JPS63140414A - Marker for working gap depth in thin film magnetic head - Google Patents
Marker for working gap depth in thin film magnetic headInfo
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- JPS63140414A JPS63140414A JP28626386A JP28626386A JPS63140414A JP S63140414 A JPS63140414 A JP S63140414A JP 28626386 A JP28626386 A JP 28626386A JP 28626386 A JP28626386 A JP 28626386A JP S63140414 A JPS63140414 A JP S63140414A
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Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、ugl磁気ヘッドにおいて、ギャップデプ
スを精度良(加工するためのギャップデプス加工用マー
カに関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a gap depth machining marker for accurately machining the gap depth in a UGL magnetic head.
薄膜磁気ヘッドを具えた磁気ディスク装置用スライダの
製造工程の一例を第2図に示す。これは、1つの基板上
に複数のヘッド素子を構成した後、個々のスライダに切
断するようにしたもので、次の工程からなっている。FIG. 2 shows an example of the manufacturing process of a slider for a magnetic disk device equipped with a thin-film magnetic head. This is a method in which a plurality of head elements are formed on one substrate and then cut into individual sliders, and consists of the following steps.
■ スライダ本体を構成する基板10上にフォトリソグ
ラフ技法により複数のヘッド素子を配列した膜部12を
成膜する。(2) A film portion 12 in which a plurality of head elements are arranged is formed by photolithography on the substrate 10 constituting the slider body.
■ 基板10を列ごとに切断し、研削する。■ Cut the substrate 10 into rows and grind them.
■ 各列ごとに溝14を加工し、スライドレール16の
幅規制をする6
■ スライドレール16の研磨をするとともに、テーパ
18を加工する。■ Machining the groove 14 for each row to regulate the width of the slide rail 16 6 ■ Polishing the slide rail 16 and machining the taper 18 .
■ 単品に切断して薄膜磁気ヘッドを具えた個々のスラ
イダ19が完成する。(2) Cut into individual pieces to complete individual sliders 19 equipped with thin-film magnetic heads.
このようにして完成したスライダ19において薄嘆磁気
ヘッドは、第3図に符号2“0で示すように、スライド
レール16の後端部に構成されている。In the slider 19 thus completed, the magnetic head is constructed at the rear end of the slide rail 16, as indicated by the reference numeral 2"0 in FIG.
この薄膜磁気ヘッド20は第4図に拡大して示すように
、下部磁性体22上にコイル導体24を形成し、その上
に扇形の上部磁性体26を成膜して構成されている。As shown in an enlarged view in FIG. 4, this thin film magnetic head 20 is constructed by forming a coil conductor 24 on a lower magnetic body 22, and forming a sector-shaped upper magnetic body 26 thereon.
第4図のA−A矢視図を第5図に拡大して示す。FIG. 5 shows an enlarged view taken along the line A--A in FIG. 4.
この薄膜磁気ヘッド20は、下部磁性体22に凹部30
を形成してコイル導体24を収容することにより上部磁
性体26を平坦化している。上部磁性体26を平坦化す
ることにより、不要な応力が生じたり磁区が細かく分割
するのを防止でき、磁気抵抗を小さくすることができる
。This thin film magnetic head 20 has a recess 30 in the lower magnetic body 22.
The upper magnetic body 26 is flattened by forming the upper magnetic body 26 and accommodating the coil conductor 24 therein. By flattening the upper magnetic body 26, it is possible to prevent unnecessary stress from being generated and the magnetic domain from being finely divided, and the magnetic resistance can be reduced.
この薄膜磁気ヘッド20は次の工程で作られている。This thin film magnetic head 20 is manufactured by the following steps.
■ 基板10上にスパッタリング法等で下部磁性体22
を成膜する。■ Lower magnetic material 22 is deposited on the substrate 10 by sputtering, etc.
Deposit a film.
■ 下部磁性体22にコイル導体24を収容するための
凹部30をドライエツチング加工する。(2) A recess 30 for accommodating the coil conductor 24 is formed in the lower magnetic body 22 by dry etching.
■ 凹部30に絶縁層28を成膜する。その途中でコイ
ル導体24を形成する。(2) An insulating layer 28 is formed in the recess 30. A coil conductor 24 is formed in the middle.
■ 凹部30を絶縁層28で埋めて平坦化された上ギャ
ップ形成層31を成膜し、さらにその上に上部磁性体2
6を成膜する。上部磁性体26と下部磁性体22は結合
部32で相互に連結され、ギャップqを介してU字状コ
アを形成している。■ Filling the recess 30 with the insulating layer 28 and forming a flattened upper gap forming layer 31, and then depositing the upper magnetic material 2 on top of it.
6 is formed into a film. The upper magnetic body 26 and the lower magnetic body 22 are connected to each other at a coupling portion 32 to form a U-shaped core through a gap q.
このa9ff2磁気ヘッド20におけるギャップデプス
dは、スライダ浮上面33からギャップデプス位置(下
部磁性体22における凹部30の立下り開始位置30a
)までの距離として規定され、良好な電磁変換特性を(
qるためには、このギャップデプスdを数μm以下の微
少な値に正確に加工する必要がある。このギャップデプ
スdは、前記第1図の■のスライドレール研磨の工程で
加工されるが、この研磨において正確にギャップデプス
dを加工づるのは難しい。そこで、従来より加工用マー
カを設けることが考えられていた。The gap depth d in this a9ff2 magnetic head 20 is determined from the slider air bearing surface 33 to the gap depth position (falling start position 30a of the recess 30 in the lower magnetic body 22).
), and has good electromagnetic conversion characteristics (
q, it is necessary to precisely process the gap depth d to a minute value of several μm or less. This gap depth d is processed in the slide rail polishing process shown in FIG. 1, but it is difficult to accurately process the gap depth d in this polishing. Therefore, it has been conventionally considered to provide a processing marker.
従来における加工用マーカを第6図に示す。このマーカ
34は、基板10上あるいはその上のいずれかの層上に
全屈、非金属、有機皮喚等で複数本の線状の凸部34a
〜34eを形成したものである。各凸部34a〜34e
は等しい長さを右し、長手方向が研磨方向に所定距離ず
つずらして配列されている。したがって、研磨の進行と
共に各凸部34a〜34eが順次出現し、消失すること
で、その時々のギャップデプスを知ることができる。A conventional machining marker is shown in FIG. This marker 34 is formed by forming a plurality of linear convex portions 34a on the substrate 10 or on any layer thereon, made of a fully bent, non-metallic, organic, etc.
-34e are formed. Each convex portion 34a to 34e
have the same length, and are arranged with the longitudinal direction shifted by a predetermined distance in the polishing direction. Therefore, as the polishing progresses, each of the convex portions 34a to 34e appears and disappears in sequence, so that the gap depth at that time can be known.
いま、第6図で規定のギャップデプスdが同図に示す長
さであるとすると、凸部34dが消失したタイミングで
研磨を止めれば、規定のギャップデプスdが実現される
。Now, assuming that the prescribed gap depth d in FIG. 6 is the length shown in the same figure, if the polishing is stopped at the timing when the convex portion 34d disappears, the prescribed gap depth d will be realized.
前記従来の方法では、ギャップデプスゼロ位置とマーカ
34との相対位置が一定であることが必須であるが、ギ
ャップデプスゼロ位置は第7図に示ずように、下部磁性
体22における凹部30を形成するためのドライエツチ
ングの進行状況によって変化し、不安定なため、マーカ
34との相対位置が一定しない。したがって、ドライエ
ツチングが)1行した場合は、第6図に示すように、同
じ位置まで研磨しても、ギャップデプスはd′と規定の
値dよりも小さくなってしまい、ギャップデプスが一定
せず、電磁変換特性が安定しない。In the conventional method, it is essential that the relative position between the gap depth zero position and the marker 34 is constant, but the gap depth zero position is determined by the recess 30 in the lower magnetic body 22, as shown in FIG. The relative position with respect to the marker 34 is not constant because it changes depending on the progress of the dry etching process and is unstable. Therefore, if one line of dry etching is performed, as shown in Fig. 6, even if polished to the same position, the gap depth will be smaller than d' and the specified value d, and the gap depth will not be constant. First, the electromagnetic conversion characteristics are unstable.
この発明は、前記従来の技術における欠点を解決して、
ギャップデプスを高精度に加工することができるギャッ
プデプス加工用マーカを提供しようとするものである。This invention solves the drawbacks in the conventional techniques, and
It is an object of the present invention to provide a gap depth machining marker that can process the gap depth with high precision.
この発明のギャップデプス加工用マーカは、下部磁性体
にエツチング加工で形成された凹部によりギャップデプ
スゼロ位置が規定される薄膜磁気ヘッドにおいて、下部
磁性体層のいずれかの部分に前記四部と同時にエツチン
グ加工により構成された別の凹部からなるものである。The marker for gap depth processing of the present invention is a thin film magnetic head in which a zero gap depth position is defined by a recess formed by etching in the lower magnetic layer, and the marker for gap depth processing can be etched into any part of the lower magnetic layer at the same time as the four parts. It consists of another recess formed by machining.
この発明のマーカによれば、ギャップデプスゼロ位置を
規定する凹部と同時に形成されるので、エツチングか進
行してギャップデプスゼロ位置がずれたとしても、マー
スの位置も同時にずれるので、相対位置に変化はない。According to the marker of this invention, since the recess defining the gap depth zero position is formed at the same time, even if etching progresses and the gap depth zero position shifts, the mark position also shifts at the same time, changing to a relative position. There isn't.
したがって、エツチングの進行状況にかかわらず、ギト
ツブデブスを高精度に加工することができる。Therefore, regardless of the progress of etching, it is possible to process the burr with high precision.
この発明の一実施例を第1図、第8図に示す。 An embodiment of this invention is shown in FIGS. 1 and 8.
第8図は、この発明のマーカを適用してスライダを製造
する工程の一例を示す。FIG. 8 shows an example of a process for manufacturing a slider using the marker of the present invention.
■ スライダ本体を構成する基板10上にフォトリソグ
ラフ技法により複数のヘッド素子を配列した膜部12を
成膜する。この際各列ごとに下部磁性体の左右両側にマ
ーカ40を形成する。(2) A film portion 12 in which a plurality of head elements are arranged is formed by photolithography on the substrate 10 constituting the slider body. At this time, markers 40 are formed on both left and right sides of the lower magnetic body for each row.
■ 基板10を列ごとに切断し、研削する。■ Cut the substrate 10 into rows and grind them.
■ 各列ごとに満14を加工し、スライドレール16の
幅規制をする。■ Machining 14 for each row to regulate the width of the slide rail 16.
■ 左右両側のマーカ40を見ながらスライドレール1
6の研磨をするとともに、浮上用テーパを加工する。■ Slide rail 1 while looking at the markers 40 on both the left and right sides.
In addition to polishing step 6, the floating taper is processed.
■ 単品に切断して薄膜磁気ヘッドを具えた個々のスラ
イダ19が完成する。(2) Cut into individual pieces to complete individual sliders 19 equipped with thin-film magnetic heads.
前記■の研磨前における薄膜磁気ヘッド20とマーカ4
0の拡大図を第1図に示す。Thin-film magnetic head 20 and marker 4 before polishing in (2) above
An enlarged view of 0 is shown in FIG.
この薄膜磁気ヘッド20は、下部磁性体22にコイル導
体24を収容するための凹部30を形成し、上部磁性体
26を平坦化している。上部磁性体26を平坦化するこ
とにより、不要な応力が生じたり礒区が細かく分割する
のを防止でき、磁気抵抗を少なくすることができる。In this thin film magnetic head 20, a recess 30 for accommodating the coil conductor 24 is formed in the lower magnetic body 22, and the upper magnetic body 26 is flattened. By flattening the upper magnetic body 26, it is possible to prevent unnecessary stress from being generated and the ligament to be finely divided, and it is possible to reduce magnetic resistance.
この薄膜磁気ヘッド20は次の工程で作られている。This thin film magnetic head 20 is manufactured by the following steps.
■ 基板10上にスパッタリング法等で下部磁性体22
を成膜する。■ Lower magnetic material 22 is deposited on the substrate 10 by sputtering, etc.
Deposit a film.
■ 下部磁性体22にコイル導体24を収容するための
凹部30とマーカ4oを同時にドライエツチング加工す
る。(2) The recess 30 for accommodating the coil conductor 24 and the marker 4o in the lower magnetic body 22 are simultaneously dry-etched.
■ 四部30に絶R層28を成膜する。その途中でコイ
ル導体24を形成する。(2) An absolutely R layer 28 is formed on the fourth part 30. A coil conductor 24 is formed in the middle.
■ 凹部30を絶縁層28で埋めて平坦化された上、1
!Vツブ形成層31を成膜し、さらにその上に上部磁性
体26を成膜する。上部磁性体26と下部磁性体22は
結合部32で相互に連結され、ギャップQを介してU字
状コアを形成している。■ After filling the recess 30 with the insulating layer 28 and flattening it,
! A V-tube forming layer 31 is formed, and an upper magnetic material 26 is further formed thereon. The upper magnetic body 26 and the lower magnetic body 22 are connected to each other at a coupling portion 32 and form a U-shaped core with a gap Q interposed therebetween.
マーカ40は、前述のように下部磁性体22にドライエ
ツチングにより凹部40a〜40dを構成したものであ
る。各凹部40a〜40dは長手方向が研磨方向に配列
され、かつ先端部が長手方向に所定距離ずつずらして配
列されている。The marker 40 has recesses 40a to 40d formed in the lower magnetic body 22 by dry etching as described above. The longitudinal direction of each of the recesses 40a to 40d is arranged in the polishing direction, and the distal ends are arranged at intervals of a predetermined distance in the longitudinal direction.
したがって、研磨の進行と共に各凹部40a〜40dが
順次出現しく研磨面から見て)、その時々のギャップデ
プスを知ることができる。いま、第1図で規定のギャッ
プデプスが同図にdで示す長さであるとすると、四部4
0cが出現し始めたタイミングで研磨を止めれば、規定
のギャップデプスdが実現される。Therefore, as the polishing progresses, the recesses 40a to 40d appear one after another (as seen from the polishing surface), and the gap depth at each time can be known. Now, if the specified gap depth in Figure 1 is the length shown by d in the figure, then the four parts 4
If polishing is stopped at the timing when 0c begins to appear, the specified gap depth d can be achieved.
また、ドライエツチングが進行した場合は、第1図に二
点鎖線で示すように、下部磁性体22のコイル収容用凹
部30は位置が変化するが、マーカ40の各凹部40a
〜710dも同方向に移動するので、相対位置に変化は
ない。したがって、前と同様に凹部40Gが出現し始め
る位置まで研磨を行なえば、規定のギャップデプスdが
実現される。Furthermore, as the dry etching progresses, the position of the coil accommodating recess 30 of the lower magnetic body 22 changes, as shown by the two-dot chain line in FIG.
~710d also moves in the same direction, so there is no change in relative position. Therefore, the specified gap depth d can be achieved by polishing until the position where the recess 40G begins to appear as before.
なお、第1図の例では、マーカ40上には、ギャップ形
成層31を被せないようにしたが、マーカ40の出現、
消失を研磨面から見るようにすれば、マーカ40が正面
から見える必要はないので、マーカ40上にギX・ツブ
形成層31が被せられても問題はない。In the example shown in FIG. 1, although the marker 40 is not covered with the gap forming layer 31, the appearance of the marker 40,
If the disappearance is viewed from the polished surface, there is no need for the marker 40 to be visible from the front, so there is no problem even if the marker 40 is covered with the burr X/tube forming layer 31.
以上説明したように、この発明によれば、マーカをギャ
ップデプスぜ口位置を規定する凹部と同時に形成するの
で、エツチングが進行してギャップデプスゼロ位置がず
れたとしても、マーノjの位置も同時にずれるので、相
対位置に変化はない。As explained above, according to the present invention, the marker is formed at the same time as the recess defining the gap depth opening position, so even if etching progresses and the gap depth zero position shifts, the position of the mano j will also change at the same time. Because they shift, there is no change in relative position.
したがって、エツチングの進行状況にかかわらず、ギャ
ップデプスを高精度に加工することができる。Therefore, the gap depth can be processed with high precision regardless of the progress of etching.
第1図は、この発明の一実施例を示す図である。
第2図は、スライダの製造工程の一例を示す図である。
第3図は、スライダの拡大図である。
第4図は、薄膜磁気ヘッドの拡大図である。
第5図は、第4図の八−へ矢視図である。
第6図は、従来の加工用マーカを示す図である。
第7図は、薄膜磁気ヘッドの一部拡大断面図である。
第8図は、この発明のマーカを利用してスライダを製造
する工程の一例を示す図である。
20・・・薄膜磁気ヘッド、22・・・下部磁性体、3
0・・・凹部、40・・・マーカ、40a〜40d・・
・凹部。
出願人 日本楽器製造株式会社
;
4.0 .4Q第8図FIG. 1 is a diagram showing an embodiment of the present invention. FIG. 2 is a diagram showing an example of a slider manufacturing process. FIG. 3 is an enlarged view of the slider. FIG. 4 is an enlarged view of the thin film magnetic head. FIG. 5 is a view taken along the arrow 8- in FIG. 4. FIG. 6 is a diagram showing a conventional processing marker. FIG. 7 is a partially enlarged sectional view of the thin film magnetic head. FIG. 8 is a diagram showing an example of a process for manufacturing a slider using the marker of the present invention. 20... Thin film magnetic head, 22... Lower magnetic body, 3
0... recess, 40... marker, 40a to 40d...
・Concavity. Applicant: Nippon Musical Instruments Manufacturing Co., Ltd.; 4.0. 4Q Figure 8
Claims (1)
ャップデプスゼロ位置が規定される薄膜磁気ヘッドにお
いて、下部磁性体層のいずれかの部分に前記凹部と同時
にエッチング加工により構成された別の凹部からなる薄
膜磁気ヘッドにおけるギャップデプスの加工用マーカ。In a thin film magnetic head in which a gap depth zero position is defined by a recess formed by etching in the lower magnetic layer, another recess formed by etching at the same time as the recess is formed in any part of the lower magnetic layer. A marker for gap depth processing in thin film magnetic heads.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28626386A JPS63140414A (en) | 1986-12-01 | 1986-12-01 | Marker for working gap depth in thin film magnetic head |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP28626386A JPS63140414A (en) | 1986-12-01 | 1986-12-01 | Marker for working gap depth in thin film magnetic head |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63140414A true JPS63140414A (en) | 1988-06-13 |
Family
ID=17702097
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP28626386A Pending JPS63140414A (en) | 1986-12-01 | 1986-12-01 | Marker for working gap depth in thin film magnetic head |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63140414A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8163186B2 (en) | 2004-12-28 | 2012-04-24 | Headway Technologies, Inc. | Method of manufacturing magnetic head, and magnetic head sub-structure |
-
1986
- 1986-12-01 JP JP28626386A patent/JPS63140414A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8163186B2 (en) | 2004-12-28 | 2012-04-24 | Headway Technologies, Inc. | Method of manufacturing magnetic head, and magnetic head sub-structure |
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