JPS63140936A - 塗膜の表面硬度評価方法及び評価装置 - Google Patents
塗膜の表面硬度評価方法及び評価装置Info
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- JPS63140936A JPS63140936A JP28792086A JP28792086A JPS63140936A JP S63140936 A JPS63140936 A JP S63140936A JP 28792086 A JP28792086 A JP 28792086A JP 28792086 A JP28792086 A JP 28792086A JP S63140936 A JPS63140936 A JP S63140936A
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- 239000011248 coating agent Substances 0.000 title claims abstract description 30
- 238000000576 coating method Methods 0.000 title claims abstract description 30
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 14
- 239000012780 transparent material Substances 0.000 claims description 3
- 239000010408 film Substances 0.000 description 17
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 229920002635 polyurethane Polymers 0.000 description 4
- 239000004814 polyurethane Substances 0.000 description 4
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 3
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000007373 indentation Methods 0.000 description 3
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 3
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 3
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 3
- 229920003023 plastic Polymers 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 239000000463 material Substances 0.000 description 2
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 2
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000003746 surface roughness Effects 0.000 description 2
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 2
- 238000003490 calendering Methods 0.000 description 1
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 230000009477 glass transition Effects 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 1
- 229910052594 sapphire Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010980 sapphire Substances 0.000 description 1
- 238000009864 tensile test Methods 0.000 description 1
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は塗膜の表面硬度を評価する方法に関するもので
あり、たとえば塗布型磁気記録媒体の表面硬度を比較評
価するために利用されるものである。
あり、たとえば塗布型磁気記録媒体の表面硬度を比較評
価するために利用されるものである。
従来の技術
近年の磁気記録技術の進歩によって記録密度は向上し、
その記録波長は短かくなっている。この高密度化の進展
において媒体やヘッドの志気特注もさる事ながら媒体自
体の走行性も重要な因子として注目されはじめている。
その記録波長は短かくなっている。この高密度化の進展
において媒体やヘッドの志気特注もさる事ながら媒体自
体の走行性も重要な因子として注目されはじめている。
ところがこの媒体の走行性は今だに不明確な点が多い。
これは主に媒体の表面の状態が非常に把握しにくいとい
う点にある。特に表面硬度については、その評価法すら
整備されているとにいえない。
う点にある。特に表面硬度については、その評価法すら
整備されているとにいえない。
従来、塗膜の表面硬度の測定には、ピンカース法等のよ
うにダイヤモンド針を押しあてその圧痕を測定したり、
マイクロビッカース法のようにダイヤモンド針を押しあ
ててその荷重を変化させ、深み込んだ変位と荷重変化の
履歴を測定したり、又ひっばり試験法や振動試験法等に
よって媒体のヤング率を測定する事で表面硬度の・代用
評価としていた。これらの方法は、磁気記録媒体の場合
、蒸着やメッキによる薄膜媒体に比べ、塗布型媒体の場
合は膜の弾性的な性質から満足できるものではなかった
。
うにダイヤモンド針を押しあてその圧痕を測定したり、
マイクロビッカース法のようにダイヤモンド針を押しあ
ててその荷重を変化させ、深み込んだ変位と荷重変化の
履歴を測定したり、又ひっばり試験法や振動試験法等に
よって媒体のヤング率を測定する事で表面硬度の・代用
評価としていた。これらの方法は、磁気記録媒体の場合
、蒸着やメッキによる薄膜媒体に比べ、塗布型媒体の場
合は膜の弾性的な性質から満足できるものではなかった
。
発明が解決しようとする問題点
すなわち、上記の様な従来法に対しては次の様な問題点
があった。まずビッカース法のように圧痕を測定する場
合においては、磁気記録媒体の膜厚が非常に薄く、又塗
膜部分の弾性率が金属等に比べ高いために、荷重が重い
と塗膜がやぶれ、荷重が軽い場合は圧痕が残らないため
に測定ができなかった。次にマイクロビッカース法にお
いては、その測定変位量が媒体の表面粗さのオーダーに
なるので、測定の再現性に難点があった。又媒体のヤン
グ率を測定しようとする時、媒体の厚みが数十μmある
場合には安定した測定が行なえるものの、実際のテープ
等のように数μmの塗布厚になった場合には、やはり精
度と再現性に問題があった。本発明は従来技術の問題点
に対し、簡単に精度よく再現性のある塗布型媒体の表面
硬度を評価しようとするものである。
があった。まずビッカース法のように圧痕を測定する場
合においては、磁気記録媒体の膜厚が非常に薄く、又塗
膜部分の弾性率が金属等に比べ高いために、荷重が重い
と塗膜がやぶれ、荷重が軽い場合は圧痕が残らないため
に測定ができなかった。次にマイクロビッカース法にお
いては、その測定変位量が媒体の表面粗さのオーダーに
なるので、測定の再現性に難点があった。又媒体のヤン
グ率を測定しようとする時、媒体の厚みが数十μmある
場合には安定した測定が行なえるものの、実際のテープ
等のように数μmの塗布厚になった場合には、やはり精
度と再現性に問題があった。本発明は従来技術の問題点
に対し、簡単に精度よく再現性のある塗布型媒体の表面
硬度を評価しようとするものである。
問題点を解決するための手段
上記の問題点解決のため、本発明の塗膜の表面硬度評価
方法は、測定しようとする塗膜より硬度の高い透明体を
前記塗膜に押しつけ、前記透明体の背後から照射され接
触部で反射した光の干渉縞によってその接触面積を測定
し、前記塗膜の硬度を評価するものである。
方法は、測定しようとする塗膜より硬度の高い透明体を
前記塗膜に押しつけ、前記透明体の背後から照射され接
触部で反射した光の干渉縞によってその接触面積を測定
し、前記塗膜の硬度を評価するものである。
作用
上記の構成により、たとえば塗布型磁気記録媒体の塗膜
を本発明の方法で評価する場合は、塗布型磁気記録媒体
の塗膜部分よりも硬度の高い透明体(たとえばガラス、
ダイヤモンド、サファイヤ。
を本発明の方法で評価する場合は、塗布型磁気記録媒体
の塗膜部分よりも硬度の高い透明体(たとえばガラス、
ダイヤモンド、サファイヤ。
石英等)の先端部を半球状又は複合曲率面又は平面等に
加工し、その反体面を鏡面に仕上げ加工先端部を裏から
のぞけるようにしておき、数百qから数1の間にコント
ロールされた荷重で媒体面に押しつけ、光の干渉縞を調
べる事で媒体と透明体の接触面積を測定し、表面硬度を
評価することができる。
加工し、その反体面を鏡面に仕上げ加工先端部を裏から
のぞけるようにしておき、数百qから数1の間にコント
ロールされた荷重で媒体面に押しつけ、光の干渉縞を調
べる事で媒体と透明体の接触面積を測定し、表面硬度を
評価することができる。
2つの物質の真実接触面積は荷重とやわらかい方の塑性
流動圧力の比によって決まる事が知られている。本発明
装置は上記の様な手段によって透明物質と磁気媒体を押
しつけ合い、その微小な接触面積をほぼ真実接触面積に
比例すると判断する事で媒体表面の塑性流動圧力を表面
硬さとして比較評価するためのものである。これはあら
かじめ塑性流動圧力のわかっている標準サンプルに対し
てその接触面積の大きさがどのようになっているかを調
べる事で達成される。すなわち表面硬度が標準サンプル
に対して高い場合は接触面積は小さく、又低い場合は接
触面積が大きく観測される。
流動圧力の比によって決まる事が知られている。本発明
装置は上記の様な手段によって透明物質と磁気媒体を押
しつけ合い、その微小な接触面積をほぼ真実接触面積に
比例すると判断する事で媒体表面の塑性流動圧力を表面
硬さとして比較評価するためのものである。これはあら
かじめ塑性流動圧力のわかっている標準サンプルに対し
てその接触面積の大きさがどのようになっているかを調
べる事で達成される。すなわち表面硬度が標準サンプル
に対して高い場合は接触面積は小さく、又低い場合は接
触面積が大きく観測される。
実施例
以下に本発明の具体的な実施例を説明する。第1図は本
発明の方法を模式的に示す図である。第1図において、
支持台1の上に固定された塗膜サンプル2の上方から、
マイクロメータ3で上下に移動可能なステージ4にとり
つけられたアーム5の先端に取りつけられた透明体6を
近づけてゆく事ができるようにした。透明体6はここで
は通常のガラスを使用し、先端を2 wyt Hの半円
状に仕上げ、その反対面は平たんに鏡面仕上を行った。
発明の方法を模式的に示す図である。第1図において、
支持台1の上に固定された塗膜サンプル2の上方から、
マイクロメータ3で上下に移動可能なステージ4にとり
つけられたアーム5の先端に取りつけられた透明体6を
近づけてゆく事ができるようにした。透明体6はここで
は通常のガラスを使用し、先端を2 wyt Hの半円
状に仕上げ、その反対面は平たんに鏡面仕上を行った。
アーム6の根本には歪ゲージ7をはりつけてあり、あら
かじめ標準分銅で校正しておく事により歪ゲージの出力
で押しつけ加重を検知する事ができるようにした。透明
体6の先端を1gの加重でサンプル2に押しつけ、それ
を対物レンズ8.プリズム9.接眼レンズ1oを通して
観測者11が透明体6の先端とサンプル2の接触面積を
測定した。
かじめ標準分銅で校正しておく事により歪ゲージの出力
で押しつけ加重を検知する事ができるようにした。透明
体6の先端を1gの加重でサンプル2に押しつけ、それ
を対物レンズ8.プリズム9.接眼レンズ1oを通して
観測者11が透明体6の先端とサンプル2の接触面積を
測定した。
この接触面積は鏡筒12の上方の光源13からの光を光
路14の様に観測すれば、光の干渉によって0次の黒縞
の面積として観測する事ができる。
路14の様に観測すれば、光の干渉によって0次の黒縞
の面積として観測する事ができる。
このような構成の測定装置を用いて第1表に示す組成を
もつ磁性塗膜の表面硬度を比較評価した。
もつ磁性塗膜の表面硬度を比較評価した。
(以 下金 白)
第 1 表
第1表に示すような組成で混練した磁性塗料を厚さ15
μmのPET上に厚み3μmで塗布し、カレンダー仕上
げする事でほぼ同じ表面粗さに仕上げ製作した。ここで
、第1表のポリウレタンを次のように変えてサンプル人
、B、Cとした。
μmのPET上に厚み3μmで塗布し、カレンダー仕上
げする事でほぼ同じ表面粗さに仕上げ製作した。ここで
、第1表のポリウレタンを次のように変えてサンプル人
、B、Cとした。
サンプル人・・・・・・Tg = 20℃のポリウレ
タン使用 サンプルB・・・・・・T g = 20 ℃のポリウ
レタン使用 サンプルC・・・・・・T g = 80℃のポリウレ
タン使用 但しTgはガラス転移温度を示す。
タン使用 サンプルB・・・・・・T g = 20 ℃のポリウ
レタン使用 サンプルC・・・・・・T g = 80℃のポリウレ
タン使用 但しTgはガラス転移温度を示す。
このサンプルについて、上記の方法で接触面積を測定し
た。
た。
第 2 表
第2表に測定結果を示すが、表では接触部分はほぼ円形
となるので接触面積の代りにその直径で比較している。
となるので接触面積の代りにその直径で比較している。
また、同じ組成で膜厚を約16μmに仕上げた各サンプ
ルにつき、引っばり試験法を用いて測定したそれぞれの
ヤング率を第2表に参考に示した。
ルにつき、引っばり試験法を用いて測定したそれぞれの
ヤング率を第2表に参考に示した。
第2表より膜のヤング率の上昇に伴ない接触面積が小さ
くなってゆく、すなわち硬度が大きくなるのがわかる。
くなってゆく、すなわち硬度が大きくなるのがわかる。
これによって数μmの厚さの塗膜の硬度を比較評価する
事ができた。
事ができた。
発明の効果
以上のように本発明によれば、接触面積を調べる事で膜
の硬度を比較評価でき、これによって数μmの塗布厚に
した時従来は測定しにくかった塗膜硬度を標準サンプル
に対して比較評価する事ができるという効果が得られ、
塗膜開発などの上で大いに有益となるものである。
の硬度を比較評価でき、これによって数μmの塗布厚に
した時従来は測定しにくかった塗膜硬度を標準サンプル
に対して比較評価する事ができるという効果が得られ、
塗膜開発などの上で大いに有益となるものである。
図は本発明の方法を示す模式図である。
1・・・・・・支持台、2・・川・塗膜サンプル、3・
・・・・・マイクロメータ、4・・・・・・ステージ、
6・・・・・・アーム、6・・・・・・透明体、了・・
・・・・歪ゲージ、8・・川・対物レンズ、9・・・・
・・プリズム、1o・・・・・・接眼レンズ、11・・
・・・・観測者、12・・・・・・鏡筒、13・・・・
・・光源、14・・・・・・光路。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名Z文
書む
・・・・・マイクロメータ、4・・・・・・ステージ、
6・・・・・・アーム、6・・・・・・透明体、了・・
・・・・歪ゲージ、8・・川・対物レンズ、9・・・・
・・プリズム、1o・・・・・・接眼レンズ、11・・
・・・・観測者、12・・・・・・鏡筒、13・・・・
・・光源、14・・・・・・光路。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名Z文
書む
Claims (2)
- (1)測定しようとする塗膜より硬度の高い透明体を前
記塗膜に押しつけ、前記透明体の背後から照射され接触
部で反射した光の干渉縞によってその接触面積を測定し
、前記塗膜の硬度を評価する事を特徴とする塗膜の表面
硬度評価方法。 - (2)測定しようとする塗膜より硬度の高い透明体より
なる押しつけ部材、上記押しつけ部材を上下に移動させ
塗膜に押しつけるアーム、上記押しつけ部材の背後に配
置した光源、および上記光源より上記押しつけ部材を通
り塗膜との接触部で反射された光の干渉縞を観測して接
触部の面積を測定する測定手段よりなることを特徴とす
る塗膜の表面硬度評価装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28792086A JPH0675028B2 (ja) | 1986-12-03 | 1986-12-03 | 塗膜の表面硬度評価方法及び評価装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28792086A JPH0675028B2 (ja) | 1986-12-03 | 1986-12-03 | 塗膜の表面硬度評価方法及び評価装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63140936A true JPS63140936A (ja) | 1988-06-13 |
JPH0675028B2 JPH0675028B2 (ja) | 1994-09-21 |
Family
ID=17723438
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP28792086A Expired - Lifetime JPH0675028B2 (ja) | 1986-12-03 | 1986-12-03 | 塗膜の表面硬度評価方法及び評価装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0675028B2 (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02140449U (ja) * | 1989-04-27 | 1990-11-26 | ||
JPH04121638A (ja) * | 1989-12-21 | 1992-04-22 | Hughes Aircraft Co | 光ファイバーの弾性特性を測定する方法および装置 |
JPH07325029A (ja) * | 1994-05-31 | 1995-12-12 | Nec Corp | 薄膜物性評価装置 |
-
1986
- 1986-12-03 JP JP28792086A patent/JPH0675028B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH02140449U (ja) * | 1989-04-27 | 1990-11-26 | ||
JPH04121638A (ja) * | 1989-12-21 | 1992-04-22 | Hughes Aircraft Co | 光ファイバーの弾性特性を測定する方法および装置 |
JPH07325029A (ja) * | 1994-05-31 | 1995-12-12 | Nec Corp | 薄膜物性評価装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0675028B2 (ja) | 1994-09-21 |
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