JPS63133008A - Mounting inspection equipment for chip part - Google Patents

Mounting inspection equipment for chip part

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JPS63133008A
JPS63133008A JP61280079A JP28007986A JPS63133008A JP S63133008 A JPS63133008 A JP S63133008A JP 61280079 A JP61280079 A JP 61280079A JP 28007986 A JP28007986 A JP 28007986A JP S63133008 A JPS63133008 A JP S63133008A
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JP
Japan
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chip component
lines
line
chip part
section
Prior art date
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Pending
Application number
JP61280079A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Morihide Osaki
守英 大嵜
Sachikuni Takahashi
高橋 祐邦
Makoto Kishimoto
真 岸本
Nobuaki Kakimori
伸明 柿森
Shunei Morimoto
森本 俊英
Hitoshi Mochizuki
望月 仁史
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Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Publication date
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Abstract

PURPOSE:To judge mounting state of a chip part instantaneously and at a high accuracy by projecting four lines on the chip part to detect the position of the lines varying with the mounting condition thereof. CONSTITUTION:Lines projected on a chip part 5 to be inspected and a line pattern on a printed circuit board 6 are read out with a photographing section 7 set thereabove. Then, an image signal thus obtained is subjected to an image processing, for example, mesh method and a line pattern alone is taken out by digital conversion with an A/D converting section 8. Then, computation is performed with a detection circuit section 9 based on the position of a desired code existing in an assumed range from the line pattern to judge mounting state of the chip part 5.

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] この発明は半導体装置の検査装置に関し、特にプリント
基板上に装着されるチップ部品の装着状況を判別する検
査装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Industrial Application Field] The present invention relates to an inspection apparatus for semiconductor devices, and more particularly to an inspection apparatus for determining the mounting status of chip components mounted on a printed circuit board.

[従来技術] 従来、プリント基板上に[されたチップ部品の装着検査
は、作業者が拡大鏡を用いて個々のチップ部品ごとにそ
の装着状況を検査しているのが実情である。
[Prior Art] Conventionally, when inspecting the mounting of chip components on a printed circuit board, the actual situation is that an operator uses a magnifying glass to inspect the mounting status of each chip component.

また、別な検査方法として、プリント基板上に斜め上方
から光を当ててチップ部品による影の状態で、装着状況
を判別する方法も利用されている。
Another inspection method is to shine light onto the printed circuit board diagonally from above and determine the mounting status based on the shadows created by the chip components.

さらに、別な検査方法として開発されたものでプリント
基板またはスリット光をアクチュエータにより、チップ
に対して縦方向および横方向に微動させることによって
、チップ部品のエツジ部を通過する際に生じるスリット
光の変化を読取り、エツジ部を検査する方法がある。
Furthermore, another inspection method has been developed in which the printed circuit board or slit light is moved slightly in the vertical and horizontal directions with respect to the chip using an actuator. There are ways to read the changes and inspect the edges.

[発明が解決しようとする問題点] 上記のような従来の検査方法では、それぞれ以下のよう
な問題点を有する。
[Problems to be Solved by the Invention] The conventional inspection methods described above each have the following problems.

■ 作業とが明々のチップ部品ごとに検査せねばならず
、作業能率が極めて悪くしかもどうしても検査漏れや検
査ミスが生じやすい。
■ It is necessary to inspect each chip component for which the work is clearly done, which results in extremely poor work efficiency and is prone to inspection omissions and inspection errors.

■ チップ部品による影の状態で判断すると、たとえば
チップ部品の寸法にばらつきがあった場合、一方向から
の光による影のため影の長さが変化づるので誤検出する
回部性がある。
(2) Judging by the state of the shadow caused by the chip component, for example, if there are variations in the dimensions of the chip component, the length of the shadow will change due to the shadow from one direction, which may lead to false detection.

■ プリント基板またはスリット光の微動による検査は
、検査精度は上がるものの1チップ部品あたりの検出所
要時間が多くかかり、また装置も高価となる。
(2) Inspection using minute movements of printed circuit boards or slit light improves inspection accuracy, but it takes a long time to detect each chip component, and the equipment is expensive.

この発明は、かかる問題点を解決するためになされたも
ので、高精度でかつ、処理能力の高いチップ部品の装着
検査装置を得ることを目的とする。
The present invention has been made to solve these problems, and an object of the present invention is to provide a chip component mounting inspection device with high accuracy and high throughput.

[問題点を解決するための手段] この発明に係る装着検査装置は、プリント基板上に装着
される直方体形状のチップ部品の、上平面の1つの対辺
に交わる少なくとも2本のラインと、他の対辺に交わる
少なくとも2本のラインとを形成言る。さらに、この少
なくとも4本のラインの対辺との交点位置を読取りそれ
を出力する手段と、出力された交点位置に基づいてチッ
プ部品の装着状況を判別する手段とを設けたものである
[Means for Solving the Problems] The mounting inspection device according to the present invention detects at least two lines intersecting one opposite side of the upper plane of a rectangular parallelepiped chip component mounted on a printed circuit board, and another line that intersects with one opposite side of the upper plane. It is said to form at least two lines that intersect opposite sides. Furthermore, means for reading and outputting the intersection positions of the at least four lines with the opposite sides, and means for determining the mounting status of the chip component based on the output intersection positions are provided.

[作用〕 この発明においては、チップ部品の厚さおよび位置ずれ
等によってチップ部品上に投影された4本のラインの位
置が変化するので、この位置の変化に基づいて、チップ
部品の装着状態を検知する。
[Function] In this invention, the positions of the four lines projected on the chip component change depending on the thickness and positional deviation of the chip component, so the mounting state of the chip component is determined based on the change in the position. Detect.

[実施例] 第1図はこの発明の一実施例を示す構成斜視図である。[Example] FIG. 1 is a perspective view showing an embodiment of the present invention.

図において、面上で移動自在のX−Yテーブル11の上
に、チップ部品5を載買したプリント基板6が設置され
る。プリント基板6の面上に直交する2木のラインを形
成する光源として、Y軸方向スリット光光源部1、x軸
方向スリット光光源部2、Y@右方向スリット光光源3
およびX軸方向スリッ1−光光源部4がX−Yテーブル
11の斜め上方に設置されている。また、チップ部品5
の1つが4本のスリット光の投影を受け、その投影部お
よびその周辺をfi像する、たとえば1.T。
In the figure, a printed circuit board 6 on which chip components 5 are mounted is placed on an X-Y table 11 that is movable on the surface. The light sources that form two orthogonal lines on the surface of the printed circuit board 6 include a Y-axis slit light source 1, an x-axis slit light source 2, and a Y@right slit light source 3.
An X-axis direction slit 1 and a light source section 4 are installed obliquely above the X-Y table 11. In addition, chip parts 5
For example, one of the four slit beams receives the projection of the four slit lights and creates a fi image of the projection part and its surroundings. T.

■、カメラなどのm像部7が上方に設置される。(2) An m-image unit 7 such as a camera is installed above.

踊像部7、Δ/D1a換部8、検出回路部9および制御
部10がそれぞれ接続され、さらに制御部10はX−Y
・アーブル11を面上で移動させるX軸方向駆動部13
J3よびY軸方向駆動部12に接続してその駆動を制御
するX軸方向駆動回路部15およびY軸方向駆動回路部
14にそれぞれ接続する。
The dance image section 7, the Δ/D1a conversion section 8, the detection circuit section 9, and the control section 10 are connected to each other, and the control section 10 is connected to the X-Y
・X-axis direction drive unit 13 that moves the Hable 11 on the surface
J3 and the Y-axis direction drive circuit section 15 and Y-axis direction drive circuit section 14, respectively, which are connected to the Y-axis direction drive section 12 and control the driving thereof.

第2図はこの発明の一実施例のライン部の拡大斜視図で
ある。
FIG. 2 is an enlarged perspective view of the line portion of one embodiment of the present invention.

図において、XlllIh方向うイン20が第1図にて
示されたスリット光光源部から各々発光されたX軸方向
スリット光17およびX軸方向スリット・光19によっ
てプリント基板上で1本のラインとして形成され、この
両スリット光のプリント基板面となり角度はα0である
。同じく、Y軸方向うイン21がY軸方向スリット光1
6およびY軸方向スリット光18によって同じくプリン
ト基板上で1木のラインとして形成され、この両スリッ
ト光のプリント基板面とのなす角度は同じくα0である
。第3図はこの発明の一実施例のチップ部品に投影され
たラインの拡大斜視図であり、第4図はその平面図であ
る。
In the figure, the XllllIh direction window 20 is formed as one line on the printed circuit board by the X-axis slit light 17 and the X-axis slit/light 19 emitted from the slit light source section shown in FIG. The two slit beams form the printed circuit board surface and the angle is α0. Similarly, the Y-axis direction window 21 is the Y-axis direction slit light 1.
6 and the Y-axis direction slit light 18 are similarly formed as a single tree line on the printed circuit board, and the angles that both these slit lights make with the printed circuit board surface are the same α0. FIG. 3 is an enlarged perspective view of lines projected onto a chip component according to an embodiment of the present invention, and FIG. 4 is a plan view thereof.

両図においてチップ部品5の上平面のX@力方向X軸方
向ライン20を形成する第2図にて示した2本のスリッ
ト光の投影によってX軸うインA22およびX軸うイン
82.3が形成され、同じくY軸方向にYIIIi11
方向ライン21を形成する2本のスリット光の投影によ
りY軸うインΔ24およびY軸うイン825が形成され
る。符号△1〜A。
In both figures, the X-axis groove A22 and the X-axis groove 82.3 are formed by the projection of the two slit lights shown in FIG. is formed, and YIIIi11 is also formed in the Y-axis direction.
By projecting the two slit lights forming the direction line 21, a Y-axis indentation Δ24 and a Y-axis indentation 825 are formed. Code △1~A.

2は各ラインのチップ部品5の端部にお【ノる位置を示
す符号である。
2 is a code indicating the position at the end of the chip component 5 of each line.

第1図〜第4図をもとに、以下、この装着検査装置の動
作を説明する。
The operation of this mounting inspection device will be explained below based on FIGS. 1 to 4.

ibl制御部10からX軸方向駆動回路部15およびY
軸方向駆動回路部14に与えられた信号によって、X軸
方向駆動部13およびY軸方向駆動部12を駆動させて
X−Yテーブル11を移動し、プリント基板6上のX軸
方向ライン20とY軸方向ライン21との交点に正規の
デツプ部品の中心が来るようにセットする。検査すべき
チップ部品5の上に投影されたラインおよびプリント基
板6の上のラインのラインパターンは、第4図のごとく
なり、これを上方に設置されている顕像部7で読取り、
その画像信号を例えばメツシュ法等の画像処理を行ない
A/D変換部8でディジタル変換して、ラインパターン
のみを取出す。次に検出回路部9にてこのラインパター
ンから第4図で示す符号Δ、〜△、2の位置を検出し、
想定範囲に存在する所望の符号の位置の値を基に、下記
の演算をt7なってチップ部品5の装着状態を判別する
ibl control unit 10 to the X-axis direction drive circuit unit 15 and the Y
The X-axis direction drive section 13 and the Y-axis direction drive section 12 are driven by the signal given to the axial direction drive circuit section 14 to move the X-Y table 11 and align it with the X-axis direction line 20 on the printed circuit board 6. Set the regular depth part so that its center is at the intersection with the Y-axis direction line 21. The line pattern of the lines projected on the chip component 5 to be inspected and the lines on the printed circuit board 6 is as shown in FIG. 4, and is read by the imaging section 7 installed above.
The image signal is subjected to image processing such as the mesh method, and is digitally converted by the A/D converter 8 to extract only the line pattern. Next, the detection circuit section 9 detects the positions of symbols Δ, ~Δ, 2 shown in FIG. 4 from this line pattern,
Based on the value of the desired code position existing in the assumed range, the following calculation is performed to determine the mounting state of the chip component 5 at t7.

検出回路部9の処理状況に応じて、制即部1゜からX−
Yテーブル11の駆動部に信号が送られ、これを駆動す
ることによって次のチップ部品5の装着検査に移る。
Depending on the processing status of the detection circuit section 9, the control section 1° to
A signal is sent to the driving section of the Y table 11, and by driving this, the next chip component 5 is inspected for mounting.

次にラインパターンの読取りによるチップ部品の具体的
な装着状態の検出原理を説明する。
Next, the principle of detecting a specific mounting state of a chip component by reading a line pattern will be explained.

第5図はチップ部品5が回転ずれの状態で装着された図
であるが、ここで、たとえばX軸方向ライン20および
Y軸方向ライン21の交点を座標原点として、横方向に
X軸を取り縦方向にY軸を取る座標軸を設定し、たとえ
ば符号A1の座標を(X + 、 V + )として、
他の符号A2〜△、2にも同様に座標を与える。次に、
ラインA1Δ9、△、△7 N A4 AT 2 、A
電A、。の中点をそれぞれB9.82 、B−、B4と
し、この座標を81  (Xi 、 Yl )  (1
−1〜4)t”表わす。
FIG. 5 is a diagram in which the chip component 5 is mounted in a rotationally misaligned state. Here, for example, the intersection of the X-axis direction line 20 and the Y-axis direction line 21 is set as the coordinate origin, and the X-axis is taken in the horizontal direction. Set a coordinate axis that takes the Y axis in the vertical direction, and for example, let the coordinates of code A1 be (X + , V + ),
Coordinates are similarly given to other symbols A2 to Δ and 2. next,
Line A1 Δ9, △, △7 N A4 AT 2 , A
Electric A. The midpoints of are B9.82, B-, and B4 respectively, and these coordinates are 81 (Xi, Yl) (1
-1 to 4) t''.

このとき、チップ部品5の回転ずれの角度をθとすると
、 となり、また、チップ部品5の中心位ffoの座標を(
X、、Y、)とすると、中心位MOは直6B+[32お
よび直l1IB、[3,の交点となるから、肴=2fA
?ζθ幅÷Y’4 )十ノー=θ自4θ(×、糧X1−
Xター×4〕十7θtY、+Y、>?I として求められる。ざらにチップ部品5の第3図にて示
ず高さ)−1は となる。したがってラインA+ As 、A* AT、
A= A、t 、AG AT。の端部の位置を読取るこ
とにより、中点81〜B、の位置、すなわら、チップ部
品5の回転ずれ、位置ずれおよび浮き状態が求められる
ので、これらを検出回路部9において、たとえば中心位
置の座標<x、、y、>と(0、O)との比較のように
所定の基準値と比較することによってチップ部品5の装
着状態を検出することができる。
At this time, if the angle of rotational deviation of the chip component 5 is θ, then the coordinates of the center position ffo of the chip component 5 are (
X,,Y,), the center MO is the intersection of straight 6B+[32 and straight l1IB, [3, so appetizer=2fA
? ζθ width ÷ Y'4) ten no = θ own 4θ (×, food X1-
Xter×4〕17θtY, +Y,>? It is found as I. Roughly speaking, the height (not shown in FIG. 3) of the chip component 5 is -1. Therefore the lines A+ As, A* AT,
A=A,t,AG AT. By reading the position of the end of the center point 81 to B, the rotational deviation, positional deviation, and floating state of the chip component 5 are determined. The mounting state of the chip component 5 can be detected by comparing the position coordinates <x,, y,> with a predetermined reference value such as (0, O).

第6図はチップ部品が浮いた状態で装着された図であり
、第7図はチップ部品5が片浮き状態で装着された図で
ある。
FIG. 6 shows the chip component 5 mounted in a floating state, and FIG. 7 shows the chip component 5 mounted in a floating state.

両図における符号5.20〜25は第4図と同様である
Reference numerals 5.20 to 25 in both figures are the same as in FIG. 4.

以上の検出原理に従って、X−Yテーブル11を移動さ
せることによって、予め記憶されている正規のチップ部
品の個々の中心位置ごとにスリット光の交点を一致させ
て検査を次々と行なうことにより、プリント基板6の上
のチップ部品のすべてについてその装着状態を検査する
ことができる。
According to the above detection principle, by moving the X-Y table 11, the intersection points of the slit lights are made to coincide with each center position of the regular chip components stored in advance, and the inspection is performed one after another. The mounting state of all chip components on the board 6 can be inspected.

なお、上記実施例では、プリント基板、Lでスリット光
を重ね合わせ、かつ、2本の直交するラインとし、しか
もこれらのスリット光とプリント基板面とのなす角度は
すべて同一としたが、これは計算上の便宜を図ったもの
で、これらの条件を外れてもvIfIJ式を考慮すれば
検知可能である。
In the above embodiment, the slit lights were superimposed on the printed circuit board L, and two orthogonal lines were formed, and the angles between these slit lights and the printed circuit board surface were all the same. This is for calculation convenience, and even if these conditions are exceeded, it can be detected by considering the vIfIJ formula.

また、上記実施例では、スリット光は明光線としている
が、スリット部を明るくする暗光線であっても同様の効
果を奏する。
Further, in the above embodiment, the slit light is a bright light beam, but the same effect can be achieved even if the slit light is a dark light beam that brightens the slit portion.

さらに、上記実施例では、1組のラインによってX−Y
テーブルを移動させて個々のチップ部品を検査している
が、複数組のラインおよび複数の囮像部を用いてX−Y
テーブルを固定または移動して検査することも可能であ
る。
Furthermore, in the above embodiment, X-Y
Individual chip components are inspected by moving the table, but multiple sets of lines and multiple decoy image sections are used to inspect X-Y
It is also possible to inspect the table while it is fixed or moving.

[発明の効果] この発明は以上説明したとおり、チップ部品上に4本の
ラインを投影してその装着状態に応じて変化するライン
位置を検知して、装着検査を瞬時に行なうので、精度が
良く、かつ、処理能力に優れたチップ部品の装着検査°
装置となる効果がある。
[Effects of the Invention] As explained above, the present invention projects four lines onto a chip component and detects the position of the line, which changes depending on the mounting state, and instantly performs a mounting inspection, which improves accuracy. Good quality and high throughput chip component mounting inspection °
It has the effect of becoming a device.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of the drawing]

図面はすべてこの発明の一実施例を示すものであり、第
1図は構成斜視図、第2図はライン部の拡大斜視図、第
3図はチップ部品に投影されたラインの拡大斜視図、第
4図〜第7図はチップ部品の″各種装着状態におけるラ
インパターンを示す図である。 図において、5はチップ部品、6はプリント基板、7は
顕像部、8は△/D変換部、9は検出回路部、10は制
御部、11はX−Yテーブル、1GはY軸方向スリット
光、17はX軸方向スリット光、18はY@方向スリッ
ト光、19はX軸方向スリット光、20はX軸方向ライ
ン、21はY軸方向ライン、22はX軸うインA123
はX軸うインB124はY軸うインへ、25はY軸うイ
ンBである。 なお、各図中同一符号は同一または相当部分を示す。 第2図 19:x軸力向スリ3.トえ 第3図 5:テ、・、7°q?品 20: X軸方hライン 21: 17軸す菌ライン 22: X重重ラインへ 23:  X車重ラインB 24; Y車由ライ〉八 25: Y事由ラインB 第4図 第6図 5;す・′lア 20−×軸P;自ライン 第 7 図              21:Y寧帖
藺ライン22:×卑−iスリー!ト△
The drawings all show one embodiment of the present invention, and FIG. 1 is a perspective view of the configuration, FIG. 2 is an enlarged perspective view of a line portion, and FIG. 3 is an enlarged perspective view of a line projected onto a chip component. 4 to 7 are diagrams showing line patterns of chip components in various mounting states. In the figures, 5 is a chip component, 6 is a printed circuit board, 7 is a developing section, and 8 is a Δ/D conversion section. , 9 is a detection circuit section, 10 is a control section, 11 is an X-Y table, 1G is a slit light in the Y-axis direction, 17 is a slit light in the X-axis direction, 18 is a slit light in the Y@ direction, 19 is a slit light in the X-axis direction , 20 is a line in the X-axis direction, 21 is a line in the Y-axis direction, 22 is a line in the X-axis direction A123
is the X-axis back B 124 is the Y-axis back B, and 25 is the Y-axis back B. Note that the same reference numerals in each figure indicate the same or corresponding parts. Figure 2 19: x-axis force direction pickpocket 3. Toe Figure 3 5: Te..., 7°q? Product 20: X-axis h line 21: 17-axis line 22: To X-heavy line 23: X-vehicle weight line B 24; S・'lA20-×axis P; own line No. 7 Figure 21:Y-line 22:×base-i three! △

Claims (1)

【特許請求の範囲】 プリント基板上に装着された直方体形状のチップ部品の
装着検査装置であつて、 前記チップ部品の上平面の上に前記上平面の第1の対辺
と交わる少なくとも2本のラインを形成する第1のライ
ン形成手段と、 前記上平面の上に前記第1の対辺と異なる第2の対辺と
交わる、少なくとも2本のラインを形成する第2のライ
ン形成手段と、 少なくとも4本の前記ラインと前記第1の対辺および前
記第2の対辺との交点位置を検出する検出手段と、 前記検出手段により検出された前記交点位置に基づいて
少なくとも4本の前記ラインの中点位置を算出し、前記
第1のライン形成手段による2本のラインの中点同志を
結んだ直線と前記第2のライン形成手段による2本のラ
インの中点同志を結んだ直線との交点を計算することに
よつて、前記チップ部品の中心位置を求め、さらに、前
記交点位置に基づいて前記チップ部品の回転角度を求め
る演算手段と、 前記演算手段による前記チップ部品の前記中心位置およ
び前記回転角度を所定の中心位置および回転角度と比較
して、前記チップ部品の装着状況を判別する判別手段と
を備えた、チップ部品の装着検査装置。
[Scope of Claims] A mounting inspection device for a rectangular parallelepiped chip component mounted on a printed circuit board, comprising at least two lines on an upper plane of the chip component that intersect with a first opposite side of the upper plane. a second line forming means for forming at least two lines on the upper plane that intersect with a second opposite side different from the first opposite side; and at least four lines. detecting means for detecting the intersection positions of the line and the first opposite side and the second opposite side; and calculate the intersection of a straight line connecting the midpoints of the two lines formed by the first line forming means and a straight line connecting the midpoints of the two lines formed by the second line forming means. A calculation means for determining the center position of the chip component and further determining a rotation angle of the chip component based on the intersection position; and calculating the center position and the rotation angle of the chip component by the calculation means. A chip component mounting inspection device comprising: a determining means for determining the mounting status of the chip component by comparing it with a predetermined center position and rotation angle.
JP61280079A 1986-11-25 1986-11-25 Mounting inspection equipment for chip part Pending JPS63133008A (en)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5450291A (en) * 1990-01-29 1995-09-12 Ezel Inc. Lighting system for camera
CN102519985A (en) * 2011-11-15 2012-06-27 浪潮电子信息产业股份有限公司 Quick detection method for server motherboard material assembly based on structured light

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