーダ57の選択信号と読出し制御信号との論
理積をとるANDゲートG6の出力信号に基づいて、フ
ラグ92がセット状態(レジスタの内容が不一致)のと
きに揮発性レジスタ7の読出しが行われると、エラー検
出信号ERR2を出力するように構成されている。
また、不揮発性レジスタ11と揮発性レジスタ7の内容
の更新の際には、一方に対する書込みを行なったことに
よってフラグ92をセットし、更に他方に対する書込み
を行なったことによってリセットするような構成として
もよい。
の更新の際には、一方に対する書込みを行なったことに
よってフラグ92をセットし、更に他方に対する書込み
を行なったことによってリセットするような構成として
もよい。
第4図には、本発明の第4の実施例が示されている。こ
の実施例では、第3の実施例同様、不揮発性レジスタ1
1と揮発性レジスタ7とに別個のアドレスが与えられて
いる。ただし、揮発性レジスタ7は、ANDゲートG□
の出力信号によって不揮発性レジスタ11が読出し状態
にされたとき。
の実施例では、第3の実施例同様、不揮発性レジスタ1
1と揮発性レジスタ7とに別個のアドレスが与えられて
いる。ただし、揮発性レジスタ7は、ANDゲートG□
の出力信号によって不揮発性レジスタ11が読出し状態
にされたとき。
書込み状態にされるようになっている。つまり、不揮発
性レジスタ11の読出しを行なえば、そのデータはデー
タバス3上に出力されるのでそれをそのまま揮発性レジ
スタ7へ書き込むことにより、転送してしまうというも
のである。不揮発性メモリに対する書込みを行なった直
後には、書込みが正常に行なわれたか否かを確認するた
めに読出しが行なわれるので、前記転送はこの読出しと
同時に行なうことができる。
性レジスタ11の読出しを行なえば、そのデータはデー
タバス3上に出力されるのでそれをそのまま揮発性レジ
スタ7へ書き込むことにより、転送してしまうというも
のである。不揮発性メモリに対する書込みを行なった直
後には、書込みが正常に行なわれたか否かを確認するた
めに読出しが行なわれるので、前記転送はこの読出しと
同時に行なうことができる。
揮発性レジネタ7の読出しは、これに与えられたアドレ
スをデコードすることによって選択信号を形成するデコ
ーダ57からの信号によって行なわれる。
スをデコードすることによって選択信号を形成するデコ
ーダ57からの信号によって行なわれる。
この実施例でも、不揮発性レジスタ11から揮発性レジ
スタ7へのデータの転送をソフトウェアによって行なう
必要があり、転送が終了するまではデータが一致しない
おそれはあるが、それは第3の実施例におけるフラグ9
2と同じようなフラグを設けたり、リセット後は先ず不
揮発性レジスタ11の読出しをな行うようにすることで
回避できる。また、この実施例においても、不揮発性レ
ジスタ11から揮発性レジスタ7へ一部データを転送し
てしまえば、メモリセルアレイ1への書込み中であって
も、揮発性レジスタ7内のデータの読出しを行なうこと
ができる。
スタ7へのデータの転送をソフトウェアによって行なう
必要があり、転送が終了するまではデータが一致しない
おそれはあるが、それは第3の実施例におけるフラグ9
2と同じようなフラグを設けたり、リセット後は先ず不
揮発性レジスタ11の読出しをな行うようにすることで
回避できる。また、この実施例においても、不揮発性レ
ジスタ11から揮発性レジスタ7へ一部データを転送し
てしまえば、メモリセルアレイ1への書込み中であって
も、揮発性レジスタ7内のデータの読出しを行なうこと
ができる。
なお、上記実施例では、いずれも不揮発性レジスタ11
と揮発性レジスタ7が1つずつ設けられているものにつ
いて説明したが、これらのレジスタはそれぞれ複数持た
せるようにすることもできる。少なくとも不揮発性レジ
スタがメモリアレイの中で複数行にわたらない限りトラ
ンスファゲートを相当数設けることによって容易に実現
可能である。
と揮発性レジスタ7が1つずつ設けられているものにつ
いて説明したが、これらのレジスタはそれぞれ複数持た
せるようにすることもできる。少なくとも不揮発性レジ
スタがメモリアレイの中で複数行にわたらない限りトラ
ンスファゲートを相当数設けることによって容易に実現
可能である。
また、上記揮発性レジスタ7は、MPU4がアクセス可
能なアドレス空間上に存在する必要はない0例えば、不
揮発性レジスタ11の内容の一部または全部を揮発性レ
ジスタ7に保持すると共に。
能なアドレス空間上に存在する必要はない0例えば、不
揮発性レジスタ11の内容の一部または全部を揮発性レ
ジスタ7に保持すると共に。
その内容に従って制御信号を発生し、周辺回路或いは半
導体集積回路全体の回路動作が決定される構成としても
よい、シングルチップマイコンが。
導体集積回路全体の回路動作が決定される構成としても
よい、シングルチップマイコンが。
シングルチップモード或いはバス拡張モード等の複数の
動作モードを有する場合、そのモードを指定する情報を
入れ、それに基づいて動作状態を決定できるようにする
こともできる。
動作モードを有する場合、そのモードを指定する情報を
入れ、それに基づいて動作状態を決定できるようにする
こともできる。
さらに、上記実施例では、不揮発性レジスタ11および
揮発性レジスタ7には、EEPROMのメモリセルの特
性等のデバイス固有のデータを入れると説明したが、そ
の他にも揮発性レジスタ7に比較器を組合せて、例えば
、暗号情報の保持と。
揮発性レジスタ7には、EEPROMのメモリセルの特
性等のデバイス固有のデータを入れると説明したが、そ
の他にも揮発性レジスタ7に比較器を組合せて、例えば
、暗号情報の保持と。
前記暗号の照合を共にソフトウェアを用いずに行なうこ
とのできる構成とすることもできる。
とのできる構成とすることもできる。
以上、第1、第2、第4の実施例においては、揮発性レ
ジスタ7に保持する内容は不揮発性レジスタ11と同一
の内容でなければならない構成となっており1機密保護
が必要な場合に有効である。
ジスタ7に保持する内容は不揮発性レジスタ11と同一
の内容でなければならない構成となっており1機密保護
が必要な場合に有効である。
すなわち、ソフトウェアを不正に操作することによって
不正なデータを揮発性レジスタ7に書込むことが不可能
であるためである。このような機密保護が必要な応用に
おいては、不揮発性レジスタ11の書替えを禁止できる
構成とすればより有効となる。
不正なデータを揮発性レジスタ7に書込むことが不可能
であるためである。このような機密保護が必要な応用に
おいては、不揮発性レジスタ11の書替えを禁止できる
構成とすればより有効となる。
以上説明したように上記実施例は、電気的に書込み可能
な不揮発性メモリ内の特定の領域をレジスタ領域として
使用すると共に、このレジスタ領域に対応して揮発性の
レジスタを設け、この揮発性レジスタには、上記不揮発
性メモリの対応する特定領域(不揮発性レジスタ)内の
データと同じデータを入れるようにしたので、不揮発性
メモリの特定の領域に書込んだデータは、前記不揮発性
メモリとは物理的に別個の揮発性レジスタにも入ってい
るため、不揮発性メモリに対する書込みが行なわれてい
る期間中でも特定のデータについては直ちに出力するこ
とができるようになり、これによって特定のデータを不
揮発保持すると共に、不揮発性メモリの動作に拘らず回
路動作が可能となるという効果がある。
な不揮発性メモリ内の特定の領域をレジスタ領域として
使用すると共に、このレジスタ領域に対応して揮発性の
レジスタを設け、この揮発性レジスタには、上記不揮発
性メモリの対応する特定領域(不揮発性レジスタ)内の
データと同じデータを入れるようにしたので、不揮発性
メモリの特定の領域に書込んだデータは、前記不揮発性
メモリとは物理的に別個の揮発性レジスタにも入ってい
るため、不揮発性メモリに対する書込みが行なわれてい
る期間中でも特定のデータについては直ちに出力するこ
とができるようになり、これによって特定のデータを不
揮発保持すると共に、不揮発性メモリの動作に拘らず回
路動作が可能となるという効果がある。
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。例えば、上記実施例では
、不揮発性メモリが電気的に書込み消去可能なE E
P ROMで構成されているものについて説明したが、
不揮発性メモリがFAMO5(Floating g
ateAvalanche 1njection M
OS)のような記憶素子からなる電気的に書込み、紫外
線による消去が可能なEPROM (E r a s
a ble and Programmable
ROM)で構成されている場合にも適用することがで
きる。
体的に説明したが、本発明は上記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。例えば、上記実施例では
、不揮発性メモリが電気的に書込み消去可能なE E
P ROMで構成されているものについて説明したが、
不揮発性メモリがFAMO5(Floating g
ateAvalanche 1njection M
OS)のような記憶素子からなる電気的に書込み、紫外
線による消去が可能なEPROM (E r a s
a ble and Programmable
ROM)で構成されている場合にも適用することがで
きる。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野であるEEPROMを内蔵
したシングルチップマイコンに適用したものについて説
明したが、各種パラメータや初期条件等を設定するコン
トロールレジスタ等記憶装置を備えた半導体集積回路一
般に、利用することができる。
をその背景となった利用分野であるEEPROMを内蔵
したシングルチップマイコンに適用したものについて説
明したが、各種パラメータや初期条件等を設定するコン
トロールレジスタ等記憶装置を備えた半導体集積回路一
般に、利用することができる。
[発明の効果]
本願において開示される発明のうち代表的なものによっ
て得られる効果を簡単に説明すれば下記のとおりである
。
て得られる効果を簡単に説明すれば下記のとおりである
。
不揮発性メモリを備えたシングルチップマイコン等の半
導体集積回路において、ハードウェア的な規模の増大は
最小限としながら特定のデータを不揮発保持すると共に
、不揮発性メモリが書込み中であっても特定のデータに
ついては直ちに出力することができるようにし、これに
よって不揮発性メモリの動作に拘らず回路動作を可能と
させることができる。
導体集積回路において、ハードウェア的な規模の増大は
最小限としながら特定のデータを不揮発保持すると共に
、不揮発性メモリが書込み中であっても特定のデータに
ついては直ちに出力することができるようにし、これに
よって不揮発性メモリの動作に拘らず回路動作を可能と
させることができる。
第1図は、本発明をシングルチップマイコンに適用した
場合の一実施例を示すブロック図、第2図は、本発明の
第2の実施例を示すブロック図、 第3図は、本発明の第3の実施例を示すブロック図、 第4図は、本発明の第4の実施例を示すブロック図であ
る。 1・・・・不揮発性記憶部(メモリセルアレイ)、11
・・・・不揮発性レジスタ、4・・・・マイクロプロセ
ッサ、7・・・・揮発性レジスタ、10・・・・トラン
スファゲート。 第 1 図 第 2 図 第 3 図 第 4 図
場合の一実施例を示すブロック図、第2図は、本発明の
第2の実施例を示すブロック図、 第3図は、本発明の第3の実施例を示すブロック図、 第4図は、本発明の第4の実施例を示すブロック図であ
る。 1・・・・不揮発性記憶部(メモリセルアレイ)、11
・・・・不揮発性レジスタ、4・・・・マイクロプロセ
ッサ、7・・・・揮発性レジスタ、10・・・・トラン
スファゲート。 第 1 図 第 2 図 第 3 図 第 4 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、不揮発性記憶素子からなる記憶部を備えた半導体集
積回路において、上記記憶部内に不揮発性レジスタ領域
を設けると共に、上記記憶部とは別個に、上記不揮発性
レジスタ領域に対応された揮発性レジスタを設けたこと
を特徴とする半導体集積回路。 2、上記不揮発性レジスタ領域と揮発性レジスタとの間
には転送ゲートが設けられ、電源投入後もしくは上記記
憶部の非アクセス時に上記転送ゲートが開かれて不揮発
性レジスタ領域の内容が揮発性レジスタに転送されるよ
うにされてなることを特徴とする特許請求の範囲第1項
記載の半導体集積回路。 3、上記不揮発性レジスタ領域と揮発性レジスタには、
同一のアドレスが付与され、マイクロプロセッサによっ
てアクセス可能にされてなることを特徴とする特許請求
の範囲第1項乃至第2項記載の半導体集積回路。 4、上記不揮発性レジスタ領域と揮発性レジスタの内容
の不一致を知らせるフラグが設けられてなることを特徴
とする特許請求の範囲第1項乃至第3項記載の半導体集
積回路。 5、上記不揮発性記憶素子は、EEPROMであること
を特徴とする特許請求の範囲第1項乃至第4項記載の半
導体集積回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61298726A JPS63153652A (ja) | 1986-12-17 | 1986-12-17 | 半導体集積回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61298726A JPS63153652A (ja) | 1986-12-17 | 1986-12-17 | 半導体集積回路 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63153652A true JPS63153652A (ja) | 1988-06-27 |
Family
ID=17863480
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61298726A Pending JPS63153652A (ja) | 1986-12-17 | 1986-12-17 | 半導体集積回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63153652A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010108253A (ja) * | 2008-10-30 | 2010-05-13 | Hitachi Ltd | 不揮発性メモリを主記憶に用いた装置 |
-
1986
- 1986-12-17 JP JP61298726A patent/JPS63153652A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010108253A (ja) * | 2008-10-30 | 2010-05-13 | Hitachi Ltd | 不揮発性メモリを主記憶に用いた装置 |
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