JPS63153458A - 蛍光ｘ線分析用試料ホルダ− - Google Patents
蛍光ｘ線分析用試料ホルダ−Info
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- JPS63153458A JPS63153458A JP61302396A JP30239686A JPS63153458A JP S63153458 A JPS63153458 A JP S63153458A JP 61302396 A JP61302396 A JP 61302396A JP 30239686 A JP30239686 A JP 30239686A JP S63153458 A JPS63153458 A JP S63153458A
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- fluorescent
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Landscapes
- Sampling And Sample Adjustment (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
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Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、スラリー状の試料を直接螢光Ｘ線分析する装
置に用いるための改良された試料ホルダーに関するもの
である。さらに詳しくいえば、試料と試料室とを隔離す
るためのカバーシートとして特殊な材料を用いることに
よシ、Ｘ線強度の減衰を少なくし、効率よく分析を行い
うるように改良した試料ホルダーに関するものである。
置に用いるための改良された試料ホルダーに関するもの
である。さらに詳しくいえば、試料と試料室とを隔離す
るためのカバーシートとして特殊な材料を用いることに
よシ、Ｘ線強度の減衰を少なくし、効率よく分析を行い
うるように改良した試料ホルダーに関するものである。
従来の技術
螢光Ｘ線分析は、粉末ヤ金その他の分野で広く用いられ
ている定量分析方法であって、通常、所定の試料を適当
な溶媒とともにボールミルなどによ多湿式粉砕したのち
、溶媒を除去して粉末の状態、あるいはガラス化剤と混
合溶融して固定化した状態で分析装置にかけて行われて
いるが、上記溶媒を除去して粉末の状態で分析すること
は、溶媒の除去、乾燥に長時間を要するし、またガラス
化によシ固定して分析することは試料の調製が煩雑にな
るなどの不便があることから、近時スラリー状で得られ
る試料をそのまま分析する方法が注目されている。
ている定量分析方法であって、通常、所定の試料を適当
な溶媒とともにボールミルなどによ多湿式粉砕したのち
、溶媒を除去して粉末の状態、あるいはガラス化剤と混
合溶融して固定化した状態で分析装置にかけて行われて
いるが、上記溶媒を除去して粉末の状態で分析すること
は、溶媒の除去、乾燥に長時間を要するし、またガラス
化によシ固定して分析することは試料の調製が煩雑にな
るなどの不便があることから、近時スラリー状で得られ
る試料をそのまま分析する方法が注目されている。
ところで、このスラリー状の試料は、試料ホルダーに詰
め、Ｘ線螢光分析装置の試料室内に収容されるが、測定
時に試料室が真空条件にもたらされた際、試料が飛散す
るのを防止するために、試料ホルダーの開口部をカバー
シートで覆う必要がある。この際、カバーシートラ網で
ささえ、補強することが好ましい。
め、Ｘ線螢光分析装置の試料室内に収容されるが、測定
時に試料室が真空条件にもたらされた際、試料が飛散す
るのを防止するために、試料ホルダーの開口部をカバー
シートで覆う必要がある。この際、カバーシートラ網で
ささえ、補強することが好ましい。
これまで、このカバーシートとしては、ポリプロピレン
フィルムが用いられているが、Ｘ線に対する減衰度が高
く、Ｘ線の感度が低下するため、測定値の精度が低下す
るのを免れない。
フィルムが用いられているが、Ｘ線に対する減衰度が高
く、Ｘ線の感度が低下するため、測定値の精度が低下す
るのを免れない。
発明が解決しようとする問題点
本発明の目的は、従来のポリプロピレンフィルムをカバ
ーシートとして用いたＸ線螢光分析用試料ホルダーの欠
点を克服し、Ｘ線の感度を低下させることが少なく、高
い精度で測定することができるように改良された試料ホ
ルダーを提供することである。
ーシートとして用いたＸ線螢光分析用試料ホルダーの欠
点を克服し、Ｘ線の感度を低下させることが少なく、高
い精度で測定することができるように改良された試料ホ
ルダーを提供することである。
問題点を解決するための手段
本発明者は、Ｘ線に対する減衰度が低く、試料ホルダー
のカバーシート材料として使用可能なプラスチックにつ
いて種々検討した結果、ポリイミド、ポリエーテルイミ
ド及びポリエーテルエーテルケトンがその目的に適合す
ることを見出し、この知見に基づいて本発明をなすに至
った。
のカバーシート材料として使用可能なプラスチックにつ
いて種々検討した結果、ポリイミド、ポリエーテルイミ
ド及びポリエーテルエーテルケトンがその目的に適合す
ることを見出し、この知見に基づいて本発明をなすに至
った。
すなわち、本発明は、所定の試料にＸ線を照射し、試料
中の各元素から発生する螢光Ｘ線の強度を測定して物質
の分析を行うための装置において使用される試料ホルダ
ーであって、試料と試料室とを隔離するカバーシートと
して、ポリイミド、ポリエーテルイミド又はポリエーテ
ルエーテルケトンのフィルムを用いたことを特徴とする
ものである。
中の各元素から発生する螢光Ｘ線の強度を測定して物質
の分析を行うための装置において使用される試料ホルダ
ーであって、試料と試料室とを隔離するカバーシートと
して、ポリイミド、ポリエーテルイミド又はポリエーテ
ルエーテルケトンのフィルムを用いたことを特徴とする
ものである。
本発明のカバーシートの材料として用いるポリイミド、
ポリエーテルイミド、ポリエーテルエーテルケトンは、
いずれも市販されているフィルム状のものをそのまま使
用することができる。このカバーシートの厚さとしては
、５〜１００μｍの範囲が適当であるが、Ｘ線強度の減
衰率を低下させるために３０μｍ以下の厚さにするのが
有利である。
ポリエーテルイミド、ポリエーテルエーテルケトンは、
いずれも市販されているフィルム状のものをそのまま使
用することができる。このカバーシートの厚さとしては
、５〜１００μｍの範囲が適当であるが、Ｘ線強度の減
衰率を低下させるために３０μｍ以下の厚さにするのが
有利である。
また、試料として軽元素例えばケイ素を含有するもの全
測定する場合には、特にポリエーテルイミド及びポリエ
ーテルエーテルケトンが適している。
測定する場合には、特にポリエーテルイミド及びポリエ
ーテルエーテルケトンが適している。
次に添附図面に従って、本発明をさらに詳細に説明する
。
。
第１図は、本発明の試料ホルダーの１例を示す断面図で
あって、試料ホルダー１は主体部２及び開口部４をもつ
蓋部３から構成され、蓋部３には試料光てん部５とそれ
を覆うためのカバーシート６が備えられている。
あって、試料ホルダー１は主体部２及び開口部４をもつ
蓋部３から構成され、蓋部３には試料光てん部５とそれ
を覆うためのカバーシート６が備えられている。
次に第２図は、上記の試料ホルダー↓を、螢光Ｘ線分析
装置に収容して使用する状態を示す断面図であって、試
料収容室７に収容された試料ホルダー１の上方よ、！１
ｌｌＸ線管８からＸ線が照射され、それは試料ホルダー
の蓋部の開口部４全通して、試料に達する。この試料か
ら発生した螢光Ｘ線は分光器９に捕捉され、その強度が
測定部（図示せず）によって測定される。
装置に収容して使用する状態を示す断面図であって、試
料収容室７に収容された試料ホルダー１の上方よ、！１
ｌｌＸ線管８からＸ線が照射され、それは試料ホルダー
の蓋部の開口部４全通して、試料に達する。この試料か
ら発生した螢光Ｘ線は分光器９に捕捉され、その強度が
測定部（図示せず）によって測定される。
発明の効果
本発明の試料ホルダーは、前記した構成を有し、これに
よって従来の試料ホルダーを用いた場合よりも、はるか
に低いＸ線強度の減衰率でもって各種スラリー状試料の
測定を行うことができるので、精度の高い測定値を得る
ことができる。
よって従来の試料ホルダーを用いた場合よりも、はるか
に低いＸ線強度の減衰率でもって各種スラリー状試料の
測定を行うことができるので、精度の高い測定値を得る
ことができる。
実施例
次に実施例によって本発明をさらに詳細に説明する。
実施例１
測定室とシートとの間に補強用網を有する島津製作所製
「螢光Ｘ線装置ＶＸＱ、−１５０Ｊ ’ｉ用い、かつカ
バーシートとして第１表に示す材料を５０μｍの膜厚で
用い、以下の測定条件で、重元素として銅含有試料を測
定した。各カバーシートごとの螢光Ｘ線強度の減衰率を
第２表に示す。
「螢光Ｘ線装置ＶＸＱ、−１５０Ｊ ’ｉ用い、かつカ
バーシートとして第１表に示す材料を５０μｍの膜厚で
用い、以下の測定条件で、重元素として銅含有試料を測
定した。各カバーシートごとの螢光Ｘ線強度の減衰率を
第２表に示す。
管球 Ｒｈ
電圧−電流 ４０７Ｎ−７０ｍＡ
計数時間 ３０秒
照射面積（開口部径） ３０ｍｍφＰＨＡ
Ｄｎｔｆ 分析線 にα線 分光結晶 ＬｉＦ 第 ２ 表 実施例２ 実施例１と同じ装置を用い、ケイ素含有試料について、
分析線にα線、分光結晶工ｎＳｂその他の条件は実施例
１と同様にしてＸ線螢光強度の測定を行った。カバーシ
ートの材料ごとの減衰率を第３衣に示す。
Ｄｎｔｆ 分析線 にα線 分光結晶 ＬｉＦ 第 ２ 表 実施例２ 実施例１と同じ装置を用い、ケイ素含有試料について、
分析線にα線、分光結晶工ｎＳｂその他の条件は実施例
１と同様にしてＸ線螢光強度の測定を行った。カバーシ
ートの材料ごとの減衰率を第３衣に示す。
第 ３ 表
第１図は、本発明の試料ホルダーの１例を示す断面図、
第２図は試料ホルダーを蛍光Ｘ線分析装置に収容して使
用する状態を示す断面図である。 図中符号１．１は試料ホルダー、２は主体部、３は蓋部
、４は開口部、６はカバーシート、７は試料収容室、８
はＸ線管、９は分光器を示す。
第２図は試料ホルダーを蛍光Ｘ線分析装置に収容して使
用する状態を示す断面図である。 図中符号１．１は試料ホルダー、２は主体部、３は蓋部
、４は開口部、６はカバーシート、７は試料収容室、８
はＸ線管、９は分光器を示す。
Claims (1)
- １ 所定の試料にＸ線を照射し、試料中の各元素から発
生する螢光Ｘ線の強度を測定して物質の分析を行うため
の装置において使用される試料ホルダーであつて、試料
と試料室とを隔離するカバーシートとして、ポリイミド
、ポリエーテルイミド又はポリエーテルエーテルケトン
のフィルムを用いたことを特徴とする試料ホルダー。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61302396A JPS63153458A (ja) | 1986-12-18 | 1986-12-18 | 蛍光ｘ線分析用試料ホルダ− |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61302396A JPS63153458A (ja) | 1986-12-18 | 1986-12-18 | 蛍光ｘ線分析用試料ホルダ− |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63153458A true JPS63153458A (ja) | 1988-06-25 |
Family
ID=17908407
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61302396A Pending JPS63153458A (ja) | 1986-12-18 | 1986-12-18 | 蛍光ｘ線分析用試料ホルダ− |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63153458A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0801739A1 (en) * | 1993-04-15 | 1997-10-22 | TORRISI, Angelo M. | Safety ring for double open-ended sample holder cell for spectroscopic analysis |
| US6915712B1 (en) * | 2002-09-06 | 2005-07-12 | Bel-Art Products, Inc. | Detectable sampling arrangement |
| JP2020502488A (ja) * | 2016-10-28 | 2020-01-23 | エフ・ホフマン−ラ・ロシュ・アクチェンゲゼルシャフト | 物質の固体特性を分析するための試料ホルダ |
-
1986
- 1986-12-18 JP JP61302396A patent/JPS63153458A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0801739A1 (en) * | 1993-04-15 | 1997-10-22 | TORRISI, Angelo M. | Safety ring for double open-ended sample holder cell for spectroscopic analysis |
| EP0801739A4 (ja) * | 1993-04-15 | 1997-11-12 | ||
| US6915712B1 (en) * | 2002-09-06 | 2005-07-12 | Bel-Art Products, Inc. | Detectable sampling arrangement |
| JP2020502488A (ja) * | 2016-10-28 | 2020-01-23 | エフ・ホフマン−ラ・ロシュ・アクチェンゲゼルシャフト | 物質の固体特性を分析するための試料ホルダ |
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