JPS63152010A - Production of thin film magnetic head - Google Patents

Production of thin film magnetic head

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JPS63152010A
JPS63152010A JP29911186A JP29911186A JPS63152010A JP S63152010 A JPS63152010 A JP S63152010A JP 29911186 A JP29911186 A JP 29911186A JP 29911186 A JP29911186 A JP 29911186A JP S63152010 A JPS63152010 A JP S63152010A
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coil
film
groove
forming
conductor coil
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誠 森尻
Shinichi Hara
真一 原
Eiji Ashida
栄次 芦田
Takashi Kawabe
川辺 隆
Tsuneo Yoshinari
吉成 恒男
Masanobu Hanazono
雅信 華園
Saburo Suzuki
三郎 鈴木
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Abstract

PURPOSE:To obtain an even upper insulation layer having a few gaps where it is not easy that blowholes remain by forming a groove corresponding to the width of a coil, the height of a coil and the space between coils on a lower insulation layer and applying the upper insulation layer on an outer surface which is even by forming a coil in the groove. CONSTITUTION:A lower insulation film 2 is formed in a specified film thickness on a substrate 1 and a photoresist pattern 3 is formed on the surface of the film 2, then the groove with the specified shape and dimension corresponding to the coil is formed on the lower insulation film 2 in a drying method. And an activating process which is the pre-processing of non-electrolytic plating is executed but a film 4 obtained with the activating process remains only on the inner wall of the groove by removing the photoresist pattern 3. A plated film 5 as a coil grows on the inner wall of the groove and fills the inside of the groove. Therefore, the heights between the upper surface of the coil 5 and the coil become almost equal after forming the coil and the upper insulation layer 6 is formed on the said surface. Thus, in case of forming the upper insulation layer 6 in subsequent processes, the blowholes do not remain and the outer surface of the upper insulation layer 6 becomes almost even.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は薄膜磁気ヘッドの製造法に係り、特に薄膜磁気
ヘッドのコイル及び絶縁膜の形成に好適な薄膜磁気ヘッ
ドの製造方法に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a method for manufacturing a thin film magnetic head, and particularly to a method for manufacturing a thin film magnetic head suitable for forming a coil and an insulating film of the thin film magnetic head.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

磁気記録においてピット密度とトラック密度を高めて記
録密度を高めるため、薄膜磁気ヘッドが用いられている
。第4図に一層ス/’Pイラル・マルチターン・コイル
を用いた薄膜磁気ヘッドの代表的な構成図を示す。同図
(、)は正面図で、同図(b)は(、)のA−A断面の
拡大図である。コイル20はスパイラル状となっており
、その両端はコイル引出し端子25を介して、外部電気
回路と接続される。
In magnetic recording, thin film magnetic heads are used to increase pit density and track density to increase recording density. FIG. 4 shows a typical configuration diagram of a thin film magnetic head using a single-layer spiral multi-turn coil. The same figure (,) is a front view, and the same figure (b) is an enlarged view of the AA cross section of (,). The coil 20 has a spiral shape, and both ends thereof are connected to an external electric circuit via coil lead-out terminals 25.

このコイル20は下部磁性膜21、上部磁性膜23、ギ
ャップ絶縁層22から成る磁気回路と鎖交している。書
込み時には、簀込み信号電流がコイル引出し端子25を
介してコイル20を流れ、書込み信号に応じた磁場を発
生させる。すると、コイル20に近接する磁性膜21.
23中に磁束が生じるが、この磁気回路の開口部である
ギャップ近傍に漏えい磁束を作ることになシ、エアベア
リング面24を介して、ギャップに対面する磁性媒体に
磁気1込みを行なう。一方、読み出し時には、磁性媒体
に記録され、漏えいす、る磁束は、エアベアリング面2
4を介して、上記磁気回路中を貫通し、磁束変化に応じ
次誘導電流がコイル中を流れる。
This coil 20 is interlinked with a magnetic circuit consisting of a lower magnetic film 21, an upper magnetic film 23, and a gap insulating layer 22. During writing, a locking signal current flows through the coil 20 via the coil lead-out terminal 25 to generate a magnetic field according to the writing signal. Then, the magnetic film 21 .near the coil 20 .
Although magnetic flux is generated in the air bearing surface 23, magnetic flux is generated in the vicinity of the gap, which is the opening of the magnetic circuit, and magnetic flux is applied to the magnetic medium facing the gap via the air bearing surface 24. On the other hand, during reading, the magnetic flux recorded on the magnetic medium and leaking is transferred to the air bearing surface 2.
4, the magnetic circuit passes through the magnetic circuit, and an induced current flows through the coil in response to changes in magnetic flux.

第5図(1)〜(7)は従来のこのような一層スノイラ
ルーマルチ・ターン・コイルの製造プロセスを示す。基
板1の上に、先ず、下部磁極21を形成し、その上にヘ
ッド・ギャップを形成するためのギャップ絶縁層22を
設け、さらに下部絶縁層2を重ね念比、コイル20をパ
ターニングし、これを上部絶縁層6で包んだ後に上部磁
極23を形成するものである。(以上、日経エレクトロ
ニクス1980年7月7日号110頁〜111頁参照。
FIGS. 5(1) to 5(7) show the conventional manufacturing process of such a single-layer snoiler multi-turn coil. First, a lower magnetic pole 21 is formed on a substrate 1, a gap insulating layer 22 for forming a head gap is provided on the lower magnetic pole 21, a lower insulating layer 2 is overlaid, and a coil 20 is patterned. The upper magnetic pole 23 is formed after the upper magnetic pole 23 is wrapped with the upper insulating layer 6. (See Nikkei Electronics, July 7, 1980 issue, pages 110-111.

)コイル20と磁極21.23との電気的絶縁等のため
に用いられる上記絶縁層2,6として、フォトレジスト
を硬化したものが用いられていた。
) Hardened photoresists have been used as the insulating layers 2 and 6 used for electrical insulation between the coil 20 and the magnetic poles 21 and 23.

しかし、フォトレジストは耐熱性が悪いという問題があ
る。そこで、耐熱性を向上させるため、ポリイミド樹脂
を絶縁膜に用いた例がアイ・イー・イー・イー、トラン
プクシ璽ンオンマグネティックス、エム ニー ジー1
5(1979年)第1616頁から第1618頁(1,
E、 E、 E。
However, photoresists have a problem of poor heat resistance. Therefore, in order to improve heat resistance, examples of using polyimide resin in the insulating film are IEE, TrumpKushion Magnetics, and MNG1.
5 (1979) pp. 1616-1618 (1,
E, E, E.

Trana、Mag、 MAG−15p、1616〜1
 6 18(1979) 、  M、 Hanazon
o  et  al、、 @Fabricationo
f 8 Turn Multi−track Th1n
 Film H@ad’ )に示されている。
Trana, Mag, MAG-15p, 1616-1
6 18 (1979), M. Hanazon
o et al,, @Fabricationo
f 8 Turn Multi-track Th1n
Film H@ad').

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

高密度記録を行なうためには、コイルのターン数を増や
し、また各ヘッドの寸法の縮小が必要となる。したがっ
てコイル及びコイル間隙の数が増え、コイル幅及びコイ
ルの間隔が狭まる。前記フォトレジストやポリイミド樹
脂はいずれも塗布されるものであるが、コイル間隔が狭
まると、上部絶縁層塗布の際に気泡が抜けに<<、上部
絶縁層中に気泡が残存しやすくなり、磁気ヘッドの信頼
性が低下するという問題があった。
In order to perform high-density recording, it is necessary to increase the number of turns in the coil and reduce the dimensions of each head. Therefore, the number of coils and coil gaps increases, and the coil width and spacing between the coils decreases. The above-mentioned photoresist and polyimide resin are both coated, but when the coil spacing becomes narrow, air bubbles are easily removed when coating the upper insulating layer, and air bubbles tend to remain in the upper insulating layer, causing magnetic There was a problem that the reliability of the head decreased.

また、従来は、コイル上面とコイル間との高さの差があ
る部分の上に上部絶縁層を塗布、充填するので、形成し
た上部絶縁層の外表面は凹凸が大となる。この凹凸の大
きな表面に上部磁性膜を形成すると、膜厚のばらつきが
大きくなり、膜厚が一様にならず、磁気ヘッドの特性劣
化を招くこと゛になる。そこで、従来は上部絶縁層外表
面の平坦化の工程が必要であり、工程が複雑になって経
済性が悪化していた。
Furthermore, conventionally, since the upper insulating layer is coated and filled over the portion where there is a height difference between the upper surface of the coil and the coils, the outer surface of the formed upper insulating layer has large irregularities. If the upper magnetic film is formed on this highly uneven surface, the film thickness will vary greatly, the film thickness will not be uniform, and the characteristics of the magnetic head will deteriorate. Therefore, conventionally, a step of planarizing the outer surface of the upper insulating layer was required, which complicated the process and worsened economic efficiency.

本発明の目的は、残存気泡がなく、かつ上部絶縁層の外
表面が平坦な薄膜磁気ヘッドの製造方法を提供するにあ
る。
An object of the present invention is to provide a method for manufacturing a thin film magnetic head in which there are no residual bubbles and the outer surface of the upper insulating layer is flat.

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

上記目的は、コイル幅、コイル高さ及びコイル間隔に対
応した溝を下部絶縁層に形成し、その溝の中にコイルを
形成して、平坦となった外表面上に上部絶縁層を塗布す
ることによシ、達成される。
The above purpose is to form a groove in the lower insulating layer corresponding to the coil width, coil height, and coil spacing, form the coil in the groove, and then apply the upper insulating layer on the flat outer surface. Most of all, it will be achieved.

〔作用〕[Effect]

まず、外表面の平坦な下部絶縁層を形成する。 First, a lower insulating layer with a flat outer surface is formed.

続いて、コイル幅、コイル高さ及びコイル間隔に応じた
溝を下部絶縁層外表面に形成する。その溝の中にコイル
を形成する。コイル形成後は、コイル上端と外部絶縁層
外表面とは、はぼ同一平面上となる。この平坦な外表面
上に上部絶縁層を塗布する。
Subsequently, grooves corresponding to the coil width, coil height, and coil spacing are formed on the outer surface of the lower insulating layer. A coil is formed within the groove. After the coil is formed, the upper end of the coil and the outer surface of the external insulating layer are almost on the same plane. A top insulating layer is applied on this flat outer surface.

上部絶縁層はこの平坦な面上に形成するため、塗布の際
に気泡が残りに〈<、空隙の少ない上部絶縁層が得られ
、また上部絶縁層の外表面は平坦になる。
Since the upper insulating layer is formed on this flat surface, an upper insulating layer with few voids is obtained since no air bubbles remain during coating, and the outer surface of the upper insulating layer is flat.

〔実施例〕〔Example〕

第1図(1)〜(7)は本発明の絶縁層及びコイルの製
造工程を示すものである。説明の都合上、基板上に形成
されている磁性膜等は図面では基板1に含まれるものと
し、導体コイル及び導体コイルの埋め込まれる絶縁層の
み図示しである。
FIGS. 1 (1) to (7) show the manufacturing process of the insulating layer and coil of the present invention. For convenience of explanation, the magnetic film and the like formed on the substrate are included in the substrate 1 in the drawings, and only the conductor coil and the insulating layer in which the conductor coil is embedded are shown.

(1)の工程では基板1の上に下部絶縁膜2を所定膜厚
形成する。
In step (1), a lower insulating film 2 is formed to a predetermined thickness on a substrate 1.

(2)の工程では下部絶縁膜2の表面に7オトレジスト
ハターン3を形成する。
In step (2), seven photoresist patterns 3 are formed on the surface of the lower insulating film 2.

(3)の工程ではフォトレジストノやターン3をマスク
にして、ドライ法で下部絶縁膜2にフィルに対応した所
定の形状・寸法の溝を形成する。
In the step (3), a groove having a predetermined shape and size corresponding to the fill is formed in the lower insulating film 2 by a dry method using the photoresist layer and the turn 3 as a mask.

(4)の工程では無電解めりきの前処理である活性化処
理をする。活性化処理による皮膜4は、溝の内壁のみな
らず、フォトレジストツヤターン3の表面にも形成され
る。
In step (4), an activation treatment is performed as a pretreatment for electroless plating. The coating 4 resulting from the activation treatment is formed not only on the inner wall of the groove but also on the surface of the photoresist gloss turn 3.

(5)の工程ではフォトレヅストl?ターン3を除去す
る。フォトレジストパターン3上に形成されていた活性
化処理による皮膜4も同時に除去される。
In step (5), photoresist l? Remove turn 3. The activation treatment film 4 formed on the photoresist pattern 3 is also removed at the same time.

即ち、活性化処理による皮膜4は溝の内壁のみに残存す
る。
That is, the coating 4 resulting from the activation treatment remains only on the inner wall of the groove.

(6)の工程では化学めっき液中に浸漬し、コイルとし
ての導体めっき膜5を形成する。活性化処理による皮膜
4は溝の内壁のみに存在するので、めりき膜5は溝の内
壁上で成長し、溝内部を充填する。従りて、コイル形成
後は、コイル5の上面とコイル間の部分との高さはほぼ
同一となる。
In step (6), it is immersed in a chemical plating solution to form a conductor plating film 5 as a coil. Since the activated film 4 exists only on the inner wall of the groove, the plated film 5 grows on the inner wall of the groove and fills the inside of the groove. Therefore, after the coil is formed, the heights of the upper surface of the coil 5 and the portion between the coils are approximately the same.

(7)の工程では、上記の同一高さの面上に上部絶縁層
6を形成する。
In step (7), the upper insulating layer 6 is formed on the surface at the same height.

上記のように(6)の工程でのコイル形成が終っ次状態
ではコイル5とコイル間の部分との高さはほぼ同一とな
シ、平坦な外面を呈しているので、その後のく7)の工
程において上部絶縁層6を形成する際には気泡が残存す
ることがなくなり、ま九該上部絶縁層6の外面はほぼ平
坦となる。
As mentioned above, after the coil formation in step (6) is completed, the heights of the coil 5 and the part between the coils are almost the same and have a flat outer surface, so the subsequent step 7) In the step of forming the upper insulating layer 6, no air bubbles remain, and the outer surface of the upper insulating layer 6 becomes substantially flat.

次に本発明の実施例を、第2図を用いて説明する。第2
図(1)〜(3)は、基板11上に絶縁膜として有機樹
脂であるポリイミド系樹脂を用い、これにドライ法で溝
を形成する工程を示したものである。
Next, an embodiment of the present invention will be described using FIG. 2. Second
Figures (1) to (3) show the process of using polyimide resin, which is an organic resin, as an insulating film on the substrate 11 and forming grooves thereon by a dry method.

ここでドライ法としては、プラズマエツチング法やイオ
ンビームエツチング法などの手法があげられるが、いず
れも、溶液を用いた化学エツチングにより溝を形成する
方法に比ペノ4ターンの幅を狭く高密度に導体コイル用
溝を形成できるという特徴がある。
Examples of the dry method here include plasma etching and ion beam etching, but these methods can narrow the width of the 4-turn groove and create a high density, compared to the method of forming grooves by chemical etching using a solution. It has the feature of being able to form grooves for conductor coils.

第2図(1)では基板11上にポリイミド系樹脂12を
形成し、次に、(2)に示すように7オトレジスト/ぐ
ターフ13を形成する。ここに用いられるフォトレジス
トとしては、パターン精度の良いことから、ノボラック
系ポジ型のフォトレゾストを使用することができる。こ
のフォトレジストノやターンの断面形はポリイミド樹脂
に近い方が広い台形になる。
In FIG. 2(1), a polyimide resin 12 is formed on a substrate 11, and then, as shown in FIG. 2(2), a 7-photoresist/g turf 13 is formed. As the photoresist used here, a novolac positive type photoresist can be used because it has good pattern accuracy. The cross-sectional shape of this photoresist or turn becomes a wider trapezoid when it is closer to the polyimide resin.

このようにして形成したフォトレジス) t4ターンを
マスクとして、(3)のようにドライ法でポリイミド樹
脂12をエツチングする。この時のエツチング法として
は、02ガスを用いたイオンビームエツチングがパター
ン精度が良く、安定してエツチングできる。この時、ポ
リイミド樹脂膜がエツチングされると同時に、マスク材
として用いたフォトレジストもエツチングされるので、
高さ及び幅がエツチングに応じて減少する。フォトレジ
ストもポリイミド樹脂もほぼ同一のエツチング速度なの
で、フォトレジストの当初の膜厚はポリイミド樹脂の溝
の深さよりも厚く形成し、イオンビームエツチング後に
もフォトレジストがポリイミド樹脂上に残存させるよう
にする。
Using the thus formed photoresist) turn t4 as a mask, the polyimide resin 12 is etched by a dry method as in (3). As for the etching method at this time, ion beam etching using 02 gas has good pattern accuracy and allows stable etching. At this time, the polyimide resin film is etched and at the same time the photoresist used as the mask material is also etched.
The height and width are reduced according to the etching. Since both photoresist and polyimide resin have almost the same etching speed, the initial film thickness of the photoresist is formed to be thicker than the depth of the groove in the polyimide resin, so that the photoresist remains on the polyimide resin even after ion beam etching. .

次に、第2図(4)に示すように無電解めっき法の前処
理としての活性化処理を行なう。
Next, as shown in FIG. 2 (4), activation treatment is performed as a pretreatment for electroless plating.

九とえば、 5nC12−2H20409/I HCt20 rat/1 の醇液に、基板ごと2分間式れた後に、PaCl2−2
H200,41/l HCl           4 ml/1の溶液に、
基板ごと2分間入れることによ!D、(4)に示すよう
に基板表面全面にPdを析出させ、無電解めっきの活性
化処理をする。
For example, after soaking the substrate in a solution of 5nC12-2H20409/I HCt20 rat/1 for 2 minutes, PaCl2-2
In a solution of H200, 41/l HCl 4 ml/1,
By inserting the entire board for 2 minutes! D. As shown in (4), Pd is deposited on the entire surface of the substrate, and electroless plating is activated.

次に第2図(5)に示すように、フォトレジストを除去
し、同時に、フォトレジスト上のPdを除去することに
より、ポリイミド樹脂の溝の内部にのみ活性化処理によ
シ皮膜を残存させる。
Next, as shown in Fig. 2 (5), the photoresist is removed and, at the same time, the Pd on the photoresist is removed so that the activated film remains only inside the grooves of the polyimide resin. .

次に(6)に示すように、この基板を無電解めっき液中
に入れることによシ、活性化処理のされている溝の内部
にコイル導体としての金属膜を選択的に析出させる。そ
して、この上に絶縁層を塗布する。(7)は上部絶縁層
の塗布完了時の状態を表わす。
Next, as shown in (6), by placing this substrate in an electroless plating solution, a metal film as a coil conductor is selectively deposited inside the activated groove. Then, an insulating layer is applied on top of this. (7) represents the state when the coating of the upper insulating layer is completed.

前記の活性化処理によシ析出させる金属は、Pd以外に
、Au 、 Ag 、 Ptなどを用いることができる
。特に、ポリイミド樹脂の耐熱性の向上のためにはAu
、Pt等の金属が望ましい。
As the metal to be precipitated by the above activation treatment, other than Pd, Au, Ag, Pt, etc. can be used. In particular, to improve the heat resistance of polyimide resin, Au
, Pt, and other metals are desirable.

また、活性化処理法として、溶液を用いる方法を述べ九
が、真空蒸着法あるいはスパッタリング法で金属膜を(
4)に示すように基板全面に形成した後、(5)に示す
ように7オトレジストを除去し、溝の内部にのみ活性化
処理の金属膜を残存する方法を採用することもできる。
In addition, as an activation treatment method, a method using a solution is described.
It is also possible to adopt a method in which after forming on the entire surface of the substrate as shown in 4), the 7 photoresist is removed as shown in (5) and the activated metal film remains only inside the groove.

この方法によれば、一種類の金属だけを析出させるので
なく、2種以上の金属膜を積層して活性化処理膜として
形成することができ、また、10nm以上の厚い膜を形
成することも容易であるので、ポリイミド樹脂が導体コ
イルの金属たとえばCuと反応して耐熱性が劣化するの
を、この活性化処理膜を残存させることによシ、防止す
ることができる。
According to this method, instead of depositing only one type of metal, it is possible to stack two or more metal films to form an activated film, and it is also possible to form a thick film of 10 nm or more. Since it is easy, by leaving this activated film, it is possible to prevent the polyimide resin from reacting with the metal of the conductor coil, such as Cu, and thereby deteriorating its heat resistance.

導体コイルの金属膜としては、CuあるいはAuなど比
抵抗の小さい金属が選択されることが望ましい。
As the metal film of the conductor coil, it is desirable to select a metal with low resistivity such as Cu or Au.

前述のコイル導体としての金属膜と、j? IJイミド
樹脂との反応によるポリイミド樹脂の耐熱性劣化を防止
する他の方法としては、活性化処理した溝の中に直接無
電解めりき膜を形成する前に、反応防止層としてのめっ
き膜をあらかじめ形成した後に無電解めっき膜を形成す
る方法を採ることができる。導体ノ譬ターンとしての金
属膜としてCuを用いる場合、反応防止層としてN1 
、 Au 、 Pt等の、Cuよシも反応性の小さい金
属を用いる。
The aforementioned metal film as a coil conductor and j? Another method to prevent heat resistance deterioration of polyimide resin due to reaction with IJ imide resin is to apply a plating film as a reaction prevention layer before forming an electroless plating film directly in the activated groove. It is possible to adopt a method of forming an electroless plated film after forming the film in advance. When Cu is used as a metal film as a conductor pattern, N1 is used as a reaction prevention layer.
, Au, Pt, etc., which are less reactive than Cu, are used.

また、導体コイル上にポリイミド樹脂を形成する場合、
導体コイル上に直接それを形成すると、導体コイルとポ
リイミド樹脂が直接接触してポリイミド樹脂の耐熱性が
劣化するという問題があるので、導体コイルをめっきし
死後、導体コイル上に反応防止層を設けることによシ、
耐熱性の劣化を防止することが可能である。すなわち、
第2図(1)〜(5)の工程に沿りて導体コイル15を
形成した後に、第3図(6)に示すように導体コイル1
5の上部外表面上に反応防止層7を形成し、その後に絶
縁層を塗布する。第3図φ)は上部絶縁層6の塗布完了
時の状態を表わす。したがりて、コイルが反応防止層で
くるまれた様な構造になる。
In addition, when forming polyimide resin on the conductor coil,
If it is formed directly on the conductor coil, there is a problem that the conductor coil and polyimide resin come into direct contact and the heat resistance of the polyimide resin deteriorates, so the conductor coil is plated and a reaction prevention layer is provided on the conductor coil after death. Especially,
It is possible to prevent deterioration of heat resistance. That is,
After forming the conductor coil 15 according to the steps shown in FIG. 2 (1) to (5), the conductor coil 15 is formed as shown in FIG. 3 (6).
A reaction prevention layer 7 is formed on the upper outer surface of 5, followed by application of an insulating layer. FIG. 3 φ) shows the state when the coating of the upper insulating layer 6 is completed. Therefore, the structure is such that the coil is wrapped in a reaction prevention layer.

4リイミド樹脂に形成された溝中にめりき膜を形成した
時、そのめりき膜の高さはポリイミド樹脂の表面とほぼ
同じにすること゛亦望ましい。このようにすれば上部に
ポリイミド樹脂膜を形成するとき、塗布面の凹凸を小さ
くすることができるので、上部に形成したポリイミド樹
脂の表面の凹凸を小さくなめらかに形成することができ
る。
When a plating film is formed in the groove formed in the polyimide resin, it is preferable that the height of the plating film be approximately the same as the surface of the polyimide resin. In this way, when forming the polyimide resin film on the upper part, the unevenness on the coated surface can be reduced, so that the unevenness on the surface of the polyimide resin formed on the upper part can be made small and smooth.

以上の実施例においては、′絶縁膜としてポリイミド樹
脂を用いて説明してきたが、絶縁膜としては他の有機樹
脂も、その使用条件によっては用いることができる。す
なわち、従来例にあるように絶縁膜としてフォトレジス
トの硬化膜を使用することもできる。
In the above embodiments, polyimide resin was used as the insulating film, but other organic resins may be used as the insulating film depending on the usage conditions. That is, a cured photoresist film can also be used as the insulating film as in the conventional example.

ま九以上の実施例において、導体コイルは無電解めっき
法で形成したものを述べたが、活性化処理をし死後に電
気めっき用の薄膜の下地膜として活性化処理膜あるいは
活性化処理膜上に形成した無電解めっき膜を使用しまた
電気的接続をすることによシ、電気めっき法により導体
コイルを形成することも可能である。
In the above embodiments, the conductor coil was formed by electroless plating, but after activation treatment, it is used as a base film for a thin film for electroplating after death. It is also possible to form a conductor coil by electroplating by using an electroless plated film formed in the same manner and by making an electrical connection.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

本発明によれば、高密度の導体コイルをその間に気泡・
空隙などなしに絶縁膜で完全に充填することができると
共に、コイル上に形成する絶縁膜の表面の凹凸も殆どな
くして平坦にできるので、薄膜磁気ヘッドの特性向上、
信頼性向上が可能となる。
According to the present invention, a high-density conductor coil is placed between air bubbles and
It is possible to completely fill the insulating film with no voids, and the surface of the insulating film formed on the coil can be made flat with almost no unevenness, improving the characteristics of thin-film magnetic heads.
It is possible to improve reliability.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

第1図(1)〜(7)は本発明の工程を示す断面図、第
2図(1)〜(7)は本発明実施例の工程を示す断面図
、第3図C山、(りは本発明の他の実施例の一部工程を
示す断面図、第4図(a) l (b)は薄膜磁気ヘッ
ドの正面図およびA−A断面図、第5図(1)〜(7)
は従来の薄膜磁気ヘッドの裏作工程を示す断面図である
。 1・・・基板、      2・・・下部絶縁膜、3・
・・フォトレジスト、 4・・・活性化処理による皮膜、 5・・・コイル導体、   6・・・上部絶縁膜、7・
・・反応防止層。 、′−] 代理人  本 多 小 平 −7−) ] 谷 浩太部 、−−j j°゛フオトレツスト  6−・−上部絶:ffl[l
簀13−−゛フォトレジスト 第2図 7・−反応防止層 乙・−ギャップ絶縁1 25−・・コイル引出し瑞子第
5図 1− 基板  2− 下万矩腸@  20−コイルト一
基板 2− 下方絶縁n費 6− コイル 江−・−上万絶縁膜
Figures 1 (1) to (7) are cross-sectional views showing the steps of the present invention, Figures 2 (1) to (7) are cross-sectional views showing the steps of the embodiment of the present invention, and Figure 3 is 4(a) and 4(b) are front views and AA sectional views of the thin film magnetic head, and FIGS. )
1 is a cross-sectional view showing a back manufacturing process of a conventional thin film magnetic head. DESCRIPTION OF SYMBOLS 1... Substrate, 2... Lower insulating film, 3...
...Photoresist, 4. Film formed by activation treatment, 5. Coil conductor, 6. Upper insulating film, 7.
...Reaction prevention layer. ,'-] Agent Honda Kohira -7-)] Kota Tani,--j
Screen 13--Photoresist Fig. 2--Reaction prevention layer B--Gap insulation 1 25--Coil drawer screw Fig. 5 1-Substrate 2-Lower rectangle @ 20-Coil one substrate 2-Bottom Insulation n cost 6- Coil--・-Uman insulating film

Claims (1)

【特許請求の範囲】 1 複数回巻かれた構造の導体コイルを下部絶縁膜と上
部絶縁膜とで包囲した薄膜磁気ヘッドを製造する方法で
あって、下部絶縁膜に導体コイルを中に形成すべき溝を
形成し、該溝の中に導体コイルを形成した後に、該導体
コイルおよび該下部絶縁膜上に上部絶縁膜を形成するこ
とを特徴とする薄膜磁気ヘッドの製造方法。 2 導体コイル上面と下部絶縁膜上面とが同一平面をな
すように下部絶縁膜中の前記溝および前記導体コイルを
形成する特許請求の範囲第1項記載の薄膜磁気ヘッドの
製造方法。 3 前記溝の内面にのみ予め活性化処理膜を形成した後
に無電解めっきにより前記導体コイルを該溝の中に形成
する特許請求の範囲第1項又は第2項記載の薄膜磁気ヘ
ッドの製造方法。 4 前記活性化処理膜を厚目に形成し、これにより、前
記絶縁膜と導体コイルとを分離して該絶縁膜と導体コイ
ルとの間の反応を防止する特許請求の範囲第3項記載の
薄膜磁気ヘッドの製造方法。 5 活性化処理膜を形成した後に、前記絶縁層と導体コ
イルとの間の反応防止層として金属膜をめっきした後に
、無電解めっきにより導体コイルを形成する特許請求の
範囲第3項記載の薄膜磁気ヘッドの製造方法。 6 無電解めっきにより導体コイルを形成した後、その
導体コイルの表面に反応防止層を設けることを特徴とす
る特許請求の範囲第3項乃至第5項のいずれか1項に記
載の薄膜磁気ヘッドの製造方法。
[Claims] 1. A method for manufacturing a thin film magnetic head in which a conductor coil having a plurality of turns is surrounded by a lower insulating film and an upper insulating film, the method comprising forming the conductor coil inside the lower insulating film. 1. A method of manufacturing a thin film magnetic head, comprising: forming a groove, forming a conductor coil in the groove, and then forming an upper insulating film on the conductor coil and the lower insulating film. 2. The method of manufacturing a thin film magnetic head according to claim 1, wherein the groove in the lower insulating film and the conductive coil are formed so that the upper surface of the conductor coil and the upper surface of the lower insulating film are on the same plane. 3. The method of manufacturing a thin film magnetic head according to claim 1 or 2, wherein an activated film is previously formed only on the inner surface of the groove, and then the conductor coil is formed in the groove by electroless plating. . 4. The method according to claim 3, wherein the activated film is formed thickly, thereby separating the insulating film and the conductor coil to prevent a reaction between the insulating film and the conductor coil. A method for manufacturing a thin film magnetic head. 5. The thin film according to claim 3, wherein after forming the activation treatment film, plating a metal film as a reaction prevention layer between the insulating layer and the conductor coil, and then forming the conductor coil by electroless plating. A method of manufacturing a magnetic head. 6. The thin film magnetic head according to any one of claims 3 to 5, characterized in that a reaction prevention layer is provided on the surface of the conductor coil after the conductor coil is formed by electroless plating. manufacturing method.
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5931041A (en) * 1982-08-13 1984-02-18 Seiko Epson Corp Thin film semiconductor device
JPS6045921A (en) * 1983-08-23 1985-03-12 Nec Kansai Ltd Production of thin film magnetic head
JPS6148130A (en) * 1984-08-10 1986-03-08 Fuji Electric Co Ltd Magnetic thin film forming method
JPS61156509A (en) * 1984-12-27 1986-07-16 Victor Co Of Japan Ltd Manufacture of coil of thin film magnetic head

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