JPS63136410A - 厚膜銅ビア充填インキ - Google Patents

厚膜銅ビア充填インキ

Info

Publication number
JPS63136410A
JPS63136410A JP62248194A JP24819487A JPS63136410A JP S63136410 A JPS63136410 A JP S63136410A JP 62248194 A JP62248194 A JP 62248194A JP 24819487 A JP24819487 A JP 24819487A JP S63136410 A JPS63136410 A JP S63136410A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
copper
ink
glass
dielectric
oxide
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62248194A
Other languages
English (en)
Inventor
アショク ナラヤン フラブフ
ケネス ワレン ハング
シモン マルコルム ボードマン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
RCA Corp
Original Assignee
RCA Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by RCA Corp filed Critical RCA Corp
Publication of JPS63136410A publication Critical patent/JPS63136410A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/09Use of materials for the conductive, e.g. metallic pattern
    • H05K1/092Dispersed materials, e.g. conductive pastes or inks
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01BCABLES; CONDUCTORS; INSULATORS; SELECTION OF MATERIALS FOR THEIR CONDUCTIVE, INSULATING OR DIELECTRIC PROPERTIES
    • H01B1/00Conductors or conductive bodies characterised by the conductive materials; Selection of materials as conductors
    • H01B1/14Conductive material dispersed in non-conductive inorganic material
    • H01B1/16Conductive material dispersed in non-conductive inorganic material the conductive material comprising metals or alloys
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K1/00Printed circuits
    • H05K1/02Details
    • H05K1/03Use of materials for the substrate
    • H05K1/0306Inorganic insulating substrates, e.g. ceramic, glass
    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/46Manufacturing multilayer circuits

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Dispersion Chemistry (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)
  • Inks, Pencil-Leads, Or Crayons (AREA)
  • Glass Compositions (AREA)
  • Conductive Materials (AREA)
  • Parts Printed On Printed Circuit Boards (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の利用分野 本発明は、厚膜銅導体インキ並びにこれを多層電気回路
構造体の製造に使用することに関する。
更に詳しくは、本発明は、多層回路構造体中のパターン
化された銅導体層群を通常離隔する厚い誘電体層内のビ
ア(via )を充填するに有用な銅導体インキに関す
る。
発明の背景 多層集積回路の構造で、適当な基体上に種々の機能を持
つ厚膜を形成する特殊化されたインキ配合物を使用する
ことは、当該技術分野で知られている。この技術は電子
工業界の多種多用な応用のため、種々の基体上の高密度
多層回路パターンの製造において重要性を増している。
銅導体に基く厚膜多層構造体は、典型的には誘電体層で
離隔された少なくとも2層のパターン化銅導体層により
構成される。これらのパターン化銅導体層は、誘電体層
内のビア内に堆積される銅によって接続される。この構
造体は、銅インキ及び誘電体インキの層の多重堆積及び
焼成により作られる。
銅を導体金属として使用するこの多層回路構造体は、多
くの問題を有している。多層集積回路の製造に必要な多
重焼成の際に起きる銅導体インキのフラックス材料と誘
電体層の間の相互作用に因る電気的短絡の発生を原因と
する欠陥が、最も普通である。前記材料には、インキを
空気又は酸化性雰囲気に曝すことにより生じる酸化銅、
並びに酸化鉛、酸化ビスマスのようなフラックス材料が
含まれる。これらの材料は、特に多孔質誘電体材料が、
鉛、バリウム及びビスマスのような大きな改質イオンを
含む場合に、この多孔質誘電体材料ヘ浸透する。
復雑な多層鋼ベース回路において、特定の銅導体インキ
に関する問題及び潜在的な不適合性は、その使用法に依
って幾らか変わってくる。例えば、最初の又は下端層の
銅インキは、(例えばアルミナの)基体に良く接着し、
また高温での繰返し焼成の際に基体から分離しない様な
膨張係数を有する様に配合されなければならない。上端
層の銅導体インキは、卓越したはんだ付性を有し、しか
しフラックス成分が隣接の多孔性誘電体層中に浸透する
のを妨げる様に配合されなければならない。
もし、フラックス成分が上層及び下層の銅導体間に連続
する接触を形成し得る様に、誘電体層が十分に多孔質で
あれば、電気的短絡はデバイスが動作するとき発生する
。銅導体の層間のビア充填又はポスト・アップ構造体に
使用される銅導体インキは、3つの組の要件を有する。
ビア充填銅導体インキは、パターン化銅導体層を持つ基
体上に、誘電体インキと二者択一的に印刷され、2乃至
20ミル又はそれ以上の厚みを増分的に築く。銅ビア充
填導体は、銅の第1の層上に配置され且つこの層と接続
され、また誘電体材料に囲まれる。従来の銅インキの膨
張係数は、通常従来の誘電体材料の2倍以上である。勿
論、この差の影響は、2つの誘電体層に挟まれた薄いパ
ターン化銅導体層よりも、誘電体に囲まれたビア充填物
の様な厚い構造体中においてはるかに一層著しい。この
ために、ポスト・アップとも称される銅ビア充填物は、
パターン化銅導体層を接続する箇所で微小亀裂となりや
すい。
前で言及した微小亀裂の問題は、ビア充填物の配合中の
ガラス状態のガラス(vitreous glass)
の量を増すことにより軽減される。しかし、この処置は
、誘電体材料中へのフラックス相の浸透の増加につなが
る。このような低温ガラスの使用は、誘電体材料中への
ガラスの吸収も増加させる。取囲む誘電体中への低温ガ
ラスの拡散により起る銅ビアの体積損失は、銅が高温で
の繰返し焼成により連続的に焼結される事実と相俟って
、銅ポスト・アップが接続するパターン化銅導体層の片
方又は両方から分離する点に向は収縮するという、更に
深刻な結果を生じ得る。
本発明により、前述の両方の問題を最小限に抑制する銅
ビア充填用の配合が見い出された。
発明の概要 本発明の銅導体ビア充填インキは、銅粉、多量分の失透
性ガラス(dcvitrirying glass)と
少量分のガラス状態のガラスから成るガラス・フリット
、及び適宜の有機ビヒクルを含む。このインキは、微小
亀裂及びこのインキにより形成される銅とア充填物の分
離に対し耐性を有する。このインキは、特に多層集積回
路構造体の製造において存用である。
発明の詳細な記述 本発明の銅導体ビア充填インキは、銅粉、大量分の失透
性ガラス及び少量分のガラス状態のガラスから成るガラ
ス・フリット、及び適宜の有機ビヒクルを含む。
この導電性インキ中で使用される銅粉は、約1乃至5マ
イクロメートルの粒径を有する純銅である。銅は、本発
明のインキ組成物の約55乃至80、好ましくは約60
乃至70重二%を構成する。
このインキ組成物のガラス・フリットは、亜鉛−マグネ
シウム−バリウム−アルミニウムージルコニウム−リン
ケイ酸塩の失透性ガラスと、バリウム−カルシウム−ホ
ウケイ酸塩のガラス状態のガラスとの組合せである。従
来の銅導体インキは、失透性ガラスが銅インキの焼結に
関する流動性要求性能及び表面張力要求性能に悪影響を
及ぼす傾向にあるため、典型的には失透性ガラスを含ん
でいない。予期せぬことだが、ガラス状態のガラスがこ
の悪影響を最小限に止めて初期焼成の間に銅の適切な焼
結を与えるから、この悪影響は本発明に係るフリットに
おいては問題とならない。失透性ガラスが容易に流動し
たり、誘電体材料中に拡散したりしないため、失透性ガ
ラスの存在により、引続く焼成の際とア充填物に対し支
持を与えられる。このフリットではガラス状態のガラス
の量が比較的少ないため、隣接する誘電体材料中にフリ
・ントが拡散する傾向が最小限に止められる。
このガラス・フリットの最後の利点は、ガラス・フリッ
トが本発明のビア充填インキに比較的多量に使用され得
ることである。インキ中のガラスの百分率を単に高める
ことで、微小亀裂及び銅ビア充填物の分離が減少するこ
とは、公知である。
しかしこのことは微小亀裂及び分離の問題に好影響を及
ぼすが、取囲む誘電体材料中へのフラックス相の拡散の
問題には悪影響を与える。従って、これらの考慮事項の
均衡をとるため、従来の銅インキにおいては、最大約1
5重量%のガラス・フリットを通常含有している。予期
せぬことだが、本発明の銅ビア充填インキは、満足し得
る特性を有し、しかも約30ffifft%までの組合
せガラス・フリットを含み得る。この事実の解釈は、確
実には判っていない。
本発明に係る組合せガラス・フリットは、適切には本発
明のインキの約15乃至30、好ましくは約18乃至2
5重量%を構成する。フリット自体は、約70乃至95
、好ましくは約75乃至85重量%の失透性ガラス、及
び約5乃至30.好ましくは約15乃至25重量96の
ガラス状態のガラスにより構成される。本発明によれば
、失透性フリットのガラス状態のフリットに対するff
1ffi比率は、約2=1乃至約20:1、好ましくは
約3:1乃至約5:1とされるのが好ましい。
本発明に係るガラス・フリットの失透性ガラス成分は、
重量基準で次の様に構成される。
a)約15乃至25%の酸化亜鉛、 b)約10乃至25%の酸化マグネシウム、C)約3乃
至12%の酸化バリウム、 d)約5乃至20%の酸化アルミニウム、e)約35乃
至50%の二酸化ケイ素、f)約0. 5乃至3%の五
酸化リン、g)約1乃至596のケイ酸ジルコニウム。
本発明に係るガラス・フリットの好適な失透性ガラス成
分は、重量基準で次の成分を含有する。
約16乃至2296の酸化亜鉛、約16乃至22%の酸
化マグネシウム、約5乃至10%の酸化バリウム、約8
乃至11%の酸化アルミニウム、約39乃至43%の二
酸化ケイ素、約1乃至296の五酸化リン、及び約2乃
至3%のケイ酸ジルコニウム。
本発明に係るガラスフリットのガラス状態のガラス成分
は、重量基準で、次の成分を含有する。
a)約40乃至55、好ましくは約52%の酸化バリウ
ム、 b)約10乃至15、好ましくは約12%の酸化カルシ
ウム、 C)約14乃至25、好ましくは約16%の酸化ホウ素
、 d)約13乃至23、好ましくは約20%の二酸化ケイ
素。
本発明に係る有機ビヒクルは、例えば、セルロース誘導
体特にエチルセルロース;合成樹脂例えばポリアクリレ
ート、ポリメタクリレート、ポリエステル、ポリオレフ
ィン等、の樹脂結合剤の、適宜溶剤溶液である。好適な
結合剤は、ポリ(イソブチルメタクリレート)である。
一般に、本明細書中に記載された類型のインキに用いら
れる従来からの溶剤を用いることができる。好適な市場
で入手可能な溶剤には、例えば、松葉油、テルピネオー
ル、ブチルカルピトールアセテート、テキサス−イース
トマン・カンパニー(Texas Eastman C
o+++pany )から商標テキサノール(Tcxa
nol )の名で入手可能な2,2.4−トリメチル−
1゜3−ベンタンジオール・モノイソブチレート等が包
含される。ビヒクルは、適切には、約5乃至25重量%
の樹脂結合剤を含有する。
前記樹脂結合剤は、個々に、あるいは2種又はこれ以上
の任意の組合せにおいて、使用可能である。所望ならば
、適切な粘度調節剤を樹脂材料に添加することができる
。上記調節剤は、例えばエヌ・エル・インダストリーズ
(NL Industries )から商標チクサトロ
ール(Thixatrol )の名て入手可能なひまし
油の誘導体であることができる。
本発明のインキのビヒクルは、更にビヒクルに基いて約
25重量%まで、好ましくは約10乃至20重量%の、
銅導体インキ中で銅粉の粒子の有機ビヒクルによる被覆
を助長するため、従来から使用されていた類型の湿潤剤
を含有することができる。有機ビヒクルの全ての成分の
場合と同様に、湿潤剤は窒素中で即ち炭素質残渣を残さ
ないで清浄に焼去される必要がある。好適な湿潤剤は、
イリノイ州シカゴ市のセントラル・コンパウンディング
0カムパニー(Central Compoundin
g Company)から商標ヒポチオレート100 
(Hypotbiolatc 100)の名で人手可能
な、脂肪族炭化水素油中の複合多官能脂肪族炭化水素の
分散液である。ビヒクルは、又適切に、例えばアーミー
ン・オー(ArIIleen O)として入手可能なオ
レイルアミンあるいはデュオミーン・ティー−ディー・
オー(DuoIIleen TDO)として入手可能な
高分子mN−アルキル−1,3−ジアミノプロパン・ジ
オレエート[両方共アクゾ・ケミ−・アメリカ(AKZ
OCbemie America )から]等の約0.
5乃至10.好ましくは約1乃至3重量%の界面活性剤
を適当に含有する。有機ビヒクルは、本発明のインキの
約5乃至25、好ましくは約15乃至20重量%を構成
する。使用されるビヒクルのいかんを問わず、インキの
均質性を最大限にすることが重要である。
従って、混合は、混合すると共に、分散液を高度のせん
断動作に付す従来の装置において行なうのが適切である
本発明のインキを調製するに際し、固体成分、即ち銅粉
及び2つの成分のガラス・フリットは約1乃至5マイク
ロメートルの粒径に細かくされ且つ十分に混合される。
固体粒子は、有機ビヒクルと合せられ、十分に混合され
てインキを形成する。
本発明の銅ビア充填インキは、従来からの手段、即ちス
クリーン印刷、はけ塗り、噴霧塗布等、好適にはスクリ
ーン印刷により、基体構造体に塗布される。本発明のイ
ンキは、適宜の基体上のパターン化銅層で構成される第
ルベルの銅金属化層上に配設するために塗布される。本
発明のインキは、同様にその後の銅金属化層との間に、
銅ビア充填物を形成するため使用される。本発明のイン
キは、適当な誘電体材料のパターン化層と交互の順番で
塗布される。即ち、誘導体インキが塗布され、焼成され
、銅ビアインキが誘電体層内のビアを充填するため塗布
され焼成される。この銅ビア充填物は、重−量基準で約
59乃至約84重回%の銅粉及び約16乃至約31重量
パーセントのガラス・フリットにより構成される。誘電
体インキ及びビア充填インキの堆積及び焼成は、金属化
層間の誘電体材料が所望の厚みに達するまで繰り返され
る。一般に、約40マイクロメートル厚の少なくとも2
つの誘電体/銅ビア充填層が、金属化層の間の絶縁分離
を形成するために必要である。
本発明のインキにより形成される銅ビア充填物又はポス
ト・アップは、侵透な機械的強度、くり返し加熱安定性
及び導電性を有している。更にこれらは、隣接する誘電
体材料との相互作用に起因する微小亀裂及び分離に対し
格別に耐性を有することが示された。
次の実施例は、本発明を更に説明するものである。本発
明を、この実施例の詳細事項に限定することを意図して
いないことを理解されたい。実施例において、特に断り
のない限り、全ての部及び百分率は重量基章により、全
ての温度は摂氏による。
実施例 銅ビア充填インキが、次の様に調製された。酸化亜鉛2
1.8%、酸化マグネシウム16.5%、酸化バリウム
7.8%、二酸化ケイ素39.2%、酸化アルミニウム
10.7%、五酸化リン1. 0%及びケイ酸ジルコニ
ウム3. 0%がら成る失透性ガラス・フリットと、並
びに酸化バリウム51゜59%、酸化カルシウム12.
58%、酸化ホウ素15.62%及び二酸化ケイ素20
.21%から成るガラス状態のガラスとが別々に調製さ
れ、約3マイクロメートルの粒径に細かくされた。
平均3マイクロメートルの粒径を持つ銅粉65%、前記
失透性ガラス・フリット14%及び前記ガラス状態のガ
ラス・フリット4%から成る固体成分群が、手動で十分
に撹拌された。
この固体成分群が有機ビヒクル17部と混合された。有
機ビヒクルは湿潤剤としてヒポチオレート10017%
及びアーミーン。オー3%を追加的に含む、ポリ(イソ
ブチルメタクリレート)のテキサノール中の20%溶液
から成る。このインキはスクリーン印刷に適したペース
トを得るため、最初手動で混合され、次いで3本ロール
・ミルで混合された。適性なレオロジーを確保するため
必要な追加の溶剤が加えられた。
銅ベース層インキが、同様に、銅粉76.9部と、前述
のを機ビヒクル15,4部と、酸化亜鉛9.09%、酸
化カルシウム30.40%、酸化アルミニウム18.2
8%、二酸化ケイ素42゜23%から成るガラス・フリ
ットの残部から調製された。このインキは、発明の名称
「厚膜銅導体インキ」係属中の米国特許出願節914,
303号明細書(1986年10月2日出願)に記載さ
れている。
誘電体インキが、同様に、ガラス・フリット67.7部
と、アルミナ5.8部と、平均約3マイクロメートル粒
径のニケイ酸バリウムニマグネシウム3.9部と、1%
の湿潤剤デュオーミン・ティー・ディー・オーも含むポ
リ (インブチルメタクリレート)のデキサノール中の
20%溶液から成るビヒクル22.6部とから調製され
た。前記ガラス・フリットは、酸化亜鉛21.81%、
酸化マグネシウム19.25%、酸化バリウム5゜13
B、96、酸化アルミニウム9.38%、二酸化ケイ素
39.68%、五酸化リン2.00%及びケイ酸ジルコ
ニウム2.00%の組成を有していた。
このインキは、発明の名称「多層銅回路用誘電体インキ
」係属中の米国特許出願節914,302号明細書(1
986年10月2日出願)に記載されている。
従来からのアルミナ基板が、基体として使用された。こ
の基板が塗布された銅インキのパターン化層により被覆
され、125℃、15分間空気乾燥され、窒素中で90
0’C,10分間焼成された。
誘電体インキのパターン化層がその上に、銅導体の一部
に開口部を残して堆積され、同様に乾燥され、焼成され
た。本発明のビア充填インキが、このスペースに印刷さ
れ、125℃、15分間空気中で乾燥され、窒素中で9
00℃、10分間焼成された。誘電体/銅ビア充填物の
層の厚みは、15マイクロメートルであった。誘電体/
銅ビア充填物の層の堆積が3回繰り返され、最終厚み4
5マイクロメートルを形成した。銅導体層が、一部分が
銅ビア充填物に接触する様に、この構造体上に堆積され
た。この手順が3回繰り返され、4層の埋設銅層群を有
する構造体が得られた。最初の銅導体インキ堆積層の焼
成から最終の銅導体層の焼成まで、全部で25回の焼成
を要した。
この構造体は、銅導体層に形成された電気的接点を通し
てバイアスされた。短絡あるいは銅ビア充填物の分離に
ついては、何の形跡も観察されなかった。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)銅粉、失透性ガラス及びガラス状態のガラスから
    成るガラスフリット、及び適宜の有機ビヒクルを含む銅
    ビア充填導体インキ。
JP62248194A 1986-10-02 1987-10-02 厚膜銅ビア充填インキ Pending JPS63136410A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US914,296 1986-10-02
US06/914,296 US4810420A (en) 1986-10-02 1986-10-02 Thick film copper via-fill inks

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS63136410A true JPS63136410A (ja) 1988-06-08

Family

ID=25434154

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP62248194A Pending JPS63136410A (ja) 1986-10-02 1987-10-02 厚膜銅ビア充填インキ

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4810420A (ja)
JP (1) JPS63136410A (ja)
DE (1) DE3732696A1 (ja)
FR (1) FR2604716A1 (ja)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5082804A (en) * 1989-01-19 1992-01-21 David Sarnoff Research Center, Inc. Thick film copper via fill inks
EP0452118B1 (en) * 1990-04-12 1996-08-21 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Conductive ink composition and method of forming a conductive thick film pattern
US5216207A (en) * 1991-02-27 1993-06-01 David Sarnoff Research Center, Inc. Low temperature co-fired multilayer ceramic circuit boards with silver conductors
JP3018866B2 (ja) * 1993-10-07 2000-03-13 株式会社村田製作所 積層電子部品の外部電極用卑金属組成物
JPH07161223A (ja) * 1993-12-10 1995-06-23 Murata Mfg Co Ltd 導電性ペーストおよび積層セラミックコンデンサ
JPH08180731A (ja) * 1994-12-26 1996-07-12 Murata Mfg Co Ltd 導電性厚膜組成物、厚膜電極、セラミック電子部品、および積層セラミックコンデンサ
US5622547A (en) * 1995-08-14 1997-04-22 National Starch And Chemical Investment Holding Corporation Vehicle system for thick film inks
TW353762B (en) * 1996-10-21 1999-03-01 Dainippon Printing Co Ltd Transfer sheet, and pattern-forming method
CN1315957C (zh) * 2003-06-02 2007-05-16 叶志龙 玻璃用耐高温无铅镉油墨

Family Cites Families (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3022179A (en) * 1959-09-23 1962-02-20 Gen Electric Ceramic material and method of making the same
US3501322A (en) * 1967-08-16 1970-03-17 Corning Glass Works Glazed ceramic substrate for electronic microcircuits
JPS5324966B2 (ja) * 1972-12-25 1978-07-24
IT999087B (it) * 1972-12-27 1976-02-20 Beckman Instruments Inc Materiale resistivo
US4061584A (en) * 1974-12-13 1977-12-06 General Electric Company High dielectric constant ink for thick film capacitors
US4355114A (en) * 1979-11-05 1982-10-19 Rca Corporation Partially devitrified porcelain containing BaO.2MgO.2SiO2 and 2MgO.B2 O3 crystalline phases obtained from alkali metal free divalent metal oxide borosilicate glass
US4355115A (en) * 1979-11-05 1982-10-19 Rca Corporation Borosilicate glass frit with MgO and BaO
US4256796A (en) * 1979-11-05 1981-03-17 Rca Corporation Partially devitrified porcelain composition and articles prepared with same
US4377642A (en) * 1980-10-17 1983-03-22 Rca Corporation Overglaze inks
US4380750A (en) * 1981-07-06 1983-04-19 Rca Corporation Indium oxide resistor inks
US4369254A (en) * 1980-10-17 1983-01-18 Rca Corporation Crossover dielectric inks
US4376725A (en) * 1980-10-17 1983-03-15 Rca Corporation Conductor inks
US4400214A (en) * 1981-06-05 1983-08-23 Matsushita Electric Industrial, Co., Ltd. Conductive paste
US4379195A (en) * 1981-07-06 1983-04-05 Rca Corporation Low value resistor inks
US4415624A (en) * 1981-07-06 1983-11-15 Rca Corporation Air-fireable thick film inks
US4385127A (en) * 1981-11-23 1983-05-24 Corning Glass Works Glass-ceramic coatings for use on metal substrates
JPS58125638A (ja) * 1982-01-21 1983-07-26 Toshiba Corp 半導体被覆用ガラス組成物
US4467009A (en) * 1983-01-21 1984-08-21 Rca Corporation Indium oxide resistor inks
US4452844A (en) * 1983-01-21 1984-06-05 Rca Corporation Low value resistor inks
JPS59174544A (ja) * 1983-03-25 1984-10-03 Nippon Electric Glass Co Ltd 半導体被覆用ガラス
US4536535A (en) * 1983-06-07 1985-08-20 E. I. Du Pont De Nemours And Company Castable ceramic compositions
US4521329A (en) * 1983-06-20 1985-06-04 E. I. Du Pont De Nemours And Company Copper conductor compositions
JPS6028296A (ja) * 1983-07-27 1985-02-13 株式会社日立製作所 セラミツク多層配線回路板
US4540604A (en) * 1983-08-25 1985-09-10 E. I. Du Pont De Nemours And Company Thick film conductor compositions
US4514321A (en) * 1983-08-25 1985-04-30 E. I. Du Pont De Nemours And Company Thick film conductor compositions
US4600604A (en) * 1984-09-17 1986-07-15 E. I. Du Pont De Nemours And Company Metal oxide-coated copper powder
US4594181A (en) * 1984-09-17 1986-06-10 E. I. Du Pont De Nemours And Company Metal oxide-coated copper powder
US4623482A (en) * 1985-10-25 1986-11-18 Cts Corporation Copper conductive paint for porcelainized metal substrates

Also Published As

Publication number Publication date
DE3732696A1 (de) 1988-04-14
US4810420A (en) 1989-03-07
FR2604716A1 (fr) 1988-04-08

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5258335A (en) Low dielectric, low temperature fired glass ceramics
US5216207A (en) Low temperature co-fired multilayer ceramic circuit boards with silver conductors
US7611645B2 (en) Thick film conductor compositions and the use thereof in LTCC circuits and devices
US4369220A (en) Crossover dielectric inks used in forming a multilayer electrical circuit
US4880567A (en) Thick film copper conductor inks
US4816615A (en) Thick film copper conductor inks
US5164342A (en) Low dielectric, low temperature fired glass ceramics
US20060083906A1 (en) Thick film dielectric compositions for use on aluminum nitride substrates
US4830988A (en) Dielectric inks for multilayer copper circuits
US4733018A (en) Thick film copper conductor inks
US4808673A (en) Dielectric inks for multilayer copper circuits
US4997795A (en) Dielectric compositions of devitrified glass containing small amounts of lead oxide and iron oxide
US4788163A (en) Devitrifying glass frits
US4808770A (en) Thick-film copper conductor inks
JPS63136410A (ja) 厚膜銅ビア充填インキ
US4874550A (en) Thick-film copper conductor inks
US4863517A (en) Via fill ink composition for integrated circuits
USRE34982E (en) Thick film copper via fill inks
EP0498409A1 (en) Partially crystallizable glass compositions
US4772574A (en) Ceramic filled glass dielectrics
CA1167250A (en) Crossover dielectric inks
JPS63260199A (ja) 多層銅回路用の誘電体インキ
JPS63120777A (ja) 多層銅回路用誘電体インキ
EP0454734A1 (en) Devitrifying glass formulations for low expansion printed-circuit substrates and inks
JPS63120778A (ja) 厚膜銅導体インキ